JPH0965214A

JPH0965214A - 受光素子特性補正方法及び装置並びにそれらを備えた撮像装置

Info

Publication number: JPH0965214A
Application number: JP7217945A
Authority: JP
Inventors: Kenji Awamoto; 健司粟本; Yoichiro Sakachi; 陽一郎坂地; Akira Sawada; 亮澤田
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1995-08-25
Filing date: 1995-08-25
Publication date: 1997-03-07

Abstract

(57)【要約】【課題】各受光素子の受光特性が経時変化により変動
した場合でも、精度よく変動（ずれ）を補正することが
可能な受光素子特性補正装置を提供する。【解決手段】各受光素子の出力信号Ｓ_Oを多点補正方
法により補正した補正出力信号Ｓ_ORを更に補正して再補
正出力信号Ｓ_ORRを得、これに基づいて画像化する。具
体的には、チョッパＣにより撮像対象からの赤外線ＩＲ
を遮るとともに、チョッパＣの温度を一定に保って均一
化した赤外線ＩＲ’を撮像素子１００に入射させ、補正
値算出回路１により、そのときの各受光素子からの出力
信号Ｓ_Oの平均値と各出力信号Ｓ_Oとの誤差を算出し、
当該誤差に基づき経年変化による変動を補正するための
補正値Ｓ_CRを算出し、記憶回路２に記憶する。そして、
チョッパＣを操作して撮像対象からの赤外線ＩＲを撮像
素子１００に照射し、そのときの出力信号Ｓ_Oを補正値
Ｓ_CRにより補正演算回路３で補正し、再補正出力信号Ｓ
_ORRを出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の受光素子を
備えた固体撮像素子における、当該複数の受光素子毎の
受光特性の違いに起因する当該各受光素子からの出力信
号の特性のばらつきを補正する受光素子特性補正方法及
び装置並びにそれらを備えた撮像装置に関する。

【０００２】従来から利用されている固体撮像素子を備
えた撮像装置のうち、赤外線を検出するための赤外線撮
像装置は、車両、航空機、船舶等に搭載され、前方監視
装置として広く活用され、他方、事務所等の室内に人が
侵入することを監視する侵入監視装置としても一般化し
ている。これらの赤外線撮像装置の構成としては、例え
ば、ＨｇＣｄＴｅ（水銀カドミウムテルル）等の化合物
半導体からなる赤外線受光素子を一列に複数個（例えば
４個）配置して赤外線撮像素子を構成し、この赤外線撮
像装置に対して撮像対象から入射する入射光を上記複数
の受光素子の配列方向と垂直な方向に所定速度で走査す
ることにより２次元赤外線像を得る構成が一般的であ
る。

【０００３】ここで、複数の受光素子を含んだ撮像素子
を備えた赤外線撮像装置においては、一般に、当該複数
の受光素子の受光特性の違いを補正するための受光素子
特性補正装置が必要となる。これは、各受光素子を構成
している化合物半導体の組成等について各受光素子毎に
ばらつきがあるため、例えば、同じ強さの赤外線が一様
に上記撮像素子に入射した場合でも、各受光素子の出力
信号のレベルに相違がでるため、この相違を補正する必
要があるためである。

【０００４】この補正を行うための補正方法としては、
いわゆる多点補正方法と呼ばれる方法が従来から行われ
ている。

【０００５】

【従来の技術】ここで、従来技術の多点補正方法の原理
について図４及び図５を用いて説明する。

【０００６】上述のように、複数の受光素子Ｄを備えた
撮像素子においては、同じ強度の赤外線が入射した場合
でも、それぞれの受光素子Ｄの受光特性の差に対応し
て、出力される出力信号電圧に差が生じる。すなわち、
より具体的には、ある受光素子Ｄにおける入射赤外線強
度Ｉに対応する出力信号電圧Ｖの関係が、図４に符号Ｄ
で示すように基準値に対してずれる場合があるのであ
る。

【０００７】そこで、従来技術の多点補正方法では、出
力信号電圧Ｖの値を、図５に示すようにそのレベルに対
応して複数のレベル区分（図５におけるＶ₀−Ｖ₁、Ｖ
₁−Ｖ₂、Ｖ₂−Ｖ₃及びＶ₃以上の四つの区分）に分
割し、そのレベル区分毎且つ各受光素子毎にオフセット
補正係数値（出力信号のオフセットを補正する。）と感
度補正係数値（出力信号の傾きを補正する）を予め事前
試験等で設定しておく。そして、実際の撮像において、
出力信号電圧Ｖのレベルを検出し、そのレベルに応じて
検出した出力信号がどのレベル区分に属しているかを判
定し、判定した結果に基づいて、対応するレベル区分の
オフセット補正係数値と感度補正係数値を用いて出力信
号の基準値からのずれを補正する。

【０００８】この多点補正方法を用いて補正したのちの
出力信号の波形を、図５に符号Ｄで示す。図５に示すよ
うに、多点補正方法を用いれば、図４に符号Ｄで示すよ
うなずれを生じていた出力信号を、図５に符号Ｄで示す
ように基準値にほぼ等しく補正することができる。

【０００９】次に、従来技術の多点補正方法による受光
素子特性補正装置を備えた赤外線撮像装置について、図
６乃至図８を用いて説明する。始めに、図６を用いて、
従来技術の赤外線撮像装置の構成について説明する。

【００１０】図６に示すように、従来技術の赤外線撮像
装置Ｓ’は、図示しない撮像対象から入射する赤外線Ｉ
Ｒに対して、撮像素子１００に一列に配列された後述の
受光素子Ｄの視野を当該配列方向に垂直な方向に走査す
るスキャナＳＣと、スキャナＳＣによる走査に対応して
入射した赤外線ＩＲを撮像素子１００の受光素子Ｄに集
光する集光レンズＲＺと、複数の受光素子Ｄが一列に配
列され、各受光素子Ｄに入射した赤外線ＩＲの強度に対
応した出力信号Ｓ₀を当該各受光素子Ｄ毎に走査しつつ
出力する撮像素子１００と、出力信号Ｓ_OをＡ／Ｄ変換
するＡ／Ｄ変換器１０１と、ディジタル化された出力信
号Ｓ_Oを上述の原理に基づいて補正し、補正出力信号Ｓ
_ORを出力する補正部Ｒと、補正出力信号Ｓ_ORに基づき、
入射した赤外線ＩＲに対応する画像を生成し、画像信号
Ｓ_Vを出力する画像生成回路１０６と、画像信号Ｓ_Vに
基づく画像を表示するディスプレイ１０７と、により構
成されている。

