JPH0922930A - 製品検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、基板上の複数の製品の試験を行な
う製品検査方法に関し、基板上に複数の製品を対にして
出力端子を相互に接続し内部に検査回路あるいはパラレ
ル・シリアル変換回路を設け相手の検査を行い、従来の
プロービング装置を不要とし簡単、並列かつ効率的に検
査することを目的とする。 【構成】 出力端を相互に接続し対にして基板上に作成
した製品内に当該出力端から取り込んだ対の他の製品の
出力端からのデータを検査する検査回路あるいはパラレ
ル・シリアル変換回路を予め組み込んで基板上に作成
し、対の製品の入力端からテストパターンを入力して出
力端からのデータを対の他の製品の出力端に接続されて
いる検査回路で検査あるいはパラレル・シリアル変換回
路でシリアルデータに変換した外部に出力して検査を行
い、検査後に対の製品を切り離すように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、基板上の複数の製品の
試験を行なう製品検査方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、基板上に作成したＩＣなどの製品
の特性を測定し、合格したもののみを切り出す場合、各
製品毎に予めプロービング領域を確保して当該プロービ
ング領域に配線を施して当該配線に外部プローブを接触
させて試験を行い、試験後に切断して製品のみを取り出
すようにしていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来は上述したように
製品毎にプロービング領域を確保して当該プロービング
領域に配線を施して当該配線に外部プローブを接触させ
て試験を行い、合格した製品のみを切り出して製品に仕
上げていたため、このプロービング領域が無駄となって
しまうという問題があった。また、プロービング領域内
の配線に接触して試験を行なう高価なプロービング装置
が必要となってしまうと共に検査装置も複雑になってし
まうという問題があった。

【０００４】本発明は、これらの問題を解決するため、
基板上に複数の製品を対にして出力端子を相互に接続し
内部に検査回路あるいはパラレル・シリアル変換回路を
設け相手の検査を行い、従来のプロービング装置を不要
とし簡単、並列かつ効率的に検査することを目的として
いる。

【０００５】

【課題を解決するための手段】図１を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図１において、製品１
は、基板上に作成された検査対象の製品であって、２つ
が相互に出力端を接続して内部に検査回路５あるいは図
示外のパラレル・シリアル変換回路を持つものである。

【０００６】検査回路５は、基板上に対に作成し出力端
を相互に接続し相手の製品１の検査を行なう回路であ
る。

【０００７】

【作用】本発明は、図１に示すように、製品１の出力端
を相互に接続し対にして基板上に作成し、ある製品１の
入力端からテストパターンを入力した状態で、他の製品
１の内部に設けた検査回路５によってある製品１の出力
端から出力されたデータを取り込んで検査を行い、次に
ある製品１と他の製品１とを逆にして同様にして検査を
行い、検査後に対の製品１を切り離すようにしている。

【０００８】また、製品１の出力端を相互に接続し対に
して基板上に作成し、ある製品１の入力端からテストパ
ターンを入力した状態で、他の製品１の内部に設けたパ
ラレル・シリアル変換回路によってある製品１の出力端
から出力されたデータを取り込んでパラレルデータをシ
リアルデータに変換して外部に出力して検査を行い、次
にある製品１と他の製品１とを逆にして同様にして検査
を行い、検査後に対の製品を切り離すようにしている。

【０００９】また、対の製品１のうちのある製品１の入
力端子を並列接続および他の製品１の入力端子を並列接
続して基板上にそれぞれ作成し、テストパターンをある
製品１の入力端子に並列に入力して並列に検査を行い、
次にテストパターンを他の製品１の入力端子に並列に入
力して並列に検査を行い、検査後に各製品１毎に切り離
すようにしている。

【００１０】従って、基板上に複数の製品１を対にして
出力端子を相互に接続し内部に検査回路５あるいはパラ
レル・シリアル変換回路を設け相手の検査を行うことに
より、従来のプロービング装置を不要とし簡単、並列か
つ効率的に検査することが可能となる。

【００１１】

【実施例】次に、図１から図４を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。

【００１２】図１は、本発明の１実施例構成図を示す。
図１において、製品１は、基板上に作成された検査対象
の製品であって、例えばＬＣＤ（液晶パネル）を駆動す
る素子である。この製品１は、基板上に２つが相互に出
力端を接続して内部に検査回路５や図示外のパラレル・
シリアル変換回路を持つようにしている。図１に示すよ
うに対にして基板上に作成した２つの製品は、検査後に
切り離ししてそれぞれ個別の２つの製品１にする。

【００１３】ＬＣＤドライバ回路２は、ＬＣＤを駆動し
て文字や画像などを表示させるものである。バッファ３
は、ＬＣＤドライバ回路２からのデータを出力端子から
外部に出力するバッファである。

