JPH11121420A - 基板洗浄方法及びその装置 - Google Patents

基板洗浄方法及びその装置

Info

Publication number
JPH11121420A
JPH11121420A JP28672997A JP28672997A JPH11121420A JP H11121420 A JPH11121420 A JP H11121420A JP 28672997 A JP28672997 A JP 28672997A JP 28672997 A JP28672997 A JP 28672997A JP H11121420 A JPH11121420 A JP H11121420A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
cleaning
nozzle
cleaning liquid
discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP28672997A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3644805B2 (ja
Inventor
Takeya Morinishi
健也 森西
Masami Otani
正美 大谷
Joichi Nishimura
譲一 西村
Akihiko Morita
彰彦 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP28672997A priority Critical patent/JP3644805B2/ja
Priority to US09/166,593 priority patent/US6260562B1/en
Publication of JPH11121420A publication Critical patent/JPH11121420A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3644805B2 publication Critical patent/JP3644805B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板面内の位置に応じて洗浄条件を変えるこ
とにより、基板の全面にわたって均一に洗浄処理を施す
ことができる。 【解決手段】 回転手段上で回転している基板Wに対し
てノズル7の吐出孔7aから洗浄液Sを吐出させ、ノズ
ル7を回転モータ11aで基板W上を移動させて基板W
を洗浄する基板洗浄装置において、ノズル7の吐出孔7
aから吐出される洗浄液Sの吐出圧を調節する電空変換
弁17と、ノズル7が位置する基板面内の位置、すなわ
ち基板面内における洗浄液供給位置に応じて電空変換弁
17を介して洗浄液Sの吐出圧を調節するコントローラ
27とを備える。基板面内の位置に応じて吐出圧を変え
ることで洗浄度合いを一定化できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に基板と称す
る)に対してノズルから洗浄液を吐出させて洗浄する基
板洗浄方法及びその装置に係り、特に、基板面内に供給
される洗浄液の供給位置が、少なくとも基板中心と基板
周縁との間を移動するようにノズルを移動させながら洗
浄処理を施す技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の基板洗浄装置として、例
えば、基板を回転自在に支持する回転支持機構と、洗浄
液を一定圧の高圧噴流で吐出するジェット式のノズル
と、供給される洗浄液の基板面内での供給位置が、少な
くとも基板中心と基板周縁との間を一定速度で移動する
ように前記ノズルを移動させる移動機構とを備えている
ものが挙げられる。このような装置では、基板を回転さ
せつつ、基板面内に供給される洗浄液の供給位置が、少
なくとも基板中心と基板周縁との間を移動するように前
記ノズルを移動させることによって基板の表面全体にわ
たって洗浄液を吐出させ、基板表面に付着しているパー
ティクルやゴミを離脱させて洗浄除去するようになって
いる。
【0003】なお、洗浄液の吐出圧は洗浄効果に大きく
影響する洗浄条件の一つであるので、パーティクルやゴ
ミの付着度合いが異なる基板のロット毎、あるいは基板
の種類や基板1枚ごとに変えたりしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、基板は回転している関係上、基板の中
心部においてはノズルに対する相対移動速度が遅く、周
縁部に向かうに従って速くなっているので、相対移動速
度の遅い基板の中心部では洗浄液による過度の衝撃を受
けることがある。そこで、洗浄条件の一つである洗浄液
の吐出圧は、基板の中心部で最も適した洗浄度合いとな
