JPH1127475A - 画像読取方法および装置 - Google Patents
画像読取方法および装置Info
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- JPH1127475A JPH1127475A JP9176063A JP17606397A JPH1127475A JP H1127475 A JPH1127475 A JP H1127475A JP 9176063 A JP9176063 A JP 9176063A JP 17606397 A JP17606397 A JP 17606397A JP H1127475 A JPH1127475 A JP H1127475A
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- read
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- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ファクシミリ、OCR、複写機などで用いら
れる画像読取装置において、汚れが付着しているか否か
だけでなく、その付着箇所まで検出可能とする。 【解決手段】 原稿の非装填時に、均一な反射率を有す
る背景の反射光レベルを読取素子を走査して読取り、図
1(a)で示す埃11,12が原稿窓や背景などの光学
系の焦点付近に付着している場合には、その埃の読取素
子への投影像は図1(b)に参照符11α,12αで示
すように鮮明なものとなり、読取素子の出力は、図1
(c)で示すように、汚れ無しの判定レベルV1と汚れ
有りの判定レベルV2との距離X1が比較的短くなる。
これに対して、ミラーやレンズなどの光学系に埃が付着
している場合には、図1(d)に参照符11β,12β
で示すように、ぼやけて、大きく拡大された像となり、
読取素子からの出力レベルは、図1(e)で示すよう
に、前記レベルV1,V2間の距離X2が比較的大きく
なる。
れる画像読取装置において、汚れが付着しているか否か
だけでなく、その付着箇所まで検出可能とする。 【解決手段】 原稿の非装填時に、均一な反射率を有す
る背景の反射光レベルを読取素子を走査して読取り、図
1(a)で示す埃11,12が原稿窓や背景などの光学
系の焦点付近に付着している場合には、その埃の読取素
子への投影像は図1(b)に参照符11α,12αで示
すように鮮明なものとなり、読取素子の出力は、図1
(c)で示すように、汚れ無しの判定レベルV1と汚れ
有りの判定レベルV2との距離X1が比較的短くなる。
これに対して、ミラーやレンズなどの光学系に埃が付着
している場合には、図1(d)に参照符11β,12β
で示すように、ぼやけて、大きく拡大された像となり、
読取素子からの出力レベルは、図1(e)で示すよう
に、前記レベルV1,V2間の距離X2が比較的大きく
なる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、OCRと称される
光学式原稿読取装置、ファクシミリ送受信機、複写機お
よびイメージスキャナなどで好適に実施される画像読取
方法および装置に関する。
光学式原稿読取装置、ファクシミリ送受信機、複写機お
よびイメージスキャナなどで好適に実施される画像読取
方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】上述のような画像読取機能を備えている
装置では、原稿から読取素子までの経路上に、塵や埃な
どの汚れがあると、送信または読込を行うべき画像の品
質が低下してしまう。このため、典型的な従来技術であ
る特開平4−271663号公報では、基準白レベルを
設定するためのシェーディング補正版を読取ったときの
出力を、所定の規格レベルでレベル弁別し、その弁別結
果に基づいて、汚れの付着の予告表示または警報表示を
行うように構成されている。
装置では、原稿から読取素子までの経路上に、塵や埃な
どの汚れがあると、送信または読込を行うべき画像の品
質が低下してしまう。このため、典型的な従来技術であ
る特開平4−271663号公報では、基準白レベルを
設定するためのシェーディング補正版を読取ったときの
出力を、所定の規格レベルでレベル弁別し、その弁別結
果に基づいて、汚れの付着の予告表示または警報表示を
行うように構成されている。
【0003】また、他の従来技術である特開昭63−2
21766号公報では、原稿の搬送開始以前に、背景の
反射光レベルを読取り、黒と認識される画素数が所定数
以上であるときに、汚れが付着しているものと判定して
いる。
21766号公報では、原稿の搬送開始以前に、背景の
反射光レベルを読取り、黒と認識される画素数が所定数
以上であるときに、汚れが付着しているものと判定して
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述の2つの従来技術
では、いずれも汚れの有無を判定することはできるけれ
ども、その汚れが、背景、原稿窓またはミラーやレンズ
などの光学系のいずれに付着しているのかが、機器を分
解してみなければ判らず、したがって、メンテナンス作
業に時間がかかるという問題がある。
では、いずれも汚れの有無を判定することはできるけれ
ども、その汚れが、背景、原稿窓またはミラーやレンズ
などの光学系のいずれに付着しているのかが、機器を分
解してみなければ判らず、したがって、メンテナンス作
業に時間がかかるという問題がある。
【0005】本発明の目的は、汚れの付着位置を識別可
能にして、メンテナンス作業を軽減することができる画
像読取方法および装置を提供することである。
能にして、メンテナンス作業を軽減することができる画
像読取方法および装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る画
像読取方法は、予め設定された読取領域に臨む原稿の画
像を光学系を介して読取素子で読取るようにし、前記読
取領域には原稿への照射光に対する反射率が均一な背景
を有し、前記原稿の非装填時に前記背景からの反射光レ
ベルを読取り、読取った各読取素子のデータ間の差分の
大きさから汚れの有無を判定するようにした画像読取方
法において、相互に隣接している読取素子のデータ間の
差分が大きい程、前記汚れの付着位置を前記光学系の焦
点付近であると判定することを特徴とする。
像読取方法は、予め設定された読取領域に臨む原稿の画
像を光学系を介して読取素子で読取るようにし、前記読
取領域には原稿への照射光に対する反射率が均一な背景
を有し、前記原稿の非装填時に前記背景からの反射光レ
ベルを読取り、読取った各読取素子のデータ間の差分の
大きさから汚れの有無を判定するようにした画像読取方
法において、相互に隣接している読取素子のデータ間の
差分が大きい程、前記汚れの付着位置を前記光学系の焦
点付近であると判定することを特徴とする。
【0007】上記の構成によれば、汚れの付着位置が光
学系の焦点に近い程、その汚れを読取素子に投影した像
が鮮明であり、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投
影した像がぼやけることを利用して、相互に隣接してい
る読取素子で検出された背景の反射光レベルの差分が大
きい程、すなわち該反射光レベルの変化率が大きい程、
前記鮮明な投影像であるので、汚れの付着位置を、前記
背景や原稿窓などの光学系の焦点付近であると判定し、
前記差分が小さくなる程、すなわち前記反射光レベルの
変化率が小さくなる程、前記ぼやけた投影像であるの
で、汚れの付着位置を、ミラーやレンズなどの光学系で
あると判定する。
学系の焦点に近い程、その汚れを読取素子に投影した像
が鮮明であり、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投
影した像がぼやけることを利用して、相互に隣接してい
る読取素子で検出された背景の反射光レベルの差分が大
きい程、すなわち該反射光レベルの変化率が大きい程、
前記鮮明な投影像であるので、汚れの付着位置を、前記
背景や原稿窓などの光学系の焦点付近であると判定し、
前記差分が小さくなる程、すなわち前記反射光レベルの
変化率が小さくなる程、前記ぼやけた投影像であるの