【００１４】バッファ４は、出力端から入力された他の
製品１からのデータを取り込み、検査回路５あるいは図
示外のパラレス・シリアル回路に入力するものである。
検査回路５は、バッファ４から入力されたデータ（他の
製品１の入力端にテストパターンを入力してそのときに
出力端から出力されて入力端から入力されたデータ）が
正しいか否かを検査する回路である。この検査回路５
は、内部にＲＯＭを持ち、当該ＲＯＭに予め格納した正
しいデータと、バッファ４から入力されたデータとを照
合し、一致するときに正しいと検査し、不一致のときに
エラーと検査し、その検査結果を図示の検査結果出力と
して出力するものである。尚、図示しないが、検査回路
５の代わりにパラレル・シリアル回路を設け、バッファ
４から入力されたデータ（パラレルデータ）をシリアル
データに変換し、この変換したシリアルデータを図示の
検査結果出力の端子から外部に出力し、外部でパラレル
データに変換して正しいデータと比較し、一致するとき
に正しいと検査し、不一致のときにエラーと検査するよ
うにしてもよい。

【００１５】次に、図２のフローチャートに示す順序に
従い、図１の構成の動作を詳細に説明する。図２におい
て、Ｓ１は、テストパターン信号を入力する。これは、
図１のように、基板上に２つの製品１の出力端を相互に
接続して作成した状態で、いずれか一方の製品１、例え
ば製品（Ａ）１の入力端からテストパターン信号を入力
する。

【００１６】Ｓ２は、ドライバＩＣ出力と、内部ＲＯＭ
データとを比較する。これは、例えばＳ１でテストパタ
ーン信号を入力端から入力した製品（Ａ）１のドライバ
ＩＣであるバッファ３から出力端子を介して出力された
データについて、対の製品（Ｂ）１の出力端からバッフ
ァ４を介して検査回路５に取り込んだデータと、当該検
査回路５が内部に持つ内部ＲＯＭから読み出した正しい
内部ＲＯＭデータとを比較する。

【００１７】Ｓ３は、一致か判別する。これは、Ｓ２の
比較によって、例えばテストパターン信号を製品（Ａ）
１の入力端から入力しその出力データと、製品（Ｂ）１
の検査回路５が内蔵するＲＯＭからの正しい内部ＲＯＭ
データとが一致して製品（Ａ）１のワイヤボンディング
や配線などが正しく行われて出力端から正しいデータが
出力されているか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ４に
進む。ＮＯの場合には、一致しなくてエラーと判明した
ので、Ｓ６でエラーピン番号を出力、即ち、テストパタ
ーン信号によって特定されたエラーとされたエラーピン
番号（例えば製品（Ａ）１の出力端子のピン番号）を出
力し、当該製品１が不良として検査を終了する。

【００１８】Ｓ４は、Ｓ３のＹＥＳで当該ピン番号の配
線や機能などが正常と判明したので、全てのピン番号に
ついて検査を終了したか判別する。ＹＥＳの場合には、
全てのテストパターン信号を製品１に入力してそのとき
の出力データが正しいデータと一致したので、Ｓ５で対
の製品１を切断する。尚、実際には図１では製品（Ａ）
１と製品（Ｂ）１とが対に基板上に作成されているの
で、Ｓ１からＳ４のＹＥＳによって例えば製品（Ａ）１
の試験を終了したら、次に製品（Ｂ）１についても同様
に試験を行なう。そして、正常と判定された製品（Ａ）
１、製品（Ｂ）１のみを切断して最終的な製品１とす
る。

【００１９】以上によって、図１のように基板上に製品
（Ａ）１と製品（Ｂ）１とを対にして出力端を相互に接
続した状態で作成し、テストパターン信号を例えば製品
（Ａ）１の入力端から入力して当該製品（Ａ）の出力端
からのデータを製品（Ｂ）１の出力端から入力して検査
回路５によって検査することを全てのテストパターン信
号について繰り返して製品（Ａ）１の正常／異常の検査
を行なう。次に、同様にしてテストパターン信号を製品
（Ｂ）１に入力してそのときの出力端からのデータを製
品（Ａ）１の検査回路５で検査することを全てのテスト
パターン信号について繰り返して製品（Ｂ）１の正常／
異常の検査を行なう。これら製品（Ａ）１と製品（Ｂ）
１について相互に検査を行った後、正常な製品１のみを
切断して最終的に製品とする。これらにより、製品１の
出力端を相互に接続し、各製品１の内部にバッファ４お
よび検査回路５を設けることにより、図１の製品（Ａ）
１と製品（Ｂ）１とを相互に検査することが可能とな
る。

