JPH09196705A - 変位測定装置 - Google Patents
変位測定装置Info
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- JPH09196705A JPH09196705A JP8028597A JP2859796A JPH09196705A JP H09196705 A JPH09196705 A JP H09196705A JP 8028597 A JP8028597 A JP 8028597A JP 2859796 A JP2859796 A JP 2859796A JP H09196705 A JPH09196705 A JP H09196705A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/366—Particular pulse shapes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/22—Analogue/digital converters pattern-reading type
- H03M1/24—Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip
- H03M1/28—Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 矩形波格子の組み合わせを用いて高調波歪の
少ない変位信号を得ることが可能で、ギャップ変動の影
響が少なく、S/N向上と高精度の変位測定を可能とし
た変位測定装置を提供する。 【解決手段】 メインスケール1と、これに平行光24
を照射する光源、及び光源の反対側に配置されたインデ
ックススケールを兼ねたフォトダイオードアレイ3によ
り透過型エンコーダが構成される。メインスケール1
は、光透過部11と不透過部12がピッチPで配列さ
れ、かつ光透過部11の幅が2P/3に設定されて、3
次高調波歪が除去される矩形波格子となっている。
少ない変位信号を得ることが可能で、ギャップ変動の影
響が少なく、S/N向上と高精度の変位測定を可能とし
た変位測定装置を提供する。 【解決手段】 メインスケール1と、これに平行光24
を照射する光源、及び光源の反対側に配置されたインデ
ックススケールを兼ねたフォトダイオードアレイ3によ
り透過型エンコーダが構成される。メインスケール1
は、光透過部11と不透過部12がピッチPで配列さ
れ、かつ光透過部11の幅が2P/3に設定されて、3
次高調波歪が除去される矩形波格子となっている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光学信号や電気
信号あるいは磁気信号を利用して、相対向して配置され
て相対移動する第1の部材と第2の部材の相対移動量を
測定する変位測定装置に関する。
信号あるいは磁気信号を利用して、相対向して配置され
て相対移動する第1の部材と第2の部材の相対移動量を
測定する変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光学式エンコーダは一般に、光透
過部と不透過部(または光反射部と非反射部)を1:1
の幅をもって所定ピッチで配列した矩形波格子からなる
メインスケールを用いている。透過型の光学式エンコー
ダであれば、このようなスケールに平行光を照射して透
過した矩形波パターンの光を更に光透過部と不透過部を
所定ピッチで配列した矩形波格子からなるインデックス
スケールを通して受光する。メインスケールとインデッ
クススケールの相対移動により変調されるインデックス
スケールの透過光の明暗パターンを受光することによ
り、相対移動に伴って周期変動する変位信号を得ること
ができ、この変位信号を処理することにより変位量即ち
距離を測定することができる。
過部と不透過部(または光反射部と非反射部)を1:1
の幅をもって所定ピッチで配列した矩形波格子からなる
メインスケールを用いている。透過型の光学式エンコー
ダであれば、このようなスケールに平行光を照射して透
過した矩形波パターンの光を更に光透過部と不透過部を
所定ピッチで配列した矩形波格子からなるインデックス
スケールを通して受光する。メインスケールとインデッ
クススケールの相対移動により変調されるインデックス
スケールの透過光の明暗パターンを受光することによ
り、相対移動に伴って周期変動する変位信号を得ること
ができ、この変位信号を処理することにより変位量即ち
距離を測定することができる。
【0003】上述した光学式エンコーダから得られる変
位信号は、原理的にはスケール格子の重なりの変化に対
応する三角波になるが、実際には回折等の影響があって
疑似正弦波信号となる。しかしこの変位信号はあくまで
疑似正弦波信号であって、正弦波信号として扱うには大
きな高調波歪を持っている。この高調波歪は検出精度や
分解能を制限する。特に、スケールの格子ピッチが数十
μm オーダーの微細なものになると、メインスケールと
インデックスケール間のギャップの変動の影響が大きく
なり、数十μm の僅かなギャップ変動があっても歪成分
が大きく変動することが知られている。従って、ギャッ
プ調整は極めて厳しいものとなる。
位信号は、原理的にはスケール格子の重なりの変化に対
応する三角波になるが、実際には回折等の影響があって
疑似正弦波信号となる。しかしこの変位信号はあくまで
疑似正弦波信号であって、正弦波信号として扱うには大
きな高調波歪を持っている。この高調波歪は検出精度や
分解能を制限する。特に、スケールの格子ピッチが数十
μm オーダーの微細なものになると、メインスケールと
インデックスケール間のギャップの変動の影響が大きく
なり、数十μm の僅かなギャップ変動があっても歪成分
