JPH0854366A - 液体中のアナライト定量測定装置におけるサンプリング室の洗浄および較正方法 - Google Patents
液体中のアナライト定量測定装置におけるサンプリング室の洗浄および較正方法Info
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- JPH0854366A JPH0854366A JP7079309A JP7930995A JPH0854366A JP H0854366 A JPH0854366 A JP H0854366A JP 7079309 A JP7079309 A JP 7079309A JP 7930995 A JP7930995 A JP 7930995A JP H0854366 A JPH0854366 A JP H0854366A
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- passage
- fluid
- sampling
- sampling chamber
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 基準電極充填溶液または較正溶液を汚染する
ことなくサンプリング室を迅速かつ効果的に洗浄しかつ
サンプリング室内の感知部分への較正溶液の導入を行
う。 【構成】 液体サンプルを通路45および第1サンプリ
ング室47と基準電極室47Aとの間で合流する一方向
弁を形成する第2通路212を有し、第2通路が液体サ
ンプル以外の流体を維持した儘で前記液体サンプルを第
1サンプリング室47から基準室47Aへ流入させかつ
両者の電位が測定され、その後第2通路を維持したまま
洗浄流体を第1通路に逆方向から流入させて液体サンプ
ルを押し流し、更に、洗浄流体を第2通路から基準電極
室を通ることなく前記第1サンプリング室に流入させ、
最後に較正流体を第1サンプリング室から基準室へ逆流
させ、両室の較正電位を測定する。
ことなくサンプリング室を迅速かつ効果的に洗浄しかつ
サンプリング室内の感知部分への較正溶液の導入を行
う。 【構成】 液体サンプルを通路45および第1サンプリ
ング室47と基準電極室47Aとの間で合流する一方向
弁を形成する第2通路212を有し、第2通路が液体サ
ンプル以外の流体を維持した儘で前記液体サンプルを第
1サンプリング室47から基準室47Aへ流入させかつ
両者の電位が測定され、その後第2通路を維持したまま
洗浄流体を第1通路に逆方向から流入させて液体サンプ
ルを押し流し、更に、洗浄流体を第2通路から基準電極
室を通ることなく前記第1サンプリング室に流入させ、
最後に較正流体を第1サンプリング室から基準室へ逆流
させ、両室の較正電位を測定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体中のアナライト定
量装置におけるサンプリング室の洗浄および較正方法に
関し、さらに詳しくは、基準電極第2室を含んでいる第
2モジュールユニットに隣接して位置決めされるモジュ
ール測定室ユニット内に含まれる液体中のアナライト定
量測定装置における第1サンプリング室を洗浄かつ較正
する方法に関するものである。
量装置におけるサンプリング室の洗浄および較正方法に
関し、さらに詳しくは、基準電極第2室を含んでいる第
2モジュールユニットに隣接して位置決めされるモジュ
ール測定室ユニット内に含まれる液体中のアナライト定
量測定装置における第1サンプリング室を洗浄かつ較正
する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、種々の電気化学測定装置において
は多数の測定室ユニットが使用されている。アメリカ合
衆国特許第4,160,714号はpH値、ガス値のた
めに使用される単一ユニット測定室を記載しておりそし
て血液のごとき体液中の金属イオンを含有する種々のア
ナライトを測定するのに使用するため他の型式が知られ
ている。基準電極を使用しかつ基準電極と流体が該流体
のイオン含有量を定量すべくその上に通される薄膜の下
に取り付けられた電極との間の起電力を測定することが
知られている。カリウム、ナトリウム等のごときイオン
はこのような設備によって医学研究室において慣習上試
験される。通常のエレクトロニクス、ポンピングおよび
流量計等が測定室および電極を含む測定用ユニットと相
互に接続される。
は多数の測定室ユニットが使用されている。アメリカ合
衆国特許第4,160,714号はpH値、ガス値のた
めに使用される単一ユニット測定室を記載しておりそし
て血液のごとき体液中の金属イオンを含有する種々のア
ナライトを測定するのに使用するため他の型式が知られ
ている。基準電極を使用しかつ基準電極と流体が該流体
のイオン含有量を定量すべくその上に通される薄膜の下
に取り付けられた電極との間の起電力を測定することが
知られている。カリウム、ナトリウム等のごときイオン
はこのような設備によって医学研究室において慣習上試
験される。通常のエレクトロニクス、ポンピングおよび
流量計等が測定室および電極を含む測定用ユニットと相
互に接続される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
した形式の液体中のアナライト定量装置における基準電
極充填溶液または他の汚染源により較正溶液を汚染する
ことなく迅速かつ効果的に洗浄し、かつ、複数のモジュ
ラユニットの選択されたサンプリング室内の感知部分へ
の較正溶液の導入方法を提供することにある。
した形式の液体中のアナライト定量装置における基準電
極充填溶液または他の汚染源により較正溶液を汚染する
ことなく迅速かつ効果的に洗浄し、かつ、複数のモジュ
ラユニットの選択されたサンプリング室内の感知部分へ
の較正溶液の導入方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明に依ると、前記ユ
ニットは前記室と前記ユニットとの間に通路を画成し、
第2の一方向弁の通路は前記基準電極第2室と前記サン
プリング室との間の前記通路と交差し、液体サンプルを
前記通路を介して前記サンプリング室から前記基準室に
通しそれにより電位の測定が前記サンプル以外の第2流
体により充填された前記第2通路を維持しながら前記室
間で行なわれることができ、流体で充填された前記第2
通路を維持しながらサンプル流体を除去すべく前記サン
プリング室を介して前記基準室から洗浄流体を通すこと
により前記基準室とサンプリング室間の流体の流れを逆
にし、洗浄液の流れが前記基準室に最初に通ることなく
前記洗浄後の流れを前記第2通路を介して前記サンプリ
ング測定室に通し、較正流体を前記サンプリング室から
前記基準室へ再び通すべく流れを逆にする一方前記第2
通路が静止流体を維持しそれにより較正測定が前記サン
プリング室と前記基準室との間の電位を測定可能である
ことを特徴とする第1サンプリング室洗浄およひ較正方
法に依って解決される。
ニットは前記室と前記ユニットとの間に通路を画成し、
第2の一方向弁の通路は前記基準電極第2室と前記サン
プリング室との間の前記通路と交差し、液体サンプルを
前記通路を介して前記サンプリング室から前記基準室に
通しそれにより電位の測定が前記サンプル以外の第2流
体により充填された前記第2通路を維持しながら前記室
間で行なわれることができ、流体で充填された前記第2
通路を維持しながらサンプル流体を除去すべく前記サン
プリング室を介して前記基準室から洗浄流体を通すこと
により前記基準室とサンプリング室間の流体の流れを逆
にし、洗浄液の流れが前記基準室に最初に通ることなく
前記洗浄後の流れを前記第2通路を介して前記サンプリ
ング測定室に通し、較正流体を前記サンプリング室から
前記基準室へ再び通すべく流れを逆にする一方前記第2
通路が静止流体を維持しそれにより較正測定が前記サン
プリング室と前記基準室との間の電位を測定可能である
