JPH10336021A - シュミットトリガ回路を利用した位相同期ループ回路 - Google Patents
シュミットトリガ回路を利用した位相同期ループ回路Info
- Publication number
- JPH10336021A JPH10336021A JP9140289A JP14028997A JPH10336021A JP H10336021 A JPH10336021 A JP H10336021A JP 9140289 A JP9140289 A JP 9140289A JP 14028997 A JP14028997 A JP 14028997A JP H10336021 A JPH10336021 A JP H10336021A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- block
- input
- schmitt trigger
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 4
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims 1
- 230000009089 cytolysis Effects 0.000 claims 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/089—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
- H03L7/0891—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump
- H03L7/0895—Details of the current generators
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/16—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/18—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop
- H03L7/183—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop a time difference being used for locking the loop, the counter counting between fixed numbers or the frequency divider dividing by a fixed number
Abstract
の入力で非常に小さい定常状態位相誤差を達成するこ
と。 【解決手段】 シュミットトリガ回路ブロックの各シュ
ミットトリガ回路は、VCO入力電圧の温度および電圧
係数ばかりでなくPLLの減衰定数ζに依存するヒステ
リシス量を持つ。各シュミットトリガ回路のヒステリシ
ス曲線の正および負のしきい値の中心点は、チャージポ
ンプ回路ブロックにおけるチャージポンプ回路の電流電
圧特性によってセットされる。シュミットトリガ回路ブ
ロックは、制御論理回路に対して、チャージポンプ回路
ブロック内のPMOSポンプUPトランジスタおよびN
MOSポンプDOWNトランジスタをオンまたはオフさ
せるするを命じ、それによってPMOSポンプUPトラ
ンジスタのアスペクト比をNMOSポンプDOWNトラ
ンジスタのそれに対して制御する。
Description
圧に応答してチャージポンプ回路内のポンプUPトラン
ジスタのアスペクト比およびポンプDOWNトランジス
タのアスペクト比を調整するシュミットトリガ回路を利
用して、位相比較器ブロックの入力で非常に小さい定常
状態位相誤差を達成する位相同期ループ回路に関する。
ムにおいて非常に重要な基本的要素である。それらは多
くの異なった応用に使用され、例えば、通信チップ間の
スキューを除去したり、ランダム入力データからクロッ
ク信号を再生したり、或いは図9に示すように低周波信
号を高周波信号に逓倍するために使用される。参照番号
1は位相比較器ブロックを示し、2はチャージポンプ回
路ブロックを示し、3はローパスフィルタ(LPF)ブ
ロックを示し、4は電圧制御発振器(VCO)を示し、
5は分周器を示し、6は基準入力端子を示し、7はタイ
ミング(クロック信号)出力端子を示す。
ドの動作波形を図示する。位相比較器ブロック1は基準
入力データ6Aと分周器出力データ5Aとを比較する。
図10において、簡単化するために、それら位相比較は
信号6Aと5Aの立上がり縁でのみ行われるとする。2
つの信号間の位相差は位相比較器1の出力1Aと1Bを
決定する。分周器出力5Aの位相が基準入力信号6Aの
位相より進んでいるとき、位相比較器1は出力1Bで負
パルスのパル列を発生する。これらパルスの幅は6Aと
5A間の位相差に等しい(図10の(a)参照)。逆
に、帰還信号5Aの位相が基準入力信号6Aのそれよも
遅れているとき、位相比較器1は出力1Aで負パルスの
パルス列を生成する。これらパルスの幅は6Aと5A間
の位相差に等しい(図10の(b)参照)。信号6Aと
5A間に位相差がないとき、パルス出力は出力1Aまた
は1Bのいずれで生成されない。この場合を図10の
(c)に現している。位相比較された出力(1A,1
B)は、その後、チャージポンプ回路ブロック2に供給
される。入力信号1Aおよび1Bに依存して、チャージ
ポンプ回路2はローパスフィルタブロック3の入力ノー
ド2Aを充電或いは放電するように働く。信号1Aが
“低”で1Bが“高”のとき、ローパスフィルタブロッ
ク3は充電される。逆に、信号1Aが“高”で1Bが
“低”のとき、ローパスフィルタブロック3は放電され
る。両方の信号1Aおよび1Bとも“高”のとき、チャ
ージポンプ回路ブロック2は不能となり、ローパスフィ
ルタブロックは充電も放電もされない。この場合、ロー
パスフィルタブロックはチャージポンプ回路ブロックお
よび位相比較器ブロックから隔離される。したがって、
図11に示されたチャージポンプ回路は、根本的にはト
ライステート(放電、充電または開放)スイッチであ
る。チャージポンプ回路ブロック2の出力2Aはローパ
スフィルタブロック3によってDC(直流)電圧3Aに
変換される。ローパスフィルタブロック3はPLLすな
わち固有周波数ωn と減衰定数ζの応答特性を決定す
る。VCO4は電圧制御入力3Aと出力クロック信号4
A(Fvco )を持つ。VCO4はバイアス発生器と電流
制御発振器とから成る。VCO出力信号4Aは可変制御
電圧信号3Aに応答して約N×Fref (Nは整数)の範
囲で変化する。クロック信号4Aはそれから分周器5に
よって分周され、帰還信号5A(Ffbk =Fvco /N)
となる。PLL回路の負帰還動作は信号6Aと5A間の
位相差を最小、いわゆる「位相同期状態」ににする。
れる。それはPMOSポンプUPトランジスタMPとN
MOSポンプDOWNトランジスタMNとから成る。M
PとMNのソースはそれぞれVDDとGNDに接続され
ている。両トランジスタのドレインは共に接続されて、
チャージポンプ回路出力信号Vcpを生成する。インバー
タINV1は信号DNに必要な反転を与えて信号DNB
ARを生成し、それはトランジスタMNのゲートを駆動
する。インバータINV2およびINV3は信号UPを
緩衝して信号UP´を生成し、それはトランジスタMP
のゲートを駆動する。位相比較器からのUPおよびDN
信号がそれぞれ“低”および“高”のとき、トランジス
タMPはオンして、ポンプUP電流+IpuをノードVcp
へ送出する。同様に、位相比較器からのUPおよびDN
信号がそれぞれ“高”および“低”のとき、トランジス
タMNはオンして、ポンプDOWN電流−Ipdをノード
Vcpへ送出する。
において、図9における信号6Aと5Aとの間に位相差
はない。従って、両信号UPおよびDNは“高”のまま
で、位相比較器ブロック1からローパスフィルタブロッ
ク3を隔離する。しかしながら、実際には、有限PLL
ループゲインのために、信号6Aと5A間には常にある
位相差が存在する。この間違った位相差ΔΦe はチャー
ジポンプ回路ブロック2に対して調整的なポンプUPま
たはポンプDWON信号を生成させる。これがこの場合
の間、トランジスタMPを流れる平均ポンプアップ電流
IpuはトランジスタMNWO流れる平均ポンプダウン電
流Ipdに等しい。この条件を満足するために、トランジ
スタMPおよびMNはVcp=VDD/2に比例的に比例
される。
ク電圧Vcpの関数としてどのように変化するかを示して
