JPH098094A - 真空処理装置 - Google Patents
真空処理装置Info
- Publication number
- JPH098094A JPH098094A JP15486295A JP15486295A JPH098094A JP H098094 A JPH098094 A JP H098094A JP 15486295 A JP15486295 A JP 15486295A JP 15486295 A JP15486295 A JP 15486295A JP H098094 A JPH098094 A JP H098094A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load lock
- chamber
- lock chamber
- processing
- vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被処理物の処理効率(生産性)を大幅に向上
させることができ、また、被処理物の処理工程の多様化
に簡単かつ低コストで対応することのできる真空処理装
置を提供する。 【構成】 被処理物を真空下において処理する処理室
と、この処理室に隔離可能に連設された真空排気可能な
トランスファー室と、このトランスファー室に隔離可能
に連設された真空排気可能な第1ロードロック室及び第
2ロードロック室とを備えている。前記トランスファー
室の内部に前記第1及び第2ロードロック室と前記処理
室との間で前記被処理物を搬送する真空側ロボットを設
ける。前記第1及び第2ロードロック室に前記被処理物
をその内部に搬送するための閉鎖可能な各搬入口を設
け、これらの搬入口の傍らに前記被処理物を前記各搬入
口を介して前記第1及び第2ロードロック室の内部に搬
送する大気側ロボットを設ける。
させることができ、また、被処理物の処理工程の多様化
に簡単かつ低コストで対応することのできる真空処理装
置を提供する。 【構成】 被処理物を真空下において処理する処理室
と、この処理室に隔離可能に連設された真空排気可能な
トランスファー室と、このトランスファー室に隔離可能
に連設された真空排気可能な第1ロードロック室及び第
2ロードロック室とを備えている。前記トランスファー
室の内部に前記第1及び第2ロードロック室と前記処理
室との間で前記被処理物を搬送する真空側ロボットを設
ける。前記第1及び第2ロードロック室に前記被処理物
をその内部に搬送するための閉鎖可能な各搬入口を設
け、これらの搬入口の傍らに前記被処理物を前記各搬入
口を介して前記第1及び第2ロードロック室の内部に搬
送する大気側ロボットを設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、真空処理装置に係わ
り、特に、複数の被処理物の処理効率(生産性)を全体
として大幅に向上させることのできる真空処理装置に関
する。
り、特に、複数の被処理物の処理効率(生産性)を全体
として大幅に向上させることのできる真空処理装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示用ガラス基板(以下、「LCD
基板」と呼ぶ。)、レチクル、半導体製造用シリコンウ
エハ等の被処理物を真空下において処理する従来の真空
処理装置は、パーティクル等による被処理物の汚染を防
止するために、処理室を大気から常時隔離するようにし
ている。このように処理室を大気から常時隔離するため
に、従来の真空処理装置は、処理室に隣接して処理室と
隔離可能なロードロック室を1つ設けている。このロー
ドロック室は真空状態と大気状態とを切り換えることが
でき、処理室から隔離されて大気状態にあるロードロッ
ク室に未処理の被処理物を搬入した後、ロードロック室
を真空状態とし、処理室と連通状態としてから被処理物
を処理室に搬入するようにしている。なお、処理室にお
いては、被処理物表面のエッチング処理や、スパッタリ
ングによる被処理物表面への成膜処理といった真空処理
が行われる。
基板」と呼ぶ。)、レチクル、半導体製造用シリコンウ
エハ等の被処理物を真空下において処理する従来の真空
処理装置は、パーティクル等による被処理物の汚染を防
止するために、処理室を大気から常時隔離するようにし
ている。このように処理室を大気から常時隔離するため
に、従来の真空処理装置は、処理室に隣接して処理室と
隔離可能なロードロック室を1つ設けている。このロー
ドロック室は真空状態と大気状態とを切り換えることが
でき、処理室から隔離されて大気状態にあるロードロッ
ク室に未処理の被処理物を搬入した後、ロードロック室
を真空状態とし、処理室と連通状態としてから被処理物
を処理室に搬入するようにしている。なお、処理室にお
いては、被処理物表面のエッチング処理や、スパッタリ
ングによる被処理物表面への成膜処理といった真空処理
が行われる。
【0003】図4は従来の真空処理装置を示し、図中符
号1はトランスファー室を示し、このトランスファー室
1の内部には真空側ロボット2が設けられている。トラ
ンスファー室1の対向する一対の側面には第1隔離用ゲ
ートバルブ3及び第2隔離用ゲートバルブ4を介して第
1処理室5及び第2処理室6が設けられている。また、
トランスファー室1の他の一の側面には第3隔離用ゲー
トバルブ7を介してロードロック室8が設けられてお
り、このロードロック室8は被処理物を大気側から内部
に搬入するための搬入用ゲートバルブ9を備えている。
さらに、搬入用ゲートバルブ9の正面には大気側ロボッ
ト10が設けられており、この大気側ロボット10の近
くには被処理物である複数の角形基板が収納された第1
カセット11及び第2カセット12が置かれている。
号1はトランスファー室を示し、このトランスファー室
1の内部には真空側ロボット2が設けられている。トラ
ンスファー室1の対向する一対の側面には第1隔離用ゲ
ートバルブ3及び第2隔離用ゲートバルブ4を介して第
1処理室5及び第2処理室6が設けられている。また、
トランスファー室1の他の一の側面には第3隔離用ゲー
トバルブ7を介してロードロック室8が設けられてお
り、このロードロック室8は被処理物を大気側から内部
に搬入するための搬入用ゲートバルブ9を備えている。
さらに、搬入用ゲートバルブ9の正面には大気側ロボッ
ト10が設けられており、この大気側ロボット10の近