【００１１】また、補正部Ｒは、ディジタル化された出
力信号Ｓ_Oのレベル区分を判定し、判定信号Ｓ_Jを出力
するレベル判定回路１０２と、レベル区分毎、且つ、受
光素子Ｄ毎に予め設定されたオフセット補正係数値及び
感度補正係数値を記憶し、判定信号Ｓ_Jに基づいて、判
定されたレベル区分に対応するオフセット補正係数値及
び感度補正係数値を含む補正データＳ_Rを出力するＲＯ
Ｍ（Read Only Memory）により構成される記憶回路１０
３と、記憶回路１０３から出力された補正データＳ_Rに
基づき、出力信号Ｓ_Oに対して補正演算を施す補正演算
回路１０４と、制御信号Ｓ_S1、Ｓ_S2及びＳ_S3を介して、
レベル判定回路１０２、記憶回路１０３及び補正演算部
１０４の動作をそれぞれ制御する制御回路１０５と、に
より構成されている。

【００１２】更に、撮像素子１００は、図７に示すよう
に、ＨｇＣｄＴｅ等の化合物半導体からなる四つの受光
素子Ｄ₁乃至Ｄ₄が垂直方向に一列に並べて配置された
構造となっており、各受光素子Ｄ₁乃至Ｄ₄の出力信号
は、所定時間毎に走査され、一つの受光素子毎に出力信
号Ｓ_Oとして出力される。また、実際の撮像時にはスキ
ャナＳＣにより撮像素子１００の視野を図７に示す方向
に走査することにより撮像対象全体に対応する２次元の
赤外線画像が得られることとなる。

【００１３】次に動作を説明する。図６及び図７に示す
構成において、撮像素子１００から出力され、Ａ／Ｄ変
換された出力信号Ｓ_Oは、レベル判定回路１０２により
そのレベル区分が判定され、判定されたレベル区分に対
応して、記憶回路１０３に記憶されているオフセット補
正係数値及び感度補正係数値を用いて補正演算回路１０
４により補正され、補正出力信号Ｓ_ORとして出力され
る。その後、補正出力信号Ｓ_ORに基づいて画像生成回路
１０６により画像化され、画像信号Ｓ_Vとしてディスプ
レイ１０７に入力され、当該画像信号Ｓ_Vに対応する画
像が表示される。

【００１４】このとき、より具体的には、補正演算回路
１０４における補正においては、各レベル区分毎且つ各
受光素子Ｄ毎のオフセット補正係数値及び感度補正係数
値をそれぞれｍ（ｎ）及びｇ（ｎ）（ｎは、各受光素子
Ｄ₁、Ｄ₂、Ｄ₃及びＤ₄を示す。）とすると、Ｓ_OR（ｎ）＝Ｓ_O（ｎ）×ｇ（ｎ）＋ｍ（ｎ）……（１）という補正演算により、補正出力信号Ｓ_ORが出力され
る。ここで、オフセット補正係数値ｍ（ｎ）及び感度補
正係数値ｇ（ｎ）は、各レベル区分内で各受光素子の受
光特性におけるオフセット値及び傾きが基準値に等しく
なるように、各レベル区分毎且つ各受光素子Ｄ毎に予め
設定され、記憶回路１０３に記憶されている。

【００１５】更に、オフセット補正係数値ｍ（ｎ）及び
感度補正係数値ｇ（ｎ）について、図８を用いてより具
体的に説明すると、実際には、オフセット補正係数値ｍ
（ｎ）は、図８に示すように、基準値に基づいたそれぞ
れのレベル区分の境界点に対応する入射赤外線強度にお
ける第１オフセット補正係数値ｍ₁（ｎ）と第２オフセ
ット補正係数値ｍ₂（ｎ）により構成され、この第１オ
フセット補正係数値ｍ ₁（ｎ）と第２オフセット補正係
数値ｍ₂（ｎ）が事前試験等により決定され感度補正係
数値ｇ（ｎ）とともに予め記憶回路１０３に記憶されて
いる。そして、補正演算回路１０４における補正では、
始めに基準値からのずれを含む各受光素子Ｄの出力信号
Ｓ_Oから第１オフセット補正係数値ｍ₁（ｎ）が減算さ
れる。次に第１オフセット補正係数値ｍ₁（ｎ）を減算
した値に対して感度補正係数値ｇ（ｎ）が乗算され、そ
の後第２オフセット補正係数値ｍ₂（ｎ）が加算され
る。従って、上記式（１）は、より具体的には、Ｓ_OR（ｎ）＝Ｓ_O（ｎ）×ｇ（ｎ）＋ｍ（ｎ）……（１）＝｛Ｓ_O（ｎ）−ｍ₁（ｎ）｝×ｇ（ｎ）＋ｍ₂（ｎ）……（２）となり、この多点補正方法により、図８に示す出力信号
Ｓ_Oが補正出力信号Ｓ_ORのように補正されるのである。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】ここで、撮像素子１０
０を構成する各受光素子の受光特性は、それを構成する
物質の組成により受光素子毎に変動するだけでなく、時
間の経過とともに変化する場合もある。すなわち、当初
図４に符号Ｄで示すずれであったものが、時間の経過に
より更に符号Ｄ’で示すようなずれに変化してしまうの
である。

【００１７】しかしながら、上述の従来技術の多点補正
方法によると、記憶回路１０３に記憶されているオフセ
ット補正係数値ｍ（ｎ）及び感度補正係数値ｇ（ｎ）
は、各レベル区分毎且つ各受光素子Ｄ毎に予め一度設定
されてしまうと、その後は変更されないので、経年（経
時）変化した（図４に符号Ｄ’で示す特性となってしま
った）受光素子に対しても、経年変化前の特性に基づく
オフセット補正係数値ｍ（ｎ）及び感度補正係数値ｇ
（ｎ）が適用される。従って、上述の従来技術の多点補
正方法による補正後は、図５に符号Ｄ’示すような特性
曲線となり、基準値により近づける適切な補正が施され
ないのである。そして、このように基準値からずれたま
まの補正出力信号Ｓ_ORに基づいて画像を生成すると、均
一な温度の撮像対象を赤外線撮像した場合でも、画像む
らが生じるという問題点があるのである。