いる。Vcp≒VDD/2に対するIpu=Ipdの間、PL
Lロック電圧VcpがVDD或いはGNDの方へ動くとき
IpuとIpd間の不一致が大きくなる。電流の不一致が大
きくなればなるほど、位相同期でIpu=Ipdの条件を満
足させるために位相比較器の入力で必要な位相誤差オフ
セット(すなわちそれは定常状態位相誤差と呼ばれる)
が大きくなる。ロック電圧Vcpの範囲は、製造時のチッ
プのプロセス条件およびVCO設計に依存する。従来の
NMOS入力VCOは比較的制限されたロック電圧範囲
を持つのに対して、最近提案された相補型VCO(両N
MOS入力とPMOS入力)は非常広いロック電圧範囲
を持つ。従って、VCOのこれら型に使用される従来の
チャージポンプ回路はいっそう大きな定常状態位相誤差
を生成するだろう。
ック再生回路における誤りビット率を増大し、又は2つ
の通信チップ(チップ1はプロセス条件1で製造され、
チップ2はプロセス条件2で製造される)間のスキュー
を増大する。さらに、ほとんどのロック検出器はロック
状態を検出ために位相差を使用するので、この定常状態
位相誤差は間違ったロック検出を起こす。
ての値に対して非常に小さい定常状態位相誤差を達成す
る位相同期ループ回路を必要とする。
は、全体のPLLロック電圧範囲で非常に小さい定常状
態位相誤差を達成するシュミットトリガ回路ブロックを
利用する位相同期ループ回路を提供することにあり、位
相同期ループ回路は、少なくとも1つの位相比較器から
成る位相比較器ブロックであって、位相比較器の各々は
入力基準信号と帰還信号との間の位相差信号を検出する
ためのものである、位相比較器ブロックと、位相比較器
ブロックからの出力信号に応じて充電又は放電を行うチ
ャージポンプ回路ブロックと、チャージポンプ回路ブロ
ックの出力電圧に結合されたローパスフィルタブロック
と、複数のシュミットトリガ回路からなるシュミットト
リガ回路ブロックであって、各シュミットトリガ回路の
ヒステリシスの量はVCO入力電圧の温度および電圧係
数ばかりでなくPLL回路の減衰定数ζに依存し、ヒス
テリシス曲線の中心点はチャージポンプ回路ブロックの
電流電圧特性によってセットされ、シュミットトリガ回
路ブロックの出力はVCO入力電圧に応じて変化する、
シュミットトリガ回路ブロックと、シュミットトリガ回
路ブロックとチャージポンプ回路ブロックとの間に置か
れる制御論理回路ブロックであって、シュミットトリガ
回路ブロックからの出力信号に応じて、チャージポンプ
回路ブロックを構成するトランジスタをオンまたはオフ
することを命じる、制御論理回路ブロックと、ローパス
フィルタブロックの出力によって決定される周波数を持
つ一組の信号を発生するための電圧制御発振器(VC
O)であって、バイアス発生器(BG)と電流制御発振
器(CCO)から成る電圧制御発振器と、VCOの出力
を分周比Nによって分周する分周器であって、その出力
は位相比較器ブロックへ帰還信号として供給される、分
周器と、を備える。
相比較器は入力信号と帰還信号との間の位相差を検出す
る。入力信号と帰還信号との間の位相差に依存して、位
相比較器はチャージポンプ回路にローパスフィルタに対
して充電するか放電するかを命じる。ローパスフィルタ
の出力電圧はVCOの周波数とシュミットトリガ回路の
出力信号の両方を制御する。シュミットトリガ回路ブロ
ック内の各シュミットトリガ回路のヒステリシス曲線の
正および負のしきい値は、チャージポンプ回路ブロック
内のチャージポンプ回路の特性によってセットされる。
ローパスフィルタDC(直流)出力電圧に応答して、シ
ュミットトリガ回路は制御論理回路ブロックに対してチ
ャージポンプ回路内のポンプUPトランジスタおよびポ
ンプDOWNトランジスタをオンまたはオフさせること
を命じる。応用(例えば、周波数シンセサイザやクロッ
ク再生)によって、分周器はVCOと位相比較器との間
の帰還経路に必要とされたり不要とされる。
して詳細に説明する。
ガ回路を利用する位相同期ループ回路が全体のPLLロ
ック電圧範囲で非常に小さい定常状態位相誤差を達成で
きることを保証する。位相同期ループ回路は、位相比較
器ブロックと、チャージポンプ回路ブロックと、ローパ
スフィルタブロックと、シュミットトリガ回路ブロック
と、制御論理回路ブロックと、電圧制御発振器(VC
O)と、分周器とを備えている。
位相比較器から成る。位相比較器の各々は入力基準信号
と分周器からの帰還信号との間の位相差信号を検出する
ためのものである。上記位相差は出力信号として生成さ
れ、それはチャージポンプ回路ブロックに供給される。
器ブロックからの出力信号に応じてローパスフィルタブ
ロックを充電又は放電する。
ンプ回路ブロックの出力電圧を電圧制御発振器(VC
O)とシュミットトリガ回路ブロックに結合する。
ュミットトリガ回路から成る。各シュミットトリガ回路
のヒステリシスの量はVCO入力電圧の温度および電圧
係数ばかりでなくPLL回路の減衰定数ζに依存する。
ヒステリシス曲線の中心点はチャージポンプ回路ブロッ
クの電流電圧特性によってセットされる。シュミットト
リガ回路ブロックの出力はVCO入力電圧に応じて変化
し、制御論理回路に入力として与えられる。
回路ブロックとチャージポンプ回路ブロックとの間に置
かれ、その出力はシュミットトリガ回路ブロックからの
出力信号に応答して変化する。チャージポンプ回路ブロ
ックはPMOSポンプUPトランジスタおよびNMOS
ポンプDOWNトランジスタからなっても良く、その場
合、制御論理回路ブロックの出力信号は、チャージポン
プ回路ブロックに対してそれらトランジスタをオンまた
はオフすることを命じる。
ルタブロックの出力によって決定される周波数を持つ一
組の信号を発生するためのものである。それら一組の信
号は分周器に供給される。電圧制御発振器はバイアス発
生器(BG)と電流制御発振器(CCO)から成る。
分周し、その出力は位相比較器ブロックへ帰還信号とし
て供給される。
期で、チャージポンプ回路内のPMOSポンプUPトラ
ンジスタはローパスフィルタに同じポンプUP電流(I
pu)を送出し、そのNMOSポンプDOWNの片われは
放電(Ipd)する。PLLロック電圧がGNDに近づく
とき、NMOSポンプダウンドランジスタのドレイン−
ソース電圧(Vdsn )は減少し、そのPMOSの片われ
のVsdp (=−Vdsp)電圧は増加する。ゆえに、NM
OSトランジスタがIpu=Ipdの条件を満足するため
に、それはそのPMOS片われよりも長い時間オンし続
けなければならない。同様に、PLLロック電圧がVD
Dに近づくとき、PMOSトランジスタはそのNMOS
片われよりも長い時間オンし続けなければならない。こ
のオン時間の差の結果、位相比較器の入力で大きい定常
状態位相誤差を生じる。本発明によれば、シュミットト
リガ回路が、制御論理回路に対して、PLLロック電圧
に応答してチャージポンプ回路内のトランジスタのアス
ペクト比を変化させることを命じる。ゆえに、位相比較
器の入力での定常状態位相誤差は著しく減少される。
を示す。この図において、参照番号1は位相比較器ブロ
ックを示し、2はチャージポンプ回路ブロックを示し、
3はローパスフィルタブロックを示し、4は電圧制御発
振器を示し、5は分周器を示し、12はシュミットトリ
ガ回路を示し、17は制御論理回路ブロックを示す。
持ち、出力1A,1Bを持つ。基準入力信号は入力6A
に加えられる。分周したクロック信号(Fvco /N)は
5Aに加えられる。位相比較器ブロック1は、6Aの位
相が5Aのそれよりも進んでいるとき、ポンプUP出力
1Aで信号を発生するように働く。同様に、位相比較器
ブロック1は、6Aの位相が5Aのそれよりも遅れてい
るとき、ポンプDOWN出力1Bを発生するように働
く。
P入力1A、ポンプDOWN入力1B、および制御入力
13〜16を持つ。チャージポンプ回路ブロック2は、
出力信号1Aおよび1B間の位相差に依存してローパス
フィルタブロック3の入力ノード2Aを充電または放電
するように働く。信号2Aはローパッスフィルタブロッ
ク3によってDC(直流)出力電圧3Aを生成するため
にフィルタされる。後者はシュミットトリガ回路ブロッ
ク12とVCO4の両方に加えられる。
のシュミットトリガ回路12Aと第2のシュミットトリ
ガ回路12Bから成る。制御入力3Aは第1のシュミッ
トトリガ回路12Aの出力信号Bを決定する。後者は正
および負のしきい値Vref1+とVref1- を持つ。Vref1
=(Vref1+ +Vref1- )/2はチャージポンプ回路ブ
ロック2内のMOSトランジスタMN1およびMP1の
電流電圧特性に依存する。(Vref1+ −Vref1- )は信
