JPH11188615A - ウエーハ研磨装置及びウエーハ移載装置 - Google Patents

ウエーハ研磨装置及びウエーハ移載装置

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JPH11188615A
JPH11188615A JP36770197A JP36770197A JPH11188615A JP H11188615 A JPH11188615 A JP H11188615A JP 36770197 A JP36770197 A JP 36770197A JP 36770197 A JP36770197 A JP 36770197A JP H11188615 A JPH11188615 A JP H11188615A
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wafer
polishing
platen
carrier
polishing apparatus
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JP36770197A
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Akira Horiguchi
明 堀口
Tomio Fukushima
富夫 福島
Yoshihiro Usu
良寛 宇須
Tsuneo Takeda
恒雄 竹田
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Kashiwara Machine Manufacturing Co Ltd
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Kashiwara Machine Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 遊星歯車方式のウエーハ研磨装置において、
デバイス形成時に問題となるウエーハ1のダメージを回
避する。キャリア13の脱着及びウエーハ1の不必要な
研磨を伴うことなく、ウエーハ1のインデックスを行
う。 【解決手段】 下側の回転定盤11の上にキャリア13
を介して設けられる上側の回転定盤12の下面に、複数
の吸引口12bを設ける。ウエーハ1の研磨終了後、回
転定盤12を上昇させるときに、回転定盤12の下方に
ウエーハ1を吸着保持して、ウエーハ1をキャリア13
から取り出す。回転定盤12を回転させて、取り出され
たウエーハ1のインデックスを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエーハ等
の両面研磨に使用されるウエーハ研磨装置、及びこれに
組み合わされるウエーハ移載装置に関する。
【0002】
【従来の技術】シリコンの単結晶ロッドから採取された
シリコンウエーハは、その表面にデバイスを形成するに
先立って、表面が鏡面状態に研磨される。このウエーハ
表面の鏡面研磨は、これまではデバイス形成面にのみ実
施されていたが、8インチを超える例えば12インチの
如き大径のウエーハにおいては、デバイスが形成されな
い裏面にも鏡面研磨に匹敵する精密研磨が要求されるよ
うになり、これに伴って両面研磨が必要になった。これ
は、ウエーハの表面にデバイスを形成する過程で、その
表面が裏面に付着する微細な異物によって汚染される危
険があるとか、露光時に裏面の凹凸の影響を受けるため
とされている。
【0003】シリコンウエーハの両面研磨を行う場合、
上下の回転定盤間でウエーハに遊星運動をさせる方式
が、装置規模、研磨精度、研磨条件の自由度等の点から
有望視されている。この方式のウエーハ研磨装置の基本
構造を図3及び図4により説明する。
【0004】上下の回転定盤間でウエーハに遊星運動を
させる方式のウエーハ研磨装置10は、水平に支持され
た環状の下定盤11と、下定盤11に上方から対向する
環状の上定盤12と、上下の定盤11,12間に配置さ
れる複数(通常3又は5)のキャリア13,13,13
とを備えている。上定盤12は、加圧用を兼ねるシリン
ダー14の下方に回転自在に支持されている。
【0005】複数のキャリア13,13,13は、下定
盤1上の周方向等間隔位置に回転自在に支持されてい
る。各キャリア13は、環状の下定盤1の内側に設けら
れた太陽ギヤ15と外側に設けられたリング状のインナ
ギヤ16とに噛み合ういわゆる遊星歯車であり、且つ、
キャリア13の中心から偏心した位置にウエーハ1を保
持するようになっている。