で、汚れの付着位置を、ミラーやレンズなどの光学系で
あると判定する。
【0008】したがって、専用のセンサを設けたり、機
器を分解することなく、汚れの付着位置を識別すること
ができるので、メンテナンス作業を容易に行うことがで
きる。
器を分解することなく、汚れの付着位置を識別すること
ができるので、メンテナンス作業を容易に行うことがで
きる。
【0009】また、請求項2の発明に係る画像読取装置
は、予め設定された読取領域に臨む原稿の画像を光学系
を介して読取素子で読取るようにし、前記読取領域には
原稿への照射光に対する反射率が均一な背景を有し、前
記原稿の非装填時に前記背景からの反射光レベルを読取
り、読取った各読取素子のデータ間の差分の大きさから
汚れの有無を判定するようにした画像読取装置におい
て、読取走査に対応して、各読取素子から順次出力され
るデータを取込み、汚れが付着していないと判定するこ
とができる第1の判定レベルの読取素子から、汚れが付
着していると判定することができる第2の判定レベルの
読取素子までの距離を演算する距離演算手段と、前記距
離演算手段の演算結果に応答し、前記距離が小さくなる
程、前記汚れの付着位置を前記光学系の焦点付近である
と判定する判定手段とを含むことを特徴とする。
は、予め設定された読取領域に臨む原稿の画像を光学系
を介して読取素子で読取るようにし、前記読取領域には
原稿への照射光に対する反射率が均一な背景を有し、前
記原稿の非装填時に前記背景からの反射光レベルを読取
り、読取った各読取素子のデータ間の差分の大きさから
汚れの有無を判定するようにした画像読取装置におい
て、読取走査に対応して、各読取素子から順次出力され
るデータを取込み、汚れが付着していないと判定するこ
とができる第1の判定レベルの読取素子から、汚れが付
着していると判定することができる第2の判定レベルの
読取素子までの距離を演算する距離演算手段と、前記距
離演算手段の演算結果に応答し、前記距離が小さくなる
程、前記汚れの付着位置を前記光学系の焦点付近である
と判定する判定手段とを含むことを特徴とする。
【0010】上記の構成によれば、汚れの付着位置が光
学系の焦点に近い程、その汚れを読取素子に投影した像
が鮮明であり、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投
影した像がぼやけることを利用して、前記距離が小さく
なる程、読取素子上に投影された汚れの像が鮮明である
ので、該汚れの付着位置を、前記背景や原稿窓などの焦
点付近であると判定し、前記距離が大きいときには、前
記投影像がぼやけた像であるので、汚れの付着位置を、
ミラーやレンズなどの光学系であると判定する。
学系の焦点に近い程、その汚れを読取素子に投影した像
が鮮明であり、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投
影した像がぼやけることを利用して、前記距離が小さく
なる程、読取素子上に投影された汚れの像が鮮明である
ので、該汚れの付着位置を、前記背景や原稿窓などの焦
点付近であると判定し、前記距離が大きいときには、前
記投影像がぼやけた像であるので、汚れの付着位置を、
ミラーやレンズなどの光学系であると判定する。
【0011】したがって、専用のセンサを設けたり、機
器を分解することなく、汚れの付着位置を識別すること
ができるので、メンテナンス作業を容易に行うことがで
きる。
器を分解することなく、汚れの付着位置を識別すること
ができるので、メンテナンス作業を容易に行うことがで
きる。
【0012】さらにまた、請求項3の発明に係る画像読
取装置は、前記判定手段によって判定された汚れの付着
位置を操作者に報知する報知手段を有することを特徴と
する。
取装置は、前記判定手段によって判定された汚れの付着
位置を操作者に報知する報知手段を有することを特徴と
する。
【0013】上記の構成によれば、操作者は、操作パネ
ルなどに備えられる該報知手段の報知内容から、汚れの
付着位置を認識し、容易に汚れの除去作業を行うことが
できるとともに、汚れが付着したままでの読取動作を未
然に防止することができる。
ルなどに備えられる該報知手段の報知内容から、汚れの
付着位置を認識し、容易に汚れの除去作業を行うことが
できるとともに、汚れが付着したままでの読取動作を未
然に防止することができる。
【0014】また、請求項4の発明に係る画像読取装置
は、前記光学系と、原稿台の表面側または背面側の少な
くともいずれか一方とに臨んでそれぞれ設けられ、前記
判定手段の判定結果に応答して選択的に駆動される汚れ
除去手段を有することを特徴とする。
は、前記光学系と、原稿台の表面側または背面側の少な
くともいずれか一方とに臨んでそれぞれ設けられ、前記
判定手段の判定結果に応答して選択的に駆動される汚れ
除去手段を有することを特徴とする。
【0015】上記の構成によれば、前記汚れの付着位置
が焦点付近であると判定されたときには、原稿台の表面
側または背面側の少なくともいずれか一方に設けられた
汚れ除去手段によって、原稿窓や背景などの汚れの除去
作業が行われ、前記汚れの付着位置が焦点付近でないと
判定されたときには、光学系に設けられた汚れ除去手段
によって、ミラーなどの汚れ除去作業が行われる。
が焦点付近であると判定されたときには、原稿台の表面
側または背面側の少なくともいずれか一方に設けられた
汚れ除去手段によって、原稿窓や背景などの汚れの除去
作業が行われ、前記汚れの付着位置が焦点付近でないと
判定されたときには、光学系に設けられた汚れ除去手段
によって、ミラーなどの汚れ除去作業が行われる。
【0016】したがって、汚れの付着位置に対応した汚
れ除去手段のみを駆動して、無駄なく、自動的に、汚れ
を除去することができる。
れ除去手段のみを駆動して、無駄なく、自動的に、汚れ
を除去することができる。
【0017】さらにまた、請求項5の発明に係る画像読
取装置は、入力手段と、前記入力手段で設定された時間
毎に前記距離演算手段および判定手段を能動化し、汚れ
検出動作を起動させるタイマとをさらに有することを特
徴とする。
取装置は、入力手段と、前記入力手段で設定された時間
毎に前記距離演算手段および判定手段を能動化し、汚れ
検出動作を起動させるタイマとをさらに有することを特
徴とする。
【0018】上記の構成によれば、使用環境や、使用頻
度などに対応して、操作者が入力手段から設定した時間
毎に、自動的に、汚れ検出動作を行わせることができ
る。
度などに対応して、操作者が入力手段から設定した時間
毎に、自動的に、汚れ検出動作を行わせることができ
る。
【0019】また、請求項6の発明に係る画像読取装置
は、電源投入を検知して、前記距離演算手段および判定
手段を能動化し、汚れ検出動作を起動させる電源検知手
段をさらに有することを特徴とする。
は、電源投入を検知して、前記距離演算手段および判定
手段を能動化し、汚れ検出動作を起動させる電源検知手
段をさらに有することを特徴とする。
【0020】上記の構成によれば、電源投入直後の初期
化状態時に、自動的に、汚れ検出動作を起動させること
ができる。
化状態時に、自動的に、汚れ検出動作を起動させること
ができる。
【0021】さらにまた、請求項7の発明に係る画像読
取装置は、原稿の装填を検知して、前記距離演算手段お
よび判定手段を能動化し、汚れ検出動作を起動させる原
稿検知手段をさらに有することを特徴とする。
取装置は、原稿の装填を検知して、前記距離演算手段お
よび判定手段を能動化し、汚れ検出動作を起動させる原
稿検知手段をさらに有することを特徴とする。
【0022】上記の構成によれば、原稿の装填の度毎、
すなわち原稿の読取りの直前に、自動的に汚れ検出動作
を起動させることができ、汚れの付着した状態での読取
動作を確実に防止することができる。
すなわち原稿の読取りの直前に、自動的に汚れ検出動作
を起動させることができ、汚れの付着した状態での読取
動作を確実に防止することができる。
【0023】また、請求項8の発明に係る画像読取装置
は、前記読取素子の後段側に介在される利得可変の増幅
手段と、前記読取素子で読取られた背景からの反射光レ
ベルを記憶しておく記憶手段と、実際の原稿読取時に、
読取走査に連動して前記記憶手段のストア内容を読出
し、反射光レベルが小さかった読取素子からの出力程、
前記増幅手段の利得を高く設定する利得制御手段とを有