るように一般的に設定されているが、このように中心部
にあわせて設定すると相対移動速度が速い基板の周縁部
では十分に洗浄を行うことができず、洗浄ムラが生じて
後の基板処理に悪影響を与えるという問題がある。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、基板面内を移動する洗浄液の供給位置
に応じて洗浄条件を変えることにより、基板の全面にわ
たって均一に洗浄処理を施すことができる基板洗浄方法
及びその装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の基板洗浄方法は、回転している基
板に対してノズルの吐出孔から洗浄液を吐出させ、その
吐出された洗浄液の基板面内における供給位置が、少な
くとも基板中心と基板周縁との間を移動するように、ノ
ズル移動手段によって前記ノズルを移動させて洗浄する
基板洗浄方法において、前記ノズルから吐出される洗浄
液の吐出圧、前記ノズルの吐出孔が位置する基板面に対
する吐出高さ、前記ノズルの基板面に対する吐出角度、
前記ノズルから吐出される洗浄液の吐出量のうち、少な
くとも一つの洗浄条件を前記基板面内を移動する洗浄液
の供給位置に応じて変えるようにしたことを特徴とする
ものである。
【0007】また、請求項2に記載の基板洗浄装置は、
回転支持手段上で回転している基板に対してノズルの吐
出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された洗浄液の基板面
内における供給位置が、少なくとも基板中心と基板周縁
との間を移動するように移動手段によって前記ノズルを
移動させて洗浄する基板洗浄装置において、前記ノズル
の吐出孔から吐出される洗浄液の吐出圧を調節する吐出
圧調節手段と、基板面内を移動する前記洗浄液の供給位
置に応じた洗浄液の吐出圧に調節するように、前記吐出
圧調節手段を制御する制御手段と、を備えていることを
特徴とするものである。
【0008】また、請求項3に記載の基板洗浄装置は、
回転支持手段上で回転している基板に対してノズルの吐
出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された洗浄液の基板面
内における供給位置が、少なくとも基板中心と基板周縁
との間を移動するように移動手段によって前記ノズルを
移動させて洗浄する基板洗浄装置において、前記ノズル
の吐出孔が位置する基板面に対する吐出高さを調節する
吐出高さ調節手段と、基板面内を移動する前記洗浄液の
供給位置に応じた吐出高さに調節するように、前記吐出
高さ調節手段を制御する制御手段と、を備えていること
を特徴とするものである。
【0009】また、請求項4に記載の基板洗浄装置は、
回転支持手段上で回転している基板に対してノズルの吐
出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された洗浄液の基板面
内における供給位置が、少なくとも基板中心と基板周縁
との間を移動するように移動手段によって前記ノズルを
移動させて洗浄する基板洗浄装置において、前記基板面
に対する前記ノズルの吐出角度を調節する吐出角度調節
手段と、基板上で移動する洗浄液の供給位置に応じた吐
出角度に調節するように前記吐出角度調節手段を制御す
る制御手段と、を備えていることを特徴とするものであ
る。
【0010】また、請求項5に記載の基板洗浄装置は、
回転支持手段上で回転している基板に対してノズルの吐
出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された洗浄液の基板面
内における供給位置が、少なくとも基板中心と基板周縁
との間を移動するように移動手段によって前記ノズルを
移動させて洗浄する基板洗浄装置において、前記ノズル
から吐出される洗浄液の吐出量を調節する吐出量調節手
段と、基板面内を移動する前記洗浄液の供給位置に応じ
た吐出量に調節するように前記吐出量調節手段を制御す
る制御手段と、を備えていることを特徴とするものであ
る。
【0011】また、請求項6に記載の基板洗浄装置は、
請求項2ないし請求項5のいずれかに記載の基板洗浄装
置において、基板面内を移動する洗浄液の供給位置を検
出する位置検出手段を備え、前記制御手段は前記位置検
出手段が検出した位置に基づいて制御するようにしたこ
とを特徴とするものである。
【0012】また、請求項7に記載の基板洗浄装置は、
請求項2に記載の基板洗浄装置において、前記制御手段
は、洗浄液の供給位置が基板の中心部側で洗浄液の吐出
圧を低く、洗浄液の供給位置が基板の周縁部側に向かう
にしたがって洗浄液の吐出圧を高くするように前記吐出
圧調節手段を制御するようにしたことを特徴とするもの
である。
【0013】また、請求項8に記載の基板洗浄装置は、
請求項2ないし請求項5のいずれかに記載の基板洗浄装