【0006】ウエーハ10の両面研磨を行うには、上定
盤12を上昇させた状態で各キャリア13にウエーハ1
をセットする。次いで、下定盤11及び太陽ギヤ15を
低速回転させ、上定盤12を下降させる。上定盤12が
太陽ギヤ15と連結されることにより、上定盤12が回
転を開始する。そして、上下の定盤11,12の対向面
に貼り付けられた研磨パッド17,17の間に各ウエー
ハ1を所定の圧力で挟み、所定の回転数に調整すること
により、研磨が始まる。
【0007】研磨中、各キャリア13は回転する上下の
定盤11,12間で自転しつつ公転する遊星運動を行
い、その結果、各キャリア13に偏心保持されたウエー
ハ1は、研磨パッド17,17間で偏心した自転運動及
び公転運動を行い、この運動の組み合わせにより、両面
が均一に研磨されることになる。
【0008】このとき、上下の定盤11,12間には、
定盤とキャリアの回転数差による負圧を利用して砥液が
供給される。この供給のために、上定盤12の上方には
環状の砥液パン18が取り付けられており、このパン内
の砥液は、定盤とキャリアの回転数差による負圧によ
り、上定盤12の下面に開口する砥液供給口12aから
定盤11,12間に供給される。
【0009】この方式の研磨装置では、下定盤11、上
定盤12、太陽ギヤ15、インナギヤ16を回転させる
ことができる。更に、複数のキャリア13,13,13
を同期して周回させることができる。このような多軸駆
動により、キャリア13ひいてはウエーハ1に多種多様
な条件の遊星運動を行わせることができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな上下の定盤11,12間でウエーハ1に遊星運動を
させる方式のウエーハ研磨装置には、研磨後のウエーハ
1の取り出しに関連して次のような問題がある。
【0011】上下の定盤11,12間でウエーハ1の研
磨が終わると、定盤11,12の回転を停止し、上定盤
12を上昇させて、キャリア13,13,13からウエ
ーハ1を取り出してバスケット等に収納するが、この取
り出しを、研磨装置10の側方に配置されたロボットで
行う場合は、下定盤11上の複数のウエーハ1,1,1
をインデックスのためにロボットのところに順番に移動
させる必要がある。しかし、このインデックスを行うた
めにはキャリア13,13,13に遊星運動をさせる必
要があり、その結果として下定盤11上でウエーハ1,
1,1が運動し、余分な研磨が行われる。
【0012】このため、ロボットでウエーハ1,1,1
の取り出しを行う場合は、上定盤12の上昇後にキャリ
ア13,13,13を取り外し、この状態で下定盤11
を回転させることにより、インデックスが行われるが、
キャリア13,13,13の取り外し及び再セットによ
る能率低下が避けられない。
【0013】このような事情のため、研磨後のウエーハ
1の取り出しは、作業者による手作業で行われることが
少なくない。しかし、この作業は、図5に示すように、
ヘラ2でウエーハ1の周縁部を持ち上げた後、手袋をし
た手でウエーハ1の周縁部を掴むことにより行われる。
また、ヘラ2に代えて吸着パッドを用いる場合もある。
しかし、いずれの場合も、研磨後のウエーハ1の端面に
力が加わる上に、ウエーハ1の研磨面への接触が避けら
れない。その結果、デバイス形成時にスリップやディス
ロケーション等の結晶欠陥を生じる危険性がある。
【0014】本発明の目的は、デバイス形成時に問題と
なるダメージを回避し、且つ、キャリアの脱着及びウエ
ーハの不必要な研磨を伴うことなく、ウエーハのインデ
ックスを行い得るウエーハ研磨装置を提供することにあ
る。
【0015】本発明の他の目的は、インデックスされた
ウエーハを、ダメージを与えることなくバスケット等に
収納することができるウエーハ移載装置を提供すること
にある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のウエーハ研磨装置は、ウエーハを保持する
複数のキャリアが上下の回転定盤間に回転方向に所定間
隔で配置されると共に、各キャリアが定盤中心側の太陽
ギヤ及び定盤周辺側のインナギヤに噛み合い、各キャリ
アが上下の回転定盤間で遊星運動を行うことにより、各
キャリアに保持されたウエーハの両面を研磨する両面研
磨装置において、上側の回転定盤の下面にウエーハを吸
着するべく、その下面に吸引口を設けたものである。
【0017】本発明のウエーハ研磨装置においては、研
磨後に上側の回転定盤の下面にウエーハが吸着される。
この状態で、上側の回転定盤を上昇させることにより、
