JPS5812185A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPS5812185A JPS5812185A JP56110521A JP11052181A JPS5812185A JP S5812185 A JPS5812185 A JP S5812185A JP 56110521 A JP56110521 A JP 56110521A JP 11052181 A JP11052181 A JP 11052181A JP S5812185 A JPS5812185 A JP S5812185A
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- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体記憶装置に記憶セル部以外にアドレス
及びデータの一時格納用バッファ・レジスタを形成し、
読出しと書込゛みが同時にできる半導体記憶装置(関す
る。
及びデータの一時格納用バッファ・レジスタを形成し、
読出しと書込゛みが同時にできる半導体記憶装置(関す
る。
一般に%DMA(ダイレクトーメそり舎アクセス)で半
導体記憶装置にアクセメする場合、例えば、ラスタ・ス
中ヤン方式CRTディスプレイの表示データ記憶用に使
用する場合、ラスタ・スキャンのタイミングで半導体記
憶装置に直接、読出しの要求が発生し、一方、ラスタ・
スキャyのタイミングに無関係なタイミングで表示デー
タの書換(半導体記憶装置への書込み)l!求が発生す
るので、半導体記憶装置に対して読出しと書込みの要求
が同時に発生することがある。従来の半導体記憶装置で
はこのような場合、書込みの要求を一時保留にすること
が必要であり、処理速度の低下を招く欠点が生ずる。
導体記憶装置にアクセメする場合、例えば、ラスタ・ス
中ヤン方式CRTディスプレイの表示データ記憶用に使
用する場合、ラスタ・スキャンのタイミングで半導体記
憶装置に直接、読出しの要求が発生し、一方、ラスタ・
スキャyのタイミングに無関係なタイミングで表示デー
タの書換(半導体記憶装置への書込み)l!求が発生す
るので、半導体記憶装置に対して読出しと書込みの要求
が同時に発生することがある。従来の半導体記憶装置で
はこのような場合、書込みの要求を一時保留にすること
が必要であり、処理速度の低下を招く欠点が生ずる。
本発明は、上に述べたような欠点を解消した半導体記憶
装置である。以下に、本発明の実施例を図面を参照′し
て説明する。
装置である。以下に、本発明の実施例を図面を参照′し
て説明する。
本発明による半導体記憶装置社中導体記憶装置にお−で
、絖出しくリード)と同時に書込+(ライト)ができる
ように、記憶セル部以外に記憶番地(アドレス)及び記
憶内容(データ)の一時格納用パッファOレジスタを形
成したことを特徴とする。
、絖出しくリード)と同時に書込+(ライト)ができる
ように、記憶セル部以外に記憶番地(アドレス)及び記
憶内容(データ)の一時格納用パッファOレジスタを形
成したことを特徴とする。
!1図は、本発明の実施例の構成を示し、このうち従来
の半導体記憶装置の構成部分(@1図の破線で囲まれた
部分)を一括したものが@2図である。従来の半導体記
憶装置の構成部分にクーでは、公知であるので@2図を
参照して動作を説明。
の半導体記憶装置の構成部分(@1図の破線で囲まれた
部分)を一括したものが@2図である。従来の半導体記
憶装置の構成部分にクーでは、公知であるので@2図を
参照して動作を説明。
する0本発明の動作は、読出し用チップ・イネーブル信
号Fが、111か@0@かによりて部分される。チップ
、@イネーブル状態(読出し用チップ・イネーブル信号
がl l@ )では、アドレス入力切換回路4によシ、
従来の半導体記憶装置構成部分11のアドレス人力2−
a及び3−1に読出しアドレス人が入力され、読出しデ
ータEが出力される。
号Fが、111か@0@かによりて部分される。チップ
、@イネーブル状態(読出し用チップ・イネーブル信号
がl l@ )では、アドレス入力切換回路4によシ、
従来の半導体記憶装置構成部分11のアドレス人力2−
a及び3−1に読出しアドレス人が入力され、読出しデ
ータEが出力される。
このとき、書込要求(書込みパルス)Dが発生すると、
書込みアドレスBが書込みアドレス・バッファ・レジス
タ5の左端に、書込みデータCが書込ミテータ・バッフ
ァ書レジスタ6の左端に、各マ一時格納されると同時に
、可逆カウンタ7がインクリメントされる。ここで、書
込みアドレス及び書込みデータ・バッファ・レジスタは
双方向¥フトレジスタで形成されておシ、チップ・イネ
ーブル状態のまま次の書込み要求が発生すると新し一書
込みアドレス及び書込みデータが前述のシフト・レジス
タ5及び6の左端に一時格納され、以#にレジスタに格
納されてiた内容は、右にシフトしさらに可逆カラ/り
がインクリメントされる。
書込みアドレスBが書込みアドレス・バッファ・レジス
タ5の左端に、書込みデータCが書込ミテータ・バッフ
ァ書レジスタ6の左端に、各マ一時格納されると同時に
、可逆カウンタ7がインクリメントされる。ここで、書
込みアドレス及び書込みデータ・バッファ・レジスタは
双方向¥フトレジスタで形成されておシ、チップ・イネ
ーブル状態のまま次の書込み要求が発生すると新し一書