【００２０】次に、図３のフローチャートに示す順序に
従い、図１の構成で検査回路５の代わりにパラレル・シ
リアル変換回路を設け、バッファ４から入力されたパラ
レルデータをシリアル変換して検査結果出力端子からシ
リアルデータとして外部に取り出し、この取り出したシ
リアルデータをパラレルデータに戻して正常なデータと
比較し、一致したときに正常と検査し、不一致のときに
異常と検査するときの動作を詳細に説明する。

【００２１】図３において、Ｓ１１は、テストパターン
信号を入力する。これは、図１で検査回路５をパラレル
・シリアル変換回路で置き換えた構成において、基板上
に２つの製品１の出力端を相互に接続して作成した状態
で、いずれか一方の製品１、例えば製品（Ａ）１の入力
端からテストパターン信号を入力する。

【００２２】Ｓ１２は、ドライバＩＣ出力をパラレル・
シリアル変換して出力する。これは、例えばＳ１１でテ
ストパターン信号を入力端から入力した製品（Ａ）１の
ドライバＩＣであるバッファ３から出力端子を介して出
力されたデータについて、対の製品（Ｂ）１の出力端か
らバッファ４を介して検査回路５に代えたパラレル・シ
リアル変換回路に入力してパラレルデータをシリアルデ
ータに変換し、この変換したシリアルデータを検査結果
出力端子から外部に出力する。

【００２３】Ｓ１３は、外部で比較する。これは、Ｓ１
２で外部に出力したシリアルデータをパラレルデータに
変換して戻し、このパラレルデータと、正しいデータと
を比較する。

【００２４】Ｓ１４は、一致か判別する。これは、Ｓ１
３の比較によって、例えばテストパターン信号を製品
（Ａ）１の入力端から入力しその出力データを製品
（Ｂ）１の検査回路５に代わりに設けたパラレル・シリ
アル変換回路によってシリアルデータに変換して外部に
出力し、変換して戻したパラレルデータと、正しいデー
タとが一致して製品（Ａ）１のワイヤボンディングや配
線などが正しく行われて出力端から正しいデータが出力
されているか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ１５に進
む。ＮＯの場合には、一致しなくてエラーと判明したの
で、Ｓ１７でエラーピン番号を出力、即ち、テストパタ
ーン信号によって特定されたエラーとされたエラーピン
番号（例えば製品（Ａ）１の出力端子のピン番号）を出
力し、当該製品（Ａ）１が不良として検査を終了する。

【００２５】Ｓ１５は、Ｓ１４のＹＥＳで当該ピン番号
の配線や機能などが正常と判明したので、全てのピン番
号について検査を終了したか判別する。ＹＥＳの場合に
は、全てのテストパターン信号を製品１に入力してその
ときの出力データが正しいデータと一致したので、Ｓ１
６で対の製品１を切断する。尚、実際には図１では製品
（Ａ）１と製品（Ｂ）１とが対に基板上に作成されてい
るので、Ｓ１１からＳ１５のＹＥＳによって例えば製品
（Ａ）１の試験を終了したら、次に製品（Ｂ）１につい
ても同様に試験を行なう。そして、正常と判定された製
品（Ａ）１、製品（Ｂ）１のみを切断して最終的な製品
１とする。

【００２６】以上によって、図１の検査回路５をパラレ
ル・シリアル変換回路で置き換えた構成のもとで、基板
上に製品（Ａ）１と製品（Ｂ）１とを対にして出力端を
相互に接続した状態で作成し、テストパターン信号を例
えば製品（Ａ）１の入力端から入力して当該製品（Ａ）
の出力端からのデータを製品（Ｂ）１の出力端から入力
して検査回路５に代えたパラレル・シリアル変換回路に
よってシリアルデータに変換して外部に出力し、外部で
検査することを全てのテストパターン信号について繰り
返して製品（Ａ）１の正常／異常の検査を行なう。次
に、同様にしてテストパターン信号を製品（Ｂ）１に入
力してそのときの出力端からのデータを製品（Ａ）１の
検査回路５に代えたパラレル・シリアル変換回路によっ
てシリアルデータに変換して外部に出力し、外部で検査
することを全てのテストパターン信号について繰り返し
て製品（Ｂ）１の正常／異常の検査を行なう。これら製
品（Ａ）１と製品（Ｂ）１について相互に検査を行った
後、正常な製品１のみを切断して最終的な製品とする。
これらにより、製品１の出力端を相互に接続し、各製品
１の内部にバッファ４およびパラレル・シリアル変換回
路を設けて外部でシリアルデータをパラレルデータに戻
して検査を行なうことにより、図１の製品（Ａ）１と製
品（Ｂ）１とを相互に検査することが可能となる。

