JPH10508971A

JPH10508971A - 材料ストリップ上のパターンの検査装置及び検査方法並びに材料ストリップ

Info

Publication number: JPH10508971A
Application number: JP9505440A
Authority: JP
Inventors: ヒルマーソン・アンダース
Original assignee: テトララバルホールディングスアンドファイナンスエスアー
Priority date: 1996-02-09
Filing date: 1996-02-09
Publication date: 1998-09-02
Anticipated expiration: 2016-02-09
Also published as: UA48146C2; ATE251324T1; AU4789596A; US6302330B1; EP0821818A1; EA001531B1; NO974662L; CZ48397A3; FI118831B; FI965264A0; NO974662D0; TW363173B; US6021950A; FI965264A; BR9607062A; JP2949372B2; ZA97392B; SK24197A3; EA199700015A1; WO1997029453A1

Abstract

(57)【要約】材料ストリップ（３０）上に形成され、材料ストリップ（３０）の搬送方向（ｖ）に連続する暗領域及び明領域（２、２^*、３、３^*）を有する複数のグループから成るパターン（１）の検査方法及び検査装置を提供する。この場合、対応する一方の検出器（８、９）に対する一方のグループの各暗領域（２、３）及び／又は明領域（２^*、３^*）の位置を、対応する他方の検出器（８、９）に対する他方のグループの各暗領域（２、３）及び／又は明領域（２^*、３^*）と異ならせる。そして、暗領域及び／又は明領域が存在するかどうかを検出し、検出結果に基づいて、前記暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^*）に関する情報から成る一方の検出器（８、９）の出力信号と、前記暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^*）の検出に基づく他方の検出器（８、９）の出力信号とを、あらかじめ設定された方法、例えば、一方の検出器（８、９）を他方の検出器（８、９）によって交互に起動する方法で組み合わせることによって出力信号のシーケンスを形成し、前記出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとを比較する。

Description

【発明の詳細な説明】材料ストリップ上のパターンの検査装置及び検査方法並びに材料ストリップ本発明は、制御手段と請求項１及び９の序文に記載された装置とから成り、光電等の手段によって材料ストリップ上に形成されたパターンを検査するための方法及び装置、並びに材料ストリップに関するものである。従来、材料ストリップ上に印刷され、光電セル等の光学装置によって検出可能な複数の制御マーク（パターン）を利用して、搬送中の材料ストリップに対する処理作業を制御することは知られている。この場合、材料ストリップ上に形成される前記パターンは、通常、地の色とコントラストを成すカラートーンで印刷される。したがって、検出手段によって前記パターンの正確な位置を検出することができるので、材料ストリップの現在の位置が特定される。前記パターンは、磁気的に検出可能な材料によって形成したり、穴、折り目、スロット等の機械的な手段によって検出可能なパターンを補助的に利用することによって形成したりすることもできる。そして、材料ストリップの正確な位置を検出することによって、材料ストリップに複数の色の印刷を施すことができ、かつ、画像の位置を調整することができる。該画像は複数の色から成り、該各色はそれぞれの処理装置によって材料ストリップ上に印刷される。前記各処理装置は、前工程の処理装置によって他の色が印刷された画像上に所定の色を印刷する。その結果、異なる色が正確な位置で互いに重ねられた複数の色の画像を、材料ストリップ上に形成することができる。また、本検査装置及び検査方法は、あらかじめ前印刷が施された材料ストリップ上の特定の位置に特定の印刷パターンを形成する場合、又は、印刷されたパターンと折曲げを容易にする折り目パターンとを互いに重ね合わせる場合にも、材料ストリップの正確な位置を検出するために利用される。