が大きく変動することが知られている。従って、ギャッ
プ調整は極めて厳しいものとなる。
【0004】そこで従来より、上述した光学式エンコー
ダの高調波歪を低減する方法がいくつか提案されてい
る。例えば、 インデックススケールの光透過部形状を正弦波状とし
たいわゆる正弦波格子を用いる方法(例えば米国特許第
4,782,229号参照)、 インデックススケール側に、奇数次高調波歪を打ち消
すような位相差を与えた矩形波格子の対を用いる方法
(例えば特開平3−48122号公報参照)、 インデックススケール側の光透過部と不透過部の幅を
1:1ではなく、高調波歪を相殺できる比率に設定する
方法(例えば特開平7−146160号公報参照)、等
である。
ダの高調波歪を低減する方法がいくつか提案されてい
る。例えば、 インデックススケールの光透過部形状を正弦波状とし
たいわゆる正弦波格子を用いる方法(例えば米国特許第
4,782,229号参照)、 インデックススケール側に、奇数次高調波歪を打ち消
すような位相差を与えた矩形波格子の対を用いる方法
(例えば特開平3−48122号公報参照)、 インデックススケール側の光透過部と不透過部の幅を
1:1ではなく、高調波歪を相殺できる比率に設定する
方法(例えば特開平7−146160号公報参照)、等
である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の〜
の方法は全て受光側のインデックススケール格子を改良
して高調波歪を低減するもので、メインスケールは従来
と変わらず、全体の透過光量はメインスケールで決定さ
れている。従って特に、幾何光学光による明暗パターン
を検出する方式を採用した場合には、スケール格子が微
細になると回折光の影響を除去することが難しく、この
結果ギャップ調整が難しくなり、十分なS/Nが得られ
ない。またの方法は、矩形波格子を用いる場合に比べ
て微細加工が難しい。同様の問題は、光学式エンコーダ
に限らず、スケールの電極間の静電容量結合を利用して
電気信号の転送パターン変化を検出して変位測定を行う
静電容量式エンコーダ、あるいはスケール間の磁気結合
を利用して同様に変位測定を行う磁気式エンコーダにお
いてもある。例えば静電容量式エンコーダの場合も、平
行平板による等価的な容量結合では表せない端効果の影
響により、波形歪がギャップに応じて変化する。
の方法は全て受光側のインデックススケール格子を改良
して高調波歪を低減するもので、メインスケールは従来
と変わらず、全体の透過光量はメインスケールで決定さ
れている。従って特に、幾何光学光による明暗パターン
を検出する方式を採用した場合には、スケール格子が微
細になると回折光の影響を除去することが難しく、この
結果ギャップ調整が難しくなり、十分なS/Nが得られ
ない。またの方法は、矩形波格子を用いる場合に比べ
て微細加工が難しい。同様の問題は、光学式エンコーダ
に限らず、スケールの電極間の静電容量結合を利用して
電気信号の転送パターン変化を検出して変位測定を行う
静電容量式エンコーダ、あるいはスケール間の磁気結合
を利用して同様に変位測定を行う磁気式エンコーダにお
いてもある。例えば静電容量式エンコーダの場合も、平
行平板による等価的な容量結合では表せない端効果の影
響により、波形歪がギャップに応じて変化する。
【0006】この発明は、上記事情を考慮してなされた
もので、矩形波格子の組み合わせを用いて高調波歪の少
ない変位信号を得ることが可能で、ギャップ変動の影響
が少なく、S/N向上と高精度の変位測定を可能とした
変位測定装置を提供することを目的としている。
もので、矩形波格子の組み合わせを用いて高調波歪の少
ない変位信号を得ることが可能で、ギャップ変動の影響
が少なく、S/N向上と高精度の変位測定を可能とした
変位測定装置を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明は、光転送部と
非転送部が所定ピッチで配列されて矩形波格子を構成す
る第1の部材と、この第1の部材に平行光を照射して矩
形波の転送光パターンを得るための光照射手段と、前記
第1の部材と対向して前記光照射手段と共に前記第1の
部材に対してその矩形波格子の配列方向に相対移動可能
に配置され光透過部と不透過部が所定ピッチで配列され
て矩形波格子を構成して前記第1の部材からの転送光パ
ターンの透過光量を変調する第2の部材と、この第2の
部材の透過光パターンを受光して前記相対移動に伴って
周期変動する変位出力信号を得る受光手段とを有する変
位測定装置において、前記第1の部材は、矩形波格子を
構成する前記光転送部と非転送部の配列ピッチをPとし
て、前記光転送部または非転送部の幅が2P/3に設定
されていることを特徴としている。
非転送部が所定ピッチで配列されて矩形波格子を構成す
る第1の部材と、この第1の部材に平行光を照射して矩
形波の転送光パターンを得るための光照射手段と、前記
第1の部材と対向して前記光照射手段と共に前記第1の
部材に対してその矩形波格子の配列方向に相対移動可能
に配置され光透過部と不透過部が所定ピッチで配列され
て矩形波格子を構成して前記第1の部材からの転送光パ
ターンの透過光量を変調する第2の部材と、この第2の
部材の透過光パターンを受光して前記相対移動に伴って
周期変動する変位出力信号を得る受光手段とを有する変
位測定装置において、前記第1の部材は、矩形波格子を
構成する前記光転送部と非転送部の配列ピッチをPとし
て、前記光転送部または非転送部の幅が2P/3に設定
されていることを特徴としている。
【0008】この発明において好ましくは、前記第1の
部材は、前記光転送部及び非転送部がピッチPで配列さ
れ、かつ前記光転送部の幅が2P/3に設定された透過
型または反射型のメインスケールであり、前記第2の部
材は光透過部及び不透過部が1:1の幅をもってピッチ