号3Aの温度および電圧係数ばかりでなくPLLの減衰
定数ζに依存する。同様に、制御入力3Aは第2のシュ
ミットトリガ回路12Bの出力信号Aを決定する。後者
は正および負のしきい値Vref2+ とVref2- を持つ。V
ref2=(Vref2+ +Vref2- )/2はチャージポンプ回
路ブロック2内のMOSトランジスタMN1およびMP
1の電流電圧特性に依存する。(Vref2+ −Vref2- )
は信号3Aの温度および電圧係数ばかりでなくPLLの
減衰定数ζに依存する。
ータ17Aおよび17Bから成る。第1のシュミットト
リガ回路12Aの出力は制御出力信号13(B)を規定
し、それはインバータ17Aの入力に接続されている。
第2のシュミットトリガ回路12Bの出力は制御出力信
号15(A)を規定し、それはインバータ17Bの入力
に接続されている。インバータ17Aおよび17Bの出
力はそれぞれ制御出力信号14および16を規定する。
Aの周波数を決定する。VCO4はバイアス発生器(B
G)4Aと電流制御発振器(CCO)4Bから成る。分
周器5はVCO4と位相比較器ブロック1との間に置か
れている。分周器5は入力4Aと出力信号5Aとを持
ち、出力信号は位相比較器ブロック1に帰還信号として
加えられる。
インバータ(8A,8B)、インバータ9、スイッチバ
ンク(スイッチ10A〜10H)、全振れバッファイン
バータ(11A〜11H)、およびポンプトランジスタ
(MP1,MN1,MP1,MN2)から成る。バッフ
ァインバータ8Aおよび8Bは位相比較器ブロック1か
らの信号1Aをバッファして、スイッチ10Bおよび1
0Fに供給する。同様に、インバータ9は位相比較器ブ
ロック1からの信号1Bをバッファおよび必要な反転を
与えて、スイッチ10C〜10Gに供給する。図2にお
ける一例のスイッチはPMOSトランジスタに並列に接
続されたNMOSトランジスタから成る。ポンプトラン
ジスタMP1,MN1,MP2,NN2のゲートがオン
したときに全VDD電圧に振れることを保証するため
に、全振れバッファインバータ(11A〜11H)がス
イッチバンクとポンプトランジスタのゲートとの間に置
かれている。制御論理回路ブロック17からスイッチ1
0A〜10Hに加えられる制御入力13〜16は、任意
のある時間でどのスイッチおよびゆえにどのポンプトラ
ンジスタをオンするかを決定する。
がオフのとき、VDDに等しい電圧がポンプUPトラン
ジスタMP1に加えれ、それによってそれをオフする。
対照的に、スイッチ10Aがオフで、スイッチ10Bが
オンのとき、信号1AはポンプUPトランジスタMP1
のゲートにバッファされる。信号1Aが論理“高”レベ
ルから論理“低”レベルになるとき、トランジスタMP
1はオンして、ノード2AをポンプUP電流Ipu1 で充
電する。Ipu1 はノード2Aでの電圧Vcpの変化に対し
て図3にプロットされている。Ipu1 はVcp=|Vdsp
|=VDDの場合に最大で、Vcp=|Vdsp |=GND
の場合に零に等しい。
がオフのとき、信号1Bは反転されて、ポンプDOWN
トランジスタMN1のゲートにバッファされる。信号1
Bが論理“高”レべルから論理“低”レベルになると
き、トランジスタNM1はオンしてノード2Aをポンプ
DOWN電流Ipd1 によって放電する。Ipd1 はノード
2Aでの電圧Vcpの変化に対して図3にプロットされて
いる。Ipd1 はVcp=Vdsn =GNDの場合に零に等し
く、Vcp=Vdsn =GNDの場合に最大である。対照的
に、スイッチ10Cがオフで、スイッチ10Dがオンの
とき、GNDがポンプDOWNトランジスタMN1のゲ
ートに加えられ、それによってそれをオフする。
がオフのとき、VDDに等しい電圧がポンプUPトラン
ジスタMP2に加えれ、それによってそれをオフする。
対照的に、スイッチ10Eがオフで、スイッチ10Fが
オンのとき、信号1AはポンプUPトランジスタMP2
のゲートにバッファされる。信号1Aが論理“高”レベ
ルから論理“低”レベルになるとき、トランジスタMP
2はオンして、ノード2AをポンプUP電流Ipu2 で充
電する。Ipu2 はノード2Aでの電圧Vcpの変化に対し
て図3にプロットされている。Ipu2 (<Ipu1 )はV
cp=|Vdsp |=VDDの場合に最大で、Vcp=|V
dsp |=GNDの場合に零に等しい。
がオフのとき、信号1Bは反転されて、ポンプDOWN
トランジスタMN2のゲートにバッファされる。信号1
Bが論理“高”レべルから論理“低”レベルになると
き、トランジスタNM2はオンしてノード2Aをポンプ
DOWN電流Ipd2 によって放電する。Ipd2 はノード
2Aでの出力電圧Vcpの変化に対して図3にプロットさ
れている。Ipd2 はVcp=Vdsn =GNDの場合に零に
等しく、Vcp=Vdsn =GNDの場合に最大(Ipd2 <
Ipd1 )である。対照的に、スイッチ10Gがオフで、
スイッチ10Hがオンのとき、GNDがポンプDOWN
トランジスタMN2のゲートに加えられ、それによって
それをオフする。
A(Vcnt )に応答して変化する。Vcp<Vref1のと
き、第1のシュミットトリガ回路の出力は“高”(B=
“1”)で、第2のシュミットトリガ回路の出力は
“低”(A=“0”)である。この場合において、スイ
ッチ10A,10C,10F,10Hはオンで、スイッ
チ10B,10D,10E,10Gはオフである。ゆえ
にPLLロック電圧Vcnt =VcpがGNDに近いとき、
トランジスタMN1,MP2はオンで、MN2,MP1
はオフである。その結果として、ノード2Aは電流I
pu2 によって充電され、電流Ipd1 によって放電され
る。図3において、Ipu2 はGND≦Vcp≦VCP-の場
合にIpd1 より明らかに大きい。この領域でロックする
PLLは大きい定常状態位相誤差を持つけれども、この
誤差は従来の場合よりも小さい。何故ならば、電流I
pu1 に対立するものとしての電流Ipu2 がIpd1 と比較
されるからである。Vcp- <Vcp<Vref1の場合、I
pd1 とIpu2 はほぼ等しい。その結果としてこの領域で
は、定常状態位相誤差が小さい。
ミットトリガ回路の出力は“低”(A=B=“0”)で
ある。この場合において、スイッチ10B,10C,1
0E,10Hはオンし、スイッチ10A,10D,10
F,10Gはオフである。それゆえにPLLロック電圧
Vcnt =VcpがVDD/2のまわりに集中されていると
き、トランジスタMN1,MP1はオンし、MP2,M
N2はオフする。その結果として、ノード2Aは電流I
pu1 によって充電され、電流Ipd1 によって放電され
る。図3のこの領域において、Ipu1 とIpd1 はほぼ等
しく、それゆえに、定常状態位相誤差は小さい。
リガ回路の出力は“低”(B=“0”で、第2のシュミ
ットトリガ回路の出力は“高”(A=“1”)である。
この場合において、スイッチ10B,10D,10E,
10Gはオンで、スイッチ10A,10C,10F,1
0Hはオフである。それゆえにPLLロック電圧Vcnt
=VcpがVDDに近いとき、トランジスタMP1,MN
2はオンで、MN1,MP2はオフである。その結果と
して、ノード2Aは電流Ipu1 によって充電され、電流
Ipd2 によって放電される。Vref2≦Vcp≦Vcp+ の場
合、Ipu1 とIpd2 はほぼ等しい。それゆえにこの領域
において、定常状態位相誤差は小さい。Vcp+ ≦Vcp≦
VDDの場合、Ipd2 はIpd1 より明らかに大きい。こ
の領域でロックするPLLは大きい定常状態位相誤差を
持つけれども、この誤差は従来の場合におけるものより
も小さい。何故ならば、電流Ipd1 に対立するものとし
ての電流Ipd2 はIpu1 と比較されるからである。図3
におけるVcp- ≦Vcp≦Vcp+ はPLLが小さい定常状
態位相誤差を達成することができるロック電圧の範囲を
表している。本発明の範囲を逸脱しない範囲内で、当業
者によって、図3に示されるよりもより広い範囲で小さ
い定常状態位相誤差を達成するPLL回路を容易に達成
することは明らかだろう(図8を参照)。
回路の他の実施例を示す。この実施例は、第1のチャー
ジポンプ回路内のポンプトランジスタがすべての時間で
オンしていることが、図2のものから異なっている。シ
ュミットトリガ回路ブロックの出力に依存して、第2の
チャージポンプ回路内の2つのポンプトランジスタの一
方がオンして、第1のチャージポンプ回路内のMOSト
ランジスタ間のバランスを改善している。PLLロック
電圧がGNDに近いとき、第2のチャ−ジポンプ回路内
のNMOSポンプDOWNトランジスタはオンされる。