ことを特徴とする第1サンプリング室洗浄およひ較正方
法に依って解決される。
【0005】
【作用】このような方法により、サンプリング室の流体
力学的設計のため、迅速な洗浄を達成することができ
る。通路はユニット内にクズを捕らえることおよびその
形成を阻止するように配置されることができる。使用の
際、補助通路はサンプル導入場所から離れてかつ汚染し
易い弁を持つサンプル導入場所を複雑化することなく較
正流体の迅速かつ有効な導入を供給することができる。
従って、この通路は較正流体がその流れにより室を直接
洗浄し、かつ較正流体自体の測定も容易である。
力学的設計のため、迅速な洗浄を達成することができ
る。通路はユニット内にクズを捕らえることおよびその
形成を阻止するように配置されることができる。使用の
際、補助通路はサンプル導入場所から離れてかつ汚染し
易い弁を持つサンプル導入場所を複雑化することなく較
正流体の迅速かつ有効な導入を供給することができる。
従って、この通路は較正流体がその流れにより室を直接
洗浄し、かつ較正流体自体の測定も容易である。
【0006】ゲルおよび特定の弾性マウントの使用は非
常に用途が広く、迅速に洗浄されかつ容易に較正されそ
して流体かつとくに血液の如き体液のイオン濃度を迅速
かつ正確に測定するサンプリング室の装置全体への正確
な取付けを容易に達成する。小断面通路およびサンプリ
ング室の配備により試し用の応答時間を15秒以下程度
に抑えられる。本発明の上記および他の特徴、目的およ
び利点は添付図面を参照することによってより良く理解
される。
常に用途が広く、迅速に洗浄されかつ容易に較正されそ
して流体かつとくに血液の如き体液のイオン濃度を迅速
かつ正確に測定するサンプリング室の装置全体への正確
な取付けを容易に達成する。小断面通路およびサンプリ
ング室の配備により試し用の応答時間を15秒以下程度
に抑えられる。本発明の上記および他の特徴、目的およ
び利点は添付図面を参照することによってより良く理解
される。
【0007】
【実施例】図面とくに図1において、試験モジュールユ
ニット装置は分解図で符号10によって示され、関連の
係止機構をもつ係止ボルトまたはロッド15および16
によりハウジング14内に取り付けられる3つのモジュ
ールユニット11,12および13を有しそしてハウジ
ング内に取り付けられかつ基準電極を内蔵する符号19
で示される電極取付け構体を有し、かつこの構体に連設
された2つの電極取付け構体17,18を有する。好適
な実施例の試験モジュールユニット装置10のモジュー
ルユニット11が基準電極サンプリング室として作用す
るように容積を減少したサンプリング室47Aを有して
おり、それ以外の使用されるユニットは実質上同一構成
を有しており、それ故に1つのモジュラユニットのみに
就いて以下詳しく説明する。
ニット装置は分解図で符号10によって示され、関連の
係止機構をもつ係止ボルトまたはロッド15および16
によりハウジング14内に取り付けられる3つのモジュ
ールユニット11,12および13を有しそしてハウジ
ング内に取り付けられかつ基準電極を内蔵する符号19
で示される電極取付け構体を有し、かつこの構体に連設
された2つの電極取付け構体17,18を有する。好適
な実施例の試験モジュールユニット装置10のモジュー
ルユニット11が基準電極サンプリング室として作用す
るように容積を減少したサンプリング室47Aを有して
おり、それ以外の使用されるユニットは実質上同一構成
を有しており、それ故に1つのモジュラユニットのみに
就いて以下詳しく説明する。
【0008】図1、図2および図3に示されるごとく、
各ユニットは前方面或は前方壁20、後方面或いは後方
壁21および端面22および23で見られるような略T
形状断面を有する。該T形状断面を形成する各モジュー
ルユニットは、好ましくは堅固な金属ハウジング14の
下方で切断されたT形状切欠26内にきちんと納まって
摺動すべくなされた翼状突起または翼24および25を
その両側に備えている。T形状切欠26はユニット11
が順次摺動嵌入されることができるようにユニット11
の全体断面に適合させる。所望の複数個の試験モジュー
ルユニットを収容するようにハウジングを寸法付けるこ
とにより、所望される大きさを決定することができる。
好適な実施例において、ユニット11のごとき各モジュ
ールユニットは約25.4ミリメートルの高さおよび約
25.4ミリメートルの前方から後方への深さを有す
る。翼24および25の端部への全体幅は約31.75
ミリメートルである。注意すべきは、前方面20が後方
面21に対して略平行であると見做されるが、審美的か
つ拡大観察のため前方面が幾らか彎曲しているというこ
とである。前方面20の特別な形状はT字または凹まさ
れた他の装置が取付け用切欠を設けるべく使用されるこ
とができるように所望の形状に変形することが可能であ
り、幾つかの場合においては他の取付け手段も使用可能
である。
各ユニットは前方面或は前方壁20、後方面或いは後方
壁21および端面22および23で見られるような略T
形状断面を有する。該T形状断面を形成する各モジュー
ルユニットは、好ましくは堅固な金属ハウジング14の
下方で切断されたT形状切欠26内にきちんと納まって
摺動すべくなされた翼状突起または翼24および25を
その両側に備えている。T形状切欠26はユニット11
が順次摺動嵌入されることができるようにユニット11
の全体断面に適合させる。所望の複数個の試験モジュー
ルユニットを収容するようにハウジングを寸法付けるこ
とにより、所望される大きさを決定することができる。
好適な実施例において、ユニット11のごとき各モジュ
ールユニットは約25.4ミリメートルの高さおよび約
25.4ミリメートルの前方から後方への深さを有す
る。翼24および25の端部への全体幅は約31.75
ミリメートルである。注意すべきは、前方面20が後方
面21に対して略平行であると見做されるが、審美的か
つ拡大観察のため前方面が幾らか彎曲しているというこ
とである。前方面20の特別な形状はT字または凹まさ
れた他の装置が取付け用切欠を設けるべく使用されるこ
とができるように所望の形状に変形することが可能であ
り、幾つかの場合においては他の取付け手段も使用可能
である。
【0009】好適な実施例において、ナット30,3
1;32,33および関連のワッシャ34,35;3
6,37を有する係止ボルト15および16は端部材3
8および39を介して上端および下端に位置する各モジ
ュールユニットに係止される。適宜な孔40および41
は各モジュールユニットを貫通する。底部および頂部端
部材38および39は入口管42および出口管(図示せ
ず)を有して示されるごとく略T形状であり、端部材3
8に組み立てたユニット11,12および13の一端か
らユニット通路44で示される円形貫通路が他端に連通
するように穿設されている。
1;32,33および関連のワッシャ34,35;3
6,37を有する係止ボルト15および16は端部材3
8および39を介して上端および下端に位置する各モジ
ュールユニットに係止される。適宜な孔40および41
は各モジュールユニットを貫通する。底部および頂部端
部材38および39は入口管42および出口管(図示せ
ず)を有して示されるごとく略T形状であり、端部材3
8に組み立てたユニット11,12および13の一端か
らユニット通路44で示される円形貫通路が他端に連通
するように穿設されている。
【0010】各ユニット11,12および13の材料は
好ましくは剛性を有する明るいプラスチックである。可
視性ならびに必要な支持性を備えた、ポリエチレン、ア
クリル、ビニル材料等ならびに他の熱可塑性および熱硬
化性材料が使用されることができる。幾つかの場合にお
いて、ガラスまたは他のセラミックを使用することも可
能である。各ブロック12および13の円形貫通路とし
て形成されたユニット通路44は垂直な第1通路部分4
