JPH1039162A - 光半導体装置並びに半導体受光素子および光ファイバーの形成方法 - Google Patents

光半導体装置並びに半導体受光素子および光ファイバーの形成方法

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JPH1039162A
JPH1039162A JP19428996A JP19428996A JPH1039162A JP H1039162 A JPH1039162 A JP H1039162A JP 19428996 A JP19428996 A JP 19428996A JP 19428996 A JP19428996 A JP 19428996A JP H1039162 A JPH1039162 A JP H1039162A
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JP
Japan
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optical
optical fiber
semiconductor device
optical semiconductor
light receiving
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JP19428996A
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Inventor
Shinji Senba
真司 船場
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光半導体素子と光ファイバーの光軸を容易か
つ高精度にアライメントすることにより結合効率の高い
かつ小型化された光半導体装置を提供する。 【解決手段】 光半導体素子1(半導体レーザ)の発光
点に凹部2、光ファイバー3のコア部4に凸部5を形成
して、凹部2と凸部5を嵌合することにより光半導体素
子1と光ファイバー3の光軸を直接結合させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光通信に用いら
れる光半導体装置およびこの光半導体装置に用いられる
半導体受光素子並びに半導体受光素子および光ファイバ
ーの形成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ファイバーを伝送体とする光通信にお
いて、光半導体素子と光ファイバーとの結合効率を高め
るためには、光半導体素子と光ファイバーの光軸を高精
度にアライメントすることが重要である。図17は光フ
ァイバーと半導体レーザおよびモニター用受光素子から
構成されている従来の光半導体装置を示す斜視図であ
る。図において、3は光ファイバー、4は光ファイバー
のコア部、23はSiサブマウント基板、24はSiサ
ブマウント基板23上に形成された光ファイバー3固定
用の溝、40は半導体レーザ、41はモニター用の表面
入射型受光素子である。光ファイバー3は、サブマウン
ト基板23上に形成された溝24にはめ込まれ、半導体
レーザ40の発光点にアライメントされている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の光半導体装置は
以上のように構成されているので、半導体レーザ40と
光ファイバー3とのアライメントは、サブマウント基板
23の溝24を介して行うためアライメントの精度が悪
い。また、半導体レーザ40の出射光をモニターするた
めに表面入射型の受光素子41を用いた場合、光半導体
装置を小型化することが難しく、光半導体装置を小型化
するために端面入射型の受光素子を用いた場合、結合損
失が大きくなる。
【0004】この発明は、上記のような問題を解決する
ためになされたもので、光半導体素子と光ファイバーの
光軸を容易かつ高精度にアライメントすることにより結
合効率の高いかつ小型化された光半導体装置を提供する
ことを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係わる光半導
体装置は、発光部あるいは受光部に凹部または凸部を有