Pで配列されたインデックススケールであることを特徴
とする。この発明において更に好ましくは、前記第1の
部材は、前記光転送部及び非転送部がピッチPで配列さ
れ、かつ前記光転送部の幅が2P/3に設定された透過
型または反射型のメインスケールであり、前記受光手段
は前記第2の部材の機能を兼ねた受光素子アレイにより
構成されていることを特徴とする。この発明においては
更に、前記受光手段は、90°ずつ位相のずれた4種の
受光出力信号を出力するものであり、これらの受光出力
信号について180°位相差の受光出力信号の差動をと
ることにより90°位相差の二つの変位出力信号を得る
手段を更に備えたことを特徴とする。
部材は、前記光転送部及び非転送部がピッチPで配列さ
れ、かつ前記光転送部の幅が2P/3に設定された透過
型または反射型のメインスケールであり、前記第2の部
材は光透過部及び不透過部が1:1の幅をもってピッチ
Pで配列されたインデックススケールであることを特徴
とする。この発明において更に好ましくは、前記第1の
部材は、前記光転送部及び非転送部がピッチPで配列さ
れ、かつ前記光転送部の幅が2P/3に設定された透過
型または反射型のメインスケールであり、前記受光手段
は前記第2の部材の機能を兼ねた受光素子アレイにより
構成されていることを特徴とする。この発明においては
更に、前記受光手段は、90°ずつ位相のずれた4種の
受光出力信号を出力するものであり、これらの受光出力
信号について180°位相差の受光出力信号の差動をと
ることにより90°位相差の二つの変位出力信号を得る
手段を更に備えたことを特徴とする。
【0009】この発明はまた、信号転送部と非転送部が
所定ピッチで配列されて矩形波格子を構成する第1の部
材と、前記第1の部材と対向してその矩形波格子の配列
方向に相対移動可能に配置されて前記信号転送部に対向
する信号受信部を備えて前記相対移動に伴って前記第1
の部材からの矩形波の転送信号パターンに対応して周期
変動する変位出力信号を得る第2の部材とを有する変位
測定装置において、前記第1の部材は、矩形波格子を構
成する前記信号転送部と非転送部の配列ピッチをPとし
て、前記信号転送部または非転送部の幅が2P/3に設
定されていることを特徴とする。
所定ピッチで配列されて矩形波格子を構成する第1の部
材と、前記第1の部材と対向してその矩形波格子の配列
方向に相対移動可能に配置されて前記信号転送部に対向
する信号受信部を備えて前記相対移動に伴って前記第1
の部材からの矩形波の転送信号パターンに対応して周期
変動する変位出力信号を得る第2の部材とを有する変位
測定装置において、前記第1の部材は、矩形波格子を構
成する前記信号転送部と非転送部の配列ピッチをPとし
て、前記信号転送部または非転送部の幅が2P/3に設
定されていることを特徴とする。
【0010】この発明による変位測定装置は、信号転送
部と非転送部が所定ピッチで配列されて矩形波格子を構
成する第1の部材をメインスケールとするもので、光学
式エンコーダの場合であれば、信号転送部は、透過また
は反射による光パターンを転送するものとなる。またこ
の信号転送部は、静電容量式エンコーダであれば、容量
結合による電気信号転送部であり、磁気式エンコーダで
あれば、磁気結合を利用した磁気信号転送部である。そ
してこの発明は、高調波歪の内最も大きい3次高調波に
注目して、信号転送部と非転送部の配列からなる第1の
部材の矩形波格子について、信号転送部と非転送部の幅
が1:1ではなく、信号転送部または非転送部の幅を配
列ピッチPに対して、2P/3に設定することにより、
転送される信号パターンから3次高調波成分が除去され
るようにしたものである。
部と非転送部が所定ピッチで配列されて矩形波格子を構
成する第1の部材をメインスケールとするもので、光学
式エンコーダの場合であれば、信号転送部は、透過また
は反射による光パターンを転送するものとなる。またこ
の信号転送部は、静電容量式エンコーダであれば、容量
結合による電気信号転送部であり、磁気式エンコーダで
あれば、磁気結合を利用した磁気信号転送部である。そ
してこの発明は、高調波歪の内最も大きい3次高調波に
注目して、信号転送部と非転送部の配列からなる第1の
部材の矩形波格子について、信号転送部と非転送部の幅
が1:1ではなく、信号転送部または非転送部の幅を配
列ピッチPに対して、2P/3に設定することにより、
転送される信号パターンから3次高調波成分が除去され
るようにしたものである。
【0011】例えばこの発明を透過型の光学式エンコー
ダに適用した場合には、第1の部材は、光転送部及び非
転送部としてそれぞれ光透過部及び不透過部がピッチP
で配列され、かつ好ましくは光透過部の幅が2P/3に
設定された透過型のメインスケールとする。第2の部材
は光透過部及び不透過部が1:1の幅をもって配列ピッ
チPで配列されたインデックススケールとする。これに
より、メインスケールとして通常のように光透過部と不
透過部の幅を1:1の矩形波格子とした場合に比べてメ
インスケールの透過光量が大きくなる。この結果、受光
部での受光光量のピーク値が大きくなり、S/Nが向上
する。また、メインスケールの透過部幅が広いので、幾
何光学光による明暗パターンの成分が相対的に回折によ
る干渉縞パターンの成分より大きくなり、幾何光学光パ
ターンを検出する方式としたときにギャップ変動の影響
が低減され、優れたS/Nが得られる。また、受光光量
が大きくなることから、速い応答速度が得られ、受光素
子のバイアスを高く設定すれば一層速い応答速度を実現
することが可能になる。
ダに適用した場合には、第1の部材は、光転送部及び非
転送部としてそれぞれ光透過部及び不透過部がピッチP
で配列され、かつ好ましくは光透過部の幅が2P/3に
設定された透過型のメインスケールとする。第2の部材
は光透過部及び不透過部が1:1の幅をもって配列ピッ
