JPH0199372A - 画像情報読取装置のシェーディング特性測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、画像情報が記録されている記録媒体に光ビー
ムを走査させて上記画像情報を含む光を得、この光を検
出して画像情報を読み取る装置におけるシェーディング
特性を測定する方法に関するものである。

（従来の技術） 画像情報が記録された記録媒体に光ビームを走査させて
、その記録媒体からの反射光、透過光あるいは発光光を
検出することにより画像情報の読取りを行なう画像情報
読取装置が、従来より例えばコンピュータの画像入力部
、ファクシミリの画像読取部等において使用されている
。またこの種の画像情報読取装置の１つとして例えば特
開昭５６−１１３９７号に示されるように、人体等の放
射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シート
に励起光ビームを照射し、この励起光照射を受けたシー
トの箇所から発せられる発光光（輝尽発光光）を検出し
て、上記放射線画像情報を担う画像信号を得るようにし
た放射線画像情報読取装置も知られている。

上記のような画像情報読取装置においては、例えば上記
特開昭５６−１１３９７号にも示されている通り、効率
良く光検出を行なうために、光検出器を集光体に接続し
て使用することが多い。すなわち導光性材料からなる集
光体の一端を光の入射端面とする一方他端を出射端面と
し、この出射端面に光電子増倍管等の光検出器を接続し
、集光体をその入射端面が記録媒体上の光ビーム走査線
に沿って延びるように配置しておけば、各走査点から発
せられる光は上記入射端面から集光体内に入射し、効率
良く集光されて光検出器まで導かれるようになる。

ところが上述のように集光体を介して光を検出する場合
には、集光体のシェーディング（すなわち例えば集光体
端部等において導光効率が悪い部分が生じること）によ
り、光検出器の出力が変化してしまうことがある。。

一方光検出器の一つとして、例えば特開昭６２−１６６
６６号に示されるように、記録媒体上の主走査ラインに
沿って延びる十分に長い受光面を有する長尺の光電子増
倍管が知られているが、このような長尺の光電子増倍管
においては、光電子増倍管長手方向に亘る受光感度ムラ
が認められる。

さらには、光ビームを走査させるガルバノメータミラー
等の光偏向器の速度変動や、光ビームを記録媒体上に導
く光学系の光反射率、光透過率のムラにより、読取光の
強度が主走査方向に亘って変動することがある。

以上述べたようなことが１つでも起きると、光検出器の
出力が光ビーム主走査位置毎に変動することになる（以
下、このことを総体的に読取装置のシェーディングと称
する）。このようなシェーディングが起きると当然なが
ら、記録媒体からの光を正しく検出することが不可能と
なる。

上述の不具合を解決するために、記録媒体からの光の読
取りに先行して光ビーム主走査方向に亘る読取装置のシ
ェーディング特性を求めておき、上記光を読み取る際に
、光検出器から得られた読取信号を、シェーディングに
よる光検出器の出力変動を解消するように上記シェーデ
ィング特性に応じて補正することが考えられている。

（発明が解決しようとする問題点） ところが以上述べたような光検出器の出力変動は、前述
した読取装置側の種々の要因の他に、例えば蓄積性蛍光
体シートからの放射線画像情報読取りにあっては、蓄積
性蛍光体シート自体の感度ムラや、放射線画像記録（撮
影）時の放射線照射ムラ等によっても生じる。このよう
な読取装置以外に係る要因は、例えば使用する蓄積性蛍
光体シートが変わる、放射線照射源が交換される、等に
よって随時変化することが多いから、このような要因ま
でも含めて前記シェーディング特性を求めるようにする
と、例えばこのシェーディング特性を求めたときの放射
線照射ムラ特性に対して、実際の放射線画像情報読取り
時の放射線照射ムラ特性がいわば正反対のものとなって
しまうようなことも起こりうる。このようなことになる
と、せっかく上述のような補正を行なってもそれが逆効
果となり、読取信号が大幅に不正なものとなってしまう
。

