JPH11233549A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH11233549A
JPH11233549A JP10032638A JP3263898A JPH11233549A JP H11233549 A JPH11233549 A JP H11233549A JP 10032638 A JP10032638 A JP 10032638A JP 3263898 A JP3263898 A JP 3263898A JP H11233549 A JPH11233549 A JP H11233549A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
electrode pads
semiconductor device
leads
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10032638A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Kasai
秀男 葛西
Yasuhiro Yoshii
康浩 吉井
Yukinori Tashiro
幸典 田代
Jun Eto
潤 衛藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP10032638A priority Critical patent/JPH11233549A/ja
Publication of JPH11233549A publication Critical patent/JPH11233549A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/1012Auxiliary members for bump connectors, e.g. spacers
    • H01L2224/10122Auxiliary members for bump connectors, e.g. spacers being formed on the semiconductor or solid-state body to be connected
    • H01L2224/10125Reinforcing structures
    • H01L2224/10126Bump collar
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 ワイヤボンディング時のワイヤ垂れによる支
持リードとワイヤとの短絡を防止する。 【解決手段】 平面が方形状で形成され、主面の少なく
とも一辺側にその一辺に沿って複数個の電極パッド2A
が配列された半導体チップ1と、平面が方形状で形成さ
れ、チップ塔載面上に半導体チップ1が塔載されたダイ
パッド5と、半導体チップ1の一辺の外側にその一辺に
沿って一端側が配列された複数本のインナーリード3
と、半導体チップ1の一辺の中央部の外側に配置され、
ダイパッド5に連結された支持リード6とを有し、複数
個の電極パッド2Aの夫々は複数本のインナーリード3
の夫々に導電性のワイヤ7を介して電気的に接続される
半導体装置であって、複数個の電極パッドの夫々は、前
記半導体チップの一辺の中央部を避けた状態で配置され
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置に関
し、特に、半導体チップの外部端子とインナーリードと
をワイヤで接続する半導体装置に適用して有効な技術に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体チップを樹脂封止体で封止する半
導体装置として、例えばTSOP(hin mall ut-l
ine ackage)型の半導体装置がある。このTSOP型
の半導体装置は、支持リードが一体化されたダイパッド
(タブとも言う)のチップ塔載面上に半導体チップを塔載
した構成になっている。
【0003】前記半導体チップの平面形状は長方形状で
形成されている。この半導体チップは、例えば単結晶珪
素からなる半導体基板及びこの半導体基板の主面上に形
成された多層配線層を主体とする構成になっている。
【0004】前記半導体チップには、例えば、DRAM
(ynamic andom ccess emory)、SRAM(tat
ic andom ccess emory)、EEPROM(lectr
ically rasable rogrammable ead nly emor
y)等の記憶回路システムが塔載されている。
【0005】前記半導体チップの主面(回路形成面)に
は、複数個の電極パッド(ボンディングパッド)が配置
されている。この複数個の電極パッドは、半導体チップ
の互いに対向する二つの短辺の夫々の辺側に配置され、
各辺に沿って配列されている。
【0006】前記半導体チップの外周囲の外側には、複
数本のインナーリードが配置されている。複数本のイン
