KR20170131428A - 이미징 플레이트 스캐너 - Google Patents

Abstract

본 발명은 노출된 이미징 플레이트를 판독하기 위한 장치에 관한 것으로서, 판독 광이 생성될 수 있는 광 소스와, 편향 유닛 - 판독 광은 이미징 플레이트를 판독하기 위한 판독 스팟으로 이미징 플레이트에 순차적으로 지향될 수 있어서, 이동하는 판독 스팟이 상기 이미징 플레이트에 생성될 수 있음 - 과, 판독 광에 의한 판독 동안에, 이미징 플레이트에 의해 발산된 형광에 대한 검출 유닛과, 광 소스, 편향 유닛 및 검출 유닛을 제어하도록 설계된 제어 장치를 포함한다. 본 발명에 따르면, 제어 장치는 판독 파라미터를 결정하기 위해, 이미징 플레이트의 예비 판독을 수행하고, 이후에, 결정된 판독 파라미터를 사용하면서, 이미징 플레이트의 판독을 수행하도록 설계된다. 본 발명은 또한, 이미징 플레이트를 판독하기 위한 방법에 관한 것인데, 상기 방법은, 이미징 플레이트 상의 정보의 일부를 판독하는 단계와, 정보의 판독 부분에 기초하여 판독 파라미터를 결정하는 단계와, 및 판독 파라미터를 사용하면서, 이미징 플레이트의 정보의 나머지 부분을 판독하는 단계를 포함한다.

Description

이미징 플레이트 스캐너

본 발명은 노출된 이미징 플레이트를 판독하기 위한 장치에 관한 것이다.

요즈음에, 이미징 플레이트는 x-레이 기술, 특히 치과용 x-레이 기술의 범위 내의 x-레이 이미지를 기록하는데 사용된다. 이들 이미징 플레이트는 투명한 주형(matrix)에 내장된 인광 물질을 포함한다. 그 결과, 소위 저장 센터(storage center)가 발생하는데, 이는 입사 x-레이에 의해 여기된 준안정의 상태로 변환될 수 있다. 이러한 이미징 플레이트는 가령, 환자의 바이트윙(bitewing)을 기록하기 위한 x-레이 시설 내에서 노출된다면, 이미징 플레이트는 여기된 저장 센터와 비여기된 저장 센터의 형태로 잠재하는 x-레이 이미지를 얻는다.

이미징 플레이트를 판독하기 위해, 후자는 스캐닝 장치 내의 판독 광(readout light)으로 포인트-바이-포인트(point-by-point)로 스캔되어서, 그 결과로, 여기된 저장 센터의 준안정 상태는, 형광의 발산하에서 빠르게 안정화되는 상태로 된다. 이러한 형광은, 검출 유닛의 도움으로 캡쳐될 수 있어서, x-레이 이미지는 적절한 평가 전자기구를 사용하여 가시화될 수 있다.

가령, 드럼 스캐너와 같은 종래의 스캐닝 장치는 이미징 플레이트를 판독 갭(readout gap) 위의 원통 영역을 따라 안내한다. 원통 영역의 내부에서, 회전 거울은 편향 유닛으로 제공되고, 상기 회전 거울은 순환 판독 빔을 생성한다. 이러한 판독 빔은 판독 갭을 통하여 이미징 플레이트 상으로 가고, 후자 포인트-바이-포인트를 판독한다. 동시에, 이미징 플레이트는 기계적 드라이브에 의해 판독 갭을 지나도록 안내되어서, 이미징 플레이트의 전체 영역이 캡쳐된다.