することを特徴とする。
は、前記読取素子の後段側に介在される利得可変の増幅
手段と、前記読取素子で読取られた背景からの反射光レ
ベルを記憶しておく記憶手段と、実際の原稿読取時に、
読取走査に連動して前記記憶手段のストア内容を読出
し、反射光レベルが小さかった読取素子からの出力程、
前記増幅手段の利得を高く設定する利得制御手段とを有
することを特徴とする。
【0024】上記の構成によれば、付着した汚れによる
原稿からの反射光量の減少分を、読取素子からの出力の
増幅率を上昇することによって補償する。
原稿からの反射光量の減少分を、読取素子からの出力の
増幅率を上昇することによって補償する。
【0025】したがって、汚れが付着していても、原画
像に近い状態で画像の読取りを行うことができる。
像に近い状態で画像の読取りを行うことができる。
【0026】
【発明の実施の形態】本発明の実施の第1の形態につい
て、図1および図2に基づいて説明すれば以下のとおり
である。
て、図1および図2に基づいて説明すれば以下のとおり
である。
【0027】図1は本発明の実施の一形態の画像読取方
法を説明するための波形図であり、図2はその画像読取
方法を適用することができる本発明の実施の第1の形態
の画像読取装置1の読取部分の構造を模式的に示す断面
図である。まず、図2を参照して、この画像読取装置1
は、原稿台2上に載置された原稿3の画像を、一次元固
体走査素子4によって読取ってゆく装置である。したが
って、原稿台2の読取領域には透明な窓5が形成されて
おり、矢符6方向に搬送されてこの読取領域に臨む原稿
3には、図示しない発光素子から光が照射され、その反
射光が、ミラー7およびレンズ8によって構成される光
学系を介して、前記一次元固体走査素子4に結像され
る。
法を説明するための波形図であり、図2はその画像読取
方法を適用することができる本発明の実施の第1の形態
の画像読取装置1の読取部分の構造を模式的に示す断面
図である。まず、図2を参照して、この画像読取装置1
は、原稿台2上に載置された原稿3の画像を、一次元固
体走査素子4によって読取ってゆく装置である。したが
って、原稿台2の読取領域には透明な窓5が形成されて
おり、矢符6方向に搬送されてこの読取領域に臨む原稿
3には、図示しない発光素子から光が照射され、その反
射光が、ミラー7およびレンズ8によって構成される光
学系を介して、前記一次元固体走査素子4に結像され
る。
【0028】前記一次元固体走査素子4は、電荷結合素
子などで実現され、前記矢符6方向とは垂直な、図2の
紙面と垂直方向に、素子が配列されて構成されており、
各素子によって読取られた原稿像を順次取出すことによ
って、前記矢符6方向とは垂直方向に主走査を行い、ま
た原稿3が矢符6方向に給送されることによって、副走
査を実現する。前記読取領域の後方には、均一な色で、
前記光源から原稿へ照射される光に対する反射率が均一
な背景9が配置されている。
子などで実現され、前記矢符6方向とは垂直な、図2の
紙面と垂直方向に、素子が配列されて構成されており、
各素子によって読取られた原稿像を順次取出すことによ
って、前記矢符6方向とは垂直方向に主走査を行い、ま
た原稿3が矢符6方向に給送されることによって、副走
査を実現する。前記読取領域の後方には、均一な色で、
前記光源から原稿へ照射される光に対する反射率が均一
な背景9が配置されている。
【0029】上述のように構成される画像読取装置1に
おいて、本発明では、原稿3の非装填時に、一次元固体
走査素子4によって読取られる背景9の反射光レベルか
ら汚れの有無を検出し、さらにその汚れが、前記窓5や
背景9などの光学系の焦点付近に付着しているのか、ま
たはミラー7やレンズ8などの光学系に付着しているの
かを判定可能とする。
おいて、本発明では、原稿3の非装填時に、一次元固体
走査素子4によって読取られる背景9の反射光レベルか
ら汚れの有無を検出し、さらにその汚れが、前記窓5や
背景9などの光学系の焦点付近に付着しているのか、ま
たはミラー7やレンズ8などの光学系に付着しているの
かを判定可能とする。
【0030】たとえば、図1(a)で示すような、埃1
1,12を考えると、背景9と色あいや透明度の異なる
このような埃11,12が、図2において参照符αで示
すように、窓5や背景9(図2の例では背景9)などの
光学系の焦点付近に付着すると、一次元固体走査素子4
上に結像される該埃11,12の投影像は、図1(b)
において参照符11α,12αで示すように、比較的鮮
明な像となり、一次元固体走査素子4から出力される反
射光レベルは、図1(c)で示すようになる。
1,12を考えると、背景9と色あいや透明度の異なる
このような埃11,12が、図2において参照符αで示
すように、窓5や背景9(図2の例では背景9)などの
光学系の焦点付近に付着すると、一次元固体走査素子4
上に結像される該埃11,12の投影像は、図1(b)
において参照符11α,12αで示すように、比較的鮮
明な像となり、一次元固体走査素子4から出力される反
射光レベルは、図1(c)で示すようになる。
【0031】これに対して、図2において参照符βで示
すように、前記埃11,12が、光学系(図2の例では
ミラー7)に付着すると、一次元固体走査素子4上への
投影像は、図1(d)において参照符11β,12βで
示すように、実際の像よりもぼやけた大型の像となり、
一次元固体走査素子4から出力される反射光レベルは、
図1(e)で示すようになる。
すように、前記埃11,12が、光学系(図2の例では
ミラー7)に付着すると、一次元固体走査素子4上への
投影像は、図1(d)において参照符11β,12βで
示すように、実際の像よりもぼやけた大型の像となり、
一次元固体走査素子4から出力される反射光レベルは、
図1(e)で示すようになる。
【0032】したがって、汚れの大きさに拘らず、汚れ
の付着位置を検出可能とするために、一次元固体走査素
子4において、主走査方向に配列される各読取素子から
の出力の変化が急峻であるかまたは緩慢であるか、すな
わち一次元固体走査素子4からの出力レベルが、汚れが
付着していないと判定することができる第1の判定レベ
ルV1から、汚れが付着していると判定することができ
る第2の判定レベルV2に変化するのに要する主走査方
向上の距離X1,X2を求めればよい。
の付着位置を検出可能とするために、一次元固体走査素
子4において、主走査方向に配列される各読取素子から
の出力の変化が急峻であるかまたは緩慢であるか、すな
わち一次元固体走査素子4からの出力レベルが、汚れが
付着していないと判定することができる第1の判定レベ
ルV1から、汚れが付着していると判定することができ
る第2の判定レベルV2に変化するのに要する主走査方
向上の距離X1,X2を求めればよい。
【0033】前記距離X1,X2は、たとえば一次元固
体走査素子4の各読取素子からの出力をアナログ/デジ
タル変換してメモリに取込んでゆき、前記レベルV1よ
り小さいストア内容となるストア領域のアドレスと、レ
ベルV2のストア内容となるストア領域のアドレスとの
差、すなわち読取素子の素子数に、予め設定されている
解像度に対応した前記読取素子の配列ピッチを乗算する
ことによって、容易に求めることができる。
体走査素子4の各読取素子からの出力をアナログ/デジ
タル変換してメモリに取込んでゆき、前記レベルV1よ
り小さいストア内容となるストア領域のアドレスと、レ
ベルV2のストア内容となるストア領域のアドレスとの
差、すなわち読取素子の素子数に、予め設定されている
解像度に対応した前記読取素子の配列ピッチを乗算する
ことによって、容易に求めることができる。
【0034】したがって、 X1<X2 …(1) であるので、 X1<Xth<X2 …(2) を満足することができる閾値Xthを設定することによ
って、実際に測定された距離Xが、 X<Xth …(3) であるときには、汚れは、窓5または背景9などの焦点
位置付近に付着しており、これに対して、 Xth<X …(4) であるときには、前記汚れは、光学系に付着しているも
のと識別することができる。
って、実際に測定された距離Xが、 X<Xth …(3) であるときには、汚れは、窓5または背景9などの焦点
位置付近に付着しており、これに対して、 Xth<X …(4) であるときには、前記汚れは、光学系に付着しているも
のと識別することができる。
