JP2003060005A - 真空処理装置 - Google Patents
真空処理装置Info
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- JP2003060005A JP2003060005A JP2001249123A JP2001249123A JP2003060005A JP 2003060005 A JP2003060005 A JP 2003060005A JP 2001249123 A JP2001249123 A JP 2001249123A JP 2001249123 A JP2001249123 A JP 2001249123A JP 2003060005 A JP2003060005 A JP 2003060005A
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Abstract
るとともに柔軟な装置構成を可能にしうる真空処理装置
を提供する。 【解決手段】本発明の真空処理装置は、一体的に構成さ
れた第1及び第2の搬送部11、12を有する。第1の
搬送部11は、第1の搬送ロボット21を有し、所定の
処理用真空槽5A、5Bと連通できるように構成されて
いる。第2の搬送部12は、基板6を受け渡すための受
け渡し部30と第2の搬送ロボット22を有し、所定の
処理用真空槽5C〜5Fと連通できるように構成されて
いる。第2の搬送部12の受け渡し部30は、所定の移
送ステージ31〜33を介して第1の搬送部11と第2
の搬送部12のいずれへも基板6を搬送することができ
る。
Description
して処理を行うための真空処理装置に関し、複数の真空
処理槽を備えた真空処理装置に関する。
ては、小規模で高効率のラインを並列稼働することで生
産規模を自由に変更しうる装置が求められている。この
ため、設置面積の小さな真空装置を設計することが課題
の一つになっている。
膜形成装置としては、大量生産向けの多角形(6角形、
7角形、8角形)のマルチチャンバー型のものが主流と
なっている。
示すものである。図4に示すように、従来の真空処理装
置101は、搬送槽102を中心としてその周囲に仕込
取出槽103、第1〜第5の処理槽104〜108が配
設され、これらの搬送槽102、仕込取出槽103、第
1〜第5の処理槽104〜108は気密に接続され、独
立して真空雰囲気を維持できるように構成されている。
09が配設され、この基板搬送機構109によって搬送
槽102、仕込取出槽103及び第1〜第5の処理槽1
04〜108間において、成膜及びエッチング対象物で
ある基板(図示せず)の搬出入を自由に行えるようにな
っている。
うな構成の従来従来技術の場合、各処理槽が搬送槽を中
心として放射状に配置されるため設置面積を小さくする
ことが困難であり、特に処理槽の数を増やそうとする
と、設置面積がかなり必要になってしまうという問題が
ある。
解決するためになされたもので、設置面積を小さくして
省スペース化を達成しうるとともに柔軟な装置構成を可
能にしうる真空処理装置を提供することを目的とする。
なされた、請求項1記載の発明は、所定の処理対象物を
搬送するための搬送機構を有する真空処理装置であっ
て、第1の搬送機構を有し、所定の処理用真空槽と連通
可能な第1の搬送部と、前記第1の搬送部と一体的に構
成され、前記処理対象物を受け渡すための受け渡し部と
第2の搬送機構を有し、所定の処理用真空槽と連通可能
な第2の搬送部とを備えたことを特徴とする。
明において、前記第1の搬送部と前記第2の搬送部とが
同一の真空槽内に設けられていることを特徴とする。
いずれか1項記載の発明において、前記受け渡し部は、
所定の移送ステージを介して前記第1の搬送部と前記第
2の搬送部のいずれへも処理対象物を搬送できるように
構成されていることを特徴とする。
いずれか1項記載の発明において、前記第1及び第2の
搬送部の間にゲートバルブが設けられていることを特徴
とする。
連通可能な第1及び第2の搬送部を有しており、従来技
術のように一つの搬送槽を中心として処理槽が放射状に
配置されているものではないので、多くの処理用真空槽
を設けた場合であっても、設置面積の小さな真空処理装
置を得ることができる。
と第2の搬送部とが一体的に構成され、処理対象物を受
け渡すための受け渡し部が第2の搬送部に設けられてい
ることから、受け渡し用の槽を独立に設ける必要がな
く、設置面積の小さな真空処理装置を得ることができ
る。
の搬送部とを同一の真空槽内に設けるようにすれば、よ
り設置面積の小さな真空処理装置を得ることができる。
ジを介して第1の搬送部と第2の搬送部のいずれへも処
理対象物を搬送できるように構成すれば、プロセスに応
じて柔軟な成膜対象物の搬送を行うことができ、処理速
度を向上させることが可能になる。
ゲートバルブを設けるようにすれば、第1及び第2の搬
送部を独立した真空系とすることができ、これによりプ
ロセスの多様化に対応することができる。
の好ましい実施の形態を図面を参照して詳細に説明す
る。
施の形態の概略構成を示す平面図である。図1に示すよ
うに、本実施の形態の真空処理装置1においては、後述
する基板(処理対象物)6を搬送するための搬送用真空
槽2を有している。
真空槽20を用いて構成され、その正面側の部位に設け
