JPH0877340A - 走査システムのためのオフセット及び利得補正を決定する方法 - Google Patents
走査システムのためのオフセット及び利得補正を決定する方法Info
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- JPH0877340A JPH0877340A JP7208583A JP20858395A JPH0877340A JP H0877340 A JPH0877340 A JP H0877340A JP 7208583 A JP7208583 A JP 7208583A JP 20858395 A JP20858395 A JP 20858395A JP H0877340 A JPH0877340 A JP H0877340A
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- H04N1/407—Control or modification of tonal gradation or of extreme levels, e.g. background level
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 像処理装置により形成された像信号に存在す
る暗オフセットバイアス及び利得を特徴付ける方法を提
供する。 【解決手段】 像感知素子のオフセット、利得及び高次
の応答を正確に特徴付けて、像感知装置又はスキャナに
おいてそれを補正できるようにする方法が提供される。
中間反射度のターゲットを用いて各感知素子の応答を測
定し、その測定された応答を用いて、それら応答に特性
曲線を適合し、ゼロ反射状態を含むセンサ素子の応答を
計算し、センサのための正確なオフセットレベル、利得
及び高次の応答を特徴付ける。更に、付加的な反射ター
ゲット及び応答を用いて、直線的に増加する光強度に対
して非直線的な応答を示す像感知素子を特徴付けること
ができる。
る暗オフセットバイアス及び利得を特徴付ける方法を提
供する。 【解決手段】 像感知素子のオフセット、利得及び高次
の応答を正確に特徴付けて、像感知装置又はスキャナに
おいてそれを補正できるようにする方法が提供される。
中間反射度のターゲットを用いて各感知素子の応答を測
定し、その測定された応答を用いて、それら応答に特性
曲線を適合し、ゼロ反射状態を含むセンサ素子の応答を
計算し、センサのための正確なオフセットレベル、利得
及び高次の応答を特徴付ける。更に、付加的な反射ター
ゲット及び応答を用いて、直線的に増加する光強度に対
して非直線的な応答を示す像感知素子を特徴付けること
ができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、像処理装
置によって発生された像信号に存在する暗オフセットバ
イアス及び利得を特徴付ける方法に係り、より詳細に
は、像ピックアップ装置又はスキャナにおいて暗オフセ
ット電圧及び利得を正確に特徴付けし、電気信号の形態
のビデオ又は像データを転送するのに使用される通信経
路の信号チャンネルにおいてオフセット及び利得特性を
補償できるようにする方法に係る。
置によって発生された像信号に存在する暗オフセットバ
イアス及び利得を特徴付ける方法に係り、より詳細に
は、像ピックアップ装置又はスキャナにおいて暗オフセ
ット電圧及び利得を正確に特徴付けし、電気信号の形態
のビデオ又は像データを転送するのに使用される通信経
路の信号チャンネルにおいてオフセット及び利得特性を
補償できるようにする方法に係る。
【０００２】
【従来の技術】像走査又はデジタル化システムに存在す
る問題は、使用の前に非均一性を補正するために校正作
業を必要とすることである。一般に、ビーム走査システ
ム及び複数素子の走査システム、例えば、電荷結合デバ
イス（ＣＣＤ）では、センサを校正しなければならな
い。センサのオフセットの校正は、文書の反射又は非反
射領域、例えば、白黒文書における黒領域に応答して信
号のレベルを決定することに向けられる。又、校正は、
ある範囲の反射度にわたりセンサの利得を特徴付けし、
信号の振幅を充分に調整して、そのダイナミックレンジ
を最大にすることにも向けられる。
る問題は、使用の前に非均一性を補正するために校正作
業を必要とすることである。一般に、ビーム走査システ
ム及び複数素子の走査システム、例えば、電荷結合デバ
イス（ＣＣＤ）では、センサを校正しなければならな
い。センサのオフセットの校正は、文書の反射又は非反
射領域、例えば、白黒文書における黒領域に応答して信
号のレベルを決定することに向けられる。又、校正は、
ある範囲の反射度にわたりセンサの利得を特徴付けし、
信号の振幅を充分に調整して、そのダイナミックレンジ
を最大にすることにも向けられる。
【０００３】オリジナル（原稿）をラスタ走査すること
により観察する電荷結合デバイスのような複数素子走査
装置を用いたシステムでは、そのＣＣＤによって発生さ
れた出力信号が、ＣＣＤの本来の動作特性に起因する電
位を含む。ＣＣＤの像出力信号を真の値又は絶対値に復
帰させるためには、ＣＣＤから導出されたオフセット電
位又は信号と称される電位を、像信号から除去しなけれ
ばならない。しかしながら、除去されるオフセット信号
が実際のオフセット信号よりも大きいか又は小さい場合
には、像出力信号に顕著な収差又は歪が生じることにな
る。ＣＣＤの動作特性は、しばしば、ＣＣＤごとに大巾
に変化し、又、同じＣＣＤでも、或いは異なる集積率に
対し、時間と共に変化するので、除去されるべきオフセ
ット信号を正確に決定することはしばしば困難である。
更に、多数のＣＣＤが使用されたシステムでは、問題が
更に複雑化される。その上、ＣＣＤセンサの応答は、こ
れを一次関数として特徴付けできるように、一般に直線
的であると仮定される。
により観察する電荷結合デバイスのような複数素子走査
装置を用いたシステムでは、そのＣＣＤによって発生さ
れた出力信号が、ＣＣＤの本来の動作特性に起因する電
位を含む。ＣＣＤの像出力信号を真の値又は絶対値に復
帰させるためには、ＣＣＤから導出されたオフセット電
位又は信号と称される電位を、像信号から除去しなけれ
ばならない。しかしながら、除去されるオフセット信号
が実際のオフセット信号よりも大きいか又は小さい場合
には、像出力信号に顕著な収差又は歪が生じることにな
