JPH08503328A - マイクロコントローラのための遠隔再プログラム可能プログラムメモリ - Google Patents

マイクロコントローラのための遠隔再プログラム可能プログラムメモリ

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JPH08503328A JP7505805A JP50580595A JPH08503328A JP H08503328 A JPH08503328 A JP H08503328A JP 7505805 A JP7505805 A JP 7505805A JP 50580595 A JP50580595 A JP 50580595A JP H08503328 A JPH08503328 A JP H08503328A
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Abstract

(57)【要約】 プログラム記憶回路として使用される、電気的プログラマブル消去可能読出専用メモリアレイ(61)と直接および間接に通信する、複数の入出力ポート(33、35、43、45)を有するシングルチップマイクロコントローラ(11)。PEROM(61)アレイは、ローカルホストから直接または遠隔からの高速消去および再プログラミングを提供する。複数のポートは、メモリ記憶への代替アクセスルートを設け、したがってマイクロ命令を書込み後即時に、一度に1つ、ベリファイするための能力を提供する。ランダムアクセスメモリ、RAM(25)がまた与えられる。PEROMアレイは、マイクロコントローラにおけるハードディスク記憶のようなものである。低電圧電源は、PEROMアレイに対するプログラミングおよび消去高電圧を与える、接続されたチャージポンプを有する。

Description

【発明の詳細な説明】 マイクロコントローラのための 遠隔再プログラム可能プログラムメモリ 技術分野 この発明は、シングルチップ内でマイクロコントローラと結合された、集積回 路不揮発性プログラムメモリに関する。 背景技術 シングルチップのマイクロコントローラは、知られてから10年を超える。こ れらの装置は、中央処理装置(CPU)と、データのためのランダムアクセスメ モリ(RAM)と、プログラムメモリのための電気的にプログラム可能な読出専 用メモリ(EPROM)またはその代わりとしての読出専用メモリ(ROM)と 、様々なレジスタ、タイミング回路、ラッチ、ポート、およびインタフェース回 路とを含む、1つのチップ上の完全なコンピュータである。最も早く製作された マイクロコントローラの1つは8051であり、これは1981年にインテルコ ーポレイション(Intel Corporation )により最初に製造されたものである。こ のパーツの特徴は、別個のプログラムおよびデータメモリが各々独自のアドレス を有することである。以前8051は、他によるマイクロコントローラのその他 の改良のための拠所であった。改良されたメモリアクセスに関連する、ボーカー (Borkar)等による米国特許番号第4,782, 439号、および通信インタフェースに関連する、ハイヤック(Hayek )による 米国特許番号第4,780,814号を参照されたい。 スマートカードは、CPUを、RAM、ROM、EPROMおよびEEPRO Mを含む様々な型のメモリを、様々なポート、メモリアクセスおよび論理のため のゲートアレイさえとも組合せて結合する、シングルチップマイクロコントロー ラを含む。このようなカードは、プログラム記憶のためにEPROMを用い、デ ータ記憶のためにその他のすべてのメモリを用いる。 EPROM記憶に伴う問題の1つは、装置の消去のために、再プログラミング の前に紫外線光にさらさねばならないことである。フィールドにおける再プログ ラミングが要求される場合、コントローラ全体を新しいものに置換える方が、プ ログラムメモリに対して消去および再書込動作を試みるよりも容易であることが 多い。EEPROMはプログラムメモリとはみなされていないが、それは、アレ イサイズが、おそらく非常に小さなアレイを除いては、マイクロコントローラ機 能と互換性がないものと考えられてきたからである。 マイクロコントローラは、先行技術において既存の低電圧電源で動作するが、 こういった電源は、プログラミングに17Vを超える電圧を必要とするEEPR OMには適さない。 この発明の目的は、プログラムメモリを内蔵する、フィールドの再プログラム 可能なマイクロコントローラを考案することであった。 この発明の他の目的は、単一の低電圧の電源で動作するマイクロコントローラ を考案することであった。 