する光半導体素子と、中心にコア部を有すると共に端面
に凸部または凹部が形成された光ファイバーを備え、光
半導体素子の凹部または凸部と光ファイバーの凸部また
は凹部を嵌合して光半導体素子と光ファイバーを光結合
したものである。また、凹部は、角形状または半球形状
あるいはレンズ状に形成されているものである。さら
に、光半導体素子は、凹部あるいは凸部が形成された面
に光ファイバーの直径より僅かに大きい径を有するへこ
み部を有し、へこみ部に凸部あるいは凹部が形成された
光ファイバー端面を嵌合し、光半導体素子と光ファイバ
ーを固定したものである。
【0006】また、光半導体素子は、発光部に凹部ある
いは凸部を有する表面発光型の半導体発光素子である。
または、光半導体素子は、受光部に凹部あるいは凸部を
有する表面入射型の半導体受光素子である。または、光
半導体素子は、発光部に凹部あるいは凸部を有する面
と、この面の反対側にBragg多層反射膜を挟んで受
光素子が形成された面を有する受光素子付き面発光型の
半導体発光素子である。また、光ファイバーは、端面お
よび側面に電極が形成されているものである。また、光
半導体素子の電極と光ファイバーの端面に形成された電
極、および光ファイバーを保持する基板上に形成された
電極と光ファイバーの側面に形成された電極を接触させ
ることにより、各々の接触部が電気的に接続されている
ものである。また、光ファイバーは、光ファイバー端面
にネガレジストを形成する工程、光ファイバーのコア部
を通した光によりネガレジストを裏面から感光、硬化さ
せコア部上にのみネガレジストパターンを形成する工
程、ネガレジストパターンをエッチングレジストとして
光ファイバー端面をエッチングする工程、ネガレジスト
を剥離する工程によって形成されたものである。
【0007】また、光半導体装置は、発光部を有する端
面に接合部が形成された端面発光型の半導体発光素子
と、端面のコア部以外の部分に接合部が形成された光フ
ァイバーを備え、端面発光型の半導体発光素子の接合部
と光ファイバーの接合部を接合し、端面発光型の半導体
発光素子と光ファイバーを固定したものである。また
は、端面発光型の半導体発光素子の電極面と光ファイバ
ーの端面に形成された突出部に設けられた接合部とを接
合することにより、端面発光型の半導体発光素子と光フ
ァイバーを固定したものである。または、端面発光型の
半導体発光素子の電極面に形成された凹部と光ファイバ
ーの端面に形成された突出部を嵌合させることにより、
上記端面発光型の半導体発光素子と上記光ファイバーを
固定したものである。また、光半導体装置は、端面に発
光部を有する半導体発光素子と、端面および表面に受光
部を有する半導体受光素子と、半導体発光素子の発光部
を有した端面と半導体受光素子の受光部を有した端面を
対向させて保持する基板を備えたものである。
【0008】さらに、半導体発光素子の光軸高さと半導
体受光素子の受光部高さの調整を、半導体受光素子上に
形成された金属めっきの膜厚で行ったものである。ま
た、基板には、半導体発光素子端面からの出射光を反射
させて半導体受光素子の表面に入射させるための金属反
射膜が形成されているものである。さらに、金属反射膜
が形成されている基板部分に、出射光に対して交差する
方向に複数のV字状溝が形成されているものである。ま
た、素子表面と端面に受光部を有する半導体受光素子
は、光吸収層を含むエピタキシャルウェハに規則的に配
列された複数のp型拡散領域を形成する工程と、p型拡
散領域の間にエッチングにより溝部を形成する工程と、
溝部を含むウェハ全面にパッシベーション膜を形成する
工程と、溝部でウェハを分割する工程を含み、分割され
た素子の端面および表面に受光部を形成するものであ
る。
【0009】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.以下、この発明の一実施の形態である光
半導体装置を図について説明する。図1はこの発明の光
半導体装置における光半導体素子と光ファイバーとの接
続部の概略図で、図において、1は光半導体素子、2は
光半導体素子1に形成された凹部、3は光ファイバー、
4は光ファイバー3のコア部、5は光ファイバー3の端
面に形成されたコア部4を中心に含む凸部、6は光ファ
イバー3のクラッド部である。図2は図1の光半導体素