【0035】このようにして、専用のセンサを設けた
り、機器を分解しなくても、汚れの付着位置を識別する
ことができ、メンテナンス作業を軽減することができ
る。
り、機器を分解しなくても、汚れの付着位置を識別する
ことができ、メンテナンス作業を軽減することができ
る。
【0036】本発明の実施の第2の形態について、図3
および図4に基づいて説明すれば以下のとおりである。
および図4に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0037】図3は、本発明の実施の第2の形態の画像
読取装置21の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置21は、前述の図1および図
2で示す画像読取装置1に類似し、対応する部分には同
一の参照符号を付して、その説明を省略する。
読取装置21の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置21は、前述の図1および図
2で示す画像読取装置1に類似し、対応する部分には同
一の参照符号を付して、その説明を省略する。
【0038】この画像読取装置21では、原稿3の非装
填時に、一次元固体走査素子4によって得られた背景9
の反射光レベルのデータは、アナログ/デジタル変換器
22によってデジタルデータに変換された後、演算装置
23を介して、記憶装置24のレベルエリアM1に記憶
される。
填時に、一次元固体走査素子4によって得られた背景9
の反射光レベルのデータは、アナログ/デジタル変換器
22によってデジタルデータに変換された後、演算装置
23を介して、記憶装置24のレベルエリアM1に記憶
される。
【0039】前記演算装置23は、このレベルエリアM
1に書込んだデータに対して、前述の図1で述べたよう
にして汚れの付着位置を識別し、その付着位置が、前記
参照符αで示すように焦点位置付近であるときには、前
記記憶装置24の表示エリアM2にフラグ「1」を書込
み、前記参照符βで示すように光学系であるときには、
表示エリアM3にフラグ「1」を書込む。前記フラグ
は、汚れの付着が一箇所検出されると、「1」にセット
され、複数箇所検出されても同様である。また、焦点位
置付近と、光学系との両方に汚れが検出された場合に
は、前記表示エリアM2,M3に、ともに「1」のフラ
グがセットされることもある。
1に書込んだデータに対して、前述の図1で述べたよう
にして汚れの付着位置を識別し、その付着位置が、前記
参照符αで示すように焦点位置付近であるときには、前
記記憶装置24の表示エリアM2にフラグ「1」を書込
み、前記参照符βで示すように光学系であるときには、
表示エリアM3にフラグ「1」を書込む。前記フラグ
は、汚れの付着が一箇所検出されると、「1」にセット
され、複数箇所検出されても同様である。また、焦点位
置付近と、光学系との両方に汚れが検出された場合に
は、前記表示エリアM2,M3に、ともに「1」のフラ
グがセットされることもある。
【0040】演算装置23は、前記表示エリアM2,M
3にセットされているフラグに対応して、表示部25を
表示駆動する。図4の例では、前記参照符αで示すよう
に、光学系の焦点付近に汚れが付着している場合の表示
例を示しており、前記表示エリアM2にセットされたフ
ラグに対応して、この焦点位置付近を表す発光ダイオー
ドが駆動されている。
3にセットされているフラグに対応して、表示部25を
表示駆動する。図4の例では、前記参照符αで示すよう
に、光学系の焦点付近に汚れが付着している場合の表示
例を示しており、前記表示エリアM2にセットされたフ
ラグに対応して、この焦点位置付近を表す発光ダイオー
ドが駆動されている。
【0041】このようにして、汚れの付着している箇所
を表示することによって、機器を分解しなくても、汚れ
の付着位置を操作者に報知することができ、メンテナン
ス作業を軽減することができるとともに、汚れが付着し
ている状態での原稿の読取りを未然に防止することがで
きる。
を表示することによって、機器を分解しなくても、汚れ
の付着位置を操作者に報知することができ、メンテナン
ス作業を軽減することができるとともに、汚れが付着し
ている状態での原稿の読取りを未然に防止することがで
きる。
【0042】なお、操作者への報知は、画像表示に限ら
ず、音声ガイドなどの他の手法を用いてもよい。
ず、音声ガイドなどの他の手法を用いてもよい。
【0043】本発明の実施の第3の形態について、図5
に基づいて説明すれば以下のとおりである。
に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0044】図5は、本発明の実施の第3の形態の画像
読取装置31の読取部分の構成を示すブロック図であ
る。この画像読取装置31において、前述の画像読取装
置1,21に類似し、対応する部分には同一の参照符号
を付して、その説明を省略する。
読取装置31の読取部分の構成を示すブロック図であ
る。この画像読取装置31において、前述の画像読取装
置1,21に類似し、対応する部分には同一の参照符号
を付して、その説明を省略する。
【0045】この画像読取装置31では、窓5の表面か
ら背景9に臨んでノズル32が配置されており、窓5の
背面側に臨んでノズル33が配置されており、ミラー7
に臨んでノズル34が配置されている。
ら背景9に臨んでノズル32が配置されており、窓5の
背面側に臨んでノズル33が配置されており、ミラー7
に臨んでノズル34が配置されている。
【0046】一方、記憶装置35は、前記記憶装置24
のレベルエリアM1および表示エリアM2,M3と、そ
れぞれ同一のストア内容のレベルエリアM1および制御
エリアM12,M13を備えて構成されている。演算装
置36は、前記制御エリアM12にフラグ「1」がセッ
トされているときには、バルブ37に駆動信号CTL1
を出力して、圧縮空気源38に貯留されている圧縮空気
を前記ノズル32,33から噴射させて、前記焦点位置
付近に付着した埃を除去し、また制御エリアM13にフ
ラグ「1」がセットされているときには、バルブ39に
駆動信号CTL2を出力して、ノズル34から圧縮空気
を噴射させ、ミラー7に付着した埃を除去する。
のレベルエリアM1および表示エリアM2,M3と、そ
れぞれ同一のストア内容のレベルエリアM1および制御
エリアM12,M13を備えて構成されている。演算装
置36は、前記制御エリアM12にフラグ「1」がセッ
トされているときには、バルブ37に駆動信号CTL1
を出力して、圧縮空気源38に貯留されている圧縮空気
を前記ノズル32,33から噴射させて、前記焦点位置
付近に付着した埃を除去し、また制御エリアM13にフ
ラグ「1」がセットされているときには、バルブ39に
駆動信号CTL2を出力して、ノズル34から圧縮空気
を噴射させ、ミラー7に付着した埃を除去する。
【0047】このようにして埃を除去することによっ
て、原稿像を、常に良好に読込むことができる。なお、
汚れの除去は、上述のように圧縮空気を用いるものでな
くてもよく、清掃手段を走査させるなどの、他の手法が
用いられてもよい。
て、原稿像を、常に良好に読込むことができる。なお、
汚れの除去は、上述のように圧縮空気を用いるものでな
くてもよく、清掃手段を走査させるなどの、他の手法が
用いられてもよい。
【0048】本発明の実施の第4の形態について、図6
および図7に基づいて説明すれば以下のとおりである。
および図7に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0049】図6は、本発明の実施の第4の形態の画像
読取装置41の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置41においても、前述の画像
読取装置1,21に類似する部分には、同一の参照符号
を付して示す。
読取装置41の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置41においても、前述の画像
読取装置1,21に類似する部分には、同一の参照符号
を付して示す。
【0050】この画像読取装置41では、一次元固体走
査素子4と、アナログ/デジタル変換器22との間に、
利得可変の増幅回路42が介在されている。また、記憶