ナーリードの夫々の一端側は、半導体チップの互いに対
向する二つの短辺の夫々の辺に沿って配列されている。
複数本のインナーリードの夫々の一端側は、半導体チッ
プの主面に形成された複数個の電極パッドの夫々に導電
性のワイヤを介して電気的に接続されている。
【0007】前記半導体チップ、インナーリード、ダイ
パッド、支持リード及びワイヤ等は、平面形状が方形状
の樹脂封止体で封止されている。樹脂封止体は、大量生
産に好適なトランスファモールド法で形成される。トラ
ンスファモールド法は、ポット、ランナー、流入ゲート
及びキャビティ等を備えた成形金型を使用し、ポットか
らランナー及び流入ゲートを通してキャビティ内に樹脂
を加圧注入して樹脂封止体を形成する方法である。
【0008】前記樹脂封止体の外周囲の外側には、複数
本のアウターリードが配置されている。複数本のアウタ
ーリードの夫々は、樹脂封止体の互いに対向する二つの
長辺の夫々の辺に沿って配列され、ガルウィング形状に
成形されている。
【0009】前記複数本のインナーリードの夫々の他端
側は、樹脂封止体の互いに対向する二つの長辺の夫々の
辺に沿って配列され、樹脂封止体の二つの長辺の夫々の
辺に沿って配列された複数本のアウターリードの夫々と
一体化されている。
【0010】前記TSOP型の半導体装置は、リードフ
レームを用いた製造プロセスで形成される。具体的に
は、リードフレームの枠体に支持リードを介して支持さ
れたダイパッドのチップ塔載面に半導体チップを塔載
し、その後、前記半導体チップの主面に形成された電極
パッドと前記リードフレームの枠体にアウターリードを
介して支持されたインナーリードの一端側とを導電性の
ワイヤで電気的に接続し、その後、前記半導体チップ、
インナーリード、ダイパッド、支持リード及びワイヤ等
を樹脂封止体で封止し、その後、前記リードフレームの
枠体からアウターリード及び支持リードを切断すると共
に、アウターリード間を連結しているタイバーを切断
し、その後、前記アウターリードをガルウィング形状に
成形することによって形成される。
【0011】なお、TSOP型の半導体装置について
は、例えば、日経BP社発行「VLSIパッケージング
技術(上)」1993年5月31日発行、第104頁〜第
105頁に記載されている。
【0012】また、トランスファモールド法について
は、例えば、日経BP社発行「VLSIパッケージング
技術(下)」1993年5月31日発行、第31頁〜第4
0頁に記載されている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】前記TSOP型の半導
体装置において、支持リードは、半導体チップの短辺の
中央部の外側に配置され、ダイパッドに連結されてい
る。一方、電極パッドは、半導体チップの短辺の中央部
にも配置されている。
【0014】半導体チップの短辺の中央部に配置された
電極パッドは支持リードと隣合うインナーリードにワイ
ヤを介して電気的に接続されるが、このような場合、支
持リード上にワイヤが延在する状態となるので、ワイヤ
ボンディング時のワイヤ垂れによる支持リードとワイヤ
との短絡が発生し易くなり、半導体装置の歩留まりが低
下する。支持リードとワイヤとの短絡は、樹脂の加圧注
入によってワイヤ流が生じる樹脂封止体の形成時におい
ても発生し易くなる。
【0015】本発明の目的は、半導体装置の歩留まりを
高めることが可能な技術を提供することにある。本発明
の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書
の記述及び添付図面によって明らかになるであろう。
【0016】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。平面が方形状で形成され、主面の
少なくとも一辺側にその一辺に沿って複数個の電極パッ
ドが配列された半導体チップと、平面が方形状で形成さ
れ、チップ塔載面上に前記半導体チップが塔載されたダ
イパッドと、前記半導体チップの一辺の外側にその一辺
に沿って一端側が配列された複数本のインナーリード
と、前記半導体チップの一辺の中央部の外側に配置さ
れ、前記ダイパッドに連結された支持リードとを有し、
前記複数個の電極パッドの夫々は前記複数本のインナー
リードの夫々に導電性のワイヤを介して電気的に接続さ
れる半導体装置であって、前記複数個の電極パッドの夫
々は、前記半導体チップの一辺の中央部を避けた状態で
配置されている。
【0017】上述した手段によれば、半導体チップの一
辺の中央部には電極パッドが配置されないので、支持リ
ード上をワイヤが延在することはない。この結果、支持
リードとワイヤとの短絡を防止できるので、半導体装置
の歩留まりを高めることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、発明の実施の形態を
説明するための全図において、同一機能を有するものは
同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