子1の一例である面発光型半導体レーザの断面図で、図
において、7はn型基板、8はn型基板7上のn型Br
agg反射膜、9はn型Bragg反射膜8上の活性
層、10は活性層9上のp型Bragg反射膜、11は
p型Bragg反射膜10上の電流ブロック層、12は
電流ブロック層上に形成されたp型拡散領域、13はp
型拡散領域12上に開口部を有する絶縁膜、14はn型
基板7下面の発光部以外に形成されたn側電極、15は
絶縁膜13の開口部分に形成されたp側電極である。図
3は光ファイバー3の端部の側面図で、図において、1
6は光ファイバー3端面に形成された凸部5以外の端面
部および側面部に形成された金属電極で、光半導体素子
1の電極14と電気的に接続するため、あるいは光半導
体素子1と光ファイバー3を固定するために用いられ
る。
【0010】図2に示す面発光型半導体レーザは、まず
n型基板7上にn型Bragg膜8、活性層9、p型B
ragg膜10、電流ブロック層11を順次平坦に形成
し、次にp型拡散領域12を形成した後、p型拡散領域
12上に開口部を有する絶縁膜13および両側にn側電
極14とp側電極15を形成し、最後に凹部2を発光部
に写真製版法を用いて形成することにより形成される。
レーザー光は凹部2から図示下方向に出射される。ま
た、凹部2の形状としては図2−aに示すような異方性
エッチングにより形成された角部を有する凹部2a、図
2−bに示すような等方性エッチングにより形成された
機械的強度がある半球状の凹部2b、図2−cに示すよ
うな底部がレンズ状であるため出射光を中心軸に集中で
きるレンズ状の凹部2c等様々な形状が可能である。
【0011】図4は光ファイバー3の端部に凸部5およ
び金属電極16を形成する工程を示す断面図である。ま
ず図4−aに示すように、光ファイバー3の端面にネガ
レジスト17を塗布し、次に図4−bに示すように、光
ファイバー3のコア部4を通った光18によりネガレジ
スト17を裏面側から感光、硬化させ、コア部4上にの
みネガレジスト17パターンを形成する。次に図4ーc
に示すように、ネガレジスト17パターンをエッチング
レジストとして光ファイバー3端面のエッチングを行っ
てコア部4を中心とした凸部5を形成し、続いて金属粒
子を蒸着することにより凸部5以外の部分に金属電極1
6を形成する。その後ネガレジスト17をリフトオフす
ることにより、光ファイバー3の端面に凸部5および金
属電極16が形成される。本実施の形態による光半導体
装置における光半導体素子1と光ファイバー3は、光半
導体素子1の凹部2と光ファイバー3の凸部5を嵌合す
ることにより接続される。また、光半導体素子1の凹部
2の代わりに凸部、光ファイバー3の凸部5の代わりに
凹部を形成しても同様の効果が得られる。この発明によ
れば、光半導体装素子1である半導体レーザの発光部と
光ファイバー3のコア部4を直接結合させるため、光半
導体素子1と光ファイバー3の光軸を容易かつ高精度に
アライメントを行うことができる。
【0012】実施の形態2.図5は図1の光半導体素子
1である他の面発光型半導体レーザの断面図である。図
において19はp型コンタクト層である。なお、図2に
示す実施の形態1と同一部分については同符号を付し説
明を省略する。本実施の形態による面発光型半導体レー
ザは、まずn型基板7上にp型Bragg膜10、活性
層9、n型Bragg膜8、p型コンタクト層19を順
次平坦にエピタキシャル層を形成した後発光部分を残し
て除去し、次に電流ブロック層11を埋め込み成長させ
ると同時に凹部2を形成し、最後にp型拡散領域12お
よび絶縁膜13を形成した後両側にn側電極14とp側
電極15を形成することによって形成される。本実施の
形態によれば、発光部分に隣接させて凹部2を形成して
いるため、出射光の光軸と凹部2の中心軸とを最も精度
よく一致させることができる。
【0013】実施の形態3.図6は図1の光半導体素子
1の他の例である半導体受光素子の断面図である。図に
おいて、20はn型基板7と電流ブロック層11の間に
形成されたn型光吸収層である。なお、図2に示す実施
の形態1と同一部分については同符号を付し説明を省略
する。半導体受光素子への入射光は、n型基板7の受光
点に写真製版法を用いて形成された凹部2から入射し、