대개, 이미징 플레이트는 사전설정 또는 구조적으로 미리정한 고정된 판독 파라미터로 판독된다. 가령, 판독 파라미터는, 이미징 플레이트 상의 판독 스팟의 치수, 가령, 초점 치수, 여기 레이저의 레이저 강도, 이미지 수신기의 이득, 민감도 및 특징, 및 픽셀 당 통합 시간을 포함한다. 이러한 결과는, 기록 조건이 강하게 변한 경우에는, 이상적인 이미지 품질을 얻을 수 없다는 것이다. 예시로서, 이미징 플레이트의 과다 노출 또는 과소 노출 또는 이미징 플레이트 상에 위치된 이미지 내의 대량 동적 범위에 반응할 수 없다. 하나의 가능한 해결책은 이후의 이미징 프로세싱에 의해 리드 이미지를 교정하는 것에 있다. 그러나, 이는 특정한 환경에서, 증가된 이미지 노이즈나 이미지 아티팩트로 이어질 수 있다. 대안적으로, 시스템의 전체 동적 범위는 증가될 수 있다. 그러나, 경제적 또는 기술적 관점에서 종종 실현되지 못한다.

본 발명은 노출된 이미징 플레이트를 판독하기 위한 장치 및 방법을 명시하는 목적에 기초하는데, 이는 상기 언급된 단점을 적어도 감소시키고, 특히, 이미징 플레이트에 위치된 이미지의 이상적인 판독 파라미터로 판독을 용이하게 한다.

독립항 1에 따른 장치에 의해, 본 목적이 달성된다. 장치의 추가적인 컨피규레이션은 종속항에서 명시된다. 게다가, 독립항 10항에 따른 이미징 플레이트를 판독하기 위한 방법에 의해 본 목적이 달성된다. 본 방법의 추가적인 구성은 대응되는 종속항에서 명시된다.

노출된 이미징 플레이트를 판독하기 위한 본 발명에 따른 장치는 광 소스를 포함하는데, 이에 의해, 판독 광이 생성될 수 있다. 예시로서, 광 소스는 레이저 광 소스일 수 있다. 장치는 편향 유닛을 더 포함하는데, 이에 의해, 판독 광은 이미징 플레이트를 판독하기 위한 특정한 판독 스팟으로 이미징 플레이트에서 순차적으로 지향될 수 있다. 여기서, 이미징 플레이트의 단위 면적당 판독 여기 전력이 생성된다. 예시로서, 편향 유닛은 판독 광을 편향시키기 위한 제어가능한 거울을 포함할 수 있다. 거울은 처음에 제시된 타입의 회전 편향 거울일 수 있다. 대안적으로, 장치는 판독 프로세스 동안에 정적인 이미징 플레이트 및 마이크로 거울과 같은, 이동식 거울을 포함할 수 있다.

게다가, 장치 내에는, 판독 광에 의한 판독 동안에, 이미징 플레이트에 의해 발산된 형광에 대한 검출 유닛과, 광 소스, 편향 유닛, 및 검출 유닛을 제어하도록 구성된 제어 장치로 구성된 준비가 되어 있다.

본 발명에 따르면, 판독 파라미터를 확인하기 위해, 이미징 플레이트의 판독을 실시하고, 이후에, 확인된 판독 파라미터를 사용하여 이미징 플레이트의 판독을 실시하도록 구성된 준비가 장치에서 구성된다. 실제 판독 프로세스 이전에 수행된 사전 판독 프로세스는, 가령, 이미징 플레이트의 노출 상태를 결정하기 위해 수행할 수 있다. 이는 이후의 실제 판독 프로세스에 대한 최적화된 판독 파라미터를 확인하는 것을 용이하게 한다.

바람직하게는, 판독 파라미터와 상이한 사전 판독 파라미터로 사전 판독이 실행되도록 구성된다. 따라서, 가령, 이미징 플레이트의 노출 상태를 확인하기에 적합한, 동시에, 이미징 플레이트상에 저장된 정보를 가능한 적게 손상시키는 사전 판독 파라미터는 사전 판독 프로세스에 사용될 수 있다.