同様に、PLLロック電圧がVDDに近いとき、第2の
チャージポンプ回路内のPMOSポンプトランジスタが
オンされる。それゆえ、この実施例はポンプ回路を減ら
すことなく、小さい定常状態位相誤差を達成する。対照
的に、図2に示された実施の形態は、ポンプ回路を減ら
すことによって小さい定常状態位相誤差を達成する。
回路の他の実施例を示す。この実施の形態は、電流源が
ポンプトランジスタ(NMOSおよびPMOS)のソー
スとそれらそれぞれの電源(それぞれ、GNDおよびV
DD)との間に置かれていることで、図4のものから異
なっている。この実施例は、わずかな領域をオーバヘッ
ドのみで、図4に示された実施例よりもより小さい定常
状態位相誤差を達成する。
のと同じ)は既に詳細に説明した。図7に示される実施
例は、電流源がポンプトランジスタ(NMOSおよびP
MOS)のソースとそれらそれぞれの電源(それぞれ、
GNDおよびVDD)との間に置かれていることで、図
6のものから異なっている。この実施例は、わずかな領
域をオーバヘッドのみで、図6に示された実施例よりも
より小さい定常状態位相誤差を達成する。
期ループ回路がPLLロック電圧にかかわりなく非常に
小さい定常状態位相誤差を発生することを保証する。
すブロック図である。
実施例を示すブロック図である。
す図である。
の実施例を示すブロック図である。
っと他の実施例を示すブロック図である。
の実施例を示すブロック図である。
っと別の実施例を示すブロック図である。
る。
動作波形を示す図である。
るチャージポンプ回路を示す図である。
(PLLロック電圧に依存して)大きい定常状態位相誤
差をもつ理由を図示した図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 シュミットトリガ回路を利用して非常に
小さい定常状態位相誤差を達成する位相同期ループ回路
(PLL回路)において、 少なくとも1つの位相比較器から成る位相比較器ブロッ
クであって、前記位相比較器の各々は入力基準信号と帰
還信号との間の位相差信号を検出するためのものであ
る、前記位相比較器ブロックと、 前記位相比較器ブロックの出力信号に応じて充電又は放
電を行うチャージポンプ回路ブロックと、 該チャージポンプ回路ブロックの出力電圧に結合された
ローパスフィルタブロックと、 複数のシュミットトリガ回路からなるシュミットトリガ
回路ブロックであって、各シュミットトリガ回路のヒス
テリシスの量はVCO入力電圧の温度および電圧係数ば
かりでなくPLL回路の減衰定数ζに依存し、ヒステリ
シス曲線の中心点はチャージポンプ回路ブロックの電流
電圧特性によってセットされ、シュミットトリガ回路ブ
ロックの出力はVCO入力電圧に応じて変化する、前記
シュミットトリガ回路ブロックと、 シュミットトリガ回路ブロックとチャージポンプ回路ブ
ロックとの間に置かれる制御論理回路ブロックであっ
て、その出力信号はシュミットトリガ回路ブロックの出
力信号に応じて変化して、前記チャージポンプ回路ブロ
ックを構成するトランジスタをオンまたはオフすること
を命じる、前記制御論理回路ブロックと、 前記ローパスフィルタブロックの出力によって決定され
る周波数を持つ一組の信号を発生するための電圧制御発
振器(VCO)であって、バイアス発生器(BG)と電
流制御発振器(CCO)とから成る前記電圧制御発振器
と、 VCOの出力を分周比Nによって分周する分周器であっ
て、その出力は前記位相比較器ブロックに前記帰還信号
として供給される、前記分周器と、を備えた位相同期ル
ープ回路。 - 【請求項2】 前記位相比較器ブロックは単一の位相比
較器から成り、該単一の位相比較器は第1の入力、第2
の入力、第1の出力、および第2の出力を持ち、 前記チャージポンプ回路ブロックは、第1のチャージポ
ンプ回路と第2のチャージポンプ回路から成り、 前記第1のチャージポンプ回路は、 ゲート電圧が論理“高”レベルから論理“低”レベルに
なるときに前記ローパスフィルタを充電するPMOSポ
ンプUPトランジスタであって、そのソースはVDD電
源に接続され、そのドレインは前記ローパスフィルタブ
ロックの入力に接続された、前記PMOSポンプUPト
ランジスタと、 ゲート電圧が論理“低”レベルから論理“高”レベルに
なるときに前記ローパスフィルタを放電するNMOSポ
ンプDOWNトランジスタであって、そのソースはGN
Dに接続され、そのドレインは前記ローパスフィルタブ
ロックの入力に接続された、前記NMOSポンプDOW
Nトランジスタと、 前記位相比較器の第1の出力から前記PMOSポンプU
Pトランジスタのゲートへ信号をバッファするバッファ
インバータと、 前記位相比較器の第1の出力から前記NMOSポンプD
OWNトランジスタのゲートへ信号を反転して駆動する
インバータとから成り、 前記第2のチャージポンプ回路は、 ゲート電圧が論理“高”レベルから論理“低”レベルに
なるときに前記ローパスフィルタブロックを充電するP
MOSポンプUPトランジスタであって、そのソースは
前記VDD電源に接続され、そのドレインは前記ローパ
スフィルタブロックの入力に接続された、前記PMOS
ポンプUPトランジスタと、 ゲート電圧が論理“低”レベルから論理“高”レベルに
なるときに前記ローパスフィルタブロックを放電するN
MOSポンプDOWNトランジスタであって、そのソー
スはGNDに接続され、そのドレインは前記ローパスフ
ィルタブロックの入力に接続された、前記NMOSポン
プDOWNトランジスタとから成り、 前記シュミットトリガ回路ブロックは第1のシュミット
トリガ回路と第2のシュミットトリガ回路から成り、 前記第1のシュミットトリガ回路は、Vref1+ で正しき
い値をVref1- で負しきい値を持ち、(Vref1+ −V
ref1- )はVCO入力電圧の温度および電圧特性ばかり
でなくPLL回路の減衰定数ζに依存し、Vref1=(V
ref1+ +Vref1- )/2は第1のチャージポンプ回路に
おけるトランジスタの電流電圧特性によって決定され、
Vref1はVDDよりもGNDに近く、 前記第2のシュミットトリガ回路は、Vref2+ で正しき
い値をVref2- で負しきい値を持ち、(Vref2+ −V
ref2- )はVCO入力電圧の温度および電圧特性ばかり
でなくPLL回路の減衰定数ζに依存し、Vref2=(V
ref2+ +Vref2- )/2は第1のチャージポンプ回路に
おけるトランジスタの電流電圧特性によって決定され、
Vref2はGNDよりもVDDに近く、 前記制御論理回路は2入力NANDゲートと2入力AN
Dゲートから成り、前記ANDゲートの第1の入力は前
記第2のシュミットトリガ回路の出力に接続され、前記
NANDゲートの第2の入力は前記位相比較器の第1の
出力の反転信号に接続され、前記ANDゲートの第1の
入力は前記第1のシュミットトリガ回路の出力に接続さ
れ、前記ANDゲートの第2の入力は前記位相比較器の
第2の出力の反転信号に接続され、前記NANDゲート
の出力は前記第2のチャージポンプ回路内のPMOSポ
ンプUPトランジスタのゲートに接続され、前記AND
ゲートの出力は前記第2のチャージオンプ回路内のNM
OSポンプDOWNトランジスタのゲートに接続されて
いる請求項1に記載の位相同期ループ回路。 - 【請求項3】 前記ポンプトランジスタ(NMOSおよ
びPMOS)とそれらの各々の電源(それぞれGNDお
よびVDD)との間に電流源をさらに有する、請求項1
に記載の位相同期ループ回路。 - 【請求項4】 前記チャージポンプ回路は、スイッチバ
ンクと全振れバッファインバータとをさらに有し、 前記スイッチのゲートは前記制御論理回路の出力によっ
て制御され、前記スイッチは、ある時間でPMOSポン
プUPトランジスタとNMOSポンプDOWNトランジ
スタのどれをオンするかを制御し、 前記全振れバッファインバータは前記スイッチとPMO
SポンプUPトランジスタおよびNMOSポンプDOW
Nトランジスタの両方のゲートとの間に置かれて、それ
らトランジスタが全VDD論理振れをするのを保証し、 前記制御論理回路は第1の入力、第2の入力、第1の出
力、第2の出力、第3の出力、第4の出力を持ち、該制
御論理回路は第1のインバータと第2のインバータとか
ら成り、前記第1のインバータは前記第1のシュミット
トリガ回路の出力と前記制御論理回路の第1の出力とに
接続され、前記第2のインバータの入力は前記第2のシ
ュミットトリガ回路の出力と前記制御論理回路の第3の
出力とに接続され、前記第1のインバータの出力は前記
制御論理回路の第2の入力に接続され、前記第2のイン
バータの出力は前記制御論理回路の第4の出力に接続さ