【0019】(実施形態1)図1は本発明の実施形態1
である半導体装置の樹脂封止体の上部を除去した状態の
平面図であり、図2は図1の要部拡大平面図であり、図
3は前記半導体装置の製造に用いられるリードフレーム
の平面図である。
【0020】本実施形態では、SOP型の半導体装置に
本発明を適用した例について説明する。
【0021】図1に示すように、本実施形態の半導体装
置は、ダイパッド5のチップ塔載面上に半導体チップ1
を塔載した構成になっている。半導体チップ1はダイパ
ッド5のチップ塔載面に接着剤を介在して接着固定され
ている。
【0022】前記半導体チップ1の平面形状は、これに
限定されないが、例えば長方形状で形成されている。こ
の半導体チップ1は、例えば、単結晶珪素からなる半導
体基板及びこの半導体基板の主面上に形成された多層配
線層を主体とする構成になっている。
【0023】前記半導体チップ1には、論理回路システ
ム、記憶回路システム、或いはそれらの混合回路システ
ム等が塔載されている。これらの回路システムは、半導
体基板の主面に形成された半導体素子及び多層配線層に
形成された配線によって構成されている。
【0024】前記半導体チップ1の主面(回路形成面)に
は、複数個の電極パッド(ボンディングパッド)2Aが
配置されている。この複数個の電極パッド2Aは、半導
体チップ1の互いに対向する二つの短辺の夫々の辺側に
配置され、夫々の辺に沿って配列されている。複数個の
電極パッド2Aの夫々は、半導体基板の主面上に形成さ
れた多層配線層の最上層の配線層に形成され、回路シス
テムを構成する半導体素子に配線を介して電気的に接続
されている。複数個の電極パッド2Aの夫々は、例えば
アルミニウム(Al)膜若しくはアルミニウム合金膜で形
成されている。
【0025】前記半導体チップ1の外周囲の外側には、
複数本のインナーリード3が配置されている。複数本の
インナーリード3の夫々の一端側は、半導体チップ1の
主面に配置された複数個の電極パッド2Aの夫々に導電
性のワイヤ7を介して電気的に接続されている。ワイヤ
7としては例えば金(Au)を用いている。ワイヤ7の接
続方法としては、例えば熱圧着に超音波振動を併用した
ボールボンディング法を用いている。複数本のインナー
リード3のうち、大多数のインナーリード3の夫々の一
端側は半導体チップ1の互いに対向する二つの短辺の夫
々の辺に沿って配列されている。
【0026】前記ダイパッド5の平面形状は例えば方形
状で形成され、その平面サイズは半導体チップ1の平面
サイズよりも若干大きい平面サイズとなっている。
【0027】前記半導体チップ1の二つの短辺の夫々の
辺の中央部(図2に示す1A)の外側には支持リード6が
配置されている。この支持リード6は、ダイパッド5の
互いに対向する二つの短辺の夫々の辺に連結され、一体
化されている。
【0028】前記半導体チップ1、インナーリード3、
ダイパッド5、支持リード6及びワイヤ7等は、平面が
方形状で形成された樹脂封止体8で封止されている。樹
脂封止体8は、低応力化を図る目的として、例えばフェ
ノール系硬化剤、シリコーンゴム及びフィラーが添加さ
れたエポキシ系の樹脂で形成されている。樹脂封止体8
は、大量生産に好適なトランスファモールド法で形成さ
れている。トランスファモールド法は、ポット、ランナ
ー、流入ゲート及びキャビティ等を備えた成形金型を使
用し、ポットからランナー及び流入ゲートを通してキャ
ビティ内に樹脂を加圧注入して樹脂封止体を形成する方
法である。
【0029】前記樹脂封止体8の外周囲の外側には、複
数本のアウターリード4が配置されている。複数本のア
ウターリード4の夫々は、樹脂封止体8の互いに対向す
る二つの長辺の夫々の辺に沿って配列され、ガルウィン
グ形状に成形されている。
【0030】前記複数本のインナーリード3の夫々の他
端側は、樹脂封止体8の互いに対向する二つの長辺の夫
々の辺に沿って配列され、樹脂封止体8の二つの長辺の
夫々の辺に沿って配列された複数本のアウターリード4
の夫々と一体化されている。
【0031】前記半導体チップ1の一方の短辺に沿って
配列された複数個の電極パッド2Aの夫々は、図2に示
すように、半導体チップ1の一方の短辺の中央部を避け
た状態で配置されている。また、複数個の電極パッド2
Aの夫々は、半導体チップ1の一方の短辺と長辺とが交
わる角部に詰め寄った状態で配置されている。また、複
数個の電極パッド2Aの夫々は二つのパッド群2に分割
されている。即ち、半導体チップ1の一方の短辺の中央
部には電極パッド2Aが配置されないので、支持リード
6上をワイヤ7が延在することはない。
【0032】なお、半導体チップ1の他方の短辺に沿っ
て配列された複数個の電極パッド2Aも同様に構成され
ている。
【0033】次に、前記半導体装置の製造に用いられる
リードフレームについて説明する。図3に示すように、
リードフレームLFは、枠体10で規定された領域内
に、複数本のインナーリード3、複数本のアウターリー