판독 파라미터가 광 소스의 전력 출력, 이미징 플레이트의 단위 면적당 여기 전력, 스팟 치수, 통합 시간, 검출 유닛 이득, 검출 유닛 민감도, 검출 유닛 특성, 공간적 판독 스킴 및/또는 시간적 판독 스킴을 포함하도록 구성된다면 바람직할 수 있다. 이들 판독 파라미터들 중 하나, 상기 판독 파라미터들의 조합이나 판독 파라미터의 전부를 가변하는 것은 사전 판독 프로세스를 적절하게 설계하는데 적절할 수 있다. 이와 동시에, 이들 판독 파라미터들 중 하나, 상기 판독 파라미터들의 조합이나 판독 파라미터의 전부는 가변될 수 있어서, 사전 판독 동안에 확인된 정보에 의존하여 최적화될 수 있다.

본 발명에 따른 장치의 가능한 컨피규레이션에서, 제어 장치는, 판독 여기 전력보다 낮은 사전 판독 여기 전력으로, 사전 판독을 위해 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력을 결정하도록 구성된다. 따라서, 이미징 플레이트에 부딪치는 판독 광은, 특히 2 내지 100의 인자, 바람직하게는 10 내지 50 인자, 특히 바람직하게는 10의 인자만큼, 이미징 플레이트의 단위 면적당 판독 여기 전력에 있어서, 실제 판독 프로세스 동안보다 낮게 설정된다. 사전 판독 동안에, 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력은, 형광이 이후의 판독 프로세스 동안에 발산될 수 있도록 설정되어야 한다.

이후의 판독 프로세스 동안에, 확인된 값은, 사전 판독 동안에 판독된 형광 값이 실제 판독 동안에 확인된 형광 값에 추가된다는 점에서, 이미 알려진 사전 판독 포인트를 기초로 교정될 수 있다. 대안적으로, 사전 판독 동안에 이미징 플레이트 위치에서 확인된 값은 버려질 수 있고, 이웃하는 위치를 기초로 보간이 수행될 수 있다.

이러한 맥락에서, 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력은, 광 소스의 판독 전력 출력보다 작은 광 소스의 사전 판독 전력 출력에 의해 생성될 수 있도록 구성될 수 있다. 그러므로, 본 발명에 따르면, 여기 레이저의 연속파 또는 펄스형 출력이 감소될 수 있도록 구성될 수 있다.

추가적으로, 또는 대체적으로, 판독 스팟 치수보다 더 작거나 더 큰 사전 판독 치수에 의해 생성될 수 있는, 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력에 대한 바람직한 실시예가 제공될 수 있다. 여기서 두 개의 대안예가 가능하다. 제1 대안예에 따르면, 사전 판독 스팟 치수는 작게 유지된다. 그래서, 전체 이미징 플레이트 면적과 비교하여 작은 스팟 치수는 사전 판독 프로세스에 사용된다. 특히, 사전 판독 스팟 치수는 실제 판독 프로세스 동안보다 더 작게 선택될 수 있다. 대안적으로, 판독 스팟 치수는 실질적으로 더 크게 설계될 수 있다. 판독 광의 변하지 않는 사전 판독 강도의 경우에, 이는 이미징 플레이트의 단위 면적과 단위 시간당 여기 전력을 감소시켜서, 이미징 플레이트 면적의 비교적 큰 영역 위에 평균화를 야기한다. 바람직하게는, 사전 판독 스팟 치수는 판독 스팟 치수보다 적어도 열 배 크게 선택될 수 있다.

게다가, 판독 시간 주기보다 짧은 사전 판독 시간 주기에 의해 결정될 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력이 일 실시예에서 추가적 또는 대안적으로 제공될 수 있다. 판독 시간 주기는, 단일 판독 포인트를 판독하기 위해 요구되는 시간 주기, 가령, 통합 시간일 수 있다. 그러나, 판독 시간 주기는 전체 이미징 플레이트 영역을 판독하기 위해 전체적으로 요구되는 시간일 수도 있다. 판독에 요구되는 시간 주기를 줄이기 위해, 이미징 플레이트상에 위치된 이미지의 부분적인 정보 아이템을 얻을 수 있고, 상기 부분적인 정보 아이템은 판독 파라미터를 확인하는데 충분하다.