れている請求項2に記載の位相同期ループ回路。 - 【請求項5】 前記ポンプトランジスタ(NMOSおよ
びPMOS)とそれら各電源(それぞれGNDおよびV
DD)との間に電流源をさらに有する請求項4に記載の
位相同期ループ回路。 - 【請求項6】 前記VCOと前記位相比較器との間の前
記分周器を取り除き、前記VCOの出力は、直接、前記
位相比較器ブロックの前記帰還信号に接続されている、
請求項1〜5のいずれか1つに記載の位相同期ループ回
路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9140289A JP3055607B2 (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | シュミットトリガ回路を利用した位相同期ループ回路 |
US09/086,225 US6043695A (en) | 1997-05-29 | 1998-05-28 | Phase locked loop using a schmitt trigger block |
DE69835393T DE69835393T2 (de) | 1997-05-29 | 1998-05-29 | Phasenregelschleife mit einer Schmitt-Trigger-Stufe |
EP98109854A EP0881774B1 (en) | 1997-05-29 | 1998-05-29 | Phase locked loop using a Schmitt trigger block |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9140289A JP3055607B2 (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | シュミットトリガ回路を利用した位相同期ループ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10336021A true JPH10336021A (ja) | 1998-12-18 |
JP3055607B2 JP3055607B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=15265333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9140289A Expired - Fee Related JP3055607B2 (ja) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | シュミットトリガ回路を利用した位相同期ループ回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6043695A (ja) |
EP (1) | EP0881774B1 (ja) |
JP (1) | JP3055607B2 (ja) |
DE (1) | DE69835393T2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001095492A1 (fr) * | 2000-06-05 | 2001-12-13 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dispositif synchrone |
KR100498107B1 (ko) * | 2002-08-19 | 2005-07-01 | 이디텍 주식회사 | 위상제어회로의 지터 특성 개선 회로 |
Families Citing this family (66)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3328574B2 (ja) | 1998-03-25 | 2002-09-24 | 日本碍子株式会社 | 加速度センサ素子、加速度センサ及びこれらの製造方法 |
JPH11298323A (ja) * | 1998-04-16 | 1999-10-29 | Nec Yamagata Ltd | 高速ロックアップpll回路 |
US6385265B1 (en) * | 1998-08-04 | 2002-05-07 | Cypress Semiconductor Corp. | Differential charge pump |
KR100313498B1 (ko) * | 1998-12-17 | 2001-12-12 | 김영환 | 동기검출회로를사용한피엘엘 |
US7103425B1 (en) * | 1999-01-08 | 2006-09-05 | Lexmark International, Inc. | Method of regulating a target system using a frequency comparison of feedback and reference pulse trains |
US6204705B1 (en) | 1999-05-28 | 2001-03-20 | Kendin Communications, Inc. | Delay locked loop for sub-micron single-poly digital CMOS processes |
US6512411B2 (en) * | 1999-08-05 | 2003-01-28 | Maxim Integrated Products, Inc. | Charge pump mode transition control |
US6304115B1 (en) * | 2000-07-19 | 2001-10-16 | Marconi Communications, Inc. | Phase locked loop having DC bias circuitry |
US6456165B1 (en) | 2000-08-18 | 2002-09-24 | International Business Machines Corporation | Phase error control for phase-locked loops |
US8149048B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-04-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for programmable power management in a programmable analog circuit block |
US6724220B1 (en) | 2000-10-26 | 2004-04-20 | Cyress Semiconductor Corporation | Programmable microcontroller architecture (mixed analog/digital) |
US8160864B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-04-17 | Cypress Semiconductor Corporation | In-circuit emulator and pod synchronized boot |
US8176296B2 (en) | 2000-10-26 | 2012-05-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable microcontroller architecture |
US8103496B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-01-24 | Cypress Semicondutor Corporation | Breakpoint control in an in-circuit emulation system |
US7765095B1 (en) | 2000-10-26 | 2010-07-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Conditional branching in an in-circuit emulation system |
WO2002060063A1 (en) * | 2001-01-26 | 2002-08-01 | True Circuits, Inc. | Self-biasing phase-locked loop system |