チPで配列されたインデックススケールとする。これに
より、メインスケールとして通常のように光透過部と不
透過部の幅を1:1の矩形波格子とした場合に比べてメ
インスケールの透過光量が大きくなる。この結果、受光
部での受光光量のピーク値が大きくなり、S/Nが向上
する。また、メインスケールの透過部幅が広いので、幾
何光学光による明暗パターンの成分が相対的に回折によ
る干渉縞パターンの成分より大きくなり、幾何光学光パ
ターンを検出する方式としたときにギャップ変動の影響
が低減され、優れたS/Nが得られる。また、受光光量
が大きくなることから、速い応答速度が得られ、受光素
子のバイアスを高く設定すれば一層速い応答速度を実現
することが可能になる。
【0012】反射型の光学式エンコーダの場合であれ
ば、メインスケールの光転送部及び非転送部はそれぞれ
光反射部及び非反射部となり、その配列ピッチPに対し
て好ましくは光反射部の幅が2P/3に設定されたもの
を用いる。これにより、上述した透過型の場合と同様の
効果を得ることができる。
ば、メインスケールの光転送部及び非転送部はそれぞれ
光反射部及び非反射部となり、その配列ピッチPに対し
て好ましくは光反射部の幅が2P/3に設定されたもの
を用いる。これにより、上述した透過型の場合と同様の
効果を得ることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施例を説明する。図1は、この発明の一実施例に係
る透過型の光学式エンコーダの概略構成を示す。図2
は、図1の要部を拡大して示している。
の実施例を説明する。図1は、この発明の一実施例に係
る透過型の光学式エンコーダの概略構成を示す。図2
は、図1の要部を拡大して示している。
【0014】図1に示すように、第1の部材であるメイ
ンスケール1は、例えばガラス等の透明基板10に、信
号転送部としての光透過部11と、非転送部としてのC
r蒸着膜等による不透過部12がピッチPで配列されて
矩形波格子を構成している。光透過部11と不透過部1
2の幅は1:1ではなく、図2に拡大して示すように、
光透過部11の幅が2P/3に設定されている。
ンスケール1は、例えばガラス等の透明基板10に、信
号転送部としての光透過部11と、非転送部としてのC
r蒸着膜等による不透過部12がピッチPで配列されて
矩形波格子を構成している。光透過部11と不透過部1
2の幅は1:1ではなく、図2に拡大して示すように、
光透過部11の幅が2P/3に設定されている。
【0015】メインスケール1の後方には、メインスケ
ール1に平行光22を照射するための光照射手段2が配
置されている。この光照射手段2は、例えば拡散光源で
あるLED20と、その出力光を平行光22にするコリ
メートレンズ21により構成され、得られる平行光22
がメインスケール1に照射されるようになっている。
ール1に平行光22を照射するための光照射手段2が配
置されている。この光照射手段2は、例えば拡散光源で
あるLED20と、その出力光を平行光22にするコリ
メートレンズ21により構成され、得られる平行光22
がメインスケール1に照射されるようになっている。
【0016】メインスケール1の前方には、光照射手段
2に対向して、メインスケール1の透過光量分布を検出
する受光素子アレイとしてフォトダイオードアレイ3が
配置されている。フォトダイオードアレイ3はシリコン
基板30にPN接合による受光部31即ちフォトダイオ
ードを配列したもので、このフォトダイオードアレイ3
が第2の部材であるインデックススケールを兼ねた受光
手段となっている。
2に対向して、メインスケール1の透過光量分布を検出
する受光素子アレイとしてフォトダイオードアレイ3が
配置されている。フォトダイオードアレイ3はシリコン
基板30にPN接合による受光部31即ちフォトダイオ
ードを配列したもので、このフォトダイオードアレイ3
が第2の部材であるインデックススケールを兼ねた受光
手段となっている。
【0017】メインスケール1は、光照射手段2とフォ
トダイオードアレイ3に対して図1に矢印xで示すよう
に相対移動する。この相対移動に伴って、インデックス
スケールを兼ねたフォトダイオードアレイ3により受光
パターンが変調されて、スケールピッチPで周期変動を
する幾何光学光による明暗パターンに対応する疑似正弦
波の変位信号が得られる。
トダイオードアレイ3に対して図1に矢印xで示すよう
に相対移動する。この相対移動に伴って、インデックス
スケールを兼ねたフォトダイオードアレイ3により受光
パターンが変調されて、スケールピッチPで周期変動を
する幾何光学光による明暗パターンに対応する疑似正弦
波の変位信号が得られる。
【0018】この実施例の場合フォトダイオードアレイ
3は、図2に拡大して示すように、メインスケール1の
格子ピッチPに対して3P/4ピッチで配列されてお
り、これにより90°位相のずれたA,B相の出力を得
る2個のフォトダイオードと、これらと180°位相の
ずれたAB,BB相の出力を得る2個のフォトダイオー
ドからなる4個のフォトダイオードを1セットとして、
複数セット配設されている。即ちスケール移動に伴っ
て、図3に示すような、90°ずつ位相のずれたA,A
B,B,BB相の出力電流が得られ、これらを電流電圧
変換器4a〜4dで電圧値に変換した後、差動増幅器5
a,5bによりそれぞれA相とAB相の差動、B相とB
B相の差動をとって、90°位相のずれたA,B相変位
出力信号を得るようになっている。
3は、図2に拡大して示すように、メインスケール1の
格子ピッチPに対して3P/4ピッチで配列されてお
り、これにより90°位相のずれたA,B相の出力を得
る2個のフォトダイオードと、これらと180°位相の
ずれたAB,BB相の出力を得る2個のフォトダイオー