込みアドレス及び書込みデータが前述のシフト・レジス
タ5及び6の左端に一時格納され、以#にレジスタに格
納されてiた内容は、右にシフトしさらに可逆カラ/り
がインクリメントされる。
このようにして、胱出し中においても、書込み要求側か
らの要求を保留にすることなく、書込みデータの保持が
できる。一方、チップ・イネーブル状態でな%A(続出
し用チップ・イネーブル信号が10@)ときは、アドレ
ス入力切換回路(第2図4)により、従来の半導体記憶
装置構成部分l′のアドレス入力2−暑及び3−aに書
込みアドレス・バッファ・レジスタ5の左端の内容(書
込みアドレス)が入力される。このと色書込み用チップ
・イネーブル信号が111であれば、前・述の読出用チ
ップ・イネーブル信号が1のときと同様に、書込みアド
レス及び、書込みデータが順次シフト・レジスタに一時
格納される。書込み用チップ・イネーブル信号が0でか
つ、可逆カラ/りの内容が0でな−(従来の半導体記憶
装置構成部分に書込まれて−な一書込みデータがシフト
・レジスタに残りて−るとき)に社、タイミング発生部
8から、従来の半導体記憶装置の構成部分1′に書込み
パルスが出力され、書込みデータ・バッファ・レジスタ
6の左端の内容が書込まれ、さらに、ダウン・カウント
・パルス出力8が生成され、可逆カウンタ7がデクリメ
ントされるとともに、書込みアドレス及び書込みデータ
・バッファ・レジスタ5.及び6が左にシフトして、一
時格納されてiた書込みデータが順次、従来の半導体記
憶装置構成部分11に記憶される。尚、タイミング発生
部8の構成線、続出し用チップ−イネーブル信号Fが1
01かつ、書込み用チップ・イネーブル信号GtIX″
G”かつ可逆カラ/タフの出力がOのときに1発振する
発振器及び発振器の出力をカウントし、このカウント出
力をデコードして書込みパルス及びダウ/・カウント・
パルスを得る為のカラ/り及びデコーダ部よ構成る。
らの要求を保留にすることなく、書込みデータの保持が
できる。一方、チップ・イネーブル状態でな%A(続出
し用チップ・イネーブル信号が10@)ときは、アドレ
ス入力切換回路(第2図4)により、従来の半導体記憶
装置構成部分l′のアドレス入力2−暑及び3−aに書
込みアドレス・バッファ・レジスタ5の左端の内容(書
込みアドレス)が入力される。このと色書込み用チップ
・イネーブル信号が111であれば、前・述の読出用チ
ップ・イネーブル信号が1のときと同様に、書込みアド
レス及び、書込みデータが順次シフト・レジスタに一時
格納される。書込み用チップ・イネーブル信号が0でか
つ、可逆カラ/りの内容が0でな−(従来の半導体記憶
装置構成部分に書込まれて−な一書込みデータがシフト
・レジスタに残りて−るとき)に社、タイミング発生部
8から、従来の半導体記憶装置の構成部分1′に書込み
パルスが出力され、書込みデータ・バッファ・レジスタ
6の左端の内容が書込まれ、さらに、ダウン・カウント
・パルス出力8が生成され、可逆カウンタ7がデクリメ
ントされるとともに、書込みアドレス及び書込みデータ
・バッファ・レジスタ5.及び6が左にシフトして、一
時格納されてiた書込みデータが順次、従来の半導体記
憶装置構成部分11に記憶される。尚、タイミング発生
部8の構成線、続出し用チップ−イネーブル信号Fが1
01かつ、書込み用チップ・イネーブル信号GtIX″
G”かつ可逆カラ/タフの出力がOのときに1発振する
発振器及び発振器の出力をカウントし、このカウント出
力をデコードして書込みパルス及びダウ/・カウント・
パルスを得る為のカラ/り及びデコーダ部よ構成る。
第3図はタイミング発生部の一列を示す、第3図9のD
タイプ・ポジティブエツジ・フリップ・フロップの反転
出力社、書込みパルスの立上が夛で1になシ、ダウ/・
カウント・パルスがOKなると、0になる。このフリッ
プ・フロップ9の出力によシ、書込みパルスが立がると
書込み用及び読出し用チップ・イネーブル信号の匹づれ
が1になっても、発振器の発振が従来の半導体記憶装置
構成部分に記憶されるまで停止せず、また従来の半導体
記憶装置構成部分のアドレス入力も、この・期間、書込
みアドレス・バッファ・レジスタの出力に接続された状
態であシ、誤りたアドレスに書込みデータが書込まれる
ことはない。
タイプ・ポジティブエツジ・フリップ・フロップの反転
出力社、書込みパルスの立上が夛で1になシ、ダウ/・
カウント・パルスがOKなると、0になる。このフリッ
プ・フロップ9の出力によシ、書込みパルスが立がると
書込み用及び読出し用チップ・イネーブル信号の匹づれ
が1になっても、発振器の発振が従来の半導体記憶装置
構成部分に記憶されるまで停止せず、また従来の半導体
記憶装置構成部分のアドレス入力も、この・期間、書込
みアドレス・バッファ・レジスタの出力に接続された状
態であシ、誤りたアドレスに書込みデータが書込まれる
ことはない。
次に1本発明の効果を挙げる。
(1)本発明による半導体記憶装置をラスタ・スキャン
方式CRTディスプレイの表示記憶用に使用する場合、
ラスタ・スキャンの夕、イミングにより書込みが保留さ
れることがな−ので、処理系の処理速度を低下させな−
。
方式CRTディスプレイの表示記憶用に使用する場合、
ラスタ・スキャンの夕、イミングにより書込みが保留さ
れることがな−ので、処理系の処理速度を低下させな−
。
