JPH09103844A - 鋳型造型用基準ピンの異常検出方法およびその装置 - Google Patents

鋳型造型用基準ピンの異常検出方法およびその装置

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JPH09103844A
JPH09103844A JP28685395A JP28685395A JPH09103844A JP H09103844 A JPH09103844 A JP H09103844A JP 28685395 A JP28685395 A JP 28685395A JP 28685395 A JP28685395 A JP 28685395A JP H09103844 A JPH09103844 A JP H09103844A
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Shigeaki Yamamoto
茂昭 山本
Ikuhito Satou
活仁 佐藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基準ピンに異常が発生した場合、砂型鋳型が
上・下鋳枠のブッシュあるいは合わせピンに対して位置
ずれを起こし、その結果、形成される製品キャビティに
おける上・下砂型鋳型間にずれが生じて不良鋳物が誘発
される。 【解決手段】 予め鋳枠に設けられた目印の所定位置を
測定する工程と、予め模型板に設けられた目印用模型部
によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工
程と、測定された鋳枠の目印の所定位置と測定された鋳
型の目印の所定位置との間の距離を算出する工程と、鋳
枠の目印の所定位置と鋳型の目印の所定位置との間の距
離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差
が存在するか否かをチェックする工程と、を有すること
を特徴とする基準ピンの異常検出方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、鋳枠の模型板に対する
位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法およびそ
の装置に関する。
【0002】
【従来の技術】鋳物を鋳造する手段の一つとして、砂型
鋳型を内蔵した上・下鋳枠を型合わせして所定の製品キ
ャビティを形成し、そのキャビィ内に注湯するようにし
たものがある。これら上・下鋳枠の相互の位置決めは、
上・下鋳枠のいずれか一方に取り付けられたブッシュ
と、他方の鋳枠に取り付けられた合わせピンとの嵌合に
より行われている。そして、砂型鋳型の造型における鋳
枠の模型板に対する位置決めは、模型板あるいは鋳型造
型機に突設された基準ピンを前記ブッシュに嵌入させる
方法によって行われている。
【0003】
【本発明が解決しようとする課題】しかし、上記のよう
な従来の上・下鋳枠の合わせ方法においては、前記基準
ピンが曲がったりして基準ピンに異常が発生した場合、
上・下鋳枠内の各砂型鋳型が前記ブッシュあるいは合わ
せピンに対して位置ずれを起こし、その結果、形成され
る製品キャビティにおける上・下砂型鋳型間にずれが生
じて不良鋳物を誘発するなどの問題があった。本発明は
上記の事情に鑑みて為なされたもので、その目的は曲が
ったりして発生した基準ピンの異常を容易に検出するこ
とができる方法およびその装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明における鋳型造型用基準ピンの異常検出方法
は、鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異
常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた
目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設
けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の
所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠の目印
の所定位置と前記測定された鋳型の目印の所定位置との
間の距離を算出する工程と、前記鋳枠の目印の所定位置
と前記鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測
値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否
かをチェックする工程と、を有することを特徴とする。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例の形態について
図1〜図5に基づき詳細に説明する。図1に示するよう
に、図示しない鋳型造型機から送り出された鋳枠1付き
砂型鋳型2の上方位置には、非接触反射型光学変位セン
サとしてのレーザビーム測長器14をXYZ座標で表示
可能な三次元に移動させる装置が設けてある。そして、
図2に示すように、前記砂型鋳型2の上面の左右両側部
には、図示しない模型板の目印用模型部によって造型さ
れた目印20が造型してあり、この目印20は、図3に
示すように、平面図で見て十字状を成すものであって、
図4および図5に示すように横断面がV字形状を成す2
