JPH1084268A - 保護回路 - Google Patents

保護回路

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JPH1084268A
JPH1084268A JP9011535A JP1153597A JPH1084268A JP H1084268 A JPH1084268 A JP H1084268A JP 9011535 A JP9011535 A JP 9011535A JP 1153597 A JP1153597 A JP 1153597A JP H1084268 A JPH1084268 A JP H1084268A
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00315Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits

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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 使用する回路へ悪影響を与えない小型の保護
回路。 【解決手段】 この発明はH動作の間のハイブリッドV
CC装置内にあるBiCMOS/CMOS回路に対する
保護回路に関する。この発明の目的は、それを用いた回
路に対する影響を出来る限り小さくすると共に、僅かな
場所しか取らないこのような保護回路を提供する事であ
る。この目的を達成する為、保護回路がその出力(AU
S)に存在する電圧(VOH)を、所定の電圧(RE
F)と比較する事によって監視し、この所定の電圧を越
えた時、回路がH動作を終了させる。この保護回路は、
出力(AUS)から無視し得るような監視電流成分(I
ex′)しか取出さないように設計されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はH動作の間、ハイブリ
ッドVCC装置内のBiCMOS/CMOS回路に対す
る保護回路に関する。
【0002】
【従来の技術及び課題】従来、ハイブリッドVCC装置
は周知である。こういう装置では、少なくとも2種類の
異なるHレベル、例えば、3.3V及び5Vが、異なる
BiCMOS/CMOS回路内の2つの適当な部品によ
ってバスに供給される。大多数のハイブリッドVCC装
置では、電力消費の小さい部品を保護する為に、H動作
の間、保護回路が要求される。次にこの理由を図2を参
照して詳しく説明する。図2は、従来のハイブリッドV
CC装置のBiCMOS/CMOS回路の出力段の一部
分を示す。
【0003】図2で、MP4はPMOS出力トランジス
タを表わし、その導電状態では、例えば3.3VのHレ
ベルを、回路の出力AUSであるソース端子からバス
(図に示してない)に供給する作用を有する。PMOS
出力トランジスタMP4のドレイン端子が第1の電源電
位VCCに接続される。この電位が、バスに供給される
Hレベルに従って選ばれる。出力AUSとPMOS出力
トランジスタMP4のゲート端子の間にPMOSトラン
ジスタMP7の主電流通路があり、そのゲート端子が第
1の電源電位VCCに接続されている。
【0004】更に、出力AUSがPMOSトランジスタ
MP8の主電流通路を介してPMOSトランジスタMP
4、MP7及びMP8の基板に接続される。これらの基
板がショットキー・ダイオードD1を介して第1の電源
電位VCCに接続される。このショットキー・ダイオー
ドD1は、それがVCCへ向う電流の流れを妨げるよう
に回路内に配置されている。PMOSトランジスタMP
8のゲート端子にもVCCがかかっている。2つのPM
OSトランジスタMP7、MP8は、PMOS出力トラ
ンジスタMP4からバスへのHレベルの出力が、そのゲ
ート端子がVCCに接続された為に不作動になった時、
PMOS出力トランジスタMP4のターンオンを防止す
る作用を持つ。このようなターンオンは、別の部品が5
Vをバスに印加して、出力AUSの電圧VOHが5Vに
なり、PMOS出力トランジスタMP4のゲート又は基
板に於ける電圧VCC、即ち3.3Vより大きくなった
場合、実際に起り得る。この影響に対抗するのがPMO
SトランジスタMP7、MP8である。これは、VCC
+VtMP7又はVCC+VtMP8より大きな、出力