ドからなる4個のフォトダイオードを1セットとして、
複数セット配設されている。即ちスケール移動に伴っ
て、図3に示すような、90°ずつ位相のずれたA,A
B,B,BB相の出力電流が得られ、これらを電流電圧
変換器4a〜4dで電圧値に変換した後、差動増幅器5
a,5bによりそれぞれA相とAB相の差動、B相とB
B相の差動をとって、90°位相のずれたA,B相変位
出力信号を得るようになっている。
【0019】この実施例においては、前述のようにメイ
ンスケール1の光透過部11が2P/3の幅に設定され
ており、これにより疑似正弦波である変位出力信号の3
次高調波が除去される。その原理を図4を参照して説明
する。メインスケール1のピッチをPとし、光透過部1
1の幅を一般にLとして、平行光が照射されたときこの
メインスケール1の透過光パターンは、直進光成分のみ
を考えると、図4に示すように矩形波パターンとなる。
このとき変位方向xについての透過光量パターンI
(x)は、フーリエ展開によって、次式数1で表され
る。
ンスケール1の光透過部11が2P/3の幅に設定され
ており、これにより疑似正弦波である変位出力信号の3
次高調波が除去される。その原理を図4を参照して説明
する。メインスケール1のピッチをPとし、光透過部1
1の幅を一般にLとして、平行光が照射されたときこの
メインスケール1の透過光パターンは、直進光成分のみ
を考えると、図4に示すように矩形波パターンとなる。
このとき変位方向xについての透過光量パターンI
(x)は、フーリエ展開によって、次式数1で表され
る。
【0020】
【数1】
【0021】数1において、C,Dは定数である。この
様なメインスケール1の透過光量パターンに対して更に
受光側のインデックススケール(この実施例の場合、フ
ォトダイオードアレイ3)による変調がかかって、疑似
正弦波出力が得られることになる。
様なメインスケール1の透過光量パターンに対して更に
受光側のインデックススケール(この実施例の場合、フ
ォトダイオードアレイ3)による変調がかかって、疑似
正弦波出力が得られることになる。
【0022】数1から明らかなように、最も大きい奇数
次の高調波成分である3次高調波、即ちn=3に着目す
ると、L=P/3または、L=2P/3に設定したとき
に、右辺の第1項,第2項共に係数が0となる。従っ
て、L=2P/3に設定されたこの実施例によれば、3
次高調波成分が除去された、より正弦波に近い変位信号
が得られることになる。直流成分については、図2で説
明したように、180°位相差の2出力の差動処理によ
り相殺することができる。
次の高調波成分である3次高調波、即ちn=3に着目す
ると、L=P/3または、L=2P/3に設定したとき
に、右辺の第1項,第2項共に係数が0となる。従っ
て、L=2P/3に設定されたこの実施例によれば、3
次高調波成分が除去された、より正弦波に近い変位信号
が得られることになる。直流成分については、図2で説
明したように、180°位相差の2出力の差動処理によ
り相殺することができる。
【0023】また数1から明らかなように、L=P/3
または2P/3に設定すると、偶数次高調波成分の項が
消去されないが、この偶数次高調波成分は180°位相
差の2出力で同相となるので、これも上述の差動処理に
より相殺されることになり、悪影響はない。また数1か
ら、基本波成分として、A sin(2πx/P)の項とB
cos(2πx/P)の項が残るが、その合成波形は、
(A2+B2)1/2 sin(2πx/P+φ)なる正弦波と
なり、位相ズレφはインクリメンタル方式の変位測定に
は影響ないので、これも問題とならない。
または2P/3に設定すると、偶数次高調波成分の項が
消去されないが、この偶数次高調波成分は180°位相
差の2出力で同相となるので、これも上述の差動処理に
より相殺されることになり、悪影響はない。また数1か
ら、基本波成分として、A sin(2πx/P)の項とB
cos(2πx/P)の項が残るが、その合成波形は、
(A2+B2)1/2 sin(2πx/P+φ)なる正弦波と
なり、位相ズレφはインクリメンタル方式の変位測定に
は影響ないので、これも問題とならない。
【0024】この実施例においては、メインスケール1
の光透過部11の幅が不透過部12の幅の約2倍である
から、光透過部と不透過部の幅を1:1とした従来のメ
インスケールを用いた場合に比べて、メインスケールの
透過光量が大きくなり、受光光量が大きくなる。このた
め、受光光量のピーク値増大によるS/N向上が可能に
なる。
の光透過部11の幅が不透過部12の幅の約2倍である
から、光透過部と不透過部の幅を1:1とした従来のメ
インスケールを用いた場合に比べて、メインスケールの
透過光量が大きくなり、受光光量が大きくなる。このた
め、受光光量のピーク値増大によるS/N向上が可能に
なる。
【0025】また、受光光量が大きくなることから、フ
ォトダイオードアレイ3の出力電流が大きくなり、応答
速度が向上する。フォトダイオードのバイアスを高く設
定すれば更に速い応答速度を実現することができる。更
にまた、メインスケール1の光透過部11の幅が大きい
ことから、受光面での幾何光学光による明暗パターンの
ピーク値と回折光による干渉縞パターンのピーク値の大
きさを比べると、従来方式に比べて相対的に前者の方が
大きくなるから、これもS/N比向上につながり、また
メインスケール1とフォトダイオードアレイ3間のギャ
ップ変動の影響も小さくなる。
ォトダイオードアレイ3の出力電流が大きくなり、応答
速度が向上する。フォトダイオードのバイアスを高く設
定すれば更に速い応答速度を実現することができる。更
にまた、メインスケール1の光透過部11の幅が大きい
ことから、受光面での幾何光学光による明暗パターンの
ピーク値と回折光による干渉縞パターンのピーク値の大
きさを比べると、従来方式に比べて相対的に前者の方が