られた第1の搬送部11と、背面側の部位に設けられた
第2の搬送部12とが一体的に構成されている。
第2の搬送部12という用語は、単に搬送部を区別する
ために用いるもので、これらが逆になっていても本質的
には異なるものではない。
囲の正面側の部位には、それぞれ仕込み室及び取出室を
有する二つの仕込み取出槽3、4が、隣接して設けられ
ている。
それぞれ所定のプロセス室を有する複数(本実施の形態
の場合は二つ)の第1及び第2の処理用真空槽5A、5
Bが配設されている。
の処理用真空槽5(5A、5B)は、第1の搬送部11
と気密に連通され、それぞれ独立して真空雰囲気を維持
できるように構成されている。
搬送ロボット(第1の搬送機構)21が配設されてい
る。
出槽3及び4、第1及び第2の処理用真空槽5A、5B
に対し基板6を搬送するように構成され、また、後述す
る第2の搬送部12に対しても基板6のやり取りができ
るようになっている。
ぞれ所定のプロセス室を有する複数(本実施の形態の場
合は4つ)の第3〜第6の処理用真空槽5(5C、5
D、5E、5F)が配設されている。
Fは、第2の搬送部12と気密に連通され、それぞれ独
立して真空雰囲気を維持できるように構成されている。
ボット(第2の搬送機構)22が配設されている。
6の処理用真空槽に対して基板6を搬送するように構成
されている。
部11側の部位には、複数(本実施の形態の場合は三
つ)の移送ステージ31〜33を有する受け渡し部30
が配設されている。
1〜第3の移送ステージ31〜33は第1及び第2の搬
送ロボット21、22の回転方向に沿って隣接配置され
ている。そして、これら第1〜第3の移送ステージ31
〜33を介して上記第1及び第2の搬送ロボット21、
22間において基板6のやり取りができるように構成さ
れている。
用真空槽の外観構成を示す概略図、図2(b)は、同処
理用真空槽の内部構成を示す概略図である。
処理用真空槽5は、一般的な直方体形状のもので平面形
状が細長い四角形状のものが用いられる。
の例えば正面側の部位には処理室50が設けられてい
る。この処理室50内には例えばサセプタ51が設けら
れており、このサセプタ51上に載置された基板6に対
して所定の処理を行うようになっている。
えば下部には、図示しない真空排気系に接続された真空
ポンプ(真空排気部)52が設けられ、この真空ポンプ
52は処理室50に接続されるようになっている。
いて基板6に処理を行う場合には、仕込み槽として仕込
み取出槽3から第1の搬送部11内に基板6を搬入し、
第1の搬送ロボット21を用いてこの基板6を例えば第
1の処理用真空槽5Aへ移送する。
搬送ロボット21を用いて第2の搬送部12の受け渡し
部30の例えば第1の移送ステージ31上に載置する。
移送ステージ31上の基板6を、第2の搬送ロボット2
2を用いて順次第3〜第6の処理用真空槽5C〜5Fへ
搬入・搬出し、さらに、処理の終了した基板6を、受け
渡し部30の例えば第3の移送ステージ33上に載置す
る。
基板6を、第1の搬送ロボット21を用いて第2の処理
用真空槽5Bへ搬入・搬出し、さらに、処理の終了した
基板6を、取出槽としての仕込み取出槽4内に移送す
る。これにより、所定のプロセスが終了する。
所定の処理用真空槽5A〜5Fと連通可能な第1及び第
2の搬送部11、12を有しており、従来技術のように
一つの搬送槽を中心として処理槽が放射状に配置されて
いるものではないので、多くの処理用真空槽を設けた場
合であっても、設置面積の小さな真空処理装置を得るこ
とができる。
搬送部11と第2の搬送部12とが同一の真空槽内にお
いて一体的に構成されるとともに受け渡し部30が第2
の搬送部12に設けられていることから、受け渡し用の
真空槽を独立に設ける必要がなく、設置面積の小さな真
空処理装置を得ることができる。
送ステージ31〜33を介して第1の搬送部11と第2
の搬送部12のいずれへも基板6を搬送できるように構
成されているので、プロセスに応じて柔軟な基板6の搬
送を行うことができ、処理速度を向上させることができ
る。
示すものであり、以下、上記実施の形態と対応する部分
については同一の符号を付して説明する。
理装置1Aは、第1及び第2の搬送部の間にゲートバル
ブ40を設けられている点が上記実施の形態と異なるも
のである。
送部11、12の間にゲートバルブ40を設けるように
すれば、第1及び第2の搬送部11、12を独立した真
空系とすることができ、これによりプロセスの多様化に
対応することができるとともに処理速度を向上させるこ
とが可能になる。その他の構成及び作用効果については
上述の実施の形態と同一であるのでその詳細な説明を省
略する。
ることなく、種々の変更を行うことができる。例えば、
上述の実施の形態においては、仕込み取出槽を第1の搬
送部側に設けるようにしたが、本発明はこれに限られ
ず、第2の搬送部側に仕込み取出槽(又はいずれか一
方)を設けることも可能である。
及び第2の搬送部にそれぞれ一つの搬送ロボットを設け
るようにしたが、二つ以上の搬送ロボットを設けること
も可能である。さらに、第3〜第6の処理用真空槽の位
置に複数の搬送部を連結するように構成することも可能
である。
移送ステージは、二つ又は四つ以上設けることも可能で
あり、また、また、移送ステージ上で加熱・冷却等の処