(2)本発明による半導体記憶装置が書込データをシフ
ト・レジスタに一時格納することから、従来の半導体記
憶装置に比較し見かけ上非常に高速に書込みが行なえる
。
ト・レジスタに一時格納することから、従来の半導体記
憶装置に比較し見かけ上非常に高速に書込みが行なえる
。
第1図は、本発明の実施例の構成を示す図、第2図は、
@1図中、従来の半導体記憶装置構成部分を一括して示
す図である。@3図はタイミング発生部の構成の一例を
示す図である。 尚、各々の1図にお−で、1・−・・・メモリ、・セル
・アレイ、2・・・・−・行アドレス・デコー’s 3
−−−−−列アドレスデコーダ、4・・・・・・アドレ
ス入力切換回路、5・・・・・・書込みアドレス・バッ
ファレジスタ(双方向シフト・レジスタ)、6・−・−
・書込みデータllバッファ・レジスタ(双方向シフト
・レジスタ)、7・・・・・・可逆カウンタ、8−−−
−−−タイミング発生部、9・++ ++e Dタイプ
・ポジティブ参エツジ・フリップ・フロップ、lO・・
・・−・発振器、11・・・・−カウンタ及びデコーダ
部、2−1・−・・−行アドレス入九3−a・・−・・
・列アドレス入力、3−b・・−・・・書込データ入力
、3−c−−−−−アウト・プツト・バッファ・イネー
ブル入力、3−d・−・・・書込みパルス入力、3−e
・・・・・・読出しデータ出力、4−m・−・−・読出
しアドレス入力、4−b・・・・・・書込みアドレス入
力、4−C−読出し・書込みアドレス切換制御信号入力
、5−a・−・・−書込みアドレス出力(レジスタの左
端に格納されてiるアドレス)bs−b・−・−書込み
アドレス入力(レジスタの左端へのアドレス入力)、5
−c=−−シフト・ライト・クロック入力、5−d−・
−・・・シフト・レフト・クロック入力%6−a−・・
・−書込みデータ出力(レジスタの左端に格納されて−
るデータ)、6−b−=−書込みデータ入力(レジスタ
の左端へのデータ入力)%6−C・−−一・シフト・ラ
イト・クロック入力%6− d−・・・シフト・レフト
・クロック入力、7−g−・・・アップ・カウ/ト入力
、7−b−・−カウント出力、?−C−・・・lラン・
カウント入力、8−a−・・・・カフ/りからの入力、
8−b−−−−−ダク/・カウント・パルス出力、8−
c−−−一続出し一書込みアドレス切換制御信号出力、
8−d−一一アウド・プツト・バッファ・イネーブル信
号出力、8−e−・・・書込みパルス出力、8−f−−
−−読出し用チップ−イネーブル信号入力、 8− g
−−−−−−書込み用チップ・イネーブル信号入力、A
・・・・・・読出しアドレス、B・・・・・・書込みア
ドレス、 C−−−−−・書込みデータ、D−、−、、
書込みパルス、g−、−・読出しデータ、F−・・・−
読出し用チップ。 イネーブル信号、G・−−一書込み用チップ拳イネーブ
ル信号。
@1図中、従来の半導体記憶装置構成部分を一括して示
す図である。@3図はタイミング発生部の構成の一例を
示す図である。 尚、各々の1図にお−で、1・−・・・メモリ、・セル
・アレイ、2・・・・−・行アドレス・デコー’s 3
−−−−−列アドレスデコーダ、4・・・・・・アドレ
ス入力切換回路、5・・・・・・書込みアドレス・バッ
ファレジスタ(双方向シフト・レジスタ)、6・−・−
・書込みデータllバッファ・レジスタ(双方向シフト
・レジスタ)、7・・・・・・可逆カウンタ、8−−−
−−−タイミング発生部、9・++ ++e Dタイプ
・ポジティブ参エツジ・フリップ・フロップ、lO・・
・・−・発振器、11・・・・−カウンタ及びデコーダ
部、2−1・−・・−行アドレス入九3−a・・−・・
・列アドレス入力、3−b・・−・・・書込データ入力
、3−c−−−−−アウト・プツト・バッファ・イネー
ブル入力、3−d・−・・・書込みパルス入力、3−e
・・・・・・読出しデータ出力、4−m・−・−・読出
しアドレス入力、4−b・・・・・・書込みアドレス入
力、4−C−読出し・書込みアドレス切換制御信号入力
、5−a・−・・−書込みアドレス出力(レジスタの左
端に格納されてiるアドレス)bs−b・−・−書込み
アドレス入力(レジスタの左端へのアドレス入力)、5
−c=−−シフト・ライト・クロック入力、5−d−・
−・・・シフト・レフト・クロック入力%6−a−・・
・−書込みデータ出力(レジスタの左端に格納されて−
るデータ)、6−b−=−書込みデータ入力(レジスタ
の左端へのデータ入力)%6−C・−−一・シフト・ラ
イト・クロック入力%6− d−・・・シフト・レフト
・クロック入力、7−g−・・・アップ・カウ/ト入力
、7−b−・−カウント出力、?−C−・・・lラン・
カウント入力、8−a−・・・・カフ/りからの入力、
8−b−−−−−ダク/・カウント・パルス出力、8−
c−−−一続出し一書込みアドレス切換制御信号出力、
8−d−一一アウド・プツト・バッファ・イネーブル信
号出力、8−e−・・・書込みパルス出力、8−f−−
−−読出し用チップ−イネーブル信号入力、 8− g
−−−−−−書込み用チップ・イネーブル信号入力、A
・・・・・・読出しアドレス、B・・・・・・書込みア
ドレス、 C−−−−−・書込みデータ、D−、−、、
書込みパルス、g−、−・読出しデータ、F−・・・−
読出し用チップ。 イネーブル信号、G・−−一書込み用チップ拳イネーブ
ル信号。
Claims (1)