【００１８】なお、図５に符号Ｄ’で示す補正出力信号
Ｓ_ORの基準値からのずれは、符号Ｄ’で示される特性曲
線における当該特性曲線全体の形状を変化させずにその
傾きのみを補正することにより、符号Ｄで示される特性
曲線に対応する適切な補正となることが実験的に判明し
ている。

【００１９】そこで、本発明は、上記の問題点に鑑みて
なされたもので、その目的は、撮像素子を構成する各受
光素子の受光特性が経時変化により変動した場合でも、
精度よく当該変動（ずれ）を補正することが可能な受光
素子特性補正方法及び装置並びにそれらを備えた撮像装
置を提供することにある。

【００２０】

【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために、請求項１の発明は、複数の赤外線受光素子等の
受光素子を備えた撮像素子における各前記受光素子毎の
受光特性を補正する受光素子特性補正方法において、赤
外線等の入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前
記複数の受光素子に照射する入射光均一化工程と、前記
均一化入射光が入射しているときの前記受光素子の出力
信号の平均値を算出する平均値算出工程と、前記平均値
と前記均一化入射光が入射しているときの各前記出力信
号との誤差を各前記出力信号毎に算出する誤差算出工程
と、各前記誤差に基づいて、当該誤差を補正する補正値
を算出する補正値算出工程と、撮像時において、各前記
補正値に基き、当該補正値に対応する各前記出力信号を
補正する補正工程と、を備えて構成される。

【００２１】請求項１に記載の発明の作用によれば、入
射光均一化工程において、入射光を均一化した均一化入
射光を生成し、複数の受光素子に照射する。そして、平
均値算出工程において、均一化入射光が入射していると
きの出力信号の平均値を算出する。

【００２２】その後、誤差算出工程において、算出した
平均値と均一化入射光が入射しているときの各出力信号
との誤差を各出力信号毎に算出する。そして、補正値算
出工程において、算出した各誤差に基づいて、当該誤差
を補正する補正値を算出する。

【００２３】これにより、補正工程において、上記各補
正値に基き、当該補正値に対応する撮像時の各出力信号
を補正する。よって、入射光を均一化したときの各出力
信号の平均値を用いて各受光素子毎の出力信号の変動を
補正するので、各受光素子の出力信号特性が経時変化等
により変動した場合でも、当該変動を補正して良好な撮
像画像を得ることができる。

【００２４】上記問題点を解決するために、請求項２に
記載の発明は、複数の赤外線受光素子等の受光素子から
の出力信号のレベルに応じて各前記出力信号を複数のレ
ベル区分に分類し、前記レベル区分に対応し、且つ、各
前記受光素子に対応する第１補正値を用いて各前記出力
信号を補正する受光素子補正方法において、赤外線等の
入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の
受光素子に照射する入射光均一化工程と、前記均一化入
射光が入射しているときの前記第１補正値を用いた補正
後の前記出力信号である補正後出力信号の平均値を算出
する平均値算出工程と、前記平均値と各前記補正後出力
信号との誤差を各前記補正後出力信号毎に算出する誤差
算出工程と、各前記誤差及び前記第１補正値に基づい
て、当該誤差を補正する第２補正値を算出する第２補正
値算出工程と、前記第２補正値に基き、撮像時における
各前記出力信号を前記第１補正値を用いて補正した第１
補正出力信号を再補正する再補正工程と、を備えて構成
される。

【００２５】請求項２に記載の発明の作用によれば、入
射光均一化工程において、入射光を均一化し、均一化入
射光を生成して複数の受光素子に照射する。そして、平
均値算出工程において、各補正後出力信号の平均値を算
出する。

【００２６】その後、誤差算出工程において、算出した
平均値と各補正後出力信号との誤差を各補正後出力信号
毎に算出する。そして、第２補正値算出工程において、
各誤差及び第１補正値に基づいて、当該誤差を補正する
第２補正値を算出する。

【００２７】これにより、再補正工程において、各第２
補正値に基き、撮像時における第１補正出力信号を再補
正する。よって、入射光を均一化したときの各出力信号
の平均値を用いて各受光素子毎の出力信号の変動を再補
正するので、各受光素子の出力信号特性が経時変化等に
より変動した場合でも、当該変動を補正して良好な撮像
画像を得ることができる。

【００２８】また、上記レベル区分を細分化することに
より、更にきめの細かい良好な補正を行うことができ
る。上記の問題点を解決するために、請求項３に記載の
発明は、複数の赤外線受光素子等の受光素子を備えた撮
像素子における各前記受光素子毎の受光特性を補正する
受光素子特性補正装置において、入射光を均一化し、均
一化入射光を生成して全起伏数の受光素子に照射するチ
ョッパ等の入射光均一化手段と、前記均一化入射光が入
射しているときの前記受光素子の出力信号の平均値を算
出する補正値算出回路等の平均値算出手段と、前記平均
値と前記均一化入射光が入射しているときの各前記出力
信号との誤差を各前記出力信号毎に算出する補正値算出
回路等の誤差算出手段と、各前記誤差に基づいて、当該
誤差を補正する補正値を算出する補正値算出回路等の補
正値算出手段と、撮像時において、各前記補正値に基
き、当該補正値に対応する各前記出力信号を補正し、補
正出力信号を出力する補正演算回路等の補正手段と、を
備えて構成される。

【００２９】請求項３に記載の発明によれば、入射光均
一化手段は、入射光を均一化し、均一化入射光を生成し
て複数の受光素子に照射する。そして、平均値算出手段
は、均一化入射光が入射しているときの出力信号の平均
値を算出する。

【００３０】その後、誤差算出手段は、算出した平均値
と均一化入射光が入射しているときの各出力信号との誤
差を各出力信号毎に算出する。そして、補正値算出手段
は、算出した誤差に基づいて、当該誤差を補正する補正
値を算出する。

【００３１】これにより、補正手段は、上記各補正値に
基き、当該補正値に対応する撮像時の各出力信号を補正
し、補正出力信号を出力する。よって、補正出力信号に
基づいてこれを画像化することにより、入射光を均一化
したときの各出力信号の平均値を用いて各受光素子毎の
出力信号の変動を補正するので、各受光素子の出力信号
特性が経時変化等により変動した場合でも、当該変動を
補正して良好な撮像画像を得ることができる。

