JP3515239B2 - 光コネクタ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、多心光コネクタに関
し、特に光コネクタ完成品の取付評価等に用いるマスタ
ーコネクタ（標準コネクタ）であって、かつガイドピン
で位置合わせを行うタイプ（ＭＴコネクタ，ＭＰＯコネ
クタ等）に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図４の１０は、従来のたとえばＭＴ型の
マスターコネクタで、フェルール１２の両サイドにガイ
ドピン穴１４を有する。なお、５２はテープ心線、５２
０は光ファイバの端面である。取付評価等、マスターコ
ネクタ１０を用いて接続損失を測定する場合は、図４の
ように、ガイドピン４０を、マスターコネクタ１０のピ
ン穴１４と被測定コネクタ３０のピン穴３４にそれぞれ
挿入し、被測定コネクタ３０をクランプスプリング５０
で挟み、両コネクタ１０，３０に押圧を与え、この状態
で光パワ−メータを用いて精度チェックを実施してい
る。

【０００３】なお、ＭＴコネクタは、通常、図５に例示
する金型を用いて製造していた。金型は、下型６２と入
子７０と上型７６とからなる。下型６２は、大きいＶ溝
６４，小さいＶ溝６６，キャビティ６８等を有する。入
子７０は、ピン穴用成形ピン７２，ファイバ穴用成形ピ
ン７４等を有する。大きいＶ溝６４にピン穴用成形ピン
７２を入れ、また小さいＶ溝６６にファイバ穴用成形ピ
ン７４を入れ、上型７６をして金型を組み立て、トラン
スファ成形によりＭＴコネクタを作る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、取付評
価等の測定をする度に、ガイドピン４０を挿入脱着する
ため、繰り返し使用する樹脂製のマスターコネクタ１０
のピン穴１４が、欠けたり、破損したりして、マスター
コネクタとして使用できなくなるケースが多かった。

【０００５】

【課題を解決するための手段】図１に例示するように、 ガイドピン４０の後端に太径の頭部４００を設ける。 マスターコネクタ１０のピン穴１４の後端側に前記ピ
ン頭部を収納し仮留めするための凹部を形成する。たと
えば後部に太径部１４０を形成し、それ以外の本来のピ
ン穴である細径部１４２との間に内径変化領域、たとえ
ば段部１４４を形成する。 そして、ガイドピン４０をピン穴１４に後方から挿入
するとき、頭部４００が段部１４４に引っかかり仮留め
され、かつその状態においてガイドピン４０の先端部が
フェルール１２の前面より所定量ｇだけ突出するように
する。

【０００６】

【作 用】 測定終了後、マスターコネクタ１０から被測定コネク
タ３０を引き抜くとき、頭部４００が段部１４４に引っ
かかり、ガイドピン４０が抜けない。 次の測定時に、改めてガイドピン４０を挿入する必要
がない。

【０００７】

【実施例】図１の（ａ）は本発明の実施例の斜視図、
（ｂ）は分解説明図、（ｃ）は組み立てた状態の平面図
である。フェルール１２のピン穴１４の後部に太径部１
４０を形成し、それ以外の本来のガイドピンである細径
部１４２との間に段部１４４を形成する。またガイドピ
ン４０の後端に太径の頭部４００を設ける。

【０００８】被測定コネクタ３０の評価測定に際して
は、ガイドピン４０をピン穴１４に後方から挿入する
（図１（ｃ））。すると、頭部４００が段部１４４に引
っかかり、かつガイドピン１４の先端部がフェルール１
２の前端面より所定量ｇだけ突出する。

【０００９】ガイドピン４０の後退を防ぐ処置をしなが
ら、そのフェルール１２の前面に突出している部分に被
測定コネクタ３０のピン穴３４を嵌合させる。その後
は、従来の場合と同じように測定を行う。

【００１０】測定が済んだら、被測定コネクタ３０をマ
スターコネクタ１０から引き離す。上記のように、ガイ
ドピン４０はマスターコネクタ１０に残るので、これに
次の被測定コネクタ３０のピン穴３４を嵌合させて測定
を行う。以下同様に、これを繰り返すことができる。

【００１１】なお、上記のマスターコネクタ１０を製造
するときは、図２（ａ）のように、ピン穴用成形ピン７
２として、太径部７２０（ピン穴太径部１４０の成形
用）と、細径部７２２（ピン穴細径部１４２の成形用）
からなる鋼製丸棒を用いる。またこのピン穴用成形ピン
７２は入子本体７１に固定する。それ以外の、ファイバ
穴用成形ピン７４や、下型６２の構造は、従来と同じで
あり、成形の方法も同じである。

【００１２】ピン穴用成形ピン７２の段部７２４の形状
は、図２（ｂ）の上段のように直角にしたり、中段のよ
うにＲ形状にしたり、下段のようにテーパ形状にするこ
とができる。これに応じて、成形後の凹部の断面も段付
きに限定されず、種々に変化する。いずれにしても、ピ
ン頭部がひっかかって仮留めできる断面構造を持てば良
い。

【００１３】

【別の実施例】図３のように、ピン穴１４の周りにセラ
ミックスリーブ８０をインサート成形する。セラミック
スリーブ８０は、たとえばピン穴１４の細径部１４２の
周りに埋め込んだ状態にする（同図（ｂ））。セラミッ
クスリーブ８０の内径はピン穴１４の径に等しする。セ
ラミックスリーブ８０には、抜け止めのため、外面に、
1本以上の円周方向の溝８００を設ける。このマスター
コネクタ１０の製造は、ピン穴用成形ピン７２（図２）
にセラミックスリーブ８０を外嵌めして、インサート成
形する。

【００１４】このセラミックスリーブ８０をインサート
成形することによって、ピン穴１４の精度向上及び耐久
性のアップが図られる。

【００１５】なお、ピン頭部の形状は、細径部に引っか
かれば良いのであるから、種々変形例が存在することは
勿論である。

【００１６】

【発明の効果】

（１）ガイドピン４０の抜き差しが無いため、ピン穴１
４の欠けや破損が無く、マスターコネクタ１０の寿命が
伸びる。 （２）ガイドピン４０の抜き差しが無いため、両コネク
タにガイドピンを架け渡す作業が無くなり、測定時間の
短縮にもつながる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例の説明図。

【図２】本発明の実施例の製造方法の説明図。

【図３】本発明の別の実施例の説明図。

【図４】従来のＭＴコネクタの説明図。

【図５】従来のＭＴコネクタの製造方法の説明図。

【符号の説明】

１０ マスターコネクタ １２ フェルール １４ ピン穴１４ １４０ 太径部 １４２ 細径部 １４４ 段部 ３０ 被測定コネクタ ３２ フェルール ３４ ピン穴 ４０ ガイドピン ４００ ピンの頭部 ５０ クランプスプリング ５２ テープ心線 ５２０ 光ファイバ ６２ 下型 ６４ 大きいＶ溝 ６６ 小さいＶ溝 ６８ キャビティ ７０ 入子 ７１ 入子本体 ７２ ピン穴用成形ピン ７２０ 太径部 ７２２ 細径部 ７２４ 段部７ ７４ ファイバ穴用成形ピン ８０ セラミックスリーブ ８００ 溝

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−186308（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−356004（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−346519（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−148464（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−205619（ＪＰ，Ａ) 特公 平７−36047（ＪＰ，Ｂ２) 実公 平７−46888（ＪＰ，Ｙ２) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 6/38

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ピン穴を有するフェルール及びガイドピ
   ンを有し、前記ピン穴に挿入したガイドピンにより、前
   記フェルール内に挿入固定した光ファイバの軸合わせを
   行う方式の光コネクタにおいて、 前記ガイドピンはピン本体の後端側に設けられた頭部を
   有し、該頭部は前記ピン本体より太径であり、 前記ピン穴には、その周りに該ピン穴の長さより短いセ
   ラミックスリーブが埋め込まれ、このセラミックスリー
   ブの埋め込みにより、前記ピン穴の後端部が前記頭部を
   収納し仮留めする凹部となっており、 当該ガイドピンを前記ピン穴に後方から挿入するとき、
   前記頭部が前記セラミックスリーブの後端部に引っかか
   り仮留めされ、かつその状態において当該ガイドピンの
   先端部が前記フェルールの前端面より所定量だけ突出す
   るようになっている、光コネクタ。
2. 【請求項２】 前記セラミックスリーブの外面には、前
   記セラミックスリーブの前記ピン穴からの抜け止めのた
   めの溝が設けられている、請求項１に記載の光コネク
   タ。