p型拡散領域12に接しているn型光吸収層20で吸収
され光電流に変換される。本実施の形態によれば、光半
導体装素子1である半導体受光素子の受光部と光ファイ
バー3のコア部を直接結合させるため、光半導体素子1
と光ファイバー3の光軸を容易かつ高精度にアライメン
トを行うことができる。
【0014】実施の形態4.図7は図1の光半導体素子
1のさらに他の例である半導体受光素子付きの面発光型
半導体レーザの断面図である。図において、15aは半
導体レーザと半導体受光素子共通のn側電極、15bは
半導体受光素子のp側電極、21はp型Bragg反射
膜10上に形成された光吸収層、22はp型層である。
なお、図2に示す実施の形態1と同一部分については同
符号を付し説明を省略する。面発光型半導体レーザの出
射光は凹部2より図示下方向に出射されるが、p型Br
agg反射膜10より図示上方に透過した光は、p型拡
散領域12と光吸収層21で構成される半導体受光素子
部分でモニター用光電流に変換され、半導体レーザの駆
動電流制御に用いられる。
【0015】実施の形態5.図8はこの発明の実施の形
態5による光半導体装置を示す概略図である。図におい
て、1は光半導体素子(本実施の形態においては実施の
形態4に示した半導体受光素子付き面発光型半導体レー
ザ)、23はサブマウント基板、24はサブマウント基
板23に形成された光ファイバー3を固定するための
溝、25は光半導体素子1の電極15a、15bおよび
金ワイヤー27との接触部を両端に有する電極線26を
備えた接続部、28はサブマウント基板23および溝2
4に形成された金属電極である。なお、図3および図7
と同一部分については同符号を付し説明を省略する。本
実施の形態の光半導体装置は、まず光半導体素子1と光
ファイバー3を固定し、光ファイバー3をサブマウント
基板23の溝24に配置し、接続部25に光半導体素子
1を接触させることにより、光半導体素子1の電極部1
5a、15bと接続部25の電極線26との電気的接
続、光ファイバー3上の金属電極16とサブマウント基
板23上の金属電極28および光半導体素子1の電極1
4との電気的接続を得ることができ、小型化された光半
導体装置を形成することができる。
【0016】実施の形態6.図9は光半導体素子1と光
ファイバー3との固定方法を示す斜視図である。図にお
いて、29は光半導体素子1に形成された光ファイバー
3の端面が嵌合する大きさを有するへこみ部である。な
お、図2および図3と同一部分については同符号を付し
説明を省略する。光半導体素子1の凹部2と光ファイバ
ー3の凸部5とを合わせると共に光半導体素子1に形成
されたへこみ部29に光ファイバー3を嵌合することに
より、へこみ部29と光ファイバー3の端面をほとんど
隙間なく密封状態にすることができるので、光結合を行
う凹部2と凸部5の雰囲気を一定に保つと共に、光半導
体素子1と光ファイバー3とを固定することにより光半
導体装置を小型化できる。
【0017】実施の形態7.図10は光半導体素子1と
光ファイバー3との他の固定方法を示す断面図である。
本実施の形態における光半導体素子1は端面出射型半導
体レーザである。図において、30は端面出射型半導体
レーザの活性層(光導波路)、31は出射光である。な
お、図2および図3と同一部分については同符号を付し
説明を省略する。光半導体素子(端面出射型半導体レー
ザ)1の端面からの出射光31が光ファイバー3のコア
部4に直接入射する位置に、光半導体素子(端面出射型
半導体レーザ)1を配置すると共に、この光半導体素子
1の端面に形成されたn側電極14と光ファイバー3の
端面に形成された電極16をはんだ等で接合して、光半
導体素子1と光ファイバー3を固定することにより、光
半導体素子1と光ファイバー3の結合効率を改善すると
共に光半導体装置を小型化できる。
【0018】実施の形態8.実施の形態7では、光半導
体素子(端面出射型半導体レーザ)1の端面に形成され
たn側電極14と光ファイバー3の端面に形成された電
極16をはんだ等で接合し、光半導体素子1と光ファイ
バー3を固定しているが、図11に示すように、光ファ
イバー3の端面に形成された突出部32上の電極16と
光半導体素子1のn側電極14をはんだ等で接合し、光
半導体素子1と光ファイバー3を固定しても同様の効果