AUSの電圧では、PMOS出力トランジスタMP4か
らのゲート又は基板電位を、出力AUSの電圧VOHよ
り大きくさせる為に、それらがターンオンされるからで
ある。VtMP7が及びVtMP8は、夫々PMOSト
ランジスタMP7、MP8の閾値電圧である。
【0005】これに関連して、PMOSトランジスタM
P7、MP8を正確にVCCでターンオンする事が出来
るようにする為に、MP7、MP8のゲート端子には、
これに対応して一層低い第3又は第4の電源電位VCC
−VtMP7並びにVCC−VtMP8が存在する事が
ある。更に、出力AUSにHレベルを発生する為に第2
の電源電位GND(例えば、アース電位)と、又は出力
AUSにLレベルを発生する為に第1の電源電位VCC
とPMOS出力トランジスタMP4のゲート端子を選択
的に接続する駆動回路が設けられている。この駆動回路
は次の部品、即ち、PMOSトランジスタMP1、MP
2、NMOSトランジスタMN1、MN2、pnpバイ
ポーラ・トランジスタQ1及びショットキー・ダイオー
ドD2、D3を含む。
【0006】PMOSトランジスタMP2は、ドレイン
端子が第1の電源電位VCCに接続され、ソース端子が
ショットキー・ダイオードD3を介してPMOS出力ト
ランジスタMP4のゲート端子に接続されている。PM
OSトランジスタMP2はそのゲート端子に入力信号E
INを受取る。PMOS出力トランジスタMP4のゲー
ト端子が更に、互いに直列に配置されたNMOSトラン
ジスタMN2、MN3を介して第2の電源電位GNDに
接続されている。ここでは、例として、この電位がアー
ス電位である。
【0007】NMOSトランジスタMN3はそのゲート
端子に入力信号EINを受取り、この信号がH状態であ
る時、これがNMOSトランジスタMN3をターンオン
する。NMOSトランジスタMN2がショットキー・ダ
イオードD2を介してPMOSトランジスタMP1のソ
ース端子に接続され、そのドレイン端子が第1の電源電
位VCCに接続される。MOSトランジスタMP1及び
MN2がそのゲート端子に付能信号NCTRLを受取
る。この信号は、H状態にある時、NMOSトランジス
タMP1をターンオフし、NMOSトランジスタMN2
をターンオンする。pnpバイポーラ・トランジスタQ
1は、そのベース端子の付能信号(enabling
signal)NCTRLの補数CTRLに応じた形
で、PMOSトランジスタMP1を分路する。
【0008】EINが“H”に等しく、NCTRLが
“H”に等しく、従ってCTRLが“L”に等しい状態
では、出力AUSはH状態になる。これは、この時、P
MOS出力トランジスタMP4のゲート端子が2つのN
MOSトランジスタMN2、MN3を介してアースに接
続され、PMOS出力トランジスタMP4がこの為ター
ンオンするからである。
【0009】NCTRLの“L”状態、従ってCTRL
の“H”状態、又はEINが“L”である時、PMOS
出力トランジスタMP4のゲート端子には、バイポーラ
・トランジスタQ1及びショットキー・ダイオードD2
を介して、又はPMOSトランジスタMP2及びショッ
トキー・ダイオードD3を介して、第1の電源電位VC
Cが供給され、その結果、PMOS出力トランジスタM
P4はターンオフになる。その時、やはりショットキー
・ダイオードD2、D3がVCCへ向う電流の流れを防
止する。
【0010】ここで、出力AUSの電圧VOHがH状態
である、即ち、バスに接続された別の部品が、そのH状
態で、VCC(=5V)をバスに供給した時に、PMO
S出力トランジスタMP4が駆動回路によってターンオ
ンされた時に、それからバスに送出された電圧VCC
(3.3V)より大きくなると仮定する。 その時、対
応する電流IexがPMOS出力トランジスタMP4に
流れる。出力AUSの電圧VOHが引続いて増加し、V
CC+VtMP7より高くなると、PMOSトランジス
タMP7がターンオンになり、別の電流成分が出力AU
SからトランジスタMP7、MN2及びMN3を介して
アースに流れる。
【0011】このようにして発生した電流Iexは消費
電力の小さい部品を損傷する事があり、装置の電源にと
って実質的な負荷になる。この問題を扱う事が出来るの
は、適当な保護回路を使う事だけである。しかし、従来
の保護回路は2つの実質的な欠点があった。即ち、第1