5に対してある角度で傾斜した第2通路部分46、サン
プリングまたは測定室47、前記第2通路部分46とは
反対方向にある角度で傾斜した第3通路部分48および
垂直な第4通路部分49を画成する。したがって通路そ
れ自体は各ユニットを完全に通る一連の流動室を提供す
る。
好ましくは剛性を有する明るいプラスチックである。可
視性ならびに必要な支持性を備えた、ポリエチレン、ア
クリル、ビニル材料等ならびに他の熱可塑性および熱硬
化性材料が使用されることができる。幾つかの場合にお
いて、ガラスまたは他のセラミックを使用することも可
能である。各ブロック12および13の円形貫通路とし
て形成されたユニット通路44は垂直な第1通路部分4
5に対してある角度で傾斜した第2通路部分46、サン
プリングまたは測定室47、前記第2通路部分46とは
反対方向にある角度で傾斜した第3通路部分48および
垂直な第4通路部分49を画成する。したがって通路そ
れ自体は各ユニットを完全に通る一連の流動室を提供す
る。
【0011】各モジュールユニットの頂部および底部の
平行面に於ける通路端部は符号50で示されるパッキン
によって取り囲まれる。図1に示されるような試験モジ
ュールユニット装置1にパッキン50が配置されると
き、1つのパッキン50が隣接するユニット間の整合面
に介挿され、かつ同様にパッキンの配置が液体密封を行
うように各端部ブロックの入口管42を介して貫通路を
形成する。従って、パッキンは各ブロックに1つだけ使
用される事となる。モジュールユニット11において、
基準電極に対応するサンプリング室47Aは通路46お
よび48の交点間によって形成され、かつ基準電極薄膜
に隣接する略長円形面を有する。
平行面に於ける通路端部は符号50で示されるパッキン
によって取り囲まれる。図1に示されるような試験モジ
ュールユニット装置1にパッキン50が配置されると
き、1つのパッキン50が隣接するユニット間の整合面
に介挿され、かつ同様にパッキンの配置が液体密封を行
うように各端部ブロックの入口管42を介して貫通路を
形成する。従って、パッキンは各ブロックに1つだけ使
用される事となる。モジュールユニット11において、
基準電極に対応するサンプリング室47Aは通路46お
よび48の交点間によって形成され、かつ基準電極薄膜
に隣接する略長円形面を有する。
【0012】各試験モジュールユニットはさらにそれを
隣接するユニットおよび/または端部材と整列かつ連結
するための手段からなる。この手段は好ましくは隣接す
るモジュールユニットの対向面およびピン61,62に
よって示される係合手段からなる。ピン61,62は各
ユニットの一端から延びかつ隣接するユニットの対応す
る凹所63,64と一致させるようになされている。ユ
ニットとともに係止するのに種々の連結装置を使用する
ことができる。
隣接するユニットおよび/または端部材と整列かつ連結
するための手段からなる。この手段は好ましくは隣接す
るモジュールユニットの対向面およびピン61,62に
よって示される係合手段からなる。ピン61,62は各
ユニットの一端から延びかつ隣接するユニットの対応す
る凹所63,64と一致させるようになされている。ユ
ニットとともに係止するのに種々の連結装置を使用する
ことができる。
【0013】図1に示した実施例において、係止ボルト
15,16は端部材38,39を貫通し、ナット30,
31;32,33はハウジング14内に横たわりかつと
もに係止されるすべてのユニット11,12および13
と係合されかつ組み立てられる。相互に係止されたモジ
ュールユニットは係止ボルト15および16によって一
体ユニットとして維持される。図示のごとく共に結合し
たユニットはそれぞれのサンプリングまたは測定室47
の外周に対して弾性0−リング81を電極ホルダスリー
ブ80を介して押圧する係止口金83によって単独でハ
ウジング内に保持することも可能である。
15,16は端部材38,39を貫通し、ナット30,
31;32,33はハウジング14内に横たわりかつと
もに係止されるすべてのユニット11,12および13
と係合されかつ組み立てられる。相互に係止されたモジ
ュールユニットは係止ボルト15および16によって一
体ユニットとして維持される。図示のごとく共に結合し
たユニットはそれぞれのサンプリングまたは測定室47
の外周に対して弾性0−リング81を電極ホルダスリー
ブ80を介して押圧する係止口金83によって単独でハ
ウジング内に保持することも可能である。
【0014】図1、図4および図5に示されるごとく、
ユニット11,12および13の位置決め後、電極取付
け構体17,18,19は次いで図1および図2の配置
を形成するように位置決めされる。これはモジュール1
1の後方面21に対して符号82でかつ図4に最良に示
されるごとくハウジング14に設けられた適宜な孔内で
ハウジング14を貫通する先端に弾性O−リング81を
有する筒状段付きの電極ホルダスリーブ80をまずサン
プリング室47に面して位置決めされる。筒状のスリー
ブ80はハウジングの内ネジと合うように外ネジが切ら
れた係止口金83によって所定位置に保持される。ま
た、ハウジング14に取り付けられた回転阻止手段を形
成するピン302および電極ホルダスリーブ80の外周
面に長さ方向に沿って切り欠かれかつこのピンに係合す
るスロット303が穿設されている。
ユニット11,12および13の位置決め後、電極取付
け構体17,18,19は次いで図1および図2の配置
を形成するように位置決めされる。これはモジュール1
1の後方面21に対して符号82でかつ図4に最良に示
されるごとくハウジング14に設けられた適宜な孔内で
ハウジング14を貫通する先端に弾性O−リング81を
有する筒状段付きの電極ホルダスリーブ80をまずサン
プリング室47に面して位置決めされる。筒状のスリー
ブ80はハウジングの内ネジと合うように外ネジが切ら
れた係止口金83によって所定位置に保持される。ま
た、ハウジング14に取り付けられた回転阻止手段を形
成するピン302および電極ホルダスリーブ80の外周
面に長さ方向に沿って切り欠かれかつこのピンに係合す
るスロット303が穿設されている。
【0015】電極ホルダスリーブ80は、電極ホルダ9
0の前端部分に長さ方向に沿って切り欠かれたスロット
301と係合し、かつ保持キャップ85を取り付けると
きにホルダ90の回転を阻止するように内方に延びるピ
ン300を有する。筒状の電極ホルダスリーブは、公知
のバヨネット受け継手用のL形鍵穴84を後方端部に有
する。これに係合可能なバヨネット回し金を形成する結
合ピン86が保持キャップ85の内周面に突設されてお
り、電極ホルダ90の後方延長部分を囲撓するばね91
の圧縮による偏倚に抗して前記スリーブ80内で電極ホ
ルダ90をモジュールユニットのサンプリング室47に
押接されている。結合ピン86と鍵穴84とは角回動に
より公知の如くバヨネット結合され、電極ホルダ取付け
構体17は保持キャップ85と結合され、この状態は図
4に詳しく示されている。
0の前端部分に長さ方向に沿って切り欠かれたスロット
301と係合し、かつ保持キャップ85を取り付けると
きにホルダ90の回転を阻止するように内方に延びるピ
ン300を有する。筒状の電極ホルダスリーブは、公知
のバヨネット受け継手用のL形鍵穴84を後方端部に有
する。これに係合可能なバヨネット回し金を形成する結
合ピン86が保持キャップ85の内周面に突設されてお
り、電極ホルダ90の後方延長部分を囲撓するばね91
の圧縮による偏倚に抗して前記スリーブ80内で電極ホ
ルダ90をモジュールユニットのサンプリング室47に
押接されている。結合ピン86と鍵穴84とは角回動に
より公知の如くバヨネット結合され、電極ホルダ取付け
構体17は保持キャップ85と結合され、この状態は図
4に詳しく示されている。
【0016】測定電極用電極構体自体は図5に最良に示
される。電極ホルダ90は外部にネジが切られた取外し
可能な電極キャップ101と係合するように内ネジが切