装置43は、前述の記憶装置24のレベルエリアM1お
よび表示エリアM2,M3にそれぞれ対応するレベルエ
リアM1および表示エリアM2,M3を有するととも
に、増幅率エリアM10を有している。
査素子4と、アナログ/デジタル変換器22との間に、
利得可変の増幅回路42が介在されている。また、記憶
装置43は、前述の記憶装置24のレベルエリアM1お
よび表示エリアM2,M3にそれぞれ対応するレベルエ
リアM1および表示エリアM2,M3を有するととも
に、増幅率エリアM10を有している。
【0051】演算装置44は、増幅回路42の利得を予
め定める一定値としたままで、前述のようにして、背景
9の反射光レベルを読取って汚れ検出を行い、汚れが検
出されると、表示装置25に表示を行うとともに、その
汚れがミラー7に付着しているものであれば、レベルエ
リアM1に記憶される前述の図1(e)および図7
(a)で示すような反射光レベルのデータに対して、増
幅率エリアM10に、図7(b)で示すように、反比例
するデータを書込んでおく。この増幅率エリアM10の
データは、実際の原稿3の読取時に、演算装置44によ
って、読取走査に連動して順次読出され、増幅回路42
に増幅率制御信号CTL3として与えられる。
め定める一定値としたままで、前述のようにして、背景
9の反射光レベルを読取って汚れ検出を行い、汚れが検
出されると、表示装置25に表示を行うとともに、その
汚れがミラー7に付着しているものであれば、レベルエ
リアM1に記憶される前述の図1(e)および図7
(a)で示すような反射光レベルのデータに対して、増
幅率エリアM10に、図7(b)で示すように、反比例
するデータを書込んでおく。この増幅率エリアM10の
データは、実際の原稿3の読取時に、演算装置44によ
って、読取走査に連動して順次読出され、増幅回路42
に増幅率制御信号CTL3として与えられる。
【0052】したがって、ミラー7に汚れが付着してい
ても、その汚れによる反射光量の減少を補償して、原稿
3に対する読取感度、すなわち均一な反射率の原稿を読
取ったときの読取レベルを、図7(c)で示すような平
坦な特性に補正することができる。このようにして、ミ
ラー7に汚れが付着していても、原稿像を忠実に読取る
ことができる。
ても、その汚れによる反射光量の減少を補償して、原稿
3に対する読取感度、すなわち均一な反射率の原稿を読
取ったときの読取レベルを、図7(c)で示すような平
坦な特性に補正することができる。このようにして、ミ
ラー7に汚れが付着していても、原稿像を忠実に読取る
ことができる。
【0053】本発明の実施の第5の形態について、図8
に基づいて説明すれば以下のとおりである。
に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0054】図8は、本発明の実施の第5の形態の画像
読取装置51の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置51では、タイマ52が設け
られており、操作者によって設定された一定期間、たと
えば1ヶ月毎に、このタイマ52は演算装置53を起動
し、前述のような汚れ検出動作を行う。汚れ検出動作を
行うと、演算装置53はタイマ52をリセットし、該タ
イマ52の計時動作を再起動させる。
読取装置51の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置51では、タイマ52が設け
られており、操作者によって設定された一定期間、たと
えば1ヶ月毎に、このタイマ52は演算装置53を起動
し、前述のような汚れ検出動作を行う。汚れ検出動作を
行うと、演算装置53はタイマ52をリセットし、該タ
イマ52の計時動作を再起動させる。
【0055】このようにして、操作者が汚れの有無を確
認するメンテナンス作業を忘れていても、自動的に、前
記一定期間毎に汚れ検出動作を起動することができる。
認するメンテナンス作業を忘れていても、自動的に、前
記一定期間毎に汚れ検出動作を起動することができる。
【0056】本発明の実施の第6の形態について、図9
に基づいて説明すれば以下のとおりである。
に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0057】図9は、本発明の実施の第6の形態の画像
読取装置61の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置61は、前述の画像読取装置
51に類似しており、前記タイマ52に代えて、電源投
入を検知するために、電源スイッチ62が演算装置63
に接続されている。演算装置63は、電源スイッチ62
が投入される度毎に、前述のような汚れ検出動作を起動
する。このように構成してもまた、操作者の起動操作に
よることなく、自動的に汚れ検出動作を行うことができ
る。
読取装置61の読取部分の電気的構成を示すブロック図
である。この画像読取装置61は、前述の画像読取装置
51に類似しており、前記タイマ52に代えて、電源投
入を検知するために、電源スイッチ62が演算装置63
に接続されている。演算装置63は、電源スイッチ62
が投入される度毎に、前述のような汚れ検出動作を起動
する。このように構成してもまた、操作者の起動操作に
よることなく、自動的に汚れ検出動作を行うことができ
る。
【0058】本発明の実施の第7の形態について、図1
0に基づいて説明すれば以下のとおりである。
0に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0059】図10は、本発明の実施の第7の形態の画
像読取装置71の読取部分の電気的構成を示すブロック
図である。この画像読取装置71も、前述の画像読取装
置51,61と同様に、汚れ検出動作の起動タイミング
を規定するものである。原稿台2において、読取領域の
上流側に、原稿検知スイッチ72を設けている。この原
稿検知スイッチ72によって原稿3の装填が検知される
と、演算装置73は、前述のような汚れ検出動作を行
い、原稿3が前記読取領域に到達する以前に完了して、
その結果を表示装置25に表示する。
像読取装置71の読取部分の電気的構成を示すブロック
図である。この画像読取装置71も、前述の画像読取装
置51,61と同様に、汚れ検出動作の起動タイミング
を規定するものである。原稿台2において、読取領域の
上流側に、原稿検知スイッチ72を設けている。この原
稿検知スイッチ72によって原稿3の装填が検知される
と、演算装置73は、前述のような汚れ検出動作を行
い、原稿3が前記読取領域に到達する以前に完了して、
その結果を表示装置25に表示する。
【0060】このように構成することによって、実際の
原稿画像の読取直前での汚れを検出することができる。
原稿画像の読取直前での汚れを検出することができる。
【0061】なお、上述の各画像読取装置51,61,
71において、汚れ検出動作を行った後に、その結果を
表示装置25に表示するだけでなく、前述の画像読取装
置31で示すような汚れ除去動作を行うようにしてもよ
く、また画像読取装置41で示すような読取データの補
償を行うようにしてもよいことは、言うまでもない。
71において、汚れ検出動作を行った後に、その結果を
表示装置25に表示するだけでなく、前述の画像読取装
置31で示すような汚れ除去動作を行うようにしてもよ
く、また画像読取装置41で示すような読取データの補
償を行うようにしてもよいことは、言うまでもない。
【0062】本発明の実施の第8の形態について、図1
1に基づいて説明すれば以下のとおりである。
1に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0063】図11は、本発明の実施の第8の形態の画
像読取装置の動作を説明するためのフローチャートであ
る。この画像読取装置は、前述の各画像読取装置21,
31,51,61,71の機能を統合したものである。
像読取装置の動作を説明するためのフローチャートであ
る。この画像読取装置は、前述の各画像読取装置21,
31,51,61,71の機能を統合したものである。
【0064】ステップS1で、前記タイマ52に予め設
定された期間が経過したとき、ステップS2で、電源ス
イッチ62が投入されたとき、またはステップS3で、
前記原稿検知スイッチ72によって原稿3の装填が検知