US20020176188A1 (en) * | 2001-05-25 | 2002-11-28 | Infineon Technologies N.A. Inc. | Offset cancellation of charge pump based phase detector |
DE10132230C2 (de) | 2001-06-29 | 2003-08-28 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Taktausgangssignales |
US6472915B1 (en) * | 2001-09-19 | 2002-10-29 | Cypress Semiconductor Corp. | Method for charge pump tri-state and power down/up sequence without disturbing the output filter |
US7406674B1 (en) | 2001-10-24 | 2008-07-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and apparatus for generating microcontroller configuration information |
US8078970B1 (en) | 2001-11-09 | 2011-12-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Graphical user interface with user-selectable list-box |
US8042093B1 (en) | 2001-11-15 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | System providing automatic source code generation for personalization and parameterization of user modules |
US6971004B1 (en) | 2001-11-19 | 2005-11-29 | Cypress Semiconductor Corp. | System and method of dynamically reconfiguring a programmable integrated circuit |
US7844437B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-11-30 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for performing next placements and pruning of disallowed placements for programming an integrated circuit |
US7770113B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-08-03 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for dynamically generating a configuration datasheet |
US8069405B1 (en) | 2001-11-19 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | User interface for efficiently browsing an electronic document using data-driven tabs |
US7774190B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-08-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Sleep and stall in an in-circuit emulation system |
US20040135640A1 (en) * | 2002-01-28 | 2004-07-15 | Maneatis John G. | Phase-locked loop with conditioned charge pump output |
US8103497B1 (en) | 2002-03-28 | 2012-01-24 | Cypress Semiconductor Corporation | External interface for event architecture |
US7308608B1 (en) | 2002-05-01 | 2007-12-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Reconfigurable testing system and method |
US7078977B2 (en) * | 2002-09-06 | 2006-07-18 | True Circuits, Inc. | Fast locking phase-locked loop |
US7761845B1 (en) | 2002-09-09 | 2010-07-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Method for parameterizing a user module |
US7295049B1 (en) | 2004-03-25 | 2007-11-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and circuit for rapid alignment of signals |
KR100642441B1 (ko) * | 2004-04-19 | 2006-11-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 제어 회로 |
US20060012357A1 (en) * | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Toppoly Optoelectronics Corp. | DC/DC converter |
US8069436B2 (en) | 2004-08-13 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Providing hardware independence to automate code generation of processing device firmware |
US8286125B2 (en) | 2004-08-13 | 2012-10-09 | Cypress Semiconductor Corporation | Model for a hardware device-independent method of defining embedded firmware for programmable systems |
US7332976B1 (en) | 2005-02-04 | 2008-02-19 | Cypress Semiconductor Corporation | Poly-phase frequency synthesis oscillator |
US7400183B1 (en) | 2005-05-05 | 2008-07-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Voltage controlled oscillator delay cell and method |
US8089461B2 (en) | 2005-06-23 | 2012-01-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch wake for electronic devices |
US8112054B2 (en) * | 2005-09-26 | 2012-02-07 | Cypress Semiconductor Corporation | Tri-stating a phase locked loop to conserve power |