られた主体部分100からなる。筒状電極キャップ10
1はこれに柔軟な、低硬度または弾力があるが固いゴム
またはPVC(可塑化された)から好ましくは形成され
る筒状のキャップマウント102を内装している。この
キャップマウント102はカリウムイオン濃度またはナ
トリウムイオン濃度を測定するため、または基準電極用
イオンの流れを供給するため、従来一般に知られた形の
化学的に鋭敏な薄膜のごとき薄膜103を撓み得るよう
にしかし堅固に取り付けている。筒状のキャップマウン
ト102はある程度の硬さを有するが、弾性的に各モジ
ュールユニットの後方面21に対して薄膜103を押接
する。
される。電極ホルダ90は外部にネジが切られた取外し
可能な電極キャップ101と係合するように内ネジが切
られた主体部分100からなる。筒状電極キャップ10
1はこれに柔軟な、低硬度または弾力があるが固いゴム
またはPVC(可塑化された)から好ましくは形成され
る筒状のキャップマウント102を内装している。この
キャップマウント102はカリウムイオン濃度またはナ
トリウムイオン濃度を測定するため、または基準電極用
イオンの流れを供給するため、従来一般に知られた形の
化学的に鋭敏な薄膜のごとき薄膜103を撓み得るよう
にしかし堅固に取り付けている。筒状のキャップマウン
ト102はある程度の硬さを有するが、弾性的に各モジ
ュールユニットの後方面21に対して薄膜103を押接
する。
【0017】アメリカ合衆国特許第3,562,129
号に開示されたバリノミシン薄膜は1つの例としてこの
薄膜103に使用可能である。薄膜103は筒状のキャ
ップマウント102の平らな端面104に結合されかつ
薄膜の後方に位置する第1室106の中央部分を画成す
る作用区域105を有する。薄膜は好ましくは実質上平
面でありかつ好ましくはそれを通って流れる流体の測定
および試験中密封状態を最大かつ最適にすべく使用にお
いてその外面の平面から0.127ミリメートル以上ず
れない。モジュールユニット11に対応する薄膜103
は「基準液接合薄膜」のごとき基準(リファレンス)薄
膜である。
号に開示されたバリノミシン薄膜は1つの例としてこの
薄膜103に使用可能である。薄膜103は筒状のキャ
ップマウント102の平らな端面104に結合されかつ
薄膜の後方に位置する第1室106の中央部分を画成す
る作用区域105を有する。薄膜は好ましくは実質上平
面でありかつ好ましくはそれを通って流れる流体の測定
および試験中密封状態を最大かつ最適にすべく使用にお
いてその外面の平面から0.127ミリメートル以上ず
れない。モジュールユニット11に対応する薄膜103
は「基準液接合薄膜」のごとき基準(リファレンス)薄
膜である。
【0018】保持キャップ85は薄膜103を所定位置
に螺合しかつ交換のために取り外すことができる。した
がって保持キャップ85は容易な薄膜交換を許容する。
係止ピン300が主体部分100を固着しかつ軸方向回
転を阻止しており、キャップマウント102は主体部分
100が何等かの理由のためスリーブ80から取り外さ
れてもその儘元の位置に正確に位置決めされ続けるの
で、後方面21に対する薄膜103の密封が維持され
る。シリコンゴムパッキンのごときゴム材からなるO−
リング107はこれが二次的密封であり、かつすべての
場合に必要ではないが、薄膜をもモジュールユニット1
1の後方面21に対して密封するように薄膜の周縁部に
配設される。O−リングはしばしば圧力が後方面21に
対して薄膜を押し付けるように加えられるとき、作用す
るキャップマウント102の弾力性により省かれ、それ
により後方面21とキャップマウントとの間の密封を形
成しかつサンプリング室47内に液体を完全に密封す
る。
に螺合しかつ交換のために取り外すことができる。した
がって保持キャップ85は容易な薄膜交換を許容する。
係止ピン300が主体部分100を固着しかつ軸方向回
転を阻止しており、キャップマウント102は主体部分
100が何等かの理由のためスリーブ80から取り外さ
れてもその儘元の位置に正確に位置決めされ続けるの
で、後方面21に対する薄膜103の密封が維持され
る。シリコンゴムパッキンのごときゴム材からなるO−
リング107はこれが二次的密封であり、かつすべての
場合に必要ではないが、薄膜をもモジュールユニット1
1の後方面21に対して密封するように薄膜の周縁部に
配設される。O−リングはしばしば圧力が後方面21に
対して薄膜を押し付けるように加えられるとき、作用す
るキャップマウント102の弾力性により省かれ、それ
により後方面21とキャップマウントとの間の密封を形
成しかつサンプリング室47内に液体を完全に密封す
る。
【0019】また、注意すべきは、筒状孔105Aの円
形断面積で表された有効作用区域105は薄膜に露出さ
れた第1室内の伝導ゲル材料の全断面が、ユニット側の
サンプリング室47の被測定液体の流路面に前記薄膜1
03を介して完全に露出されるように前記サンプリング
室47の断面積より小さいということである。第1室1
06は室108と整列されかつ事実上それと一連の電極
ホルダの第2室を形成している。内部電極109は「キ
ースレイ・モデル616ポテンショメータ」のごとき適
当な電位差測定装置により電極感知面から出力された信
号を外部測定可能にするべく導電性材料より作成されて
いる。
形断面積で表された有効作用区域105は薄膜に露出さ
れた第1室内の伝導ゲル材料の全断面が、ユニット側の
サンプリング室47の被測定液体の流路面に前記薄膜1
03を介して完全に露出されるように前記サンプリング
室47の断面積より小さいということである。第1室1
06は室108と整列されかつ事実上それと一連の電極
ホルダの第2室を形成している。内部電極109は「キ
ースレイ・モデル616ポテンショメータ」のごとき適
当な電位差測定装置により電極感知面から出力された信
号を外部測定可能にするべく導電性材料より作成されて
いる。
【0020】電極ホルダ主体部分100は電極キャップ
101と同様に硬質ビニル材料または他のプラスチック
からなることができる。弾力性を有するマウント材料は
それらが第1室106および第2室108内で液体と相
互に作用しない限り多種の材料で成形されることができ
る。キャップマウント102は薄膜103に当接してい
る。液体は、好ましくは、例えば140mM NaCl/4mM K
Clのごとき公知の導電性溶液である。第1室106は伝
導材料からなるゲルで充填される。ゲルは液体と接触し
かつしたがって内部電極109とモジュールの第2ユニ
ットに隣接する基準電極との間の起電力の電気的感知を
許容する電極と薄膜との間の電気的連続性がある。
101と同様に硬質ビニル材料または他のプラスチック
からなることができる。弾力性を有するマウント材料は
それらが第1室106および第2室108内で液体と相
互に作用しない限り多種の材料で成形されることができ
る。キャップマウント102は薄膜103に当接してい
る。液体は、好ましくは、例えば140mM NaCl/4mM K
Clのごとき公知の導電性溶液である。第1室106は伝
導材料からなるゲルで充填される。ゲルは液体と接触し
かつしたがって内部電極109とモジュールの第2ユニ
ットに隣接する基準電極との間の起電力の電気的感知を
許容する電極と薄膜との間の電気的連続性がある。
【0021】好ましくは、ゲルは25℃で少なくとも1
5,000センチポワーズの粘度を有する。ゲル用材料
は、好ましくは水性ベースのポリアクリルアミドで、該
ポリアクリルアミドは例えば2〜25重量%のポリアク
リルアミドのような小量の架橋剤とともにゲル全体の3
ないし30重量%である。さらに、ゲルは従来の銀/塩
化銀内部電極であってもよい電極を取り囲む液体のため
従来公知であるような導電性イオンを含んでいる。この
液は通常の内部充填溶液でありかつ例えば140mM NaC
l/4mM KClからなっても良い。