下側の回転定盤上のウエーハは、ダメージを受けること
なく又キャリアを取り外すことなく、そのキャリアから
取り出される。この状態で上側の回転定盤を回転させれ
ば、ウエーハは研磨を伴うことなくインデックスされ
る。
【0018】上側の回転定盤の下面に、純水及び/又は
エアを吹き出す吹き出し口を設けた場合は、上側の回転
定盤の下面に吸着されたウエーハが、その吹き出しによ
り下面から容易に離脱する。また、吹き出し口からの純
水スプレーにより、研磨後に砥液を洗い流すことができ
る。なお、研磨後のウエーハ及びこれが接触する研磨パ
ッドは、純水スプレーにより洗浄及び乾燥防止を行うの
が好ましい。
【0019】また、本発明のウエーハ移載装置は、上記
ウエーハ研磨装置で研磨を終えたウエーハを装置外へ搬
出するためにそのウエーハ研磨装置に組み合わされるウ
エーハ移載装置であって、少なくとも2方向に駆動され
るロボットアームと、ロボットアームに取り付けられた
チャックとを具備しており、チャックは放射状に配置さ
れ、それぞれが半径方向に往復駆動される複数のステー
ジを有し、各ステージの上面は中心側に向かって下方に
傾斜し、反中心側の端部にはウエーハの周縁部を係止す
る爪部が設けられていることを構成上の特徴とする。
【0020】本発明のウエーハ移載装置においては、上
記ウエーハ研磨装置の上側の回転定盤により取り出され
インデックスされたウエーハの下方にチャックを位置さ
せ、複数のステージを反中心側へ開放した状態で、ウエ
ーハを離脱させることにより、そのウエーハが複数のス
テージ上に移載される。ここで、ステージの上面は中心
側に向かって下方に傾斜しているので、ステージ上のウ
エーハは周縁のみがステージと接触する。この状態で複
数のステージを中心側へ閉じ、ウエーハの周縁部を係止
した状態で、ウエーハをバスケット等へ搬送する。チャ
ックからウエーハを排出するときは、ステージが3個の
場合は2個のステージを開き、残った1つのステージを
中心側へ移動させるか、残った1つのステージに設けら
れたプッシャを作動させる。これにより、ウエーハはス
テージ上から排出される。
【0021】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は本発明の実施形態を示すウエ
ーハ研磨装置及びウエーハ移載装置の概略側面図、図2
はウエーハ移載装置の主要部の平面図及び側面図であ
る。
【0022】ウエーハ研磨装置10は、図3及び図4に
示した従来のウエーハ研磨装置と比較して、上定盤12
の構造が主に相違する。他の構成は、従来のウエーハ研
磨装置と実質的に同一であるので、詳しい説明を省略す
る。
【0023】上定盤12は、図1に示すように、中心部
に貫通孔を有する環状の円盤である。上定盤12の下面
には、定盤11,12間に砥液を供給するための複数の
砥液供給口12aと、その下面にウエーハ1を吸着する
ための複数の吸引口12bとが設けられている。複数の
砥液供給口12aは、砥液配管を介して砥液パン18に
接続されている。また、複数の吸引口12bは、真空配
管12cを介してロータリジョイント19に接続され、
更にロータリジョイント19を介して図示されない吸引
装置に接続されると共に、純水・エア配管12dを介し
てロータリジョイント19に接続され、更にロータリジ
ョイント19を介して図示されない純水供給源及びエア
源に接続されている。つまり、上定盤12の下面にウエ
ーハ1を吸着するための複数の吸引口12bは、本実施
形態では、純水及びエアを吹き出す吹き出し口を兼ねて
いる。
【0024】ウエーハ移載装置30は、ウエーハ研磨装
置10と研磨後のウエーハ1を収納するバスケット20
との間に配設されている。このウエーハ移載装置30
は、駆動機構31によりX,Z,θの3方向に駆動され
る水平なロボットアーム32と、ロボットアーム32の
先端部に取り付けられたチャック33とを備えている。
チャック33は、図2に示すように、放射状に設けられ
た3本の水平なベース34と、ベース34の上にそれぞ
れ設けられた3個のステージ35と、各ステージ35の
反中心側の端部に取り付けられた爪部36とを有してい
る。ステージ35及び爪部36は樹脂製である。各ステ
ージ35は、ベース34上に移動可能に設けられ、各ベ
ース34に取り付けられたシリンダー37により、爪部
36と共に開閉駆動される。3個のステージ35のうち
の一つには、シリンダー38により駆動されるプッシャ
39が、反中心側の端部に位置して設けられている。
【0025】なお、バスケット20は、昇降装置21に