US7239188B1 (en) * | 2005-11-01 | 2007-07-03 | Integrated Device Technology, Inc. | Locked-loop integrated circuits having speed tracking circuits therein |
US8085067B1 (en) | 2005-12-21 | 2011-12-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Differential-to-single ended signal converter circuit and method |
US7777541B1 (en) | 2006-02-01 | 2010-08-17 | Cypress Semiconductor Corporation | Charge pump circuit and method for phase locked loop |
KR100719693B1 (ko) * | 2006-02-15 | 2007-05-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | Pvt 변화에 둔감하게 안정적으로 동작하는 pll 및 그동작 방법 |
US8067948B2 (en) | 2006-03-27 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Input/output multiplexer bus |
US9564902B2 (en) | 2007-04-17 | 2017-02-07 | Cypress Semiconductor Corporation | Dynamically configurable and re-configurable data path |
US8130025B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-03-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Numerical band gap |
US7737724B2 (en) | 2007-04-17 | 2010-06-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Universal digital block interconnection and channel routing |
US8516025B2 (en) | 2007-04-17 | 2013-08-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Clock driven dynamic datapath chaining |
US8040266B2 (en) | 2007-04-17 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable sigma-delta analog-to-digital converter |
US8026739B2 (en) | 2007-04-17 | 2011-09-27 | Cypress Semiconductor Corporation | System level interconnect with programmable switching |
US8092083B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-01-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Temperature sensor with digital bandgap |
US9720805B1 (en) | 2007-04-25 | 2017-08-01 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for controlling a target device |
US8266575B1 (en) | 2007-04-25 | 2012-09-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Systems and methods for dynamically reconfiguring a programmable system on a chip |
US8065653B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Configuration of programmable IC design elements |
US8049569B1 (en) | 2007-09-05 | 2011-11-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Circuit and method for improving the accuracy of a crystal-less oscillator having dual-frequency modes |
US9448964B2 (en) | 2009-05-04 | 2016-09-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Autonomous control in a programmable system |
JP5389524B2 (ja) * | 2009-05-14 | 2014-01-15 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 遅延回路 |
JP5836605B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2015-12-24 | スパンション エルエルシー | Pll |
US20130111914A1 (en) * | 2011-04-27 | 2013-05-09 | Champion Aerospace Llc | Aircraft ignition system and method of operating the same |
US11610105B2 (en) | 2019-04-17 | 2023-03-21 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Systems and methods for harnessing analog noise in efficient optimization problem accelerators |
CN110855291B (zh) * | 2019-10-07 | 2024-05-03 | 珠海一微半导体股份有限公司 | 一种应用于锁相环系统的锁相加速电路及锁相环系统 |
CN110932721A (zh) * | 2019-12-04 | 2020-03-27 | 河北新华北集成电路有限公司 | 锁相环锁定指示电路及锁相环 |
CN112671397B (zh) * | 2021-01-13 | 2023-06-09 | 河南科技大学 | 辅助锁相环加速充电的开关控制逻辑电路及锁相环电路 |
CN113082502B (zh) * | 2021-04-06 | 2022-10-04 | 武汉光燚激光科技有限公司 | 超声波皮肤治疗仪 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58201478A (ja) * | 1982-05-20 | 1983-11-24 | Pioneer Video Kk | Pll回路の同期非同期状態検出回路 |
US5274338A (en) * | 1990-02-05 | 1993-12-28 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Integrated FM detector including an oscillator having a capacitor and Schmitt trigger |
US5285114A (en) * | 1992-08-17 | 1994-02-08 | Codex Corp. | Phase lock loop charge pump with symmetrical charge and discharge currents |
US5372046A (en) * | 1992-09-30 | 1994-12-13 | Rosemount Inc. | Vortex flowmeter electronics |
