JPH10202204A - 不良検出装置及び不良物除去装置 - Google Patents

不良検出装置及び不良物除去装置

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JPH10202204A
JPH10202204A JP9009111A JP911197A JPH10202204A JP H10202204 A JPH10202204 A JP H10202204A JP 9009111 A JP9009111 A JP 9009111A JP 911197 A JP911197 A JP 911197A JP H10202204 A JPH10202204 A JP H10202204A
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紳一 北野
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祐一 山崎
Hideji Sonoda
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の蛍光灯ランプ等の光源に比べて、運転
開始後の照明光量の変動及び長期間使用時における照明
光源の劣化による光量低下を極力抑制して、装置の作業
性及び保守性を改善する。 【解決手段】 粒状体群kを検査対象物として、検査対
象物の予定存在箇所JがLED発光素子4aを備えた照
明光源4にて照明され、その照明された検査対象物の予
定存在箇所Jからの検出光を受光した受光手段5A,5
Bの情報に基づいて、粒状体群kにおける各粒状体の良
否又は粒状体群内に混入した異物の存否が判別される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として、粒状体群における不良物を検出するための
不良検出装置、及び、その不良検出装置にて検出された
不良物を除去する不良物除去装置に関する。
【0002】
【従来の技術】上記不良検出装置では、所定経路に沿っ
て移送される、例えば玄米や精米等の粒状体群を蛍光灯
等の光源にて照明しながら、その照明光が粒状体群で反
射又は透過した光をフォトセンサ等の受光手段で受光
し、その受光レベルが予め設定した適正光量範囲内であ
れば正常な米粒と判定する一方で、適正光量範囲を外れ
ると、着色した不良米等や石・プラスチック等の不良物
が混入していると判定していた(例えば、特開平2‐2
1980号公報参照)。そして、上記不良物は、検出位
置よりも経路下流側箇所において、噴射ノズル等によっ
て正常粒から分離して除去される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、照明の手段として蛍光灯やハロゲンランプ
を使用しており、それにより下記の不具合が生じてい
る。 (1)蛍光灯やハロゲンランプは出荷後一定時間使用す
ると光量劣化が大きくなって、新しいランプに取り替え
る必要があり、装置の使用や保守の両面において不便で
また手間がかかる。また簡便に取り替えるための機構が
必要となり装置の構造上複雑かつコストアップになる。
特に、本発明が対象とする不良物除去装置は、精密光学
系や照明手段を備えた他の装置(例えばイメージスキャ
ナ)等に比べて、製品寿命年数に占める照明手段の点灯
時間が長く、製品のライフサイクルの中でしばしば照明
手段の交換が余儀なくされる性質を持っている。そのた
め、簡便に取り替えできる機構でありながら、光軸のず
れ等を許さない堅牢な取り替え機構を必要としていた。 (2)蛍光灯やハロゲンランプは、その経年変化による
光量の変化以外に、周囲温度等により光量が変化し、点
灯開始後検査を行う前に暖気運転の必要がある。特に蛍
光灯は低温条件下では光量ダウンが激しく特に考慮する
必要がある。 (3)特にライン状の照明手段(例えば蛍光灯)はその
両端が暗くなるため、検査対象領域の長手方向の長さ以
上の幅を必要とする。
【0004】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は前記不具合を解消させることにあ
る。すなわち、照明光量の安定が図られると同時に、従
来保守部品として取り替えることを前提としていたのに
対して、保守の必要がなくなって、装置の使用と保守の
両面での煩わしさがなくなることと、装置の機構の簡素
化ができることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、粒状
体群を検査対象物として、検査対象物の予定存在箇所が
LED発光素子にて照明され、その照明された検査対象
物の予定存在箇所からの検出光を受光した受光情報に基
づいて、粒状体群における各粒状体の良否又は粒状体群
内に混入した異物の存否が判別される。
【0006】従って、照明光源がLED発光素子で構成
されるので、従来の蛍光灯ランプ等に比べて、点灯開始
から短時間で光量が安定するとともに、低温条件での極
端な光量ダウンもなく、又、長期間使用しても蛍光灯ラ
ンプのように光量劣化が大きくなることもないので、出
荷後に取り換える必要がなくなって、装置の使用及び保
守の両面において優れると同時に、装置の機構の簡素化
も実現した不良検出装置が得られる。
【0007】請求項2によれば、請求項1において、長
手状に形成された予定存在箇所の長手方向に沿って並置
された複数のLED発光素子によって、長手状の予定存
在箇所が照明され、前記長手状の予定存在箇所の長手方
向に沿って分解能を備えた受光手段にて所定分解能の受
光情報が取り出され、その所定分解能の受光情報に基づ
いて、前記長手状の予定存在箇所において粒状体群にお
ける粒状体の不良又は粒状体群内に混入した異物の存在
が判定される。
【0008】従って、長手状の予定存在箇所に検査対象
物を位置させた状態でその長手状の予定存在箇所の全体
において並列的に能率良く不良検出することができ、も
って、請求項1に係る不良検出装置の好適な手段が得ら
れる。
【0009】請求項3によれば、請求項2において、長
手状の予定存在箇所の長手方向に沿って並べられる複数
のLED発光素子の隣接するもの同士の間隔が、予定存
在箇所の両端側部分では、予定存在箇所の中央側部分よ
りも小になるように、複数のLED発光素子が並置され
ている。
【0010】従って、LED発光素子の隣接するもの同
士の間隔を、予定存在箇所の両端側部分と中央側部分と
で同じにすると、両端側部分での照明光量が中央側部分
に比べて低下して不良検出の精度が低下するのに対し
て、両端側部分での照明光量の低下を回避させて不良検
出の精度を適正に維持することができ、もって、請求項
2に係る不良検出装置の好適な手段が得られる。
【0011】請求項4によれば、請求項2又は3におい
て、異なる波長の光を発光する複数種のLED発光素子
の夫々が、前記長手状の予定存在箇所の長手方向に沿っ
て並置され、その複数種のLED発光素子にて照明され
た長手状の予定存在箇所からの検出光において、前記異
なる波長の光の夫々が区別して受光され、その区別して
受光される異なる波長の光の夫々について、粒状体群に
おける各粒状体の良否又は粒状体群内に混入した異物の
存否が判別される。
【0012】従って、青色や赤色や白色光等の可視光、
及び、近赤外光等の異なる波長で検査対象物を照明し
て、例えば青色光照明で米粒の赤く焼けた不良米を的確
に検出したり、あるいは、米粒とガラスとでは、近赤外
光での反射光量に差があるので、その差からガラスを的
確に検出するように、各種の不良物の検出に柔軟に対応
でき、請求項2又は3に係る不良検出装置の好適な手段
が得られる。
【0013】請求項5によれば、請求項4において、複
数種のLED発光素子が、同種の素子を同時に発光させ
る状態で時分割的に順次発光され、この時分割の発光に
よって、受光手段が異なる波長の光の夫々を区別して受
光する。
【0014】従って、従来の照明(蛍光灯やハロゲンラ
ンプ等)では、波長の異なる複数個の照明手段を高速に
スイッチングしてオン/オフを繰り返すことが不可能で
あったために、異なる波長の光の夫々を区別して受光す
るためには、例えばフィルター等を用いて構成した各波
長専用の複数の受光手段が必要になって装置構成が複雑
になるのに比べて、複数種のLED発光素子を電気的に
高速にスイッチングし、時分割的にオン/オフを繰り返
すことにより、前記異なる各波長専用の受光手段が不要
になり、装置構成を簡素化することができ、もって、請
求項4に係る不良検出装置の好適な手段が得られる。
【0015】請求項6によれば、請求項1〜5のいずれ
か1項に記載の不良検出装置が備えられ、予定移送経路
に沿って移送される検査対象物である粒状体群が予定移
送経路における前記予定存在箇所に移送され、その予定
存在箇所に移送した粒状体群のうちの不良と判別された
粒状体及び異物が、粒状体群のうちの正常な粒状体の経
路と異なる経路に分離して移送される。
【0016】従って、例えば検査対象物(粒状体群)を
移送させずにその不良検出及び不良物除去を行うには、
装置側を可動できるように構成する必要があるのに比べ
て、検査対象物をその予定存在箇所つまり不良検出位置
から、異なる経路への分離位置つまり不良物除去位置に
順次移送しながら、不良物及び異物を正常な粒状体から
分離して移送させることで、装置側を可動させないよう
に装置各部を合理的に配置して円滑な動作が実現できる
不良物除去装置が得られる。
【0017】請求項7によれば、請求項6において、検
査対象物が予定移送経路に沿う斜め姿勢の流下案内面上
を一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送される。
【0018】従って、複数列並ぶ状態ではなく、例えば
一列状態で検査対象物(粒状体群)を移送するものに比
べて、その並び方向の全幅において並列的につまり能率
良く不良検出及び不良物除去を行うことができ、もっ
て、請求項6に係る不良物除去装置の好適な手段が得ら
れる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の不良検出装置及び
不良物除去装置の実施形態を、玄米や精米等の米粒群か
らなる粒状体群を検査対象物として所定経路に沿って移
送しながら、不良検出及び不良物除去を行う場合につい
て図面に基づいて説明する。
【0020】図1及び図2に示すように、所定幅の板状
のシュータ1が、水平面に対して所定角度(例えば60
度)に傾斜されて設置され、このシュータ1の上部側に
設けた貯溜用のホッパー7から供給される米粒群kが一
層状態で横方向に広がった状態で滑って移送されてい
る。シュータ1の下方には、シュータ下端から所定速度
で自然落下する米粒群kのうちの正常な米粒kを回収す
る良米回収箱2と、正常な米粒kの流れから分離した着
色米(焼け米)や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片
等の異物を回収する不良物回収箱3とが設置されてい
る。以上より、シュータ1が、検査対象物としての米粒
群kを予定移送経路(つまりシュータ上の米粒群kの流
れ経路及びシュータ下端からの落下経路)に沿って、斜
め姿勢の流下案内面(シュータ上面)上に一層状態で且
つ複数列並ぶ状態で移送する移送手段Hを構成する。
【0021】前記ホッパー7は、シュータ1の上部側部
分を利用したシュータ面1aと、このシュータ面1aに
対向して反対側に傾斜した傾斜側面7aと、ホッパー7
の全周を囲むための側壁部7b及び上壁部7cとによっ
て、図2の紙面に垂直な方向視において下端側ほど先細
状の筒体に構成されている。傾斜側面7aには、ホッパ
ー7内の米粒kをシュータ1へ排出するために、図2の
紙面に垂直な方向に沿う直線状の隙間をシュータ面1a
との間に形成する開閉ゲート9Aと、その開閉ゲート9
Aを移動させて上記隙間を変更するためのゲート駆動モ
ータ9B及びその他の機構が設けられている。尚、傾斜
側面7aの上方の側壁部7bには、ホッパー7内の貯溜
量を検出するレベルセンサ12が設置され、上壁部7c
には、外部から供給される米粒の流入口7Aが設けられ
ている。
【0022】前記シュータ1の下端からの米粒群kの落
下経路の途中に、米粒群kの長手状の予定存在箇所Jが
設定されている。すなわち、前記移送手段Hは、米粒群
kを予定移送経路における長手状の予定存在箇所Jつま
り後述の検査用のラインセンサ5A,5Bの受光位置に
移送するように構成されている。
【0023】そして、図2に示すように、上記米粒群k
の予定存在箇所Jを挟んで一方側に、その予定存在箇所
Jを照明するライン状光源4と、そのライン状光源4か
らの照明光が上記予定存在箇所Jで反射した反射光を受
光する反射光用のラインセンサ5Bとが、一方の格納室
13B内に格納されて設けられ、又、予定存在箇所Jを
挟んで他方側に、ライン状光源4からの照明光が予定存
在箇所Jを透過した透過光を受光する透過光用のライン
センサ5Aと、反射光用のラインセンサ5Bの受光方向
であって予定存在箇所Jの背部側に位置してライン状光
源4からの照明光を反射させるための長手状の反射板8
とが、他方の格納室13A内に格納されて設けられてい
る。つまり、両ラインセンサ5A,5Bが、ライン状光
源4にて照明された予定存在箇所Jからの検出光を受光
する受光手段を構成する。
【0024】前記両格納室13A,13B夫々は、予定
存在箇所Jに面する側に板状の透明なガラスからなる窓
部材14A,14Bを備えるとともに、その窓部材14
A,14Bの入射側及び出射側の各面が、透過光用のラ
インセンサ5Aに入射する透過光及び反射光用のライン
センサ5Bに入射する反射光の両方向に対して直交する
ように設定されている。そして、透過光と反射光の方向
が同一方向にできないために、各窓部材14A,14B
を途中箇所で折れ曲げるように形成して上記直交状態を
実現している。
【0025】上記反射板8は、米粒と同じ反射率の領域
8aを上記ライン状光源4にて照明された米粒群kの全
幅に対応して長手状に形成し、且つその長手状の領域8
aの両側に黒色の領域8bを形成した表面を、窓部14
Aの背部に押し付ける状態で固定されている。つまり、
反射板8が、他方の格納室13A内の窓部14Aを固定
するための固定部材に兼用されている。もう一方の格納
室13Bの窓部14Bは専用の固定板15で押し付けて
固定されている。
【0026】図4に示すように、上記両ラインセンサ5
A,5Bは、米粒kの大きさよりも小さい範囲p(例え
ば米粒kの大きさの10分の1程度)を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部5aを長手状の予定存在箇所Jの長手方向に沿って
並ぶ状態で備えている。具体的には、複数個の受光部5
aとしての受光素子が複数列の米粒群kの並び方向に沿
ってその全幅に亘って直線状に並置されたモノクロタイ
プのCCDセンサと、米粒群kの像をCCDセンサの各
受光素子5a上に結像させるための光学系とから構成さ
れている。
【0027】前記ライン状光源4は、具体的には、図5
及び図6に示すように、青色光を発光する複数のLED
発光素子4aが、前記長手状の予定存在箇所Jの長手方
向に沿って並置されるとともに、その予定存在箇所Jの
長手方向に沿って並べられる複数のLED発光素子4a
の隣接するもの同士の間隔が、予定存在箇所Jの両端側
部分では間隔L1であって、予定存在箇所Jの中央側部
分の間隔L2よりも小になるように、複数のLED発光
素子4aが並置されている。尚、図5の(イ)は、ラン
プタイプのLED発光素子を並べたものを示し、図6の
(イ)は、チップタイプのLED発光素子を基板上に直
接載せて並べたものを示す。そして、夫々、(ロ)に示
すように、LED発光素子4aの前方側には、発光した
光を長手状の予定存在箇所Jに効率よく集めるためのシ
リンドリカルレンズ4Lが設けられている。
【0028】上記両ラインセンサ5A,5Bの受光位置
(予定存在箇所J)から経路方向の下手側に、不良と判
定された米粒kや異物等に対してエアーを吹き付けて正
常な米粒kの流れ方向から分離させて不良物回収箱3に
回収させるためのエアー吹き付け装置6が設けられてい
る。このエアー吹き付け装置6は、米粒kの流れ方向に
対して横幅方向に所定幅毎に分割した各米粒群kに対し
て各別に吹き付け作動する複数個のエアーガン6aを備
えている。
【0029】制御構成を説明すると、図3に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置10が設けら
れ、この制御装置10に、前記両ラインセンサ5A,5
Bからの各画像信号と、前記レベルセンサ12の検出信
号とが入力されている。一方、制御装置10からは、エ
アー吹き付け装置6の各エアーガン6aを各別に作動さ
せるために、図示しないコンプレッサーから各エアーガ
ン6aへの各エアー供給路のエアー流通をオンオフする
複数個の電磁弁11に対する駆動信号と、レベルセンサ
12の検出信号に基づいて、ホッパー7内の貯溜量を設
定状態に維持するためのゲート駆動モータ9Bに対する
駆動信号と、前記LED発光素子4aに電流を供給する
駆動回路4bへの指令信号とが出力されている。
【0030】制御装置10を利用して、前記両ラインセ
ンサ5A,5Bの受光情報に基づいて、米粒群kにおけ
る各米粒の良否又は米粒群k内に混入した異物の存否を
判別する判別手段100が構成されている。ここで、判
別手段100は、米粒kに対する適正光量範囲を設定
し、各ラインセンサ5A,5Bの受光量が適正光量範囲
を外れた場合に米粒の不良又は異物の存在を判定する。
ただし、以下説明するように、反射光と透過光とでは判
別処理の具体構成が異なる。
【0031】反射光用のラインセンサ5Bの出力電圧の
波形を図7に示す。図には、反射光用の設定適正範囲Δ
Eh内にある正常米粒の存在位置e0’の外に、米粒に
一部着色部分が存在する位置e1’や、胴割れ部分が存
在する位置e2’では、上記設定適正範囲ΔEhから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
設定適正範囲ΔEhから上側に外れている状態の位置e
3’を例示している。又、黒色の石等の存在位置でも、
反射率が非常に小さいので、波形において設定適正範囲
ΔEhから下側に大きく外れることになる。尚、図中、
rは反射板8からの反射光に対する出力電圧のレベルを
示す。
【0032】透過光用のラインセンサ5Aの出力電圧の
波形を図8に示す。各受光部5aの出力電圧が透過光用
の適正光量範囲ΔEtの上限値ULと下限値LLとの間
にある位置e0に正常な米粒の存在を判定するととも
に、米粒kの一部着色部分又は黒色の石粒等の存在位置
e1や、胴割れ部分が存在する位置e2では、上記設定
適正範囲ΔEtの下限値LLよりも小さくなり、正常な
米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物等の存在を
判定する。
【0033】ここで、透過光の場合は、米粒kや異物等
が存在しない位置に対応する受光部5aでは、照明光源
4からの照明光を直接受光して設定適正範囲ΔEtの上
限値ULよりも大きい出力値Esになる。そこで、適正
光量範囲ΔEtの上限値ULと、照明光を直接受光した
ときの受光量Esとの間に、明側の判定レベルUL1を
設定し、ラインセンサ5Aの受光量が、適正光量範囲Δ
Etの上限値ULと前記明側の判定レベルUL1との間
にある位置e4に、正常な米粒kよりも透過率が大きい
不良の米粒k又は前記異物の存在を判定する。この正常
な米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒k又は異物の
例としては、正常な米粒kを「もち米」としたときの
「うるち米」が正常な米粒kよりも透過率が大きい不良
の米粒kになり、薄い色付の透明なガラス片等が、正常
な米粒kよりも透過率が大きい異物になる。
【0034】そして、ラインセンサ5Aの出力電圧が、
上記明側の判定レベルUL1と、設定適正範囲ΔEtの
上限値ULとの間にあることを判別するために、ライン
センサ5Aの各受光部5aにおいて、その出力電圧が明
側の判定レベルUL1よりも小で且つ前記適正光量範囲
ΔEtの上限値ULよりも大である受光部5aを求め、
その求めた受光部5aの隣接する連続個数が設定個数
(例えば、2個)を超える箇所を、正常な米粒kよりも
透過率が大きい不良の米粒k又は前記異物の存在箇所と
判定している。
【0035】つまり、受光部5aの出力電圧が明側の判
定レベルUL1よりも小である2値情報と、前記適正光
量範囲ΔEtの上限値ULよりも大である2値情報とを
演算して、前記出力電圧が前記明側の判定レベルUL1
よりも小で且つ前記適正光量範囲ΔEtの上限値ULよ
りも大である受光部5aを求める。具体的な処理を、図
9にて説明する。(イ)は、受光部5aの出力電圧が明
側の判定レベルUL1よりも小のときを1とした出力波
形であり、前述の4つの位置e0,e1,e2,e4の
夫々に対応する箇所で1になっている。(ロ)は、前記
上限値ULよりも大のときを1とした出力波形(上限値
ULよりも小のときを1とした出力波形の反転波形)で
あり、前述の4つの位置e0,e1,e2,e4のうち
でe4だけが出力されていない。そして、(イ)の波形
と(ロ)の波形との論理積(AND処理)を演算する
と、(ハ)に示すように、e4だけに対応する信号波形
が得られる。但し、UL1にて検出される波形とULに
て検出される波形の幅が異なる(UL1の方がULに比
べて広い)ので、e4以外の位置e0,e1,e2にお
いても、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、
前述の設定個数(例えば、2個)以下の波形をカットす
るフイルター処理にて除去することができる。そして、
(ニ)に示すように、設定適正範囲ΔEtの下限値LL
よりも下側の位置e1,e2と、上記位置e4とが、不
良物の位置として判定される。
【0036】前記移送手段Hは、図3に示すように、前
記制御装置10及び前記エアー吹き付け装置6をも利用
して、前記判別手段100の判別情報に基づいて、前記
予定存在箇所Jに移送した米粒群kのうちの正常な米粒
kと不良の米粒及び前記異物とを異なる経路に分離して
移送するように構成されている。具体的には、米粒の不
良又は異物の存在が判別された場合には、予定存在箇所
Jから下流側の移送経路における前記不良の米粒又は前
記異物に対する異なる経路への分離箇所(前記エアーガ
ン6aの設置箇所)までの移送時間が経過するに伴っ
て、前記不良の米粒又は前記異物を正常な米粒の経路と
異なる経路に分離させる。つまり、米粒群kを自重にて
落下させて移送させるとともに、不良の米粒又は異物に
対して、その位置に対応する各エアーガン6aからエア
ーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。
【0037】〔別実施形態〕上記実施例では、LED発
光素子4aの波長は1つの波長(青色光)であったが、
これに限るものではない。LED発光素子4aとして、
図10に示すように、例えば青色光を発光するLED1
(白丸で表す)と近赤外光を発光するLED2(黒丸で
表す)のように、異なる波長の光を発光する複数種のL
ED発光素子が設けられ、その複数種のLED発光素子
の夫々が、前記長手状の予定存在箇所Jの長手方向に沿
って並置されるようにしてもよい。図10の(イ)は、
LED1の列とLED2の列の2つの列を隣接して平行
配置した例、(ロ)は、LED1とLED2とが交互に
位置して1列状に配置した例、(ハ)は、上記(ロ)の
列を隣接して平行配置した列を示す。
【0038】図13に示すように、上記異なる波長のL
ED発光素子を備えたライン状光源20a,20bは、
シュータ1から落下している米粒群kを両側から照明す
るとともに、米粒群kの背部側に反射板21a,21b
(米粒と同じ反射率の白色板)が配置され、その反射板
21a,21bと米粒群kからの反射光がラインセンサ
等の受光手段22a,22bによって受光される。そし
て、上記異なる波長(青色光と近赤外光)の照明光の場
合には、前記受光手段が、前記異なる波長の光の夫々を
区別して受光するように構成されている。
【0039】具体的には、図11に示すように、複数種
のLED発光素子(LED1又はLED2)を、同種の
素子を同時に発光させる状態で、時分割的に順次発光さ
せることにより、前記受光手段5A,5Bが、前記異な
る波長の光の夫々を区別して受光するように、図のt
1,t3等の期間にはLED1だけが発光し、t2,t
4等の期間にはLED2だけが発光するように駆動され
る。そして、前記判別手段100が、前記区別して受光
される異なる波長の光の夫々について、粒状体群におけ
る各粒状体の良否又は粒状体群内に混入した異物の存否
を判別するように構成されている。つまり、図12に示
すように、前記経路方向に移送される米粒kについて、
上記t1,t3等の期間に対応する部分では青色光での
特性評価を行い、t2,t4等の期間に対応する部分で
は近赤外光での特性評価を行うことになる。
【0040】上記異なる波長(青色光と近赤外光)の照
明光の場合に、各LED1とLED2とを時分割駆動せ
ずに連続点灯させる一方、受光手段として、例えば、青
色光の透過フィルターを前面に配置したラインセンサ
と、近赤外光の透過フィルターを前面に配置したライン
センサとの2つのラインセンサを設けるように、各波長
専用の受光手段を設けて、異なる波長の光の夫々を区別
して受光するように構成することもできる。
【0041】上記実施例では、LED発光素子4aを、
複数列状の検査対象物(米粒群k)の長手状の予定存在
箇所Jの全幅を照明するようにライン状に並置したが、
検査対象物(米粒群k)の予定存在箇所その他の条件に
応じて、LED発光素子4aの具体的な配置構成は適宜
変更できる。
【0042】上記実施例では、長手方向に沿って分解能
を備える受光手段を、複数個の受光部5aを備えるライ
ンセンサ5A,5Bにて構成したが、ラインセンサの外
に、例えばフォトセンサー等の単一のセンサーの複数個
を長手状に並置して構成してもよい。また、受光手段を
単一のフォトセンサー等で構成してもよく、受光手段の
具体構成は適宜変更できる。
【0043】上記実施例では、受光手段を構成するライ
ンセンサ5A,5Bを、モノクロタイプのCCDセンサ
を利用して構成したが、撮像管式のテレビカメラを利用
して構成してもよい。又、モノクロタイプではなく、カ
ラータイプのCCDセンサにて構成して、例えば、色情
報R,G,B毎の受光量から不良米や異物の存否をさら
に精度良く判別するようにしてもよい。
【0044】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が米粒群kである場合について例示したが、これに
限るものではなく、例えば、プラスチック粒等における
不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。
【0045】上記実施例では、移送手段Hにて検査対象
物としての粒状体群(米粒群k)を予定移送経路に沿っ
て複数列並ぶ状態で(つまり横方向に広がった状態で)
移送するようにしたが、これ以外に、例えば、予定移送
経路に沿って一列状態で(つまり直線状に)移送させる
ようにしてもよい。
【0046】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群を予定移送経路に沿って一層状態で複数列並ぶ状態
で移送する移送手段Hを構成するために、傾斜させた案
内面上を粒状体群を滑らせるようにしたが、これ以外
に、例えば、粒状体群を一層状態で載置して搬送する搬
送装置等を設けてもよい。又、自重にて落下している粒
状体群中の不良物に向けてエアーを吹き付けて、正常な
粒状体の経路から不良物を分離して移送するように、移
送手段Hを構成したが、これ以外に、例えば不良物をエ
アーで吸引するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】不良検出・除去装置の概略斜視図
【図2】同概略側面図
【図3】制御構成のブロック図
【図4】受光検出範囲の説明図
【図5】LED発光素子を並べた照明光源の正面及び側
面断面図
【図6】別タイプのLED発光素子を並べた照明光源の
正面及び側面断面図
【図7】反射光用の受光手段の出力波形図
【図8】透過光用の受光手段の出力波形図
【図9】透過光の場合の不良検出処理を説明する波形図
【図10】別実施例のLED発光素子の配置状態を示す
正面図
【図11】別実施例のLED発光素子の駆動波形図
【図12】別実施例のLED発光素子で照明された対象
物の受光検出範囲の説明図
【図13】別実施例の不良検出装置の要部側面図
【符号の説明】
4a LED発光素子 5A 受光手段 5B 受光手段 100 判別手段 H 移送手段

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 粒状体群を検査対象物として、粒状体群
    における不良物を検出するための不良検出装置であっ
    て、 前記検査対象物の予定存在箇所を照明するLED発光素
    子と、そのLED発光素子にて照明された前記予定存在
    箇所からの検出光を受光する受光手段と、その受光手段
    の受光情報に基づいて、粒状体群における各粒状体の良
    否又は粒状体群内に混入した異物の存否を判別する判別
    手段とが設けられている不良検出装置。
  2. 【請求項2】 前記予定存在箇所が長手状に設定され、 前記LED発光素子の複数が、前記長手状の予定存在箇
    所の長手方向に沿って並置され、 前記受光手段が、前記長手状の予定存在箇所の長手方向
    に沿って分解能を備えて構成されている請求項1記載の
    不良検出装置。
  3. 【請求項3】 前記長手状の予定存在箇所の長手方向に
    沿って並べられる複数のLED発光素子の隣接するもの
    同士の間隔が、予定存在箇所の両端側部分では、予定存
    在箇所の中央側部分よりも小になるように、前記複数の
    LED発光素子が並置されている請求項2記載の不良検
    出装置。
  4. 【請求項4】 前記LED発光素子として、異なる波長
    の光を発光する複数種のLED発光素子が設けられ、そ
    の複数種のLED発光素子の夫々が、前記長手状の予定
    存在箇所の長手方向に沿って並置され、 前記受光手段が、前記異なる波長の光の夫々を区別して
    受光するように構成され、 前記判別手段が、前記区別して受光される異なる波長の
    光の夫々について、粒状体群における各粒状体の良否又
    は粒状体群内に混入した異物の存否を判別するように構
    成されている請求項2又は3記載の不良検出装置。
  5. 【請求項5】 前記複数種のLED発光素子を、同種の
    素子を同時に発光させる状態で、時分割的に順次発光さ
    せることにより、前記受光手段が、前記異なる波長の光
    の夫々を区別して受光するように構成されている請求項
    4記載の不良検出装置。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1項に記載の不
    良検出装置を備えた不良物除去装置であって、 前記検査対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手
    段が設けられ、 前記移送手段は、前記検査対象物を予定移送経路におけ
    る前記予定存在箇所に移送するとともに、前記判別手段
    の判別情報に基づいて、前記予定存在箇所に移送した前
    記検査対象物のうちの正常な粒状体と不良の粒状体及び
    前記異物とを異なる経路に分離して移送するように構成
    されている不良物除去装置。
  7. 【請求項7】 前記移送手段は、斜め姿勢の流下案内面
    上に前記検査対象物を一層状態で且つ複数列並ぶ状態で
    移送するように構成されている請求項6記載の不良物除
    去装置。
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