理を行うようにすることも可能である。
ようにすれば、いかなる搬送パターンに対してもスルー
プットを大きくすることができ、また、移送ステージ上
で例えば加熱・冷却等の予備的な処理を行うことができ
るので、多様な処理が可能な真空処理装置を得ることが
できる。
々の動作をさせることができるが、アームを伸ばした状
態で回転方向に移動させて、隣接する移送ステージ上を
移動させるようにすれば、短時間で処理対象物を搬送す
ることができる。
真空槽を連結するように構成することも可能である。
グ、CVDなど種々の真空処理を行う装置に適用しうる
もので、プロセスに応じて第1及び第2の搬送部に種々
の処理用真空槽を設けることができる。
置面積を小さくして省スペース化を達成しうるとともに
柔軟な装置構成を可能にしうる真空処理装置を提供する
ことができる。
略構成を示す平面図
外観構成を示す概略 図 (b):同処理用真空槽の内部構成を示す概略図
概略構成図
対象物) 3、4…仕込み取出槽 5(5A、5B、5
C、5D、5E、5F)…処理用真空槽 11…第1の
搬送部12…第2の搬送部 20…真空槽 21…第1
の搬送ロボット(第1の搬送機構) 22…第2の搬送
ロボット(第2の搬送機構) 30…受け渡し部 3
1、32、33…移送ステージ
Claims (4)
- 【請求項1】所定の処理対象物を搬送するための搬送機
構を有する真空処理装置であって、 第1の搬送機構を有し、所定の処理用真空槽と連通可能
な第1の搬送部と、 前記第1の搬送部と一体的に構成され、前記処理対象物
を受け渡すための受け渡し部と第2の搬送機構を有し、
所定の処理用真空槽と連通可能な第2の搬送部とを備え
たことを特徴とする真空処理装置。 - 【請求項2】前記第1の搬送部と前記第2の搬送部とが
同一の真空槽内に設けられていることを特徴とする請求
項1記載の真空処理装置。 - 【請求項3】前記受け渡し部は、所定の移送ステージを
介して前記第1の搬送部と前記第2の搬送部のいずれへ
も処理対象物を搬送できるように構成されていることを
特徴とする請求項1又は2のいずれか1項記載の真空処
理装置。 - 【請求項4】前記第1及び第2の搬送部の間にゲートバ
ルブが設けられていることを特徴とする請求項1乃至3
のいずれか1項記載の真空処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001249123A JP2003060005A (ja) | 2001-08-20 | 2001-08-20 | 真空処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2001249123A JP2003060005A (ja) | 2001-08-20 | 2001-08-20 | 真空処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003060005A true JP2003060005A (ja) | 2003-02-28 |
JP2003060005A5 JP2003060005A5 (ja) | 2008-09-04 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001249123A Pending JP2003060005A (ja) | 2001-08-20 | 2001-08-20 | 真空処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005101598A (ja) * | 2003-09-04 | 2005-04-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
JP2008078325A (ja) * | 2006-09-20 | 2008-04-03 | Ulvac Japan Ltd | 真空装置 |
JP2008147616A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Semes Co Ltd | 半導体素子の製造装置 |
US7828928B2 (en) | 2003-09-08 | 2010-11-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Vacuum processing apparatus |
JP2011108923A (ja) * | 2009-11-19 | 2011-06-02 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置 |
JP2013207014A (ja) * | 2012-03-28 | 2013-10-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
CN113192859A (zh) * | 2020-01-14 | 2021-07-30 | 长鑫存储技术有限公司 | 晶圆加工系统及晶圆加工方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63252439A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-10-19 | アプライド マテリアルズインコーポレーテッド | 多チャンバの統合処理システム |