【００３２】上記の問題点を解決するために、請求項４
に記載の発明は、複数の赤外線受光素子等の受光素子か
らの出力信号のレベルに応じて各前記出力信号を複数の
レベル区分に分類し、前記レベル区分に対応し、且つ、
各前記受光素子に対応する第１補正値を用いて各前記出
力信号を補正する受光素子補正装置において、入射光を
均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の受光素子
に照射するチョッパ等の入射光均一化手段と、前記均一
化入射光が入射しているときの前記第１補正値を用いた
補正後の前記出力信号である補正後出力信号の平均値を
算出する補正値算出回路等の平均値算出手段と、前記平
均値と各前記補正後出力信号との誤差を各前記補正後出
力信号毎に算出する補正値算出回路等の誤差算出手段
と、各前記誤差及び前記第１補正値に基づいて、当該誤
差を補正する第２補正値を算出する補正値算出回路等の
第２補正値算出手段と、各前記第２補正値に基き、撮像
時における各前記出力信号を前記第１補正値を用いて補
正した第１補正出力信号を再補正し、第２補正出力信号
を出力する補正演算回路等の再補正手段と、を備えて構
成される。

【００３３】請求項４に記載の発明の作用によれば、入
射光均一化手段は、入射光を均一化し、均一化入射光を
生成して複数の受光素子に照射する。そして、平均値算
出手段は、補正後出力信号の平均値を算出する。

【００３４】その後、誤差算出手段は、算出した平均値
と各補正後出力信号との誤差を各補正後出力信号毎に算
出する。そして、第２補正値算出手段は、算出した各誤
差及び第１補正値に基づいて、当該誤差を補正する第２
補正値を算出する。

【００３５】これにより、再補正手段は、各第２補正値
に基き、撮像時における第１補正出力信号を再補正し、
第２補正出力信号を出力する。よって、入射光を均一化
したときの各出力信号の平均値を用いて各受光素子毎の
出力信号の変動を再補正するので、各受光素子の出力信
号特性が経時変化等により変動した場合でも、当該変動
を補正して良好な撮像画像を得ることができる。

【００３６】また、上記レベル区分を細分化することに
より、更にきめの細かい良好な補正を行うことができ
る。上記の問題点を解決するために、請求項５に記載の
発明は、請求項４に記載の受光素子特性補正装置と、前
記受光素子に対して前記入射光を集光する集光レンズ等
の集光手段と、前記第２補正出力信号に基づき、前記入
射光に対応する画像信号を生成する画像生成回路等の画
像生成手段と、前記画像信号に基づく画像を表示するデ
ィスプレイ等の表示装置と、を備えて構成される。

【００３７】請求項５に記載の発明の作用によれば、請
求項４に記載の発明の作用に加えて、集光手段は、受光
素子に対して入射光を集光する。一方、画像生成手段
は、補正出力信号に基づき、入射光に対応する画像信号
を生成する。

【００３８】そして、表示装置は、画像信号に基づく画
像を表示する。よって、各受光素子の出力信号特性が経
時変化等により変動した場合でも、当該変動を補正した
良好な撮像画像が得られる撮像装置を実現できる。

【００３９】上記の問題点を解決するために、請求項６
に記載の発明は、複数の赤外線受光素子等の受光素子か
らの出力信号のレベルに応じて各前記出力信号を複数の
レベル区分に分類し、前記レベル区分に対応し、且つ、
各前記受光素子に対応する第１補正値を用いて各前記出
力信号を補正する受光素子補正装置において、前記第１
補正値を記憶する記憶回路等の記憶手段と、赤外線等の
入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の
受光素子に照射するチョッパ等の入射光均一化手段と、
前記均一化入射光が入射しているときの前記第１補正値
を用いた前記補正後の前記出力信号である補正後出力信
号の平均値を算出する補正値算出回路等の平均値算出手
段と、前記平均値と各前記補正後出力信号との誤差を各
前記補正後出力信号毎に算出する補正値算出回路等の誤
差算出手段と、各前記誤差及び前記第１補正値に基づい
て、当該誤差を補正する第２補正値を算出する補正値算
出回路等の第２補正値算出手段と、前記記憶手段から前
記第１補正値を読み出すとともに、当該第１補正値を前
記第２補正値に基づき修正して修正第１補正値を算出
し、撮像時における各前記出力信号に対して前記修正第
１補正値を用いて前記補正を施し、補正出力信号を出力
する補正演算回路等の補正手段と、を備えて構成され
る。

【００４０】請求項６に記載の発明の作用によれば、記
憶手段は、第１補正値を記憶する。一方、入射光均一化
手段は、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して複
数の受光素子に照射する。

【００４１】そして、平均値算出手段は、補正後出力信
号の平均値を算出する。その後、誤差算出手段は、算出
した平均値と各補正後出力信号との誤差を各補正後出力
信号毎に算出する。

【００４２】そして、第２補正値算出手段は、算出した
各誤差及び第１補正値に基づいて、当該誤差を補正する
第２補正値を算出する。その後、補正手段は、記憶手段
から第１補正値を読み出すとともに、当該第１補正値を
第２補正値に基づき修正して修正第１補正値を算出し、
撮像時における各出力信号に対して修正第１補正値を用
いて上記補正を施し、補正出力信号を出力する。

【００４３】よって、入射光を均一化したときの各出力
信号の平均値を用いて各受光素子毎の出力信号の変動を
再補正するので、各受光素子の出力信号特性が経時変化
等により変動した場合でも、当該変動を補正して良好な
撮像画像を得ることができる。

【００４４】また、上記レベル区分を細分化することに
より、更にきめの細かい良好な補正を行うことができ
る。更に、第１補正値を用いて補正を行う補正手段と修
正第１補正値を用いて補正を行う再補正手段とを共通化
することができるので、受光素子特性補正装置の構成を
簡略化することができる。

【００４５】上記の問題点を解決するために、請求項７
に記載の発明は、請求項６に記載の受光素子特性補正装
置と、前記受光素子に対して前記入射光を集光する集光
レンズ等の集光手段と、前記補正出力信号に基づき、前
記入射光に対応する画像信号を生成する画像生成回路等
の画像生成手段と、前記画像信号に基づく画像を表示す
るディスプレイ等の表示装置と、を備えて構成される。