くには被処理物である複数の角形基板が収納された第1
カセット11及び第2カセット12が置かれている。
【0004】ここで、真空側ロボット2及び大気側ロボ
ット10は水平多間接型のロボットであり、回動可能か
つ上下動可能な主軸(図示を省略)を備え、この主軸の
頂部には関節構造を有するアーム2a、10aの一端が
取り付けられ、これらのアーム2a、10aの他端には
基板を載せて運ぶためのハンド2b、10bが関節構造
を有して取り付けられている。そして、主軸の上下動作
によってアーム2a、10aと共にハンド2b、10b
が上下に移動し、また、主軸の回動動作及びアーム2
a、10aの関節構造によって、ハンド2b、10bは
回転動作及び進退動作を行うことができる。
ット10は水平多間接型のロボットであり、回動可能か
つ上下動可能な主軸(図示を省略)を備え、この主軸の
頂部には関節構造を有するアーム2a、10aの一端が
取り付けられ、これらのアーム2a、10aの他端には
基板を載せて運ぶためのハンド2b、10bが関節構造
を有して取り付けられている。そして、主軸の上下動作
によってアーム2a、10aと共にハンド2b、10b
が上下に移動し、また、主軸の回動動作及びアーム2
a、10aの関節構造によって、ハンド2b、10bは
回転動作及び進退動作を行うことができる。
【0005】このような構成を備えた従来の真空処理装
置においては、まず、大気側ロボット10によって、第
1カセット11から基板を取り出し、開放された搬入用
ゲートバルブ9を介してロードロック室8に搬入する。
この動作を繰り返して、第1カセット11内の複数の基
板をロードロック室8に搬入した後、搬入用ゲートバル
ブ9を閉鎖してロードロック室8を真空排気する。ロー
ドロック室8が真空状態となったら、第3隔離用ゲート
バルブ7を開放すると共に第1隔離用ゲートバルブ3又
は第2隔離用ゲートバルブ4を開放し、真空側ロボット
2によって基板をロードロック室8からトランスファー
室1を経由して第1処理室5又は第2処理室6に搬送す
る。次に、第1隔離用ゲートバルブ3又は第2隔離用ゲ
ートバルブ4を閉鎖して第1処理室5又は第2処理室6
を隔離した後に基板の処理を開始する。基板の処理が終
了したら、第1隔離用ゲートバルブ3又は第2隔離用ゲ
ートバルブ4及び第3隔離用ゲートバルブ7を開放し、
真空側ロボット2によって処理済みの基板を第1処理室
5又は第2処理室6からロードロック室8に搬送する。
この動作を繰り返してロードロック室8内の複数の基板
の処理をすべて終了したら、第3隔離用ゲートバルブ7
を閉鎖してロードロック室8を隔離し、ロードロック室
8内を大気圧とした後に搬入用ゲートバルブ9を開放す
る。そして、大気側ロボット10によって処理済みの基
板をロードロック室8から取り出して第1カセット11
に収納する。
置においては、まず、大気側ロボット10によって、第
1カセット11から基板を取り出し、開放された搬入用
ゲートバルブ9を介してロードロック室8に搬入する。
この動作を繰り返して、第1カセット11内の複数の基
板をロードロック室8に搬入した後、搬入用ゲートバル
ブ9を閉鎖してロードロック室8を真空排気する。ロー
ドロック室8が真空状態となったら、第3隔離用ゲート
バルブ7を開放すると共に第1隔離用ゲートバルブ3又
は第2隔離用ゲートバルブ4を開放し、真空側ロボット
2によって基板をロードロック室8からトランスファー
室1を経由して第1処理室5又は第2処理室6に搬送す
る。次に、第1隔離用ゲートバルブ3又は第2隔離用ゲ
ートバルブ4を閉鎖して第1処理室5又は第2処理室6
を隔離した後に基板の処理を開始する。基板の処理が終
了したら、第1隔離用ゲートバルブ3又は第2隔離用ゲ
ートバルブ4及び第3隔離用ゲートバルブ7を開放し、
真空側ロボット2によって処理済みの基板を第1処理室
5又は第2処理室6からロードロック室8に搬送する。
この動作を繰り返してロードロック室8内の複数の基板
の処理をすべて終了したら、第3隔離用ゲートバルブ7
を閉鎖してロードロック室8を隔離し、ロードロック室
8内を大気圧とした後に搬入用ゲートバルブ9を開放す
る。そして、大気側ロボット10によって処理済みの基
板をロードロック室8から取り出して第1カセット11
に収納する。
【0006】このようにして第1カセット11内の基板
の処理を終了したら、次に、同様の工程を順次繰り返し
て第2カセット12内の基板の処理を行なう。
の処理を終了したら、次に、同様の工程を順次繰り返し
て第2カセット12内の基板の処理を行なう。
【0007】以上述べたように、従来の真空処理装置
は、ロードロック室8を設けることによって、第1処理
室5及び第2処理室6を常時大気から隔離状態とするこ
とが可能であり、パーティクル等による処理室の汚染を
防止して清浄雰囲気において基板の真空処理を行うこと
ができる。
は、ロードロック室8を設けることによって、第1処理
室5及び第2処理室6を常時大気から隔離状態とするこ
とが可能であり、パーティクル等による処理室の汚染を
防止して清浄雰囲気において基板の真空処理を行うこと
ができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来の真空処置装置は、ロードロック室を1つしか備えて
いなかったため、ロードロック室への被処理物の搬送作
業と同時に処理室における被処理物の処理を行うことが
できなかった。つまり、ロードロック室を大気状態から
真空状態へ切り換えるためには相当の時間を要するた
め、被処理物1枚を処理する毎にロードロック室を大気
状態として被処理物を取り出していたのでは、被処理物
の処理効率(生産性)が著しく低下してしまう。そこ
で、処理効率の向上を図るためには、ロードロック室に
搬入した複数の未処理の被処理物の処理がすべて終了し
た後にロードロック室を隔離し、大気状態とした後に処
理済の処理物を取り出すようにする必要があった。この
ため、処理室が遊んでいる時間が増加(利用効率が低
下)して、十分な処理効率の向上を図ることができなか
った。
来の真空処置装置は、ロードロック室を1つしか備えて
いなかったため、ロードロック室への被処理物の搬送作
業と同時に処理室における被処理物の処理を行うことが
できなかった。つまり、ロードロック室を大気状態から
真空状態へ切り換えるためには相当の時間を要するた
め、被処理物1枚を処理する毎にロードロック室を大気
状態として被処理物を取り出していたのでは、被処理物
の処理効率(生産性)が著しく低下してしまう。そこ
で、処理効率の向上を図るためには、ロードロック室に
搬入した複数の未処理の被処理物の処理がすべて終了し
た後にロードロック室を隔離し、大気状態とした後に処
理済の処理物を取り出すようにする必要があった。この
ため、処理室が遊んでいる時間が増加(利用効率が低
下)して、十分な処理効率の向上を図ることができなか
った。
【0009】一方、被処理物1枚当りの処理時間が、ロ
ードロック室の真空状態と大気状態とを切り替えるため
の所要時間よりも長い場合には、ロードロック室の真空
排気又は大気ベントの時間は、処理工程全体の処理効率
に影響を与えない。そして、このような場合には、エッ
チング室をもう1つ追加して処理速度を全体として高め
たり、或いはエッチング以外の他の処理、例えばエッチ
ング前の被処理物の予備加熱、エッチング後の被処理物
の冷却、フォトレジストのアッシング等の処理を行うた
めの部屋を追加したりしたいという要求がある。
ードロック室の真空状態と大気状態とを切り替えるため
の所要時間よりも長い場合には、ロードロック室の真空
排気又は大気ベントの時間は、処理工程全体の処理効率
に影響を与えない。そして、このような場合には、エッ
チング室をもう1つ追加して処理速度を全体として高め
たり、或いはエッチング以外の他の処理、例えばエッチ
ング前の被処理物の予備加熱、エッチング後の被処理物
の冷却、フォトレジストのアッシング等の処理を行うた
めの部屋を追加したりしたいという要求がある。
【0010】しかしながら、従来の真空処理装置におい
ては、上述した様々な要求に対応するためには、大幅な
設計変更を行なう必要があり、このため、開発コストや
製造コストが高騰してしまうという問題があった。
ては、上述した様々な要求に対応するためには、大幅な
設計変更を行なう必要があり、このため、開発コストや
製造コストが高騰してしまうという問題があった。
【0011】そこで、本発明の目的は、上述した問題点
を解消し、被処理物の処理効率(生産性)を大幅に向上
させることができ、また、被処理物の処理工程の多様化
に簡単かつ低コストで対応することのできる真空処理装
置を提供することにある。
を解消し、被処理物の処理効率(生産性)を大幅に向上
させることができ、また、被処理物の処理工程の多様化
に簡単かつ低コストで対応することのできる真空処理装
置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明によ
る真空処理装置は、被処理物を真空下において処理する
処理室と、この処理室に隔離可能に連設された真空排気
可能なトランスファー室と、このトランスファー室に隔
離可能に連設された真空排気可能な第1ロードロック室
及び第2ロードロック室とを備え、前記トランスファー
室の内部に前記第1及び第2ロードロック室と前記処理
室との間で前記被処理物を搬送する真空側ロボットを設
け、前記第1及び第2ロードロック室に前記被処理物を
その内部に搬送するための閉鎖可能な各搬入口を設け、
これらの搬入口の傍らに前記被処理物を前記各搬入口を
介して前記第1及び第2ロードロック室の内部に搬送す
る大気側ロボットを設けたことを特徴とする。
る真空処理装置は、被処理物を真空下において処理する
処理室と、この処理室に隔離可能に連設された真空排気
可能なトランスファー室と、このトランスファー室に隔
離可能に連設された真空排気可能な第1ロードロック室
及び第2ロードロック室とを備え、前記トランスファー
室の内部に前記第1及び第2ロードロック室と前記処理
室との間で前記被処理物を搬送する真空側ロボットを設
け、前記第1及び第2ロードロック室に前記被処理物を
その内部に搬送するための閉鎖可能な各搬入口を設け、
これらの搬入口の傍らに前記被処理物を前記各搬入口を
介して前記第1及び第2ロードロック室の内部に搬送す
る大気側ロボットを設けたことを特徴とする。
【0013】請求項2記載の発明による真空処理装置
は、前記大気側ロボットによる前記第1ロードロック室
又は前記第2ロードロック室への前記被処理物の各搬送
方向と、前記真空側ロボットによる前記第1ロードロッ
ク室又は前記第2ロードロック室への前記被処理物の各
搬送方向とがそれぞれ略直交するようにしたことを特徴
とする。
は、前記大気側ロボットによる前記第1ロードロック室
又は前記第2ロードロック室への前記被処理物の各搬送
方向と、前記真空側ロボットによる前記第1ロードロッ
ク室又は前記第2ロードロック室への前記被処理物の各
搬送方向とがそれぞれ略直交するようにしたことを特徴
とする。
【0014】請求項3記載の発明による真空処理装置
は、請求項1又は2記載の真空処理装置において、前記
第2ロードロック室に代えてプロセス室を設けたことを
特徴とする。ここで、プロセス室とは、被処理物の処理
工程の内容に応じて、例えばエッチング処理、エッチン
グ前の被処理物の予備加熱、エッチング後の被処理物の
冷却等のいずれかの処理を実施するための真空排気可能
な空間領域を言う。
は、請求項1又は2記載の真空処理装置において、前記
第2ロードロック室に代えてプロセス室を設けたことを
特徴とする。ここで、プロセス室とは、被処理物の処理
工程の内容に応じて、例えばエッチング処理、エッチン
グ前の被処理物の予備加熱、エッチング後の被処理物の
冷却等のいずれかの処理を実施するための真空排気可能
な空間領域を言う。
【0015】
【作用】請求項1記載の発明による真空処理装置におい
ては、第1又は第2ロードロック室のいずれか一方をト
ランスファー室から隔離し、隔離されたロードロック室
の搬入口を開放し、この搬入口を介してロードロック室
への被処理物の搬送を大気側ロボットによって行う。こ
の搬送作業と同時並行で、他方のロードロック室の内部
に既に搬入されている未処理の被処理物を真空側ロボッ
トによって処理室へ搬送し、この処理室をトランスファ
ー室から隔離した後に被処理物の処理を行う。このよう
に、第1及び第2のロードロック室を設け、一方のロー
ドロック室へ被処理物を搬送する作業と同時並行で、他
方のロードロック室の内部の未処理の被処理物を処理す
るようにしたから、処理室の利用効率が大幅に向上す
る。
ては、第1又は第2ロードロック室のいずれか一方をト
ランスファー室から隔離し、隔離されたロードロック室
の搬入口を開放し、この搬入口を介してロードロック室
への被処理物の搬送を大気側ロボットによって行う。こ
の搬送作業と同時並行で、他方のロードロック室の内部
に既に搬入されている未処理の被処理物を真空側ロボッ
トによって処理室へ搬送し、この処理室をトランスファ
ー室から隔離した後に被処理物の処理を行う。このよう
に、第1及び第2のロードロック室を設け、一方のロー
ドロック室へ被処理物を搬送する作業と同時並行で、他
方のロードロック室の内部の未処理の被処理物を処理す
るようにしたから、処理室の利用効率が大幅に向上す
る。
【0016】請求項2記載の発明による真空処理装置に
おいては、大気側ロボットによる第1ロードロック室へ
の被処理物の搬送方向と、真空側ロボットによる第1ロ
ードロック室への搬送方向とが直交する。また、大気側
ロボットによる第2ロードロック室への被処理物の搬送
方向と、真空側ロボットによる第2ロードロック室への
搬送方向とが直交する。このように、大気側ロボットに
よる搬送方向と、真空側ロボットによる搬送方向とが直
交するようにしたので、被処理物が角形の基板であって
も安全かつ確実に搬送することができる。
おいては、大気側ロボットによる第1ロードロック室へ
の被処理物の搬送方向と、真空側ロボットによる第1ロ
ードロック室への搬送方向とが直交する。また、大気側
ロボットによる第2ロードロック室への被処理物の搬送
方向と、真空側ロボットによる第2ロードロック室への
搬送方向とが直交する。このように、大気側ロボットに
よる搬送方向と、真空側ロボットによる搬送方向とが直
交するようにしたので、被処理物が角形の基板であって
も安全かつ確実に搬送することができる。
【0017】請求項3記載の発明による真空処理装置に
おいては、請求項1又は2記載の真空処理装置において
前記第2ロードロック室に代えてプロセス室を設けたの
で、請求項1又は2記載の発明による真空処理装置に対
して、プロセス室以外の構成部品を共通化することがで
きるので、大幅な設計変更を行なうことなく、簡単かつ
低コストで様々な処理工程に対応することができる。
おいては、請求項1又は2記載の真空処理装置において
前記第2ロードロック室に代えてプロセス室を設けたの
で、請求項1又は2記載の発明による真空処理装置に対
して、プロセス室以外の構成部品を共通化することがで
きるので、大幅な設計変更を行なうことなく、簡単かつ
低コストで様々な処理工程に対応することができる。
【0018】
【実施例】以下、本発明による真空処理装置の一実施例
について図面を参照して説明する。図1において符号2
0は4つの側面を備えたトランスファー室を示し、この
トランスファー室20の内部には真空側ロボット21が
設けられている。トランスファー室20の隣接する一対
の側面には第1隔離用ゲートバルブ22及び第2隔離用
ゲートバルブ23を介して第1処理室24及び第2処理
室25が設けられている。また、トランスファー室20
の隣接する他の一対の側面には第3隔離用ゲートバルブ
26及び第4隔離用ゲートバルブ27を介して第1ロー
ドロック室28及び第2ロードロック室29が設けられ
ている。これらの第1及び第2ロードロック室28、2
9は、基板を内部に搬入するための第1搬入用ゲートバ
ルブ30及び第2搬入用ゲートバルブ31を備えてい
る。さらに、第1及び第2搬入用ゲートバルブ30、3
1の正面には1台の大気側ロボット32が設けられてお
り、この大気側ロボット32の近くには複数の角形基板
が収納された第1カセット33及び第2カセット34が
置かれている。
について図面を参照して説明する。図1において符号2
0は4つの側面を備えたトランスファー室を示し、この
トランスファー室20の内部には真空側ロボット21が
設けられている。トランスファー室20の隣接する一対
の側面には第1隔離用ゲートバルブ22及び第2隔離用
ゲートバルブ23を介して第1処理室24及び第2処理
室25が設けられている。また、トランスファー室20
の隣接する他の一対の側面には第3隔離用ゲートバルブ
26及び第4隔離用ゲートバルブ27を介して第1ロー
ドロック室28及び第2ロードロック室29が設けられ
ている。これらの第1及び第2ロードロック室28、2
9は、基板を内部に搬入するための第1搬入用ゲートバ
ルブ30及び第2搬入用ゲートバルブ31を備えてい
る。さらに、第1及び第2搬入用ゲートバルブ30、3
1の正面には1台の大気側ロボット32が設けられてお
り、この大気側ロボット32の近くには複数の角形基板
が収納された第1カセット33及び第2カセット34が
置かれている。
【0019】真空側ロボット21及び大気側ロボット3
2は水平多間接型のロボットであり、回動可能かつ上下
動可能な主軸(図示を省略)を備え、この主軸の頂部に
は関節構造を有するアーム21a、32aの一端が取り
付けられ、これらのアーム21a、32aの他端には基
板を載せて運ぶためのハンド21b、32bが関節構造
を有して取り付けられている。そして、主軸の上下動作
によってアーム21a、32aと共にハンド21b、3
2bが上下に移動し、また、主軸の回動動作及びアーム
21a、32aの関節の屈伸動作によって、ハンド21
b、32bは回転動作及び進退動作を行うことができ
る。
2は水平多間接型のロボットであり、回動可能かつ上下
動可能な主軸(図示を省略)を備え、この主軸の頂部に
は関節構造を有するアーム21a、32aの一端が取り
付けられ、これらのアーム21a、32aの他端には基
板を載せて運ぶためのハンド21b、32bが関節構造
を有して取り付けられている。そして、主軸の上下動作
によってアーム21a、32aと共にハンド21b、3
2bが上下に移動し、また、主軸の回動動作及びアーム
21a、32aの関節の屈伸動作によって、ハンド21
b、32bは回転動作及び進退動作を行うことができ
る。
【0020】次に、第1ロードロック室28及び第2ロ
ードロック室29、真空側ロボット21、大気側ロボッ
ト32の相対的な位置関係について説明する。図1にお
いて符号Aは真空側ロボット21の主軸(図示を省略)
の回転中心を示し、符号Bは大気側ロボット32の主軸
(図示を省略)の回転中心を示し、符号Cは第1ロード
ロック室28の中心を示し、符号Dは第2ロードロック
室29の中心を示している。そして、A、B、C、Dは
それぞれ正方形の各頂点に位置している。したがって、
大気側ロボット32による第1又は第2ロードロック室
28、29への基板の搬送方向は、真空側ロボット21
による第1又は第2ロードロック室28、29への基板
の搬送方向に対して直交しており、また、大気側ロボッ
ト32による搬送距離と真空側ロボット21による搬送
距離とは共通している。
ードロック室29、真空側ロボット21、大気側ロボッ
ト32の相対的な位置関係について説明する。図1にお
いて符号Aは真空側ロボット21の主軸(図示を省略)
の回転中心を示し、符号Bは大気側ロボット32の主軸
(図示を省略)の回転中心を示し、符号Cは第1ロード
ロック室28の中心を示し、符号Dは第2ロードロック
室29の中心を示している。そして、A、B、C、Dは
それぞれ正方形の各頂点に位置している。したがって、
大気側ロボット32による第1又は第2ロードロック室
28、29への基板の搬送方向は、真空側ロボット21
による第1又は第2ロードロック室28、29への基板
の搬送方向に対して直交しており、また、大気側ロボッ
ト32による搬送距離と真空側ロボット21による搬送
距離とは共通している。
【0021】次に、本実施例の作用について説明する。
まず、大気側ロボット32によって第1カセット33か
ら基板を取り出し、開放された第1搬入用ゲートバルブ
30を介して第1ロードロック室28に搬入する。この
動作を繰り返して第1カセット33内の複数の基板を第
1ロードロック室28に搬入した後、第1搬入用ゲート
バルブ30を閉鎖して第1ロードロック室28を真空排
気する。第1ロードロック室28が真空状態となった
ら、第3隔離用ゲートバルブ26を開放すると共に第1
隔離用ゲートバルブ22又は第2隔離用ゲートバルブ2
3を開放し、真空側ロボット21によって基板を第1ロ
ードロック室28からトランスファー室20を経由して
第1処理室24又は第2処理室25に搬送する。
まず、大気側ロボット32によって第1カセット33か
ら基板を取り出し、開放された第1搬入用ゲートバルブ
30を介して第1ロードロック室28に搬入する。この
動作を繰り返して第1カセット33内の複数の基板を第
1ロードロック室28に搬入した後、第1搬入用ゲート
バルブ30を閉鎖して第1ロードロック室28を真空排
気する。第1ロードロック室28が真空状態となった
ら、第3隔離用ゲートバルブ26を開放すると共に第1
隔離用ゲートバルブ22又は第2隔離用ゲートバルブ2
3を開放し、真空側ロボット21によって基板を第1ロ
ードロック室28からトランスファー室20を経由して
第1処理室24又は第2処理室25に搬送する。
【0022】ここで、大気側ロボット32の主軸の中心
B及び第1ロードロック室28の中心Dを通る直線と、
トランスファー室20の中心A及び第1ロードロック室
28の中心Dを通る直線とは直交している。したがっ
て、図2に示したように、大気側ロボット32によって
第1ロードロック室28に基板Sを搬入する際には、基
板Sの長軸方向(矢視X)からハンド32aが差し入れ
られた状態で搬入され、一方、真空側ロボット21によ
って第1ロードロック室28から基板Sを搬出する際に
は、基板Sの短軸方向(矢視Y)からハンドが差し入れ
られた状態で搬出される。
B及び第1ロードロック室28の中心Dを通る直線と、
トランスファー室20の中心A及び第1ロードロック室
28の中心Dを通る直線とは直交している。したがっ
て、図2に示したように、大気側ロボット32によって
第1ロードロック室28に基板Sを搬入する際には、基
板Sの長軸方向(矢視X)からハンド32aが差し入れ
られた状態で搬入され、一方、真空側ロボット21によ
って第1ロードロック室28から基板Sを搬出する際に
は、基板Sの短軸方向(矢視Y)からハンドが差し入れ
られた状態で搬出される。
【0023】次に、第1又は第2隔離用ゲートバルブ2
2、23を閉鎖して第1又は第2処理室24、25を隔
離した後に基板の処理を開始する。基板の処理が終了し
たら、第1又は第2隔離用ゲートバルブ22、23及び
第3隔離用ゲートバルブ26を開放し、真空側ロボット
21によって処理済みの基板を第1又は第2処理室2
4、25から第1ロードロック室28に搬送する。この
動作を繰り返して第1ロードロック室28内の複数の基
板の処理をすべて終了したら、第3隔離用ゲートバルブ
26を閉鎖して第1ロードロック室28を隔離し、第1
ロードロック室28内を大気圧とした後に第1搬入用ゲ
ートバルブ30を開放する。そして、大気側ロボット3
2によって処理済みの基板を第1ロードロック室28か
ら取り出して第1カセット33に再び収納する。
2、23を閉鎖して第1又は第2処理室24、25を隔
離した後に基板の処理を開始する。基板の処理が終了し
たら、第1又は第2隔離用ゲートバルブ22、23及び
第3隔離用ゲートバルブ26を開放し、真空側ロボット
21によって処理済みの基板を第1又は第2処理室2
4、25から第1ロードロック室28に搬送する。この
動作を繰り返して第1ロードロック室28内の複数の基
板の処理をすべて終了したら、第3隔離用ゲートバルブ
26を閉鎖して第1ロードロック室28を隔離し、第1
ロードロック室28内を大気圧とした後に第1搬入用ゲ
ートバルブ30を開放する。そして、大気側ロボット3
2によって処理済みの基板を第1ロードロック室28か
ら取り出して第1カセット33に再び収納する。
【0024】また、上述した第1ロードロック室28内
の基板の処理作業と同時並行で、第2カセット34に収
納された複数の未処理基板を大気側ロボット32によっ
て第2ロードロック室29に搬入する。そして、第1ロ
ードロック室28内の基板の処理が終了したら、第1ロ
ードロック室28からの処理済基板の搬出作業と同時並
行で、第2ロードロック室29に搬入された複数の未処
理基板の処理を行う。ここで、大気側ロボット32及び
真空側ロボット21によって第2カセット32内の基板
を搬送する際の動作は、図2を参照して上述した動作と
同様である。
の基板の処理作業と同時並行で、第2カセット34に収
納された複数の未処理基板を大気側ロボット32によっ
て第2ロードロック室29に搬入する。そして、第1ロ
ードロック室28内の基板の処理が終了したら、第1ロ
ードロック室28からの処理済基板の搬出作業と同時並
行で、第2ロードロック室29に搬入された複数の未処
理基板の処理を行う。ここで、大気側ロボット32及び
真空側ロボット21によって第2カセット32内の基板
を搬送する際の動作は、図2を参照して上述した動作と
同様である。
【0025】以上述べたように本実施例によれば、第1
及び第2の2つのロードロック室28、29を設けたの
で、第1及び第2処理室24、25における基板処理と
同時並行で第1又は第2ロードロック室28、29への
基板の搬送を行うことができ、このため、第1及び第2
処理室24、25の利用効率が増加して基板処理の効率
(生産性)が大幅に向上する。また、真空側ロボット2
1の主軸の回転中心A、大気側ロボット32の主軸の回
転中心B、第1ロードロック室28の中心C、第2ロー
ドロック室29の中心Dはそれぞれ正方形の各頂点に位
置するようにしたので、従来のロボットと同様の簡単な
構成より成る各1台の大気側ロボット32及び真空側ロ
ボット21によって、2つのロードロック室28、29
への基板の搬送を安全かつ確実に行うことができると共
に、装置全体を小型・簡素化することができる。
及び第2の2つのロードロック室28、29を設けたの
で、第1及び第2処理室24、25における基板処理と
同時並行で第1又は第2ロードロック室28、29への
基板の搬送を行うことができ、このため、第1及び第2
処理室24、25の利用効率が増加して基板処理の効率
(生産性)が大幅に向上する。また、真空側ロボット2
1の主軸の回転中心A、大気側ロボット32の主軸の回
転中心B、第1ロードロック室28の中心C、第2ロー
ドロック室29の中心Dはそれぞれ正方形の各頂点に位
置するようにしたので、従来のロボットと同様の簡単な
構成より成る各1台の大気側ロボット32及び真空側ロ
ボット21によって、2つのロードロック室28、29
への基板の搬送を安全かつ確実に行うことができると共
に、装置全体を小型・簡素化することができる。
【0026】また、図3に示したように、上記実施例の
基本的な配置構成をそのままにして、第2ロードロック
29のみをプロセス室35に置き換えることができる。
ここで、プロセス室とは、被処理物の処理工程の内容に
応じて、例えばエッチング処理、エッチング前の被処理
物の予備加熱、エッチング後の被処理物の冷却等のいず
れかの処理を実施するための真空排気可能な空間領域を
言う。なお、プロセス室は、ロードロック室のように搬
入口を設ける必要はない。
基本的な配置構成をそのままにして、第2ロードロック
29のみをプロセス室35に置き換えることができる。
ここで、プロセス室とは、被処理物の処理工程の内容に
応じて、例えばエッチング処理、エッチング前の被処理
物の予備加熱、エッチング後の被処理物の冷却等のいず
れかの処理を実施するための真空排気可能な空間領域を
言う。なお、プロセス室は、ロードロック室のように搬
入口を設ける必要はない。
【0027】このように、基本的な配置構成を変えるこ
となく、第2ロードロック室29とプロセス室35とを
交換するだけで、装置の使用者のニーズに応じた各種の
処理工程(処理内容)に適合した装置を、簡単かつ低コ
ストで製造することができる。
となく、第2ロードロック室29とプロセス室35とを
交換するだけで、装置の使用者のニーズに応じた各種の
処理工程(処理内容)に適合した装置を、簡単かつ低コ
ストで製造することができる。
【0028】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、第1及び
第2の2つのロードロック室を設けたので、処理室にお
ける被処理物の処理と同時並行で第1又は第2ロードロ
ックへの被処理物の搬送を行うことができ、このため、
処理室の利用効率が増加して被処理物の処理効率(生産
性)が大幅に向上する。
第2の2つのロードロック室を設けたので、処理室にお
ける被処理物の処理と同時並行で第1又は第2ロードロ
ックへの被処理物の搬送を行うことができ、このため、
処理室の利用効率が増加して被処理物の処理効率(生産
性)が大幅に向上する。
【0029】請求項2記載の発明によれば、大気側ロボ
ットによる搬送方向と真空側ロボットによる搬送方向と
が直交するようにしたので、被処理物が角形の基板であ
っても、各1台の大気側ロボット及び真空側ロボットに
よって、2つのロードロック室への被処理物を安全かつ
確実に搬送することができると共に、装置全体を小型・
簡素化することが可能となる。
ットによる搬送方向と真空側ロボットによる搬送方向と
が直交するようにしたので、被処理物が角形の基板であ
っても、各1台の大気側ロボット及び真空側ロボットに
よって、2つのロードロック室への被処理物を安全かつ
確実に搬送することができると共に、装置全体を小型・
簡素化することが可能となる。
【0030】請求項3記載の発明によれば、請求項1又
は2記載の真空処理装置において前記第2ロードロック
室に代えてプロセス室を設けたので、請求項1又は2記
載の発明による真空処理装置との間でプロセス室以外の
構成部品を共通化することができるので、大幅な設計変
更を行なうことなく、簡単かつ低コストで様々な処理工
程に対応することができる真空処理装置を製造すること
ができる。
は2記載の真空処理装置において前記第2ロードロック
室に代えてプロセス室を設けたので、請求項1又は2記
載の発明による真空処理装置との間でプロセス室以外の
構成部品を共通化することができるので、大幅な設計変
更を行なうことなく、簡単かつ低コストで様々な処理工
程に対応することができる真空処理装置を製造すること
ができる。
【図1】本発明による真空処理装置の一実施例の概略構
成を示した平面図。
成を示した平面図。
【図2】同実施例のロボットの作用を示した説明図。
【図3】同実施例の変形例を示した平面図。
【図4】従来の真空処理装置の概略構成を示した平面
図。
図。
20 トランスファー室 21 真空側ロボット 21a 真空側ロボットのアーム 21b 真空側ロボットのハンド 22 第1隔離用ゲートバルブ 23 第2隔離用ゲートバルブ 24 第1処理室 25 第2処理室 26 第3隔離用ゲートバルブ 27 第4隔離用ゲートバルブ 28 第1ロードロック室 29 第2ロードロック室 30 第1搬入用ゲートバルブ 31 第2搬入用ゲートバルブ 32 大気側ロボット 32a 大気側ロボットのアーム 32b 大気側ロボットのハンド 33 第1カセット 34 第2カセット 35 プロセス室
Claims (3)
- 【請求項1】被処理物を真空下において処理する処理室
と、この処理室に隔離可能に連設された真空排気可能な
トランスファー室と、このトランスファー室に隔離可能
に連設された真空排気可能な第1ロードロック室及び第
2ロードロック室とを備え、前記トランスファー室の内
部に前記第1及び第2ロードロック室と前記処理室との
間で前記被処理物を搬送する真空側ロボットを設け、前
記第1及び第2ロードロック室に前記被処理物をその内
部に搬送するための閉鎖可能な各搬入口を設け、これら
の搬入口の傍らに前記被処理物を前記各搬入口を介して
前記第1及び第2ロードロック室の内部に搬送する大気
側ロボットを設けたことを特徴とする真空処理装置。 - 【請求項2】前記大気側ロボットによる前記第1ロード
ロック室又は前記第2ロードロック室への前記被処理物
の各搬送方向と、前記真空側ロボットによる前記第1ロ
ードロック室又は前記第2ロードロック室への前記被処
理物の各搬送方向とがそれぞれ略直交するようにしたこ
とを特徴とする請求項1に記載の真空処理装置。 - 【請求項3】請求項1又は2記載の真空処理装置におい
て、前記第2ロードロック室に代えてプロセス室を設け
たことを特徴とする真空処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15486295A JPH098094A (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 真空処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15486295A JPH098094A (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 真空処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH098094A true JPH098094A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15593548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15486295A Pending JPH098094A (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 真空処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH098094A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998050946A1 (en) * | 1997-05-08 | 1998-11-12 | Tokyo Electron Limited | Multiple single-wafer loadlock wafer processing apparatus and loading and unloading method therefor |
JP2001524763A (ja) * | 1997-12-01 | 2001-12-04 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 基板搬送装置及び方法 |
JP2003503843A (ja) * | 1999-06-29 | 2003-01-28 | ラム リサーチ コーポレーション | ウェハ搬送ロボットがネスト化されている大気雰囲気ウェハ搬送モジュールおよびその実現方法 |
JP2006501632A (ja) * | 2001-12-04 | 2006-01-12 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 独立して変更可能な一体的なロードロックを有する基板処理装置 |
US7179397B2 (en) * | 1997-11-20 | 2007-02-20 | Tru-Si Technologies, Inc. | Plasma processing methods and apparatus |
WO2009060541A1 (ja) * | 2007-11-09 | 2009-05-14 | Canon Anelva Corporation | インライン型ウェハ搬送装置 |
JP2009260241A (ja) * | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Advanced Display Process Engineering Co Ltd | 基板処理用クラスタ装置及びクラスタ装置の基板処理方法 |
CN110616406A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-12-27 | 爱发科豪威光电薄膜科技(深圳)有限公司 | 磁控溅射镀膜机 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0653304A (ja) * | 1992-07-29 | 1994-02-25 | Tokyo Electron Ltd | 減圧処理装置 |
JPH06132379A (ja) * | 1992-10-15 | 1994-05-13 | Tel Varian Ltd | 真空処理装置及び真空処理方法 |
JPH0729963A (ja) * | 1993-07-15 | 1995-01-31 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置 |
JPH0786187A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-03-31 | Tokyo Electron Ltd | マルチチャンバー処理装置のクリーニング方法 |
-
1995
- 1995-06-21 JP JP15486295A patent/JPH098094A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0653304A (ja) * | 1992-07-29 | 1994-02-25 | Tokyo Electron Ltd | 減圧処理装置 |
JPH06132379A (ja) * | 1992-10-15 | 1994-05-13 | Tel Varian Ltd | 真空処理装置及び真空処理方法 |
JPH0729963A (ja) * | 1993-07-15 | 1995-01-31 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置 |
JPH0786187A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-03-31 | Tokyo Electron Ltd | マルチチャンバー処理装置のクリーニング方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998050946A1 (en) * | 1997-05-08 | 1998-11-12 | Tokyo Electron Limited | Multiple single-wafer loadlock wafer processing apparatus and loading and unloading method therefor |
KR100591025B1 (ko) * | 1997-05-08 | 2006-06-22 | 도쿄 엘렉트론 가부시키가이샤 | 웨이퍼 이송 방법 및 그 제조 방법과 고 진공 웨이퍼 처리장치 |
US7179397B2 (en) * | 1997-11-20 | 2007-02-20 | Tru-Si Technologies, Inc. | Plasma processing methods and apparatus |
JP2011049585A (ja) * | 1997-12-01 | 2011-03-10 | Brooks Automation Inc | 基板搬送装置及び方法 |
JP2001524763A (ja) * | 1997-12-01 | 2001-12-04 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 基板搬送装置及び方法 |
JP2003503843A (ja) * | 1999-06-29 | 2003-01-28 | ラム リサーチ コーポレーション | ウェハ搬送ロボットがネスト化されている大気雰囲気ウェハ搬送モジュールおよびその実現方法 |
JP2006501632A (ja) * | 2001-12-04 | 2006-01-12 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 独立して変更可能な一体的なロードロックを有する基板処理装置 |
JP4473343B2 (ja) * | 2007-11-09 | 2010-06-02 | キヤノンアネルバ株式会社 | インライン型ウェハ搬送装置 |
WO2009060541A1 (ja) * | 2007-11-09 | 2009-05-14 | Canon Anelva Corporation | インライン型ウェハ搬送装置 |
JPWO2009060541A1 (ja) * | 2007-11-09 | 2011-03-17 | キヤノンアネルバ株式会社 | インライン型ウェハ搬送装置 |
US8016537B2 (en) | 2007-11-09 | 2011-09-13 | Canon Anelva Corporation | Inline-type wafer conveyance device |
JP2009260241A (ja) * | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Advanced Display Process Engineering Co Ltd | 基板処理用クラスタ装置及びクラスタ装置の基板処理方法 |
CN110616406A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-12-27 | 爱发科豪威光电薄膜科技(深圳)有限公司 | 磁控溅射镀膜机 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI408766B (zh) | Vacuum processing device | |
KR100575320B1 (ko) | 기판처리장치 | |
EP0398365B1 (en) | Multiple chamber staged-vacuum semiconductor wafer processing system | |
JPH05275511A (ja) | 被処理体の移載システム及び処理装置 | |
JP4348921B2 (ja) | 被処理体の搬送方法 | |
US20200176288A1 (en) | Systems and Methods for Workpiece Processing | |
JPH05304112A (ja) | 真空処理装置 | |
TW201123340A (en) | Vacuum processing system and vacuum processing method of semiconductor processing substrate | |
JPH04190840A (ja) | 真空処理装置 | |
JP4256551B2 (ja) | 真空処理システム | |
JPH0533529B2 (ja) | ||
JPH10219455A (ja) | プラズマ処理装置 | |
JP4472005B2 (ja) | 真空処理装置及び真空処理方法 | |
JPH098094A (ja) | 真空処理装置 | |
JP2002151568A (ja) | 被処理体の処理システム及び搬送方法 | |
JPH1092900A (ja) | 真空処理装置 | |
JP3371230B2 (ja) | 搬送処理装置 | |
JP2014036025A (ja) | 真空処理装置または真空処理装置の運転方法 | |
JPH0630372B2 (ja) | 半導体ウエハ処理装置 | |
JP3420712B2 (ja) | 処理システム | |
JP7303060B2 (ja) | 真空処理装置 | |
JPH06349931A (ja) | 処理システム | |
JP2003060005A (ja) | 真空処理装置 | |
JP3665716B2 (ja) | 処理システム | |
JP3237401B2 (ja) | 真空処理装置 |