사전 판독이 복수의 사전 판독 포인트를 포함한다면, 이것의 수는 판독 포인트의 전체 수보다 적은 것이 바람직할 수 있다. 그러므로, 대안적 또는 추가적으로, 가령, 판독 전력 출력을 감소함에 의해, 감소되거나 증가된 판독 스팟 치수에 의해, 또는 감소된 판독 구간에 의해, 이미징 플레이트의 단위 면적당 여기 전력을 감소할뿐만 아니라, 판독 포인트의 특정 수만 사전 판독프로세스에 대해 판독될 수 있다. 이후의 판독 동안에, 이미 알려진 사전 판독 포인트는 실제 판독 포인트를 기초로 교정 또는 보간될 수 있다.

이러한 맥락에서, 이미징 플레이트에 걸쳐 분포될 사전 판독 포인트가 제공될 수 있다. 분포는 이러한 경우에 어떤 예상된 이미지 설계를 예상할 수 있다. 대안적 또는 추가적으로, 사전 판독 포인트는 라인이나 컬럼의 형태로 배열될 수 있다. 예로써, 이러한 배열은 판독 설치의 컨피규레이션에 매칭될 수 있다.

바람직하게는, 제어 장치는 더 높은 판독 속도로 사전 판독을 수행하도록 구성될 수 있다. 본 경우에서, 판독 속도는 판독 광과 이미징 플레이트 사이의 상대적 이동을 의미한다고 이해되어야 한다. 그러므로, 우선, 판독 광은 이미징 플레이트 위에 좀 더 빠르게 이동될 수 있거나, 대안적으로, 이미징 플레이트가 판독 설치에 대해 좀 더 빠르게 이동될 수 있다. 두 경우에, 증가된 판독 속도는 이미징 플레이트 내에 포함된 이미지의 부분적인 판독을 야기한다.

설명된 해결 접근법과 무관하게, 판독 파라미터의 최적화는 전체 이미징 플레이트 영역 또는 발견된 사전 판독의 결과에 따른 이미징 플레이트의 특정 영역에 대한 공간적으로 독립적인 분해능으로 전체 영역에 걸쳐 적용될 수 있다.

이미징 플레이트를 판독하기 위한 본 발명에 따른 방법은,

이미징 플레이트 상에 위치된 정보의 일부를 판독하는 단계; 정보의 판독 부분에 기초하여 판독 파라미터를 확인하는 단계; 및 판독 파라미터로 이미징 플레이트 상의 정보의 나머지 부분을 판독하는 단계를 포함한다.

이미징 플레이트 상에 위치된 정보의 일부를 판독하는 단계는 상기 기술된 판독 방법들 중 하나를 사용할 수 있다. 정보의 일부는 이미징 플레이트 상에 위치된 이미지의 일부, 특히, 개개의 포인트, 라인 또는 컬럼과 같이, 이미지의 공간적으로 구획된 부분에 관한 것일 수 있다. 그러나, 이미지의 일부는 전체 이미징 플레이트 영역 위에 실시되는 판독일 수 있고, 상기 판독은, 더 낮게 선택되는 전력 출력에 기초하여, 또는 가령, 시간-제어되는 방식으로 판독 광을 온 및 오프하는 것을 기초하여, 획득된다. 또한, 이는 또한, 이미징 플레이트 상에 위치되는 추가적인 정보에 관한 것일 수도 있다.

본 방법의 바람직한 컨피규레이션에서, 판독 파라미터와 상이한 사전 판독 파라미터로 실행되는 정보의 일부를 판독하도록 구성될 수 있다.