されたときには、ステップS4に移り、背景9の反射光
レベルの読取りが行われ、その読取結果が記憶装置2
4,35のレベルエリアM1に書込まれる。ステップS
5では、その書込まれたデータから、反射率の落込みが
あるか否か、すなわち汚れの有無と、汚れがある場合に
は、汚れによるレベル変動が急峻であるか、または緩慢
であるかが判断される。
定された期間が経過したとき、ステップS2で、電源ス
イッチ62が投入されたとき、またはステップS3で、
前記原稿検知スイッチ72によって原稿3の装填が検知
されたときには、ステップS4に移り、背景9の反射光
レベルの読取りが行われ、その読取結果が記憶装置2
4,35のレベルエリアM1に書込まれる。ステップS
5では、その書込まれたデータから、反射率の落込みが
あるか否か、すなわち汚れの有無と、汚れがある場合に
は、汚れによるレベル変動が急峻であるか、または緩慢
であるかが判断される。
【0065】前記ステップS5において、汚れが検出さ
れないときには、直接、動作を終了し、汚れが検出さ
れ、かつレベル変動が急峻であるときには、前記表示エ
リアM2および制御エリアM12にフラグ「1」がセッ
トされて、ステップS6に移る。ステップS6では、表
示装置25に、背景9または窓5に汚れが付着している
ことを表す表示が点灯されるとともに、ステップS7
で、ノズル32,33から圧縮空気が噴射され、それら
に付着した埃が除去された後、動作を終了する。
れないときには、直接、動作を終了し、汚れが検出さ
れ、かつレベル変動が急峻であるときには、前記表示エ
リアM2および制御エリアM12にフラグ「1」がセッ
トされて、ステップS6に移る。ステップS6では、表
示装置25に、背景9または窓5に汚れが付着している
ことを表す表示が点灯されるとともに、ステップS7
で、ノズル32,33から圧縮空気が噴射され、それら
に付着した埃が除去された後、動作を終了する。
【0066】これに対して、前記ステップS5におい
て、汚れが付着しており、かつそのレベル変動が緩慢で
あるときには、前記表示エリアM3および制御エリアM
13にフラグ「1」がセットされて、ステップS8に移
り、ミラー7に汚れが付着していることを表す表示が点
灯されるとともに、ステップS9で、ノズル34が駆動
されて、ミラー7に付着した埃が除去された後、動作を
終了する。
て、汚れが付着しており、かつそのレベル変動が緩慢で
あるときには、前記表示エリアM3および制御エリアM
13にフラグ「1」がセットされて、ステップS8に移
り、ミラー7に汚れが付着していることを表す表示が点
灯されるとともに、ステップS9で、ノズル34が駆動
されて、ミラー7に付着した埃が除去された後、動作を
終了する。
【0067】なお、上述の動作において、ステップS9
において、前記増幅率エリアM10に増幅率制御信号C
TL3の書込みを行うとともに、ステップS6から直接
動作を終了するようにしてもよい。
において、前記増幅率エリアM10に増幅率制御信号C
TL3の書込みを行うとともに、ステップS6から直接
動作を終了するようにしてもよい。
【0068】
【発明の効果】請求項1の発明に係る画像読取方法は、
以上のように、原稿の非装填時に均一な背景からの反射
光レベルを読取り、汚れの有無を判定するようにした画
像読取方法において、汚れの付着位置が光学系の焦点に
近い程、その汚れを読取素子に投影した像が鮮明であ
り、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投影した像が
ぼやけることを利用して、相互に隣接している読取素子
で検出された背景の反射光レベルの差分が大きい程、す
なわち該反射光レベルの変化率が大きい程、前記鮮明な
投影像であるので、汚れの付着位置を、前記背景や原稿
窓などの光学系の焦点付近であると判定し、前記差分が
小さくなる程、すなわち前記反射光レベルの変化率が小
さくなる程、ぼやけた投影像であるので、汚れの付着位
置を、ミラーやレンズなどの光学系であると判定する。
以上のように、原稿の非装填時に均一な背景からの反射
光レベルを読取り、汚れの有無を判定するようにした画
像読取方法において、汚れの付着位置が光学系の焦点に
近い程、その汚れを読取素子に投影した像が鮮明であ
り、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投影した像が
ぼやけることを利用して、相互に隣接している読取素子
で検出された背景の反射光レベルの差分が大きい程、す
なわち該反射光レベルの変化率が大きい程、前記鮮明な
投影像であるので、汚れの付着位置を、前記背景や原稿
窓などの光学系の焦点付近であると判定し、前記差分が
小さくなる程、すなわち前記反射光レベルの変化率が小
さくなる程、ぼやけた投影像であるので、汚れの付着位
置を、ミラーやレンズなどの光学系であると判定する。
【0069】それゆえ、専用のセンサを設けたり、機器
を分解することなく、汚れの付着位置を識別することが
できるので、メンテナンス作業を容易に行うことができ
る。
を分解することなく、汚れの付着位置を識別することが
できるので、メンテナンス作業を容易に行うことができ
る。
【0070】また、請求項2の発明に係る画像読取装置
は、以上のように、原稿の非装填時に均一な背景からの
反射光レベルを読取り、汚れの有無を判定するようにし
た画像読取装置において、汚れの付着位置が光学系の焦
点に近い程、その汚れを読取素子に投影した像が鮮明で
あり、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投影した像
がぼやけることを利用して、汚れが付着していないと判
定することができる第1の判定レベルの読取素子から、
汚れが付着していると判定することができる第2の判定
レベルの読取素子までの距離を演算し、その距離が小さ
くなる程、読取素子上に投影された汚れの像が鮮明であ
るので、該汚れの付着位置を、前記背景や原稿窓などの
焦点付近であると判定し、前記距離が大きいときには、
前記投影像がぼやけた像であるので、汚れの付着位置
を、前記ミラーやレンズなどの光学系であると判定す
る。
は、以上のように、原稿の非装填時に均一な背景からの
反射光レベルを読取り、汚れの有無を判定するようにし
た画像読取装置において、汚れの付着位置が光学系の焦
点に近い程、その汚れを読取素子に投影した像が鮮明で
あり、前記焦点から遠くなる程、前記汚れを投影した像
がぼやけることを利用して、汚れが付着していないと判
定することができる第1の判定レベルの読取素子から、
汚れが付着していると判定することができる第2の判定
レベルの読取素子までの距離を演算し、その距離が小さ
くなる程、読取素子上に投影された汚れの像が鮮明であ
るので、該汚れの付着位置を、前記背景や原稿窓などの
焦点付近であると判定し、前記距離が大きいときには、
前記投影像がぼやけた像であるので、汚れの付着位置
を、前記ミラーやレンズなどの光学系であると判定す
る。
【0071】それゆえ、専用のセンサを設けたり、機器
を分解することなく、汚れの付着位置を識別することが
できるので、メンテナンス作業を容易に行うことができ
る。
を分解することなく、汚れの付着位置を識別することが
できるので、メンテナンス作業を容易に行うことができ
る。
【0072】さらにまた、請求項3の発明に係る画像読
取装置は、以上のように、判定された汚れの付着位置を
操作者に報知する報知手段を有する。
取装置は、以上のように、判定された汚れの付着位置を
操作者に報知する報知手段を有する。
【0073】それゆえ、操作者は、操作パネルなどに備
えられる該報知手段の報知内容から、汚れの付着位置を
認識し、容易に汚れの除去作業を行うことができるとと
もに、汚れが付着したままでの読取動作を未然に防止す
ることができる。
えられる該報知手段の報知内容から、汚れの付着位置を
認識し、容易に汚れの除去作業を行うことができるとと
もに、汚れが付着したままでの読取動作を未然に防止す
ることができる。
【0074】また、請求項4の発明に係る画像読取装置
は、以上のように、光学系と、原稿台の表面側または背
面側の少なくともいずれか一方とに臨んで、選択的に駆
動される汚れ除去手段をそれぞれ設け、汚れの付着位置
が焦点付近であると判定されたときには、原稿台の表面
側または背面側の少なくともいずれか一方に設けた汚れ