に、それが、それを用いる回路の機能、例えば応答挙動
を損なう事、第2に、かなりの場所を必要とし、その
為、このような回路の漸進的な集積化を妨げる事であ
る。従って、この発明の1つの目的は、それを用いる回
路に対する影響を可能な限り少なくし、僅かな場所しか
占めないような保護回路を提供する事である。
【0012】この発明では、この目的が、H動作の間、
ハイブリッドVCC装置内にあるBiCMOS/CMO
S回路に対する保護回路を提供する事によって達成され
る。このBiCMOS/CMOS回路は、そのドレイン
端子が第1の電源電位に接続され、そのソース端子がB
iCMOS/CMOS回路の出力となり、ゲート端子を
持つ第1のMOSトランジスタと、第1のMOSトラン
ジスタのゲート端子に接続されていて、第1のMOSト
ランジスタのゲート端子を、出力にLレベルを発生する
為に第1の電源電位と、又は出力にHレベルを発生する
為にH動作中に第2の電源電位と選択的に接続する駆動
回路と、その主電流通路が出力及び第1のMOSトラン
ジスタのゲート端子の間にあって、そのゲート端子が第
3の電源電位に接続されて、出力の電圧が予定の値を越
える時に、出力を第1のMOSトランジスタのゲート端
子と短絡する第2のMOSトランジスタとで構成され
る。この発明の保護回路は、その主電流通路が第1の電
源電位及び第1のMOSトランジスタのゲート端子の間
にあって、ゲート端子を有する第3のMOSトランジス
タと、その主電流通路が第1のMOSトランジスタのゲ
ート端子と第2の電源電位の間で駆動回路と直列になっ
ていて、ゲート端子を持つ第4のMOSトランジスタ
と、出力の電圧を求め、出力の電圧を予定の基準電圧と
比較する為に、出力から取出した監視電流成分を制限
し、出力の電圧が基準電圧より大きい時に、第3のMO
Sトランジスタをターンオンすると共に第4のMOSト
ランジスタをターンオフする為、H動作の間、トリガ信
号を出力する保護回路トリガ回路とを有する。
【0013】この発明の保護回路では、出力が第5のM
OSトランジスタの主電流通路を介して、第1、第2及
び第5のMOSトランジスタの基板に接続されている事
が好ましい。基板が第1の電源電位に接続され、第4の
電源電位がPMOSトランジスタのゲート端子にかけら
れる。
【0014】更にこの発明の保護回路では、第1の電源
電位及び基板の間にショットキー・ダイオードを配置し
て、このショットキー・ダイオードを、それが第1の電
源電位への電流のあらゆる流れを防止するように、回路
内に配置することが好ましい。更にこの発明の保護回路
では、駆動回路が、その主電流通路が第1の電源電位及
び第1のMOSトランジスタのゲート端子の間にあっ
て、入力信号を受取るゲート端子をもつ第6のMOSト
ランジスタと、互いに直列に配置されていて、一方では
第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続されると
共に、他方では第4のMOSトランジスタを介して第2
の電源電位に接続され、その第8のMOSトランジスタ
は入力信号をそのゲート端子に受取り、第7のMOSト
ランジスタが付能信号をそのゲート端子に受取るような
第7及び第8のMOSトランジスタと、その主電流通路
が第1のMOSトランジスタのゲート端子と第1の電源
電位の間にある第9のMOSトランジスタと、そのベー
ス端子にある付能信号の補数に応じた形で、第9のMO
Sトランジスタを分路するバイポーラ・トランジスタと
で構成されていることが好ましい。
【0015】この発明の保護回路では、第1のMOSト
ランジスタのゲート端子と第9のMOSトランジスタの
間にショットキー・ダイオードを配置し、それが第1の
電源電位へ向う電流の流れを防止する事が好ましい。こ
の発明の保護回路では、第6のMOSトランジスタと第
1のMOSトランジスタのゲート端子の間にショットキ
ー・ダイオードを配置して、それが第1の電源電位へ向
う電流の流れを防止する事が好ましい。この発明の保護
回路では、第3のMOSトランジスタと第1のMOSト
ランジスタのゲート端子の間に、ショットキー・ダイオ
ードを配置し、それが第1の電源電位へ向う電流の流れ
を防止する事が好ましい。
【0016】更にこの発明の保護回路では、保護回路ト
リガ回路が、そのソース端子が出力に接続され、そのゲ
ート端子が基準電圧を受取る第10のMOSトランジス
