JPH11304887A - レベル測定回路及びそれを用いた復調回路 - Google Patents

レベル測定回路及びそれを用いた復調回路

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JPH11304887A
JPH11304887A JP10107474A JP10747498A JPH11304887A JP H11304887 A JPH11304887 A JP H11304887A JP 10107474 A JP10107474 A JP 10107474A JP 10747498 A JP10747498 A JP 10747498A JP H11304887 A JPH11304887 A JP H11304887A
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JP
Japan
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output
signal
level
comparator
gain control
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JP10107474A
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Kimihiko Kono
公彦 河野
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NEC Engineering Ltd
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NEC Engineering Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低コストのレベル検出・表示回路を有する自
動利得制御回路を得る。 【解決手段】 復調信号レベルfが基準電圧eと等しい
場合、比較器4の出力は正極性信号と負極性信号との出
力割合が等しくなる。低域フィルタ出力hは2.5Vと
なる。ゲイン制御器1の制御電圧対制御利得の特性は、
例えば制御電圧h:2.5Vにて制御利得:0dBとす
る。これにより、受信信号aは1倍にゲイン制御され、
電力検出器3の出力fは基準電圧eと等しくなり、比較
器4の出力は正極性信号と負極性信号との出力割合も等
しくなって、AGCループは安定する。タイムベース発
生器6により設定された測定時間内の比較器4出力g
は、正極性信号と負極性信号との出力割合は等しくな
り、測定時間を例えば1000クロックとすると、正極
性がパルス計数器7によって約500カウントされる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレベル測定回路及び
それを用いた復調回路に関し、特に自動利得制御機能を
有する復調回路の復調信号のレベル測定方式に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、復調回路における自動利得制御
回路は、復調部において復調信号電力値を検出してこの
検出信号を復調部の前段に設けられた可変利得回路へフ
ィードバックすることにより構成される。この検出信号
から入力信号レベルをモニタすることができる。
【0003】従来、復調装置においては、自動利得制御
回路及びレベル測定回路が設けられている。受信信号は
まずゲイン制御器に入力され、ゲイン制御信号により一
定のレベルに補正されて復調器に入力される。復調信号
は電力検出器により検出され比較器に入力される。
【0004】比較器では、検出信号を基準電圧値とを比
較して基準電圧値より高い場合は正の極性信号を、低い
場合は負の極性信号を夫々出力する。極性信号は低域フ
ィルタにて積分され直流電圧に変換されてゲイン制御信
号としてゲイン制御回路に入力され、受信信号レベルに
応じてゲインを制御し、一定のレベルとなった信号を復
調器に入力する。
【0005】このような構成の自動利得制御回路におい
ては、利得制御信号である直流レベルに平均化された低
域フィルタの出力をD/Aコンバータにてディジタル値
に変換し、この値をマイコン(CPU;中央処理装置;
コンピュータ)にて読取って受信レベル値に変換後、表
示器に受信レベル値を表示していた。この表示された受
信レベル値を参照して、例えば衛星放送を受信するレシ
ーバ(受信機)において、アンテナの方向制御を行う。
【0006】特開昭61−92029号公報には、図4
に示すような自動利得制御回路を含む復調回路が提案さ
れている。図4において、復調器2の復調信号は電力検
出器3にて、例えば実効値に対応する信号レベル電圧値
fとして出力される。この電力検出器3の出力fをアナ