発明の概要 上記の目的は、データメモリと比較してサイズが非常に大きく、高速で消去お よび再書込可能なプログラムメモリを有する、シングルチップマイクロコントロ ーラにおいて達成されてきた。形式としては電気的にプログラム可能および消去 可能な読出専用メモリ(PEROM)トランジスタであり、ブロック単位で消去 され、低電圧電源をプログラミングおよび消去電圧発生のためのチャージポンプ と結合して用いる、フラッシュメモリトランジスタを用いることにより、高速消 去および再書込がもたらされる。非常にコンパクトなPEROMセルのアレイを 用いて、大きなサイズがもたらされる。 フラッシュトランジスタにより、紫外線光にさらすには数分かかるメモリ全体 の消去が、千分の数秒内で高速に行なえる。フラッシュメモリアレイは既知であ るが、その使用はマイクロコントローラチップの外部で行なわれるか、またはデ ータ記憶アプリケーションに限られていた。命令に対してフラッシュメモリアレ イを用いる際には、命令の偶発的な消去を避けるために注意せねばならない。こ れは、 たとえばチップ消去モードのような特別なプログラミングモードを通常の読出− 書込モードに加えることにより、達成される。これらのモードは、チップ入力− 出力(I/O)ピンを独自の組合せで用いることにより確立される。チップがチ ップ消去モードにあるときのみ、初期メモリ状態である、すべて1で、フラッシ ュメモリは書込まれることができる。 8051チップアーキテクチャを、ピン配置は含めるがEPROMは用いずに 使用することにより、多数のポートが与えられる。このアーキテクチャの利点は 、プログラムメモリに、アドレスおよび命令の高速の転送のための、それ自身の バスと2つのポートとを提供することである。既知の8051ピン配置を採用す ることにより、フラッシュメモリアレイに対処するためにプログラミングモード 信号にある変更を加えるだけで、周知のパーツの部類との互換性が実現できる。 この発明が効果的となる、フラッシュメモリの好ましい最小サイズは、4kバ イトまたは32kビットである。内部RAMは通常セルの数が少ないが、その理 由は、RAMは中間結果を記憶するかまたは外部RAMとともに機能するからで ある。典型的なサイズは128バイトである。4kバイトの最小フラッシュメモ リサイズが選択され、高速でプログラムを消去および書込する能力を有したまま 、完全にマイクロコントローラチップに含まれている複雑なプ ログラムのためのスペースを提供する。プログラム開発またはフィールドの再プ ログラム可能性といったアプリケーションにおいて、この発明は、マイクロコン トローラシステムの欠陥を補う。RAMセルに対するフラッシュの比率を高める ことにより、この発明は、シングルチップコントローラに、ハードディスク記憶 に類似するものを与える。 図面の簡単な説明 図1は、この発明の、結合されたマイクロコントローラとともに電気的に再プ ログラム可能なプログラムメモリを示すブロック図である。 図2は、図1の回路の動作を説明するタイミング図である。 図3は、図1のプログラムメモリにおいて用いられる高性能の2つのトランジ スタのPEROMセルの概略図である。 図4は、図3の2つのトランジスタを含む、CMOSPEROMトランジスタ の製造プロセスの側面断面図である。 図5は、図4に示されるメモリトランジスタのフローティングゲート部分の上 面図であり、薄膜酸化物トンネリング領域の配置を図示する。 図6は、図1に示されるPEROMメモリユニットのアーキテクチャプランの 図である。 図7および8は、図6に示される右のメモリユニットの 概略図である。 図9は、図8に示されるメモリユニット内のデータを読出すためのセンスアン プの概略図である。 図10は、図1に示されるメモリユニットにおけるPEROMの読出、書込、 および消去のための電圧状態を示す図である。 図11aおよび11bは、チップVcc電圧を、図10に示されるプログラミン グ高電圧に変換するためのチャージポンプの概略図である。図11aの線A、B 、Cは、図11bの対応する線に接続する。 図12は、PEROM再プログラム可能不揮発性メモリを有するマイクロコン トローラにプログラムをダウンローディングする、ホストシステムの平面図であ る。 発明を実施するためのベストモード 図1を参照すれば、マイクロコントローラ11が示される。チップのアーキテ クチャは、マイクロコントローラ、特にインテルコーポレイションおよびその他 の企業により製造されている8051型マイクロコントローラには一般に知られ た回路を含む。ピンの名称およびその説明は、G.ハイヤックによる米国特許番 号第4,780,814号に見出される。