タと、そのドレイン端子が第10のMOSトランジスタ
のドレイン端子に接続され、そのゲート端子が付能信号
を受取る第11のMOSトランジスタと、第11のMO
Sトランジスタのソース端子及び第2の電源電位に接続
された抵抗と、その入力端子が、第11のMOSトラン
ジスタのソース端子及び抵抗の間にある節に接続され、
その出力端子が第3及び第4のMOSトランジスタのゲ
ート端子に接続されたインバータとで構成される事が好
ましい。
【0017】この発明の保護回路では、第10のMOS
トランジスタの基板がショットキー・ダイオードを介し
て第1の電源電位に接続され、このショットキー・ダイ
オードが、第1の電源電位に向う電流のあらゆる流れを
防止するように回路内に配置されている事が好ましい。
この発明の保護回路の特に有利な特徴は、オフ切換え電
流及びターンオフ電圧の両方を精密に設定する事が出来
る事、回路が殆ど場所を必要としない事、並びにそれを
用いた回路の応答挙動に悪影響を持たない事である。次
にこの発明を図面に示した好ましい実施例について説明
する。
【0018】
【実施例】この発明の保護回路をH動作中のハイブリッ
ドVCC装置内にあるBiCMOS/CMOS回路に用
いた場合が図1に示されている。図1で、図2と同じ部
品には、その部品の説明の繰返しを避ける為に、同じ参
照数字が付けられている。この発明の保護回路は3つの
主な構成要素からなる。第1に、追加のPMOSトラン
ジスタMP3が設けられ、そのドレイン端子が第1の電
源電位VCCに接続され、そのソース端子が、VCCに
向っての電流の流れを防止する為のショットキー・ダイ
オードD5を介して、PMOS出力トランジスタMP4
のゲート端子に接続されている。更に、NMOSトラン
ジスタMNC1が設けられ、その主電流通路がNMOS
トランジスタMN3と第2の電源電位GND(例えばア
ース電位)の間に入るように接続されている。
【0019】最後に、保護回路トリガ回路が設けられて
いて、トランジスタMP3及びMNC1のゲート端子を
駆動する。この保護回路トリガ回路は、図示の好ましい
実施例では、PMOSトランジスタMPC1、NMOS
トランジスタMNC3、抵抗R1、インバータINV1
及びショットキー・ダイオードDC1を含む。PMOS
トランジスタMPC1のソース端子が出力AUSに接続
されている。このトランジスタは、ゲート端子に基準電
圧REFを受取る。この基準電圧は、例えば分圧器、又
は既に存在している電圧源、例えば「パワー・オン・デ
マンド」に対する基準電圧源から来る。
【0020】PMOSトランジスタの基板がショットキ
ー・ダイオードDC1を介して第1の電源電位VCCに
接続され、このショットキー・ダイオードは、それがV
CCに向う電流の流れを防止するように回路内に設けら
れている。PMOSトランジスタMPC1のドレイン端
子がNMOSトランジスタMNC2のドレイン端子に接
続され、このトランジスタは上に述べた付能信号NCT
RLをゲート端子に受取る。
【0021】NMOSトランジスタMNC2のソース端
子が抵抗R1を介して第2の電源電位GND(図ではア
ース電位)に接続される。NMOSトランジスタMNC
2のソース端子と抵抗R1の間の節(node)がイン
バータINV1の入力端子に接続され、その出力端子が
駆動回路の出力端子Sを構成しており、この出力Sがト
ランジスタMNC1及びMP3のゲート端子に接続され
ている。
【0022】次に、この発明の保護回路の動作を更に詳
しく説明する。電流Iexを制限する為の保護回路のト
リガ作用は、基準電圧REFの選び方次第である。この
電圧がトランジスタMPC1のゲート端子にかかる。例
えば、保護回路が、VCCより大きな出力電圧(VO
H)に対して作用するように保証する為には、基準電圧
はVCC−VtMPC1に等しい値に設定しなければな
らない。ここでVtMPC1はPMOSトランジスタM
PC1の閾値電圧である。これは、下記の式(1)が満
たされた時、
【数1】 VOH>REF+VtMPC1 (1) 又は、上に示したREFの値に達した後、次の式(2)
が満たされる時
【数2】 VOH>VCC (2) PMOSトランジスタMPC1がターンオンする事に由
る。
【0023】PMOSトランジスタMPC1が式(2)
に従ってオンに切換えられてH状態になった時、インバ