ログ比較器4の一方の入力端子に入力し、他方の入力端
子には基準レベルeが入力される。比較器4の出力g
は、低域フィルタ5により交流分(正/負変化分)を取
除き、直流信号hの形にてゲイン制御器1を制御して、
受信信号aをほぼ一定の振幅を持つ信号bに変換して、
復調器2に入力している。
【0007】また、電力検出器3の出力fをアナログ比
較器13の+側に入力し、−側はD/A(ディジタル/
アナログ)変換器12の出力に接続している。このD/
A変換器12の出力はD/A変換器12の入力コードに
応じて変化する。アナログ比較器13の出力は、電力検
出器の出力fがD/A変換器12の出力より大きい時、
正極性の信号を出力し、小さいとき負極性の信号を出力
する。
【0008】アナログ比較器13の出力はアップダウン
カウンタ11に接続され、アップダウンカウンタ11は
正極性入力の時アップカウント、負極性入力の時ダウン
カウントする。アップダウンカウンタ11のnビット出
力はD/Aコンバータ12に接続され、D/Aコンバー
タ12はアップダウンカウンタ11のカウント値に応じ
て出力電圧を変化させる。
【0009】例えば、電力検出器3の出力fが2Vであ
って、D/Aコンバータ12の出力が1Vであった時、
比較器13出力は正極性信号を出力するので、アップダ
ウンカウンタ11はアップカウントする、アップカウン
トによりD/Aコンバータ12の出力電圧は大きくな
り、2Vとなるまで上昇する。2Vになると、比較器1
3の出力は、正極性と負極性との出力割合(確率)が等
しくなる。
【0010】この場合、アップダウンカウンタ11は細
かくアップとダウンとを繰返して、D/Aコンバータ1
2の出力を安定させる。このときのアップダウンカウン
タ11の出力コードがレベル検出値となり、マイコン9
を介して表示される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】特開昭61−9202
9号公報記載の図4に示す従来の自動利得制御回路のレ
ベル検出回路は、復調器の入力レベル検出に用いた場
合、復調器のAGC(オートマティックゲインコントロ
ール;自動利得制御)回路に使用している比較器以外
に、もう一つ別の比較器を用意する必要があり、またD
/Aコンバータも必要となるため回路規模が大きくな
り、そのためにコストが高くなる問題がある。
【0012】本発明の目的は、低コストのレベル検出・
表示回路を有する自動利得制御回路を提供することであ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明によるレベル測定
回路は、ゲイン制御増幅器と、このゲイン制御増幅出力
を復調する復調器と、この復調信号の電力値と予め設定
された基準値とを比較する比較器とを含み、この比較出
力に応じて前記ゲイン制御増幅器を制御する様にした復
調回路におけるレベル測定回路であって、一定時間内に
おける前記比較出力の一方の極性の出現割合を検出する
検出手段と、この検出出力に応じたレベル表示をなすレ
ベル表示手段とを含むことを特徴とする。
【0014】そして、前記レベル表示手段は、前記検出
出力を予め定められた回数の平均値を算出してレベル表
示をなすようにしたことを特徴とし、また前記検出手段
は、前記一定時間内における前記比較出力の一方の極性
の出現期間でのクロックパルスの計数値を前記出現割合
として検出するカウンタを有することを特徴とする。
【0015】また本発明による復調回路は、ゲイン制御
増幅器と、このゲイン制御増幅出力を復調する復調器
と、この復調信号の電力値と予め設定された基準値とを
比較する比較器とを含み、この比較出力に応じて前記ゲ
イン制御増幅器を制御する様にした復調回路であって、
一定時間内における前記比較出力の一方の極性の出現割
合を検出する検出手段と、この検出出力に応じたレベル
表示をなすレベル表示手段とを含むことを特徴とする。
【0016】そして、前記レベル表示手段は、前記検出
出力を予め定められた回数の平均値を算出してレベル表
示をなすようにしたことを特徴とし、たま前記検出手段
は、前記一定時間内における前記比較出力の一方の極性
の出現期間でのクロックパルスの計数値を前記出現割合
として検出するカウンタを有することを特徴とする。
【0017】本発明の作用は次の通りである。自動利得
制御回路において、AGC機能の構成要素である受信信
号電圧と基準電圧とのレベル差を検出する比較器の出力
信号の正または負極性の出力割合を一定時間測定して、
その測定値を受信信号レベルとする。
【0018】比較器の出力と受信レベルの関係は、受信
信号電圧が基準電圧と等しい場合、正極性信号と負極性
信号との出力割合は等しくなり、例えば比較器の回路構
成が比較出力=受信電圧−基準電圧であれば、受信電圧
が基準電圧より大きい場合は正極性信号の出力割合が多
くなり、受信電力が小さい場合には負極性信号の出力割
