JPH09314322A - はんだ付装置及びこれを使用するはんだ付方法 - Google Patents

はんだ付装置及びこれを使用するはんだ付方法

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JPH09314322A
JPH09314322A JP12757296A JP12757296A JPH09314322A JP H09314322 A JPH09314322 A JP H09314322A JP 12757296 A JP12757296 A JP 12757296A JP 12757296 A JP12757296 A JP 12757296A JP H09314322 A JPH09314322 A JP H09314322A
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英克 黒田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】フラックスレスはんだ付用の炉を小形にし、窒
素ガスカーテンがなくて水素、窒素ガスの使用量を低下
させ、生産開始時間を短縮する。 【解決手段】開閉可能な上蓋2aとベース2bとからな
る処理槽2の内部に被接合物3のための熱板4を配置す
る。多数の半導体ベアチップなどの被接合物3を黒鉛の
治具3aの上に載せて熱板4に置く。ベース2bに排気
弁6を介して大気に開放する真空ポンプ7を、供給弁9
を介して還元性ガス供給装置10を接続する。還元性ガ
ス供給装置10は弁10a及び水素ガスボンベ10b並
びに弁10c及び窒素ガスボンベ10dからなる。熱板
4に温度計11を埋め、処理槽2に圧力計12を接続す
る。処理槽2の内部を真空排気してから還元性ガスを供
給し、その後に被接合物3を加熱し、はんだ溶融後に被
接合物3を冷却する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子部品などを
はんだで電気的に、機械的にはんだ付けするフラックス
レスはんだ付装置及びこれを使用するはんだ付方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】リード付きの電子部品などは、はんだ濡
れ性を向上させるフラックスを使用してはんだ付けす
る。ベアチップなどのようにフラックスのハロゲン系元
素がチップと反応して有害なときには、水素、窒素の混
合雰囲気を満たしたコンベア形トンネル炉を使用するフ
ラックスレス水素還元炉方式が使用される。フラックス
レス水素還元炉は、出入口を窒素ガスのガスカーテンで
閉じたトンネル炉の内部を還元性ガスで充満させて中央
部にヒータなどの加熱装置を配置する。ヒートシンクで
ある銅板とベアチップとからなる被接合物をはんだと共
に治具に置いてコンベアでトンネル炉内を搬送させる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】コンベア形トンネル炉
の水素還元炉法によるフラックスレスはんだ付法では、
次の問題点が有る。 被接合物を還元しようとする還元性ガスが存在する
トンネル炉内の部位に到達するのに時間がかかるため、
還元用均熱領域を長く取る必要性が有り、トンネル炉の
長さが大きくなり設置面積の増大を招く。
【0004】 良好なはんだ接合性を維持するために
トンネル炉内の残留酸素濃度を低下させる必要がある
が、そのために大量の水素、窒素ガスが必要となる。更
に、炉の出入り口は大気に解放されているので、使用時
でも未使用時でも炉心の酸化を防ぐための窒素ガスのガ
スカーテンを流し続ける必要があり、ランニングコスト
が非常に高い。
【0005】 コンベア形トンネル炉が巨大で炉内の
温度やガス雰囲気の安定に時間がかかるために、電源投
入から生産開始までに時間がかかる。 この発明の課題は、炉を小形にし、窒素ガスカーテンが
なくて水素、窒素ガスの使用量を低下させ、生産開始時
間を短縮できるフラックスレスはんだ付装置及びこれを
使用するはんだ付方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】発明1のはんだ付装置
は、開閉可能で気密な処理槽の内部に、被接合物のため
の置台と加熱装置と真空排気装置と還元性ガス供給装置