ド4、ダイパッド5及び二本の支持リード6等を配置し
た構成になっている。ダイパッド5は二本の支持リード
6を介して枠体10に支持されている。二本の支持リー
ド6のうち、一方の支持リード6の一端側はダイパッド
5の互いに対向する二つの短辺のうちの一方の短辺の中
央部と一体化され、その他端側は枠体10と一体化され
ている。二本の支持リード6のうち、他方の支持リード
6の一端側はダイパッド5の互いに対向する二つの短辺
のうちの他方の短辺の中央部と一体化され、その他端側
は枠体10と一体化されている。
【0034】前記複数本のインナーリード3のうち、大
多数のインナーリード3の夫々の一端側はダイパッド5
の互いに対向する二つの短辺の夫々の辺に沿って配列さ
れ、その他のインナーリード3の夫々の一端側はダイパ
ッド5の互いに対向する二つの長辺に沿って配列されて
いる。
【0035】前記複数本のインナーリード3の夫々の他
端側は複数本のアウターリード4の夫々の一端側と一体
化され、複数本のアウターリード4の夫々の他端側は枠
体10と一体化されている。複数本のアウターリード4
の夫々は、リード間から流れでる樹脂を堰き止めるため
のタイバー9で互いに連結されている。
【0036】前記リードフレームLFは、例えば、鉄
(Fe)−ニッケル(Ni)系の合金又は銅(Cu)若しくは
銅系の合金で形成されている。このリードフレームLF
は、金属板にエッチング加工又はプレス加工を施すこと
によって形成される。
【0037】次に、前記半導体装置の製造方法につい
て、図1及び図3を用いて簡単に説明する。まず、図3
に示すリードフレームLFを準備する。次に、リードフ
レームLFの枠体10に支持リード6を介して支持され
たダイパッド5のチップ塔載面上に接着剤を介在して半
導体チップ1を塔載する。
【0038】次に、前記半導体チップ1の主面の電極パ
ッド2Aと前記リードフレームLFの枠体10にアウタ
ーリード4を介して支持されたインナーリード3の一端
側とをワイヤ7で電気的に接続する。
【0039】次に、前記半導体チップ1、インナーリー
ド3、ダイパッド5、支持リード6及びワイヤ7等を樹
脂封止体8で封止する。樹脂封止体8による封止はトラ
ンスファモールド法で行う。
【0040】次に、前記リードフレームLFの枠体10
からアウターリード4及び支持リード6を切断すると共
に、アウターリード4間を連結しているタイバー9を切
断し、その後、前記アウターリード4をガルウィング形
状に成形することにより、図1に示す半導体装置が形成
される。
【0041】このように、本実施形態によれば、以下の
効果が得られる。 (1)半導体チップ1の主面の短辺側にその短辺に沿っ
て配列された複数個の電極パッド2Aの夫々は、半導体
チップ1の短辺の中央部を避けた状態で配置されている
ことから、半導体チップ1の短辺の中央部には電極パッ
ド2Aが配置されないので、支持リード6上をワイヤ7
が延在することはない。この結果、支持リード6とワイ
ヤ7との短絡を防止できるので、半導体装置の歩留まり
を高めることができる。
【0042】(2)半導体チップ1の主面の短辺側にそ
の短辺に沿って配列された複数個の電極パッド2Aの夫
々は、半導体チップ1の短辺と長辺とが交わる二つの角
部の夫々に詰め寄った状態で配置され、更に、二つのパ
ッド群2に分割されていることから、半導体チップ1の
角部に配置された電極パッド2Aと半導体チップ1の外
部の外側に一端側が配置されたインナーリード3とのワ
イヤ7による接続を容易に行うことができる。
【0043】また、電極パッド2Aの配列ピッチに対し
てインナーリード3の一端側の配列ピッチが大きくて
も、電極パッド2Aの配列幅に対するインナーリード3
の一端側の配列幅の広がりを抑制できるので、電極パッ
ド2Aの狭ピッチ化に対応したリードフレームの設計が
可能となる。
【0044】また、半導体チップ1の短辺とワイヤ7と
の間の鋭角をなす角度が大きく(緩やかに)なるので、
電極パッド2Aの配列ピッチを縮小しても隣接するワイ
ヤ7間での短絡を抑制できる。従って、電極パッド2A
の狭ピッチ化を図ることができる。
【0045】(実施形態2)図4は本発明の実施形態2
である半導体装置の樹脂封止体の上部を除去した状態の
平面図である。なお、図4は、アウターリードのガルウ
ィング形状を省略している。
【0046】本実施形態では、TSOP型の半導体装置
に本発明を適用した例について説明する。
【0047】図4に示すように、本実施形態の半導体装
置は、ダイパッド5のチップ塔載面上に半導体チップ1
を塔載した構成になっている。
【0048】前記半導体チップ1の主面には、複数個の
電極パッド2Aが配置されている。この複数個の電極パ
ッド2Aは、半導体チップ1の互いに対向する二つの短
辺の夫々の辺側に配置され、夫々の辺に沿って配列され
ている。
【0049】前記半導体チップ1の外周囲の外側には、
複数本のインナーリード3が配置されている。複数本の
インナーリード3の夫々の一端側は、半導体チップ1の