【００２７】図４は、本発明の具体例を示す。これは、
基板上に出力端を相互に接続した製品１の対を複数作成
し、対のうちの１つの入力端を並列接続および他の入力
端を並列接続し、テストデータを並列に接続した例えば
全ての製品（Ａ）１に同時に入力し、対の製品（Ｂ）１
の検査回路５でそれぞれ並列に検査して検査結果を外部
にそれぞれ個別に出力し、次に全ての製品（Ｂ）１に同
時に入力し、対の製品（Ａ）１の検査回路５でそれぞれ
並列に検査して検査結果を外部にそれぞれ個別に出力
し、検査を並列に行なうようにしたものである。尚、既
述したように、検査回路５の代わりにパラレル・シリア
ル変換回路を設け、パラレルデータをシリアルデータに
変換して外部にそれぞれ出力して外部でパラレルデータ
に戻して検査するようにしてもよい。

【００２８】図４において、複数の製品（Ａ）１と製品
（Ｂ）１の対は、図１の製品（Ａ）１と製品（Ｂ）１の
対を複数、同一基板上に作成したものである。信号入力
／出力は、製品（Ａ）の全ての入力端を検査用のために
並列接続、および出力結果出力を個別に設けたものであ
る。これにより、図２のＳ１および図３のＳ１１でテス
トパターン信号を全ての製品（Ａ）１あるいは製品
（Ｂ）１の入力端に並列に同時に入力し、その出力端か
らのデータを対の製品（Ｂ）１あるいは製品（Ａ）１の
検査回路５で並列に同時に検査あるいはパラレル・シリ
アル変換回路によってシリアルデータに変換して外部に
出力し並列に同時に検査することが可能となる。

【００２９】基板切断面は、製品（Ａ）１と製品（Ｂ）
１の検査を終了した後、切断して製品１に切り離す面で
ある。以上のように、製品（Ａ）１と製品（Ｂ）１とを
対にして出力端を相互に接続し、内部に検査回路５ある
いはパラレル・シリアル変換回路を設け、製品（Ａ）１
および製品（Ｂ）１の全ての入力端をそれぞれ並列にし
て接続してテストパターン信号を同時に並列に入力して
検査を行なうことにより、２回の検査により基板上に設
けた全ての対の製品（Ａ）１および製品（Ｂ）１の検査
を行なうことができ、極めて高速に試験を行なうことが
可能となった。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板上に製品１を対にして出力端を相互に接続して内部
に検査回路５あるいはパラレル・シリアル変換回路を設
け、テストパターン信号を１つの製品１の入力端に入力
してその出力端からのデータを他の製品１の出力端から
入力して検査回路５で検査あるいはパラレル・シリアル
変換回路でシリアルデータに変換して外部に出力して検
査する構成を採用しているため、従来の検査で必要であ
った高価なプロービング装置を不要とし、基板上に作成
した多数の製品１の検査を簡単、並列、かつ高速に行な
うことができるようになった。このように本願発明で
は、基板上に出力端を相互に接続して対に作成した製品
（Ａ）１と製品（Ｂ）１を複数設けて対の相手の検査を
互いに行う、あるいは相手のパラレルデータをシリアル
データに変換して少ないピンから外部に出力して外部で
検査を互いに行なうことにより、基板上に検査回路５あ
るいはパラレル・シリアル変換回路を付加するのみで極
めて効率的に検査を行なうことが可能となった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例構成図である。

【図２】本発明の検査フローチャートである。

【図３】本発明の他の検査フローチャートである。

【図４】本発明の具体例である。

【符号の説明】

１：製品 ２：ＬＣＤドライバ回路 ３、４：バッファ ５：検査回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】出力端を相互に接続し対にして基板上に作
   成した製品内に当該出力端から取り込んだ対の他の製品
   の出力端からのデータを検査する検査回路を予め組み込
   んで基板上に作成し、対の製品の入力端からテストパタ
   ーンを入力して出力端からのデータを対の他の製品の出
   力端に接続されている検査回路で検査を行ない、検査後
   に対の製品を切り離すことを特徴とする製品検査方法。
2. 【請求項２】出力端を相互に接続し対にして基板上に作
   成した製品内に当該出力端から取り込んだ対の他の製品
   の出力端からのパラレルデータをシリアルデータに変換
   する変換回路を予め組み込んで基板上に作成し、対の製
   品の入力端からテストパターンを入力して出力端からの
   データを対の他の製品の出力端に接続されている変換回
   路でパラレルデータをシリアルデータに変換して外部端
   子から外部に出力し、外部で検査を行ない、検査後に対
   の製品を切り離すことを特徴とする製品検査方法。
3. 【請求項３】上記対の製品のうちのある製品の入力端子
   を並列接続および他の製品の入力端子を並列接続して基
   板上にそれぞれ作成し、テストパターンをある製品の入
   力端子に並列に入力して並列に検査を行い、次にテスト
   パターンを他の製品の入力端子に並列に入力して並列に
   検査を行うことを特徴とする請求項１あるいは請求項２
   記載の製品検査方法。