合が多くなる。この出力割合は受信信号電圧に比例して
変化するので、一定時間内の極性信号の出力割合を観測
することにより、容易に信号電圧(受信信号レベル)を
測定することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施例について
図面を参照して説明する。
【0020】図1は本発明による自動利得制御回路の実
施例の構成を示すブロック図であり、図4と同等部分は
同一符号にて示している。図1において、本発明による
自動利得制御回路は、受信変調信号aを一定のレベルに
制御するゲイン制御増幅器1、この出力信号bを復調
し、復調信号dと復調クロックcを得る復調器2、復調
器2の復調信号jを電力値fに変換する電力検出器3、
この検出値fを予め設定された基準電圧値eと比較する
比較器4、比較器4から出力される極性信号gを、平均
化して直流電圧hに変換しこの直流電圧hにてゲイン制
御増幅器1のゲイン制御を行う低域フィルタ5によって
構成される。
【0021】また、極性信号gの正極性の出力割合を計
測するためのパルス計数器7、計数器7を一定時間内カ
ウントさせるタイムベース信号iを生成するタイムベー
ス発生器6、計数器7とタイムベース発生器6を動作さ
せるクロック発生器10、計数器7の出力を予め設定さ
れた設定した回数だけ平均する平均回路8、平均回路8
の出力をマイコン9にて取込んで液晶表示器等にモニタ
信号として表示することによってレベル測定回路を構成
する。
【0022】まず、復調信号レベルfが基準電圧eと等
しい場合について動作を説明する。当該信号レベルfが
基準電圧eと等しい場合、比較器4の出力は正極性信号
と負極性信号との出力割合が等しくなる。いま、正極性
電圧を5V、負極性電圧を0Vとすると、低域フィルタ
5の時定数が信号列を充分平均できる値とすれば、低域
フィルタ出力hは2.5Vとなる。
【0023】このとき、ゲイン制御(増幅)器1の制御
電圧対制御利得の特性は、図3に示すように制御電圧
h:2.5Vにて制御利得:0dB(1倍)とする。こ
れにより、受信信号aは1倍にゲイン制御され、電力検
出器3の出力fは基準電圧eと等しくなり、比較器4の
出力は正極性信号と負極性信号との出力割合も等しくな
って、AGCループは安定する。このとき、タイムベー
ス発生器6により設定された測定時間内の比較器4出力
gは、正極性信号と負極性信号との出力割合は等しくな
り、測定時間を例えば1000クロックとすると、正極
性がパルス計数器7によって約500カウントされる。
【0024】次に、復調信号レベルfが基準電圧eより
も3dB(2倍)大きい場合、比較器4の出力gは正極
性信号の割合が多くなる。ゲイン制御器1の特性が図3
に示すものであるとすると、ゲイン制御器1は受信入力
信号を−3dB(1/2倍)とする必要があるので、制
御電圧は3.5Vとなり、比較器4出力gの正極性信号
の出力割合は、測定時間を1000クロックとすると、
パルス計数器7の出力カウント数は約700となる。同
じように、復調信号レベルfが+6dB(4倍)の場合
は制御電圧は4.5Vとなり、このとき正極性信号の出
力割合は約900カウントになる。
【0025】次に、復調信号レベルfが基準電圧eより
も−3dB(1/2倍)の場合、比較器4の出力gは負
極性信号の出力割合が多くなる。ゲイン制御器1の特性
に図3を用いると、ゲイン制御器1は受信入力信号aを
+3dB(2倍)する必要があり、制御電圧は1.5V
となり、比較器4出力gの正極性信号の出力割合は、測
定時間を1000クロックとすると、パルス計数器7の
出力カウント数は約300となる。
【0026】同じように、復調信号レベルfが−6dB
(1/4倍)の場合は制御電圧は0.5Vとなり、この
とき正極性信号の出力割合は約100カウントになる。
以上のように、入力レベルの大きさに応じて、一定時間
内の比較器4の出力gの正極性信号の出力割合が変化す
るので、この値から復調信号レベルの大きさをモニタす
ることができる。
【0027】次に、本発明の他の実施例について図2に
より説明する。図2において図1と同等部分は同一符号
にて示しており、図1のクロック発生器10を省略して
復調器2の復調クロックを使用した例である。復調器2
の復調クロックcがnビットのディジタル出力の場合、
電力検出器3、比較器4をディジタル処理することがで
きる。例えば、電力検出器3は入力データを2乗する回
路にて構成でき、比較器4は減算器にて構成できる。ま
た、電力検出器3、比較器4、パルス計数器7、タイム
ベース発生器6を復調クロックcに同期させて動作させ
る。
【0028】これにより、クロック発生器10を別に持
つ必要はなくなる。比較器4の出力gは構成する減算器
の出力を符号のみ1ビットの形にて出力する。パルス計
数器7はこの符号の正極性の数を、タイムベース発生器