5,000センチポワーズの粘度を有する。ゲル用材料
は、好ましくは水性ベースのポリアクリルアミドで、該
ポリアクリルアミドは例えば2〜25重量%のポリアク
リルアミドのような小量の架橋剤とともにゲル全体の3
ないし30重量%である。さらに、ゲルは従来の銀/塩
化銀内部電極であってもよい電極を取り囲む液体のため
従来公知であるような導電性イオンを含んでいる。この
液は通常の内部充填溶液でありかつ例えば140mM NaC
l/4mM KClからなっても良い。
【0022】好ましくは、薄膜の下に横たわる作動区域
105は約0.2平方ミリメートルから約13平方ミリ
メートル以下の範囲にある断面積を有する。これはゲル
を使用するような薄膜の撓みを最小にする。ゲルはこれ
が液体とゲルとの間の密封および正確な直接接触により
液体充填室部分に隣接して取外し可能な先端キャップの
位置決めを可能にすることによってさらに他の機能を有
する。両部分が液体で充填されるならばこれを行ない難
いが図5に符号110で示されるごとく端キャップの端
部を越えて延びるゲルの一部分を有することは簡単であ
る。また、ゲルの使用は感知薄膜のすぐ後ろにトラップ
されている泡の危険を除去する。ポリアクリルアミド以
外のゲルも使用することができそして寒天およびデラウ
エア州ウイルミントンのハーキュリーズ・カンパニーの
商標を付した製品「ナトロゾル」のごとき工業製品を含
むことができる。
105は約0.2平方ミリメートルから約13平方ミリ
メートル以下の範囲にある断面積を有する。これはゲル
を使用するような薄膜の撓みを最小にする。ゲルはこれ
が液体とゲルとの間の密封および正確な直接接触により
液体充填室部分に隣接して取外し可能な先端キャップの
位置決めを可能にすることによってさらに他の機能を有
する。両部分が液体で充填されるならばこれを行ない難
いが図5に符号110で示されるごとく端キャップの端
部を越えて延びるゲルの一部分を有することは簡単であ
る。また、ゲルの使用は感知薄膜のすぐ後ろにトラップ
されている泡の危険を除去する。ポリアクリルアミド以
外のゲルも使用することができそして寒天およびデラウ
エア州ウイルミントンのハーキュリーズ・カンパニーの
商標を付した製品「ナトロゾル」のごとき工業製品を含
むことができる。
【0023】図3の(C)にはモジュールユニット21
1が示されており、第1および2図に示された同ユニッ
ト11の変形例であり、両者の差異は以下に記載される
ような補助通路212を別途配設した点にある。
1が示されており、第1および2図に示された同ユニッ
ト11の変形例であり、両者の差異は以下に記載される
ような補助通路212を別途配設した点にある。
【0024】図3の(A)は実質上ダイヤモンド形状ま
たは長円形状のサンプリングまたは測定室47を示す。
注意すべきは、後方面21の面内に位置する測定室の一
側が薄膜103の表面または電極キャップ101の端部
によって閉鎖されると同時に、前記測定室の凹みが測定
装置の1部分を形成するということである。入口130
および出口120はディフューザおよびノズルをそれぞ
れ形成している。これは室内での粒状物の堆積を阻止し
かつ急速な流れを許容する。これは実質上液体路内の
「デッドスペース」を減少し、したがって主としてデッ
ドスペース内に残る不循環液体汚染物を効果的に除去す
る。流路は液体が室に入ると急速に膨脹しかつ略ダイヤ
モンド形状室の略直立側壁によってゆっくりノズル噴射
される。好ましくは流路外スペースを最小にするように
室の壁の接合点に半径が形成される。そのいずれかが入
口として使用される室通路部分46および48が図2に
示したように測定室47の実質的な平面に対してある角
度で曲げられるため、洗浄作用を有する或る乱流が形成
されるが、乱流作用は記載されたノズルおよびディフュ
ーザ機能のため集中する。
たは長円形状のサンプリングまたは測定室47を示す。
注意すべきは、後方面21の面内に位置する測定室の一
側が薄膜103の表面または電極キャップ101の端部
によって閉鎖されると同時に、前記測定室の凹みが測定
装置の1部分を形成するということである。入口130
および出口120はディフューザおよびノズルをそれぞ
れ形成している。これは室内での粒状物の堆積を阻止し
かつ急速な流れを許容する。これは実質上液体路内の
「デッドスペース」を減少し、したがって主としてデッ
ドスペース内に残る不循環液体汚染物を効果的に除去す
る。流路は液体が室に入ると急速に膨脹しかつ略ダイヤ
モンド形状室の略直立側壁によってゆっくりノズル噴射
される。好ましくは流路外スペースを最小にするように
室の壁の接合点に半径が形成される。そのいずれかが入
口として使用される室通路部分46および48が図2に
示したように測定室47の実質的な平面に対してある角
度で曲げられるため、洗浄作用を有する或る乱流が形成
されるが、乱流作用は記載されたノズルおよびディフュ
ーザ機能のため集中する。
【0025】幾つかの変更は測定室の有用な作用を生ず
るが、直立壁に沿ったその中心に向けた拡大形状および
および出口に向けた収斂形状は好ましい効果を生ずる。
測定室は内部電極109と作動的かつ電気的に接続され
る薄膜の中心部分によって全体的に覆われる。好ましく
は、流れの方向に対して垂直な各室47の断面積は各ユ
ニットを通る通路の断面積の約10倍以下でありそして
各室47の長さはその幅より広いがその幅の5倍を越え
ることはない。
るが、直立壁に沿ったその中心に向けた拡大形状および
および出口に向けた収斂形状は好ましい効果を生ずる。
測定室は内部電極109と作動的かつ電気的に接続され
る薄膜の中心部分によって全体的に覆われる。好ましく
は、流れの方向に対して垂直な各室47の断面積は各ユ
ニットを通る通路の断面積の約10倍以下でありそして
各室47の長さはその幅より広いがその幅の5倍を越え
ることはない。
【0026】図3の(C)において符号211で示され
るようなモジュールユニットの変形例において、このユ
ニット211のすべての部分は補助通路212がユニッ
ト211内に設けられる以外前述されたようなユニット
11に一致する。この補助通路は前述された第1通路部
分45に平行であり、かつ第1基準サンプリング室47
Aを通らずに第1通路部分45の入口近傍において合流
する符号213で示す第2通路部分を形成する傾斜した
通路に接続している。従って、図3の(C)および図6
を参照すると、体液の測定試験を行うとき、その流れは
矢印214から流入し、そして前述のごとくユニット2
11の第1基準サンプリング室47Aは基準電位を測定
する内部電極109と薄膜103を挟んで反対に位置
し、かつ隣接するユニット12の第2サンプリング室4
7は他の電極取付け構体18に内蔵されたバリノミシン
型の薄膜電極と反対側に位置する。血液または他のサン
プル試験後、中性溶液または較正用溶液が洗浄のため使
用され、かつ矢印215で示されたように、前記した流
通経路とは逆の方向にこれら溶液が流される。
るようなモジュールユニットの変形例において、このユ
ニット211のすべての部分は補助通路212がユニッ
ト211内に設けられる以外前述されたようなユニット
11に一致する。この補助通路は前述された第1通路部
分45に平行であり、かつ第1基準サンプリング室47
Aを通らずに第1通路部分45の入口近傍において合流
する符号213で示す第2通路部分を形成する傾斜した
通路に接続している。従って、図3の(C)および図6
を参照すると、体液の測定試験を行うとき、その流れは
矢印214から流入し、そして前述のごとくユニット2
11の第1基準サンプリング室47Aは基準電位を測定
する内部電極109と薄膜103を挟んで反対に位置
し、かつ隣接するユニット12の第2サンプリング室4
7は他の電極取付け構体18に内蔵されたバリノミシン
型の薄膜電極と反対側に位置する。血液または他のサン
プル試験後、中性溶液または較正用溶液が洗浄のため使
用され、かつ矢印215で示されたように、前記した流