ータINV1の前にある節がHレベルになる。これは、
前に述べたように、H状態では、NMOSトランジスタ
MNC2も、NCTRLの状態が“H”である事によっ
てターンオンするからである。
【0024】この結果、保護回路に対するトリガ回路の
出力端子Sは、反転レベル、即ち、Lレベルに変化す
る。従って、PMOSトランジスタMP3がターンオン
し、その為、PMOSトランジスタMP4がターンオフ
になる。更に、NMOSトランジスタMNC1がターン
オフになる。こういう事情により、電流Iexのこれ以
外の妨害作用を持つ成分が流れる事が出来ない。これ
は、PMOS出力トランジスタMP4を通る電流通路も
PMOSトランジスタMP7を通る電流通路も阻止され
ているからである。
【0025】この点、抵抗R1は、H状態でのインバー
タINV1の入力端子の自由な浮動状態を防止するよう
に作用する。それが存在している事により、R1を介し
てアースに向う、保護回路のトリガ回路を通る監視電流
成分Iex′(これはマイクロアンペア程度)は無視し
得るものしかない。この電流成分は、R1(典型的には
30乃至50kΩ)を使って設定する事が出来、条件に
従って小さく押える事が出来る。
【0026】更に具体的に言うと、この監視電流成分I
ex′は次の式(3)によって定められる。
【数3】 Iex′=VOH−(VDSMPC1−VtMNC2)/2 (3) この式でVDSMPC1は、MPC1のドレイン/ソー
ス電圧を表わし、VtMNC2はMNC2の閾値電圧で
ある。これは、抵抗R1の電圧をVtMNC2だけ減少
し、従って、抵抗R1の値を減少するのに寄与するとい
うNMOSトランジスタMNC2の1つの利点をはっき
りさせるのに役立っている。この為、チップ上に抵抗R
1の為に必要な余分な場所は限界的である。
【0027】更に、この監視電流成分Iex′は、出力
段のL状態では、NCTRLが“L”であって不作動で
あり、その為に損失がないので、存在しない。結論とし
て、保護回路のトリガ回路の主な作用をまとめると、次
のように言う事が出来る。 イ)電圧VOHが出力AUSで得られ、出力AUSから
取出す監視電流成分Iex′が制限される。 ロ)出力AUSの電圧VOHが予定の基準電圧REFと
比較される。 ハ)H動作で、出力AUSの電圧VOHが基準電圧RE
Fより大きい時、トリガ信号が供給され、こうしてPM
OSトランジスタMP3をターンオンし、NMOSトラ
ンジスタMNC1をターンオフする。
【0028】この発明の保護回路は、場所の条件を実質
的に増加する事なく、そして例えばその応答挙動につい
てのように、出力段の作用に対する不利な影響なしに、
ハイブリッドVCC駆動器に対して実効的な保護作用を
する。こういう性質の意味する所は、消費電力の小さい
負荷部品を過負荷に対して保護する広い範囲の用途があ
り、その有効寿命及び信頼性を高める事が出来るという
事である。
【0029】以上の説明に関しさらに以下の項目を開示
する。 (1) そのドレイン端子が第1の電源電位(VCC)
に接続され、そのソース端子がBiCMOS/CMOS
回路の出力(AUS)を構成し、そしてゲート端子を持
つ第1のMOSトランジスタ(MP4)、該第1のMO
Sトランジスタ(MP4)のゲート端子に接続されてい
て、該第1のMOSトランジスタ(MP4)のゲート端
子を、出力(AUS)にLレベルを発生する為に第1の
電源電位(VCC)に、又はH動作の間、出力(AU
S)にHレベルを発生する為に第2の電源電位(GN
D)に選択的に接続する駆動回路(MP1、MP2、Q
1、MN2、MN3、D2、D3)、及びその主電流通
路が出力(AUS)及び第1のMOSトランジスタ(M
P4)のゲート端子の間にあって、そのゲート端子が第
3の電源電位(VCC)に接続されていて、出力(AU
S)の電圧が予定の値を越える時に、出力(AUS)を
第1のMOSトランジスタ(MP4)のゲート端子に短
絡する第2のMOSトランジスタ(MP7)で構成され
た、ハイブリッドVCC装置内のBiCMOS/CMO
S回路に対するH動作中の保護回路に於いて、その主電
流通路が第1の電源電位(VCC)及び第1のMOSト
ランジスタ(MP4)のゲート端子の間にあって、ゲー
ト端子を有する第3のMOSトランジスタ(MP3)
と、その主電流通路が、第1のMOSトランジスタ(M
P4)のゲート端子及び第2の電源電位(GND)の間