さらに、前記検査装置又は検査方法は、例えば、包装機等において包材ストリップを正確にパターンの長さだけ前進させ、すべての包装容器において同じ位置に印刷パターンが形成されるようにするため、及び、前記折り目パターンを包装機の形成装置と確実に同期させ、あらかじめ設定された折り目位置に沿って包材の折曲げが行われるようにするためにも利用される。このように、材料ストリップを製造するためには、穴抜き、開口、折り目の追加等と同様に材料ストリップの正確な位置を知ることが必要である。ところで、センサによって検出可能なパターンを前記材料ストリップに形成して、材料ストリップの正確な位置を特定することは、周知である。ＥＰ−Ａ−０１３１２４１においては、検出方向に連続する暗領域及び明領域を有する二つのグループを備えたバーコードのようなパターンが使用される。この場合、対応する検出器に対する一方のグループの暗領域及び／又は明領域の位置は、対応する他の検出器に対する他方のグループの暗領域及び／又は明領域の位置と異なるように設定される。そして、前記各検出器は、暗領域及び／又は明領域が存在するかどうかを検出し、検出結果に基づいて出力信号を発生させる。すなわち、第１の検出器は、暗領域及び／又は明領域の検出に伴って第２の検出器を作動させ、続いて、該第２の検出器は、暗領域及び／又は明領域が存在するかどうかを検出する。そして、比較器は、第２の検出器の出力信号とあらかじめ設定された信号シーケンスとを比較し、前記出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとが等しい場合、起動信号を出力し、該起動信号によって、材料ストリップの正確な位置を必要とする前記各処理装置を起動する。しかしながら、前記パターンは、通常、材料ストリップの模様の全体的な外観を損なってしまう。したがって、制御パターンを、既に施されている模様の範囲内、又は、基本的に制御パターンのみから成る微小な余白面上に収めることが望ましい。ところが、このような方法においては、パターン検出要素が、制御パターンだけでなく模様の部分もすべて検出して登録してしまい、その結果、模様及び制御パターンの暗領域及び／又は明領域に基づいて、第２の検出器から多数の出力信号が送られてしまうという問題があった。該出力信号は実時間処理内で比較される必要があるので、模様の暗領域及び／又は明領域に基づくシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとの一致性を誤って認識することによって、誤信号が検出される可能性が高くなる。その結果、材料ストリップの位置が誤って検出され、次工程の処理装置が誤情報を受け取り、模様又は材料ストリップを破損してしまう。また、制御パターンは、模様が光学的に損なわれるのを回避するとともに誤信号が検出されるのを防止するために、できるだけ小さくする必要がある。さらに、包装産業においては、模様を制御パターンから独立させ、材料ストリップの模様を、例えば、その模様単独で検出することが要求されている。本発明の目的は、例えば、材料ストリップの正確な位置を検出するために、材料ストリップ上に形成されたパターンを正確にかつ確実に検査するための装置及び方法を提供することである。本発明の他の目的は、制御装置の寸法を大きくすることなく、検査装置の信頼性を向上させることである。本発明の更に他の目的は、材料ストリップの模様を損なう恐れがある付加的な制御パターンを使用することなく、材料ストリップの正確な位置を検出するための装置及び方法を提供することである。本発明の更に他の目的は、制御パターンの位置から独立させて配設され、各検出器の出力を相乗効果的に使用することによって前記装置及び方法の信頼性を向上させることである。本発明の特徴は、請求項１、９、１５及び２３に記載される。本発明においては、少なくとも二つの検出器からの出力信号を使用し、該出力信号をあらかじめ設定された方法で組み合わせて出力信号のシーケンスを形成する。この場合、一方の検出器が暗領域又は明領域の縁部を検出すると、他方の検出器によって出力信号が比較器に書き込まれるようになっている。そして、該比較器によって前記出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとが比較される。この場合、前記出力信号は暗領域及び／又は明領域に関する情報から成る。そのために、二つの検出器からの出力信号は、比較器において組み合わされて使用され、一方の検出器によって暗領域が検出されると、信号（例えば、「１」）が比較器に書き込まれ、明領域が検出されると、他の信号（例えば、「０」）が比較器に書き込まれる。そして、組合せによって得られた出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとが一致すると、一つ以上のアクチュエータが起動される。