る。ＣＣＤの動作特性は、しばしば、ＣＣＤごとに大巾
に変化し、又、同じＣＣＤでも、或いは異なる集積率に
対し、時間と共に変化するので、除去されるべきオフセ
ット信号を正確に決定することはしばしば困難である。
更に、多数のＣＣＤが使用されたシステムでは、問題が
更に複雑化される。その上、ＣＣＤセンサの応答は、こ
れを一次関数として特徴付けできるように、一般に直線
的であると仮定される。
【０００４】オフセット特徴付けの問題に対処するため
に、センサオフセットの校正は、しばしば、２つの方法
の一方を用いて行われている。第１の方法では、露出光
線が与えられないときにセンサの出力信号レベルを測定
することによりオフセットレベルが決定される。不都合
にも、この非光線方法は、露出空洞内に存在する漂遊光
線を考慮しておらず、センサのオフセット校正中に著し
いエラーを招くことがある。第２の方法は、通常の走査
中に使用される露出光源を用いて露光される黒校正ター
ゲットを使用するものである。この方法は、例えば、Ｘ
ｅｒｏｘ（登録商標）ＤｏｃｕＴｅｃｈ（登録商標）プ
ロダクション・パブリッシャのスキャナにより使用され
る。黒校正ターゲットから反射された光にセンサが露出
されたときに、センサの出力信号レベルを測定すること
によりオフセットレベルが決定される。
に、センサオフセットの校正は、しばしば、２つの方法
の一方を用いて行われている。第１の方法では、露出光
線が与えられないときにセンサの出力信号レベルを測定
することによりオフセットレベルが決定される。不都合
にも、この非光線方法は、露出空洞内に存在する漂遊光
線を考慮しておらず、センサのオフセット校正中に著し
いエラーを招くことがある。第２の方法は、通常の走査
中に使用される露出光源を用いて露光される黒校正ター
ゲットを使用するものである。この方法は、例えば、Ｘ
ｅｒｏｘ（登録商標）ＤｏｃｕＴｅｃｈ（登録商標）プ
ロダクション・パブリッシャのスキャナにより使用され
る。黒校正ターゲットから反射された光にセンサが露出
されたときに、センサの出力信号レベルを測定すること
によりオフセットレベルが決定される。
【０００５】他方、利得は、一般に、露出光が与えられ
そして既知の反射度を有する白校正ターゲットから反射
されたときにセンサの第２の出力信号レベルを測定し、
次いで、黒及び白校正ターゲットの反射度間の既知の差
に対して第１及び第２の出力信号を比較することにより
特徴付けされる。この信号方法は、例えば、Ｘｅｒｏｘ
（登録商標）７６５０Ｐｒｏｌｍａｇｅｒ（登録商標）
に使用されている。不都合なことに、非直線応答を示す
センサの特徴付けは、一般に、非常に直線的な応答をも
つＣＣＤを指定することにより回避される。
そして既知の反射度を有する白校正ターゲットから反射
されたときにセンサの第２の出力信号レベルを測定し、
次いで、黒及び白校正ターゲットの反射度間の既知の差
に対して第１及び第２の出力信号を比較することにより
特徴付けされる。この信号方法は、例えば、Ｘｅｒｏｘ
（登録商標）７６５０Ｐｒｏｌｍａｇｅｒ（登録商標）
に使用されている。不都合なことに、非直線応答を示す
センサの特徴付けは、一般に、非常に直線的な応答をも
つＣＣＤを指定することにより回避される。
【０００６】従来、センサの特徴付けの問題に対処する
ための種々の装置及び方法が開発されており、その幾つ
かは以下の文献に開示されている。
ための種々の装置及び方法が開発されており、その幾つ
かは以下の文献に開示されている。
【０００７】ハーディン氏の米国特許第３，５８６，７
７２号は、正規化走査中に検出される黒及び白ピークの
関数として決定されるクリップレベルを用いた光学文字
読み取り装置を開示している。
７２号は、正規化走査中に検出される黒及び白ピークの
関数として決定されるクリップレベルを用いた光学文字
読み取り装置を開示している。
【０００８】バクスタ氏の米国特許第３，６７３，３２
２号は、指向された光線の量に応答して電気信号を発生
するための光学センサを有するファクシミリ送信システ
ムを教示している。文書を保持するのに使用される回転
ドラムは、非常に反射度の高いメタルストリップを含
み、各回転中に一度最大の白信号が発生されるよう保証
する。送信のための信号出力は、白に対する最大の正の
レベルから、黒に対する最大の負のレベルまで変化し、
走査される文書領域によって決定される。
２号は、指向された光線の量に応答して電気信号を発生
するための光学センサを有するファクシミリ送信システ
ムを教示している。文書を保持するのに使用される回転
ドラムは、非常に反射度の高いメタルストリップを含
み、各回転中に一度最大の白信号が発生されるよう保証
する。送信のための信号出力は、白に対する最大の正の
レベルから、黒に対する最大の負のレベルまで変化し、
走査される文書領域によって決定される。
【０００９】コクラン氏等の米国特許第３，８００，０
７８号は、ホトダイオードの感度を補償するためのバッ
クグランドの透明な帯が、走査される文書の頂部に沿っ
て適当な余裕を設けることによって確保されるようなデ
ジタル補償の走査システムを教示している。
７８号は、ホトダイオードの感度を補償するためのバッ
クグランドの透明な帯が、走査される文書の頂部に沿っ
て適当な余裕を設けることによって確保されるようなデ
ジタル補償の走査システムを教示している。
【００１０】ミクネイル氏等の米国特許第３，８００，
０７９号は、ホトダイオードの感度及び照明変動の信号
が除去されて、補正されたビデオ情報信号を与えるよう
な走査システムを開示している。
０７９号は、ホトダイオードの感度及び照明変動の信号
が除去されて、補正されたビデオ情報信号を与えるよう
な走査システムを開示している。
【００１１】コルカー氏の米国特許第３，９５２，１４
４号は、所定回数の走査ごとに一度校正を実行する装置
を開示している。
４号は、所定回数の走査ごとに一度校正を実行する装置
を開示している。
【００１２】ウイギン氏の米国特許第４，２１６，５０
３号は、ＣＣＤの動作特性の変化による利得及びオフセ
ットのドリフトを補正するための装置を教示している。
３号は、ＣＣＤの動作特性の変化による利得及びオフセ
ットのドリフトを補正するための装置を教示している。
【００１３】Ｐ．スワート氏は、１９７１年８月のＩＢ
Ｍテクニカル・ディスクロージャ・ブルテン、第１４