個の溝で構成してある。目印20は、図2に示すよう
に、鋳枠1の表面上にも目印20aとして刻設してあ
る。
【0006】また、前記砂型鋳型2の上方には、門型フ
レーム3の天井部が配設してあり、門型フレーム3の天
井部にはX座標用の左右移動手段4が装着してある。左
右移動手段4においては、門型フレーム3上に敷設され
たレール5上に走行台6が走行可能に装架して配設して
あり、走行台6には、門型フレーム3に装着された第1
サーボモータ式シリンダ7のピストンロッドの先端が連
結してあって、第1サーボモータ式シリンダ7の伸縮作
動により、走行台6は門型フレーム3の長手方向へ往復
移動するようになっている。
【0007】また、前記左右移動手段4の走行台6上に
はY座標用の前後移動手段8が装着してあり、前後移動
手段8においては、走行台6の移動方向と直交する方向
へ延ばして走行台6に装着したリニアガイド機構9に、
走行フレーム10が、走行可能に装着してあり、走行フ
レーム10には第2サーボモータ式シリンダ11のピス
トンロッドの先端が連結してあって、第2サーボモータ
式シリンダ11の伸縮作動により、走行フレーム10は
前記走行台6の走行方向と直交する方向へ往復移動する
ようになっている。
【0008】また、前記走行フレーム10にはZ座標用
の昇降手段12としての第3サーボモータ式シリンダ1
3が装着してあり、第3サーボモータ式シリンダ13の
ピストンロッドの下端には前記レーザー測長器14が装
着してある。レーザー測長器14にはコントローラ17
が電気的に接続してあり、コントローラ17は、鋳枠1
の目印20の所定位置と砂型鋳型2の目印20aの所定
位置との間の距離について実測値と予め設定された設定
値との間の偏差の有無をチェックする偏差チェック手段
としての機能を有している。また、前記第1〜第3サー
ボモータ式シリンダ7、11、13のサーボモータ7
a、11a、13aには制御盤18が電気的に接続して
あり、この制御盤18は前記コントローラ17に電気的
に接続されている。
【0009】次に、このように構成した装置を用いて、
砂型鋳型2の目印20の中心部Oを所定位置とし、この
目印20の中心部Oと前記鋳枠2の目印20aの中心部
Oaとの間の距離について実測値と予め設定された設定
値との間に偏差が存在するか否かをチェックする手順に
ついて説明する。まず、第1・第2・第3サーボモータ
式シリンダ7、11、13を適宜伸縮作動してレーザー
測長器14を砂型鋳型2の目印20の真上位置に移動さ
せ、砂型鋳型2の目印20の中央部位置を測定する。す
なわち、第3サーボモータ式シリンダ13を適宜伸縮作
動してレーザー測長器14を所定の高さにし、続いて、
第1サーボモータ式シリンダ7を伸長あるいは収縮作動
して、レーザー測長器14を図3においてY座標の値を
Yaの一定にしてX座標の値を変化させ、Ya値におけ
るレーザー測長器14とV字型溝の表面との距離を連続
的にして時々刻々と測定する。
【0010】この測定結果を図示しない記録器により記
録してXZ座標で表示する。そして、図4に示すよう
に、こうして得られた測定値のうち図4における任意の
2つの測定値a1、a2間に係る関係式を、最小2乗法
等の回帰式により1本の回帰線L1として導き、同様に
して、図4における任意の2つの測定値a3、a4も、
図4に示すように、XZ座標で表示し、この2つの測定
値a3、a4間に係る関係式を最小2乗法等の回帰式に
より1本の回帰線L2として導き、これら2本の回帰線
L1、L2の交点から、V字型溝の最深部に係るA点の
座標(Xa,Ya)を割り出す。
【0011】上述したと同様にして、図3におけるV字
型溝の最深部に係るC点の座標(Xc,Yc)を割り出
す。また、前記回帰線L1、L2と同様にして、図5に
おけるL3、L4を導き、これら2本の回帰線L3、L
4の交点から、V字型溝の最深部のB、Dの座標(X
b,Yb)、(Xd,Yd)を割り出す。次いで、線分
ACと線分BDとの交点Oを求める。上述したと同様に
して、前記鋳枠1の目印20aの交点Oaの位置を求
め、続いて、コントローラ17により交点O、Oa間の
距離を算出する。次いで、この交点O、Oa間の距離に
ついて実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存
在するか否かをコントローラ17によりチェックする。
これら2つの交点間距離の間に偏差が存在する場合する
場合には、基準ピンは曲がりなどの異常が生じているこ
ととなる。
【0012】なお、上記の実施例では、鋳枠1および砂
型鋳型2の目印20a、20に係る交点Oa、Oの間の
距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏
差が存在するか否かをチェックするようにしたが、鋳枠
1の2個の目印20a、20aの交点Oa、Oaを結ぶ
線を基準線とし、測定された砂型鋳型2の目印20aの
所定位置と前記決定された基準線との間に偏差が存在す
るか否かについてチェックするようにしてもよい。
【0013】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明
は、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定す
る工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部に