とを配置するものである。発明1のはんだ付装置によれ
ば、下記のはんだ付方法が実現でき、炉を小形にし、窒
素ガスカーテンがなくて水素、窒素ガスの使用量を低下
させ、生産開始時間を短縮できる。
【0007】発明2のはんだ付装置は、開閉可能で気密
な処理槽の内部に、被接合物のための2個の置台と、1
の置台の近辺の加熱装置と、被接合物を1の置台から他
の置台へ搬送する搬送装置と、処理槽の内部にあって被
接合物と搬送装置とを通過可能に開閉して閉じたときに
ガスの通過可能な断熱仕切板と、真空排気装置と、還元
性ガス供給装置とを配置するものである。
【0008】発明2のはんだ付装置によれば、下記のは
んだ付方法が実現でき、炉を小形にし、窒素ガスカーテ
ンがなくて水素、窒素ガスの使用量を低下させ、生産開
始時間を短縮できる他に、加熱装置が近辺にある1の置
台では被接合物の加熱が進行し、他の置台では被接合物
の冷却が進行し、被接合物は1の置台から他の置台へ搬
送される。断熱仕切板は両側で加熱と冷却とが進行する
ときに、熱エネルギの損失が少ないし、気密な処理槽は
1個で済む。
【0009】発明3のはんだ付方法は、はんだと共に被
接合物を置いた処理槽の内部を、初めに真空排気してか
ら、還元性ガスを供給し、その後に被接合物をはんだの
溶融温度以上に加熱し、はんだの溶融後に被接合物を冷
却するものである。発明3のはんだ付方法によれば、処
理槽の内部は、還元性ガスを供給するときに真空になっ
ているから、到達する残留酸素濃度が極めて低い。ま
た、還元性ガスの無駄な消費がないし空気中の酸素と水
素などの還元性ガスの化学反応が少ない。はんだの溶融
温度以上に加熱するときに被接合物は還元性ガスの雰囲
気に存在するから、はんだと被接合物との表面の酸化膜
が還元性ガスで還元されると共に、はんだは被接合物の
間で溶融する。冷却すれば、はんだ付け接合が完了す
る。
【0010】発明4のはんだ付方法は、発明3におい
て、還元性ガスを供給する工程と被接合物をはんだの溶
融温度以上に加熱する工程との間に、はんだと被接合物
との表面の酸化膜を還元性ガスで還元するようなはんだ
溶融温度より低い温度で保つ工程を挿入するものであ
る。発明4によれば、はんだを溶融する前に、これより
低い温度で被接合物は還元性ガスに曝されるので、はん
だと被接合物との表面の酸化膜の還元は充分に進行して
はんだ付が確実であり、はんだの種類によっては有効で
ある。
【0011】発明5は発明3又は4において、還元性ガ
スを水素と窒素との混合ガスとするものである。発明5
によれば、水素は還元性があり、窒素は不活性ガスの一
種で水素の爆発の危険を低下させるし、ヘリウムより安
価である。発明6は発明3又は4において、真空排気と
還元性ガスの供給とを複数回実施するものである。
【0012】発明6によれば、処理槽の内部の残留酸素
濃度が更に低下するので、酸化膜の還元が確実になる。
発明7は発明3又は4において、被接合物をはんだの溶
融温度以上に加熱したときに、処理槽の内部を一旦、真
空排気するものである。発明7によれば、はんだの溶融
中に被接合物は真空状態に保たれるので、はんだ接合界
面に泡となって残存する吸着ガスが脱泡効果により除去
される。このため、接合部分に占めるはんだ未接合部
分、いわゆる、はんだボイドを大幅に削減し、例えば、
チップとヒートシンクである銅板との熱伝達が向上す
る。
【0013】発明8は発明3又は4において、被接合物
の冷却のために冷却効率のよいガスを処理槽に供給する
ものである。発明8によれば、冷却効率のよいガスを処
理槽に供給すれば、被接合物の冷却時間が短縮される。
発明9は発明8において、冷却効率のよいガスを水素ガ
スとするか、水素と窒素との混合ガスとするものであ
る。
【0014】発明9によれば、水素は物性的に冷却効率
がよく、窒素は不活性ガスの一種で水素の爆発の危険を
低下させるし、ヘリウムより安価である。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は実施例1の装置の断面図で
ある。図において、シリンダ1で開閉可能で気密であ
り、上蓋2aとベース2bとからなる処理槽2の内部
に、被接合物3のための置台と加熱装置とを兼ねてシー
ズヒータを埋め込んだカーボン製の熱板4を配置する。
被接合物3は、ニッケルめっきされた銅板に高温はんだ
でトランジスタやダイオードなどの半導体ベアチップを