巻、第３号において、文書のバックグランドからのピー
ク白電圧と、スキャナがオフモードのときに決定された
ピーク黒電圧とに基づいて動作する「コントラスト増幅
器(Contrast Amplifier)」を教示している。
Ｍテクニカル・ディスクロージャ・ブルテン、第１４
巻、第３号において、文書のバックグランドからのピー
ク白電圧と、スキャナがオフモードのときに決定された
ピーク黒電圧とに基づいて動作する「コントラスト増幅
器(Contrast Amplifier)」を教示している。
【００１４】Ｉ．クレシ氏は、１９９３年１月／２月の
ゼロックス・ディスクロージャ・ジャーナル、第１８
巻、第１号（第７５−７６ページ）において、ラスタ入
力スキャナの成分変動を補償する「自動利得補正（ＡＧ
Ｃ）ビデオ補正(Automatic Gain Correction (AGC) Vid
eo Correction)」を開示している。
ゼロックス・ディスクロージャ・ジャーナル、第１８
巻、第１号（第７５−７６ページ）において、ラスタ入
力スキャナの成分変動を補償する「自動利得補正（ＡＧ
Ｃ）ビデオ補正(Automatic Gain Correction (AGC) Vid
eo Correction)」を開示している。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】これらの種々の方法
は、オフセット特性及び非直線的なセンサ応答を確実且
つ正確に補正することができない。更に、全巾アレーシ
ステムが最近開発されたことに伴い、使用されるシステ
ム、即ちプラテン走査又は定速搬送にも係わりなく高速
走査方向のドリフト変化がより顕著なものとなってい
る。これは、全巾アレーが、通常、多数の小さなアレー
を突き合わせ又は食い違い式に一緒に接合して形成され
るためである。更に正確なオフセット補正方法の必要性
から、本発明の要旨であるオフセット補正及び高次応答
の特徴付け方法が導出されるに至った。
は、オフセット特性及び非直線的なセンサ応答を確実且
つ正確に補正することができない。更に、全巾アレーシ
ステムが最近開発されたことに伴い、使用されるシステ
ム、即ちプラテン走査又は定速搬送にも係わりなく高速
走査方向のドリフト変化がより顕著なものとなってい
る。これは、全巾アレーが、通常、多数の小さなアレー
を突き合わせ又は食い違い式に一緒に接合して形成され
るためである。更に正確なオフセット補正方法の必要性
から、本発明の要旨であるオフセット補正及び高次応答
の特徴付け方法が導出されるに至った。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、文書の
表面から反射される露出光の強度を記録するのに使用さ
れる感光センサのためのオフセット補正レベルを決定す
る方法において、第１の反射レベルを有する第１ターゲ
ットから反射された光に上記センサが曝されたときのセ
ンサ応答を測定し、上記第１の反射レベルより大きな第
２の反射レベルを有する第２ターゲットから反射された
光に上記センサが曝されたときのセンサ応答を測定し、
そして上記第１ターゲットに対するセンサ応答、上記第
２ターゲットに対するセンサ応答並びに上記第１及び第
２ターゲットの反射度の関数として、ゼロ反射ターゲッ
トから反射される光に対する上記センサの応答を計算
し、その計算された応答を上記センサのためのオフセッ
ト補正レベルとして使用できるようにする、という段階
を備えた方法が提供される。
表面から反射される露出光の強度を記録するのに使用さ
れる感光センサのためのオフセット補正レベルを決定す
る方法において、第１の反射レベルを有する第１ターゲ
ットから反射された光に上記センサが曝されたときのセ
ンサ応答を測定し、上記第１の反射レベルより大きな第
２の反射レベルを有する第２ターゲットから反射された
光に上記センサが曝されたときのセンサ応答を測定し、
そして上記第１ターゲットに対するセンサ応答、上記第
２ターゲットに対するセンサ応答並びに上記第１及び第
２ターゲットの反射度の関数として、ゼロ反射ターゲッ
トから反射される光に対する上記センサの応答を計算
し、その計算された応答を上記センサのためのオフセッ
ト補正レベルとして使用できるようにする、という段階
を備えた方法が提供される。
【００１７】本発明の別の特徴によれば、文書の表面か
ら反射される露出光の強度を記録するのに使用される感
光センサのための利得補正係数及び少なくとも１つのよ
り高次の補正係数を決定する方法において、第１の反射
度を有する第１ターゲットから反射された光に上記セン
サが曝されたときのセンサ応答を測定し、上記第１の反
射度より大きな第２の反射度を有する第２ターゲットか
ら反射された光に上記センサが曝されたときのセンサ応
答を測定し、上記第１の反射度より大きく且つ上記第２
の反射度より小さい第３の反射度を有する第３ターゲッ
トから反射された光に上記センサが曝されたときのセン
サ応答を測定し、そして上記第１ターゲット、第２ター
ゲット及び第３ターゲットに対するセンサ応答と、上記
第１、第２及び第３ターゲットの反射度との関数とし
て、上記センサの利得、及び高次の補正係数を計算し、
その計算された応答を上記センサのための利得補正係数
として使用できるようにする一方、更に、上記高次の補
正係数の使用によりいかなる非直線的なセンサ応答も補
償する、という段階を備えた方法が提供される。
ら反射される露出光の強度を記録するのに使用される感
光センサのための利得補正係数及び少なくとも１つのよ
り高次の補正係数を決定する方法において、第１の反射
度を有する第１ターゲットから反射された光に上記セン
サが曝されたときのセンサ応答を測定し、上記第１の反
射度より大きな第２の反射度を有する第２ターゲットか
ら反射された光に上記センサが曝されたときのセンサ応
答を測定し、上記第１の反射度より大きく且つ上記第２
の反射度より小さい第３の反射度を有する第３ターゲッ
トから反射された光に上記センサが曝されたときのセン
サ応答を測定し、そして上記第１ターゲット、第２ター
ゲット及び第３ターゲットに対するセンサ応答と、上記
第１、第２及び第３ターゲットの反射度との関数とし
て、上記センサの利得、及び高次の補正係数を計算し、
その計算された応答を上記センサのための利得補正係数
として使用できるようにする一方、更に、上記高次の補