大きくなるから、これもS/N比向上につながり、また
メインスケール1とフォトダイオードアレイ3間のギャ
ップ変動の影響も小さくなる。
【0026】図5は、この発明の別の実施例の透過型エ
ンコーダの要部構成である。先の実施例と対応する部分
には先の実施例と同一符号を付して詳細な説明は省く。
この実施例では、メインスケール1の光透過部11の幅
をP/3、不透過部12の幅を2P/3としている。そ
の他先の実施例と同様である。この実施例によると、メ
インスケール1の透過光量が先の実施例に比べて半減す
る点で不利であるが、先に数1で説明したところから明
らかなように、3次高調波歪を低減できるという効果は
得られる。
ンコーダの要部構成である。先の実施例と対応する部分
には先の実施例と同一符号を付して詳細な説明は省く。
この実施例では、メインスケール1の光透過部11の幅
をP/3、不透過部12の幅を2P/3としている。そ
の他先の実施例と同様である。この実施例によると、メ
インスケール1の透過光量が先の実施例に比べて半減す
る点で不利であるが、先に数1で説明したところから明
らかなように、3次高調波歪を低減できるという効果は
得られる。
【0027】図6は、受光側に受光手段とは別にインデ
ックススケールを設けた実施例の透過型エンコーダであ
る。この実施例も先の実施例と対応する部分には先の実
施例と同一符号を付してある。インデックススケール6
は、ガラス基板等の透明基板60に、光透過部61と不
透過部62を1:1の幅をもってピッチPで配設したも
のであり、具体的には図7に示すように、90°位相の
ずれたA相用格子部6a1とB相用格子部6b1がx方
向に並べて配置され、またこれらに対してそれぞれ18
0°位相のずれたAB相用格子部6a2とBB相用格子
部6b2がスケール幅方向に隣接して配置されている。
ックススケールを設けた実施例の透過型エンコーダであ
る。この実施例も先の実施例と対応する部分には先の実
施例と同一符号を付してある。インデックススケール6
は、ガラス基板等の透明基板60に、光透過部61と不
透過部62を1:1の幅をもってピッチPで配設したも
のであり、具体的には図7に示すように、90°位相の
ずれたA相用格子部6a1とB相用格子部6b1がx方
向に並べて配置され、またこれらに対してそれぞれ18
0°位相のずれたAB相用格子部6a2とBB相用格子
部6b2がスケール幅方向に隣接して配置されている。
【0028】そしてインデックススケール6の各格子部
に対応してフォトダイオード3a1,3a2,3b1,
3b2が配置され、これらの出力が図1の実施例と同様
に電流電圧変換され、A相出力とAB相出力の差動、B
相出力とBB相出力の差動がとられて、A,B相変位信
号が得られる。この透過型エンコーダにおいても、メイ
ンスケール1の光透過部11が、ピッチPに対して2P
/3の幅に設定されており、従って図1の実施例と同様
の効果が得られる。
に対応してフォトダイオード3a1,3a2,3b1,
3b2が配置され、これらの出力が図1の実施例と同様
に電流電圧変換され、A相出力とAB相出力の差動、B
相出力とBB相出力の差動がとられて、A,B相変位信
号が得られる。この透過型エンコーダにおいても、メイ
ンスケール1の光透過部11が、ピッチPに対して2P
/3の幅に設定されており、従って図1の実施例と同様
の効果が得られる。
【0029】図8は、この発明を反射型の光学式エンコ
ーダに適用した実施例である。図示のように反射型のメ
インスケール7に対して、同じ側に光源9と光源用イン
デックススケール8、及び図1の実施例と同様の受光用
のインデックススケールを兼ねたフォトダイオードアレ
イ3が配置されている。メインスケール7は、図9に拡
大して示すように、基板70に光反射部71と非反射部
(吸収または透過)72をピッチPで、光反射部の幅を
2P/3として配設したものである。光源用インデック
ススケール8はやはり図9に拡大して示したように、透
明基板80に、光透過部81と不透過部82を1:1の
幅をもってピッチPで配設したものである。
ーダに適用した実施例である。図示のように反射型のメ
インスケール7に対して、同じ側に光源9と光源用イン
デックススケール8、及び図1の実施例と同様の受光用
のインデックススケールを兼ねたフォトダイオードアレ
イ3が配置されている。メインスケール7は、図9に拡
大して示すように、基板70に光反射部71と非反射部
(吸収または透過)72をピッチPで、光反射部の幅を
2P/3として配設したものである。光源用インデック
ススケール8はやはり図9に拡大して示したように、透
明基板80に、光透過部81と不透過部82を1:1の
幅をもってピッチPで配設したものである。
【0030】光源9はLED等の拡散光源であり、その
拡散光がピッチPの光源用インデックススケール8に入
射されて、各光透過部81を点光源とするピッチPの二
次光源アレイが得られる。この二次光源アレイからの所
定方向の平行光24により照射されて得られるメインス
ケール7からの幾何光学的反射光パターンのフォトダイ
オードアレイ3への像パターンが、図1の実施例と同様
にして変調されて受光検出される。この実施例によって
も、図1の実施例と同様の効果が得られる。また図には
示さないが、この反射型のエンコーダにおいて、光反射
部71の幅をP/3に設定した場合にも、受光光量は半
減するが、3次高調波歪の低減という効果は得られる。
拡散光がピッチPの光源用インデックススケール8に入
射されて、各光透過部81を点光源とするピッチPの二
次光源アレイが得られる。この二次光源アレイからの所
定方向の平行光24により照射されて得られるメインス
ケール7からの幾何光学的反射光パターンのフォトダイ
オードアレイ3への像パターンが、図1の実施例と同様
にして変調されて受光検出される。この実施例によって