또한, 판독 파라미터를 확인하는 단계는 정보의 일부를 판독함을 기초로 하여 이미징 플레이트의 노출을 확인하는 단계와 확인된 노출을 기초로 하여 판독 파라미터를 적용하는 단계를 포함하는 것이 바람직할 수 있다. 판독 파라미터는 최적화될 수 있고, 이미징 플레이트 상에 유지된 이미지는, 특정 영역 또는 전체 이미징 플레이트 영역에 걸쳐 설립된 노출 때문에, 이상적인 방식으로 판독될 수 있다.

이제, 본 발명은, 도면을 참조하여, 예시적인 실시예를 기초로 좀 더 자세히 설명된다. 도면에서,
도 1은 예시적인 실시예에 따른 이미징 플레이트를 판독하기 위한 스캐닝 장치의 개략도를 나타내고, 및
도 2는 예시적인 실시예에 따른 방법의 개략적인 순서도를 나타낸다.

도 1은 이미징 플레이트(12)를 판독하기 위한 스캐닝 장치(10)를 나타내는데, 이는 x-레이선에 의해 여기되었던 준안정 저장 센터의 형태로 잠재하는 x-레이 이미지를 운반한다.

스캐닝 장치(10)는 이미징 플레이트(12)에 대한 지지 장치(14)를 포함한다. 예시로서, 이미징 플레이트(12)는 음압으로 지지 장치(!4)에 고정될 수 있어서, 일반적으로 유연한 이미징 플레이트(12)는 지지 영역(14)에 대해 평면형으로 안착된다.

스캐닝 장치(10)는 판독 광소스로서 레이저(16)를 더 포함하는데, 상기 레이저는 빨강에 있는 파장을 가진 상기 판독 광선(18)을 생성하고, 이에 의해, 이미징 플레이트(12)의 준안정 저장 센터는 형광으로 여기될 수 있다. 형광(20)은 전형적으로 파랑에 있다.

스캐닝 장치(10)의 본 실시예에서, 레이저(16)는 판독 광선(18)을 제어가능한 편향 유닛 상으로 지향하도록 배치된다. 본 경우에서, 제어가능한 편향 유닛은 거울(22)로 구현된다. 그러나, 거울이 아닌 가령, 광학 유닛등과 같은 다른 편향 유닛도 고려될 수 있다. 거울(22)은 마이크로 거울, 특히 MEMS 구성으로 구현될 수 있어서, 거울(22)과 지지 장치(14) 간에 단지 약간의 상대적 이동으로, 또는 이동 없이 이미징 플레이트(12)의 영역의 스캐닝을 용이하게 할 수 있다. 대안적으로, 거울(22)은 전통적으로 드럼 스캐너에 대한 회전 거울로 구비될 수 있다. 이러한 경우에, 지지 장치(14)와 거울(22) 간의 상대적 이동은 이송 장치(여기서는 미도시)에 의해 실현된다.

스캐닝 장치(10)는 반사기(24)를 더 포함할 수 있는데, 이는 도면에서 점선을 사용하여 표시되고, 광이 새어나가지 않는 방식으로 이미징 플레이트(12) 주위의 전체 측정 챔버를 감싸서, 이미징 플레이트(12)로부터 나온 형광(20)이 포토검출기(26)로 반사된다. 산란된 판독 광(18)이 포토검출기(26)에 도달하는 것을 방지하기 위하여, 가령, 이색성 필터 재료와 같은 적절한 재료로 구성될 수 있다.

판독 프로세스를 제어하기 위하여, 스캐닝 장치(10)는 제어 유닛(28)을 포함하는데, 이는 가령, 제어 기능뿐만 아니라, 평가 또는 교정 기능을 할 수도 있다. 그러나, 제어 유닛(28) 자체 또는 평가 및/또는 교정 기능은 별도의 컴퓨터상에서 실행될 수도 있다. 제어 유닛(28)은 선(30)에 의해, 지지 장치(14), 검출기(26), 레이저(16) 및 거울(22)로 연결된다.