このようなことを考慮すると上記の補正は、画像情報読
取装置に起因するシェーディング特性のみに基づいて行
なった方が却って良い場合も多い。

そこで本発明は、画像情報読取装置のみに起因するシェ
ーディング特性を正確に測定することができる方法を提
供することを目的とするものである。

（問題点を解決するための手段） 本発明の画像情報読取装置のシェーディング特性測定方
法は、テスト用記録媒体に一様なテスト画像情報を記録
し、該記録媒体に対して光ビームを走査させて前記画像
信号を得る操作を、該記録媒体上の所定ラインが光ビー
ム主走査方向、および副走査方向に延びるように記録媒
体の向きを変えて２回行ない、 上記所定ラインが光ビーム主走査方向にあるときの光検
出器出力を対数変換して得られた信号の　。

該所定ラインに沿った分布Ａ　（ｘ）　、および上記所
定ラインが光ビーム副走査方向にあるときの光検出器出
力を対数変換して得られた信号の該所定ラインに沿った
分布Ｂ（ｘ）［ｘは上記所定ライン上の画素位置］をそ
れぞれ求め、 これらの信号分布の差Ａ　（ｘ）　−Ｂ　（ｘ）から光
ビーム主走査方向に沿ったシェーディング特性を求める
ことを特徴とするものである。

（作　　用） 読取装置自体に起因する主走査方向シェーディング特性
をｆ　（ｘ）とし、先に述べたような蓄積性蛍光体シー
ト自体の感度ムラや、放射線画像記録（撮影）時の放射
線照射ムラ等の読取装置以外による光検出器の出力変動
特性をｇ　（ｘ）　、前記一様なテスト画像情報による
一様信号成分をｋとすると、記録媒体上の所定ラインが
光ビーム主走査方向に延びるようにしたときの該ライン
に沿った画像信号分布Ａ　（ｘ）は、 Ａ　（ｘ）　−１ｏｇ　　（ｋ−ｆ　（ｘ）　・ｇ　（
ｘ）　）である。

一方、上記所定ラインが光ビーム副走査方向に延びるよ
うにした場合は、このラインがずっと同じ主走査位置に
あるから、該ラインに沿った画像信号分布Ｂ　（ｘ）は
、読取装置の、主走査方向シェーディング特性の影響を
受けない。すなわち、Ｂ　（ｘ）　−ｌｏｇ　　（ｋ−
ｇ　（ｘ）　）である。したがって Ａ　（ｘ）　−Ｂ　（ｘ） 一１ｏｇ　　［ｋ−ｆ　　（ｘ）　　・ｇ　（ｘ）　１
１−１ｏ　　（ｋ−ｇ　（ｘ）　１ 閤ｌｏｇ　ｆ　　（ｘ） となり、画像信号分布Ａ　（ｘ）とＢ　（ｘ）とから、
シェーディング特性ｆ　（ｘ）が求められる。

（実　施　例） 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。

第１図は本発明方法によりシェーディング特性が測定さ
れる画像情報読取装置を示すものである。

この画像情報読取装置は一例として、本出願人が既に特
開昭５５−１２４２９号、同５６−１１３９５号等にお
いて提案した蓄積性螢光体シートを用いる放射線画像情
報記録再生システムにおいて、上記蓄積性螢光体シート
から発せられる輝尽発光光を読み取る放射線画像情報読
取装置である。放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性
螢光体シート１０は、エンドレスベルト等のシート搬送
手段１１により、副走査のために矢印Ｖ方向に搬送され
る。

またレーザ光源１２から射出された励起光としてのレー
ザビーム１３は、ガルバノメータミラー等の光偏向器１
４によって偏向され、蓄積性螢光体シート１０を上記副
走査方向Ｖと略直角な方向Ｕに主走査する。こうしてレ
ーザビーム１３が照射されたシート■０の箇所からは、
蓄積記録されている放射線画像情報に応じた光量の輝尽
発光光１５が発散され、この輝尽発光光１５は集光体■
６を介して、光電子増倍管１７によって光電的に検出さ
れる。本例において光電子増倍管１７としては、蓄積性
蛍光体シート■０上のレーザビーム主走査ラインに沿っ
て延びる十分に長い光検出面を備えた長尺の光電子増倍
管が用いられている。