【００４６】請求項７に記載の発明の作用によれば、請
求項６に記載の発明の作用に加えて、集光手段は、受光
素子に対して入射光を集光する。一方、画像生成手段
は、補正出力信号に基づき、入射光に対応する画像信号
を生成する。

【００４７】そして、表示装置は、画像信号に基づく画
像を表示する。よって、各受光素子の出力信号特性が経
時変化等により変動した場合でも、当該変動を補正した
良好な撮像画像が得られる撮像装置を実現できる。

【００４８】

【発明の実施の形態】次に、本発明の好適な実施形態に
ついて、図１乃至図３を用いて説明する。なお、以下の
各実施形態は、本発明を撮像対象が発生する赤外線を検
出することにより、撮像対象の赤外線画像（当該撮像対
象の温度分布像に相当する）を出力する赤外線撮像装置
に適用した場合について説明する。（Ｉ）第１実施形態始めに請求項１乃至５に記載の発明に対応する第１の実
施形態について図１及び図２を用いて説明する。本第１
実施形態においては、図５に符号Ｄ’で示す特性曲線に
対応する特性（経時変化により基準値からずれた特性）
を有する補正出力信号Ｓ_ORに対して、当該特性曲線にお
けるその傾きを補正すべく、図６に示す赤外線撮像装置
Ｓ’の構成に加えて、第２補正部Ｒ₂が追加される。

【００４９】始めに、第１実施形態に係る赤外線撮像装
置の構成について図１を用いて説明する。なお、以下の
説明においては、図６に示す赤外線撮像装置Ｓ’と同様
の構成部材については、同様の部材番号を付し、細部の
構成、動作等の説明は省略する。

【００５０】図１に示すように、第１実施形態の赤外線
撮像装置Ｓ₁は、図６に示す赤外線撮像装置Ｓ’の構成
に加えて、撮像素子１００に対して集光手段としての集
光レンズＲＺを介して入射する図示しない撮像対象から
の赤外線ＩＲを一時的に遮るとともに、後述の入射光均
一化手段としてのチョッパ制御回路５からの制御信号Ｓ
_SCに基づいて一定温度に保たれることにより、撮像素子
１００を構成する各受光素子Ｄに対して均一な（一様
な）赤外線ＩＲ’を照射する入射光均一化手段としての
チョッパＣと、チョッパＣにより均一な赤外線ＩＲ’が
各受光素子Ｄに入射しているときの各受光素子Ｄに対応
する複数の補正出力信号Ｓ_ORの平均値Ｍを算出するとと
もに、当該平均値Ｍと、均一な赤外線ＩＲ’が入射して
いるときの各受光素子Ｄに対応する各補正出力信号Ｓ_OR
との誤差を各補正出力信号Ｓ_OR毎に算出し、更にこの誤
差に基づいて各補正出力信号Ｓ_ORを再度補正するための
補正値Ｓ_CRを算出する平均値算出手段、誤差算出手段及
び第２補正値算出手段（補正値算出手段）としての補正
値算出回路１と、算出された補正値Ｓ_CRを一時的に記憶
するＲＡＭ（Random Access Memory）等により構成され
る記憶回路２と、記憶回路２に記憶された補正値Ｓ_CRに
基づき、チョッパＣによる遮断が開放された通常の撮像
対象からの赤外線ＩＲを撮像中における各受光素子Ｄに
対応する各補正出力信号Ｓ_ORを再補正し、再補正出力信
号Ｓ_ORRを出力する再補正手段（補正手段）としての補
正演算回路３と、制御信号Ｓ_S4、Ｓ_S5及びＳ_S6を介し
て、補正値算出回路１、記憶回路２及び後述のチョッパ
制御回路５の動作をそれぞれ制御する制御回路４と、制
御回路４の制御の下、チョッパＣの動作を制御する入射
光均一化手段としてのチョッパ制御回路５とにより構成
されている。

【００５１】なお、上述の構成において、チョッパＣ
は、具体的には、一部に撮像対象からの赤外線ＩＲを通
過させるための穴が開けられた円盤状等の形状の発熱体
であり、均一化された赤外線ＩＲ’を発生させる場合に
は、撮像素子１００の各受光素子Ｄに対して穴の空いて
いない部分を対向させることにより、撮像対象からの赤
外線ＩＲを遮断するとともに、チョッパ制御回路５の制
御により一定の温度に保たれ、これにより各受光素子Ｄ
に対して均一化された赤外線ＩＲ’を照射する。そし
て、補正値Ｓ_CRが算出され記憶回路２に記憶されたのち
は、穴の部分を各受光素子Ｄに対向させるようにチョッ
パＣが移動（回転）され、撮像対象からの赤外線ＩＲが
撮像素子１００に照射されるようになる。そして、当該
撮像対象の赤外線画像化が行われる。

【００５２】次に、赤外線撮像装置Ｓ₁の動作について
図１及び図２を用いて説明する。始めに、チョッパＣに
より撮像対象からの赤外線ＩＲを遮断するとともに、チ
ョッパ制御回路５によりチョッパＣを一様な温度にし、
均一化された赤外線ＩＲ’を撮像素子１００の各受光素
子Ｄに入射させる。すると、各受光素子Ｄからの出力信
号Ｓ_Oは、Ａ／Ｄ変換されたのち、補正部Ｒに入力さ
れ、上述の多点補正方法により、予め設定したレベル区
分毎に上述の多点補正が施され、補正出力信号Ｓ_ORとし
て出力される。ここで、例えば、撮像素子１００におけ
る受光素子Ｄ ₂について、その補正出力信号Ｓ_ORが、受
光素子Ｄ₂の経時変化による受光特性の変動により、図
２に符号Ｄ₂’で示すような、依然として基準値からず
れた（補正部Ｒによる補正によっても補正されない基準
値からのずれを含む）特性曲線を有しているものとす
る。