主面に配置された複数個の電極パッド2Aの夫々に導電
性のワイヤ7を介して電気的に接続されている。
【0050】前記半導体チップ1の二つの長辺の夫々の
外側には支持リード6が配置されている。この支持リー
ド6は、ダイパッド5の互いに対向する二つの長辺の夫
々の辺に連結され、一体化されている。
【0051】前記半導体チップ1、インナーリード3、
ダイパッド5、支持リード6及びワイヤ7等は樹脂封止
体8で封止されている。樹脂封止体8の外周囲の外側に
は、複数本のアウターリード4が配置されている。複数
本のアウターリード4の夫々は、樹脂封止体8の互いに
対向する二つの短辺の夫々の辺に沿って配列され、ガル
ウィング形状に成形されている。
【0052】前記複数本のインナーリード3の夫々の他
端側は、樹脂封止体8の互いに対向する二つの短辺の夫
々の辺に沿って配列され、樹脂封止体8の二つの長辺の
夫々の辺に沿って配列された複数本のアウターリード4
の夫々と一体化されている。
【0053】前記半導体チップ1の一方の短辺に沿って
配列された複数個の電極パッド2Aの夫々は、前述の実
施形態1と同様に、半導体チップ1の一方の短辺と長辺
とが交わる角部に詰め寄った状態で配置され、二つのパ
ッド群2に分割されている。なお、半導体チップ1の他
方の短辺に沿って配列された複数個の電極パッド2Aも
同様に構成されている。
【0054】このように、半導体チップ1の短辺に沿っ
て配列される複数個の電極パッド2Aは、半導体チップ
1の一方の短辺と長辺とが交わる角部に詰め寄った状態
で配置され、更に、二つのパッド群2に分割されている
ことから、前述の実施形態1と同様の効果が得られる。
【0055】(実施形態3)図5は本発明の実施形態3
である半導体装置の樹脂封止体の上部を除去した状態の
平面図である。なお、図5は、アウターリードのガルウ
ィング形状を省略している。
【0056】本実施形態では、SOP型の半導体装置に
本発明を適用した例について説明する。
【0057】図5に示すように、本実施形態の半導体装
置は、ダイパッド5のチップ塔載面上に半導体チップ1
を塔載した構成になっている。
【0058】前記半導体チップ1の主面(回路形成面)に
は、複数個の電極パッド(ボンディングパッド)2Aが
配置されている。この複数個の電極パッド2Aは、半導
体チップ1の各辺側に配置され、夫々の辺に沿って配列
されている。
【0059】前記半導体チップ1の外周囲の外側には、
複数本のインナーリード3が配置されている。複数本の
インナーリード3の夫々の一端側は、半導体チップ1の
主面に配置された複数個の電極パッド2Aの夫々に導電
性のワイヤ7を介して電気的に接続されている。
【0060】前記半導体チップ1の二つの短辺の夫々の
外側には支持リード6が配置されている。この支持リー
ド6は、ダイパッド5の互いに対向する二つの短辺の夫
々の辺に連結され、一体化されている。
【0061】前記半導体チップ1、インナーリード3、
ダイパッド5、支持リード6及びワイヤ7等は樹脂封止
体8で封止されている。樹脂封止体8の外周囲の外側に
は、複数本のアウターリード4が配置されている。複数
本のアウターリード4の夫々は、樹脂封止体8の互いに
対向する二つの長辺の夫々の辺に沿って配列され、ガル
ウィング形状に成形されている。
【0062】前記複数本のインナーリード3の夫々の他
端側は、樹脂封止体8の互いに対向する二つの長辺の夫
々の辺に沿って配列され、樹脂封止体8の二つの長辺の
夫々の辺に沿って配列された複数本のアウターリード4
の夫々と一体化されている。
【0063】前記半導体チップ1の二つの短辺の夫々の
辺に沿って配列された複数個の電極パッド2Aの夫々
は、半導体チップ1の短辺の中央部を避けた状態で配置
されている。また、複数個の電極パッド2Aの夫々は、
半導体チップ1の短辺と長辺とが交わる角部に詰め寄っ
た状態で配置され、更に、二つのパッド群2に分割され
ている。
【0064】前記半導体チップ1の二つの長辺の夫々の
辺に沿って配列された複数個の電極パッド2Aの夫々
は、半導体チップ1の長辺と短辺とが交わる角部に詰め
寄った状態で配置され、更に、二つのパッド群2に分割
されている。
【0065】このように、半導体チップ1の短辺に沿っ
て配列された複数個の電極パッド2Aは、半導体チップ
1の短辺の中央部を避けた状態で配置されていることか
ら、前述の実施形態1と同様の効果が得られる。
【0066】また、半導体チップ1の各辺に沿って配列
された複数個の電極パッド2Aは、半導体チップ1の二
つの辺(短辺と長辺)とが交わる角部に詰め寄った状態で
配置され、更に、二つのパッド群2に分割されているこ
とから、前述の実施形態1と同様の効果が得られる。
【0067】(実施形態4)図6は本発明の実施形態4
である半導体装置の樹脂封止体の上部を除去した状態の
平面図である。なお、図6は、アウターリードのガルウ
ィング形状を省略している。
【0068】本実施形態では、TSOP型の半導体装置
に本発明を適用した例について説明する。