JPH01105556A (ja) * | 1987-09-18 | 1989-04-24 | Varian Assoc Inc | モジューラ・ウェーハ処理装置のためのスパッタ・モジュール |
JPH05226453A (ja) * | 1992-02-17 | 1993-09-03 | Hitachi Ltd | 真空処理装置 |
JPH10270527A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-10-09 | Ulvac Japan Ltd | 複合型真空処理装置 |
JP2001135705A (ja) * | 1999-05-25 | 2001-05-18 | Applied Materials Inc | 半導体ウェーハ処理のためのデュアルバッファチャンバクラスタツール |
-
2001
- 2001-08-20 JP JP2001249123A patent/JP2003060005A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63252439A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-10-19 | アプライド マテリアルズインコーポレーテッド | 多チャンバの統合処理システム |
JPH01105556A (ja) * | 1987-09-18 | 1989-04-24 | Varian Assoc Inc | モジューラ・ウェーハ処理装置のためのスパッタ・モジュール |
JPH05226453A (ja) * | 1992-02-17 | 1993-09-03 | Hitachi Ltd | 真空処理装置 |
JPH10270527A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-10-09 | Ulvac Japan Ltd | 複合型真空処理装置 |
JP2001135705A (ja) * | 1999-05-25 | 2001-05-18 | Applied Materials Inc | 半導体ウェーハ処理のためのデュアルバッファチャンバクラスタツール |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005101598A (ja) * | 2003-09-04 | 2005-04-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
JP4522795B2 (ja) * | 2003-09-04 | 2010-08-11 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置 |
US7828928B2 (en) | 2003-09-08 | 2010-11-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Vacuum processing apparatus |
US7833382B2 (en) | 2003-09-08 | 2010-11-16 | Hitachi High-Technologies Corporation | Vacuum processing apparatus |
US7976632B2 (en) | 2003-09-08 | 2011-07-12 | Hitachi High-Technologies Corporation | Vacuum processing apparatus |
US8460467B2 (en) | 2003-09-08 | 2013-06-11 | Hitachi High-Technologies Corporation | Vacuum processing apparatus |
JP2008078325A (ja) * | 2006-09-20 | 2008-04-03 | Ulvac Japan Ltd | 真空装置 |
JP2008147616A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Semes Co Ltd | 半導体素子の製造装置 |
JP2011108923A (ja) * | 2009-11-19 | 2011-06-02 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置 |
JP2013207014A (ja) * | 2012-03-28 | 2013-10-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
CN113192859A (zh) * | 2020-01-14 | 2021-07-30 | 长鑫存储技术有限公司 | 晶圆加工系统及晶圆加工方法 |
CN113192859B (zh) * | 2020-01-14 | 2022-10-21 | 长鑫存储技术有限公司 | 晶圆加工系统及晶圆加工方法 |
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