正係数の使用によりいかなる非直線的なセンサ応答も補
償する、という段階を備えた方法が提供される。
【００１８】本発明の更に別の特徴によれば、文書の表
面から反射される露出光の強度を記録するのに使用され
る走査アレーの複数の感光センサのためのオフセット補
正レベルを決定する方法において、（ａ）第１の非ゼロ
の反射レベルを有する第１ターゲットから反射された光
に曝されたときの各センサの応答を測定し、（ｂ）上記
第１ターゲットに対するセンサ応答の大きさを表す値
を、独特のセンサに各々対応する複数の第１校正メモリ
位置に記憶し、（ｃ）上記第１の反射レベルより大きな
第２の反射レベルを有する第２ターゲットから反射され
た光に曝されたときの各センサの応答を測定し、（ｄ）
上記第２ターゲットに対するセンサ応答の大きさを表す
値を、独特のセンサに各々対応する複数の第２校正メモ
リ位置に記憶し、そして（ｅ）上記第１及び第２校正メ
モリ位置に記憶された関連センサ応答と、上記第１及び
第２ターゲットの反射度との関数として、ゼロ反射ター
ゲットから反射される光に対する上記複数のセンサ各々
の応答を計算し、そしてその計算された応答を各々の上
記センサのためのオフセット補正レベルとして使用す
る、という段階を備えた方法が提供される。
面から反射される露出光の強度を記録するのに使用され
る走査アレーの複数の感光センサのためのオフセット補
正レベルを決定する方法において、（ａ）第１の非ゼロ
の反射レベルを有する第１ターゲットから反射された光
に曝されたときの各センサの応答を測定し、（ｂ）上記
第１ターゲットに対するセンサ応答の大きさを表す値
を、独特のセンサに各々対応する複数の第１校正メモリ
位置に記憶し、（ｃ）上記第１の反射レベルより大きな
第２の反射レベルを有する第２ターゲットから反射され
た光に曝されたときの各センサの応答を測定し、（ｄ）
上記第２ターゲットに対するセンサ応答の大きさを表す
値を、独特のセンサに各々対応する複数の第２校正メモ
リ位置に記憶し、そして（ｅ）上記第１及び第２校正メ
モリ位置に記憶された関連センサ応答と、上記第１及び
第２ターゲットの反射度との関数として、ゼロ反射ター
ゲットから反射される光に対する上記複数のセンサ各々
の応答を計算し、そしてその計算された応答を各々の上
記センサのためのオフセット補正レベルとして使用す
る、という段階を備えた方法が提供される。
【００１９】
【発明の実施の形態】本発明を一般的に理解するため
に、添付図面を参照して説明する。添付図面全体にわた
り、同じ要素は同じ参照番号で示されている。図１は、
デジタル像形成システム１０、例えば、Ｘｅｒｏｘ（登
録商標）ＤｏｃｕＴｅｃｈ（登録商標）プロダクション
・パブリッシャを示し、これは、文書像入力のためのラ
スタ像スキャナのような像入力ターミナル（ＩＩＴ）１
２を備えている。このＩＩＴは、キャリッジ型（例え
ば、Ｘｅｒｏｘ（登録商標）７６５０ Ｐｒｏ Ｉｍａ
ｇｅｒ（登録商標））の連続速度又は全ページラスタス
キャナであって、電荷結合デバイス（ＣＣＤ）即ち感光
素子のページ巾アレーを使用して、文書から反射された
光をラスタフォーマットの複数の電気信号に変換するも
のである。高速ＩＩＴの動作速度において、ホトサイト
(photosite) と称するＣＣＤ内の個々のラスタ像素子を
使用して、約３０ＭＨｚの速度でビデオ信号が発生さ
れ、各ビデオ信号は、文書の関連ピクセルを所定範囲内
のグレースケールレベルとして表す。グレースケール
は、黒と白との間の連続部を含むだけでなく、例えば、
マルチカラーＩＩＴのように、カラー分離のための反射
光の相対的な強度も含むことに注意されたい。
に、添付図面を参照して説明する。添付図面全体にわた
り、同じ要素は同じ参照番号で示されている。図１は、
デジタル像形成システム１０、例えば、Ｘｅｒｏｘ（登
録商標）ＤｏｃｕＴｅｃｈ（登録商標）プロダクション
・パブリッシャを示し、これは、文書像入力のためのラ
スタ像スキャナのような像入力ターミナル（ＩＩＴ）１
２を備えている。このＩＩＴは、キャリッジ型（例え
ば、Ｘｅｒｏｘ（登録商標）７６５０ Ｐｒｏ Ｉｍａ
ｇｅｒ（登録商標））の連続速度又は全ページラスタス
キャナであって、電荷結合デバイス（ＣＣＤ）即ち感光
素子のページ巾アレーを使用して、文書から反射された
光をラスタフォーマットの複数の電気信号に変換するも
のである。高速ＩＩＴの動作速度において、ホトサイト
(photosite) と称するＣＣＤ内の個々のラスタ像素子を
使用して、約３０ＭＨｚの速度でビデオ信号が発生さ
れ、各ビデオ信号は、文書の関連ピクセルを所定範囲内
のグレースケールレベルとして表す。グレースケール
は、黒と白との間の連続部を含むだけでなく、例えば、
マルチカラーＩＩＴのように、カラー分離のための反射
光の相対的な強度も含むことに注意されたい。
【００２０】各ピクセルのグレースケールレベルを正確
に表すために、ＣＣＤの個々のラスタ像素子が最初に校
正され、像素子により発生されるその後の全てのビデオ
信号は、個々の素子間の変化を補償するように補正され
る。ビデオ信号の補正は、通常は、オフセット補正及び
利得補正と特に称する２つの部分において行われる。オ
フセット補正は、文書の「黒」即ちゼロ反射領域を像形
成する間に信号の大きさを補償するためのビデオ信号の
調整である。利得補正は、オフセット補正された信号を
スケーリング即ち増幅して、文書の「白」即ち絶対反射
領域を像形成するときにビデオ信号が最大になるように
する。ここに述べるように、簡単化のために白黒走査例
を使用するが、本発明は、文書像のカラー分離を表す複
数のデジタル信号を発生するデジタル像形成システムに
も適用できる。
に表すために、ＣＣＤの個々のラスタ像素子が最初に校
正され、像素子により発生されるその後の全てのビデオ
信号は、個々の素子間の変化を補償するように補正され
る。ビデオ信号の補正は、通常は、オフセット補正及び
利得補正と特に称する２つの部分において行われる。オ
フセット補正は、文書の「黒」即ちゼロ反射領域を像形
成する間に信号の大きさを補償するためのビデオ信号の
調整である。利得補正は、オフセット補正された信号を
スケーリング即ち増幅して、文書の「白」即ち絶対反射
領域を像形成するときにビデオ信号が最大になるように
する。ここに述べるように、簡単化のために白黒走査例
を使用するが、本発明は、文書像のカラー分離を表す複