が得られる。
【0019】実施の形態9.実施の形態8では、光ファ
イバー3の端面に形成された突出部32上の電極16と
光半導体素子1のn形電極14をはんだ等で接合し、光
半導体素子1と光ファイバー3を固定しているが、図1
2に示すように、光半導体素子1に光ファイバー3の突
出部32が嵌合できる凹部33を形成して、光半導体素
子1と光ファイバー3を固定しても同様の効果が得られ
る。
【0020】実施の形態10.図13−aおよび図13
−bは端面入射型のモニター用半導体受光素子の側面図
および正面図、図14は端面入射型のモニター用半導体
受光素子を形成する工程を示す断面図、図15は端面出
射型半導体レーザと端面入射型のモニター用半導体受光
素子をサブマウント基板23に搭載した状態を示す断面
図である。図13、14、15において、1sは端面出
射型半導体レーザ、1pは端面入射型のモニター用半導
体受光素子、Hsはサブマウント基板23の表面から端
面出射型半導体レーザ1sの活性層30までの高さ、H
pはサブマウント基板23の表面から端面入射型半導体
受光素子1pまでの高さ、34は端面入射型半導体受光
素子1pの端面入射部、35は端面出射型半導体レーザ
1sの裏面から出射されるレーザ光およびその進行方
向、36は端面入射型のモニター用半導体受光素子1p
の下方に設けられたサブマウント基板23上の金属反射
膜、37は高さHpを調整するためのめっき層、38は
端面入射型のモニター用半導体受光素子1pの素子表面
である。なお、図6、図8および図10と同一部分につ
いては同符号を付し説明を省略する。
【0021】次に端面入射型のモニター用半導体受光素
子1pの形成工程を説明する。まず図14−aに示すよ
うに、n型基板7、光吸収層20および光透過層111
からなるエピタキシャルウェハに複数のp型拡散領域1
2を規則的に配列して形成し、次に図14−bに示すよ
うに、各p型拡散領域12の間にエッチングにより深さ
約10μmの溝(端面受光部34となる)を形成した
後、全面にパッシベーション膜13を形成し、最後に図
14−cに示すように、p側電極15およびn側電極1
4を形成した後に溝部分でチップ分離を行い、端面受光
部34を有した端面入射型のモニター用半導体受光素子
1pを形成する。ここで端面入射型のモニター用半導体
受光素子1pは、図15に示すように、端面受光部34
と共にp型拡散領域12の下方に位置する素子表面38
からもレーザー光を入射し、光電流に変換できるよう構
成されている。次にサブマウント基板23に搭載される
端面出射型半導体レーザ1sと端面入射型のモニター用
受光素子1pは、めっき層37により高さHpが調整さ
れることにより、端面出射型半導体レーザ1sの裏面か
らの出射光35の上半分を端面入射型のモニター用受光
素子1pの端面受光部34から入射し、下半分をサブマ
ウント基板上23に形成された金属反射膜36により反
射して素子表面38から入射する。本実施の形態によれ
ば、出射光35を端面受光部34および素子表面38か
ら入射することができるため、端面出射型半導体レーザ
1sと端面入射型のモニター用受光素子1pの結合効率
を向上させることができる。
【0022】実施の形態11.実施の形態10では、金
属反射膜36が形成されたサブマウント基板23表面は
平坦であったが、図16に示すように、金属反射膜36
が形成される部分のサブマウント基板23表面に複数の
V字状溝39を形成することにより、出射光35をV字
状の金属反射膜36により散乱させ効率良く端面入射型
のモニター用受光素子1pの素子表面38から入射させ
ることができるので、端面出射型半導体レーザ1sと端
面入射型のモニター用受光素子1pとの結合効率向上に
一層の効果がある。
【0023】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、光半
導体素子と光ファイバーの光軸を凹部と凸部の嵌合によ
り直接結合させたため、光半導体素子と光ファイバーの
光軸を容易かつ高精度にアライメントを行うことがで
き、結合効率の高い光半導体装置を提供することができ
る。また、光ファイバーに電極を形成し、その電極面と
光半導体素子とを直接接合し固定したため、光半導体装
置を小型化することができる。また、端面および表面か