【0069】図6に示すように、本実施形態の半導体装
置は、ダイパッド5のチップ塔載面上に半導体チップ1
を塔載した構成になっている。
【0070】前記半導体チップ1の主面(回路形成面)に
は、複数個の電極パッド(ボンディングパッド)2Aが
配置されている。この複数個の電極パッド2Aは、半導
体チップ1の互いに対向する二つの長辺の夫々の辺側に
配置され、夫々の辺に沿って配列されている。
【0071】前記半導体チップ1の外周囲の外側には、
複数本のインナーリード3が配置されている。複数本の
インナーリード3の夫々の一端側は、半導体チップ1の
主面に配置された複数個の電極パッド2Aの夫々に導電
性のワイヤ7を介して電気的に接続されている。
【0072】前記半導体チップ1の二つの短辺の夫々の
外側には支持リード6が配置されている。この支持リー
ド6は、ダイパッド5の互いに対向する二つの短辺の夫
々の辺に連結され、一体化されている。
【0073】前記半導体チップ1、インナーリード3、
ダイパッド5、支持リード6及びワイヤ7等は樹脂封止
体8で封止されている。樹脂封止体8の外周囲の外側に
は、複数本のアウターリード4が配置されている。複数
本のアウターリード4の夫々は、樹脂封止体8の互いに
対向する二つの短辺の夫々の辺に沿って配列され、ガル
ウィング形状に成形されている。
【0074】前記複数本のインナーリード3の夫々の他
端側は、樹脂封止体8の互いに対向する二つの短辺の夫
々の辺に沿って配列され、樹脂封止体8の二つの短辺の
夫々の辺に沿って配列された複数本のアウターリード4
の夫々と一体化されている。
【0075】前記半導体チップ1の短辺の夫々の辺に沿
って配列された複数個の電極パッド2Aの夫々は、半導
体チップ1の長辺と短辺とが交わる角部に詰め寄った状
態で配置され、四つのパッド群2に分割されている。
【0076】このように、半導体チップ1の長辺に沿っ
て配列された複数個の電極パッド2Aは、半導体チップ
1の長辺と短辺とが交わる角部に詰め寄った状態で配置
され、四つのパッド群2に分割されていることから、前
述の実施形態1と同様の効果が得られる。
【0077】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は、
前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲において種々変更可能であることは勿論で
ある。
【0078】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。半導体装置の歩留まりを高めること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1である半導体装置の樹脂封
止体の上部を除去した状態の平面図である。
【図2】図1の要部拡大断面図である。
【図3】前記半導体装置の製造に用いられるリードフレ
ームの平面図である。
【図4】本発明の実施形態2である半導体装置の樹脂封
止体の上部を除去した状態の平面図である。
【図5】本発明の実施形態3である半導体装置の樹脂封
止体の上部を除去した状態の平面図である。
【図6】本発明の実施形態4である半導体装置の樹脂封
止体の上部を除去した状態の平面図である。
【符号の説明】
1…半導体チップ、2A…電極パッド、2…パッド群、
3…インナーリード、4…アウターリード、5…ダイパ
ッド、6…支持リード、7…ワイヤ、8…樹脂封止体、
LF…リードフレーム。
フロントページの続き (72)発明者 田代 幸典 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 衛藤 潤 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平面が方形状で形成され、主面の少なく
    とも一辺側にその一辺に沿って複数個の電極パッドが配
    列された半導体チップと、平面が方形状で形成され、チ
    ップ塔載面上に前記半導体チップが塔載されたダイパッ
    ドと、前記半導体チップの一辺の外側にその一辺に沿っ
    て一端側が配列された複数本のインナーリードと、前記
    半導体チップの一辺の中央部の外側に配置され、前記ダ
    イパッドに連結された支持リードとを有し、前記複数個
    の電極パッドの夫々は前記複数本のインナーリードの夫
    々に導電性のワイヤを介して電気的に接続される半導体
    装置であって、前記複数個の電極パッドの夫々は、前記
    半導体チップの一辺の中央部を避けた状態で配置されて
    いることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記複数個の電極パッドの夫々は、前記
    半導体チップの一辺と他の辺とが交わる角部に詰め寄っ
    た状態で配置されていることを特徴とする請求項1に記
    載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記複数個の電極パッドの夫々は複数の