除去手段によって、原稿窓や背景などの汚れの除去作業
を行ない、前記汚れの付着位置が焦点付近でないと判定
されたときには、光学系に設けた汚れ除去手段によっ
て、ミラーなどの汚れの除去作業を行う。
は、以上のように、光学系と、原稿台の表面側または背
面側の少なくともいずれか一方とに臨んで、選択的に駆
動される汚れ除去手段をそれぞれ設け、汚れの付着位置
が焦点付近であると判定されたときには、原稿台の表面
側または背面側の少なくともいずれか一方に設けた汚れ
除去手段によって、原稿窓や背景などの汚れの除去作業
を行ない、前記汚れの付着位置が焦点付近でないと判定
されたときには、光学系に設けた汚れ除去手段によっ
て、ミラーなどの汚れの除去作業を行う。
【0075】それゆえ、汚れの付着位置に対応した汚れ
除去手段のみを駆動して、無駄なく、自動的に、汚れを
除去することができる。
除去手段のみを駆動して、無駄なく、自動的に、汚れを
除去することができる。
【0076】さらにまた、請求項5の発明に係る画像読
取装置は、以上のように、入力手段と、その入力手段で
設定された時間毎に汚れ検出動作を起動させるタイマと
をさらに有する。
取装置は、以上のように、入力手段と、その入力手段で
設定された時間毎に汚れ検出動作を起動させるタイマと
をさらに有する。
【0077】それゆえ、使用環境や、使用頻度などに対
応して、操作者が入力手段から設定した時間毎に、自動
的に、汚れ検出動作を行わせることができる。
応して、操作者が入力手段から設定した時間毎に、自動
的に、汚れ検出動作を行わせることができる。
【0078】また、請求項6の発明に係る画像読取装置
は、以上のように、電源投入を検知して、汚れ検出動作
を起動させる電源検知手段をさらに有する。
は、以上のように、電源投入を検知して、汚れ検出動作
を起動させる電源検知手段をさらに有する。
【0079】それゆえ、電源投入直後の初期化状態時
に、自動的に、汚れ検出動作を起動させることができ
る。
に、自動的に、汚れ検出動作を起動させることができ
る。
【0080】さらにまた、請求項7の発明に係る画像読
取装置は、以上のように、原稿の装填を検知して、汚れ
検出動作を起動させる原稿検知手段をさらに有すること
を特徴とする。
取装置は、以上のように、原稿の装填を検知して、汚れ
検出動作を起動させる原稿検知手段をさらに有すること
を特徴とする。
【0081】それゆえ、原稿の装填の度毎、すなわち原
稿の読取りの直前に、自動的に、汚れ検出動作を起動さ
せることができ、汚れの付着した状態での読取動作を確
実に防止することができる。
稿の読取りの直前に、自動的に、汚れ検出動作を起動さ
せることができ、汚れの付着した状態での読取動作を確
実に防止することができる。
【0082】また、請求項8の発明に係る画像読取装置
は、以上のように、読取られた背景からの反射光レベル
が小さかった読取素子からの出力程、実際の原稿読取時
における前記増幅手段の利得を高く設定し、付着した汚
れによる原稿からの反射光量の減少分を、読取素子から
の出力の増幅率を上昇することによって補償する。
は、以上のように、読取られた背景からの反射光レベル
が小さかった読取素子からの出力程、実際の原稿読取時
における前記増幅手段の利得を高く設定し、付着した汚
れによる原稿からの反射光量の減少分を、読取素子から
の出力の増幅率を上昇することによって補償する。
【0083】それゆえ、汚れが付着していても、原画像
に近い状態で画像の読取を行うことができる。
に近い状態で画像の読取を行うことができる。
【図1】本発明の実施の一形態の画像読取装置における
汚れの付着位置の検出動作を説明するための波形図であ
る。
汚れの付着位置の検出動作を説明するための波形図であ
る。
【図2】図1で示す汚れ検出動作を適用することができ
る本発明の実施の第1の形態の画像読取装置の読取部分
の構造を模式的に示す断面図である。
る本発明の実施の第1の形態の画像読取装置の読取部分
の構造を模式的に示す断面図である。
【図3】本発明の実施の第2の形態の画像読取装置の読
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
【図4】図3で示す画像読取装置による汚れ検出結果の
表示例を示す図である。
表示例を示す図である。
【図5】本発明の実施の第3の形態の画像読取装置の読
取部分の構成を示すブロック図である。
取部分の構成を示すブロック図である。
【図6】本発明の実施の第4の形態の画像読取装置の読
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
【図7】図6で示す画像読取装置による利得制御動作を
説明するための波形図である。
説明するための波形図である。
【図8】本発明の実施の第5の形態の画像読取装置の読
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
【図9】本発明の実施の第6の形態の画像読取装置の読
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
取部分の電気的構成を示すブロック図である。
【図10】本発明の実施の第7の形態の画像読取装置の
読取部分の電気的構成を示すブロック図である。
読取部分の電気的構成を示すブロック図である。
【図11】本発明の実施の第8の形態の画像読取装置の
動作を説明するためのフローチャートである。
動作を説明するためのフローチャートである。
1,21,31,41,51,61,71 画像読取
装置 2 原稿台 3 原稿 4 一次元固体走査素子(読取素子) 5 窓 7 ミラー(光学系) 8 レンズ(光学系) 9 背景 11,12;11α,12α;11β,12β 埃
(汚れ) 22 アナログ/デジタル変換器 23,36,53,63,73 演算装置(距離演算
手段・判定手段) 24,35,43 記憶装置(記憶手段) 25 表示装置(報知手段) 32,33,34 ノズル(汚れ除去手段) 37,39 バルブ(汚れ除去手段) 38 圧縮空気源(汚れ除去手段) 42 増幅回路(増幅手段) 44 演算装置(距離演算手段・判定手段・利得制御
手段) 52 タイマ 62 電源スイッチ(電源検知手段) 72 原稿検知スイッチ(原稿検知手段)
装置 2 原稿台 3 原稿 4 一次元固体走査素子(読取素子) 5 窓 7 ミラー(光学系) 8 レンズ(光学系) 9 背景 11,12;11α,12α;11β,12β 埃
(汚れ) 22 アナログ/デジタル変換器 23,36,53,63,73 演算装置(距離演算
手段・判定手段) 24,35,43 記憶装置(記憶手段) 25 表示装置(報知手段) 32,33,34 ノズル(汚れ除去手段) 37,39 バルブ(汚れ除去手段) 38 圧縮空気源(汚れ除去手段) 42 増幅回路(増幅手段) 44 演算装置(距離演算手段・判定手段・利得制御
手段) 52 タイマ 62 電源スイッチ(電源検知手段) 72 原稿検知スイッチ(原稿検知手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H04N 1/04 106 G06F 15/64 325J 1/407 H04N 1/40 101B
Claims (8)
- 【請求項1】予め設定された読取領域に臨む原稿の画像
を光学系を介して読取素子で読取るようにし、前記読取
領域には原稿への照射光に対する反射率が均一な背景を
有し、前記原稿の非装填時に前記背景からの反射光レベ
ルを読取り、読取った各読取素子のデータ間の差分の大
きさから汚れの有無を判定するようにした画像読取方法
において、 相互に隣接している読取素子のデータ間の差分が大きい
程、前記汚れの付着位置を前記光学系の焦点付近である
と判定することを特徴とする画像読取方法。 - 【請求項2】予め設定された読取領域に臨む原稿の画像
を光学系を介して読取素子で読取るようにし、前記読取
領域には原稿への照射光に対する反射率が均一な背景を
有し、前記原稿の非装填時に前記背景からの反射光レベ
ルを読取り、読取った各読取素子のデータ間の差分の大
きさから汚れの有無を判定するようにした画像読取装置
において、 読取走査に対応して、各読取素子から順次出力されるデ
ータを取込み、汚れが付着していないと判定することが
できる第1の判定レベルの読取素子から、汚れが付着し