置において、前記制御手段は、基板面内を移動する洗浄
液の供給位置に応じて、前記移動手段によるノズルの移
動速度を変えるようにしたことを特徴とするものであ
る。
【0014】
【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。洗浄度合いに係わる吐出圧、吐出高さ、吐出角度、
吐出量のうちの少なくとも一つの洗浄条件を、基板面内
における洗浄液の供給位置に応じて変えることにより、
ノズルと基板との相対移動速度が異なる回転基板の基板
面内のどの位置においても洗浄度合いを一定にすること
ができる。
【0015】また、請求項2に記載の発明によれば、移
動手段により基板面内を移動する洗浄液の供給位置に応
じた吐出圧に調節するように、制御手段が吐出圧調節手
段を制御する。これによって回転している基板面内のど
の位置においても洗浄度合いを一定にすることができ
る。
【0016】また、請求項3に記載の発明によれば、移
動手段により基板面内を移動する洗浄液の供給位置に応
じた吐出高さに調節するように、制御手段が吐出圧調節
手段を制御する。これによって回転している基板面内の
どの位置においても洗浄度合いを一定にすることができ
る。
【0017】また、請求項4に記載の発明によれば、移
動手段により基板面内を移動する洗浄液の供給位置に応
じた吐出高さに調節するように、制御手段が吐出角度調
節手段を制御する。これによって回転している基板面内
のどの位置においても洗浄度合いを一定にすることがで
きる。
【0018】また、請求項5に記載の発明によれば、移
動手段により基板面内を移動する洗浄液の供給位置に応
じた吐出量に調節するように、制御手段が吐出量調節手
段を制御する。これによって回転している基板面内のど
の位置においても洗浄度合いを一定にすることができ
る。
【0019】また、請求項6に記載の発明によれば、位
置検出手段が検出した基板面内における洗浄液の供給位
置に基づいて制御手段が制御することにより、正確に検
出された洗浄液の供給位置に応じて洗浄条件を調節する
ことができ、洗浄度合いをより一定化することができ
る。
【0020】また、請求項7に記載の発明によれば、中
心部側の吐出圧を低くし、周縁部側に向かって高めてゆ
くことにより洗浄度合いを一定化できる。
【0021】また、請求項8に記載の発明によれば、移
動手段によりノズルの移動速度を洗浄液の供給位置の移
動速度を基板面内の位置に応じて変えることによっても
洗浄度合いを一定化できる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1は、実施例に係る基板洗浄装置
の概略構成を示すブロック図であり、図2はその平面図
である。
【0023】円筒状に形成されてなる6個の支持ピン1
aが立設された円板状のスピンチャック1は、底面に連
結された回転軸3を介して電動モータ5で回転駆動され
るようになっている。この回転駆動により、支持ピン1
aで周縁部を当接支持された基板Wが回転中心Pa軸周
りに水平面内で回転される。上記のスピンチャック1の
周囲には、ノズル7から吐出された洗浄液Sが飛散する
ことを防止するための飛散防止カップ9が配備されてい
る。この飛散防止カップ9は、未洗浄の基板Wをスピン
チャック1に載置したり、図示していない搬送手段が洗
浄済の基板Wをスピンチャック1から受け取る際に図中
に矢印で示すようにスピンチャック1に対して昇降する
ように構成されている。なお、上記のスピンチャック1
と、回転軸3と、電動モータ5とが本発明における回転
支持手段に相当する。
【0024】ノズル7は、その吐出孔7aから高圧の洗
浄液Sを基板Wの表面に一定の吐出角度θで供給するよ
うに構成されているとともに、昇降/移動機構11によ
ってその供給位置が回転中心Paを通って揺動するよう
になっている。その後端部付近には支持アーム7bが取
り付けられており、これを介して回転モータ11aの回
転軸11bに連結されている。この回転モータ11aは
回転中心Pb周りにノズル7を基板W上で揺動するため
のものであり、その回転量がエンコーダ11cによって
検出されて後述するコントローラ27にフィードバック
されるようになっている。なお、これらの回転モータ1
1aと、回転軸11bと、エンコーダ11cとはノズル
7を移動させるものであり、本発明の移動手段に相当す
る。また、エンコーダ11cは、本発明の位置検出手段
にも相当するものであり、直接的にはノズル7の位置を
検出することにより、基板面内を移動する洗浄液の供給
手段を検出している。
【0025】回転モータ11aとエンコーダ11cを搭
載している昇降ベース11dは、立設されたガイド軸1
1eに摺動自在に嵌め付けられているとともに、ガイド
軸11eに並設されているボールネジ11fに螺合され
ている。このボールネジ11fは、昇降モータ11gの