はんだ接合しようとするものであり、多数の被接合物3
は黒鉛の治具3aの上に載せられて熱板4の上に置かれ
る。ベース2bに排気管5と排気弁6とを介して真空ポ
ンプ7を、供給管8と供給弁9とを介して還元性ガス供
給装置10を接続する。還元性ガス供給装置10は、並
列接続の水素ガス弁10a及び水素ガスボンベ10b並
びに窒素ガス弁10c及び窒素ガスボンベ10dからな
る。熱板4には温度計11が埋め込まれ、処理槽2には
圧力計12が接続される。真空ポンプ7には図示しない
水素ガス燃焼装置などの除害装置を接続して大気に開放
するとよい。
【0016】このはんだ付装置を使用するはんだ付方法
の工程を説明する。 〔工程1〕シリンダ1で処理槽2の上蓋2aを上昇させ
てから、非加熱状態の熱板4の上に黒鉛製の治具3aを
介して予備組みされた被接合物3とはんだとを置く。 〔工程2〕シリンダ1で上蓋2aを下降させた後に、排
気弁6を開いて真空ポンプ7を起動する。このとき、供
給弁9は閉じておくことが必要である。 〔工程3〕処理槽2を、真空排気して所定の真空圧力に
到達してから、排気弁6を閉じて供給弁9を開くと共
に、水素ガス弁10aと窒素ガス弁10cを開き、水素
と窒素との混合ガスなどからなる還元性ガスを処理槽2
に供給する。処理槽2の内部は、還元性ガスを供給する
ときに真空になっているから、到達する残留酸素濃度が
極めて低い。また、還元性ガスの無駄な消費がないし空
気中の酸素と水素などの還元性ガスの化学反応が少なく
て安全である。 〔工程4〕必要によって、真空排気と還元性ガスの供給
とを複数回実施すると、処理槽2の内部の残留酸素濃度
が更に低下するので、酸化膜の還元が確実になる。 〔工程5〕還元性ガスの供給で圧力計12の示す処理槽
2の内部の圧力が大気圧程度になったときに、供給弁9
を閉じると共に、水素ガス弁10aと窒素ガス弁10c
を閉じ、還元性ガスの処理槽2への供給を停止する。 〔工程6〕熱板4を加熱し、はんだと被接合物3との表
面の酸化膜を還元性ガスで還元するようなはんだ溶融温
度より低い温度で保つ。そうすると、はんだを溶融する
前に、これより低い温度で被接合物3は還元性ガスに曝
されるので、はんだと被接合物3との表面の酸化膜の還
元は充分に進行してはんだ付が確実である。この工程
は、はんだの種類によっては、はんだの溶融工程と同時
にして省略してもよい。水素は還元性があり、窒素は不
活性ガスの一種で水素の爆発の危険を低下させるし、ヘ
リウムより安価である。 〔工程7〕その後に熱板4をさらに加熱し、被接合物3
をはんだの溶融温度以上に加熱し、はんだを溶融させ
る。 〔工程8〕はんだの溶融状態で、排気弁6を開いて真空
ポンプ7を駆動して処理槽2の内部を一旦、真空排気す
ると、はんだの溶融中に被接合物3は真空状態に保たれ
るので、はんだ接合界面に泡となって残存する吸着ガス
が脱泡効果により除去される。このため、接合部分に占
めるはんだ未接合部分、いわゆる、はんだボイドを大幅
に削減し、例えば、チップと銅板との熱伝達が向上す
る。 〔工程9〕熱板4の加熱を停止し、被接合物3を冷却し
てはんだ付接合を完了する。 〔工程10〕このとき、水素ガスか、水素と窒素との混
合ガスのような冷却効率のよいガスを処理槽2に供給す
れば、被接合物3の冷却時間が短縮される。水素は物性
的に冷却効率がよく、窒素は不活性ガスの一種で水素の
爆発の危険を低下させるし、ヘリウムより安価である。 〔工程11〕熱板4が所定の温度まで冷却したら、排気
弁6を開いて真空ポンプ7を駆動して処理槽2の内部を
排気する。 〔工程12〕所定の圧力まで排気が終わったら、排気弁
6を閉じて真空ポンプ7を停止させ、供給弁9と窒素ガ
ス弁10cとを開いて窒素ガスのみを処理槽2へ供給す
る。 〔工程13〕処理槽2の内部が大気圧になった後に、供
給弁9を閉じてから、シリンダ1により上蓋2aを上昇
させ、はんだ付接合の完了した被接合物3を取り出す。
【0017】実施例1のはんだ付装置及びこれを使用す
るはんだ付方法によれば、フラックスレス用の炉を小形
にし、窒素ガスカーテンがなくて水素、窒素ガスの使用
量を低下させ、生産開始時間を短縮できる。従来のコン
ベア形トンネル炉は10m前後の長さがあったが、実施
例1のはんだ付装置の処理槽は400mm程度と大幅に
小さくなった。
【0018】実施例1の変形の装置は、開閉可能で気密