で駆動回路(MP1、MP2、Q1、MN2、MN3、
D2、D3)と直列になっていて、ゲート端子を有する
第4のMOSトランジスタ(MNC1)と、出力(AU
S)の電圧(VOH)を求めると共に、出力(AUS)
からその時取出した監視電流成分(Iex′)を制限
し、出力(AUS)の電圧(VOH)を所定の基準電圧
(REF)と比較し、出力(AUS)の電圧(VOH)
が基準電圧(REF)より大きい時、第3のMOSトラ
ンジスタ(MP3)をターンオンすると共に第4のMO
Sトランジスタ(MNC1)をターンオフする為に、H
動作の間、トリガ信号を出力する保護回路トリガ回路
(MPC1、DC1、MNC2、R1、INV1)とを
有する保護回路。
【0030】(2) 第1項記載の保護回路に於いて、
出力(AUS)が第5のMOSトランジスタ(MP8)
の主電流通路を介して第1、第2及び第5のMOSトラ
ンジスタ(MP4、MP7、MP8)の基板に接続さ
れ、該基板が第1の電源電位(VCC)に接続され、P
MOSトランジスタ(MP8)のゲート端子に第4の電
源電位(VCC)が存在する保護回路。 (3) 第2項記載の保護回路に於いて、第1の電源電
位(VCC)及び基板の間にショットキー・ダイオード
(D1)が入っており、該ショットキー・ダイオード
は、それが第1の電源電位(VCC)への電流の全ての
流れを妨げるように回路内に配置されている保護回路。 (4) 第1項乃至第3項記載の保護回路に於いて、駆
動回路(MP1、MP2、Q1、MN2、MN3、D
2、D3)が、その主電流通路が第1の電源電位(VC
C)及び第1のMOSトランジスタ(MP4)のゲート
端子の間にあって、入力信号(EIN)を受取るゲート
端子を有する第6のMOSトランジスタ(MP2)、互
いに直列に接続されると共に、一方では第1のMOSト
ランジスタ(MP4)のゲート端子に接続され、他方で
は第4のMOSトランジスタ(MN1)を介して第2の
電源電位(GND)に接続され、当該第8のMOSトラ
ンジスタ(MN3)が入力信号(EIN)をそのゲート
端子に受取ると共に当該第7のMOSトランジスタ(M
N2)が付能信号(NCTRL)をそのゲート端子に受
取るような第7及び第8のMOSトランジスタ(MN
2、MN3)、その主電流通路が第1のMOSトランジ
スタ(MP4)のゲート端子及び第1の電源電位(VC
C)の間にある第9のMOSトランジスタ(MP1)、
及びそのベース端子に於ける付能信号(NCTRL)の
補数(CTRL)に応じた形で、前記第9のMOSトラ
ンジスタ(MP1)を分路するバイポーラ・トランジス
タ(Q1)で構成されている保護回路。 (5) 第4項記載の保護回路に於いて、第1のMOS
トランジスタ(MP4)のゲート端子及び第9のMOS
トランジスタ(MP1)の間に、ショットキー・ダイオ
ード(D2)が入っていて、該ショットキー・ダイオー
ドは第1の電源電位(VCC)へ向う電流の流れを妨げ
る保護回路。 (6) 第4項又は第5項記載の保護回路に於いて、第
6のMOSトランジスタ(MP2)及び第1のMOSト
ランジスタ(MP4)のゲート端子の間にショットキー
・ダイオード(D3)が入っていて、該ショットキー・
ダイオードが第1の電源電位(VCC)へ向う電流の流
れを妨げる保護回路。
【0031】(7) 第1項乃至第6項記載の保護回路
に於いて、第3のMOSトランジスタ(MP3)及び第
1のMOSトランジスタ(MP4)のゲート端子の間に
ショットキー・ダイオード(D5)が入っていて、該シ
ョットキー・ダイオードが第1の電源電位(VCC)へ
向う電流の流れを妨げる保護回路。 (8) 第1項乃至第7項記載の保護回路に於いて、保
護回路トリガ回路(MPC1、DC1、MNC2、R1
及びINV1)が、そのソース端子が出力(AUS)に
接続され、そのゲート端子が基準電圧(REF)を受取
る第10のMOSトランジスタ(MPC1)、そのドレ
イン端子が第10のMOSトランジスタ(MPC1)の
ドレイン端子に接続され、そのゲート端子が付能信号
(NCTRL)を受取る第11のMOSトランジスタ
(MNC2)、第11のMOSトランジスタ(MNC
2)のソース端子並びに第2の電源電位(GND)に接
続される抵抗(R1)、その入力端子が、第11のMO
Sトランジスタ(MNC2)及び抵抗(R1)の間にあ
る節に接続され、その出力端子(S)が第3及び第4の