回転軸に連動連結されており、その昇降量は回転量とし
てエンコーダ11hによって検出されて後述するコント
ローラ27にフィードバックされる。ノズル7が基板W
の上方にあたる洗浄位置にある際に昇降モータ11gを
駆動するとノズル7が昇降されて、基板W面からの吐出
孔7aの高さ(吐出高さH)が調節されるので、これら
のガイド軸11eと、ボールネジ11fと、昇降モータ
11gと、エンコーダ11hとが本発明の吐出高さ調節
手段に相当する。
【0026】なお、上述した昇降/移動機構11により
ノズル7は昇降および移動されるが、基板Wに洗浄液S
を吐出していない状態では、図2中に点線で示す待機位
置に移動され、飛散防止カップ9に隣接して配備された
待機ポット13内にて待機するように構成されている。
【0027】ノズル7に洗浄液を供給する配管15に
は、圧縮空気の圧力を、入力された電気信号に対応する
圧力に変換するための電空変換弁17と、洗浄液供給源
からの洗浄液の圧力を電空変換弁17からの圧力に応じ
て調節する高圧ユニット19と、複数の流路のそれぞれ
に配設されている電磁弁21aの開閉動作によって洗浄
液の流量を調節するための流量調節ユニット21と、流
量調節ユニット21から供給される洗浄液の圧力Pを検
出する圧力センサ23と、洗浄液の流量Qを検出する流
量センサ25とを介して洗浄液が供給される。電空変換
弁17には、本発明の制御手段に相当するコントローラ
27から電気信号が入力され、この電気信号に応じた圧
力に空気圧が調整されるが、調整された圧力は電空変換
弁17に配備された圧力センサによって検出されてコン
トローラ27にフィードバックされる。また、圧力セン
サ23と流量センサ25の検出信号P,Qもコントロー
ラー27にフィードバックされ、その信号に応じて高圧
ユニット19と流量調節ユニット21とが制御される。
【0028】コントローラ27には、上述したように各
種の信号が入力されるようになっているが、洗浄液Sの
吐出圧Pを含む洗浄条件を所望するように指示して洗浄
処理プログラム(レシピーとも呼ばれる)を作成した
り、作成した複数の洗浄処理プログラムの中から所望の
ものを選択指示するため等に用いられる指示部31がさ
らに接続されている。また、作成された洗浄処理プログ
ラムを格納するためのメモリ33もコントローラ27に
接続されている。洗浄処理プログラムは、基板の種類ご
となどに作成されており、例えば、図3の模式図に示す
ように、洗浄処理中における基板Wの回転数、洗浄処理
中におけるノズル7の移動速度、基板W上で揺動移動さ
せるノズル7の移動範囲、洗浄液の吐出圧を示し、基板
W面内の位置に応じた洗浄液の圧力である吐出圧データ
を含むものである。
【0029】吐出圧データは、例えば、図4に示すよう
に設定されている。このデータでは、基板Wとノズル7
との相対移動速度が遅い基板Wの中央部側では吐出圧P
を低くし、相対移動速度が速い周辺部側に向かうにした
がって2段階で吐出圧Pを高くしてゆくように設定され
ている。
【0030】したがって、洗浄のためにノズル7を揺動
移動した際、エンコーダ11cでノズル7の位置を通じ
て検出される基板W面内の洗浄液の供給位置と、上記吐
出データとに基づいてコントローラ27が電空変換弁1
7への電気信号を調整することにより、高圧ユニット1
9において洗浄液の圧力Pが図4に示した吐出圧データ
のように調節される。その結果、相対移動速度が遅い基
板Wの中央部側と、相対移動速度が速い基板Wの周辺部
側とにおいて、基板Wの表面が受ける洗浄度合いを基板
W面内のどの位置においてもほぼ一定にすることができ
る。このように吐出圧Pを調節するだけで洗浄度合いを
ほぼ一定にできるので、比較的容易に基板の全面にわた
って均一に洗浄を行うことができる。
【0031】また、予め作成されてメモリ33に格納さ
れている洗浄処理プログラムと吐出圧データとが関連付
けられているので、指示部31から洗浄処理プログラム
を指示するだけで基板に適した吐出圧による洗浄処理を
施すことができるとともに、基板の全面にわたってほぼ
均一に洗浄を行うことができる。
【0032】なお、上記の説明では、基板W上における
ノズル7の位置、すなわち基板W面内の洗浄液の供給位
置に応じて段階的に吐出圧Pを変えるようにしたが、図
5中に実線で示すように基板W面内を移動する洗浄液の
供給位置に応じて直線的に吐出圧Pを変えるようにして
もよい。また、上記の説明では、ノズル7と基板W面と
の相対移動速度だけに着目し、一定吐出圧であれば基板
の周辺部ほど洗浄度合いが低下するとしている。しかし
ながら、パーティクルの種類や基板の表面状態によって
は、一定吐出圧で洗浄すると中心部側ほど洗浄度合いが
低下する事態も考えられる。このような場合には、図5
中に点線で示すように、基板Wの周縁部に向かうにした
がって洗浄液の吐出圧Pを低下させるようにすればよ