EP0647032A3 (en) * | 1993-10-05 | 1995-07-26 | Ibm | Charge pump circuit with symmetrical current output for phase-controlled loop system. |
US5576647A (en) * | 1995-06-22 | 1996-11-19 | Marvell Technology Group, Ltd. | Charge pump for phase lock loop |
-
1997
- 1997-05-29 JP JP9140289A patent/JP3055607B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-05-28 US US09/086,225 patent/US6043695A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-29 DE DE69835393T patent/DE69835393T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-29 EP EP98109854A patent/EP0881774B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001095492A1 (fr) * | 2000-06-05 | 2001-12-13 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dispositif synchrone |
US6812754B1 (en) | 2000-06-05 | 2004-11-02 | Renesas Technology Corp. | Clock synchronizer with offset prevention function against variation of output potential of loop filter |
KR100498107B1 (ko) * | 2002-08-19 | 2005-07-01 | 이디텍 주식회사 | 위상제어회로의 지터 특성 개선 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69835393T2 (de) | 2007-08-09 |
US6043695A (en) | 2000-03-28 |
EP0881774A2 (en) | 1998-12-02 |
JP3055607B2 (ja) | 2000-06-26 |
DE69835393D1 (de) | 2006-09-14 |
EP0881774B1 (en) | 2006-08-02 |
EP0881774A3 (en) | 1999-06-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3055607B2 (ja) | シュミットトリガ回路を利用した位相同期ループ回路 | |
US6586976B2 (en) | Charge pump circuit for improving switching characteristics and reducing leakage current and phase locked loop having the same | |
US5304955A (en) | Voltage controlled oscillator operating with digital controlled loads in a phase lock loop | |
JP2845185B2 (ja) | Pll回路 | |
US7893725B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
US7602253B2 (en) | Adaptive bandwidth phase locked loop with feedforward divider | |
US7271619B2 (en) | Charge pump circuit reducing noise and charge error and PLL circuit using the same | |
KR100429127B1 (ko) | 클럭 동기 장치 | |
US6229362B1 (en) | Charge pump for adaptively controlling current offset | |
US6040742A (en) | Charge-pump phase-locked loop with DC current source | |
JP3119205B2 (ja) | Pll回路 | |
US6496554B1 (en) | Phase lock detection circuit for phase-locked loop circuit | |
JPH03235512A (ja) | 電圧制御発振回路 | |
US6914490B2 (en) | Method for clock generator lock-time reduction during speedstep transition | |
US6157691A (en) | Fully integrated phase-locked loop with resistor-less loop filer | |
US9490824B1 (en) | Phase-locked loop with frequency bounding circuit | |
US20030038661A1 (en) | Apparatus to decrease the spurs level in a phase-locked loop | |
KR100711103B1 (ko) | 적응형 3상태 위상 주파수 검출기 및 검출방법과 이를이용한 위상동기루프 | |
US6819187B1 (en) | Limit swing charge pump and method thereof | |
JP2000134092A (ja) | 位相同期ループ回路および電圧制御型発振器 | |
US6894569B2 (en) | High-performance charge pump for self-biased phase-locked loop | |
KR100510504B1 (ko) | 차동 전하펌프 및 이를 구비하는 위상 동기 루프 | |
JP4105087B2 (ja) | 差動電荷ポンプ及び方法、並びにこれを利用した位相同期ループ及び方法 | |
JP4343246B2 (ja) | 周波数シンセサイザおよびこれに用いるチャージポンプ回路 | |
US20130342247A1 (en) | Capactive load pll with calibration loop |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000315 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080414 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090414 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100414 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110414 Year of fee payment: 11 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110414 Year of fee payment: 11 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120414 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120414 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130414 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140414 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |