JPH1023252A - 高濃度フィルム画像読取方法及びその装置 - Google Patents
高濃度フィルム画像読取方法及びその装置Info
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- JPH1023252A JPH1023252A JP8171189A JP17118996A JPH1023252A JP H1023252 A JPH1023252 A JP H1023252A JP 8171189 A JP8171189 A JP 8171189A JP 17118996 A JP17118996 A JP 17118996A JP H1023252 A JPH1023252 A JP H1023252A
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- film
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- light beam
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 高濃度フィルムの画像を高精度に且つＣＣＤ
センサのシェーディング歪の補正を行って読み取る。 【解決手段】 Ａ／Ｄコンバータ１１で変換された画素
信号出力の明レベルを記憶する明レベルメモリ１２と、
メモリ１２に記録された画素信号の明レベルを所定量の
倍率で演算する乗算回路１３と、乗算回路１３により演
算された画素信号の明レベルからフィルムを介在して得
た画素信号出力を除算して正規化する正規化演算回路１
４とを設け、読取に先立って露光量をＮＤフィルタ７に
より減衰した読取光線をセンサ９に照射し、センサ９が
検出した画素信号の明レベルを画素単位に記憶し、次い
で読取光線をフィルム１を介してセンサ９に照射してフ
ィルム読取画像の画素信号を得、記憶した画素信号の明
レベルを所定量の倍率で演算した明レベルから、次に読
み取った画素信号の明レベルを除算して正規化する。
センサのシェーディング歪の補正を行って読み取る。 【解決手段】 Ａ／Ｄコンバータ１１で変換された画素
信号出力の明レベルを記憶する明レベルメモリ１２と、
メモリ１２に記録された画素信号の明レベルを所定量の
倍率で演算する乗算回路１３と、乗算回路１３により演
算された画素信号の明レベルからフィルムを介在して得
た画素信号出力を除算して正規化する正規化演算回路１
４とを設け、読取に先立って露光量をＮＤフィルタ７に
より減衰した読取光線をセンサ９に照射し、センサ９が
検出した画素信号の明レベルを画素単位に記憶し、次い
で読取光線をフィルム１を介してセンサ９に照射してフ
ィルム読取画像の画素信号を得、記憶した画素信号の明
レベルを所定量の倍率で演算した明レベルから、次に読
み取った画素信号の明レベルを除算して正規化する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、工業用非破壊検査
等に使用される放射線透過による放射線フィルムの画像
データを読み取る高濃度フィルム画像読取方法及び装置
に係り、特に高濃度の読取画像をディジタル化して良好
な画像を得ることができる高濃度フィルム画像読取方法
及び装置に関する。
等に使用される放射線透過による放射線フィルムの画像
データを読み取る高濃度フィルム画像読取方法及び装置
に係り、特に高濃度の読取画像をディジタル化して良好
な画像を得ることができる高濃度フィルム画像読取方法
及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に放射線を利用した非破壊検査装置
は、Ｘ線又はγ線等の物体を透過する放射線の透過率が
構成物質の種類／厚さ及び密度によって異なる特性を利
用し、物体を透過した放射線を放射線フィルムに印画
し、被測定物の形状・寸法・材質及び傷の有無を非接触
で検出するものである。また、この非破壊検査装置に使
用される放射線フィルムは、一般の医療用等の放射線フ
ィルムと異なり、微細な被検査対象物の傷やひび等を検
査するために印画像が暗い特性を持ち、例えば人間が通
常に目視した程度では判別が困難な程の高濃度なもので
ある。
は、Ｘ線又はγ線等の物体を透過する放射線の透過率が
構成物質の種類／厚さ及び密度によって異なる特性を利
用し、物体を透過した放射線を放射線フィルムに印画
し、被測定物の形状・寸法・材質及び傷の有無を非接触
で検出するものである。また、この非破壊検査装置に使
用される放射線フィルムは、一般の医療用等の放射線フ
ィルムと異なり、微細な被検査対象物の傷やひび等を検
査するために印画像が暗い特性を持ち、例えば人間が通
常に目視した程度では判別が困難な程の高濃度なもので
ある。
【０００３】近年においては、この高濃度の放射線フィ
ルムをディジタルデータ化するため、該放射線フィルム
をＣＣＤセンサにより光学的に読み出してディジタルデ
ータに変換を行うフィルム画像読取装置が使用されてい
る。このフィルム画像読取装置は、フィルムディジタイ
ザとも呼ばれる。
ルムをディジタルデータ化するため、該放射線フィルム
をＣＣＤセンサにより光学的に読み出してディジタルデ
ータに変換を行うフィルム画像読取装置が使用されてい
る。このフィルム画像読取装置は、フィルムディジタイ
ザとも呼ばれる。
【０００４】この従来技術によるＣＣＤセンサを用いた
フィルム画像読取装置は、例えば特開平３−２６５３６
９号公報に記載されている如く、放射線フィルムの画像
情報をサンプリング時間を変えて複数回スキャンし、得
られた複数の画像ディジタルデータに基づいて所定の重
み付け等を行って合成することにより、一回のスキャン
よりもダイナミックレンジの広い画像読取が可能なこと
が知られている。
フィルム画像読取装置は、例えば特開平３−２６５３６
９号公報に記載されている如く、放射線フィルムの画像
情報をサンプリング時間を変えて複数回スキャンし、得
られた複数の画像ディジタルデータに基づいて所定の重
み付け等を行って合成することにより、一回のスキャン
よりもダイナミックレンジの広い画像読取が可能なこと
が知られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術によるフ
ィルム画像読取装置は、放射線フィルムの画像データの
複数回のスキャニングを行うため、大容量の画像ディジ
タルデータを一旦磁気ディスク装置等の記憶装置に保存
しなければならず、読取速度が低下すると言う不具合を
招く可能性があった。更に前述の従来装置は、放射線フ
ィルムの画像情報を複数回スキャンするため、スキャン
毎に大きなサイズのフィルム走査を高精度に再現できず
画素単位での位置ズレが生じると言う不具合もあった。
また前記従来装置は、ＣＣＤセンサの感度ムラや照明ム
ラ等の読取画像の品質を大きく劣化させる画素毎のシェ
ーディング歪の補正等を考慮しておらず、良好な画像を
得るには不都合なものであった。
ィルム画像読取装置は、放射線フィルムの画像データの
複数回のスキャニングを行うため、大容量の画像ディジ
タルデータを一旦磁気ディスク装置等の記憶装置に保存
しなければならず、読取速度が低下すると言う不具合を
招く可能性があった。更に前述の従来装置は、放射線フ
ィルムの画像情報を複数回スキャンするため、スキャン
毎に大きなサイズのフィルム走査を高精度に再現できず
画素単位での位置ズレが生じると言う不具合もあった。
また前記従来装置は、ＣＣＤセンサの感度ムラや照明ム
ラ等の読取画像の品質を大きく劣化させる画素毎のシェ
ーディング歪の補正等を考慮しておらず、良好な画像を
得るには不都合なものであった。
【０００６】更に前記フィルム画像読取装置としてレー
ザ光源／ポリゴンミラーの回転走査を行う走査器／光電
子増倍管を持つレーザ技術を用いるものは、高精度／高
安定の電源装置や高速高精度の走査光学系や大きなシュ
ーディングを持った微弱な光信号を増幅する光電子増倍
管その他周辺回路が必要になるため、装置の複雑化及び
大型化並びにコスト高を招くと言う不具合もあった。
ザ光源／ポリゴンミラーの回転走査を行う走査器／光電
子増倍管を持つレーザ技術を用いるものは、高精度／高
安定の電源装置や高速高精度の走査光学系や大きなシュ
ーディングを持った微弱な光信号を増幅する光電子増倍
管その他周辺回路が必要になるため、装置の複雑化及び
大型化並びにコスト高を招くと言う不具合もあった。
【０００７】本発明の目的は、前述の従来技術による不
具合を除去することであり、高濃度のフィルムであって
も画像品質を高精度且つ安価に得ることができる高濃度
フィルム画像読取方法及び装置を提供することである。
具体的に述べれば本発明の目的は、高濃度のフィルムで
あってもＳ／Ｎ比を改善し、且つシェーディング歪を補
正した高画質を得ることができる高濃度フィルム画像読
取方法及び装置を提供することである。
具合を除去することであり、高濃度のフィルムであって
も画像品質を高精度且つ安価に得ることができる高濃度
フィルム画像読取方法及び装置を提供することである。
具体的に述べれば本発明の目的は、高濃度のフィルムで
あってもＳ／Ｎ比を改善し、且つシェーディング歪を補
正した高画質を得ることができる高濃度フィルム画像読
取方法及び装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明による高濃度フィルム画像読取方法は、フィルム
の画像読取に先立って露光量を所定量減衰した読取光線
をフィルムを介さずにＣＣＤセンサに照射し、該ＣＣＤ
センサにより検出した画素信号の明レベルを画素単位に
記憶する第１のステップと、前記読取光線をフィルムを
介してＣＣＤセンサに照射し、該フィルム読取画像の画
素信号を得る第２のステップと、前記第１のステップで
記憶した画素信号の明レベルを所定量の倍率で演算した
明レベルから第２ステップで得た画素信号出力を除算し
て正規化する第３のステップとを含むことにより、Ｓ／
Ｎ比を改善する共に画素毎のシェーディング歪を補正す
ることを第１の手法とする。
本発明による高濃度フィルム画像読取方法は、フィルム
の画像読取に先立って露光量を所定量減衰した読取光線
をフィルムを介さずにＣＣＤセンサに照射し、該ＣＣＤ
センサにより検出した画素信号の明レベルを画素単位に
記憶する第１のステップと、前記読取光線をフィルムを
介してＣＣＤセンサに照射し、該フィルム読取画像の画
素信号を得る第２のステップと、前記第１のステップで
記憶した画素信号の明レベルを所定量の倍率で演算した
明レベルから第２ステップで得た画素信号出力を除算し
て正規化する第３のステップとを含むことにより、Ｓ／
Ｎ比を改善する共に画素毎のシェーディング歪を補正す
ることを第１の手法とする。
【０００９】更に本発明による高濃度フィルム画像読取
方法は、前記第１のステップにおいて、透過率を減衰す
るＮＤフィルタを読取光線の光路中に介在させることに
より読取光線の露光量を所定量減衰することを第２の手
法とし、前記第１のステップにおいて、ＣＣＤセンサの
蓄積時間を短縮することにより読取光線の露光量を所定
量減衰することを第３の手法とし、前記第１のステップ
において、光量を絞る光学絞り機構を読取光線の光路中
に介在させることにより読取光線の露光量を所定量減衰
することを第４の手法とし、前記第１のステップにおい
て、ＣＣＤセンサに照射される読取光線の発光量を低減
することにより露光量を所定量減衰することを第５の手
法とし、前記第１のステップにおいて、光量を集光又は
拡散する集光機構又は拡散機構を読取光線の光路中に介
在させることにより読取光線の露光量を所定量減衰する
ことを第６の手法とする。
方法は、前記第１のステップにおいて、透過率を減衰す
るＮＤフィルタを読取光線の光路中に介在させることに
より読取光線の露光量を所定量減衰することを第２の手
法とし、前記第１のステップにおいて、ＣＣＤセンサの
蓄積時間を短縮することにより読取光線の露光量を所定
量減衰することを第３の手法とし、前記第１のステップ
において、光量を絞る光学絞り機構を読取光線の光路中
に介在させることにより読取光線の露光量を所定量減衰
することを第４の手法とし、前記第１のステップにおい
て、ＣＣＤセンサに照射される読取光線の発光量を低減
することにより露光量を所定量減衰することを第５の手
法とし、前記第１のステップにおいて、光量を集光又は
拡散する集光機構又は拡散機構を読取光線の光路中に介
在させることにより読取光線の露光量を所定量減衰する
ことを第６の手法とする。
【００１０】また本発明による高濃度フィルム画像読取
装置は、読取光線を照射する蛍光ランプと、該蛍光ラン
プから照射された読取光線を所定量減衰する光量減衰手
段と、該蛍光ランプから照射された読取光線を受光して
アナログの読取信号として出力するＣＣＤセンサと、Ｃ
ＣＤセンサより出力されたアナログの読取信号をディジ
タルの画素信号に変換するＡ／Ｄコンバータと、該Ａ／
Ｄコンバータにより変換されたディジタルの画素信号の