판독을 위해, 제어 유닛(28)은 레이저(16)와 거울(22)을 작동시키고, 판독 광선(18)으로 순차적으로 포인트-바이-포인트로 이미징 플레이트(12)를 스캔한다. 여기서, 발산된 형광(20)의 강도는 포토검출기(26)의 도움으로 캡쳐되고, 출력을 위해 제어 유닛(28)에서 준비된다.

이미징 플레이트(12)상에 저장되는 이미지의 실제 판독 이전에, 사전 판독이 상기 기술된 바와 같이, 스캐닝 장치(10)의 구성에 의존하는 방식으로 실행된다. 가령, MEMS 거울과 같은 제어가능한 거울(22)이 구비된 기술된 스캐닝 장치(10)에서, 이미징 플레이트(12)의 포인트-바이 포인트 사전결정을 실행하는 것이 바람직하다. 그와 달리, 종래의 드럼 구조물의 경우에, 이미징 플레이트(12)의 증가된 전송 속도로 판독 레이저선(28)의 감소된 레이저 전력을 사용하여, 이미징 플레이트(12) 상에 저장된 이미지의 노출의 라인-바이-라인 사전결정을 대안적으로, 실행할 수 있다. 포인트-바이-포인트 및 라인-바이-라인 모두로 실행되는 사전결정은 이미징 플레이트(12)의 노출에 대한 표시를 제공한다. 그리고 나서, 이후의 실제 판독은 최적화된 스캐닝 파라미터로 실행될 수 있다. 드럼 스캐너 구성의 경우에, 이미징 플레이트(12)는 실제 판독 프로세스에 대해 두 번 스캐닝 장치(10)로 공급될 수 있거나, 이송 장치에 의해 뒤로 전달될 수 있다.

도 2는 이미징 플레이트를 판독하기 위한 본 발명에 따른 방법을 나타낸다.

첫 단계에서, 이미징 플레이트는 이미징 플레이트를 판독하기 위해 스캐닝 장치로 공급된다(S1).

이미징 플레이트상에 존재하는 정보의 일부는 스캐닝 장치에 의해 판독된다(S2). 이미징 플레이트의 일부는, 가령, 이미징 플레이트 영역에 걸쳐 분포된 개개의 픽셀, 이에 따라 분포된 픽셀 클러스터, 라인 모양이나 컬럼 모양인 라인, 구획된 이미징 플레이트 영역 및/또는 전체 이미징 플레이트 이미지일 수 있다. 판독은, 감소된 판독 광 강도, 더 높은 판독 속도, 확대된 판독 스팟, 가령, 편광이나 파장에 있어서 판독 광과 상이한 광 특징 및/또는 상기 언급된 속성의 임의의 조합으로 실행될 수 있다.

이미지의 노출은 판독 이미지 정보로부터 추론된다(S3). 여기서, 가령, 확인된 이미지 강도, 최소-최대 차이, 콘트라스트 비율 등을 고려할 수 있다.

실제 판독 프로세스를 위한 스캐닝 파라미터는 확인된 노출 파라미터에 의해 최적화된다(S4). 최적화될 파라미터는, 가령, 초점이나 스팟 치수, 여기 레이저의 레이저 전력, 이득, 가령, 포토멀티플라이어와 같은 이미지 수신기의 민감도 및/또는 특징 및/또는 픽셀 당 통합 시간일 수 있다.

이미지의 나머지 잔여부분은 이에 의해 구축된 최적화된 스캐닝 파라미터에 의해 판독된다(S5).

실제 이미지를 판독한 이후에(S5), 사전에 판독된 이미지 부분을 기초로 판독 이미지의 교정을 수행할 수 있다(S6). 여기서, 사전에 판독되었던, 그리고 더 이상 판독되지 않을 포인트는 보간(interpolated)될 수 있고, 또는 만일 이미 사전에 판독되었던 포인트에서 발산이 여전히 발생한다면, 상기 포인트는 교정될 수 있다.