い。
【0033】さらに洗浄度合いを調節可能な洗浄条件と
しては、吐出孔7aの基板W面からの高さH、つまり吐
出高さHがある。この場合には、昇降モータ11gを駆
動して、図6に示すように基板W上におけるノズル7の
位置、すなわち基板W面内の洗浄液供給位置に応じて吐
出高さHを調節する。具体的には、例えば、図中に実線
で示すように中央部側から周辺部側に向かって段階的に
吐出高さHを低くしてゆく。これによって洗浄度合いを
基板W面内の位置にかかわらずほぼ一定化できる。な
お、昇降モータ11gによりノズル7を昇降して吐出高
さHを変えると、基板W面内における洗浄液の供給位置
が回転中心Paからずれることになるので、吐出高さH
を変えるとともに後述する吐出角度調整機構(35)に
より、常に回転中心Paに洗浄液Sが供給されるように
吐出角度θを調節することが好ましい。
【0034】なお、吐出高さHを段階的に変えるのでは
なく、図6中に二点鎖線で示すように周縁部側に向かっ
て直線的に吐出高さHを低くしてゆくようにしてもよ
く、中心部側ほど洗浄度合いが低下している場合には、
点線で示すように中心に向かうにつれて吐出高さHが低
くなるように調節すればよい。
【0035】また、洗浄条件としてはノズル7から基板
Wに吐出される吐出量Qもある。この吐出量Qを調節す
るには、流量調節ユニット21に配設されている複数個
の電磁弁21aを開閉することによって行う。具体例と
しては、図7に示すように基板Wの周縁部側に向かうに
したがって吐出量Qを増加させて洗浄度合いの一定化を
図る。この場合も上述した吐出圧Pや吐出高さHのよう
に段階的に流量Qを変えたり、上述した理由により周縁
部側に向かうにつれて吐出量Qを少なくするようにして
もよい。
【0036】さらに図8に示すような吐出角度調節機構
35(吐出角度調節手段)を採用することにより、上記
の実施例装置では一定であったノズル7の基板W面に対
する角度(吐出角度θ)を基板W面内を移動する洗浄液
供給位置に応じて変えるようにしてもよい。
【0037】すなわち、ノズル7は、回転軸Pcを横向
き(紙面に向かう方向)にして配備された角度調節モー
タ35aを後端部付近に配備し、この角度調節モータ3
5aのギア35bが、ノズル7に突設されたガイド軸3
5cを摺動自在に嵌め込まれたガイド溝35dを有する
ガイド部材35eの固定ギア35fに咬合している。し
たがって、角度調節モータ35aを回転駆動することに
よって、ガイド軸35cがガイド溝35dを摺動し、吐
出孔7aが常に回転中心Paに向いた状態で吐出角度θ
を調節することができる。
【0038】このように吐出角度調節機構35を採用し
て吐出角度θを調節可能に構成した場合には、例えば、
図9に示すように基板W面内を移動する洗浄液供給位置
に応じて吐出角度θを可変すればよい。つまり、実線で
示すように基板Wの周縁部側に向かうにつれて吐出角度
θを大きくしたり、あるいは二点鎖線で示すように周縁
部側に向かうにしたがって吐出角度θを小さくしてゆ
く。このように基板W面内を移動する洗浄液供給位置に
よってどのように吐出角度θを設定するかは、パーティ
クルやゴミの付着度合いや種類によって決定すればよ
い。
【0039】なお、上記の説明では、洗浄条件である吐
出圧Q,吐出高さH,吐出量Q,吐出角度θを個々に変
える構成を例に採って説明したが、本発明は少なくとも
一つの洗浄条件を基板W面内を移動する洗浄液供給位置
に応じて変えれば良く、例えば、吐出圧Qと吐出高さH
を組み合わせて変えたり、吐出角度θと吐出高さHを組
み合わせて変えるようにしてもよい。
【0040】また、上記の洗浄条件の他に、基板W面内
における位置に応じてノズル7の移動速度を変えるよう
にしてもよい。具体的には、回転モータ11aの回転速
度を基板W面内における位置に応じて変える。例えば、
基板Wの中心部側では回転速度を速くし、周縁部側に向
かうにつれて遅くする。このようにノズル7の移動速度
を変えることによっても洗浄度合いをほぼ一定にするこ
とができる。
【0041】なお、基板W上を移動するノズル7の位
置、すなわち基板W面内の洗浄液供給位置を位置検出手
段であるエンコーダ11cによって検出し、これに基づ
いて吐出圧などの洗浄条件を変えるようにしたが、本発
明の位置検出手段はこのような構成に限定されるもので
はなく、種々の変形実施が可能である。例えば、ノズル
7の移動速度と移動範囲が判れば移動開始時点からの経
過時間を測定することによりノズル7の位置、すなわち
洗浄液の供給位置を知ることができるので、これに基づ
いて吐出圧などの洗浄条件を調節するようにしてもよ
い。
【0042】また、上述した実施例では、洗浄液を高圧
噴流で供給するいわゆるジェット式のノズルを例に採っ
て説明したが、本発明は洗浄液に超音波振動を加えて基
板に吐出する超音波式のノズルであっても適用すること