明レベルを記憶する明レベルメモリと、該明レベルメモ
リに記録された画素信号の明レベルを所定量の倍率で演
算する乗算回路と、該乗算回路により演算された画素信
号の明レベルからフィルムを介在して得た画素信号出力
を除算して正規化する正規化演算回路とを設け、前記フ
ィルムの画像読取に先立って露光量を所定量減衰した読
取光線をフィルムを介さずにＣＣＤセンサに照射し、該
ＣＣＤセンサにより検出した画素信号の明レベルを明レ
ベルメモリに画素単位に記憶し、次いで読取光線をフィ
ルムを介してＣＣＤセンサに照射してフィルム読取画像
の画素信号を得、明レベルメモリに記憶した画素信号出
力を所定量の倍率で演算した明レベルから、次に読み取
った画素信号出力を除算して正規化することにより、Ｓ
／Ｎ比を改善すると共に画素毎のシェーディング歪を補
正した画素信号を得るものである。
装置は、読取光線を照射する蛍光ランプと、該蛍光ラン
プから照射された読取光線を所定量減衰する光量減衰手
段と、該蛍光ランプから照射された読取光線を受光して
アナログの読取信号として出力するＣＣＤセンサと、Ｃ
ＣＤセンサより出力されたアナログの読取信号をディジ
タルの画素信号に変換するＡ／Ｄコンバータと、該Ａ／
Ｄコンバータにより変換されたディジタルの画素信号の
明レベルを記憶する明レベルメモリと、該明レベルメモ
リに記録された画素信号の明レベルを所定量の倍率で演
算する乗算回路と、該乗算回路により演算された画素信
号の明レベルからフィルムを介在して得た画素信号出力
を除算して正規化する正規化演算回路とを設け、前記フ
ィルムの画像読取に先立って露光量を所定量減衰した読
取光線をフィルムを介さずにＣＣＤセンサに照射し、該
ＣＣＤセンサにより検出した画素信号の明レベルを明レ
ベルメモリに画素単位に記憶し、次いで読取光線をフィ
ルムを介してＣＣＤセンサに照射してフィルム読取画像
の画素信号を得、明レベルメモリに記憶した画素信号出
力を所定量の倍率で演算した明レベルから、次に読み取
った画素信号出力を除算して正規化することにより、Ｓ
／Ｎ比を改善すると共に画素毎のシェーディング歪を補
正した画素信号を得るものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
高濃度フィルム画像読取方法及び装置を図面を参照して
詳細に説明する。図１は、本実施形態による放射線フィ
ルム画像読取装置の構成を示す図であり、図２は本装置
の読取制御のタイムチャートを示す図、図３はＣＣＤセ
ンサの露光量と出力との関係を説明するためのグラフ図
である。
高濃度フィルム画像読取方法及び装置を図面を参照して
詳細に説明する。図１は、本実施形態による放射線フィ
ルム画像読取装置の構成を示す図であり、図２は本装置
の読取制御のタイムチャートを示す図、図３はＣＣＤセ
ンサの露光量と出力との関係を説明するためのグラフ図
である。
【００１２】図１に示すフィルム画像読取装置は、被検
査物を透過した放射線により画像が印画された高濃度
（放射線）フィルム１を挟持回転により搬送するフィー
ドローラ２ａ〜２ｄと、該高濃度フィルム１の所定位置
への到達を検出する位置検出センサ（ＰＤ）３と、後述
する動作により搬送される高濃度フィルム１に拡散板５
を介した読取用結像光線を照射する蛍光ランプ４と、該
蛍光ランプ４から拡散板５及び高濃度フィルム１を介し
た光（画像データ）を反射する反射ミラー６と、該反射
ミラー６により反射された光を使用する波長範囲内で一
定の吸収率を持ち、入射光束を減衰させて感光素子の直
線性を改善するＮＤ（ニュートラルデンシティ）フィル
タ７と、拡散板表面の明るい像を投影するレンズ８と、
該レンズ８によって結像された光を受光して（アナロ
グ）電気信号に変換するＣＣＤセンサ９と、該ＣＣＤセ
ンサ９によりリニア（線形）に光電変換された電気信号
を増幅するアンプ１０と、該アンプ１０にて増幅された
アナログ電気信号を１４ビットのディジタルデータに変
換するＡ／Ｄコンバータ１１と、該コンバータ１１によ
りＡ／Ｄ変換されたデータの１（走査）ライン全部の画
素データを各々独立して記憶する明レベルメモリ１２
と、該明レベルメモリ１２で記憶した画素データの値を
４倍にする乗算回路１３と、後述するシェーディング補
正を行う正規化演算回路１４と、前記機構回路の動作タ
イミングを制御するタイミング制御回路１５とを備え
る。
査物を透過した放射線により画像が印画された高濃度
（放射線）フィルム１を挟持回転により搬送するフィー
ドローラ２ａ〜２ｄと、該高濃度フィルム１の所定位置
への到達を検出する位置検出センサ（ＰＤ）３と、後述
する動作により搬送される高濃度フィルム１に拡散板５
を介した読取用結像光線を照射する蛍光ランプ４と、該
蛍光ランプ４から拡散板５及び高濃度フィルム１を介し
た光（画像データ）を反射する反射ミラー６と、該反射
ミラー６により反射された光を使用する波長範囲内で一
定の吸収率を持ち、入射光束を減衰させて感光素子の直
線性を改善するＮＤ（ニュートラルデンシティ）フィル
タ７と、拡散板表面の明るい像を投影するレンズ８と、
該レンズ８によって結像された光を受光して（アナロ
グ）電気信号に変換するＣＣＤセンサ９と、該ＣＣＤセ
ンサ９によりリニア（線形）に光電変換された電気信号
を増幅するアンプ１０と、該アンプ１０にて増幅された
アナログ電気信号を１４ビットのディジタルデータに変
換するＡ／Ｄコンバータ１１と、該コンバータ１１によ
りＡ／Ｄ変換されたデータの１（走査）ライン全部の画
素データを各々独立して記憶する明レベルメモリ１２
と、該明レベルメモリ１２で記憶した画素データの値を
４倍にする乗算回路１３と、後述するシェーディング補
正を行う正規化演算回路１４と、前記機構回路の動作タ
イミングを制御するタイミング制御回路１５とを備え
る。
【００１３】前記ＮＤフィルタ７は、光の波長によらず
一様な透過率を持った減衰フィルタとして作用し、本実
施形態では２５％の透過率のものを使用する。これによ
りＮＤフィルタ７を光路に介在させた場合と介在しない
場合で、透過率を２５％と１００％に切り換えることが
できる。
一様な透過率を持った減衰フィルタとして作用し、本実
施形態では２５％の透過率のものを使用する。これによ
りＮＤフィルタ７を光路に介在させた場合と介在しない
場合で、透過率を２５％と１００％に切り換えることが
できる。
【００１４】ここで一般にＣＣＤセンサは、多数のフォ
トダイオードから構成され、その出力は該複数ダイオー
ドの特性のバラツキや光源の照射ムラやレンズ中心に対
する周辺光量の低下等に起因する読取画素のトータル歪
み（以下、シェーディング歪みと呼ぶ）を持つ特性があ
り、読取画像の品質（画質）を向上されるためには、前
記シェーディング歪を除く必要がある。またＣＣＤサン
サを構成するフォトダイオードは、光電子蓄積タイプの
リニヤイメージセンサであり、入射光量が飽和露光量を
越えて入射された場合に出力が飽和する特性を持つこと
が知られている。
トダイオードから構成され、その出力は該複数ダイオー
ドの特性のバラツキや光源の照射ムラやレンズ中心に対
する周辺光量の低下等に起因する読取画素のトータル歪
み（以下、シェーディング歪みと呼ぶ）を持つ特性があ
り、読取画像の品質（画質）を向上されるためには、前
記シェーディング歪を除く必要がある。またＣＣＤサン
サを構成するフォトダイオードは、光電子蓄積タイプの
リニヤイメージセンサであり、入射光量が飽和露光量を
越えて入射された場合に出力が飽和する特性を持つこと
が知られている。
【００１５】この特性は、ＣＣＤ蓄積時間とＣＣＤ出力
の関係を示す図３の如く、ＮＤフィルタを介在しない状
態ではＣＣＤ蓄積時間ＴintでＣＣＤ出力がＶsatで飽和
する特性Ｖfを持ち、ＮＤフィルタを介在した状態では
透過率の減衰によりＣＣＤ出力が蓄積時間に比例して増
加する特性Ｖｃとして表される。また同図から、ＮＤフ
ィルタなしの状態ではＣＤＤ蓄積時間がＴint≧Ｔsatで
飽和するが、フィルム１の通常透過写真の濃度に換算し
て１.０以下（透過率１０％以下）の画像領域（試験
部）では、透過率２５％のＮＤフィルタ７より透過光量
が小さいため、画像読取中にＣＣＤ出力が飽和すること
はないことが判る。
の関係を示す図３の如く、ＮＤフィルタを介在しない状
態ではＣＣＤ蓄積時間ＴintでＣＣＤ出力がＶsatで飽和
する特性Ｖfを持ち、ＮＤフィルタを介在した状態では
透過率の減衰によりＣＣＤ出力が蓄積時間に比例して増
加する特性Ｖｃとして表される。また同図から、ＮＤフ
ィルタなしの状態ではＣＤＤ蓄積時間がＴint≧Ｔsatで
飽和するが、フィルム１の通常透過写真の濃度に換算し
て１.０以下（透過率１０％以下）の画像領域（試験
部）では、透過率２５％のＮＤフィルタ７より透過光量
が小さいため、画像読取中にＣＣＤ出力が飽和すること
はないことが判る。
【００１６】そこで本実施形態においては、高濃度フィ
ルム１を読み取るための高輝度の読取光線による読取に
先立ち、ＮＤフィルタ９を光路に挿入し、且つフィルム
を介さない状態でＣＣＤセンサのｉ番目の任意画素出力
Ｖ0(i)を飽和させないリニアな範囲（図３の特性Ｖcの
傾斜している範囲）で読取画素毎のＣＣＤセンサの任意
画素出力Ｖ0(i)のディジタル化出力Ｘ(i)の明レベルを
明レベルメモリ１２に記憶させておき、その値を読み出
して乗算回路１３で４倍した値、即ちＮＤフィルタを介
さない場合の露光量のＣＣＤセンサが飽和しなければ得
られるはずの明レベルの予測値Ｘw(i)を得、この予測値
Ｘw(i)を元に前記シェーディング歪みの補正を行う。
ルム１を読み取るための高輝度の読取光線による読取に
先立ち、ＮＤフィルタ９を光路に挿入し、且つフィルム
を介さない状態でＣＣＤセンサのｉ番目の任意画素出力
Ｖ0(i)を飽和させないリニアな範囲（図３の特性Ｖcの
傾斜している範囲）で読取画素毎のＣＣＤセンサの任意
画素出力Ｖ0(i)のディジタル化出力Ｘ(i)の明レベルを
明レベルメモリ１２に記憶させておき、その値を読み出
して乗算回路１３で４倍した値、即ちＮＤフィルタを介
さない場合の露光量のＣＣＤセンサが飽和しなければ得
られるはずの明レベルの予測値Ｘw(i)を得、この予測値
Ｘw(i)を元に前記シェーディング歪みの補正を行う。
【００１７】この補正は、ＮＤフィルタを除去した際に
得られる任意の読取画素信号Ｘ(i)の明レベルを、この
画素に対応した予測値Ｘw(i)の明レベルで除算すること
により、フィルムの透過率が同じで有れば画素に無関係
に前記除算値（比率）が一定になることを利用し、この
比率を用いてシェーディング歪みの補正を行うものであ
る。
得られる任意の読取画素信号Ｘ(i)の明レベルを、この
画素に対応した予測値Ｘw(i)の明レベルで除算すること
により、フィルムの透過率が同じで有れば画素に無関係
に前記除算値（比率）が一定になることを利用し、この
比率を用いてシェーディング歪みの補正を行うものであ
る。
【００１８】このシェーディング歪みの補正は、前記画
素毎の比率に対して正規演算回路１４が規定の定数（Ｎ
ビット出力の場合は２のＮ乗）を乗算する演算を実行す
ることよって行われ、これにより正規化信号出力が得ら
れる。
素毎の比率に対して正規演算回路１４が規定の定数（Ｎ
ビット出力の場合は２のＮ乗）を乗算する演算を実行す
ることよって行われ、これにより正規化信号出力が得ら
れる。
【００１９】前記明レベルデータの取得動作は、ＣＣＤ
蓄積時間Ｔintが小さい場合は充分な精度が得られる
が、ＣＣＤ蓄積時間Ｔintが大きい場合はＣＣＤセンサ
の暗電流の影響が無視できなくなることが考えられる
が、この暗電流の値はランプの消灯や光学的なシャッタ
ー等の光を遮断することで容易に求めることができるた
め、画素毎に減算する公知の手法で容易に除去すること
ができる。
蓄積時間Ｔintが小さい場合は充分な精度が得られる
が、ＣＣＤ蓄積時間Ｔintが大きい場合はＣＣＤセンサ
の暗電流の影響が無視できなくなることが考えられる
が、この暗電流の値はランプの消灯や光学的なシャッタ
ー等の光を遮断することで容易に求めることができるた
め、画素毎に減算する公知の手法で容易に除去すること
ができる。
【００２０】さて、本実施形態による放射線フィルム画
像読取装置は、図示しないパルスモータを駆動してフィ
ードローラ２ａ〜２ｄを回転することにより高濃度（放
射線）フィルム１を所定速度で搬送を開始し、この搬送
されたフィルム１の先端を位置検出センサ３が検出する
位置まで搬送する。この停止位置は、フィルム１が読取
用光線を遮らない位置に相当する。次いで本装置は、蛍
光ランプ４から読取用光線を照射してフィルム１を介さ
ない状態で前記明レベル読取を行う。
像読取装置は、図示しないパルスモータを駆動してフィ
ードローラ２ａ〜２ｄを回転することにより高濃度（放
射線）フィルム１を所定速度で搬送を開始し、この搬送
されたフィルム１の先端を位置検出センサ３が検出する
位置まで搬送する。この停止位置は、フィルム１が読取
用光線を遮らない位置に相当する。次いで本装置は、蛍
光ランプ４から読取用光線を照射してフィルム１を介さ
ない状態で前記明レベル読取を行う。
【００２１】この高濃度フィルム１に照射された読取用
光線は、ミラー６により光路を９０度回転された後、Ｎ
Ｄフィルタ７及びレンズ８を介してＣＣＤセンサ９の受
光面に投影結像として照射される。この結像された投影
画像は、ＣＣＤセンサ９の多数のフォトダイオードによ
り光電変換され、線形的にアンプ１０により増幅して出
力され、Ａ／Ｄコンバータ１１により１４ビットのディ
ジタルデータに変換され、１ライン全部の画素データの
明レベルとして独立に明レベルメモリ１２に記録され
る。この動作を本実施形態では明レベルデータ取得動作
と呼ぶ。
光線は、ミラー６により光路を９０度回転された後、Ｎ
Ｄフィルタ７及びレンズ８を介してＣＣＤセンサ９の受
光面に投影結像として照射される。この結像された投影
画像は、ＣＣＤセンサ９の多数のフォトダイオードによ
り光電変換され、線形的にアンプ１０により増幅して出
力され、Ａ／Ｄコンバータ１１により１４ビットのディ
ジタルデータに変換され、１ライン全部の画素データの
明レベルとして独立に明レベルメモリ１２に記録され
る。この動作を本実施形態では明レベルデータ取得動作
と呼ぶ。
【００２２】次に本実施形態による放射線フィルム画像
読取装置は、前記した光路上のＮＤフィルタ９を除去し
た状態で高濃度フィルム１を搬送して前述と同様の読取
光線による読取を行って読取画素信号Ｘ(i)を２次元走
査による画像信号のデイジタルデータとして得、この読
取画素信号Ｘ(i)の値を画素毎に前記明レベルメモリ１
２に記録した任意画素出力Ｖ0(i)のディジタル化出力Ｘ
(i)に基づく予測値Ｘw(i)の明レベルで正規化演算回路
１４によって除算することにより、Ｓ／Ｎ比改善と共に
シェーディング歪みの補正を行う。尚、高濃度フィルム
１の搬送による読取動作の終了は、前記センサ３による
フィルム１の後端検出によって行われる。
読取装置は、前記した光路上のＮＤフィルタ９を除去し
た状態で高濃度フィルム１を搬送して前述と同様の読取
光線による読取を行って読取画素信号Ｘ(i)を２次元走
査による画像信号のデイジタルデータとして得、この読
取画素信号Ｘ(i)の値を画素毎に前記明レベルメモリ１
２に記録した任意画素出力Ｖ0(i)のディジタル化出力Ｘ
(i)に基づく予測値Ｘw(i)の明レベルで正規化演算回路
１４によって除算することにより、Ｓ／Ｎ比改善と共に
シェーディング歪みの補正を行う。尚、高濃度フィルム
１の搬送による読取動作の終了は、前記センサ３による
フィルム１の後端検出によって行われる。
【００２３】図２は前述した放射線フィルム画像読取装
置の概略動作をタイムチャートとして示したものであ
り、これら動作はタイミング制御回路１５から供給され
るクロック信号に基づいて行われる。この動作は、まず
フィードローラ２ａ〜２ｄの駆動（ＯＮ）によりフィル
ム１が搬送され、フィルム１の先端をセンサ３が検出
（ＨＩＧＨ）するとローラ２ａ〜２ｄの駆動が停止（Ｏ
ＦＦ）される（タイミングｔ1）。このタイミングｔ1で
は、ＮＤフィルタ６が光路に挿入されている状態であ
り、このタイミングｔ1からタイミングｔ2間で先に述べ
たは明レベルデータ取得動作を行って１ライン全部の画
素データとして独立に明レベルメモリ１２に記録してお
く。
置の概略動作をタイムチャートとして示したものであ
り、これら動作はタイミング制御回路１５から供給され
るクロック信号に基づいて行われる。この動作は、まず
フィードローラ２ａ〜２ｄの駆動（ＯＮ）によりフィル
ム１が搬送され、フィルム１の先端をセンサ３が検出
（ＨＩＧＨ）するとローラ２ａ〜２ｄの駆動が停止（Ｏ
ＦＦ）される（タイミングｔ1）。このタイミングｔ1で
は、ＮＤフィルタ６が光路に挿入されている状態であ
り、このタイミングｔ1からタイミングｔ2間で先に述べ
たは明レベルデータ取得動作を行って１ライン全部の画
素データとして独立に明レベルメモリ１２に記録してお
く。
【００２４】次いでタイミングｔ2で、ＮＤフィルタ６
を抜き取ると共にフィードローラ２ａ〜２ｄを駆動（Ｏ
Ｎ）してフィルム１を搬送しながらフィルムの画像読取
を開始（ＯＮ）し、前述したように先に読み取った明レ
ベルメモリ１２に記憶した任意画素出力Ｖ0(i)のディジ
タル化出力Ｘ(i)に基づく予測値Ｘw(i)で正規化演算回
路１４によって除算することにより、Ｓ／Ｎ比改善と共
にシェーディング歪みの補正を行う。
を抜き取ると共にフィードローラ２ａ〜２ｄを駆動（Ｏ
Ｎ）してフィルム１を搬送しながらフィルムの画像読取
を開始（ＯＮ）し、前述したように先に読み取った明レ
ベルメモリ１２に記憶した任意画素出力Ｖ0(i)のディジ
タル化出力Ｘ(i)に基づく予測値Ｘw(i)で正規化演算回
路１４によって除算することにより、Ｓ／Ｎ比改善と共
にシェーディング歪みの補正を行う。
【００２５】次いで、フィードローラ２ａ〜２ｄの回動
によりフィルム１の後端がセンサ３から外れてセンサ３
による検出がなくなる（ＯＦＦ，タイミングｔ4）と、
これに同期して画像読取の停止（ＯＦＦ）及びＮＤフィ
ルタ９の再挿入（ＯＮ）が行われ、初期状態に戻る様に
動作する。即ち本実施形態によれば、高濃度フィルムを
読み取る際に、ＣＣＤ露光量を著しく増加させることで
Ｓ／Ｎを改善し、高画質を得ることができる。
によりフィルム１の後端がセンサ３から外れてセンサ３
による検出がなくなる（ＯＦＦ，タイミングｔ4）と、
これに同期して画像読取の停止（ＯＦＦ）及びＮＤフィ
ルタ９の再挿入（ＯＮ）が行われ、初期状態に戻る様に
動作する。即ち本実施形態によれば、高濃度フィルムを
読み取る際に、ＣＣＤ露光量を著しく増加させることで
Ｓ／Ｎを改善し、高画質を得ることができる。
【００２６】前述した本実施形態によれば、フィルム１
の読取に先だってＮＤフィルタ７を使用した際のディジ
タル化出力Ｘ(i)に基づく予測値Ｘw(i)の明レベルを用
いてＳ／Ｎ比改善及びシェーディング歪みの補正を行う
例を説明したが、本発明はこれに限られるものでなく、
以下に述べる方法によっても行うことができる。この他
の実施形態を次に説明する。
の読取に先だってＮＤフィルタ７を使用した際のディジ
タル化出力Ｘ(i)に基づく予測値Ｘw(i)の明レベルを用
いてＳ／Ｎ比改善及びシェーディング歪みの補正を行う
例を説明したが、本発明はこれに限られるものでなく、
以下に述べる方法によっても行うことができる。この他
の実施形態を次に説明する。
【００２７】この他の実施形態は、ＮＤフィルタを用い
る代わりに明レベルデータ取得を行う際にＣＣＤ蓄積時
間Ｔintを、Ｔint（明レベルデータ取得時間）＜Ｔsat
を満たす範囲で切り換える制御を行う。
る代わりに明レベルデータ取得を行う際にＣＣＤ蓄積時
間Ｔintを、Ｔint（明レベルデータ取得時間）＜Ｔsat
を満たす範囲で切り換える制御を行う。
【００２８】即ち、本実施形態では、ＣＣＤセンサの出
力信号の大きさが蓄積時間Ｔintに正比例することを利
用し、明レベルデータ取得時のＣＣＤ蓄積時間を時間Ｔ
intの１／４に設定して結果的に２５％のＮＤフィルタ
を用いた場合と同じ条件で明レベルデータの取得を行
い、次いで前記実施形態同様に検出した明レベルデータ
を用いてＳ／Ｎ比改善及びシェーディング歪みの補正を
行うものである。尚、本実施形態によるＣＣＤ蓄積時間
の制御は、タイミング制御回路１５のクロックのカウン
タ数の切換えによって容易に実現することができる。
力信号の大きさが蓄積時間Ｔintに正比例することを利
用し、明レベルデータ取得時のＣＣＤ蓄積時間を時間Ｔ
intの１／４に設定して結果的に２５％のＮＤフィルタ
を用いた場合と同じ条件で明レベルデータの取得を行
い、次いで前記実施形態同様に検出した明レベルデータ
を用いてＳ／Ｎ比改善及びシェーディング歪みの補正を
行うものである。尚、本実施形態によるＣＣＤ蓄積時間
の制御は、タイミング制御回路１５のクロックのカウン
タ数の切換えによって容易に実現することができる。
【００２９】更に他の実施形態として本発明は、ＮＤフ
ィルタ使用又は前記ＣＣＤ蓄積時間の短縮の代わりに光
路中に光量絞り制御機構を設け、該光量絞り制御機構を
用いて明レベルデータ取得時の光量を１／４に設定して
結果的に２５％のＮＤフィルタを用いた場合と同じ条件
で明レベルデータの取得を行い、次いで前記実施形態同
様に検出した明レベルデータを用いてＳ／Ｎ比改善及び
シェーディング歪みの補正を行うものである。この光量
絞り制御機構は、レンズの明るさがＦナンバーの二乗に
反比例することを利用して通常の絞り機構を用いること
ができる。
ィルタ使用又は前記ＣＣＤ蓄積時間の短縮の代わりに光
路中に光量絞り制御機構を設け、該光量絞り制御機構を
用いて明レベルデータ取得時の光量を１／４に設定して
結果的に２５％のＮＤフィルタを用いた場合と同じ条件
で明レベルデータの取得を行い、次いで前記実施形態同
様に検出した明レベルデータを用いてＳ／Ｎ比改善及び
シェーディング歪みの補正を行うものである。この光量
絞り制御機構は、レンズの明るさがＦナンバーの二乗に
反比例することを利用して通常の絞り機構を用いること
ができる。
【００３０】また他の実施形態として本発明は、ＮＤフ
ィルタ使用他の代わりに蛍光ランプ４の発光量自体を点
灯電力により制御する光量制御回路を設け、該光量制御
回路を用いて明レベルデータ取得時の光量を１／４に設
定して結果的に２５％のＮＤフィルタを用いた場合と同
じ条件で明レベルデータの取得を行い、検出した明レベ
ルデータを用いてシェーディング歪みの補正を行うもの
である。
ィルタ使用他の代わりに蛍光ランプ４の発光量自体を点
灯電力により制御する光量制御回路を設け、該光量制御
回路を用いて明レベルデータ取得時の光量を１／４に設
定して結果的に２５％のＮＤフィルタを用いた場合と同
じ条件で明レベルデータの取得を行い、検出した明レベ
ルデータを用いてシェーディング歪みの補正を行うもの
である。
【００３１】更に他の実施形態として本発明は、ＮＤフ
ィルタ使用他の代わりに光路中に配置された光拡散板他
の光学系を切り換えることによっても行うことができ
る。この光学系としては、例えば光拡散板５とランプ４
との間にスリットを挿入することが考えられ、これら光
学系の切換えによって前述の明レベルデータ取得時の光
量を１／４に設定して明レベルデータの取得を行い、検
出した明レベルデータを用いてＳ／Ｎ比を改善し且つシ
ェーディング歪みの補正を行うものである。
ィルタ使用他の代わりに光路中に配置された光拡散板他
の光学系を切り換えることによっても行うことができ
る。この光学系としては、例えば光拡散板５とランプ４
との間にスリットを挿入することが考えられ、これら光
学系の切換えによって前述の明レベルデータ取得時の光
量を１／４に設定して明レベルデータの取得を行い、検
出した明レベルデータを用いてＳ／Ｎ比を改善し且つシ
ェーディング歪みの補正を行うものである。
【００３２】また前記各実施形態においてはＮＤフィル
タ他による明レベルデータの取得時の光量を２５％にす
る例を説明したが、本発明はこれに限られるものではな
く、例えばフィルムの濃度に応じて１２.５％（１／
８）や１０％（１／１０）等の値に設定し、これに応じ
て乗算回路の演算定数を変化させることによって前記シ
ェーディング歪みの補正等を行っても良い。更に前記各
実施形態における精度は、ＮＤフィルタ／ＣＣＤ蓄積時
間制御／光量絞り制御／発光量制御／光学系切換えによ
る制御を予め測定しておき、この測定結果にあわせてＮ
Ｄフィルタ他の特性や乗算回路の演算定数を設定してお
くことにより、高精度に実現することができる。また、
これら演算定数を予めＲＯＭに格納しておき、このＲＯ
Ｍデータを用いる様に構成しても良い。
タ他による明レベルデータの取得時の光量を２５％にす
る例を説明したが、本発明はこれに限られるものではな
く、例えばフィルムの濃度に応じて１２.５％（１／
８）や１０％（１／１０）等の値に設定し、これに応じ
て乗算回路の演算定数を変化させることによって前記シ
ェーディング歪みの補正等を行っても良い。更に前記各
実施形態における精度は、ＮＤフィルタ／ＣＣＤ蓄積時
間制御／光量絞り制御／発光量制御／光学系切換えによ
る制御を予め測定しておき、この測定結果にあわせてＮ
Ｄフィルタ他の特性や乗算回路の演算定数を設定してお
くことにより、高精度に実現することができる。また、
これら演算定数を予めＲＯＭに格納しておき、このＲＯ
Ｍデータを用いる様に構成しても良い。
【００３３】更に前記乗算回路の演算定数が画素毎に異
なる値になった場合でも、ＲＯＭ等に予め画素毎の演算
定数を格納しておき、読み出した画素毎に前記演算定数
を使用してＳ／Ｎ比改善及びシェーディング歪みの補正
等を行うようにしても良い。また前述の実施形態ではフ
ィルム画像の読取を露光量を著しく増加させて行うこと
を前提にしているが、比較的低濃度の写真フィルムを用
いる場合は、図２に示すＣＣＤ蓄積時間をＴint＜Ｔsat
に設定するか図２の１／４Ｔint時間で読取を行うこと
が考えられる。
なる値になった場合でも、ＲＯＭ等に予め画素毎の演算
定数を格納しておき、読み出した画素毎に前記演算定数
を使用してＳ／Ｎ比改善及びシェーディング歪みの補正
等を行うようにしても良い。また前述の実施形態ではフ
ィルム画像の読取を露光量を著しく増加させて行うこと
を前提にしているが、比較的低濃度の写真フィルムを用
いる場合は、図２に示すＣＣＤ蓄積時間をＴint＜Ｔsat
に設定するか図２の１／４Ｔint時間で読取を行うこと
が考えられる。
【００３４】尚、本実施形態においてはＸ線又はγ線に
よる放射線フィルムの画像読取を行う装置について説明
したが、本発明はこれに限られるものではなく赤外線／
可視光線その他を用いて印画した高濃度の透過性フィル
ムの画像データを読み取る他の装置にも適用することが
できる。
よる放射線フィルムの画像読取を行う装置について説明
したが、本発明はこれに限られるものではなく赤外線／
可視光線その他を用いて印画した高濃度の透過性フィル
ムの画像データを読み取る他の装置にも適用することが
できる。
【００３５】
【発明の効果】以上述べた如く本発明による高濃度フィ
ルム画像読取方法は、ＣＣＤセンサに高濃度フィルム用
の読取光線を照射するとＣＣＤセンサの飽和等の不具合
が生じるために、フィルムの画像読取に先立って露光量
を所定量減衰した読取光線をフィルムを介さずにＣＣＤ
センサに照射して得られる明レベルを所定量倍率で演算
した明レベルを得ておき、この明レベルからフィルムを
介してＣＣＤセンサに照射して得られるフィルム読取画
像の画素信号出力を除算して正規化することによりＳ／
Ｎ比を改善し且つ画素毎のシェーディング歪を補正した
画素信号を得ることができる。
ルム画像読取方法は、ＣＣＤセンサに高濃度フィルム用
の読取光線を照射するとＣＣＤセンサの飽和等の不具合
が生じるために、フィルムの画像読取に先立って露光量
を所定量減衰した読取光線をフィルムを介さずにＣＣＤ
センサに照射して得られる明レベルを所定量倍率で演算
した明レベルを得ておき、この明レベルからフィルムを
介してＣＣＤセンサに照射して得られるフィルム読取画
像の画素信号出力を除算して正規化することによりＳ／
Ｎ比を改善し且つ画素毎のシェーディング歪を補正した
画素信号を得ることができる。
【００３６】また本発明によるフィルム画像読取方法
は、前記露光量の所定量減衰を、光量を減衰するＮＤフ
ィルタを光路中に介在させること／ＣＣＤセンサの蓄積
時間を短縮すること／光量を絞る光学絞り機構を光路中
に介在させること／ＣＣＤセンサに照射される読取光線
の発光量を低減すること／光量を集光又は拡散する集光
機構又は拡散機構を読取光線の光路中に介在させること
により行うことができる。
は、前記露光量の所定量減衰を、光量を減衰するＮＤフ
ィルタを光路中に介在させること／ＣＣＤセンサの蓄積
時間を短縮すること／光量を絞る光学絞り機構を光路中
に介在させること／ＣＣＤセンサに照射される読取光線
の発光量を低減すること／光量を集光又は拡散する集光
機構又は拡散機構を読取光線の光路中に介在させること
により行うことができる。
【００３７】更に本発明によるフィルム画像読取装置
は、蛍光ランプから照射された読取光線を所定量減衰す
る光量減衰手段、例えばＮＤフィルタと、読取光線を受
光して読取信号を出力するＣＣＤセンサと、画素信号の
明レベルを記憶する明レベルメモリと、明レベルメモリ
に記録された画素信号の明レベルを所定量の倍率で演算
する乗算回路と、この乗算回路により演算された画素信
号の明レベルからフィルムを介在して得た画素信号の明
レベルを除算して正規化する正規化演算回路とを設け、
フィルムの画像読取に先立って露光量をＮＤフィルタに
より所定量減衰した読取光線をＣＣＤセンサに照射し、
ＣＣＤセンサにより検出した画素信号の明レベルを明レ
ベルメモリに画素単位に記憶し、次いで読取光線をフィ
ルムを介してＣＣＤセンサに照射してフィルム読取画像
の画素信号の明レベルを得、明レベルメモリに記憶した
画素信号の明レベルを所定量の倍率で演算した明レベル
から次に読み取った画素信号出力を除算して正規化する
ことによりＳ／Ｎ比を改善し且つ画素毎のシェーディン
グ歪を補正した画素信号を得ることができる。
は、蛍光ランプから照射された読取光線を所定量減衰す
る光量減衰手段、例えばＮＤフィルタと、読取光線を受
光して読取信号を出力するＣＣＤセンサと、画素信号の
明レベルを記憶する明レベルメモリと、明レベルメモリ
に記録された画素信号の明レベルを所定量の倍率で演算
する乗算回路と、この乗算回路により演算された画素信
号の明レベルからフィルムを介在して得た画素信号の明
レベルを除算して正規化する正規化演算回路とを設け、
フィルムの画像読取に先立って露光量をＮＤフィルタに
より所定量減衰した読取光線をＣＣＤセンサに照射し、
ＣＣＤセンサにより検出した画素信号の明レベルを明レ
ベルメモリに画素単位に記憶し、次いで読取光線をフィ
ルムを介してＣＣＤセンサに照射してフィルム読取画像
の画素信号の明レベルを得、明レベルメモリに記憶した
画素信号の明レベルを所定量の倍率で演算した明レベル
から次に読み取った画素信号出力を除算して正規化する
ことによりＳ／Ｎ比を改善し且つ画素毎のシェーディン
グ歪を補正した画素信号を得ることができる。
【図１】本発明の一実施形態による放射線フィルム画像
読取装置の構成を示す図。
読取装置の構成を示す図。
【図２】本実施形態による装置の読取制御のタイムチャ
ートを示す図。
ートを示す図。
【図３】本実施形態によるＣＣＤセンサの露光量と出力
との関係を説明するためのグラフ図。
との関係を説明するためのグラフ図。
１：フィルム，２ａ〜２ｄ：フィードローラ，３：位置
検出センサ，４：蛍光ランプ，５：拡散板，６：反射ミ
ラー，７：ＮＤフィルタ，８：レンズ，９：ＣＣＤセン
サ，１０：アンプ，１１：Ａ／Ｄコンバータ，１２：明
レベルメモリ，１３：乗算回路，１４：正規化演算回
路。
検出センサ，４：蛍光ランプ，５：拡散板，６：反射ミ
ラー，７：ＮＤフィルタ，８：レンズ，９：ＣＣＤセン
サ，１０：アンプ，１１：Ａ／Ｄコンバータ，１２：明
レベルメモリ，１３：乗算回路，１４：正規化演算回
路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石塚 浩一 神奈川県足柄上郡中井町グリーンテクなか い 日立コンピュータ機器 株式会社内
Claims (7)
- 【請求項１】 高濃度フィルムに印画された画像に読取
光線を照射し、その投下光を投影レンズにより受光面に
結像させ、その明るさをＣＣＤセンサにより検出するこ
とによりディジタルの画素信号に変換する画像読取方法
であって、前記フィルムの画像読取に先立って露光量を
所定量減衰した読取光線をフィルムを介さずにＣＣＤセ
ンサに照射し、該ＣＣＤセンサにより検出した画素信号
の明レベルを画素単位に記憶する第１のステップと、前
記読取光線をフィルムを介してＣＣＤセンサに照射し、
該フィルム読取画像の画素信号を得る第２のステップ
と、前記第１のステップで記憶した画素信号の明レベル
を所定量の倍率で演算した明レベルから第２ステップで
得た画素信号出力を除算して正規化する第３のステップ
とを含むことにより、Ｓ／Ｎ比を大幅に改善すると共に
画素毎のシェーディング歪を補正することを特徴とする
高濃度フィルム画像読取方法。 - 【請求項２】 前記第１のステップにおいて、透過率を
減衰するＮＤフィルタを読取光線の光路中に介在させる
ことにより読取光線の露光量を所定量減衰することを特
徴とする請求項１記載の高濃度フィルム画像読取方法。 - 【請求項３】 前記第１のステップにおいて、ＣＣＤセ
ンサの蓄積時間を短縮することにより読取光線の露光量
を所定量減衰することを特徴とする請求項１記載の高濃
度フィルム画像読取方法。 - 【請求項４】 前記第１のステップにおいて、光量を絞
る光学絞り機構を読取光線の光路中に介在させることに
より読取光線の露光量を所定量減衰することを特徴とす
る請求項１記載の高濃度フィルム画像読取方法。 - 【請求項５】 前記第１のステップにおいて、ＣＣＤセ
ンサに照射される読取光線の発光量を低減することによ
り露光量を所定量減衰することを特徴とする請求項１記
載の高濃度フィルム画像読取方法。 - 【請求項６】 前記第１のステップにおいて、光量を集
光又は拡散する集光機構又は拡散機構を読取光線の光路
中に介在させることにより読取光線の露光量を所定量減
衰することを特徴とする請求項１記載の高濃度フィルム
画像読取方法。 - 【請求項７】 高濃度フィルムに印画された画像に読取
光線を照射し、その照射光を投影レンズにより受光面に
結像させ、その明るさをＣＣＤセンサにより検出するこ
とによりディジタルの画素信号に変換する画像読取装置
において、読取光線を照射する蛍光ランプと、該蛍光ラ
ンプから照射された読取光線を所定量減衰する光量減衰
手段と、読取光線を受光してアナログの読取信号として
出力するＣＣＤセンサと、該ＣＣＤセンサより出力され
たアナログの読取信号をディジタルの画素信号に変換す
るＡ／Ｄコンバータと、該Ａ／Ｄコンバータにより変換
されたディジタルの画素信号の明レベルを記憶する明レ
ベルメモリと、該明レベルメモリに記録された画素信号
の明レベルを所定量の倍率で演算する乗算回路と、該乗
算回路により演算された画素信号の明レベルからフィル
ムを介在して得た画素信号出力を除算して正規化する正
規化演算回路とを備え、前記フィルムの画像読取に先立
って露光量を所定量減衰した読取光線をフィルムを介さ
ずにＣＣＤセンサに照射し、該ＣＣＤセンサにより検出
した画素信号の明レベルを明レベルメモリに画素単位に
記憶し、次いで読取光線をフィルムを介してＣＣＤセン
サに照射してフィルム読取画像の画素信号出力を得、明
レベルメモリに記憶した画素信号出力を所定量の倍率で
演算した明レベルから、次に読み取った画素信号出力を
除算して正規化することにより、画素毎のシェーディン
グ歪を補正した画素信号を得ることを特徴とする高濃度
フィルム画像読取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8171189A JPH1023252A (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 高濃度フィルム画像読取方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8171189A JPH1023252A (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 高濃度フィルム画像読取方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1023252A true JPH1023252A (ja) | 1998-01-23 |
Family
ID=15918664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8171189A Pending JPH1023252A (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 高濃度フィルム画像読取方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1023252A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6650443B1 (en) | 1999-07-30 | 2003-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for reading image, and computer-readable storage medium storing image processing program |
| WO2006123056A2 (fr) * | 2005-05-18 | 2006-11-23 | Scheffer Coatings | Dispositif et procede de caracterisation optique de corps translucides et/ou opaques |
| KR100773584B1 (ko) | 2006-07-06 | 2007-11-08 | 호서대학교 산학협력단 | 영상을 이용한 조명 제어 방법 |
-
1996
- 1996-07-01 JP JP8171189A patent/JPH1023252A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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