数のデジタル信号を発生するデジタル像形成システムに
も適用できる。
【００２１】又、デジタル像形成システムには、像処理
システム（ＩＰＳ）１４及びラスタ出力スキャナ（ＲＯ
Ｓ）サブシステム１６も含まれる。ＩＰＳ１４は、これ
に送られるデジタル像に基づいて行われる処理及び編集
動作を実行する。このような動作は、デジタル像をスレ
ッシュホールド処理して２進表示を発生し、ハーフトー
ンスクリーニングを行い、エラー拡散を行い、カラー補
正を行い、そして不足カラーを除去することを含むが、
これらに限定されるものではない。デジタル像は、いっ
たん処理されると、ＲＯＳ１６へ転送され、ここで、例
えば、レーザ又は同様の露光装置を使用して、光応答
（Ｐ／Ｒ）面を露光し、その後の現像及び出力のために
潜像を形成する。
システム（ＩＰＳ）１４及びラスタ出力スキャナ（ＲＯ
Ｓ）サブシステム１６も含まれる。ＩＰＳ１４は、これ
に送られるデジタル像に基づいて行われる処理及び編集
動作を実行する。このような動作は、デジタル像をスレ
ッシュホールド処理して２進表示を発生し、ハーフトー
ンスクリーニングを行い、エラー拡散を行い、カラー補
正を行い、そして不足カラーを除去することを含むが、
これらに限定されるものではない。デジタル像は、いっ
たん処理されると、ＲＯＳ１６へ転送され、ここで、例
えば、レーザ又は同様の露光装置を使用して、光応答
（Ｐ／Ｒ）面を露光し、その後の現像及び出力のために
潜像を形成する。
【００２２】図２は、本発明を実施するためにＩＩＴ１
２内に使用される簡単なビデオ前処理回路のブロック図
である。図示されたように、ＣＣＤ２０は、これに当た
る光の強度を測定するセンサ又はホトサイトと称する複
数の感光素子を含むのが好ましい。良く知られたよう
に、各センサには、走査されている文書（図示せず）の
一部分から反射されて像形成光学系（図示せず）により
ホトサイトに収束される光が当たる。文書により感知さ
れる光は、文書の表面から反射されるので、ホトサイト
は、文書の領域の反射度を測定する。この測定は、文書
とＣＣＤが互いに相対的に移動するときに多数の走査線
に対し同時に行われるのが好ましい。
２内に使用される簡単なビデオ前処理回路のブロック図
である。図示されたように、ＣＣＤ２０は、これに当た
る光の強度を測定するセンサ又はホトサイトと称する複
数の感光素子を含むのが好ましい。良く知られたよう
に、各センサには、走査されている文書（図示せず）の
一部分から反射されて像形成光学系（図示せず）により
ホトサイトに収束される光が当たる。文書により感知さ
れる光は、文書の表面から反射されるので、ホトサイト
は、文書の領域の反射度を測定する。この測定は、文書
とＣＣＤが互いに相対的に移動するときに多数の走査線
に対し同時に行われるのが好ましい。
【００２３】ＣＣＤ内の各ホトサイト即ちセンサは、感
知された文書の反射度に対応する電圧信号を発生する。
その後に、センサが発生した信号は、ＣＣＤから順次に
２つのチャンネル（Ａ及びＢ）にシフトされる。典型的
に、ＣＣＤ信号は、−０．２ボルト程度であり、約＋４
ボルトのＤＣバイアス電圧上にのせられている。ＤＣ復
帰回路２２ａ及び２２ｂは、ＤＣバイアス電圧を除去
し、０ないし−０．２ボルトの範囲のＣＣＤセンサ出力
に等しいものを出力する。チャンネルオフセット補正を
含むオフセット補正係数は、ＤＡＣ２４ａ及び２４ｂに
よって発生され、アナログ加算ブロック即ち加算器
（Σ）２６ａ及び２６ｂによって加算される。従って、
これら加算器２６ａ及び２６ｂからのＤＣ復帰され即ち
オフセット補正された信号レベル出力は、図３ないし６
について詳細に述べるように、絶対黒反射度に応じた等
価基礎レベルを有する。その後、その復帰されオフセッ
ト補正された信号はＭＵＸ３０へ供給され、そこで一緒
に縫合し直されて、ピクセル信号の単一流を形成する。
アナログピクセル信号の直列流は、次いで、増幅器３２
において増幅され、Ａ／Ｄコンバータ３４により必要と
される電圧及び電流レベルを発生し、該コンバータは、
アナログピクセル信号をデジタル信号に変換する。
知された文書の反射度に対応する電圧信号を発生する。
その後に、センサが発生した信号は、ＣＣＤから順次に
２つのチャンネル（Ａ及びＢ）にシフトされる。典型的
に、ＣＣＤ信号は、−０．２ボルト程度であり、約＋４
ボルトのＤＣバイアス電圧上にのせられている。ＤＣ復
帰回路２２ａ及び２２ｂは、ＤＣバイアス電圧を除去
し、０ないし−０．２ボルトの範囲のＣＣＤセンサ出力
に等しいものを出力する。チャンネルオフセット補正を
含むオフセット補正係数は、ＤＡＣ２４ａ及び２４ｂに
よって発生され、アナログ加算ブロック即ち加算器
（Σ）２６ａ及び２６ｂによって加算される。従って、
これら加算器２６ａ及び２６ｂからのＤＣ復帰され即ち
オフセット補正された信号レベル出力は、図３ないし６
について詳細に述べるように、絶対黒反射度に応じた等
価基礎レベルを有する。その後、その復帰されオフセッ
ト補正された信号はＭＵＸ３０へ供給され、そこで一緒
に縫合し直されて、ピクセル信号の単一流を形成する。
アナログピクセル信号の直列流は、次いで、増幅器３２
において増幅され、Ａ／Ｄコンバータ３４により必要と
される電圧及び電流レベルを発生し、該コンバータは、
アナログピクセル信号をデジタル信号に変換する。
【００２４】上記のアナログオフセット補正とは別に、
ＤＡＣ２４ａ及び２４ｂは、チャンネル対チャンネルの
オフセット補正のみを行うのに使用してもよい。この場
合には、各個々のホトサイトに関連したデジタル信号が
その後に処理されて、図３の任意の加算器４０により一
般的に示されたオフセット補正を行うことができる。図
３に示すように、Ａ／Ｄコンバータ３４からのデジタル
入力信号は、加算器４０へ送られ、そこで、参照番号４
２で示すようなピクセルクロック駆動カウンタにより発
生されたアドレスに応答してオフセットＲＡＭ４４によ
り与えられたオフセット補正信号に加えられる。
ＤＡＣ２４ａ及び２４ｂは、チャンネル対チャンネルの
オフセット補正のみを行うのに使用してもよい。この場
合には、各個々のホトサイトに関連したデジタル信号が
その後に処理されて、図３の任意の加算器４０により一
般的に示されたオフセット補正を行うことができる。図
３に示すように、Ａ／Ｄコンバータ３４からのデジタル
入力信号は、加算器４０へ送られ、そこで、参照番号４
２で示すようなピクセルクロック駆動カウンタにより発
生されたアドレスに応答してオフセットＲＡＭ４４によ
り与えられたオフセット補正信号に加えられる。
【００２５】アナログ又はデジタルのいずれかの補正機
構において、デジタル信号がデジタルオフセット値にい
ったん加えられると、その結果が回路ブロック４６にお
いてオーバーフローに対してチェックされる。その後、
オフセット補正された信号は乗算器４８へ通され、そこ
で、利得ＲＡＭ５０に記憶されたデジタル値で乗算さ
れ、利得乗数は、カウンタ４２の出力の関数として選択
される。この簡単な図は種々の回路の時間遅延を考慮す
るものではなく且つこのような遅延を考慮するにはラッ
チ又は遅延線を含む必要があることに注意されたい。デ
ジタル信号がオフセットに対して補正されそして利得係
数で乗算されると、それが回路ブロック５２においてオ
ーバーフローに対して再びチェックされ、その後、ラッ
チ５４へ通され、ライン５６のピクセルクロック信号に
より決定された時間周期中にそこに保持される。
構において、デジタル信号がデジタルオフセット値にい
ったん加えられると、その結果が回路ブロック４６にお
いてオーバーフローに対してチェックされる。その後、
オフセット補正された信号は乗算器４８へ通され、そこ
で、利得ＲＡＭ５０に記憶されたデジタル値で乗算さ
れ、利得乗数は、カウンタ４２の出力の関数として選択
される。この簡単な図は種々の回路の時間遅延を考慮す
るものではなく且つこのような遅延を考慮するにはラッ
チ又は遅延線を含む必要があることに注意されたい。デ
ジタル信号がオフセットに対して補正されそして利得係
数で乗算されると、それが回路ブロック５２においてオ
ーバーフローに対して再びチェックされ、その後、ラッ
チ５４へ通され、ライン５６のピクセルクロック信号に
より決定された時間周期中にそこに保持される。
【００２６】オフセットＲＡＭ４４に記憶される校正値
（オフセット及び利得補正を含む）を決定するために、
図４のプロセス段階が実施される。又、プロセスのグラ
フ表示が図５に示されている。前記したように、オフセ
ット校正動作の意図は、ＣＣＤセンサが文書の０％反射
位置に曝されたときに該センサによって発生されるオフ
セット信号レベルに対しデジタル像信号を補正できるよ
うにすることである。本発明は、０％反射ターゲットか
ら反射される光に対する応答を測定せず、以下に述べる
ように、２つの反射レベルにおけるホトサイトの応答を
測定しそしてその測定された校正点を通る直線又は曲線
Ｌの式から「黒」信号レベルのオフセットを導出するこ
とにより、ＣＣＤ又は同様のラスタ走査装置のセンサ素
子を校正する。
（オフセット及び利得補正を含む）を決定するために、
図４のプロセス段階が実施される。又、プロセスのグラ
フ表示が図５に示されている。前記したように、オフセ
ット校正動作の意図は、ＣＣＤセンサが文書の０％反射
位置に曝されたときに該センサによって発生されるオフ
セット信号レベルに対しデジタル像信号を補正できるよ
うにすることである。本発明は、０％反射ターゲットか
ら反射される光に対する応答を測定せず、以下に述べる
ように、２つの反射レベルにおけるホトサイトの応答を
測定しそしてその測定された校正点を通る直線又は曲線
Ｌの式から「黒」信号レベルのオフセットを導出するこ
とにより、ＣＣＤ又は同様のラスタ走査装置のセンサ素
子を校正する。
【００２７】最初に、ステップ８２で示すように、ダー
クグレーのターゲットから反射された光に対するセンサ
の応答を測定しそしてメモリにデジタル値として記憶す
る。約１％反射度から約１０％反射度までの範囲のター
ゲット反射レベルを使用するが、ターゲットのダークグ
レーのレベルは約２％反射度であるのが好ましい。この
融通性は、一般に入手できる反射ターゲットを使用でき
るようにする一方、コストのかかる絶対黒又は白の反射
ターゲットの必要性を排除するものである。それにより
センサのデジタル信号が得られると、その後の処理のた
めに校正ＲＡＭ（図示せず）に一時的に記憶される。例
えば、センサは、図５のグラフに点Ｃで示すように、約
４３の大きさをもつデジタル信号レベルを出力する。ス
テップ８４で示すように、ライトグレーのターゲットに
対するセンサの応答も測定され、記録される。この場合
も、ライトグレーのターゲットの反射度は、７０％ない
し９０％程度であり、好ましくは、約７７％である。前
記のように、それによりセンサで出力される約１９２の
デジタル値をもつデジタル信号も、その後の処理のため
に校正ＲＡＭ（図示せず）に記憶される。
クグレーのターゲットから反射された光に対するセンサ
の応答を測定しそしてメモリにデジタル値として記憶す
る。約１％反射度から約１０％反射度までの範囲のター
ゲット反射レベルを使用するが、ターゲットのダークグ
レーのレベルは約２％反射度であるのが好ましい。この
融通性は、一般に入手できる反射ターゲットを使用でき
るようにする一方、コストのかかる絶対黒又は白の反射
ターゲットの必要性を排除するものである。それにより
センサのデジタル信号が得られると、その後の処理のた
めに校正ＲＡＭ（図示せず）に一時的に記憶される。例
えば、センサは、図５のグラフに点Ｃで示すように、約
４３の大きさをもつデジタル信号レベルを出力する。ス
テップ８４で示すように、ライトグレーのターゲットに
対するセンサの応答も測定され、記録される。この場合
も、ライトグレーのターゲットの反射度は、７０％ない
し９０％程度であり、好ましくは、約７７％である。前
記のように、それによりセンサで出力される約１９２の
デジタル値をもつデジタル信号も、その後の処理のため
に校正ＲＡＭ（図示せず）に記憶される。
【００２８】ライトグレー及びダークグレーのセンサ応
答信号レベルが測定されて記録されると、２つの点にセ
ンサ応答曲線が適合される。図５に示すように、応答曲
線は直線応答であると仮定され、次の直線方程式を用い
て曲線の決定が簡単に行われる。 ｙ＝ｍｘ＋ｂ （１） 但し、ｂはｙ切片でありそしてｍは次の式により定めら
れる傾斜である。 ｍ＝（ｙD −ｙC ）／（ｘD −ｘC ） （２） そして ｂ＝ｙC −ｍｘC （３）
答信号レベルが測定されて記録されると、２つの点にセ
ンサ応答曲線が適合される。図５に示すように、応答曲
線は直線応答であると仮定され、次の直線方程式を用い
て曲線の決定が簡単に行われる。 ｙ＝ｍｘ＋ｂ （１） 但し、ｂはｙ切片でありそしてｍは次の式により定めら
れる傾斜である。 ｍ＝（ｙD −ｙC ）／（ｘD −ｘC ） （２） そして ｂ＝ｙC −ｍｘC （３）
【００２９】図５に示された点を用いて、この直線例の
ｙ切片に対して式を解くと、傾斜ｍが約１．９８７で、
ｙ切片ｂが約３９．０２７となる。従って、０％反射タ
ーゲットから反射される光から予想されるセンサ出力の
デジタルレベル、即ちセンサのオフセットは、約３９と
決定され、これは、図５のグラフに示すｙ切片と等価で
ある。同様に、傾斜即ち利得ｍは式２に基づいて決定さ
れる。図４のステップ８４で行われた上記の計算は、オ
フセット利得値を、後で使用するために各々ステップ８
６及び８８においてセンサオフセット及び利得ＲＡＭに
記憶できるようにする一方、図３について前記したよう
に、文書をデジタル化する。図４にステップ９０及び９
２で示されたように、走査アレー即ちＣＣＤの複数のセ
ンサ素子の各々に対してこのプロセスが繰り返される。
図４に示したプロセスステップが完了すると、ＣＣＤセ
ンサアレーの各素子に対してオフセット及び利得レベル
が計算される。
ｙ切片に対して式を解くと、傾斜ｍが約１．９８７で、
ｙ切片ｂが約３９．０２７となる。従って、０％反射タ
ーゲットから反射される光から予想されるセンサ出力の
デジタルレベル、即ちセンサのオフセットは、約３９と
決定され、これは、図５のグラフに示すｙ切片と等価で
ある。同様に、傾斜即ち利得ｍは式２に基づいて決定さ
れる。図４のステップ８４で行われた上記の計算は、オ
フセット利得値を、後で使用するために各々ステップ８
６及び８８においてセンサオフセット及び利得ＲＡＭに
記憶できるようにする一方、図３について前記したよう
に、文書をデジタル化する。図４にステップ９０及び９
２で示されたように、走査アレー即ちＣＣＤの複数のセ
ンサ素子の各々に対してこのプロセスが繰り返される。
図４に示したプロセスステップが完了すると、ＣＣＤセ
ンサアレーの各素子に対してオフセット及び利得レベル
が計算される。
【００３０】直線のｙ切片を決定するのに適した動作と
して前記したが、ＣＣＤセンサの応答曲線が当該領域に
おいて非直線的であると決定された場合は、反射光がな
いか又は低い状態に応答してセンサ即ちホトサイトの電
圧出力特性を正確に表すために他の曲線適合動作を使用
できることが明らかであろう。図６は、センサの応答を
曲線Ｌによってより正確に近似できる曲線適合動作の例
を示す。このような状態においては、次の式で示すよう
に１つ以上の高次の補正係数（ａn ｘn+1 ）を含むよう
に式（１）を変更する。 ｙ＝ｍｘ＋ｂ＋ａ1 ｘ2 ＋ａ2 ｘ3 ＋・・・ （４） 但し、ｎ個の付加的な校正点を使用して、ｎ次元の多項
式曲線を形成することができる。各高次の補正係数を式
４に追加する場合には、曲線Ｌに沿った付加的な点を決
定する必要がある。例えば、式４のａ1 の値を決定する
ためには、図６に点Ｅで示すように、中間のグレーの反
射度、例えば、約５０％の反射度においてデータを収集
することが必要である。付加的な校正情報を使用する
と、高次の項を用いて非直線的なセンサ応答を特徴付け
することができる。
して前記したが、ＣＣＤセンサの応答曲線が当該領域に
おいて非直線的であると決定された場合は、反射光がな
いか又は低い状態に応答してセンサ即ちホトサイトの電
圧出力特性を正確に表すために他の曲線適合動作を使用
できることが明らかであろう。図６は、センサの応答を
曲線Ｌによってより正確に近似できる曲線適合動作の例
を示す。このような状態においては、次の式で示すよう
に１つ以上の高次の補正係数（ａn ｘn+1 ）を含むよう
に式（１）を変更する。 ｙ＝ｍｘ＋ｂ＋ａ1 ｘ2 ＋ａ2 ｘ3 ＋・・・ （４） 但し、ｎ個の付加的な校正点を使用して、ｎ次元の多項
式曲線を形成することができる。各高次の補正係数を式
４に追加する場合には、曲線Ｌに沿った付加的な点を決
定する必要がある。例えば、式４のａ1 の値を決定する
ためには、図６に点Ｅで示すように、中間のグレーの反
射度、例えば、約５０％の反射度においてデータを収集
することが必要である。付加的な校正情報を使用する
と、高次の項を用いて非直線的なセンサ応答を特徴付け
することができる。
【００３１】
【発明の効果】要約すれば、本発明は、像処理装置によ
って発生された像信号に存在するオフセットを補償する
方法を提供し、より詳細には、像感知素子のオフセッ
ト、利得及び高次の応答を正確に特徴付けし、像感知装
置又はスキャナにおいてその補正を行えるようにする方
法を提供する。この方法は、中間（グレー）反射度のタ
ーゲットを用いて各センサ素子の応答を測定し、そして
その測定された応答を使用してそれらの応答に特性曲線
を適合し、ゼロ反射状態を含むセンサ素子の応答を計算
し、センサの正確なオフセットレベル、利得及び高次の
応答を特徴付ける。更に、付加的な反射ターゲット及び
応答を用いて、直線的に増加する光強度に対して非直線
的な応答を示す像感知素子を特徴付けることができる。
って発生された像信号に存在するオフセットを補償する
方法を提供し、より詳細には、像感知素子のオフセッ
ト、利得及び高次の応答を正確に特徴付けし、像感知装
置又はスキャナにおいてその補正を行えるようにする方
法を提供する。この方法は、中間（グレー）反射度のタ
ーゲットを用いて各センサ素子の応答を測定し、そして
その測定された応答を使用してそれらの応答に特性曲線
を適合し、ゼロ反射状態を含むセンサ素子の応答を計算
し、センサの正確なオフセットレベル、利得及び高次の
応答を特徴付ける。更に、付加的な反射ターゲット及び
応答を用いて、直線的に増加する光強度に対して非直線
的な応答を示す像感知素子を特徴付けることができる。
【図１】デジタル像形成システムの主たる要素を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】２チャンネル像入力ターミナルにおける主たる
要素を示す概略ブロック図である。
要素を示す概略ブロック図である。
【図３】２チャンネル像入力ターミナルにおける主たる
要素を示す概略ブロック図である。
要素を示す概略ブロック図である。
【図４】本発明により実施される校正動作のステップを
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図５】図４で行われる動作の例をグラフで示した図で
ある。
ある。
【図６】図４で行われる動作の例をグラフで示した図で
ある。
ある。
１０ デジタル像形成システム １２ 像入力ターミナル（ＩＩＴ） １４ 像処理システム（ＩＰＳ） １６ ラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）サブシステム ２０ ＣＣＤ ２２ａ、２２ｂ ＤＣ復帰回路 ２４ａ、２４ｂ ＤＡＣ ２６ａ、２６ｂ 加算器 ３０ ＭＵＸ ３２ 増幅器 ３４ Ａ／Ｄコンバータ ４０ 加算器 ４２ ピクセルクロック駆動カウンタ ４４ オフセットＲＡＭ ４８ 乗算器 ５０ 利得ＲＡＭ ５４ ラッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマス アール バイカーク アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14580 ウェブスター ウェブスター ロード 1084
Claims (3)
- 【請求項１】 文書の表面から反射される露出光の強度
を記録するのに使用される感光センサのためのオフセッ
ト補正レベルを決定する方法において、 第１の非ゼロの反射レベルを有する第１ターゲットから
反射された光に上記センサが曝されたときのセンサ応答
を測定し、 上記第１の反射レベルより大きな第２の反射レベルを有
する第２ターゲットから反射された光に上記センサが曝
されたときのセンサ応答を測定し、そして上記第１ター
ゲットに対するセンサ応答、上記第２ターゲットに対す
るセンサ応答並びに上記第１及び第２ターゲットの反射
の関数として、ゼロ反射ターゲットから反射される光に
対する上記センサの応答を計算し、その計算された応答
を上記センサのためのオフセット補正レベルとして使用
できるようにする、という段階を備えたことを特徴とす
る方法。 - 【請求項２】 文書の表面から反射される露出光の強度
を記録するのに使用される感光センサのための利得補正
係数及び少なくとも１つのより高次の補正係数を決定す
る方法において、 第１の反射度を有する第１ターゲットから反射された光
に上記センサが曝されたときのセンサ応答を測定し、 上記第１の反射度より大きな第２の反射度を有する第２
ターゲットから反射された光に上記センサが曝されたと
きのセンサ応答を測定し、 上記第１の反射度より大きく且つ上記第２の反射度より
小さい第３の反射度を有する第３ターゲットから反射さ
れた光に上記センサが曝されたときのセンサ応答を測定
し、そして上記第１ターゲット、第２ターゲット及び第
３ターゲットに対するセンサ応答と、上記第１、第２及
び第３ターゲットの反射度との関数として、 上記センサの利得、及び高次の補正係数を計算し、その
計算された応答を上記センサのための利得補正係数とし
て使用できるようにする一方、更に、上記高次の補正係
数の使用によりいかなる非直線的なセンサ応答も補償す
る、という段階を備えたことを特徴とする方法。 - 【請求項３】 文書の表面から反射される露出光の強度
を記録するのに使用される走査アレーの複数の感光セン
サのためのオフセット補正レベルを決定する方法におい
て、 （ａ）第１の非ゼロの反射レベルを有する第１ターゲッ
トから反射された光に曝されたときの各センサの応答を
測定し、 （ｂ）上記第１ターゲットに対するセンサ応答の大きさ
を表す値を、独特のセンサに各々対応する複数の第１校
正メモリ位置に記憶し、 （ｃ）上記第１の反射レベルより大きな第２の反射レベ
ルを有する第２ターゲットから反射された光に曝された
ときの各センサの応答を測定し、 （ｄ）上記第２ターゲットに対するセンサ応答の大きさ
を表す値を、独特のセンサに各々対応する複数の第２校
正メモリ位置に記憶し、そして （ｅ）上記第１及び第２校正メモリ位置に記憶された関
連センサ応答と、上記第１及び第２ターゲットの反射と
の関数として、ゼロ反射ターゲットから反射される光に
対する上記複数のセンサ各々の応答を計算し、そしてそ
の計算された応答を各々の上記センサのためのオフセッ
ト補正レベルとして使用する、という段階を備えたこと
を特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/295,122 US6038038A (en) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | Method for determining offset and gain correction for a light sensitive sensor |
| US08/295122 | 1994-08-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0877340A true JPH0877340A (ja) | 1996-03-22 |
Family
ID=23136303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7208583A Withdrawn JPH0877340A (ja) | 1994-08-24 | 1995-08-16 | 走査システムのためのオフセット及び利得補正を決定する方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6038038A (ja) |
| JP (1) | JPH0877340A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9185316B2 (en) | 2010-12-01 | 2015-11-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Data sampler, data sampling method, and photo detecting apparatus including data sampler that minimizes the effect of offset |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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