また、前記動作を行うために、一方の検出器の出力信号は比較器に対するクロック入力として使用され、該クロック入力によって、前記比較器のデータ入力がイネーブルにされ、他方の検出器の出力信号が比較器に書き込まれる（又はその逆が行われる）。この場合、クロック入力は、暗領域及び／又は明領域のいずれかの縁部が検出されるとアクティブになる。そして、システムの信頼性を向上させるために、前記クロック入力を出力信号のシーケンスのための出力信号として使用することもできる。この場合、前記出力信号のシーケンスは、明領域から暗領域へ、及び暗領域から明領域への移行に基づいて発生させられ、あらかじめ設定された信号シーケンスと比較される。したがって、比較器は一つ以上の検出器から多数の出力信号を受けるので、材料ストリップの模様内の暗領域及び明領域による、制御パターンのシーケンスと等しいシーケンスを検出することによって、目的の制御パターンを検出したと誤認して誤信号を検出することを一層防止することができる。その後、比較器は、出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとが等しい場合に、出力信号を出力する。そして、該出力信号によって、異なる処理装置の一つ以上のアクチュエータが起動される。前記クロック入力は、搬送中の材料ストリップに対応する検出器によって供給することもできる。例えば、同じ大きさの白と黒の領域の連続、材料ストリップの搬送に使用されるローラの回転等の手段を利用することができる。前記比較器は、前記制御パターンの検出に伴って各検出器から送られる情報を実際の長さ分格納するシフトレジスタから成り、出力信号とあらかじめ設定された信号シーケンスとが等しい場合、比較器の出力信号がイネーブルにされる。本発明の検査方法においては、材料ストリップ上で必要とされるパターンの領域を拡大することなく、正パターンと誤パターンとをより正確に区別するために、多量の信号、好ましくは、バイナリ信号を処理することができるようになっている。そして、本発明のパターン検査方法においては、前記検査装置又は同様の機能を果たす他の検査装置が使用される。この場合、材料ストリップ上に形成され、前記検査装置によって検出されるパターンは、それぞれ、機械的、電気的、磁気的及び／又は光学的なセンサ及び検出器によって検出可能な、機械的、電気的、磁気的及び／又は光学的な特性を備える。材料ストリップの暗領域及び／又は明領域は、画像、デザイン又は配列構造の一部を構成するものであってもよく、材料ストリップ上に特に配設された明確に独立した制御パターンである必要はない。しかしながら、明暗の領域を検出する場合、最も信頼性が高くなるので、明暗の領域から成るバーコードを使用することが好ましい。パターンの一方のグループの暗領域及び明領域は、それぞれ対応する各検出器について、他方のグループの暗領域及び明領域に対して異なる位置に置くことができる。二つの検出器を互いに異なる位置に置くと、パターンの両グループを材料ストリップにおける同じ高さ上に配設することができる。また、二つの検出器をパターンに対して、かつ、互いに異なる位置に置くと、パターンの両グループを完成した包装容器における頂部と底部とに配設することができる。なお、必要に応じて、第１の検出器から送られるパルスと第２の検出器から送られる（他方の領域グループの）パルスとを比較器によって区別することもできる。そのために、第１の検出器からのパルスをより高く（及び／又は長く）したり、第１の検出器からのパルスの後に短い二次的なパルス及び／又は正負（反転）のパルスをそれぞれ発生させたりすることができる。以下、本発明における特に効果の高い実施の形態について、添付の図面を参照しながら説明する。第１図は制御パターン及び検査装置の構造を示す概念図である。第２図は制御パターンの好ましい寸法を示す図である。第３図は検出器の出力信号及び比較器において形成された信号シーケンスを示す図である。第４図は第２図に関する他の実施の形態を示す図である。第５図は第２図に関する更に他の実施の形態を示す図である。第６図は互いに置換される制御パターンの二つのグループを示す図である。第７図は制御パターンとして使用される材料ストリップ上の異なる模様を示す図である。第８図は処理装置及び制御パターンの一方のグループを示す概念図である。第１図の上部において、パターン１は、右側（第１のグループ）に複数の明領域２^*で区切られた複数の暗領域２を、左側（第２のグループ）に複数の明領域３^*で区切られた複数の暗領域３を備える。暗領域２、３は複数の接続領域４によって互いに接続され、材料ストリップ上において、暗領域２、３は水平方向に、接続領域４は垂直方向に配設され、互いに９０〔°〕の角度で交差する。