通経路とは逆の方向にこれら溶液が流される。
【0027】図7から図10において、簡単な試験、洗
浄および較正の一連の段階を示す。各図において、21
1,12および13のごときモジュールユニットは組み
立てた形で図1に示した形式の試験モジュールユニット
装置と同様に整列配置され、かつライン401および4
02に示されたごとく相互に接続された液体蠕動ポンプ
403および404に接続された符号400,401,
402のごとき適宜な液体導管と相互に接続される。血
液または他の液体用サンプリングホルダは符号410に
て、較正液源は符号411にておよび廃棄または処理容
器は符号412にて示されている。1つの典型例におい
て、基準電極はサンプリングまたは測定室47Aに隣接
して位置決めされそしてユニット12の室47に隣接し
て測定電極およびユニット13の室47に隣接して第2
測定電極が配置されかつ1つの測定システムを形成す
る。これら2つの測定電極は、例えばカリウムを測定す
るためのバリノミシン薄膜、およびナトリウムを測定す
るためのソーダガラス薄膜であってもよい。
浄および較正の一連の段階を示す。各図において、21
1,12および13のごときモジュールユニットは組み
立てた形で図1に示した形式の試験モジュールユニット
装置と同様に整列配置され、かつライン401および4
02に示されたごとく相互に接続された液体蠕動ポンプ
403および404に接続された符号400,401,
402のごとき適宜な液体導管と相互に接続される。血
液または他の液体用サンプリングホルダは符号410に
て、較正液源は符号411にておよび廃棄または処理容
器は符号412にて示されている。1つの典型例におい
て、基準電極はサンプリングまたは測定室47Aに隣接
して位置決めされそしてユニット12の室47に隣接し
て測定電極およびユニット13の室47に隣接して第2
測定電極が配置されかつ1つの測定システムを形成す
る。これら2つの測定電極は、例えばカリウムを測定す
るためのバリノミシン薄膜、およびナトリウムを測定す
るためのソーダガラス薄膜であってもよい。
【0028】図7において、サンプル液はポンプ403
の作動により符号413で示されたレベルに概ね達する
ように矢印214の方向に吸い上げられるが、その間、
ポンプ404は休止状態である。ポンプ404が休止し
ているため、ライン402内の較正液は純粋な較正液と
して残り、したがって通路212はサンプル液のその中
への流入を阻止するストッパまたは逆止弁として作用す
る。従って、サンプル液415はサンプリング室47A
内の基準電極の薄膜の電位に対するユニット13のサン
プリング室47内の薄膜の電位との間の電位差が測定さ
れ、かつ同時に室47Aの基準電極に関連してユニット
12の室47内の薄膜の電位が測定され、またこの測定
周期は極端に短かい。図7の状態における最初の測定
後、図8に矢印215で示されているように、較正液室
411からの較正液がすべてのサンプル液を室47A,
47から除去して廃液化するまで逆流されるようにポン
プ403を作動する。ポンプ404は再びライン402
および通路212内に廃液が逆流しないように静止した
ままである。これは3つのすべての室のサンプル液を払
拭する洗浄段階を意味する。しかしながら、較正液が室
47Aの基準電極を通って流れているとき、較正液流は
ユニット12および13の室47を汚染するような基準
薄膜の表面に担持された不用なイオンをも洗い流してし
まう。
の作動により符号413で示されたレベルに概ね達する
ように矢印214の方向に吸い上げられるが、その間、
ポンプ404は休止状態である。ポンプ404が休止し
ているため、ライン402内の較正液は純粋な較正液と
して残り、したがって通路212はサンプル液のその中
への流入を阻止するストッパまたは逆止弁として作用す
る。従って、サンプル液415はサンプリング室47A
内の基準電極の薄膜の電位に対するユニット13のサン
プリング室47内の薄膜の電位との間の電位差が測定さ
れ、かつ同時に室47Aの基準電極に関連してユニット
12の室47内の薄膜の電位が測定され、またこの測定
周期は極端に短かい。図7の状態における最初の測定
後、図8に矢印215で示されているように、較正液室
411からの較正液がすべてのサンプル液を室47A,
47から除去して廃液化するまで逆流されるようにポン
プ403を作動する。ポンプ404は再びライン402
および通路212内に廃液が逆流しないように静止した
ままである。これは3つのすべての室のサンプル液を払
拭する洗浄段階を意味する。しかしながら、較正液が室
47Aの基準電極を通って流れているとき、較正液流は
ユニット12および13の室47を汚染するような基準
薄膜の表面に担持された不用なイオンをも洗い流してし
まう。
【0029】図9の第3段階において、ポンプ404は
矢印416の方向に較正液が流れを生じるように作動さ
れ、一方ポンプ403は休止したままで流路401を通
る流れを遮断する。したがって較正液は411から吸い
上げられかつ室47Aに入ることなくブロック12およ
び13のサンプリング室47を新たな較正液で洗浄する
ように流れる。したがってブロック12および13の室
47は入念に洗浄されかつ引き続く試験サイクルに備え
られる。
矢印416の方向に較正液が流れを生じるように作動さ
れ、一方ポンプ403は休止したままで流路401を通
る流れを遮断する。したがって較正液は411から吸い
上げられかつ室47Aに入ることなくブロック12およ
び13のサンプリング室47を新たな較正液で洗浄する
ように流れる。したがってブロック12および13の室
47は入念に洗浄されかつ引き続く試験サイクルに備え
られる。
【0030】図10に示した次の段階において、ポンプ
404は休止し、一方ポンプ403は、清潔な較正液が
3つのサンプリング室47A,47,47の各々に分配
されかつ室47Aと各室47との電位差が測定され較正
されるように、図9に示した流路において液流がトラッ
プされるようなものを使用しながら矢印214の方向に
僅かに上向きに流動するように作動される。このように
して装置全体の較正結果およびこの結果と図7の工程に
おいて得られた測定値との比較結果が得られる。上述し
た方法を変更することも可能である。図10に示された
較正作業の前に、所望ならば洗浄段階後に図7の測定作
業を繰り返すことも可能である。なお、上述した如く較
正液は図8の段階における洗浄液としても使用される。
バイパスまたは補助通路212は、必要とあらば、較正
用サンプリング室の速やかな使用が可能となるように、
装置の極めて迅速な洗浄が行えるように設計することが
できる。静止液で充填されたとき通路213は一方向弁
として作用する。もちろん急速かつ連続した流れが必要
とされる幾つかの装置においては、上述の補助通路は不
要である。
404は休止し、一方ポンプ403は、清潔な較正液が
3つのサンプリング室47A,47,47の各々に分配
されかつ室47Aと各室47との電位差が測定され較正
されるように、図9に示した流路において液流がトラッ
プされるようなものを使用しながら矢印214の方向に
僅かに上向きに流動するように作動される。このように
して装置全体の較正結果およびこの結果と図7の工程に
おいて得られた測定値との比較結果が得られる。上述し
た方法を変更することも可能である。図10に示された
較正作業の前に、所望ならば洗浄段階後に図7の測定作
業を繰り返すことも可能である。なお、上述した如く較
正液は図8の段階における洗浄液としても使用される。
バイパスまたは補助通路212は、必要とあらば、較正
用サンプリング室の速やかな使用が可能となるように、
装置の極めて迅速な洗浄が行えるように設計することが
できる。静止液で充填されたとき通路213は一方向弁
として作用する。もちろん急速かつ連続した流れが必要
とされる幾つかの装置においては、上述の補助通路は不
要である。