- 半導体記憶装置にお−で、読出しと同時に書込みができ
るように、記憶セル部以外に記憶番地及び記憶内容の一
時格納用バッファ・レジスタを形成したことを特徴とす
る半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56110521A JPS5812185A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56110521A JPS5812185A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5812185A true JPS5812185A (ja) | 1983-01-24 |
JPS628870B2 JPS628870B2 (ja) | 1987-02-25 |
Family
ID=14537899
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56110521A Granted JPS5812185A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5812185A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6384212A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 路側通信装置 |
EP0355560A2 (en) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Integrated Device Technology, Inc. | Conditional write ram |
JPH0296997A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-04-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ装置 |
EP0594347A2 (en) * | 1992-10-22 | 1994-04-27 | AT&T Corp. | Synchronous static random access memory |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5597655A (en) * | 1979-01-18 | 1980-07-25 | Mitsubishi Electric Corp | Memory access system |
JPS55117788A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-10 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory unit |
-
1981
- 1981-07-15 JP JP56110521A patent/JPS5812185A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5597655A (en) * | 1979-01-18 | 1980-07-25 | Mitsubishi Electric Corp | Memory access system |
JPS55117788A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-10 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory unit |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6384212A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 路側通信装置 |
EP0355560A2 (en) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Integrated Device Technology, Inc. | Conditional write ram |
JPH0296997A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-04-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ装置 |
EP0594347A2 (en) * | 1992-10-22 | 1994-04-27 | AT&T Corp. | Synchronous static random access memory |
EP0594347A3 (en) * | 1992-10-22 | 1994-08-24 | At & T Corp | Synchronous static random access memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS628870B2 (ja) | 1987-02-25 |
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