【００５３】つぎに、当該補正出力信号Ｓ_ORは、補正演
算回路３に入力されるとともに、補正値算出回路１に入
力される。そして、補正値算出回路１において、始め
に、均一化された赤外線ＩＲ’（そのときの赤外線Ｉ
Ｒ’の強度をＩ_Cとする。）が照射されているときの各
受光素子Ｄの補正出力信号Ｓ_ORの出力電圧の平均値Ｍが
算出される。次に、各受光素子Ｄのそれぞれについて、
均一化された赤外線ＩＲ’が照射されているときの補正
出力信号Ｓ_ORの出力電圧と上記平均値Ｍとの誤差が算出
される。そして、この誤差に基づいて、各受光素子Ｄの
補正出力信号Ｓ_ORの傾きを補正して基準値により近づけ
るべく補正値Ｓ_CRが算出され、記憶回路２に出力され
る。

【００５４】誤差の算出以降の動作についてより具体的
に、例えば、受光素子Ｄ₂について説明すると、図２に
示すように、均一化された赤外線ＩＲ’（強度Ｉ_C）が
照射されているときの受光素子Ｄ₂の補正出力信号Ｓ_OR
（図２符号Ｄ₂’）の出力電圧と上記平均値Ｍとの誤差
Ｅ（Ｄ₂）が補正値算出回路１により算出される。ここ
で、この誤差Ｅ（Ｄ₂）は、受光素子Ｄ₂の経時変化に
よる受光特性の変化による誤差に相当する。そして、こ
の誤差Ｅ（Ｄ₂）を用いて、受光素子Ｄ₂についての経
時変化による変動の補正値Ｓ_CR（Ｄ₂）が以下の式
（３）により算出される。

【００５５】Ｓ_CR（Ｄ₂）＝Ｍ／（Ｍ＋Ｅ（Ｄ₂））……（３）ここで、図２に符号Ｄ₂’で示される補正出力信号の値
は基準値よりも小さいので、誤差Ｅ（Ｄ₂）は負の値と
なる。これが仮に逆の場合は誤差Ｅ（Ｄ₂）は正の値と
なる。そして、式（３）に基づく補正値Ｓ_CRの算出が各
受光素子Ｄ₁、Ｄ₂、Ｄ₃及びＤ₄について行われ、そ
れぞれの補正値Ｓ_CR（Ｄ₁）、Ｓ_CR（Ｄ₂）、Ｓ_CR（Ｄ
₃）及びＳ_CR（Ｄ₄）が記憶回路２に記憶される。

【００５６】各補正値Ｓ_CRの記憶が終わると、次に、制
御回路４は、チョッパ制御回路５を介してチョッパＣを
移動（回転）させ、均一な赤外線ＩＲ’に代えて、撮像
対象からの赤外線ＩＲを各受光素子Ｄに入射させる。こ
のとき補正部Ｒからは、経年変化による受光特性の変動
に伴う誤差を含んだ補正出力信号Ｓ_ORが出力されるが、
これに対して、補正演算回路３は記憶回路２に記憶され
ている補正値Ｓ_CRを各受光素子Ｄ毎に読み出し、それぞ
れの受光素子の補正出力信号Ｓ_ORの値に対して対応する
補正値Ｓ_CRを乗算し、再補正出力信号Ｓ_ORRとして画像
生成手段としての画像生成回路１０６に出力する。すな
わち、Ｓ_ORR（ｎ）＝Ｓ_OR（ｎ）×Ｓ_CR（ｎ）……（４）（ｎは、各受光素子Ｄ₁、Ｄ₂、Ｄ₃及びＤ₄を示
す。）となる。そして、画像生成回路１０６は再補正出
力信号Ｓ_ORRに基づく画像を生成して画像信号Ｓ_Vとし
て出力し、表示手段としてのディスプレイ１０７は画像
信号Ｓ_Vに基づく画像を表示する。

【００５７】ここで、上述のように、図２に示す補正出
力信号Ｓ_OR（図５に符号Ｄ’で示した特性曲線に相当す
る。）は、その傾きを補正するのみで経時変化に対応し
た適切な補正を行えることが判明しているので、上記式
（４）に基づく補正を行うことにより、図２に示す、各
受光素子Ｄの経時変化に対して補正が適切に施された再
補正出力信号Ｓ_ORRを得ることができる。

【００５８】以上説明したように、第１実施形態の赤外
線撮像素子Ｓ₁によれば、補正部Ｒにより補正された補
正出力信号Ｓ_ORに対して、均一な赤外線ＩＲ’照射時の
各受光素子Ｄの補正出力信号Ｓ_ORの平均値Ｍに基づいて
各受光素子Ｄの経時変化に対する補正を施して再補正出
力信号Ｓ_ORRを得、当該再補正出力信号Ｓ_ORRに基づい
て赤外線画像を得るので、各受光素子Ｄが経時変化して
いる場合でも、当該変化による出力信号の基準値からの
ずれを補正し、画像むら等のない正しい赤外線画像を得
ることができる。（II）第２実施形態次に、請求項６及び７に記載の発明に対応する第２の実
施形態について、図３を用いて説明する。第１実施形態
においては、多点補正方法による補正を補正演算回路１
０４により行い、本発明による経時変化に対応する補正
を補正演算回路３により行っていたが、本第２実施形態
は、上記二つの補正を合わせて一つの補正演算回路で行
おうとするものである。なお、第２実施形態において、
第１実施形態と同様の部材には、同様の部材番号を付
し、細部の説明は省略する。

【００５９】図３に示すように、第２実施形態の赤外線
撮像装置Ｓ₂は、第１実施形態の赤外線撮像装置Ｓ₁に
おける補正部Ｒ及び第２補正部Ｒ₂に代えて、レベル判
定回路１０２、補正算出回路１０、制御回路１１、補正
演算回路１２、記憶回路１３及び制御回路１０５により
補正部Ｒ’を構成している。ここで、記憶回路１３は、
ＮＶＲＡＭ（Non Volatile Random Access Memory;不揮
発性ＲＡＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable
and Programmable Read Only Memory ）又はフラッシュ
メモリ等の書き換え可能な不揮発性メモリにより構成さ
れている。

【００６０】次に動作を説明する。上記の構成におい
て、始めに、一定時間、チョッパＣにより撮像対象から
の赤外線ＩＲを遮るとともに、均一な赤外線ＩＲ’を各
受光素子Ｄに対して照射し、そのときの出力信号Ｓ_Oに
対して、レベル判定回路１０２、記憶回路１３、制御回
路１０５及び補正演算回路１２により上述の多点補正方
法による補正を行い、補正出力信号Ｓ_ORを出力する。こ
のとき、記憶回路１３には、上述のオフセット補正係数
値ｍ（ｎ）及び感度補正係数値ｇ（ｎ）が予め決定され
て記憶されており、これらを用いて、所定のレベル区分
毎に多点補正が行われる。