な処理槽の内部に、被接合物のための2個の置台、1の
置台の近辺の加熱装置、被接合物を1の置台から他の置
台へ搬送する搬送装置、処理槽の内部にあって被接合物
と搬送装置とを通過可能に開閉して閉じたときにガスの
通過可能な断熱仕切板、真空排気装置及び還元性ガス供
給装置を配置するものである。
【0019】この変形の装置によれば、前記のはんだ付
方法が実現できる他に、加熱装置が近辺にある1の置台
では被接合物の加熱が進行し、他の置台では被接合物の
冷却が進行し、被接合物は1の置台から他の置台へ搬送
される。断熱仕切板は両側で加熱と冷却とが進行すると
きに、熱エネルギの損失が少ないし、気密な処理槽は1
個で済む。加熱と冷却とは同一ガス雰囲気で進行する。
この変形の装置も実施例1の装置も、熱板4を単なるグ
リルのようにし、ヒータを処理槽空間に配置してガスを
ファンなどで循環させたり、輻射熱で被接合物3を加熱
してもよい。
【0020】
【発明の効果】発明1のはんだ付装置によれば、下記の
はんだ付方法が実現でき、炉を小形にし、窒素ガスカー
テンがなくて水素、窒素ガスの使用量を低下させ、生産
開始時間を短縮できるという効果がある。発明2のはん
だ付装置によれば、下記のはんだ付方法が実現でき、炉
を小形にし、窒素ガスカーテンがなくて水素、窒素ガス
の使用量を低下させ、生産開始時間を短縮できる他に、
加熱と冷却とが同時に進行するという効果がある。
【0021】発明3のはんだ付方法によれば、真空パー
ジ法になって到達する残留酸素濃度が極めて低いという
効果がある。発明4によれば、一度、還元温度で被接合
物を還元性ガスに曝すので、酸化膜の還元は充分に進行
してはんだ付が確実であるという効果がある。発明5に
よれば、水素は還元性があり、窒素は不活性ガスの一種
で水素の爆発の危険を低下させるし、ヘリウムより安価
であるという効果がある。
【0022】発明6によれば、処理槽の内部の残留酸素
濃度が更に低下するので、酸化膜の還元がより確実にな
るという効果がある。発明7によれば、はんだの溶融中
に被接合物は真空状態に保たれるので、はんだボイドを
大幅に削減し、例えば、チップとヒートシンクである銅
板との熱伝達が向上するという効果がある。
【0023】発明8によれば、冷却効率のよいガスを処
理槽に供給すれば、被接合物の冷却時間が短縮されると
いう効果がある。発明9によれば、水素は物性的に冷却
効率がよく、窒素は不活性ガスの一種でヘリウムより安
価であるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の装置の断面図
【符号の説明】
1 シリンダ 2 処理槽 2a 上蓋 2b ベース 3 被接合物 4 熱板 5 排気管 6 排気弁 7 真空ポンプ 8 供給管 9 供給弁 10 還元性ガス
供給装置 10a 水素ガス弁 10b 水素ガス
ボンベ 10c 窒素ガス弁 10d 窒素ガス
ボンベ 11 温度計 12 圧力計

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】開閉可能で気密な処理槽の内部に、被接合
    物のための置台と加熱装置と真空排気装置と還元性ガス
    供給装置とを配置することを特徴とするはんだ付装置。
  2. 【請求項2】開閉可能で気密な処理槽の内部に、被接合
    物のための2個の置台と、1の置台の近辺の加熱装置と
    被接合物を1の置台から他の置台へ搬送する搬送装置
    と、処理槽の内部にあって被接合物と搬送装置とを通過
    可能に開閉して閉じたときにガスの通過可能な断熱仕切
    板と、真空排気装置と、還元性ガス供給装置とを配置す
    ることを特徴とするはんだ付装置。
  3. 【請求項3】はんだと共に被接合物を置いた処理槽の内
    部を、初めに真空排気してから還元性ガスを供給し、そ
    の後に被接合物をはんだの溶融温度以上に加熱し、はん
    だの溶融後に被接合物を冷却することを特徴とするはん
    だ付方法。
  4. 【請求項4】請求項3記載のはんだ付方法において、還
    元性ガスを供給する工程と被接合物をはんだの溶融温度
    以上に加熱する工程との間に、はんだと被接合物との表
    面の酸化膜を還元性ガスで還元するようなはんだ溶融温
    度より低い温度で保つ工程を挿入することを特徴とする
    はんだ付方法。