Claims (14)

1. 노출된 이미징 플레이트(12)를 판독하기 위한 장치(10)에 있어서, 상기 장치는,
   판독 광(18)을 생성할 수 있는 광 소스(16)와,
   편향 유닛(22) - 판독 광(18)은 이미징 플레이트(12)를 판독하기 위한 판독 스팟으로 이미징 플레이트(12)에 순차적으로 지향될 수 있어서, 이동하는 판독 스팟이 상기 이미징 플레이트에 생성될 수 있음 - 과,
   판독 광(18)에 의한 판독 동안에, 이미징 플레이트(12)에 의해 발산된 형광(20)에 대한 검출 유닛(26)과,
   광 소스(16), 편향 유닛(22) 및 검출 유닛(26)을 제어하도록 구성된 제어 장치(28)를 포함하되,
   상기 제어 장치(28)는 판독 파라미터를 확인하기 위해, 사전에 이미징 플레이트의 판독을 실시하고, 이후에, 확인된 판독 파라미터를 사용하여 이미징 플레이트의 판독을 실시하는 것을 특징으로 하는, 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 사전 판독은 판독 파라미터와 상이한 사전 판독 파라미터로 시행되는, 장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 판독 파라미터는, 광 소스의 광 전력(luminous power), 이미징 플레이트의 단위 면적당 여기 전력, 스팟 치수, 통합 시간, 검출 유닛 이득, 검출 유닛 민감도, 검출 유닛 특징, 공간적 판독 스킴, 및/또는 시간적 판독 스킴을 포함하는, 장치.
4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 제어 장치(28)는, 이미징 플레이트의 단위 면적당 판독 여기 전력보다 작은, 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력으로 사전 판독을 시행하도록 구성된, 장치.
5. 제 4 항에 있어서, 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력은, 광 소스의 판독 광 전력보다 작은, 광 소소의 사전 판독 광 전력에 의해 생성될 수 있는, 장치.
6. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, 이미징 플레이트의 단위 면적당 사전 판독 여기 전력은 판독 스팟 치수보다 작거나 큰, 사전 판독 스팟 치수에 의해 생성될 수 있는, 장치.
7. 제 6 항에 있어서, 사전 판독 스팟 치수는 판독 스팟 치수보다 적어도 열 배 큰, 장치.
8. 제 4 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서, 사전 판독 여기 전력은 판독 시간 주기보다 더 짧은 사전 판독 시간 주기에 의해 결정되는, 장치.
9. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 사전 판독은 복수의 사전 판독 포인트를 포함하되, 사전 판독 포인트의 수는 판독 포인트의 전체 수보다 작은, 장치.
10. 제 9 항에 있어서, 사전 판독 포인트는 이미징 플레이트 영역에 걸쳐 분산되거나, 및/또는 라인 및/또는 컬럼의 형태로 배열될 수 있는, 장치.
11. 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서, 제어 장치는 더 빠른 판독 속도로 사전 판독을 수행하도록 구성된, 장치.
12. 이미징 플레이트를 판독하가 위한 방법에 있어서, 상기 방법은,
    이미징 플레이트 상에 위치된 정보의 일부를 판독하는 단계(S2)와,
    정보의 판독 부분에 기초하여 판독 파라미터를 확인하는 단계(S3, S4)와, 및
    판독 파라미터로 이미징 플레이트의 정보의 나머지 부분을 판독하는 단계(S5)를 포함하는, 이미징 플레이트를 판독하기 위한 방법.
13. 제 12 항에 있어서, 정보의 일부의 판독은 판독 파라미터와 상이한 사전 판독 파라미터로 시행되는, 이미징 플레이트를 판독하기 위한 방법.
14. 제 12 항 또는 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서, 판독 파라미터를 확인하는 단계는, 정보의 판독 부분에 기초하여 이미징 플레이트의 노출을 확인하는 단계(S3)와 확인된 노출에 기초하여 판독 파라미터를 적용하는 단계(S4)를 포함하는, 이미징 플레이트를 판독하기 위한 방법.

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