コントローラのマイクロプロセッサ部 分は1時レジスタ17を介してアキュムレータ15によりデータ等が供給される ALU13、すなわち、算述論理ユニットで構成される。第2の1時レジスタ1 9はまた、ALU1 3に供給する。発振器21は、図2を参照して後述される、タイミング信号を発 生するタイミングおよび制御回路23に対してパルスを発生する。データバス2 0は、ランダムアクセスメモリ25、メモリアドレスレジスタ27、スタックポ インタ29、および命令レジスタ31を含む、回路の構成部分の多くを結合する 。マイクロコントローラの機能性は、それぞれポートラッチ37および39を通 してバス20と直接通信する、ポート33および35を含む、複数のポートによ り向上する。同様に、ポート43および45は、それぞれポートラッチ47およ び49を通して、データバス20と通信する。 ポートのうちの1つ、ポート35は、割込およびタイマ回路50に接続され、 ポート35の1対のラインはまた、遠隔のロケーションからのデータを扱うため の送信および受信ラインとして機能する。残りのポートは、データを受取って、 接続された外部ホストシステムのようなローカル外部メモリに書込むように構成 される。上記の回路すべては、一般に十分に理解されている、というのも、この 回路は8051型のマイクロコントローラに共通のものであり、先行の米国特許 番号第4,780,814号に述べられているからである。この発明においては 、信頼性は第1に、ポート43、45、および33を通した並列データ転送に置 かれている。 この発明は、様々なレジスタおよびランダムアクセスメ モリ25を通してALU13に供給されるマイクロ命令を記憶するための、フラ ッシュメモリ構成の、プログラマブル消去可能読出専用メモリ61(PEROM )を採用する。EPROMアレイと異なり、PEROMメモリのトランジスタは 、ブロック単位で配置された、電気的にプログラム可能および消去可能な読出専 用メモリトランジスタである。フラッシュメモリブロックの最小サイズは64バ イトといった1ページであり、最大サイズはアレイ全体である。この配置の利点 は、ブロックは一度に消去されるため、非常に高速でのメモリの消去が可能にな ることである。マイクロコントローラのEPROMトランジスタのプログラム記 憶としての使用により立証されるように、不揮発性記憶はマイクロコントローラ において重要であることが認識されてきた。しかし、これらは第1世代の不揮発 性メモリ装置であり、PEROM技術により改良されている。 この発明は、高速で消去し、マイクロ命令を不揮発性PEROMメモリ61に 書込むために、マルチポートコントローラの複数のポートを利用する。消去信号 が、ポート3 RSTを通して与えられる。高速消去の後、制御信号により、PEROMメモリ 61への、マイクロプログラム命令の再書込が可能になる。 アドレスバス63は、PEROMメモリを、ポート43および45、ならびに プログラムアドレスレジスタ65に 接続する。プログラムカウンタ67およびインクリメンタ69は、ローカルバス 71により、プログラムレジスタ65に結合される。バス63からPEROM回 路61への通信は、単方向であり、PEROM61からデータバス20への出力 はまた単方向であるため、PEROM回路61は、データバス20からの直接入 力通信からは分離されているが、バッファ73を通して間接通信は可能であるこ とに注目されたい。バッファ73はまた経路を与え、そのため、ポート33およ び35は、プログラムアドレスレジスタ65を介して、アドレスバス63への通 信ができる。 図2では、第1の波形は、所望のメモリロケーションはポート33と45とを 通してアドレスラインでアクセスされることを示す。第2の波形は、アドレスが ポート43を用いてセットされた後、適切なデータがデータラインに書込まれる ことを示す。第3の波形は、アドレスがラッチ47を用いてラッチされることを 示す。アドレスラッチイネーブル信号、ALEがハイのとき、反転プログラミン グ信 ログラミングはアドレスラッチがイネーブルされていないときに発生できること に注目されたい。プログラミング電圧は常に、チャージポンプを用いてVccを昇 圧しVMを得ることにより、チップ上に発生する。第4の波形は、プログラミン グ電圧が適切なレベルで発生し、第3の波形の反転プログラミング信号がローの とき、メモリセルへのデ ータの書込が可能になることを示す。 データは、第1および第2の波形で示されるプログラミングサイクルに従う間 隔で、アドレスおよびデータラインを介して、休みなく読出すことによりベリフ ァイされる。このことは、外部ホストと通信するときには、ポート33および4 5、ならびにポート43の双方向性の性質を利用する。 