    パッド群に分割されていることを特徴とする請求項1に
    記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 平面が方形状で形成され、主面の少なく
    とも一辺側にその一辺に沿って複数個の電極パッドが配
    列された半導体チップと、チップ塔載面上に前記半導体
    チップが塔載されたダイパッドと、前記半導体チップの
    一辺の外側にその一辺に沿って一端側が配列された複数
    本のインナーリードとを有し、前記複数個の電極パッド
    の夫々は前記複数本のインナーリードの夫々に導電性の
    ワイヤを介して電気的に接続される半導体装置であっ
    て、前記複数個の電極パッドの夫々は複数のパッド群に
    分割されていることを特徴とする半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記複数の電極パッドの夫々は、前記半
    導体チップの一辺と他の辺とが交わる角部に詰め寄った
    状態で配置されていることを特徴とする請求項4に記載
    の半導体装置。
JP10032638A 1998-02-16 1998-02-16 半導体装置 Pending JPH11233549A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10032638A JPH11233549A (ja) 1998-02-16 1998-02-16 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10032638A JPH11233549A (ja) 1998-02-16 1998-02-16 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11233549A true JPH11233549A (ja) 1999-08-27

Family

ID=12364404

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10032638A Pending JPH11233549A (ja) 1998-02-16 1998-02-16 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11233549A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4195804B2 (ja) デュアルダイパッケージ
JP5227501B2 (ja) スタックダイパッケージ及びそれを製造する方法
US9159691B2 (en) Window ball grid array (BGA) semiconductor packages
JP2000133767A (ja) 積層化半導体パッケ―ジ及びその製造方法
JP2001298150A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2001094040A (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR101440933B1 (ko) 범프 기술을 이용하는 ic 패키지 시스템
JP2001274316A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH09312375A (ja) リードフレーム、半導体装置及び半導体装置の製造方法
KR20050049346A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
JP3497775B2 (ja) 半導体装置
JPH07153904A (ja) 積層形半導体装置の製造方法及びそれによる半導体パッケージ
JP2682200B2 (ja) 半導体装置
JPH11233549A (ja) 半導体装置
JP3842241B2 (ja) 半導体装置
JPH04144269A (ja) 混成集積回路装置
JPH0338057A (ja) フラグレス・リードフレーム、それを用いたパッケージおよび製法
JP2000012741A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2003100988A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3250992B2 (ja) 積層チップパッケージ
JPH0529528A (ja) 半導体集積回路装置およびそれに用いるリードフレーム
JPH0422159A (ja) 半導体集積回路装置およびその製造方法
JP3015181B2 (ja) 半導体装置
JP3082562U (ja) マルチーチップパッケージ
JPH098209A (ja) 半導体装置およびモールド金型