よって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程
と、測定された前記鋳枠の目印の所定位置と測定された
鋳型の目印の所定位置との間の距離を算出する工程と、
前記鋳枠の目印の所定位置と前記鋳型の目印の所定位置
との間の距離について実測値と予め設定された設定値と
の間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を
有するから、基準ピンの異常を容易に検出することがで
きるなどの優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の概略を示す斜視図である。
【図2】図1の主要部(鋳枠、砂型鋳型)の拡大平面図
である。
【図3】図2のE部拡大平面図をXY座標を用いてい表
した図である。
【図4】図3におけるX−X断面と、この断面の表面と
レーザー測長器との間の距離をZX座標を用いて表した
図である。
【図5】図3におけるY−Y断面と、この断面の表面と
レーザー測長器との間の距離をZY座標を用いて表した
図である。
【符号の説明】
4 左右移動手段 8 前後移動手段 12 昇降手段 14 レーザー測長器 17 偏差チェック手段

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基
    準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に
    設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記
    模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳
    型の目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された
    鋳枠の目印の所定位置と前記測定された鋳型の目印の所
    定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠の目印
    の所定位置と前記鋳型の目印の所定位置との間の距離に
    ついて実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存
    在するか否かをチェックする工程と、を有することを特
    徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出方法。
  2. 【請求項2】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基
    準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に
    設けられた少なくとも2個の目印の所定位置を測定する
    工程と、前記測定された鋳枠の2個の目印の所定位置に
    より基準線を決定する工程と、予め前記模型板に設けら
    れた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定
    位置を測定する工程と、測定された鋳型の目印の所定位
    置と前記決定された基準線との間に偏差が存在するか否
    かについてチェックする工程と、を有することを特徴と
    する鋳型造型用基準ピンの異常検出方法。
  3. 【請求項3】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基
    準ピンの異常を検出する装置であって、鋳型の目印の所
    定位置を測定する非接触反射型光学変位センサ14と、
    この非接触反射型光学変位センサを昇降させる昇降手段
    12と、この昇降手段12および前記非接触反射型光学
    変位センサを前後方向へ移動させる前後移動手段8と、
    この前後移動手段8、前記昇降手段12および前記非接
    触反射型光学変位センサを左右方向へ移動させる左右移
    動手段4と、鋳枠の目印の所定位置と鋳型の目印の所定
    位置との間の距離について実測値と予め設定された設定
    値との間の偏差の有無をチェックする偏差チェック手段
    17と、を備えたことを特徴とする鋳型造型用基準ピン
    の異常検出装置。
  4. 【請求項4】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基
    準ピンの異常を検出する装置であって、鋳型の目印の所
    定位置を測定する非接触反射型光学変位センサ14と、
    この非接触反射型光学変位センサを昇降させる昇降手段
    12と、この昇降手段12および前記非接触反射型光学
    変位センサを前後方向へ移動させる前後移動手段8と、
    この前後移動手段8、前記昇降手段12および前記非接
    触反射型光学変位センサを左右方向へ移動させる左右移
    動手段4と、測定された鋳型の目印の所定位置が前記鋳
    枠に設けられた2個以上の目印の所定位置の測定により
    決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについ
    てチェックするチェック手段と、を備えたことを特徴と
    する鋳型造型用基準ピンの異常検出装置。
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