ていると判定することができる第2の判定レベルの読取
素子までの距離を演算する距離演算手段と、 前記距離演算手段の演算結果に応答し、前記距離が小さ
くなる程、前記汚れの付着位置を前記光学系の焦点付近
であると判定する判定手段とを含むことを特徴とする画
像読取装置。 - 【請求項3】前記判定手段によって判定された汚れの付
着位置を操作者に報知する報知手段を有することを特徴
とする請求項2記載の画像読取装置。 - 【請求項4】前記光学系と、原稿台の表面側または背面
側の少なくともいずれか一方とに臨んでそれぞれ設けら
れ、前記判定手段の判定結果に応答して選択的に駆動さ
れる汚れ除去手段を有することを特徴とする請求項2ま
たは3記載の画像読取装置。 - 【請求項5】入力手段と、前記入力手段で設定された時
間毎に前記距離演算手段および判定手段を能動化し、汚
れ検出動作を起動させるタイマとをさらに有することを
特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の画像読取装
置。 - 【請求項6】電源投入を検知して、前記距離演算手段お
よび判定手段を能動化し、汚れ検出動作を起動させる電
源検知手段をさらに有することを特徴とする請求項2〜
4のいずれかに記載の画像読取装置。 - 【請求項7】原稿の装填を検知して、前記距離演算手段
および判定手段を能動化し、汚れ検出動作を起動させる
原稿検知手段をさらに有することを特徴とする請求項2
または3記載の画像読取装置。 - 【請求項8】前記読取素子の後段側に介在される利得可
変の増幅手段と、 前記読取素子で読取られた背景からの反射光レベルを記
憶しておく記憶手段と、 実際の原稿読取時に、読取走査に連動して前記記憶手段
のストア内容を読出し、反射光レベルが小さかった読取
素子からの出力程、前記増幅手段の利得を高く設定する
利得制御手段とを有することを特徴とする請求項2,
3,5,6または7のいずれかに記載の画像読取装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9176063A JPH1127475A (ja) | 1997-07-01 | 1997-07-01 | 画像読取方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9176063A JPH1127475A (ja) | 1997-07-01 | 1997-07-01 | 画像読取方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1127475A true JPH1127475A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=16007071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9176063A Pending JPH1127475A (ja) | 1997-07-01 | 1997-07-01 | 画像読取方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1127475A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004062275A1 (ja) | 2002-12-27 | 2004-07-22 | Nikon Corporation | 画像処理装置および画像処理プログラム |
US7598991B2 (en) | 2003-08-29 | 2009-10-06 | Nikon Corporation | Image-capturing system diagnostic device, image-capturing system diagnostic program product and image-capturing device for monitoring foreign matter |
JP2011160045A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Sharp Corp | 画像読取装置及び画像形成装置 |
US20150202663A1 (en) * | 2012-07-25 | 2015-07-23 | Sony Corporation | Cleaning apparatus, cleaning method, and imaging apparatus |
-
1997
- 1997-07-01 JP JP9176063A patent/JPH1127475A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8369651B2 (en) | 2002-12-27 | 2013-02-05 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
WO2004062275A1 (ja) | 2002-12-27 | 2004-07-22 | Nikon Corporation | 画像処理装置および画像処理プログラム |
US8031968B2 (en) | 2002-12-27 | 2011-10-04 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
EP2461576A1 (en) | 2002-12-27 | 2012-06-06 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
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US8098305B2 (en) | 2003-08-29 | 2012-01-17 | Nikon Corporation | Image-capturing system diagnostic device, image-capturing system diagnostic program product and image-capturing device for monitoring foreign matter |
EP2448245A2 (en) | 2003-08-29 | 2012-05-02 | Nikon Corporation | Image-capturing system diagnostic device, image-capturing system diagnostic program, image-capturing system diagnostic program product and image-capturing device |
JP2011160045A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Sharp Corp | 画像読取装置及び画像形成装置 |
US8619339B2 (en) | 2010-01-29 | 2013-12-31 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image reading apparatus and image forming apparatus |
US20150202663A1 (en) * | 2012-07-25 | 2015-07-23 | Sony Corporation | Cleaning apparatus, cleaning method, and imaging apparatus |
US10537922B2 (en) * | 2012-07-25 | 2020-01-21 | Sony Corporation | Cleaning apparatus, cleaning method, and imaging apparatus |
US11065653B2 (en) | 2012-07-25 | 2021-07-20 | Sony Group Corporation | Cleaning apparatus, cleaning method, and imaging apparatus |
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