6にて設定したクロック数だけカウントする。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、復
調器のAGC回路の比較器出力である極性信号を直接カ
ウンタにて計測してその値を復調信号レベル値としてい
るため、簡単な回路構成にて実現できるという効果があ
る。また、復調クロックがnビットのディジタル値であ
れば、電力検出器からレベル表示器までの処理を完全デ
ィジタル化できる効果があるもある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例のブロック図である。
【図2】本発明の他の実施例のブロック図である。
【図3】ゲイン制御特性の説明図である。
【図4】従来の自動利得制御回路の一例のブロック図で
ある。
【符号の説明】
1 ゲイン制御増幅器 2 復調器 3 電力検出器 4 比較器 5 低域フィルタ 6 タイムベース発生器 7 パルス計数器 8 平均化回路 9 マイコン 10 クロック発生器

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゲイン制御増幅器と、このゲイン制御増
    幅出力を復調する復調器と、この復調信号の電力値と予
    め設定された基準値とを比較する比較器とを含み、この
    比較出力に応じて前記ゲイン制御増幅器を制御する様に
    した復調回路におけるレベル測定回路であって、一定時
    間内における前記比較出力の一方の極性の出現割合を検
    出する検出手段と、この検出出力に応じたレベル表示を
    なすレベル表示手段とを含むことを特徴とするレベル測
    定回路。
  2. 【請求項2】 前記レベル表示手段は、前記検出出力を
    予め定められた回数の平均値を算出してレベル表示をな
    すようにしたことを特徴とする請求項1記載のレベル測
    定回路。
  3. 【請求項3】 前記検出手段は、前記一定時間内におけ
    る前記比較出力の一方の極性の出現期間でのクロックパ
    ルスの計数値を前記出現割合として検出するカウンタを
    有することを特徴とする請求項1または2記載のレベル
    測定回路。
  4. 【請求項4】 前記クロックパルスは前記復調器からの
    復調クロックであることを特徴とする請求項3記載のレ
    ベル測定回路。
  5. 【請求項5】 ゲイン制御増幅器と、このゲイン制御増
    幅出力を復調する復調器と、この復調信号の電力値と予
    め設定された基準値とを比較する比較器とを含み、この
    比較出力に応じて前記ゲイン制御増幅器を制御する様に
    した復調回路であって、一定時間内における前記比較出
    力の一方の極性の出現割合を検出する検出手段と、この
    検出出力に応じたレベル表示をなすレベル表示手段とを
    含むことを特徴とする復調回路。
  6. 【請求項6】 前記レベル表示手段は、前記検出出力を
    予め定められた回数の平均値を算出してレベル表示をな
    すようにしたことを特徴とする請求項5記載の復調回
    路。
  7. 【請求項7】 前記検出手段は、前記一定時間内におけ
    る前記比較出力の一方の極性の出現期間でのクロックパ
    ルスの計数値を前記出現割合として検出するカウンタを
    有することを特徴とする請求項5または6記載の復調回
    路。
  8. 【請求項8】 前記クロックパルスは前記復調器からの
    復調クロックであることを特徴とする請求項7記載の復
    調回路。
JP10107474A 1998-04-17 1998-04-17 レベル測定回路及びそれを用いた復調回路 Withdrawn JPH11304887A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7751498B2 (en) * 2005-02-28 2010-07-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7751498B2 (en) * 2005-02-28 2010-07-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof
US7876859B2 (en) 2005-02-28 2011-01-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof
US8238476B2 (en) 2005-02-28 2012-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof

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