が可能である。この場合には、例えば、位置検出手段と
してCCDカメラを使い、ノズル7から基板W面内にお
ける実際の洗浄液の供給位置を検出し、これに基づいて
超音波振動の出力PWや、周波数を変えるようにしても
よい。
【0043】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の方法発明によれば、洗浄度合いに係わる吐出
圧、吐出高さ、吐出角度、吐出量のうちの少なくとも一
つの洗浄条件を基板面内における洗浄液の供給位置に応
じて変えることによって、洗浄度合いを一定にすること
ができる。したがって、基板の全面にわたって均一に洗
浄を行うことができる。
【0044】また、請求項2に記載の装置発明によれ
ば、洗浄液の吐出圧を調節することで洗浄度合いを一定
にすることができ、比較的容易に基板の全面にわたって
均一に洗浄を行うことができる。
【0045】また、請求項3に記載の装置発明によれ
ば、ノズルの吐出高さを調節することで基板面内のどの
位置においても洗浄度合いを一定にすることができる。
【0046】また、請求項4に記載の装置発明によれ
ば、ノズルの吐出角度を調節することにより洗浄度合い
を一定にすることができる。
【0047】また、請求項5に記載の装置発明によれ
ば、洗浄液の吐出量を調節することによって基板面内の
どの位置においても洗浄度合いを一定化できる。
【0048】また、請求項6に記載の装置発明によれ
ば、正確に基板面内の洗浄液供給位置を検出することが
できるので、基板面内の位置に応じて正確に洗浄条件を
調節することができて洗浄度合いを一定化できる。した
がって、基板の全面にわたってより均一に洗浄を行うこ
とができる。
【0049】また、請求項7に記載の装置発明によれ
ば、中心部側の吐出圧を低くし、周縁部側に向かって高
めてゆくことによって洗浄度合いを一定化でき、基板の
全面にわたって均一に洗浄することができる。
【0050】また、請求項8に記載の装置発明によれ
ば、ノズルの移動速度を基板上の位置に応じて変えるこ
とによっても洗浄度合いを一定化できる。ノズルの移動
手段は通常装置に配備されているものであるので、容易
に実施可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例に係る基板洗浄装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
【図2】基板洗浄装置の平面図である。
【図3】メモリに格納された洗浄処理プログラムを示す
模式図である。
【図4】吐出圧データを示す模式図である。
【図5】吐出圧データの他の例を示す模式図である。
【図6】吐出高さデータを示す模式図である。
【図7】吐出量データを示す模式図である。
【図8】吐出角度調節機構を示す図である。
【図9】吐出角度データを示す模式図である。
【符号の説明】
W … 基板 S … 洗浄液 1 … スピンチャック(回転支持手段) 3 … 回転軸(回転支持手段) 5 … 電動モータ(回転支持手段) 7 … ノズル 7a … 吐出孔 9 … 飛散防止カップ 11 … 昇降/移動機構 11a … 回転モータ(移動手段) 11c … エンコーダ(位置検出手段) 11g … 昇降モータ(吐出高さ調節手段) 11h … エンコーダ 13 … 待機ポット 17 … 電空変換弁(吐出圧調節手段) 19 … 高圧ユニット(吐出圧調節手段) 21 … 流量調節ユニット(吐出量調節手段) 27 … コントローラ(制御手段) 35 … 吐出角度調節機構(吐出角度調節手段)
フロントページの続き (72)発明者 西村 譲一 京都府京都市伏見区羽束師古川町322 大 日本スクリーン製造株式会社洛西事業所内 (72)発明者 森田 彰彦 京都府京都市伏見区羽束師古川町322 大 日本スクリーン製造株式会社洛西事業所内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転している基板に対してノズルの吐出
    孔から洗浄液を吐出させ、その吐出された洗浄液の基板
    面内における供給位置が、少なくとも基板中心と基板周
    縁との間を移動するように、ノズル移動手段によって前
    記ノズルを移動させて洗浄する基板洗浄方法において、 前記ノズルから吐出される洗浄液の吐出圧、前記ノズル
    の吐出孔が位置する基板面に対する吐出高さ、前記ノズ
    ルの基板面に対する吐出角度、前記ノズルから吐出され
    る洗浄液の吐出量のうち、少なくとも一つの洗浄条件を
    前記基板面内を移動する洗浄液の供給位置に応じて変え
    るようにしたことを特徴とする基板洗浄方法。
  2. 【請求項2】 回転支持手段上で回転している基板に対
    してノズルの吐出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された