以下はプログラミングアルゴリズムの概要である。第1のステップは、所望の メモリバイトロケーションを、適切なポートに関連するアドレスライン上に入力 することである。次のステップは、適切なポートに関連するライン上に命令また はデータを入力し、次に制御信号の正しい組合せを起動することである。アドレ スラッチイネーブル、ALEは、パルス化されて1バイトをPEROMにプログ ラムする。上記の手順が繰り返され、ファイルの終りに到達するまでアドレスお よびデータを変更する。各サイクルの間、プログラムされたデータは、アドレス およびデータラインを介して休みなく読出され、プログラミングデータが正しい ことを確認する。 PEROM全体を消去する、すなわち、すべて1で書込むために、制御信号お よびALEの適切な組合せが用いられる。特定的には、ALEはローに保たれ、 同時に、ピンのある組合せが用いられてPEROMの消去のためのプログラミン グモードを規定する。8051のピンの構成では、 チップの識別または「サイン」の確立のために用いられたものと同じピンが用い られ、読出データモード、書込データモード、およびチップ消去モードを規定す る。確認読出しが、書込動作後に実施される。消去動作は、メモリアレイの再プ ログラムが可能になる前に実行されねばならない。 プログラミングメカニズムとして熱い電子注入を用いる、その他のフラッシュ セルと異なり、発明者らは、トンネリングがプログラミング手段として好ましい ことを発見した。この発明の譲渡人に譲渡された、J.ファン(Huang)等によ る米国特許第4,833,096号に示されるように、一重または二重の金属膜 層形成プロセスを用いることにより、コンパクト性が増す。 記憶セルの各々は、図3に示されるように1対のトランジスタを含む。記憶ト ランジスタ101は、ソース103、ゲート105、ドレイン107、およびフ ローティングゲート109を含む。ドレイン電極107とフローティングゲート 105に隣接する制御電極との間に、適切な高電圧を印加することにより、フロ ーティングゲートは荷電される。電圧を逆方向にすることにより、フローティン グゲートは消去される。 特別な高電圧の電源を設けるよりも、チャージポンプが用いられて共通の電圧 源Vccを、プログラミング電圧レベルVMまで増大させる。共通の電源は3ボル トでしかないので、チップ動作全体は、この低電圧源で動作できる。 チャージポンプについては以下に述べる。 この発明のチャージポンプは、後述のように、PEROMの消去およびプログ ラミングに17Vを超える電圧を必要とするこの発明において、低電圧の電源を 用いることを可能にする。外部の高電圧源を不要にすることにより、この発明は 、ポータブルコンピュータの小さなバッテリで動作できる。このことはこの状況 において理想的である、というのも多数のポートの存在により、PEROMプロ グラムメモリへの命令のダウンローディングが可能になるからである。 ドレイン107は伸張され、選択トランジスタ111のためのソースとして働 く。このトランジスタは、ドレイン117および行選択ラインに接続された制御 ゲート115を有する。ドレイン117は、列選択ラインおよびセンスアンプに 接続される。この発明は4096バイトの記憶セルを提供し、各バイトは8ビッ トからなる。したがって、セルは、4096×8セルからなるアレイに分割でき る。 図4は、包括的には上記の米国特許番号第4,833,056号に述べられる 、PEROMトランジスタセルの構造を示す。図3のメモリトランジスタ101 が、P型基板内で間隔をあけられたソース203とドレイン207とともに示さ れる。フローティングゲート209は、「ポリ1」と称される、ソースとドレイ ンとの重畳する部分に位置する電荷蓄積素子である、ポリシリコン層である。フ ローテ ィングゲート209の一部分が沈下し、フローティングゲートが、トンネル酸化 膜として知られる非常に薄い酸化物の層によりドレインから間隔をあけられたト ンネリング領域211で、ドレイン207に近づく。制御ゲート205は、もう 1つのポリシリコン層であり、「ポリ2」と称され、適切な電圧をドレイン20 7と電極205との間に印加して電荷蓄積および消去動作を制御し、トンネリン グ作用を開始する。記憶トランジスタは、酸化膜層220により、図4の選択ト ランジスタ111に対応するもう1つのトランジスタから分離されている。メモ リトランジスタのドレイン207は、選択トランジスタのソースとして働き、ド レイン電極217は、基板内に位置する。ポリ2素子であるゲート電極215は 、ソースとドレインとの間に間隔をおいて配置されている。第1の金属層のチュ ーブ230は、ドレイン217に接する。金属層230は、図4のドレイン11 7のように、センスアンプおよびビットラインに接続されている。 図4は、ソース領域233と、間隔をあけられたドレイン領域235とともに 、Nウェル231内に製造される、第3のトランジスタを示す。ゲート237は 、ソースとドレインとの間で間隔をあけられている。このトランジスタは、ガラ ス層243および厚い酸化膜層245により金属膜層領域230aおよび230 bから絶縁されたフィールド酸化物領域239により、先の1対から分離されて いる。 第2の金属膜層247は、Nウェルトランジスタを別々に制御するために、金属 膜層230aと接触する。このトランジスタは行ドライバトランジスタであり、 そのため第1の金属膜層230と第2の金属膜層247との間に間隔を有するこ とが重要である。この間隔は、厚い酸化膜層である金属間誘電層250により与 えられる。最後に、パッシベーション層252が第2の金属膜層の上表部の上に 与えられ、回路を保護する。 図4の電気的プログラマブル消去可能読出専用メモリトランジスタ101の、 中央記憶領域の上面図が、図5に示される。点線はサブ表面であり、実線は表面 より上にある。ドレイン領域207には、薄膜酸化物の小さな長方形部分211 があり、長方形部分209、すなわちポリ1層であ表わされるフローティングゲ ートの間のトンネリングウィンドウを形成する。ポリ1層の上には、破線で表わ されるポリ2層205がある。ポリ2層はまた、第2のまたはセンストランジス タのゲート215を形成する。金属膜層230は、両方のトランジスタを覆う。 図3から4に示されるトランジスタの対は繰り返され、ランダムアクセスメモリ セルの各々に対し、少なくとも32のPEROMメモリセルが存在するものとな る。この比率により、フィールド内で修正が行なわれるであろう適切なプログラ ムメモリが可能になる。 図6を参照すれば、図1のPEROMメモリユニット6 1に対するアーキテクチャのプランが示され、対称形の左および右のメモリユニ ット131および133を含む。メモリユニットの各半分は、64行256列を 含み、4kバイトメモリユニット全体は、64行512列を含む。メモリは、Y デコード回路に導かれたライン135に、6つのアドレスビットによりアドレス 指定される。6つのアドレスビットはまた、左および右部分のメモリユニットに サービスするXデコード回路139に対し、ライン138で受取られる。両方の メモリユニットは、記憶トランジスタに記憶されたデータを読出すための個々の センスアンプ140に接続された列ラインを有する。左および右部分のメモリユ ニット131および133は対称形であり、そのため一方のメモリユニットの説 明がもう一方を説明するものとなる。 図7を参照して、PEROMトランジスタ151の1行は、接続されてライン 152に沿ってVRFI信号を受取る制御ゲートを有する。説明のため、図7に は64行のうち、この行のまわりに点線により示された、i番目の行のみが示さ れる。共通のソースライン153は、図10に従って供給される電圧を有する。 トランジスタ154は、ゲート155上のYアドレス信号によりストローブされ たとき、図10に示される異なる電圧を供給するために用いられる。 行151の記憶トランジスタの各々は、トランジスタ1 56の行のワードライン選択トランジスタに接続される。行151の各トランジ スタのドレインは、図4に示される構造と同様に、行156における各トランジ スタのソースに接続される。ワードライントランジスタ156は、記憶トランジ スタを分離するように働き、各々は、8個のセンスアンプライン157の1つか ら、行158および159内の多重化トランジスタを通して、および行161お よび162のY選択トランジスタを通して、アクセスできる。行161および1 62のY選択ラインは、アレイを左と右に半分ずつ分割する。多重化ライン15 8および159により、1つのセンスアンプが、アレイの各半分内の記憶トラン ジスタの1対にサービスすることができる。 i番目の記憶行151および行選択ライン156は、図8に示されるi番目の パストランジスタアレイに接続されている。図8を参照して、パストランジスタ 163は、基準電圧、ライン164に沿うVrefに接続されたソース、および ライン165に沿い基準電圧VRFIを出力するドレインを有する。トランジス タ166のゲートは、i番目の行に対するワードライン選択信号WLIに接続さ れる。同じ信号が、放電トランジスタ169のゲートを制御する、インバータの 対167および168に与えられる。図8に示される型の回路は、各ワードライ ンに対して与えられる。 各列ライン157は、図9に示される型のセンスアンプに接続される。列ライ ンへの接続は入力点171で行なわ れ、図7の行151における、可変しきい値トランジスタ、つまり電気的プログ ラマブル消去可能読出専用メモリトランジスタを読出そうとする。このようなト ランジスタにおいては、導通しきい値はハイとローの状態の間で変化する。導通 のためのしきい値は、ブロック172におけるダミーセルを参照して読出される 。ダミーセルを含むトランジスタの導通は、平衡アーム173および174によ り評価される。評価論理回路175は、ダミーセルを参照してメモリトランジス タの導通状態を読出し、ピン176に論理出力を与える。導通状態信号はまた、 回路アーム173および174の間の平衡を回復させるために、ライン177に 送信される。高電圧レベルシフト回路178は、ブロック179を通し、チャー ジポンプから高電圧を、ピン171を通して列ラインへ印加できる。この回路は プログラミング電圧を、PEROMトランジスタに印加する。 図10は、図7のPEROMセルに印加される電圧を示す。「ドレイン」と明 示された列は、図7の多重行158による多重化を前提として各列ラインと通信 する、図9のピン171である。図10の「センスゲート」列は、図7および8 のVRFIを指す。「制御ゲート」は、図7および8の信号WLIである。「ソ ース」と明示された列は、図7のライン153のことであり、トランジスタ15 4を通して接地に接続されるとき以外は浮動している。図10の括弧内で示され る電圧は、動作の低レベルモードのため のものであり、括弧外の値は通常レベルを表わす。17および15V.レベルは 、図11aおよび11bに示されるチャージポンプから誘導される。ここで、ダ イオードとして構成された、0行のしきい値トランジスタ181の7段のアレイ は、各々行183内のキャパシタに接続される。各キャパシタは、逆相ブロック ライン182または184の1つに連結され、先のトランジスタキャパシタの対 の電圧を上げる。ラインがクロックされるにつれ、トランジスタ−キャパシタの 対を通る電位差が確立される。キャパシタの電荷は、第2のラインが先の位相と 反対の位相でクロックされるにつれ、次のトランジスタ−キャパシタの対にシフ トされるかまたはポンピングされる。各先行段のキャパシタにおける電荷は、次 の段のキャパシタにシフトされる。反対の位相のクロッキングにより、低レベル Vccから高電圧VMへと、電荷がシフトされ、またはポンピングされる。クラン プおよび放電回路185は、回路の出力を高電圧値に定め、それを出力ピン18 6に送信し、ピン187でのコマンドにより、回路を放電させることができる。 図12を参照して、ホストシステム201はマイクロコントローラのための更 新されたプログラムを含む。現在、交通信号、ロボット機械、通信および輸送設 備といったフィールドアプリケーションにおいて、更新されたプログラムを設置 することは、非常に時間がかかる。EPROM集積回路が変更されねばならない ことが多い。しかし今や、 更新されたプログラムがモデムを介してマイクロコントローラ203のポートの 1つに送信される。マイクロコントローラは、図1に示されたアーキテクチャに 従い、遠隔の場所からのデータを扱うための通信回路50を接続するポート35 を通して、シリアル通信を受取ることができる。消去信号が送信され、メモリが クリアされ、新しい更新されたプログラムが送信および受信されるまで、更新さ れたプログラムは、不揮発性PEROMまたはチップ203のフラッシュメモリ に記憶される。集積回路チップ203は、ラップトップコンピュータまたは輸送 システムといったポータブルマイクロコントローラ内で運ばれてもよい。そのよ うなアプリケーションにおいては、小さなバッテリからの動作が便宜的であるこ とが多い。この発明は、そのようなアプリケーションに特に適する、というのも 、電力変換回路により、通常はVccとして用いられる1つの低電圧電源が使用さ れ、図10に示される不揮発性メモリの書込およびクリア信号を与えることがで きるからである。1.5Vバッテリの対からなる1つの低電圧電源205は、チ ップ203に対して電力供給全体を与える。このような電源により、現代のアプ リケーションにおいては必須の、コンパクトパッケージおよび軽重量を可能にす る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.マイクロコントローラを備える再プログラム可能メモリシステムであって、 フィールドマイクロコントローラによる実行のための更新されたプログラムを 有するメモリ記憶を備える遠隔ホストコンピュータと、 1つの低電圧電源を有するシングルチップマイクロコントローラとを含み、マ イクロコントローラは前記遠隔ホストコンピュータと電気的に通信し、PERO MおよびRAMメモリセルを有し、PEROMメモリセルは、低電圧電源を用い てPEROMセルをクリアしそこに書込むための電力変換手段を有する主プログ ラム記憶として接続される、再プログラム可能メモリシステム。 2.前記電力変換手段は、低電圧入力および高電圧出力、ならびにコマンドを受 けて高電圧を保つためのクランプ回路手段を有する多段チャージポンプを含む、 請求項1に記載のメモリシステム。 3.前記電力変換手段は、低電圧入力および高電圧出力、ならびにコマンドを受 けて高電圧の放電を行なうための放電回路手段を有する多段チャージポンプを含 む、請求項1に記載のメモリシステム。 4.算述論理ユニット、およびプログラム命令を実行しデータについて演算する ための算述論理ユニットに関連する複数のレジスタを有する型の集積回路マイク ロコントロ ーラにおけるプログラム記憶回路配置であって、 ブロックに配置された電気的プログラム可能および消去可能読出専用メモリト ランジスタのアレイを含み、それによりトランジスタのブロックは同時に消去さ れることができ、プログラム記憶回路配置はさらに、 前記アレイに接続されたアドレスバスを含み、前記アドレスバスは、外部ソー スからマイクロ命令を受取ることができるポートと双方向通信し、プログラム記 憶回路配置はさらに、 単方向に出力として前記アレイに接続され、データバスでマイクロコントロー ラ回路に接続されたデータバスを含み、それにより前記アレイはデータバスから のデータの直接受信からは分離されるが、データバスでマイクロコントローラ回 路の外方へ通信し、プログラム記憶回路配置はさらに、 前記データバスに接続されたランダムアクセスメモリアレイと、 アドレスバスをデータバスから分離するがその間の通信を許可する双方向バッ ファと、 プログラムアドレスおよびデータ情報の双方向の交換のための複数の双方向入 出力ポート手段と、 電気的プログラム可能および消去可能読出専用メモリトランジスタに適する電 圧レベルに低電圧供給を変換するための、接続されたチャージポンプ手段を有す る低電圧電源 とを含む、プログラム記憶回路配置。 5.電気的プログラム可能および消去可能読出専用メモリトランジスタのアレイ は、1つの低電圧ソースで動作可能な選択トランジスタおよびビット記憶トラン ジスタを有する2つのトランジスタの記憶セルを含む、請求項4に記載の回路配 置。 6.ビット記憶トランジスタは、センスゲートと、薄いトンネル酸化膜の領域の 上に配置されたフローティングゲートとを含む、請求項5に記載の回路配置。 7.前記複数の双方向入出力ポート手段が、 外部プログラムおよびデータメモリと通信するためのアドレスバスおよびデー タバスに接続された、第1および第2の双方向入出力ポート手段と、 第1および第2のポート手段のタスクを分担するためのデータバスに接続され た第3の双方向入出力ポート手段とを含む、請求項4に記載の回路配置。 8.算述論理ユニット、アキュムレータ、および算述論理ユニットと双方向入出 力ポートアドレスバスとデータバスとに供給するレジスタを有するマイクロコン トローラにおいて、プログラム記憶回路改良は、 ブロックに配置された電気的プログラム可能および消去可能読出専用メモリト ランジスタのアレイを含み、トランジスタのブロックは同時に消去でき、アレイ はアドレスおよびデータバスを介してマイクロコントローラ回路に接続 され、 アドレスおよびデータバスを介してマイクロコントローラ回路に接続されたラ ンダムアクセスメモリトランジスタのアレイと、 電気的プログラム可能および消去可能読出専用メモリトランジスタをプログラ ムおよび消去する電圧レベルに低電圧供給を変換するための、接続されたチャー ジポンプを有する低電圧電源とを含む、プログラム記憶回路改良。 9.電気的プログラム可能および消去可能メモリトランジスタのアレイは、フラ ッシュトランジスタアレイを含む、請求項8に記載のマイクロコントローラ。 10.電気的プログラム可能および消去可能メモリトランジスタのアレイは、単 一の低電圧ソースで動作可能な、選択トランジスタおよびビット記憶トランジス タを有する2つのトランジスタの記憶セルを含む、請求項8に記載のマイクロコ ントローラ。 11.ビット記憶トランジスタは、センスゲート、および薄いトンネル酸化膜領 域の上に配置されたフローティングゲートを含む、請求項8に記載のマイクロコ ントローラ。 12.選択的に前記センスゲートを放電するための手段 をさらに含む、請求項11に記載のマイクロコントローラ。
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