ら同時に光信号を入射できる端面入射型受光素子を用い
ることにより、光半導体装置を小型化すると共に光半導
体素子と半導体受光素子の結合効率を向上させることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による光半導体装置
を示す概略図である。
【図2】 この発明の実施の形態1による面発光型半導
体レーザーを示す断面図である。
【図3】 この発明の実施の形態1による光ファイバー
を示す側面図である。
【図4】 この発明の実施の形態1による光ファイバー
の形成工程を示す断面図である。
【図5】 この発明の実施の形態2による他の面発光型
半導体レーザーを示す断面図である。
【図6】 この発明の実施の形態3による半導体受光素
子を示す断面図である。
【図7】 この発明の実施の形態4による半導体受光素
子付き面発光型半導体レーザーを示す断面図である。
【図8】 この発明の実施の形態5による光半導体装置
を示す概略図である。
【図9】 この発明の実施の形態6による光半導体装置
を示す斜視図である。
【図10】 この発明の実施の形態7による光半導体装
置を示す断面図である。
【図11】 この発明の実施の形態8による光半導体装
置を示す断面図である。
【図12】 この発明の実施の形態9による光半導体装
置を示す断面図である。
【図13】 この発明の実施の形態10による半導体受
光素子の側面図および正面図である。
【図14】 この発明の実施の形態10による半導体受
光素子の形成方法を示す顔面図である。
【図15】 この発明の実施の形態10による光半導体
装置を示す断面図である。
【図16】 この発明の実施の形態11による光半導体
装置を示す断面図である。
【図17】 従来のこの種光半導体装置を示す斜視図で
ある。
【符号の説明】
1 光半導体素子、2 凹部、3 光ファイバー、4
コア部、5 凸部、6 クラッド部、7 n型基板、8
n型Bragg反射膜、9 活性層、10 p型Br
agg反射膜、11 電流ブロック層、12 p型拡散
領域、13 絶縁膜、14 n側電極、15 p側電
極、16 金属電極、17 ネガレジスト、18 光、
19 p型コンタクト層、20 n型光吸収層、21
光吸収層、22 p型層、23 サブマウント基板、2
4 溝、25 接続部、26 電極線、27 金ワイヤ
ー、28 金属電極、29 へこみ部、30 活性層、
31 出射光、32 突出部、33 凹部、34 端面
入射部、35 出射光、36 金属反射膜、37 めっ
き層、38 素子面、39 V字状溝、111 光透過
層。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光部あるいは受光部に凹部または凸部
    を有する光半導体素子、 中心にコア部を有すると共に端面に凸部または凹部が形
    成された光ファイバーを備え、上記光半導体素子の凹部
    または凸部と上記光ファイバーの凸部または凹部を嵌合
    して上記光半導体素子と上記光ファイバーを光結合した
    ことを特徴とする光半導体装置。
  2. 【請求項2】 凹部は、角形状または半球形状に形成さ
    れていることを特徴とする請求項1記載の光半導体装
    置。
  3. 【請求項3】 凹部は、底部がレンズ状に形成されてい
    ることを特徴とする請求項1記載の光半導体装置。
  4. 【請求項4】 光半導体素子は、凹部あるいは凸部が形
    成された面に光ファイバーの直径より僅かに大きい径を
    有するへこみ部を有し、上記へこみ部に凸部あるいは凹
    部が形成された光ファイバー端面を嵌合し、上記光半導
    体素子と上記光ファイバーを固定したことを特徴とする
    請求項1〜3のいずれか一項記載の光半導体装置。
  5. 【請求項5】 光半導体素子は、発光部に凹部あるいは
    凸部を有する表面発光型の半導体発光素子であることを
    特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の光半導体
    装置。
  6. 【請求項6】 光半導体素子は、受光部に凹部あるいは
    凸部を有する表面入射型の半導体受光素子であることを