【００６１】均一な赤外線ＩＲ’の入射中に各受光素子
Ｄ毎に多点補正が行われると、それぞれの受光素子Ｄに
対応する補正出力信号Ｓ_ORが補正値算出回路１０に入力
され、第１実施形態と同様の方法（上記式（３））によ
り、各受光素子Ｄ毎の補正値Ｓ_CRが算出され保持され
る。そして、次に、記憶回路１３に記憶されている感度
補正係数値ｇ（ｎ）を補正値算出回路１０に読み出し、
当該補正値算出回路１０において、ｇ’（ｎ）＝ｇ（ｎ）×Ｓ_CR（ｎ）……式（５）で示される演算が行われ、新しい（経時変化に対応した
補正を含む）修正感度補正係数値ｇ’（ｎ）が算出さ
れ、再び記憶回路１３に記憶される。以上の補正値算出
回路１０及び記憶回路１３における動作は、制御回路１
１からの制御信号Ｓ _S7及びＳ_S8に基づいて行われる。

【００６２】修正感度補正係数値ｇ’（ｎ）の記憶が終
わると、次に、制御回路１１は、チョッパ制御回路５を
介してチョッパＣを移動（回転）させ、均一な赤外線Ｉ
Ｒ’に代えて、撮像対象からの赤外線ＩＲを各受光素子
Ｄに入射させる。そして、このときの出力信号Ｓ_Oに対
して、補正演算回路１２により修正感度補正係数値ｇ’
（ｎ）とオフセット補正係数値ｍ（ｎ）を用いた多点補
正が施され、再補正出力信号Ｓ_ORRが生成され、画像生
成回路１０６に出力される。このとき、記憶回路１３か
らは、修正感度補正係数値ｇ’（ｎ）とオフセット補正
係数値ｍ（ｎ）を含む補正データＳ_R’が補正演算回路
１２に対して出力されることとなる。このように修正感
度補正係数値ｇ’（ｎ）を用いた多点補正により各受光
素子の経時変化による出力信号のずれを補正することが
できるのは、図２に示す補正出力信号Ｓ_OR（図５に符号
Ｄ’で示した特性曲線に相当する。）が、その傾きを補
正するのみで経時変化に対応した適切な補正を行えるこ
とによるものである。

【００６３】以上説明したように、第２実施形態によれ
ば、第１実施形態と同様に、各受光素子Ｄに経時変化に
よる受光特性の変動が生じている場合でも、それを適切
に補正して画像むら等のない良好な画像が得られるとい
う効果に加えて、単一の補正演算回路１２により多点補
正だけでなく経時変換に対応した補正も可能であるの
で、赤外線撮像装置Ｓ₂全体をより簡略化及び小型化す
ることが可能となる。（III ）変形形態以上説明した第１及び第２実施形態においては、チョッ
パＣにより撮像対象からの赤外線ＩＲを一時的に遮ると
ともに、当該チョッパＣを一定温度に保って均一な赤外
線ＩＲ’を撮像素子１００に照射するように構成した
が、本発明はこれに限らず、ミラー等を用いて、撮像対
象内の均一温度部分からの赤外線のみが撮像素子１００
に入射するようにすることもできる。

【００６４】また、多点補正方法におけるレベル区分
は、四つに区分するだけでなく、更に最分化して区分す
れば、補正の精度を向上させることができる。

【００６５】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１又は３に
記載の発明によれば、入射光を均一化したときの各出力
信号の平均値を用いて各受光素子毎の出力信号の変動を
補正するので、各受光素子の出力信号特性が経時変化等
により変動した場合でも、当該変動を補正して良好な撮
像画像を得ることができる。

【００６６】請求項２又は４に記載の発明によれば、入
射光を均一化したときの各出力信号の平均値を用いて各
受光素子毎の出力信号の変動を再補正するので、各受光
素子の出力信号特性が経時変化等により変動した場合で
も、当該変動を補正して良好な撮像画像を得ることがで
きる。

【００６７】また、第１補正値を用いた補正におけるレ
ベル区分を細分化することにより、更にきめの細かい良
好な補正を行うことができる。請求項５に記載の発明に
よれば、請求項４に記載の発明の効果に加えて、各受光
素子の出力信号特性が経時変化等により変動した場合で
も、当該変動を補正した良好な撮像画像が得られる撮像
装置を実現できる。

【００６８】請求項６に記載の発明によれば、入射光を
均一化したときの各出力信号の平均値を用いて各受光素
子毎の出力信号の変動を再補正するので、各受光素子の
出力信号特性が経時変化等により変動した場合でも、当
該変動を補正して良好な撮像画像を得ることができる。

【００６９】また、第１補正値を用いた補正におけるレ
ベル区分を細分化することにより、更にきめの細かい良
好な補正を行うことができる。更に、第１補正値を用い
て補正を行う補正手段と修正第１補正値を用いて補正を
行う再補正手段とを共通化することができるので、受光
素子特性補正装置の構成を簡略化することができる。

【００７０】請求項７に記載の発明によれば、請求項６
に記載の発明の効果に加えて、各受光素子の出力信号特
性が経時変化等により変動した場合でも、当該変動を補
正した良好な撮像画像が得られる撮像装置を実現でき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１実施形態の赤外線撮像装置の概要構成ブロ
ック図である。