【0031】本発明の方法において、体液および血液の
ごとき液体のイオン活性度は第1測定電極と第2測定ま
たは基準電極との間の流れに液体を通すことにより測定
される。したがって、図2に示した如く、通路44を通
る流れは第2上方室内の基準電極測定値と比較して第1
下方室内のイオン測定を可能とする。下方室の下の第3
室は他のイオン試験について他の電極により試験を実施
すべく設けられる。例えば、カリウムは1方の室で基準
電極に比較して試験され、かつもう1方の室ではナトリ
ウムが通常の方法で試験されることができる。モジュー
ル形態で構成されたユニットのため、3つ以上の複数の
イオン濃度を試験することが可能である。室は逆使用を
含むすべての場合において試験されるべきサンプル液は
基準測定室47Aをもつ測定室47を通って下流にかつ
最後にライン内に流れるかまたは吸引される。
ごとき液体のイオン活性度は第1測定電極と第2測定ま
たは基準電極との間の流れに液体を通すことにより測定
される。したがって、図2に示した如く、通路44を通
る流れは第2上方室内の基準電極測定値と比較して第1
下方室内のイオン測定を可能とする。下方室の下の第3
室は他のイオン試験について他の電極により試験を実施
すべく設けられる。例えば、カリウムは1方の室で基準
電極に比較して試験され、かつもう1方の室ではナトリ
ウムが通常の方法で試験されることができる。モジュー
ル形態で構成されたユニットのため、3つ以上の複数の
イオン濃度を試験することが可能である。室は逆使用を
含むすべての場合において試験されるべきサンプル液は
基準測定室47Aをもつ測定室47を通って下流にかつ
最後にライン内に流れるかまたは吸引される。
【0032】好適な測定電極構造は図5に示されている
けれども、単一モジュラ配置において使用される基準電
極と他の電極は幾分か変形可能であることは了解される
べきである。従って、幾つかの場合において、基準電極
は薄膜取付け部材を有しないが、これに代えてセラミッ
クフリットまたは開放液体接合のごとき他の公知の構造
を有しかつサンプリング室の部分を形成することができ
る。好適な実施例において、各サンプリング室が試験ま
たはサンプリングユニットまたはキュベットによって形
成される。単一基準電極を有する同時二重試験のため少
なくとも3つがともに接続される。使用される電子部品
は試験サンプルに応じて従来公知のものである。極めて
小さなサンプルを試験することができる。通路がサンプ
リング室に対して角度を持って配置されていても、洗浄
は試験と同様に簡単かつ迅速である。使用される電極お
よびその充填溶液等は従来公知のようにすることがで
き、例えば、それらは1976年にロンドンで発行され
たベイリーの「イオン選択電極による分析」に記載され
ている。
けれども、単一モジュラ配置において使用される基準電
極と他の電極は幾分か変形可能であることは了解される
べきである。従って、幾つかの場合において、基準電極
は薄膜取付け部材を有しないが、これに代えてセラミッ
クフリットまたは開放液体接合のごとき他の公知の構造
を有しかつサンプリング室の部分を形成することができ
る。好適な実施例において、各サンプリング室が試験ま
たはサンプリングユニットまたはキュベットによって形
成される。単一基準電極を有する同時二重試験のため少
なくとも3つがともに接続される。使用される電子部品
は試験サンプルに応じて従来公知のものである。極めて
小さなサンプルを試験することができる。通路がサンプ
リング室に対して角度を持って配置されていても、洗浄
は試験と同様に簡単かつ迅速である。使用される電極お
よびその充填溶液等は従来公知のようにすることがで
き、例えば、それらは1976年にロンドンで発行され
たベイリーの「イオン選択電極による分析」に記載され
ている。
【0033】本発明のとくに好適なモジュラ配列とし
て、ハウジング14は高さ71.12ミリメートル、幅
44.45ミリメートルおよび深さ57.91ミリメー
トルを有する。基準電極用ユニット11および各ユニッ
ト12および13は高さ23.62ミリメートル、前方
から後方への寸法20.57ミリメートル、T軸幅3
1.75ミリメートルおよびフランジ前方から後方への
寸法7.62ミリメートルを有する。各室は容積12マ
イクロリットルを有しかつ各通路は一端から他端に実質
的に均一である断面積0.387平方ミリメートルを有
する。モジュール11,12および13はアクリル材料
から形成される。ハウジング14は金属からなる。使用
される内部基準電極は銀/塩化銀内部電極にすることが
できる。ユニット11は透析薄膜を含む。バリノミシン
薄膜の後ろのゲルは、電極がカリウム電極であるとき、
ユニット12内で25℃で15,000センチポワーズ
より大きい粘度を有する5%交差結合剤をもつポリアク
リルアミド30%水性ゲルであっても良い。充填溶液は
140mM NaCl/4mM KClにすることができる。ユニット
13は実質的に上述されたようにその後ろに薄膜電極構
造を有するが、薄膜はナトリウムを測定するための代り
のPVC薄膜にすることができる。
て、ハウジング14は高さ71.12ミリメートル、幅
44.45ミリメートルおよび深さ57.91ミリメー
トルを有する。基準電極用ユニット11および各ユニッ
ト12および13は高さ23.62ミリメートル、前方
から後方への寸法20.57ミリメートル、T軸幅3
1.75ミリメートルおよびフランジ前方から後方への
寸法7.62ミリメートルを有する。各室は容積12マ
イクロリットルを有しかつ各通路は一端から他端に実質
的に均一である断面積0.387平方ミリメートルを有
する。モジュール11,12および13はアクリル材料
から形成される。ハウジング14は金属からなる。使用
される内部基準電極は銀/塩化銀内部電極にすることが
できる。ユニット11は透析薄膜を含む。バリノミシン
薄膜の後ろのゲルは、電極がカリウム電極であるとき、
ユニット12内で25℃で15,000センチポワーズ
より大きい粘度を有する5%交差結合剤をもつポリアク
リルアミド30%水性ゲルであっても良い。充填溶液は
140mM NaCl/4mM KClにすることができる。ユニット
13は実質的に上述されたようにその後ろに薄膜電極構
造を有するが、薄膜はナトリウムを測定するための代り
のPVC薄膜にすることができる。
【0034】本発明の特別な実施例が説述されたが、多
くの変更が可能である。すべての場合において通路は作
業速度を高めかつ図示されるような通路形状の使用によ
り清潔な流体力学的流れを供給するように設計されるが
幾つかの場合に追加の補助的通路を有する。種々の分析
は本発明による装置において試験されることができる。
2チャンネルのナトリウム/カリウム分析は図1におい
て示した好適な実施例におけると同様に可能である。し
かしながら、試験されるべきアナライトはPO2 、PC
O2、PNH3 、塩化物、リチウム、マグネシウム、カ
ルシウム、グルコース、尿素、ラクテート、重炭酸塩お
よび従来公知の他のものを含むことができる。使用され
る薄膜は非常に変化するが好ましくは中性担体またはイ
オン交換薄膜のような従来公知のものである。
くの変更が可能である。すべての場合において通路は作
業速度を高めかつ図示されるような通路形状の使用によ
り清潔な流体力学的流れを供給するように設計されるが
幾つかの場合に追加の補助的通路を有する。種々の分析
は本発明による装置において試験されることができる。
2チャンネルのナトリウム/カリウム分析は図1におい
て示した好適な実施例におけると同様に可能である。し
かしながら、試験されるべきアナライトはPO2 、PC
O2、PNH3 、塩化物、リチウム、マグネシウム、カ
ルシウム、グルコース、尿素、ラクテート、重炭酸塩お
よび従来公知の他のものを含むことができる。使用され
る薄膜は非常に変化するが好ましくは中性担体またはイ
オン交換薄膜のような従来公知のものである。
【0035】