より上下方向に駆動され、この駆動により純水タンク2
2に挿入される。
【0026】ウエーハ研磨装置10においてウエーハ1
の両面研磨を行うには、上定盤12を上昇させた状態で
各キャリア13にウエーハ1をセットする。次いで、下
定盤11及び太陽ギヤ15を低速で回転させながら上定
盤12を下降させる。下降した上定盤12は太陽ギヤ1
5と連結されて回転を始める。上下の定盤11,12の
対向面に貼り付けられた研磨パッド17,17の間に各
ウエーハ10を所定の圧力で挟み、下定盤11及び太陽
ギヤ15の回転速度を所定速度に調整することにより、
研磨が開始される。なお、上定盤12は太陽ギヤ15に
連結せず、単独の駆動装置により駆動してもよい。
【0027】研磨中、上下の定盤11,12間のキャリ
ア13,13,13は自転しつつ公転する遊星運動を行
い、その結果、各キャリア13に偏心保持されたウエー
ハ1は、研磨パッド17,17間で偏心した自転運動及
び公転運動を行う。また、定盤とキャリアの回転数差に
よる負圧により、砥液パン18内の砥液が上定盤12の
下面に設けられた砥液供給口12aを通って定盤11,
12間に供給される。かくして、ウエーハ1の両面が均
一に研磨される。
【0028】研磨終了時には、上定盤12の下面に設け
られた純水及びエアの吹き出し口を兼ねる複数の吸引口
12bとウエーハ1の位置が一致するように、装置を停
止させる。その後、複数の吸引口12bから上下の定盤
11,12間に純水を一定時間供給し、研磨パッド1
7,17に含まれる砥液を純水と置換することにより、
研磨後のウエーハ1の砥液による腐食(面荒れ)を防止
する。次いで、複数の吸引口12bから吸引を行いつ
つ、上定盤12を上昇させる。これにより、下定盤11
上のウエーハ1,1,1は、上定盤12の下面に研磨パ
ッド17を介して吸着され、この状態で引き上げられる
ことにより、キャリア13,13,13を取り外すこと
なく、そのキャリア13,13,13から取り出され
る。また、デバイス形成時に問題となるダメージを受け
ない。
【0029】キャリア13,13,13から取り出され
たウエーハ1,1,1は、研磨パッド17と共に、図示
されないスプレーノズルにより純水を噴射され、乾燥が
防止される。
【0030】キャリア13,13,13からウエーハ
1,1,1が取り出されると、上定盤12を回転させて
ウエーハ1,1,1のインデックスを行う。即ち、特定
のウエーハ1がウエーハ移載装置30に近い受け渡し位
置にインデックスされるように、上定盤12が回転す
る。次いで、受け渡し位置に移動した特定のウエーハ1
の下方に、ウエーハ移載装置30のチャック33が移動
する。そして、チャック33において3個のステージ3
5が反中心側へ開放移動した状態で、特定のウエーハ1
に対応する箇所に位置する吸引口12bからの吸引を停
止し、代わりに吸引口12bから純水又はエアを吹き出
す。これにより、受け渡し位置にインデックスされた特
定のウエーハ1のみが上定盤12の下面から離脱し、3
個のステージ35上に落下する。
【0031】このようにして上定盤12からチャック3
3へのウエーハ1の受け渡しが終わると、3個のステー
ジ35が中心側へ閉止移動し、ウエーハ1を3個の爪部
36により弱く拘束する。このとき、ウエーハ1は樹脂
からなるステージ35に載る。しかも、ステージ35の
上面が中心側に向かって下方に傾斜しているので、ウエ
ーハ1の周縁のみがステージ35に接触し、その表面及
び裏面が保護される。更に、ウエーハ1の端面に大きな
力が加わることもない。従って、ウエーハ移載装置10
においても、デバイス形成時に問題となるダメージが回
避される。
【0032】チャック33においてウエーハ1が拘束さ
れると、そのチャック33がバスケット20のところに
移動する。次いで、3個のステージ35が反中心側へ開
放移動し、ウエーハ1を解放した状態で、プッシャ39
が前進して、ウエーハ1をバスケット20内に押し込
む。このとき、3個のステージ35のうちの2つがバス
ケット20の側に位置し、残りの1つのステージ35が
バスケット20の反対側に位置し、残りの1つのステー
ジ35に設けられたプッシャ39が前進することによ
り、ウエーハ1は他の2つのステージ35に設けられた
爪部36の間を通ってステージ35上から排出される。
【0033】同様に、未だ上定盤12に吸着されている
ウエーハ1,1についても上定盤12の回転によりイン
デックスが行われ、ウエーハ移載装置30によりバスケ
ット20に収納される。
【0034】ウエーハ1,1,1が収納されたバスケッ
ト20は純水タンク22内に下降する。