    特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の光半導体
    装置。
  7. 【請求項7】 光半導体素子は、発光部に凹部あるいは
    凸部を有する面と、この面の反対側にBragg多層反
    射膜を挟んで受光素子が形成された面を有する受光素子
    付き面発光型の半導体発光素子であることを特徴とする
    請求項1〜4のいずれか一項記載の光半導体装置。
  8. 【請求項8】 光ファイバーは、端面および側面に電極
    が形成されていることを特徴とする請求項1〜7のいず
    れか一項記載の光半導体装置。
  9. 【請求項9】 光半導体素子の電極と光ファイバーの端
    面に形成された電極、および上記光ファイバーを保持す
    る基板上に形成された電極と上記光ファイバーの側面に
    形成された電極を接触させることにより、各々の接触部
    が電気的に接続されていることを特徴とする請求項8記
    載の光半導体装置。
  10. 【請求項10】 光ファイバー端面にネガレジストを形
    成する工程、上記光ファイバーのコア部を通した光によ
    り上記ネガレジストを裏面から感光、硬化させコア部上
    にのみネガレジストパターンを形成する工程、上記ネガ
    レジストパターンをエッチングレジストとして上記光フ
    ァイバー端面をエッチングする工程、上記ネガレジスト
    パターンを剥離する工程を含んだことを特徴とする光フ
    ァイバーの形成方法。
  11. 【請求項11】 発光部を有する端面に接合部が形成さ
    れた端面発光型の半導体発光素子、 端面のコア部以外の部分に接合部が形成された光ファイ
    バーを備え、上記端面発光型の半導体発光素子の接合部
    と上記光ファイバーの接合部を接合し、上記端面発光型
    の半導体発光素子と上記光ファイバーを固定したことを
    特徴とする光半導体装置。
  12. 【請求項12】 端面発光型の半導体発光素子の電極面
    と光ファイバーの端面に形成された突出部に設けられた
    接合部とを接合することにより、上記端面発光型の半導
    体発光素子と上記光ファイバーを固定したことを特徴と
    する光半導体装置。
  13. 【請求項13】 端面発光型の半導体発光素子の電極面
    に形成された凹部と光ファイバーの端面に形成された突
    出部を嵌合させることにより、上記端面発光型の半導体
    発光素子と上記光ファイバーを固定したことを特徴とす
    る光半導体装置。
  14. 【請求項14】 端面に発光部を有する半導体発光素
    子、 端面および表面に受光部を有する半導体受光素子、 上記半導体発光素子の発光部を有した端面と上記半導体
    受光素子の受光部を有した端面を対向させて保持する基
    板を備えたことを特徴とする光半導体装置。
  15. 【請求項15】 半導体発光素子の光軸高さと半導体受
    光素子の受光部高さの調整を、上記半導体受光素子上に
    形成された金属めっきの膜厚で行ったことを特徴とする
    請求項14記載の光半導体装置。
  16. 【請求項16】 基板には、半導体発光素子端面からの
    出射光を反射させて半導体受光素子の表面に入射させる
    ための金属反射膜が形成されていることを特徴とする請
    求項14または請求項15記載の光半導体装置。
  17. 【請求項17】 金属反射膜が形成されている基板部分
    に、出射光に対して交差する方向に複数のV字状溝が形
    成されていることを特徴とする請求項16記載の光半導
    体装置。
  18. 【請求項18】 光吸収層を含むエピタキシャルウェハ
    に規則的に配列された複数のp型拡散領域を形成する工
    程、上記p型拡散領域の間にエッチングにより溝部を形
    成する工程、上記溝部を含むウェハ全面にパッシベーシ
    ョン膜を形成する工程、上記溝部で上記ウェハを分割す
    る工程を含み、分割された素子の端面および表面に受光
    部を形成することを特徴とする半導体受光素子の形成方
    法。
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