  5. 【請求項5】請求項3又は4記載のはんだ付方法におい
    て、還元性ガスを水素と窒素との混合ガスとすることを
    特徴とするはんだ付方法。
  6. 【請求項6】請求項3又は4記載のはんだ付方法におい
    て、真空排気と還元性ガスの供給とを複数回実施するこ
    とを特徴とするはんだ付方法。
  7. 【請求項7】請求項3又は4記載のはんだ付方法におい
    て、被接合物をはんだの溶融温度以上に加熱したとき
    に、処理槽の内部を一旦、真空排気することを特徴とす
    るはんだ付方法。
  8. 【請求項8】請求項3又は4記載のはんだ付方法におい
    て、被接合物の冷却のために冷却効率のよいガスを処理
    槽に供給することを特徴とするはんだ付方法。
  9. 【請求項9】請求項8記載のはんだ付方法において、冷
    却効率のよいガスを水素ガスとするか、水素と窒素との
    混合ガスとすることを特徴とするはんだ付方法。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003078058A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Kinseki Ltd 電子部品の封止方法
KR100510910B1 (ko) * 2001-09-10 2005-08-25 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 건식 플럭스 처리 방법
WO2007013445A1 (ja) * 2005-07-25 2007-02-01 Tokyo Electron Limited 金属部材の処理方法及び金属部材の処理装置
JP2007180447A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Toyota Industries Corp 半田付け方法、半田付け装置、及び半導体装置の製造方法
WO2012164776A1 (ja) * 2011-05-30 2012-12-06 有限会社ヨコタテクニカ 半田付け装置
JP2014210279A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 昭和電工株式会社 ろう付け方法及びろう付け装置
JP2015009262A (ja) * 2013-07-01 2015-01-19 三菱電機株式会社 リフロー装置
WO2015097796A1 (ja) 2013-12-25 2015-07-02 千住金属工業株式会社 真空はんだ処理装置及びその制御方法
JP2015123503A (ja) * 2014-08-21 2015-07-06 千住金属工業株式会社 真空はんだ処理装置及びその制御方法
JP2016014503A (ja) * 2014-07-02 2016-01-28 富士電機株式会社 熱処理装置
JP2016196966A (ja) * 2015-04-02 2016-11-24 富士電機機器制御株式会社 熱処理装置
CN108994411A (zh) * 2018-08-06 2018-12-14 北京新雷能科技股份有限公司 一种负压可控气氛焊接系统
US10252364B2 (en) 2013-07-23 2019-04-09 Senju Metal Industry Co., Ltd. Soldering apparatus and vacuum-soldering method
US10307849B2 (en) 2014-09-02 2019-06-04 Senju Metal Industry Co., Ltd. Vacuum-processing device and control method therefor, and vacuum soldering device and control method therefor
CN110634774A (zh) * 2019-09-05 2019-12-31 凌顶世纪科技成都有限公司 一种真空加热台
CN117086429A (zh) * 2023-10-18 2023-11-21 苏州申翰智能机器人有限公司 一种基于半导体基材的回流焊装置及其操作工艺

