JPH095574A - 光コネクタ - Google Patents

光コネクタ

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JPH095574A
JPH095574A JP20034695A JP20034695A JPH095574A JP H095574 A JPH095574 A JP H095574A JP 20034695 A JP20034695 A JP 20034695A JP 20034695 A JP20034695 A JP 20034695A JP H095574 A JPH095574 A JP H095574A
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JP
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connector
pin
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guide pin
master
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JP20034695A
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Akito Nishimura
顕人 西村
Yoshio Kikuchi
佳夫 菊地
Kazuhiro Takizawa
和宏 瀧澤
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Fujikura Ltd
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Fujikura Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 MTコネクタ等の接続損失の測定は、マスタ
ーコネクタと被測定コネクタのピン穴にガイドピン40
を挿入して行っている。そのため、反復使用により、マ
スターコネクタのピン穴が欠けて、マスターコネクタと
して使用できなくなるケースが多かった。これを解決す
る。 【構成】 マスターコネクタ10のピン穴14の後部に
太径部140を形成し、それ以外の本来のピン穴である
細径部142との間に段部144を形成する。またガイ
ドピン40の後端に太径の頭部400を設ける。ガイド
ピン40をピン穴14に後方から挿入し、先端部をフェ
ルール12の前面から突出させておき、これに被測定コ
ネクタ30を嵌合させる。このようにすると、ガイドピ
ン40の抜き差しが無いため、ピン穴14の欠けや破損
が無く、マスターコネクタの寿命が伸びる。また、測定
時間の短縮にもつながる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、多心光コネクタに関
し、特に光コネクタ完成品の取付評価等に用いるマスタ
ーコネクタ(標準コネクタ)であって、かつガイドピン
で位置合わせを行うタイプ(MTコネクタ,MPOコネ
クタ等)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4の10は、従来のたとえばMT型の
マスターコネクタで、フェルール12の両サイドにガイ
ドピン穴14を有する。なお、52はテープ心線、52
0は光ファイバの端面である。取付評価等、マスターコ
ネクタ10を用いて接続損失を測定する場合は、図4の
ように、ガイドピン40を、マスターコネクタ10のピ
ン穴14と被測定コネクタ30のピン穴34にそれぞれ
挿入し、被測定コネクタ30をクランプスプリング50
で挟み、両コネクタ10,30に押圧を与え、この状態
で光パワ−メータを用いて精度チェックを実施してい
る。
【0003】なお、MTコネクタは、通常、図5に例示
する金型を用いて製造していた。金型は、下型62と入
子70と上型76とからなる。下型62は、大きいV溝
64,小さいV溝66,キャビティ68等を有する。入
子70は、ピン穴用成形ピン72,ファイバ穴用成形ピ
ン74等を有する。大きいV溝64にピン穴用成形ピン
72を入れ、また小さいV溝66にファイバ穴用成形ピ
ン74を入れ、上型76をして金型を組み立て、トラン
スファ成形によりMTコネクタを作る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、取付評
価等の測定をする度に、ガイドピン40を挿入脱着する
ため、繰り返し使用する樹脂製のマスターコネクタ10
のピン穴14が、欠けたり、破損したりして、マスター
コネクタとして使用できなくなるケースが多かった。
【0005】
【課題を解決するための手段】図1に例示するように、 ガイドピン40の後端に太径の頭部400を設ける。 マスターコネクタ10のピン穴14の後端側に前記ピ
ン頭部を収納し仮留めするための凹部を形成する。たと
えば後部に太径部140を形成し、それ以外の本来のピ
ン穴である細径部142との間に内径変化領域、たとえ
ば段部144を形成する。 そして、ガイドピン40をピン穴14に後方から挿入
するとき、頭部400が段部144に引っかかり仮留め
され、かつその状態においてガイドピン40の先端部が
フェルール12の前面より所定量gだけ突出するように
する。
【0006】
【作 用】 測定終了後、マスターコネクタ10から被測定コネク
タ30を引き抜くとき、頭部400が段部144に引っ
かかり、ガイドピン40が抜けない。 次の測定時に、改めてガイドピン40を挿入する必要
がない。
【0007】
【実施例】図1の(a)は本発明の実施例の斜視図、
(b)は分解説明図、(c)は組み立てた状態の平面図
である。フェルール12のピン穴14の後部に太径部1
40を形成し、それ以外の本来のガイドピンである細径
部142との間に段部144を形成する。またガイドピ
ン40の後端に太径の頭部400を設ける。
【0008】被測定コネクタ30の評価測定に際して
は、ガイドピン40をピン穴14に後方から挿入する
(図1(c))。すると、頭部400が段部144に引
っかかり、かつガイドピン14の先端部がフェルール1
2の前端面より所定量gだけ突出する。
【0009】ガイドピン40の後退を防ぐ処置をしなが
ら、そのフェルール12の前面に突出している部分に被
測定コネクタ30のピン穴34を嵌合させる。その後
は、従来の場合と同じように測定を行う。
【0010】測定が済んだら、被測定コネクタ30をマ
スターコネクタ10から引き離す。上記のように、ガイ
ドピン40はマスターコネクタ10に残るので、これに
次の被測定コネクタ30のピン穴34を嵌合させて測定
を行う。以下同様に、これを繰り返すことができる。
【0011】なお、上記のマスターコネクタ10を製造
するときは、図2(a)のように、ピン穴用成形ピン7
2として、太径部720(ピン穴太径部140の成形
用)と、細径部722(ピン穴細径部142の成形用)
からなる鋼製丸棒を用いる。またこのピン穴用成形ピン
72は入子本体71に固定する。それ以外の、ファイバ
穴用成形ピン74や、下型62の構造は、従来と同じで
あり、成形の方法も同じである。
【0012】ピン穴用成形ピン72の段部724の形状
は、図2(b)の上段のように直角にしたり、中段のよ
うにR形状にしたり、下段のようにテーパ形状にするこ
とができる。これに応じて、成形後の凹部の断面も段付
きに限定されず、種々に変化する。いずれにしても、ピ
ン頭部がひっかかって仮留めできる断面構造を持てば良
い。
【0013】
【別の実施例】図3のように、ピン穴14の周りにセラ
ミックスリーブ80をインサート成形する。セラミック
スリーブ80は、たとえばピン穴14の細径部142の
周りに埋め込んだ状態にする(同図(b))。セラミッ
クスリーブ80の内径はピン穴14の径に等しする。セ
ラミックスリーブ80には、抜け止めのため、外面に、
1本以上の円周方向の溝800を設ける。このマスター
コネクタ10の製造は、ピン穴用成形ピン72(図2)
にセラミックスリーブ80を外嵌めして、インサート成
形する。
【0014】このセラミックスリーブ80をインサート
成形することによって、ピン穴14の精度向上及び耐久
性のアップが図られる。
【0015】なお、ピン頭部の形状は、細径部に引っか
かれば良いのであるから、種々変形例が存在することは
勿論である。
【0016】
【発明の効果】
(1)ガイドピン40の抜き差しが無いため、ピン穴1
4の欠けや破損が無く、マスターコネクタ10の寿命が
伸びる。 (2)ガイドピン40の抜き差しが無いため、両コネク
タにガイドピンを架け渡す作業が無くなり、測定時間の
短縮にもつながる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の説明図。
【図2】本発明の実施例の製造方法の説明図。
【図3】本発明の別の実施例の説明図。
【図4】従来のMTコネクタの説明図。
【図5】従来のMTコネクタの製造方法の説明図。
【符号の説明】
10 マスターコネクタ 12 フェルール 14 ピン穴14 140 太径部 142 細径部 144 段部 30 被測定コネクタ 32 フェルール 34 ピン穴 40 ガイドピン 400 ピンの頭部 50 クランプスプリング 52 テープ心線 520 光ファイバ 62 下型 64 大きいV溝 66 小さいV溝 68 キャビティ 70 入子 71 入子本体 72 ピン穴用成形ピン 720 太径部 722 細径部 724 段部7 74 ファイバ穴用成形ピン 80 セラミックスリーブ 800 溝

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ピン穴を有するフェルール及びガイドピ
    ンを有し、前記ピン穴に挿入したガイドピンにより、前
    記フェルール内に挿入固定した光ファイバの軸合わせを
    行う方式の光コネクタにおいて、前記ガイドピンは後端
    側に太径の頭部を有し、前記ピン穴は、後端側が前記頭
    部を収納し仮留めする凹部を有し、当該ガイドピンを前
    記ピン穴に後方から挿入するとき、前記頭部が前記段部
    に引っかかり仮留めされ、かつその状態において当該ガ
    イドピンの先端部が前記フェルールの前端面より所定量
    だけ突出するようになっている、光コネクタ。
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Cited By (3)

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