も、図1の実施例と同様の効果が得られる。また図には
示さないが、この反射型のエンコーダにおいて、光反射
部71の幅をP/3に設定した場合にも、受光光量は半
減するが、3次高調波歪の低減という効果は得られる。
【0031】ここまでは光学式エンコーダを説明した
が、同様の原理でこの発明を静電容量式エンコーダにも
適用することができる。静電容量式エンコーダは、原理
的にスケール変位に伴う送受電極間の容量結合の変化を
検出して変位測定を行うものであり、例えば特開平3−
37517号公報に示されたものがあるが、この様なエ
ンコーダのスケール部に対して、先の実施例と同様の容
量結合パターンを生じるような電極配列を用いることに
より、同様に疑似正弦波の変位信号を得ることができ
る。更に、同様の原理による磁気的結合を利用して変位
測定を行う磁気式エンコーダにも同様にこの発明を適用
することが可能である。
が、同様の原理でこの発明を静電容量式エンコーダにも
適用することができる。静電容量式エンコーダは、原理
的にスケール変位に伴う送受電極間の容量結合の変化を
検出して変位測定を行うものであり、例えば特開平3−
37517号公報に示されたものがあるが、この様なエ
ンコーダのスケール部に対して、先の実施例と同様の容
量結合パターンを生じるような電極配列を用いることに
より、同様に疑似正弦波の変位信号を得ることができ
る。更に、同様の原理による磁気的結合を利用して変位
測定を行う磁気式エンコーダにも同様にこの発明を適用
することが可能である。
【0032】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、高
調波歪の内最も大きい3次高調波に注目して、信号転送
部と非転送部の配列からなる第1の部材の矩形波格子に
ついて、信号転送部と非転送部の幅が1:1ではなく、
信号転送部または非転送部の幅を配列ピッチPに対し
て、2P/3に設定することにより、転送される信号パ
ターンから3次高調波成分が除去されるようにしてい
る。特に信号転送部の幅を2P/3に設定することによ
り、従来のように第1の部材の信号転送部と非転送部の
幅を1:1に設定した場合に比べて受信信号の直流成分
が大きくなり、S/Nの向上、応答速度の向上が図ら
れ、変位測定の高精度化と高分解能化が可能になる。
調波歪の内最も大きい3次高調波に注目して、信号転送
部と非転送部の配列からなる第1の部材の矩形波格子に
ついて、信号転送部と非転送部の幅が1:1ではなく、
信号転送部または非転送部の幅を配列ピッチPに対し
て、2P/3に設定することにより、転送される信号パ
ターンから3次高調波成分が除去されるようにしてい
る。特に信号転送部の幅を2P/3に設定することによ
り、従来のように第1の部材の信号転送部と非転送部の
幅を1:1に設定した場合に比べて受信信号の直流成分
が大きくなり、S/Nの向上、応答速度の向上が図ら
れ、変位測定の高精度化と高分解能化が可能になる。
【図1】 この発明の一実施例による透過型エンコーダ
の構成を示す。
の構成を示す。
【図2】 同実施例の要部構成を拡大して示す。
【図3】 同実施例の出力電流波形を示す。
【図4】 同実施例のメインスケール透過光パターンを
示す。
示す。
【図5】 この発明の他の実施例の透過型エンコーダの
構成を示す。
構成を示す。
【図6】 この発明の他の実施例の透過型エンコーダの
構成を示す。
構成を示す。
【図7】 同実施例の受光部側の拡大斜視図を示す。
【図8】 この発明の他の実施例による反射型エンコー
ダの構成を示す。
ダの構成を示す。
【図9】 同実施例の要部を拡大して示す。
1…メインスケール、10…透明基板、11…光透過部
(信号転送部)、12…不透過部(非転送部)、2…光
照射手段、20…LED、21…コリメートレンズ、2
2…平行光、3…フォトダイオードアレイ、30…シリ
コン基板、31…フォトダイオード、4a〜4d…電流
電圧変換器、5a,5b…差動増幅器、6…インデック
ススケール、60…透明基板、61…光透過部、62…
不透過部、7…メインスケール、70…基板、71…光
反射部(信号転送部)、72…非反射部(非転送部)、
8…光源用インデックススケール、81…光透過部、8
2…不透過部、9…LED、101…メインスケール、
102…送信電極、104…インデックススケール、1
05,106…受信電極。
(信号転送部)、12…不透過部(非転送部)、2…光
照射手段、20…LED、21…コリメートレンズ、2
2…平行光、3…フォトダイオードアレイ、30…シリ
コン基板、31…フォトダイオード、4a〜4d…電流
電圧変換器、5a,5b…差動増幅器、6…インデック
ススケール、60…透明基板、61…光透過部、62…
不透過部、7…メインスケール、70…基板、71…光
反射部(信号転送部)、72…非反射部(非転送部)、
8…光源用インデックススケール、81…光透過部、8
2…不透過部、9…LED、101…メインスケール、
102…送信電極、104…インデックススケール、1
05,106…受信電極。
Claims (5)
- 【請求項1】 光転送部と非転送部が所定ピッチで配列
されて矩形波格子を構成する第1の部材と、この第1の
部材に平行光を照射して矩形波の転送光パターンを得る
ための光照射手段と、前記第1の部材と対向して前記光
照射手段と共に前記第1の部材に対してその矩形波格子
の配列方向に相対移動可能に配置され光透過部と不透過
部が所定ピッチで配列されて矩形波格子を構成して前記
第1の部材からの転送光パターンの透過光量を変調する
第2の部材と、この第2の部材の透過光パターンを受光
して前記相対移動に伴って周期変動する変位出力信号を
得る受光手段とを有する変位測定装置において、 前記第1の部材は、矩形波格子を構成する前記光転送部
と非転送部の配列ピッチをPとして、前記光転送部また