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003078058A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Kinseki Ltd 電子部品の封止方法
KR100510910B1 (ko) * 2001-09-10 2005-08-25 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 건식 플럭스 처리 방법
WO2007013445A1 (ja) * 2005-07-25 2007-02-01 Tokyo Electron Limited 金属部材の処理方法及び金属部材の処理装置
JPWO2007013445A1 (ja) * 2005-07-25 2009-02-05 東京エレクトロン株式会社 金属部材の処理方法及び金属部材の処理装置
JP2007180447A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Toyota Industries Corp 半田付け方法、半田付け装置、及び半導体装置の製造方法
WO2007077877A1 (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Kabushiki Kaisha Toyota Jidoshokki 半田付け方法、半田付け装置、及び半導体装置の製造方法
WO2012164776A1 (ja) * 2011-05-30 2012-12-06 有限会社ヨコタテクニカ 半田付け装置
JP2012245553A (ja) * 2011-05-30 2012-12-13 Yokota Technica:Kk 半田付け装置
JP2014210279A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 昭和電工株式会社 ろう付け方法及びろう付け装置
JP2015009262A (ja) * 2013-07-01 2015-01-19 三菱電機株式会社 リフロー装置
US10252364B2 (en) 2013-07-23 2019-04-09 Senju Metal Industry Co., Ltd. Soldering apparatus and vacuum-soldering method
WO2015097796A1 (ja) 2013-12-25 2015-07-02 千住金属工業株式会社 真空はんだ処理装置及びその制御方法
KR20160102031A (ko) 2013-12-25 2016-08-26 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 진공 땜납 처리 장치 및 그 제어 방법
JP2016014503A (ja) * 2014-07-02 2016-01-28 富士電機株式会社 熱処理装置
JP2015123503A (ja) * 2014-08-21 2015-07-06 千住金属工業株式会社 真空はんだ処理装置及びその制御方法
US10307849B2 (en) 2014-09-02 2019-06-04 Senju Metal Industry Co., Ltd. Vacuum-processing device and control method therefor, and vacuum soldering device and control method therefor
JP2016196966A (ja) * 2015-04-02 2016-11-24 富士電機機器制御株式会社 熱処理装置
CN108994411A (zh) * 2018-08-06 2018-12-14 北京新雷能科技股份有限公司 一种负压可控气氛焊接系统
CN110634774A (zh) * 2019-09-05 2019-12-31 凌顶世纪科技成都有限公司 一种真空加热台
CN110634774B (zh) * 2019-09-05 2021-09-24 凌顶世纪科技成都有限公司 一种真空加热台
CN117086429A (zh) * 2023-10-18 2023-11-21 苏州申翰智能机器人有限公司 一种基于半导体基材的回流焊装置及其操作工艺

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