【図２】第１実施形態の赤外線撮像装置による補正後の
特性曲線を示すグラフ図である。

【図３】第２実施形態の赤外線撮像装置の概要構成ブロ
ック図である。

【図４】受光素子の出力信号の基準値からのずれを説明
するグラフ図である。

【図５】多点補正方法による出力信号の補正を説明する
グラフ図である。

【図６】従来技術の赤外線撮像装置の概要構成ブロック
図である。

【図７】撮像素子の細部構成を示す図である。

【図８】出力信号とオフセット補正係数の関係を示すグ
ラフ図である。

【符号の説明】

１、１０…補正値算出回路２、１３、１０３…記憶回路３、１２、１０４…補正演算回路４、１１、１０５…制御回路５…チョッパ制御回路１００…撮像素子１０１…Ａ／Ｄ変換器１０２…レベル判定回路１０６…画像生成回路１０７…ディスプレイＤ、Ｄ₁、Ｄ₂、Ｄ₃、Ｄ₄…受光素子Ｓ_O…出力信号Ｓ_J…判定信号Ｓ_R、Ｓ_R’…補正データＳ_OR…補正出力信号Ｓ_V…画像信号Ｓ_S1、Ｓ_S2、Ｓ_S3、Ｓ_S4、Ｓ_S5、Ｓ_S6、Ｓ_S7、Ｓ_S8、Ｓ
_SC…制御信号Ｓ_CR…補正値Ｓ_ORR…再補正出力信号ＩＲ、ＩＲ’…赤外線ＳＣ…スキャナＣ…チョッパＲＺ…集光レンズＲ、Ｒ’…補正部Ｒ₂…第２補正部Ｓ₁、Ｓ₂、Ｓ’…赤外線撮像装置ｇ（ｎ）…感度補正係数値ｇ’（ｎ）…修正感度補正係数値

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の受光素子を備えた撮像素子におけ
る各前記受光素子毎の受光特性を補正する受光素子特性
補正方法において、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の
受光素子に照射する入射光均一化工程と、前記均一化入射光が入射しているときの前記受光素子の
出力信号の平均値を算出する平均値算出工程と、前記平均値と前記均一化入射光が入射しているときの各
前記出力信号との誤差を各前記出力信号毎に算出する誤
差算出工程と、各前記誤差に基づいて、当該誤差を補正する補正値を算
出する補正値算出工程と、撮像時において、各前記補正値に基き、当該補正値に対
応する各前記出力信号を補正する補正工程と、を備えたことを特徴とする受光素子特性補正方法。
【請求項２】複数の受光素子からの出力信号のレベル
に応じて各前記出力信号を複数のレベル区分に分類し、
前記レベル区分に対応し、且つ、各前記受光素子に対応
する第１補正値を用いて各前記出力信号を補正する受光
素子補正方法において、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の
受光素子に照射する入射光均一化工程と、前記均一化入射光が入射しているときの前記第１補正値
を用いた補正後の前記出力信号である補正後出力信号の
平均値を算出する平均値算出工程と、前記平均値と各前記補正後出力信号との誤差を各前記補
正後出力信号毎に算出する誤差算出工程と、各前記誤差及び前記第１補正値に基づいて、当該誤差を
補正する第２補正値を算出する第２補正値算出工程と、各前記第２補正値に基き、撮像時における各前記出力信
号を前記第１補正値を用いて補正した第１補正出力信号
を再補正する再補正工程と、を備えたことを特徴とする受光素子特性補正方法。
【請求項３】複数の受光素子を備えた撮像素子におけ
る各前記受光素子毎の受光特性を補正する受光素子特性
補正装置において、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して全起伏数の
受光素子に照射する入射光均一化手段と、前記均一化入射光が入射しているときの前記受光素子の
出力信号の平均値を算出する平均値算出手段と、前記平均値と前記均一化入射光が入射しているときの各
前記出力信号との誤差を各前記出力信号毎に算出する誤
差算出手段と、各前記誤差に基づいて、当該誤差を補正する補正値を算
出する補正値算出手段と、撮像時において、各前記補正値に基き、当該補正値に対
応する各前記出力信号を補正し、補正出力信号を出力す
る補正手段と、を備えたことを特徴とする受光素子特性補正装置。
【請求項４】複数の受光素子からの出力信号のレベル
に応じて各前記出力信号を複数のレベル区分に分類し、
前記レベル区分に対応し、且つ、各前記受光素子に対応
する第１補正値を用いて各前記出力信号を補正する受光
素子補正装置において、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の
受光素子に照射する入射光均一化手段と、前記均一化入射光が入射しているときの前記第１補正値
を用いた補正後の前記出力信号である補正後出力信号の
平均値を算出する平均値算出手段と、前記平均値と各前記補正後出力信号との誤差を各前記補
正後出力信号毎に算出する誤差算出手段と、各前記誤差及び前記第１補正値に基づいて、当該誤差を
補正する第２補正値を算出する第２補正値算出手段と、各前記第２補正値に基き、撮像時における各前記出力信
号を前記第１補正値を用いて補正した第１補正出力信号
を再補正し、第２補正出力信号を出力する再補正手段
と、を備えたことを特徴とする受光素子特性補正装置。
【請求項５】請求項４に記載の受光素子特性補正装置
と、前記受光素子に対して前記入射光を集光する集光手段
と、前記第２補正出力信号に基づき、前記入射光に対応する
画像信号を生成する画像生成手段と、前記画像信号に基づく画像を表示する表示装置と、を備えたことを特徴とする撮像装置。
【請求項６】複数の受光素子からの出力信号のレベル
に応じて各前記出力信号を複数のレベル区分に分類し、
前記レベル区分に対応し、且つ、各前記受光素子に対応
する第１補正値を用いて各前記出力信号を補正する受光
素子補正装置において、前記第１補正値を記憶する記憶手段と、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の
受光素子に照射する入射光均一化手段と、前記均一化入射光が入射しているときの前記第１補正値
を用いた前記補正後の前記出力信号である補正後出力信
号の平均値を算出する平均値算出手段と、前記平均値と各前記補正後出力信号との誤差を各前記補
正後出力信号毎に算出する誤差算出手段と、各前記誤差及び前記第１補正値に基づいて、当該誤差を
補正する第２補正値を算出する第２補正値算出手段と、前記記憶手段から前記第１補正値を読み出すとともに、
当該第１補正値を前記第２補正値に基づき修正して修正
第１補正値を算出し、撮像時における各前記出力信号に
対して各前記修正第１補正値を用いて前記補正を施し、
補正出力信号を出力する補正手段と、を備えたことを特徴とする受光素子特性補正装置。
【請求項７】請求項６に記載の受光素子特性補正装置
と、前記受光素子に対して前記入射光を集光する集光手段
と、前記補正出力信号に基づき、前記入射光に対応する画像
信号を生成する画像生成手段と、前記画像信号に基づく画像を表示する表示装置と、を備えたことを特徴とする撮像装置。