は非転送部の幅が2P/3に設定されていることを特徴
とする変位測定装置。 - 【請求項2】 前記第1の部材は、前記光転送部及び非
転送部がピッチPで配列され、かつ前記光転送部の幅が
2P/3に設定された透過型または反射型のメインスケ
ールであり、 前記第2の部材は光透過部及び不透過部が1:1の幅を
もってピッチPで配列されたインデックススケールであ
ることを特徴とする請求項1記載の変位測定装置。 - 【請求項3】 前記第1の部材は、前記光転送部及び非
転送部がピッチPで配列され、前記光転送部の幅が2P
/3に設定された透過型または反射型のメインスケール
であり、 前記受光手段は前記第2の部材の機能を兼ねた受光素子
アレイにより構成されていることを特徴とする請求項1
または2に記載の変位測定装置。 - 【請求項4】 前記受光手段は、90°ずつ位相のずれ
た4種の受光出力信号を出力するものであり、これらの
受光出力信号について180°位相差の受光出力信号の
差動をとることにより90°位相差の二つの変位出力信
号を得る手段を更に備えたことを特徴とする請求項1,
2,3のいずれかに記載の変位測定装置。 - 【請求項5】 信号転送部と非転送部が所定ピッチで配
列されて矩形波格子を構成する第1の部材と、前記第1
の部材と対向してその矩形波格子の配列方向に相対移動
可能に配置されて前記信号転送部に対向する信号受信部
を備えて前記相対移動に伴って前記第1の部材からの矩
形波の転送信号パターンに対応して周期変動する変位出
力信号を得る第2の部材とを有する変位測定装置におい
て、 前記第1の部材は、矩形波格子を構成する前記信号転送
部と非転送部の配列ピッチをPとして、前記信号転送部
または非転送部の幅が2P/3に設定されていることを
特徴とする変位測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8028597A JPH09196705A (ja) | 1996-01-23 | 1996-01-23 | 変位測定装置 |
GB9700739A GB2309779B (en) | 1996-01-23 | 1997-01-15 | Apparatus for measuring displacement |
DE19701925A DE19701925A1 (de) | 1996-01-23 | 1997-01-21 | Vorrichtung zum Messen einer Verschiebung |
US08/786,672 US5889280A (en) | 1996-01-23 | 1997-01-21 | Apparatus for measuring displacement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8028597A JPH09196705A (ja) | 1996-01-23 | 1996-01-23 | 変位測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09196705A true JPH09196705A (ja) | 1997-07-31 |
Family
ID=12253007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8028597A Pending JPH09196705A (ja) | 1996-01-23 | 1996-01-23 | 変位測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5889280A (ja) |
JP (1) | JPH09196705A (ja) |
DE (1) | DE19701925A1 (ja) |
GB (1) | GB2309779B (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005265855A (ja) * | 2004-03-16 | 2005-09-29 | Wai-Hon Lee | 光学式位置エンコーダ装置 |
JP2006071624A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Dr Johannes Heidenhain Gmbh | 光学位置測定装置 |
JP2006153676A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Ricoh Co Ltd | 光学式エンコーダ装置及び画像形成装置 |
JP2007064664A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Canon Inc | 変位測定方法およびその方法を用いた装置 |
JP2007093287A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Tietech Co Ltd | リニアモータ |
JP2009053183A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-03-12 | Kyocera Corp | ステージの位置変動検出装置およびこれを備えた搬送装置 |
JP2009288058A (ja) * | 2008-05-29 | 2009-12-10 | Kyocera Corp | ステージの位置変動検出装置およびこれを備えた搬送装置 |
JP2011075581A (ja) * | 2011-01-17 | 2011-04-14 | Canon Inc | 光学式エンコーダ |
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