【発明の効果】叙上の如く、本発明に依るサンプリング
室の洗浄および較正方法は、上記した形式の液体中のア
ナライト定量装置における基準電極充填溶液の汚染また
は他の汚染源による較正溶液の汚染を回避するために、
モジュラユニットを迅速かつ効果的に洗浄し、サンプリ
ング室内の感知部分への較正溶液が迅速に導入され、そ
の汚染も回避され、正確な較正流体の測定が可能とな
る。
室の洗浄および較正方法は、上記した形式の液体中のア
ナライト定量装置における基準電極充填溶液の汚染また
は他の汚染源による較正溶液の汚染を回避するために、
モジュラユニットを迅速かつ効果的に洗浄し、サンプリ
ング室内の感知部分への較正溶液が迅速に導入され、そ
の汚染も回避され、正確な較正流体の測定が可能とな
る。
【図1】本発明のモジュールサンプリング室の好適なモ
ジュールユニット装置を示す分解斜視図、
ジュールユニット装置を示す分解斜視図、
【図2】図1に示したモジュール測定室ユニットの断面
図、
図、
【図3】(A)は、図2に示した一般的な型の単一モジ
ュール測定ユニットの後面図、(B)は、基準測定また
はサンプリング室ユニットとして単に作用するようにそ
の室において変更される単一モジュール測定ユニットの
後面図、(C)は、(B)に示したモジュールユニット
の他の実施例の後面図、
ュール測定ユニットの後面図、(B)は、基準測定また
はサンプリング室ユニットとして単に作用するようにそ
の室において変更される単一モジュール測定ユニットの
後面図、(C)は、(B)に示したモジュールユニット
の他の実施例の後面図、
【図4】詳しく示した電極ホルダおよび断面で示した取
付けスリーブおよび取付け構体を有する図1に示したモ
ジュールユニットの一部分の断面図、
付けスリーブおよび取付け構体を有する図1に示したモ
ジュールユニットの一部分の断面図、
【図5】図1および図4の電極ホルダの断面図、
【図6】図3の実施例によって変形された1つのモジュ
ールユニットを有する2つのモジュールユニットを配置
した図3の他の実施例の断面図、
ールユニットを有する2つのモジュールユニットを配置
した図3の他の実施例の断面図、
【図7】本発明の洗浄および較正方法を略示する説明図
である。
である。
【図8】本発明の洗浄および較正方法を略示する説明図
である。
である。
【図9】本発明の洗浄および較正方法を略示する説明図
である。
である。
【図10】本発明の洗浄および較正方法を略示する説明
図である。
図である。
10…試験モジュールユニット装置、 11,12,13…モジュールユニット、 14…ハウジング、 17,18,19…基準電極、 22,23…端部、 42,44,46,48,49…通路、 47,47A…サンプリングまたは測定室、 80…スリーブ、 81…O−リング、 83…フェルール、 85…キャップ、 90…電極ホルダ、 100…電極ホルダ本体、 101…電極キャップ、 102…マウント、 103…薄膜、 106,108…室、 109…内部電極、 120…ノズル、 130…ディフューザ、である。
フロントページの続き (72)発明者 メルヴィン・サムナー・ワインバーグ アメリカ合衆国、ニュー・ハンプシャー 03063、ナシュア、ノーウッド・ドライヴ 57
Claims (3)
- 【請求項1】 基準電極第2室を含んでいる第2モジュ
ールユニットに隣接して位置決めされるモジュール測定
室ユニット内に含まれる液体中のアナライト定量測定装
置における第1サンプリング室を洗浄かつ較正する方法
において、 前記ユニットは前記室と前記ユニットとの間に通路を画
成し、 第2の一方向弁の通路は前記基準電極第2室と前記サン
プリング室との間の前記通路と交差し、 液体サンプルを前記通路を介して前記サンプリング室か
ら前記基準室に通しそれにより電位の測定が前記サンプ
ル以外の第2流体により充填された前記第2通路を維持
しながら前記室間で行なわれることができ、 流体で充填された前記第2通路を維持しながらサンプル
流体を除去すべく前記サンプリング室を介して前記基準
室から洗浄流体を通すことにより前記基準室とサンプリ
ング室間の流体の流れを逆にし、 洗浄液の流れが前記基準室に最初に通ることなく前記洗
浄後の流れを前記第2通路を介して前記サンプリング測
定室に通し、 較正流体を前記サンプリング室から前記基準室へ再び通
すべく流れを逆にする一方前記第2通路が静止流体を維
持しそれにより較正測定が前記サンプリング室と前記基
準室との間の電位を測定可能であることを特徴とする第
1サンプリング室洗浄およひ較正方法。 - 【請求項2】 サンプル流体以外のすべての流体の流れ
が較正液からなることを特徴とする請求項1に記載の第
1サンプリング室洗浄および較正方法。 - 【請求項3】 前記最初の流れ逆転工程が静止流体で充
填された第2通路を維持しながら行なわれることを特徴
とする請求項1に記載の第1サンプリング室洗浄および
較正方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/594,246 US4627893A (en) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | Means and methods for quantitative determination of analyte in liquids |
US594-246 | 1984-03-28 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60062200A Division JPH0785067B2 (ja) | 1984-03-28 | 1985-03-28 | 液体中のアナライト定量装置および方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0854366A true JPH0854366A (ja) | 1996-02-27 |
Family
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Family Applications (3)
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---|---|---|---|
JP60062200A Expired - Lifetime JPH0785067B2 (ja) | 1984-03-28 | 1985-03-28 | 液体中のアナライト定量装置および方法 |
JP6139691A Expired - Lifetime JP2525729B2 (ja) | 1984-03-28 | 1994-05-31 | 電極ホルダ |
JP7079309A Pending JPH0854366A (ja) | 1984-03-28 | 1995-03-13 | 液体中のアナライト定量測定装置におけるサンプリング室の洗浄および較正方法 |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60062200A Expired - Lifetime JPH0785067B2 (ja) | 1984-03-28 | 1985-03-28 | 液体中のアナライト定量装置および方法 |
JP6139691A Expired - Lifetime JP2525729B2 (ja) | 1984-03-28 | 1994-05-31 | 電極ホルダ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0157597B1 (ja) |
JP (3) | JPH0785067B2 (ja) |
AT (1) | ATE53125T1 (ja) |
DE (1) | DE3501137A1 (ja) |
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