    洗浄液の基板面内における供給位置が、少なくとも基板
    中心と基板周縁との間を移動するように移動手段によっ
    て前記ノズルを移動させて洗浄する基板洗浄装置におい
    て、 前記ノズルの吐出孔から吐出される洗浄液の吐出圧を調
    節する吐出圧調節手段と、 基板面内を移動する前記洗浄液の供給位置に応じた洗浄
    液の吐出圧に調節するように、前記吐出圧調節手段を制
    御する制御手段と、 を備えていることを特徴とする基板洗浄装置。
  3. 【請求項3】 回転支持手段上で回転している基板に対
    してノズルの吐出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された
    洗浄液の基板面内における供給位置が、少なくとも基板
    中心と基板周縁との間を移動するように移動手段によっ
    て前記ノズルを移動させて洗浄する基板洗浄装置におい
    て、 前記ノズルの吐出孔が位置する基板面に対する吐出高さ
    を調節する吐出高さ調節手段と、 基板面内を移動する前記洗浄液の供給位置に応じた吐出
    高さに調節するように、前記吐出高さ調節手段を制御す
    る制御手段と、 を備えていることを特徴とする基板洗浄装置。
  4. 【請求項4】 回転支持手段上で回転している基板に対
    してノズルの吐出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された
    洗浄液の基板面内における供給位置が、少なくとも基板
    中心と基板周縁との間を移動するように移動手段によっ
    て前記ノズルを移動させて洗浄する基板洗浄装置におい
    て、 前記基板面に対する前記ノズルの吐出角度を調節する吐
    出角度調節手段と、 基板上で移動する洗浄液の供給位置に応じた吐出角度に
    調節するように前記吐出角度調節手段を制御する制御手
    段と、 を備えていることを特徴とする基板洗浄装置。
  5. 【請求項5】 回転支持手段上で回転している基板に対
    してノズルの吐出孔から洗浄液を吐出させ、吐出された
    洗浄液の基板面内における供給位置が、少なくとも基板
    中心と基板周縁との間を移動するように移動手段によっ
    て前記ノズルを移動させて洗浄する基板洗浄装置におい
    て、 前記ノズルから吐出される洗浄液の吐出量を調節する吐
    出量調節手段と、 基板面内を移動する前記洗浄液の供給位置に応じた吐出
    量に調節するように前記吐出量調節手段を制御する制御
    手段と、 を備えていることを特徴とする基板洗浄装置。
  6. 【請求項6】 請求項2ないし請求項5のいずれかに記
    載の基板洗浄装置において、基板面内を移動する洗浄液
    の供給位置を検出する位置検出手段を備え、前記制御手
    段は前記位置検出手段が検出した位置に基づいて制御す
    るようにしたことを特徴とする基板洗浄装置。
  7. 【請求項7】 請求項2に記載の基板洗浄装置におい
    て、前記制御手段は、洗浄液の供給位置が基板の中心部
    側で洗浄液の吐出圧を低く、洗浄液の供給位置が基板の
    周縁部側に向かうにしたがって洗浄液の吐出圧を高くす
    るように前記吐出圧調節手段を制御するようにしたこと
    を特徴とする基板洗浄装置。
  8. 【請求項8】 請求項2ないし請求項5のいずれかに記
    載の基板洗浄装置において、前記制御手段は、基板面内
    を移動する洗浄液の供給位置に応じて、前記移動手段に
    よるノズルの移動速度を変えるようにしたことを特徴と
    する基板洗浄装置。
JP28672997A 1997-10-20 1997-10-20 基板洗浄装置 Expired - Fee Related JP3644805B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28672997A JP3644805B2 (ja) 1997-10-20 1997-10-20 基板洗浄装置
US09/166,593 US6260562B1 (en) 1997-10-20 1998-10-06 Substrate cleaning apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28672997A JP3644805B2 (ja) 1997-10-20 1997-10-20 基板洗浄装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11121420A true JPH11121420A (ja) 1999-04-30
JP3644805B2 JP3644805B2 (ja) 2005-05-11