この光電子増倍管１７の出力をログアンプ２０によって
対数変換増幅して得られた信号Ｓは、スイッチ２１、シ
ェーディング補正回路２２（これらについては後に詳述
する）を通してＡ／Ｄ変換器２３に送られ、そこでデジ
タル化される。こうして得られたデジタルの読取画像信
号Ｓｄは画像処理回路２４において階調処理、周波数処
理等の処理を受けた後、例えばＣＲＴ、光走査記録装置
等の画像再生装置２５に入力される。上記読取画像信号
Ｓｄは前記輝尽発光光■５の光量を担持するものである
から、この読取画像信号Ｓｄを用いれば、蓄積性螢光体
シートｌＯに蓄積記録されていた放射線画像が上記画像
再生装置２５により可視像として再生されうる。

なお読取画像信号Ｓｄは、上述のように直ちに画像再生
装置２５に入力する他、例えば磁気ディスクや磁気テー
プ等の記録媒体に一時記録しておくようにしてもよい。

ここで、長尺の光電子増倍管１７は、その長手方向に亘
る感度ムラを有していることが多く、また光偏向器１４
が速度変動を有することも多い。そのような場合光電子
増倍管１７の出力は、同じ光量の輝尽発光光１５に対し
てもビーム主走査位置によって変動してしまう。このよ
うな光電子増倍管１７の出力変動は、その他例えば、輝
尽発光光１５を光電子増倍管１７に導く集光体が複雑な
形状をしていて導光効率にムラがある場合や、さらには
光偏向器１４と蓄積性蛍光体シートｌＯとの間に長尺の
レーザビーム反射ミラーが設けられ、そのミラーに反射
率ムラが有る場合等にも生じる。

以下、このようなシェーディングの特性を測定し、それ
に基づいて信号Ｓを補正する点について説明する。先に
述べたようにして放射線画像情報の読取りを行なうのに
先立って予め、１枚のテスト用蓄積性蛍光体シート１０
Ｔが用意され、該シートＬＯＴには所定量の放射線が一
様照射される。このテスト用蓄積性蛍光体シート１０Ｔ
は第１図の装置において、前述の放射線画像情報読取り
の場合と同様の処理にかけられる。このときテスト用蓄
積性蛍光体シー）１０Ｔはまず第２図（１）に示すよう
に、所定ラインＬがレーザビーム主走査方向Ｕに延びる
向きにして読取処理にかけられる。そしてこのときの光
電子増倍管１７の出力をログアンプ２０によって対数変
換増幅して得られた信号ＳＬは、スイッチ２１を切り換
えてシェーディング特性測定回路２６に送られる。シェ
ーディング特性測定回路２６はこの信号Ｓ１から、上記
ラインＬについての信号を抽出し、そのラインＬに沿っ
た分布Ａ　（ｘ）を求める（ＸはラインＬ上の画素位置
を示す）。

なおこの分布Ａ　（ｘ）は、上記ラインＬと平行な複数
のラインについての信号Ｓ１を抽出し、それらの平均値
から求めてもよい。こうして求められる信号分布Ａ　（
ｘ）は例えば第３図（１）に示すようなものとなり、こ
の分布Ａ　（ｘ）はシェーディング特性測定回路２６の
内部メモリに記憶される。

その後テスト用蓄積性蛍光体シート■ＯＴには、その蛍
光体の励起波長領域の光が照射される。それにより、上
記読取処理後も該シートテスト用蓄積性蛍光体シート１
０Ｔに残存していた放射線エネルギーが放出される。そ
の後このテスト用蓄積性蛍光体シート１０Ｔには再度前
記所定量の放射線が一様照射され、次いで該シートｌＯ
Ｔは上記と同様の読取処理にかけられる。この場合テス
ト用蓄積性蛍光体シートＬＯＴは、第２図（２）に示す
ように、前述の場合と向きを９０°変えて読取処理にか
けられる。つまりこのときテスト用蓄積性蛍光体シート
ＬＯＴは、所定ラインＬが副走査方向Ｖに延びる状態に
配置される。このときのログアンプ２０の出力信号Ｓ２
も、スイッチ２１を介してシェーディング特性測定回路
２６に送られる。シェーディング特性測定回路２６はこ
の信号Ｓ２から、上記ラインＬについての信号を抽出し
、そのラインＬに沿った分布Ｂ　（ｘ）を求める。この
分布Ｂ　（ｘ）は例えば第３図（′２Ｊに示すようなも
のとなる。

そしてシェーディング特性測定回路２６は、先に求めて
内部メモリに記憶されていた信号Ｓ１の分布Ａ　（ｘ）
を読み出し、上記信号Ｓ２の分布Ｂ（ｘ）との差 Ｃ（ｘ）　−Ａ　（ｘ）　−Ｂ　（ｘ）を求める。読取
装置自体に起因する主走査方向シェーディング特性をｆ
（ｘ）、蓄積性蛍光体自体の感度ムラや、放射線画像記
録（撮影）時の放射線照射ムラ等の読取装置以外に起因
する光電子増倍管１７の出力変動特性をｇ　（ｘ）とし
、前記所定量の放射線照射によりテスト用蓄積性蛍光体
シート１０Ｔに蓄積された放射線エネルギーによる信号
成分をｋとすると、先に説明した通り、Ａ　（ｘ）　−
ｌｏｇ　　（ｋ　−ｆ　（ｘ）　　・ｇ　（ｘ）　ＩＢ
　（ｘ）　−１ｏｇ　　（ｋ−ｇ　（ｘ）　）である。

すなわち、第２図（１）の状態で読取りを行なう場合は
、読取装置自体に起因する主走査方向シェーディング特
性と、それ以外つまりテスト用蓄積性蛍光体シートＬＯ
Ｔの感度ムラや、該シートＬＯＴへの放射線照射ムラ等
に起因する光電子増倍管■７の出力変動特性の双方が重
畳して信号ｓ１に現われるのに対し、第２図の（ａの状
態で読取りを行なう場合はラインＬが常に同じ主走査位
置にあるから、読取装置自体に起因する主走査方向シェ
ーディング特性は信号Ｓ２に現われない。

したがって Ｃ（ｘ）　−Ａ　（ｘ）　−Ｂ　（ｘ）　＝ｌｏｇ　ｆ
　（ｘ）となる。この特性ｌｏｇ　ｆ　（ｘ）は、メモ
リ２７に記憶される。

前述のようにして蓄積性蛍光体シート■０からの放射線
画像情報を読み取る際、シェーディング補正回路２２は
ログアンプ２０の出力信号Ｓを受けるとともに、メモリ
２７から上記特性ｌｏｇ　ｆ　（ｘ）を示す情報Ｄｆを
受け、 Ｓ　（ｘ）　−１ｏｇ　ｆ　（ｘ） なる減算を行なう。この減算は同一の位置Ｘについての
信号毎に行なわれる。真の放射線画像情報をＲ（ｘ）と
すると、 Ｓ（ｘ）−１ｏｇ　　（Ｒ（ｘ）　　・ｆ　　（ｘ）　
　・ｇ（ｘ）１であるから、 Ｓ　（ｘ）　−１ｏｇ　ｆ　（ｘ） −ｌｏｇ　Ｒ（ｘ）　＋ｌｏｇ　ｇ　（ｘ）となる。読
取装置以外に起因する光電子増倍管１７の出力変動特性
ｇ　（ｘ）が無視できる程度のものである場合、この減
算処理を行なうことにより、はぼ真の放射線画像情報の
みを担持する信号Ｓ゛が得られる。したがってこの信号
Ｓ°に基づいて前述のように放射線画像を再生すれば、
読取装置のシェーディングの影響を受けない高品質の放
射線画像が得られる。

なお第１図中に破線で示すよう、にメモ９２８を設け、
読取装置以外に起因する光電子増倍管１７の出力変動特
性ｇ　（ｘ）を別途測定してこのメモリ２８に特性ｌｏ
ｇ　ｇ　（Ｘ）を記憶させておき、放射線画像情報読取
り時に、前述の特性ｌｏｇ　ｆ　（ｘ）を示す情報とと
もにｌｏｇ　ｇ　（ｘ）を示す情報Ｄｇをメモリ２８か
ら読み出し、シェーディング補正回路２２において、 Ｓ　（Ｘ）　−（ｌｏｇ　ｆ　（Ｘ）　＋ｌｏｇ　ｇ　
（Ｘ）　）なる減算を行なうようにしてもよい。この場
合、該減算の結果はｌｏｇ　Ｒ（ｘ）となるので、読取
装置に起因する出力変動、特性ｆ（ｘ）、およびそれ以
外に起因する出力変動特性ｇ　（ｘ）の双方の影響が排
除された読取画像信号Ｓ′が得られる。

以上、蓄積性蛍光体シートから放射線画像情報を読み取
る装置に適用された実施例について説明したが、本発明
はこの種の放射線画像情報読取装置のみならず、記録媒
体から画像情報を担って生じる反射光、透過光等を読み
取るその他の画像情報読取装置においても適用されうる
ちのである。

（発明の効果） 以上詳細に説明した通り本発明のシェーディング特性測
定方法によれば、画像情報読取装置自体に起因するシェ
ーディング特性を正確に測定することが可能となり、そ
の結果このシェーディング特性を自動的に補償して、画
像情報を担った光を正しく読み取ることが可能となり、
記録媒体に記録された画像情報を正確に再生することが
可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明方法によりシェーディング特性を測定
する放射線画像情報読取装置を示す概略図、 第２図は、本発明方法において画像情報読取りにかけら
れるテスト用記録媒体の向きを説明する説明図、 第３図は、テスト用記録媒体に対する読取処理によって
得られた読取信号の分布状態例を示すグラフである。 ｌＯ・・・蓄積性蛍光体シート １０Ｔ・・・テスト用蓄積性蛍光体シート１３・・・レ
ーザビーム　　　　　１４・・・光偏向器１５・・・輝
尽発光光　　　　　　１６・・・集光体１７・・・光電
子増倍管　　　　　２０・・・ログアンプ２１・・・ス
イッチ ２２・・・シェーディング補正回路 ２６・・・シェーディング特性測定回路２７．２８・・
・メモリ Ａ　（ｘ）　、Ｂ　（ｘ）・・・読取信号の分布特性Ｌ
・・・テスト用蓄積性蛍光体シート上のライン５ＳＳ１
１Ｓ２・・・光電子増倍管の出力を対数変換増幅した信
号 第２図 （１）　　、　　　　　　（２） 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 画像情報が記録されている記録媒体上に光ビームを２次
   元的に走査させて前記画像情報を含む光を得、この光を
   光検出器によって光電的に検出して前記画像情報を担う
   画像信号を得る画像情報読取装置のシェーディング特性
   を測定する方法であって、 テスト用記録媒体に一様なテスト画像情報を記録し、該
   記録媒体に対して前記光ビームを走査させて前記画像信
   号を得る操作を、該記録媒体上の所定ラインが光ビーム
   主走査方向、および副走査方向に延びるように記録媒体
   の向きを変えて２回行ない、 上記所定ラインが光ビーム主走査方向にあるときの光検
   出器出力を対数変換して得られた信号の前記所定ライン
   に沿った分布Ａ（ｘ）、および上記所定ラインが光ビー
   ム副走査方向にあるときの光検出器出力を対数変換して
   得られた信号の該所定ラインに沿った分布Ｂ（ｘ）［ｘ
   は上記所定ライン上の画素位置］をそれぞれ求め、 これらの信号分布の差Ａ（ｘ）−Ｂ（ｘ）から前記画像
   情報読取装置の光ビーム主走査方向に沿ったシェーディ
   ング特性を求めることを特徴とする画像情報読取装置の
   シェーディング特性測定方法。