【0035】上記実施形態では、研磨後のウエーハ1を
上定盤12に吸着しているが、研磨前のウエーハ1を吸
着して研磨装置10にセットすることも可能である。
【0036】同様に、ウエーハ移載装置30は、上記実
施形態では研磨後のウエーハ1の移載に使用されている
が、研磨前のウエーハ1を研磨装置10に移載するのに
使用することもできる。
【0037】ウエーハ移載装置30は又、3個のステー
ジ35のうち、バスケット20の側に位置する2つを両
側に開けて、バスケット20へのウエーハ1の受け渡し
を容易にする構成とすることも可能である。
【0038】
【発明の効果】以上に説明した通り、本発明のウエーハ
研磨装置は、上側の回転定盤の下面にウエーハを吸着す
ることができるので、研磨後のウエーハを、ダメージを
受けることなく又キャリアを取り外すことなく、そのキ
ャリアから取り出すことができる。しかも、取り出した
ウエーハを、研磨を伴うことなくインデックスすること
ができる。
【0039】また、本発明のウエーハ移載装置は、イン
デックスされたウエーハの周縁のみを限定的に接触保持
するので、そのウエーハを、ダメージを与えることなく
バスケット等に収納することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示すウエーハ研磨装置及び
ウエーハ移載装置の概略側面図である。
【図2】ウエーハ移載装置の主要部の平面図及び側面図
である。
【図3】従来のウエーハ研磨装置の概略側面図である。
【図4】図3のA−A線矢示図である。
【図5】従来のウエーハ研磨装置におけるウエーハ取り
出し法を示す模式図である。
【符号の説明】
1 ウエーハ 10 ウエーハ研磨装置 11 下定盤 12 上定盤 12a 砥液供給口 12b 吸引口 13 キャリア 15 太陽ギヤ 16 インナギヤ 17 研磨パッド 20 バスケット 30 ウエーハ移載装置 32 ロボットアーム 33 チャック 34 ベース 35 ステージ 36 爪部 39 プッシャ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹田 恒雄 大阪府柏原市河原町1番22号 株式会社柏 原機械製作所内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエーハを保持する複数のキャリアが上
    下の回転定盤間に回転方向に所定間隔で配置されると共
    に、各キャリアが定盤中心側の太陽ギヤ及び定盤周辺側
    のインナギヤに噛み合い、各キャリアが上下の回転定盤
    間で遊星運動を行うことにより、各キャリアに保持され
    たウエーハの両面を研磨する両面研磨装置において、上
    側の回転定盤の下面にウエーハを吸着するべく、その下
    面に吸引口を設けたことを特徴とするウエーハ研磨装
    置。
  2. 【請求項2】 上側の回転定盤の下面に、純水及び/又
    はエアを吹き出す吹き出し口を設けたことを特徴とする
    請求項1に記載のウエーハ研磨装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2に記載のウエーハ研磨装
    置で研磨を終えたウエーハを装置外へ搬出するためにそ
    のウエーハ研磨装置に組み合わされるウエーハ移載装置
    であって、少なくとも2方向に駆動されるロボットアー
    ムと、ロボットアームに取り付けられたチャックとを具
    備しており、チャックは放射状に配置され、それぞれが
    半径方向に往復駆動される複数のステージを有し、各ス
    テージの上面は中心側に向かって下方に傾斜し、反中心
    側の端部にはウエーハの周縁部を係止する爪部が設けら
    れていることを特徴とするウエーハ移載装置。
JP36770197A 1997-12-26 1997-12-26 ウエーハ研磨装置及びウエーハ移載装置 Withdrawn JPH11188615A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002025951A (ja) * 2000-07-11 2002-01-25 Mitsubishi Materials Corp 両面加工装置及びその研磨手段のツルーイング方法
JP2002321132A (ja) * 2001-04-23 2002-11-05 Fujikoshi Mach Corp ワークの搬送装置
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