そして、右側の暗領域２は幅ｘを、右側の明領域２^*は幅ｙを有し、左側の暗領域３は幅ａを、左側の明領域３^*は幅ｂをそれぞれ有する。また、右側の暗領域２の縁部３２と左側の暗領域３の縁部３１とは距離ｄだけずらされる。このように、矢印ｖ方向に搬送される材料ストリップの正確な位置を検出するための制御パターンとして使用されるバーコードが形成される。前記制御バターンは、二つの検出器８、９によって検出され、該検出器８、９は、それぞれ、暗領域３、２、明領域３^*、２^*又は縁部３１、３２を検出すると、バイナリの出力信号を発生させる。そして、該出力信号は比較器１０に送られ、該比較器１０は、出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとを比較する。そのために、各データ入力１３、１６は、それぞれ、クロック入力１２、１５にクロックが入力されている間、イネーブルにされる。これにより、検出器８、９がそれぞれイネーブルにされ、出力信号が比較器１０に書き込まれ、出力信号のシーケンスが形成される。この場合、検出器８は、暗領域３を検出すると、クロック入力１５にクロックが入力されている間、データ入力１６をイネーブルにする。この間、検出器９は明領域２^*を検出し、該明領域２^*に対応する情報をデータ入力１６を介して比較器１０に送る。また、検出器９は、暗領域２の縁部３２を検出すると、クロック入力１２にクロックが入力されている間、データ入力１３をイネーブルにして、暗領域３を検出する検出器８から情報を受ける。この動作は、すべての暗領域２、３及び／又は明領域２^*、３^*が検出され、対応する情報が比較器１０に入力されるまで、交互に行われる。そして、検出器８、９からの出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとが等しい場合、出力１７がアクティブになり、一つ又は複数のアクチュエータ２０に出力信号が送られる。前記アクチュエータ２０は、材料ストリップ、該材料ストリップから形成される筒状体又は包装容器を加工する。このように、比較器１０において、前記検出器８の出力信号及び検出器９の出力信号のいずれか一方、又は両方によって、出力信号のシーケンスが形成されることが分かる。第２図に示すように、望ましいパターンは、各暗領域２、３（例えば、黒領域）及び各明領域２^*、３^*（例えば、白領域）を有する二つのグループから成り、ウェブ（材料ストリップ）の移動方向ｖ（ｖ軸と平行）に対して直角に引かれた中央線Ｍに対して左右対称に形成される。前記中央線Ｍは、第１のグループＩの中央の暗領域３及び第２のグループＩＩの中央の明領域２^*を横切るが、ウェブ上には現れない。第２図において、前記中央の暗領域３及び隣接する明領域３^* は、それぞれ、前記中央の明領域２^*、隣接する各暗領域２、その次の明領域２^* 、及び中央線Ｍの両側の各暗領域２の２倍の幅を有する。すなわち、第１のグループＩの各暗領域３及び明領域３^*の各幅ａ、ｂは、第２のグループＩＩの各暗領域２及び明領域２^*の各幅ｘ、ｙの２倍である。第３図は、出力信号のシーケンスの形成を示す。この場合、暗領域及び明領域を検出すると、各検出器８、９はバイナリの信号を発生させる。検出器８は、明領域から暗領域への移行を検出すると、比較器１０に信号「１」を書き込み、検出器９も同様に、明領域から暗領域への移行を検出すると、比較器１０に信号「１」を書き込む。また、検出器８は、暗領域から明領域への移行を検出すると、比較器１０に信号「０」を書き込む。検出器９も同様である。これにより、各検出器８、９の出力信号は、あらかじめ設定された方法、すなわち、バーコードの形状及びデザインに基づいてあらかじめ設定された「１」及び「０」の配列で組み合わされる。例えば、第３図に示す「１１００１１０１００１１００」のような配列である。この場合、前記二つの検出器８、９によって比較器１０に出力信号が書き込まれるので、非常に小さいバーコード内に１４ビットから成る１シーケンスが形成される。したがって、検出器及びパターンの数を多くして、あらかじめ設定された出力信号のシーケンス内のビット数を増加させることができるので、検査装置の信頼性を向上させることができる。第４図は、他の出力信号のシーケンスの形成を示す。この場合、各検出器８、９は各暗領域及び明領域を検出するとバイナリの信号を発生させる。検出器８がクロック入力Ｃとしての「１」を受けると、検出器９の現在の情報（その時点では「０」）が比較器１０に送られる。また、検出器９が同じくクロック入力Ｃとしての入力「１」を受けると、検出器８の現在の情報（その時点では「１」）が比較器１０に送られる。制御パターンとしてのバーコード全体の検出が終了すると、比較器１０は、１４ビットに相当する入力「０１１００１１１１００１１０」を受けたことになり、これは、１１バイナリの出力信号よりも多い。バイナリの信号から成る前記出力信号のシーケンスは、あらかじめ設定された信号シーケンスと比較され、これにより、アクチュエータ２０が起動される。通常、最初の明領域から暗領域への移行は模様に近すぎる場合があるので、最初の「０」は使用されない。したがって、比較器１０は１３ビットの情報を含むことになる。前記方法から分かるように、単一の制御パターンから与えられる情報は、１３ビットまで拡大されるので、検出方法の信頼性を向上させることができる。したがって、既存のコードをより優れた方法で使用することができる。材料ストリップが１分間に約１００〔ｍ〕の速度で搬送される場合、検出器８、９としての光電セルは、約１０〔ｋＨｚ〕の周波数で暗領域及び明領域の検出を行うことができる。したがって、光電セルの「検出速度」は、前記速度で進む材料ストリップ上のパターン１を読み取るために十分に高いので、各暗領域及び明領域の前記各幅ａ、ｂ、ｘ、ｙを最小限の長さにすることができ、前記検出装置及び検出方法を用いる際に、非常に小さいパターンを使用することができる。その結果、材料ストリップ上に形成された模様の外観を光学的に損なうことがない。また、一方のグループにおける連続する暗領域３の通常の幅ａは、同じグループにおける連続する明領域３^*の幅ｂとほぼ等しく、各幅ａ、ｂは、他方のグループにおける連続する各暗領域及び明領域の各幅ｘ、ｙの約２倍である。そして、連続する暗領域の幅ｘは、連続する明領域の幅ｙとほぼ等しく、通常、１〜３〔ｍｍ〕であることが望ましい。しかしながら、これより幅が小さい場合又は大きい場合でも、光電セルとなる光源、材料ストリップに配設される磁気パターンの磁気密度等によっては、検出可能である。第４図において、出力信号のシーケンスを形成するために、暗領域及び明領域の各縁部は、ストリップ３０上において、対応する各検出器８、９に対し、一方の検出器８、９が一方の縁部（例えば、第１のグループの縁部３２）を検出した場合、他方の検出器８、９は、縁部ではなく他方のグループの暗領域又は明領域を検出するように配設する必要がある。実験によれば、比較器１０において検査するビット数を増加させると、検査方法の信頼性が向上することが分かった。第５図に示される検査方法の他の実施の形態においては、検出器８、９の両方の出力信号が使用される。したがって、受け取られる出力信号のシーケンスは、「１０１１０１００１０１１０１１１０１００１０１１０１００」となる。このように、出力信号の使用方法によって、同じ制御パターンを使用しても検査方法の信頼性を大幅に向上させることができる。そして、暗領域２、３の検出又は正（明領域から暗領域へ）の縁部の検出によって発生させられた出力信号は「１」で表され、明領域２^*、３^*の検出又は負（暗領域から明領域へ）の縁部の検出によって発生させられた出力信号は「０」で表される。第６図に示す制御パターンの配列においては、各グループの暗領域と明領域とが、対応する各検出器８、９に対して、かつ、互いに異なる位置に置かれる。したがって、制御パターンにおける異なるグループを、材料ストリップ上の異なる位置に置くことができるので、材料ストリップ上のバーコードによって模様の光学的印象が損なわれるのを防止することができる。さらに、第７図に示すように、模様自体を検査方法に使用することができる。この場合、特定の模様（白及び黒の領域から成るものが望ましい）が前記検査方法において使用され、白及び黒の領域を有する各グループが、対応する検出器に対して互いに異なる位置に置かれる。したがって、各暗領域及び明領域は、材料ストリップ上の画像、デザイン又は配列構造の一部になる。第８図に示すように、検出器８は、複数の処理用のローラ３１によって搬送される材料ストリップ上の暗領域及び明領域を検出し、特定の速度で回転する前記ローラ３１の下方に配設される。そして、材料ストリップ３０の搬送速度は、ローラ３１の回転速度を検出器９が測定することによって検出される。この場合、両検出器８、９の相互作用によって、前記効果を達成することができる。なお、検出器９を、処理ライン上の異なる複数の箇所に配設することができるとともに、材料ストリップの搬送速度によっては何らかの方法で既存のセンサ又は検出器を代わりに使用することもできる。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ)，ＵＡ(ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ )，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＨＵ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ

Claims

【特許請求の範囲】１．材料ストリップ（３０）上に形成され、検査方向（ｖ）に連続する暗領域及び明領域（２、２^*、３、３^*）を有する複数のグループから成るパターン（１）の検査装置において、対応する検出器９に対する一方のグループの各暗領域（２）及び／又は明領域（２^*）の位置は、対応する他の検出器８に対する他方のグループの各暗領域（３）及び／又は明領域（３^*）と異なり、前記検出器（８、９）は、暗領域（２、３）及び／又は明領域（２^*、３^*）が存在するかどうかを検出し、検出結果に基づいて出力信号を発生させ、比較器（１０）は、出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとを比較するとともに、前記出力信号のシーケンスは、少なくとも二つの検出器（８、９）の出力信号から成り、該各出力信号は、あらかじめ設定された方法で前記出力信号のシーケンスを形成するために、前記比較器（１０）において所定の方法で組み合わせられ、前記出力信号は、前記暗領域及び／又は明領域（２、２^*、３、３^*）に関する情報から成ることを特徴とするパターンの検査装置。２．各検出器（８、９）は、前記各暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^*）のいずれか一つの縁部の検出に伴って出力信号を比較器（１０）に書き込むために、他の検出器（８、９）をイネーブルにする請求項１に記載の検査装置。３．前記各検出器（８、９）の各クロック入力（１２、１５）は、他の検出器（８、９）の出力信号を比較器（１０）に書き込むために、各データ入力（１３、１６）をイネーブルにするとともに、前記暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^* ）のいずれか一つの縁部の検出に伴ってアクティブにされる請求項２に記載の検査装置。４．前記各クロック入力（１２、１５）は、さらに、前記領域（２、２^*、３、３^*）の明から暗へ又は暗から明への移行に基づいて前記出力信号のシーケンスを形成するために、出力信号としても使用される請求項３に記載の検査装置。５．前記比較器（１０）は、前記出力信号のシーケンスがあらかじめ設定された信号シーケンスと等しい場合に出力信号を出力し、該出力信号は、ストリップの処理装置及び／又は包装装置における少なくとも一つのアクチュエータ（２０）を起動する請求項１〜４のいずれか１項に記載の検査装置。６．前記各クロック入力（１２、１５）は、前記材料ストリップ（３０）の前記方向（ｖ）への搬送速度に対応させて、検出器（９）によって発生させられる請求項１〜５のいずれか１項に記載の検査装置。７．少なくとも前記二つの検出器（８、９）の各出力信号は、前記比較器（１０）の一部であるか又は前記比較器（１０）に接続される、単一のシフトレジスタに送られる請求項１〜６のいずれか１項に記載の検査装置。８．比較器（１０）は、一方の検出器（８、９）の出力パルスと他方の検出器（８、９）の出力パルスとを区別する手段を備える請求項１〜７のいずれか１項に記載の検査装置。９．材料ストリップ（３０）上に形成され、検査方向（ｖ）に連続する暗領域及び明領域（２、２^*、３、３^*）を有する複数のグループから成るパターン（１）の検査方法において、対応する検出器９に対する一方のグループの各暗領域（２）及び／又は明領域（２^*）の位置を、対応する他の検出器８に対する他方のグループの各暗領域（３）及び／又は明領域（３^*）と異ならせ、暗領域（２、３）及び／又は明領域（２^*、３^*）が存在するかどうかを検出し、検出結果に基づいて出力信号を発生させ、出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとを比較するとともに、前記暗領域及び／又は明領域（２、２^*、３、３^*）に関する情報から成る一方の検出器（８、９）の出力信号と、他方の検出器（８、９）の出力信号とを、前記暗領域及び／又は明領域（２、２^*、３、３^*）の検出に対応させて、あらかじめ設定された方法で組み合わせることによって出力信号のシーケンスを形成することを特徴とするパターンの検査方法。１０．各検出器（８、９）は、前記暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^*）の縁部の検出に対応させて、他方の検出器（８、９）によって交互に作動させられる請求項９に記載の検査方法。１１．前記暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^*）に関する情報から成る各検出器（８、９）の出力信号によって出力信号のシーケンスを形成し、前記各検出器（８、９）は、他方の検出器（８、９）が前記暗領域又は明領域（２、２^*、３、３^*）の縁部を検出した後、前記他方の検出器（８、９）によって交互に作動させられる請求項１０に記載の検査方法。１２．前記材料ストリップ（３０）上に形成され、機械的、電気的、磁気的及び／又は光学的な特性を有するパターン（１）を、機械的、電気的、磁気的及び／又は光学的なセンサ又は検出器（８、９）によって検出する請求項９〜１１のいずれか１項に記載の検査方法。１３．前記出力信号としてバイナリの信号が使用される請求項９〜１２のいずれか１項に記載の検査方法。１４．暗領域（２、３）の検出、及び／又は明領域から暗領域への正の縁部の検出によって発生させられた前記出力信号を「１」又は「０」で表し、明領域（２^* 、３^*）の検出、及び／又は暗領域から明領域への負の縁部の検出によって発生させられた前記出力信号を「０」又は「１」で表す請求項１３に記載の検査方法。１５．請求項１〜８のいずれか１項に記載の検査装置及び／又は請求項９〜１４のいずれか１項に記載の検査方法において使用されるとともに、前記暗領域及び／又は明領域（２、２^*、３、３^*）は、材料ストリップ（３０）上の画像、デザイン及び／又は配列構成の一部であることを特徴とする材料ストリップ（３０）。１６．請求項１〜８のいずれか１項に記載の検査装置及び／又は請求項９〜１４のいずれか１項に記載の検査方法において使用されるとともに、前記暗領域及び／又は明領域（２、２^*、３、３^*）はバーコードの一部であることを特徴とする材料ストリップ（３０）。１７．二つのグループにおける前記各暗領域及び／又は明領域（２、２^*、３、３^*）は、前記材料ストリップ（３０）上において接続領域（４）によって接続される請求項１５又は１６に記載の材料ストリップ（３０）。１８．前記一方のグループにおける前記暗領域及び／又は明領域（２、２^*）は、前記材料ストリップ（３０）上において、前記他方のグループの前記暗領域及び／又は明領域（３、３^*）と異なる位置に置かれる請求項１５又は１６に記載の材料ストリップ（３０）。１９．第１のグループの複数の暗領域（２）の幅（ｘ）は、同じグループの複数の明領域（２^*）の幅（ｙ）とほぼ同じにされる請求項１５〜１８のいずれか１項に記載の材料ストリップ（３０）。２０．第２のグループの複数の暗領域（３）の幅（ａ）は、第２のグループの複数の明領域（３^*）の幅（ｂ）とほぼ同じにされ、幅（ａ、ｂ）は、前記第１のグループの複数の暗領域及び明領域（２、２^*）の幅（ｘ、ｙ）のほぼ２倍にされる請求項１９に記載の材料ストリップ（３０）。２１．前記パターン（１）は、暗領域（２、３）及び明領域（２^*、３^*）を有する二つのグループから成るとともに、前記各領域が数及び形状によって選択されて前記材料ストリップ（３０）上に配設されることによって、前記出力信号のシーケンスを構成するために８バイナリ以上の出力信号が発生させられる請求項１５〜２０のいずれか１項に記載の材料ストリップ（３０）。２２．前記暗領域及び明領域（２、２^*、３、３^*）の各縁部は、該各縁部に対応する検出器（８、９）に対し、一方の検出器（８、９）が縁部を検出するときに他方の検出器（８、９）は縁部を検出しないように、前記材料ストリップ（３０）上に配設される請求項１５〜２１のいずれか１項に記載の材料ストリップ（３０）。２３．あらかじめ設定された方法で配列された暗領域（２、３）及び明領域（２^* 、３^*）を有する複数のグループから成り、前記各領域は材料ストリップ（３０）に対する追加の処理を行うための手段である包装容器を形成するための材料ストリップ（３０）において、暗領域及び明領域（３、３^*）を有する第１のグループと暗領域及び明領域（２、２^*）を有する第２のグループとは、共通の中央線（Ｃ）に対して左右対称に配設され、前記第１のグループにおける幅（ａ）を有する一つの中間の暗領域（３）及び前記第２のグループにおける幅（ｙ）を有する一つの中間の明領域（２^*）は、それぞれ各グループの中心に配設され、前記第１のグループにおける幅（ｂ）を有する明領域（３^*）及び幅（ａ）を有する暗領域（３）は、前記中間の暗領域（３）の両側に千鳥状に配設されるとともに、前記第２のグループにおける幅（ｘ）を有する暗領域（２）及び幅（ｙ）を有する明領域（２^*）は、前記中間の明領域（２^*）の両側に千鳥状に配設され、前記第１のグループの暗領域及び明領域（３、３^*）の幅（ａ、ｂ）は、前記第２のグループの暗領域及び明領域（２、２^*）の幅（ｘ、ｙ）のほぼ２倍にされ、前記第１のグループは少なくとも３個の暗領域（３）から成り、前記第２のグループは少なくとも５個の明領域（２^*）から成ることを特徴とする材料ストリップ（３０）。