MOSトランジスタ(MP3、MNC1)のゲート端子
に接続されているインバータ(INV1)で構成されて
いる保護回路。 (9) 第8項記載の保護回路に於いて、第10のMO
Sトランジスタ(MPC1)の基板がショットキー・ダ
イオード(DC1)を介して第1の電源電位(VCC)
に接続され、該ショットキー・ダイオード(DC1)
は、それが第1の電源電位(VCC)へ向う電流のあら
ゆる流れを妨げるように回路内に配置されている保護回
路。
【0032】(10) この発明はH動作の間のハイブ
リッドVCC装置内にあるBiCMOS/CMOS回路
に対する保護回路に関する。この発明の目的は、それを
用いた回路に対する影響を出来る限り小さくすると共
に、僅かな場所しか取らないこのような保護回路を提供
する事である。この目的を達成する為、保護回路がその
出力(AUS)に存在する電圧(VOH)を、所定の電
圧(REF)と比較する事によって監視し、この予定の
電圧を越えた時、回路がH動作を終了させる。この保護
回路は、出力(AUS)から無視し得るような監視電流
成分(Iex′)しか取出さないように設計されてい
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】H動作の間の、ハイブリッドVCC装置内にあ
るBiCMOS/CMOS回路に対するこの発明の好ま
しい実施例の保護回路を示す回路図で、この保護回路が
図2に示す出力段の部分に利用されている。
【図2】従来のハイブリッドVCC装置のBiCMOS
/CMOS回路の出力段の一部分を示す回路図。
【符号の説明】
MP3 第3のMOSトランジスタ MNC1 第4のMOSトランジスタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 そのドレイン端子が第1の電源電位(V
    CC)に接続され、そのソース端子がBiCMOS/C
    MOS回路の出力(AUS)を構成し、そしてゲート端
    子を持つ第1のMOSトランジスタ(MP4)、該第1
    のMOSトランジスタ(MP4)のゲート端子に接続さ
    れていて、該第1のMOSトランジスタ(MP4)のゲ
    ート端子を、出力(AUS)にLレベルを発生する為に
    第1の電源電位(VCC)に、又はH動作の間、出力
    (AUS)にHレベルを発生する為に第2の電源電位
    (GND)に選択的に接続する駆動回路(MP1、MP
    2、Q1、MN2、MN3、D2、D3)、及びその主
    電流通路が出力(AUS)及び第1のMOSトランジス
    タ(MP4)のゲート端子の間にあって、そのゲート端
    子が第3の電源電位(VCC)に接続されていて、出力
    (AUS)の電圧が予定の値を越える時に、出力(AU
    S)を第1のMOSトランジスタ(MP4)のゲート端
    子に短絡する第2のMOSトランジスタ(MP7)で構
    成された、ハイブリッドVCC装置内のBiCMOS/
    CMOS回路に対するH動作中の保護回路に於いて、 その主電流通路が第1の電源電位(VCC)及び第1の
    MOSトランジスタ(MP4)のゲート端子の間にあっ
    て、ゲート端子を有する第3のMOSトランジスタ(M
    P3)と、 その主電流通路が、第1のMOSトランジスタ(MP
    4)のゲート端子及び第2の電源電位(GND)の間で
    駆動回路(MP1、MP2、Q1、MN2、MN3、D
    2、D3)と直列になっていて、ゲート端子を有する第
    4のMOSトランジスタ(MNC1)と、 出力(AUS)の電圧(VOH)を求めると共に、出力
    (AUS)からその時取出した監視電流成分(Ie
    x′)を制限し、出力(AUS)の電圧(VOH)を予
    定の基準電圧(REF)と比較し、出力(AUS)の電
    圧(VOH)が基準電圧(REF)より大きい時、第3
    のMOSトランジスタ(MP3)をターンオンすると共
    に第4のMOSトランジスタ(MNC1)をターンオフ
    する為に、H動作の間、トリガ信号を出力する保護回路
    トリガ回路(MPC1、DC1、MNC2、R1、IN
    V1)とを有する保護回路。
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