Family

ID=17708269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28672997A Expired - Fee Related JP3644805B2 (ja) 1997-10-20 1997-10-20 基板洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3644805B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002217159A (ja) * 2001-01-17 2002-08-02 Sony Corp 半導体基板の洗浄装置
JP2007220956A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Toshiba Corp 基板処理方法及び基板処理装置
KR100987827B1 (ko) 2008-05-26 2010-10-13 주식회사 나래나노텍 노즐 디스펜서의 세정 장치, 세정 시스템 및 세정 방법
JP2011124343A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
JP2011142300A (ja) * 2009-12-09 2011-07-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
JP2012204720A (ja) * 2011-03-28 2012-10-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
KR20160049167A (ko) * 2014-10-24 2016-05-09 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 세정 방법
KR20170003040A (ko) * 2015-06-30 2017-01-09 세메스 주식회사 기판 처리 방법 및 장치
KR20240020856A (ko) * 2022-08-09 2024-02-16 사이언테크 코포레이션 단일 웨이퍼 습식 제작 장치 및 이상 처리 방법

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002217159A (ja) * 2001-01-17 2002-08-02 Sony Corp 半導体基板の洗浄装置
JP4586274B2 (ja) * 2001-01-17 2010-11-24 ソニー株式会社 半導体基板の洗浄装置
JP2007220956A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Toshiba Corp 基板処理方法及び基板処理装置
KR100987827B1 (ko) 2008-05-26 2010-10-13 주식회사 나래나노텍 노즐 디스펜서의 세정 장치, 세정 시스템 및 세정 방법
JP2011124343A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
JP2011142300A (ja) * 2009-12-09 2011-07-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
JP2012204720A (ja) * 2011-03-28 2012-10-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
KR20160049167A (ko) * 2014-10-24 2016-05-09 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 세정 방법
KR20170003040A (ko) * 2015-06-30 2017-01-09 세메스 주식회사 기판 처리 방법 및 장치
CN106328490A (zh) * 2015-06-30 2017-01-11 细美事有限公司 用于处理基板的方法和装置
US10335836B2 (en) 2015-06-30 2019-07-02 Semes Co., Ltd. Method and apparatus for treating substrate
CN106328490B (zh) * 2015-06-30 2020-06-19 细美事有限公司 用于处理基板的方法和装置
KR20240020856A (ko) * 2022-08-09 2024-02-16 사이언테크 코포레이션 단일 웨이퍼 습식 제작 장치 및 이상 처리 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP3644805B2 (ja) 2005-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6260562B1 (en) Substrate cleaning apparatus and method
US7927429B2 (en) Substrate cleaning method, substrate cleaning apparatus and computer readable recording medium
JP3953716B2 (ja) 基板洗浄装置
US4935981A (en) Cleaning apparatus having a contact buffer apparatus
US5601645A (en) Substrate holder for a substrate spin treating apparatus
US20070267047A1 (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JPH11121420A (ja) 基板洗浄方法及びその装置
JP3701188B2 (ja) 基板洗浄方法およびその装置
US6136138A (en) Method and apparatus for chemical mechanical polishing of a semiconductor wafer
JP3644806B2 (ja) 基板洗浄方法及びその装置
JP3615724B2 (ja) ウェハクリーニング装置
JPH10223597A (ja) 基板洗浄方法および基板洗浄装置
JPH11307492A (ja) 基板洗浄装置
JPH11233480A (ja) 基板乾燥装置及びその方法
JPH09293659A (ja) 塗布液の乾燥防止方法及びその装置
JPH10216606A (ja) 回転式基板処理装置および基板回転保持装置ならびにその設計方法
JPH09320950A (ja) 基板処理装置
JP2002336761A (ja) 基板回転式処理装置
JP3539847B2 (ja) 基板洗浄装置
JP3901866B2 (ja) 基板処理装置
JP3578594B2 (ja) 塗布液塗布装置
JP2780090B2 (ja) レジスト吐出方法
JPH0999265A (ja) 回転塗布装置および回転塗布方法
JPH10223596A (ja) 基板洗浄装置
JPH10223507A (ja) 現像装置および基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040323

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040521

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050201

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080210

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090210

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110210

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110210

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120210

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120210

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130210

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130210

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees