JPH08306503A - チップ状電子部品 - Google Patents
チップ状電子部品Info
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- JPH08306503A JPH08306503A JP7113305A JP11330595A JPH08306503A JP H08306503 A JPH08306503 A JP H08306503A JP 7113305 A JP7113305 A JP 7113305A JP 11330595 A JP11330595 A JP 11330595A JP H08306503 A JPH08306503 A JP H08306503A
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-
- H—ELECTRICITY
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- H01C—RESISTORS
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- H01C1/02—Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure
- H01C1/034—Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure the housing or enclosure being formed as coating or mould without outer sheath
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- H01C—RESISTORS
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- H01C1/14—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
- H01C1/142—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors the terminals or tapping points being coated on the resistive element
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- H01C17/006—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for manufacturing resistor chips
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/40—Structural combinations of fixed capacitors with other electric elements, the structure mainly consisting of a capacitor, e.g. RC combinations
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10S257/00—Active solid-state devices, e.g. transistors, solid-state diodes
- Y10S257/924—Active solid-state devices, e.g. transistors, solid-state diodes with passive device, e.g. capacitor, or battery, as integral part of housing or housing element, e.g. cap
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- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 絶縁性基板上に電子素子層を有するチップ状
電子部品の小型化において、上記電子素子層の特性の調
整を良好に行えるチップ状電子部品の構造を提供する。 【構成】 絶縁性の大基板に設けられた複数の縦溝及び
横溝において該大基板を分割して得られる小基板上の両
端部に、上記小基板の端辺側が幅狭で小基板の中央側が
幅広の上面電極層が対向して設けられ、これら上面電極
層間に抵抗素子層等の電子素子層が設けられており、上
記電子素子層及び上面電極層の幅広の部分を覆うように
保護層を設けてなる構成とする。
電子部品の小型化において、上記電子素子層の特性の調
整を良好に行えるチップ状電子部品の構造を提供する。 【構成】 絶縁性の大基板に設けられた複数の縦溝及び
横溝において該大基板を分割して得られる小基板上の両
端部に、上記小基板の端辺側が幅狭で小基板の中央側が
幅広の上面電極層が対向して設けられ、これら上面電極
層間に抵抗素子層等の電子素子層が設けられており、上
記電子素子層及び上面電極層の幅広の部分を覆うように
保護層を設けてなる構成とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、矩形状の絶縁性基板上
に電子素子層が形成されたチップ状電子部品、例えば絶
縁性基板上に、抵抗素子層、コンデンサ素子層等を1つ
もしくは複数有するチップ抵抗器、チップコンデンサ、
抵抗素子層及びコンデンサ素子層を有するチップ複合電
子素子等のチップ状電子部品に関する。
に電子素子層が形成されたチップ状電子部品、例えば絶
縁性基板上に、抵抗素子層、コンデンサ素子層等を1つ
もしくは複数有するチップ抵抗器、チップコンデンサ、
抵抗素子層及びコンデンサ素子層を有するチップ複合電
子素子等のチップ状電子部品に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のチップ状電子部品、例え
ばチップ抵抗器は、図6(A)及び(B)に示すよう
に、矩形状の絶縁性の小基板1の上面の両端部に対向す
る一対の上面電極層12,12を形成し、上記一対の上
面電極層12,12間に該上面電極層12,12と電気
的に接続するように抵抗素子層13を形成し、上記抵抗
素子層13を覆うように保護層14を形成し、上記小基
板1の両端部に上記上面電極層12,12の一部及び上
記小基板1の両端面を覆うように端面電極層15,15
が形成されるという構成とされている。尚、図中符号1
6は、上記上面電極層12,12間の抵抗値を所望の値
に調整するために上記抵抗素子層13の一部を切り欠い
て設けられるトリミング溝である。
ばチップ抵抗器は、図6(A)及び(B)に示すよう
に、矩形状の絶縁性の小基板1の上面の両端部に対向す
る一対の上面電極層12,12を形成し、上記一対の上
面電極層12,12間に該上面電極層12,12と電気
的に接続するように抵抗素子層13を形成し、上記抵抗
素子層13を覆うように保護層14を形成し、上記小基
板1の両端部に上記上面電極層12,12の一部及び上
記小基板1の両端面を覆うように端面電極層15,15
が形成されるという構成とされている。尚、図中符号1
6は、上記上面電極層12,12間の抵抗値を所望の値
に調整するために上記抵抗素子層13の一部を切り欠い
て設けられるトリミング溝である。
【0003】従来より、このようなチップ抵抗器等のチ
ップ状電子部品は、通常、シート状の絶縁性の大基板に
複数の電子素子を形成し、該電子素子単位に上記大基板
を分割して個々の電子部品とし製造される。具体的に
は、例えば上記従来のチップ抵抗器は、次のように製造
される。図7(A)に示すように、先ず、上面に分割用
の複数の縦溝11a・・・及び横溝11b・・・によっ
て一つのチップ抵抗器に相当する単位領域(小基板)1
を複数個に区画してなる絶縁性の大基板11において、
上記小基板1・・・の縦方向に並ぶ各小基板1・・・間
で独立し且つ上記縦溝11a・・・の両側に跨るように
矩形状にペースト状電極材を印刷・焼成して上面電極層
12・・・を形成することによって上記各小基板1・・
・における両端部に対向する上面電極層12,12・・
・が形成される。次に、図7(B)に示すように、横方
向に隣合う上記上面電極層12,12・・・間に跨るよ
うに抵抗素子層13・・・を形成する。その後、上記各
抵抗素子層13・・・の両端の上面電極層12,12に
プローブ端子を接触させ該両端の上面電極層12,12
間の抵抗値を測定しつつ、上記抵抗素子層13毎にレー
ザ光を照射して上記抵抗素子層13の縦方向にトリミン
グ溝16・・・を設けていき上記両端の上面電極層1
2,12・・・間の抵抗値を調整する。この抵抗値調整
時、上記大基板11の状態で調整しようとする個々の抵
抗素子層13がその周辺の抵抗素子層13・・・の影響
を受けずに正確な抵抗値調整が行えるべく、上記のよう
に上面電極層12,12は上記小基板1・・・の縦方向
に並ぶ各小基板1・・・間で独立して設け、上記調整し
ようとする抵抗素子層13を上記周辺の抵抗素子層13
・・・と独立し調整できるようにしている。
ップ状電子部品は、通常、シート状の絶縁性の大基板に
複数の電子素子を形成し、該電子素子単位に上記大基板
を分割して個々の電子部品とし製造される。具体的に
は、例えば上記従来のチップ抵抗器は、次のように製造
される。図7(A)に示すように、先ず、上面に分割用
の複数の縦溝11a・・・及び横溝11b・・・によっ
て一つのチップ抵抗器に相当する単位領域(小基板)1
を複数個に区画してなる絶縁性の大基板11において、
上記小基板1・・・の縦方向に並ぶ各小基板1・・・間
で独立し且つ上記縦溝11a・・・の両側に跨るように
矩形状にペースト状電極材を印刷・焼成して上面電極層
12・・・を形成することによって上記各小基板1・・
・における両端部に対向する上面電極層12,12・・
・が形成される。次に、図7(B)に示すように、横方
向に隣合う上記上面電極層12,12・・・間に跨るよ
うに抵抗素子層13・・・を形成する。その後、上記各
抵抗素子層13・・・の両端の上面電極層12,12に
プローブ端子を接触させ該両端の上面電極層12,12
間の抵抗値を測定しつつ、上記抵抗素子層13毎にレー
ザ光を照射して上記抵抗素子層13の縦方向にトリミン
グ溝16・・・を設けていき上記両端の上面電極層1
2,12・・・間の抵抗値を調整する。この抵抗値調整
時、上記大基板11の状態で調整しようとする個々の抵
抗素子層13がその周辺の抵抗素子層13・・・の影響
を受けずに正確な抵抗値調整が行えるべく、上記のよう
に上面電極層12,12は上記小基板1・・・の縦方向
に並ぶ各小基板1・・・間で独立して設け、上記調整し
ようとする抵抗素子層13を上記周辺の抵抗素子層13
・・・と独立し調整できるようにしている。
【0004】上記抵抗値調整後、上記抵抗素子層13・
・・を保護層14・・・で覆う。上記保護層14は、上
記各小基板1・・・間で独立して形成される。そして、
上記大基板11を上記縦溝11a・・・で分離して棒状
片とし、該棒状片の各小基板1における両端部に端面電
極層15,15・・・を形成した後、上記棒状片を上記
横溝11b・・・で分離してチップ片とし、該チップ片
両端部の電極層上にメッキ層が設けられチップ抵抗器と
される。
・・を保護層14・・・で覆う。上記保護層14は、上
記各小基板1・・・間で独立して形成される。そして、
上記大基板11を上記縦溝11a・・・で分離して棒状
片とし、該棒状片の各小基板1における両端部に端面電
極層15,15・・・を形成した後、上記棒状片を上記
横溝11b・・・で分離してチップ片とし、該チップ片
両端部の電極層上にメッキ層が設けられチップ抵抗器と
される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近年の益々の電子部品
の小型化が要求されるようになって、チップ抵抗器のよ
うなチップ状電子部品も例えば約1.6×0.8mmサ
イズ、更には1.0×0.5mmサイズといった極めて
小型サイズの製造が主流となってきている。しかしなが
ら、上記従来のチップ抵抗器の製造方法をそのまま上記
サイズのような小型の部品に適用しようとすると、例え
ば上記チップ抵抗器では、図8に示すように、縦方向に
並ぶ上面電極層12,12間の距離が小型化に伴い必然
的に短くなり、上面電極層12・・・の形成時、印刷さ
れたペースト状電極材が上記縦方向に隣合う上面電極層
12,12間を結ぶ縦溝11aを伝わり上記縦方向に並
ぶ上面電極層12,12間で短絡が生じてしまう危険性
が高くなる。この縦方向に並ぶ上面電極層12,12間
が短絡してしまうと、その後の抵抗素子層13・・・の
形成により、複数の抵抗素子層13・・・間で閉回路が
形成され、後の抵抗素子層13の抵抗値調整時に調整し
ようとする抵抗素子層13の両端の上面電極層12,1
2にプローブ端子を接触させた場合、上記閉回路を形成
する他の抵抗素子層13の抵抗値成分が加わり、上記両
端の上面電極層12,12間の抵抗値を正確に測定でき
ず、抵抗値調整が正確にできなくなるという問題が生じ
るのである。
の小型化が要求されるようになって、チップ抵抗器のよ
うなチップ状電子部品も例えば約1.6×0.8mmサ
イズ、更には1.0×0.5mmサイズといった極めて
小型サイズの製造が主流となってきている。しかしなが
ら、上記従来のチップ抵抗器の製造方法をそのまま上記
サイズのような小型の部品に適用しようとすると、例え
ば上記チップ抵抗器では、図8に示すように、縦方向に
並ぶ上面電極層12,12間の距離が小型化に伴い必然
的に短くなり、上面電極層12・・・の形成時、印刷さ
れたペースト状電極材が上記縦方向に隣合う上面電極層
12,12間を結ぶ縦溝11aを伝わり上記縦方向に並
ぶ上面電極層12,12間で短絡が生じてしまう危険性
が高くなる。この縦方向に並ぶ上面電極層12,12間
が短絡してしまうと、その後の抵抗素子層13・・・の
形成により、複数の抵抗素子層13・・・間で閉回路が
形成され、後の抵抗素子層13の抵抗値調整時に調整し
ようとする抵抗素子層13の両端の上面電極層12,1
2にプローブ端子を接触させた場合、上記閉回路を形成
する他の抵抗素子層13の抵抗値成分が加わり、上記両
端の上面電極層12,12間の抵抗値を正確に測定でき
ず、抵抗値調整が正確にできなくなるという問題が生じ
るのである。
【0006】この問題を回避するためには、図9(A)
に示すように、各小基板1における上面電極層12・・
・の縦方向の幅12Wを狭くして上記縦方向に隣合う上
面電極層12,12間の距離を長くすればよいのだが、
上記上面電極層12・・・の縦方向の幅12Wを狭くす
れば、図9(B)に示すように、該幅12Wに対し抵抗
素子層13の縦方向の幅13Wが同等もしくは狭くなる
こととなり、抵抗素子層13の幅13Wは極めて狭くな
ってしまう。たとえ図10に示すように上記抵抗素子層
13の幅13W’を上面電極層12の幅12Wより広げ
たとしても抵抗素子層13の有効領域Sは小基板1にお
ける両端の上面電極層12,12の向かい合う辺を結ぶ
領域でしかなくなることとなり、実質的な抵抗素子層の
縦方向の幅は狭くなるのである。このように抵抗素子層
13の縦方向の幅が狭くなると、その後の抵抗値調整時
のレーザ光の照射による切り欠き(トリミング溝)の長
さに対する抵抗値の変化率が大きくなり抵抗値の微調整
が行い難くなるという問題が生じるのである。
に示すように、各小基板1における上面電極層12・・
・の縦方向の幅12Wを狭くして上記縦方向に隣合う上
面電極層12,12間の距離を長くすればよいのだが、
上記上面電極層12・・・の縦方向の幅12Wを狭くす
れば、図9(B)に示すように、該幅12Wに対し抵抗
素子層13の縦方向の幅13Wが同等もしくは狭くなる
こととなり、抵抗素子層13の幅13Wは極めて狭くな
ってしまう。たとえ図10に示すように上記抵抗素子層
13の幅13W’を上面電極層12の幅12Wより広げ
たとしても抵抗素子層13の有効領域Sは小基板1にお
ける両端の上面電極層12,12の向かい合う辺を結ぶ
領域でしかなくなることとなり、実質的な抵抗素子層の
縦方向の幅は狭くなるのである。このように抵抗素子層
13の縦方向の幅が狭くなると、その後の抵抗値調整時
のレーザ光の照射による切り欠き(トリミング溝)の長
さに対する抵抗値の変化率が大きくなり抵抗値の微調整
が行い難くなるという問題が生じるのである。
【0007】そこで、図11(A)に示すように、大基
板11の小基板1における対向する上面電極層12,1
2を、上記大基板11の横溝11bから離間し、上記大
基板11の縦溝11aからその近傍部にかける狭い部分
で縦方向を幅狭に、抵抗素子層13との接続側において
幅広となるように形成して、上記抵抗素子層13の縦方
向の幅を広くし、保護層14を上記抵抗素子層13を覆
うように形成するようにすることにより、縦方向に並ぶ
上面電極層12・・・間の間隔を広くするとともに抵抗
素子層13の縦方向の幅を比較的広く形成できるように
して、上記抵抗値調整時の問題を解決することが考えら
れる。しかしながら、電子部品が極めて小型になってく
ると、即ち上記小基板1の面積が小さくなると、上記上
面電極層12,12の幅狭の部分も小さくなり、上面電
極層12,12を形成する際に横方向に僅かの印刷位置
ズレが生じただけでも、図11(B)に示すように、上
記上面電極層12,12の幅広の部分が上記縦溝11a
上に形成されることになり、やはり上述した大基板11
における縦方向に隣合う上面電極層12・・・間で短絡
が生じる危険性があるのである。
板11の小基板1における対向する上面電極層12,1
2を、上記大基板11の横溝11bから離間し、上記大
基板11の縦溝11aからその近傍部にかける狭い部分
で縦方向を幅狭に、抵抗素子層13との接続側において
幅広となるように形成して、上記抵抗素子層13の縦方
向の幅を広くし、保護層14を上記抵抗素子層13を覆
うように形成するようにすることにより、縦方向に並ぶ
上面電極層12・・・間の間隔を広くするとともに抵抗
素子層13の縦方向の幅を比較的広く形成できるように
して、上記抵抗値調整時の問題を解決することが考えら
れる。しかしながら、電子部品が極めて小型になってく
ると、即ち上記小基板1の面積が小さくなると、上記上
面電極層12,12の幅狭の部分も小さくなり、上面電
極層12,12を形成する際に横方向に僅かの印刷位置
ズレが生じただけでも、図11(B)に示すように、上
記上面電極層12,12の幅広の部分が上記縦溝11a
上に形成されることになり、やはり上述した大基板11
における縦方向に隣合う上面電極層12・・・間で短絡
が生じる危険性があるのである。
【0008】本発明は、このような問題を解消もしくは
軽減すべく成されたもので、絶縁性の基板上に抵抗素子
層、コンデンサ素子(誘電体)層等の電子素子層を形成
したチップ状電子部品を小型化したとしても、上記電子
素子層の抵抗値、容量値等の電気的特性の調整を容易に
でき得るチップ状電子部品の構造を提供することを技術
的課題とする。
軽減すべく成されたもので、絶縁性の基板上に抵抗素子
層、コンデンサ素子(誘電体)層等の電子素子層を形成
したチップ状電子部品を小型化したとしても、上記電子
素子層の抵抗値、容量値等の電気的特性の調整を容易に
でき得るチップ状電子部品の構造を提供することを技術
的課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記技術的課題を達成す
るために、本発明は、絶縁性の大基板に設けられた複数
の縦溝及び横溝において該大基板を分割することにより
得られる矩形状の小基板上の両端部で対向する第1の電
極層を備え、これら第1の電極層間に、該第1の電極層
間を電気的に接続する少なくとも1種からなる電子素子
層が形成されており、上記電子素子層は電気的特性が調
整されてしかもその上に絶縁性の保護層が形成されてお
り、上記小基板の両端面に該端面を覆い上記第1の電極
層と導通する第2の電極層が形成されているチップ状電
子部品であって、上記第1の電極層は、ペースト状電極
材を印刷することにより形成され、上記小基板の側辺か
ら離間し、上記小基板の端辺から中央へ向かう位置に設
けられ、上記小基板の端辺側に幅狭部を、中央側に幅広
部を有し、該幅広部が上記保護層で完全に覆われるよう
に上記幅狭部が上記保護膜の端縁まで延設されていると
いう構成とした。
るために、本発明は、絶縁性の大基板に設けられた複数
の縦溝及び横溝において該大基板を分割することにより
得られる矩形状の小基板上の両端部で対向する第1の電
極層を備え、これら第1の電極層間に、該第1の電極層
間を電気的に接続する少なくとも1種からなる電子素子
層が形成されており、上記電子素子層は電気的特性が調
整されてしかもその上に絶縁性の保護層が形成されてお
り、上記小基板の両端面に該端面を覆い上記第1の電極
層と導通する第2の電極層が形成されているチップ状電
子部品であって、上記第1の電極層は、ペースト状電極
材を印刷することにより形成され、上記小基板の側辺か
ら離間し、上記小基板の端辺から中央へ向かう位置に設
けられ、上記小基板の端辺側に幅狭部を、中央側に幅広
部を有し、該幅広部が上記保護層で完全に覆われるよう
に上記幅狭部が上記保護膜の端縁まで延設されていると
いう構成とした。
【0010】また、本発明は、第2の電極層を上記小基
板の端面から上記保護層の端縁まで延設するような構成
とした。更に、上記保護層を小基板の周縁から離間して
形成するような構成とした。
板の端面から上記保護層の端縁まで延設するような構成
とした。更に、上記保護層を小基板の周縁から離間して
形成するような構成とした。
【0011】
【作用及び効果】本発明のチップ状電子部品は、第1の
電極層が、絶縁性の小基板の側辺から離間し、上記小基
板の端辺側に幅狭部を有するので、複数の縦溝及び横溝
が設けられた絶縁性の大基板に、該縦溝及び横溝により
区画される小基板のそれぞれに第1の電極層をペースト
状電極材の印刷により設けたとしても、上記大基板にお
いて縦方向に隣合う第1の電極間を結ぶ縦溝での上記第
1の電極層間の距離を長くできる。また、上記第1の電
極層における幅狭部を抵抗素子層を覆う保護層の端縁ま
で延設するので、幅狭部の横方向の幅を広くできる。更
に、上記第1の電極層の幅狭部の領域を広くしているの
で、ペースト状電極材の使用量を削減でき、該ペースト
状電極材が上記大基板に印刷後の縦方向に隣合う第1の
電極層間を結ぶ縦溝に流れ込んだとしても、その量を小
量にとどめることができる。従って、上記小基板のサイ
ズが小さい場合、例えば約1.6×0.8mmサイズ以
下、更には1.0×0.5mmサイズのチップ状電子部
品であっても、上記大基板において縦方向に隣合う第1
の電極間で短絡が発生することを解消もしくは軽減で
き、しかも上記第1の電極層の印刷位置ズレによって上
記幅狭部が上記縦溝から離間して形成されることを解消
もしくは軽減でき、上記小基板の両端部で対向する第1
の電極層間の電子素子層の電気的特性を上記区画される
小基板毎に正確に調整し得るのである。しかも、上記第
1の電極層を小基板の端辺側で幅狭とするので、上記大
基板における縦溝上の第1の電極層の領域を少なくでき
るので、上記大基板を縦溝によって分割する場合、比較
的弱い力でしかも上記縦溝から外れて斜めに分割される
ことを防止して、上記縦溝に沿って精度良く分割するこ
とができるのである。
電極層が、絶縁性の小基板の側辺から離間し、上記小基
板の端辺側に幅狭部を有するので、複数の縦溝及び横溝
が設けられた絶縁性の大基板に、該縦溝及び横溝により
区画される小基板のそれぞれに第1の電極層をペースト
状電極材の印刷により設けたとしても、上記大基板にお
いて縦方向に隣合う第1の電極間を結ぶ縦溝での上記第
1の電極層間の距離を長くできる。また、上記第1の電
極層における幅狭部を抵抗素子層を覆う保護層の端縁ま
で延設するので、幅狭部の横方向の幅を広くできる。更
に、上記第1の電極層の幅狭部の領域を広くしているの
で、ペースト状電極材の使用量を削減でき、該ペースト
状電極材が上記大基板に印刷後の縦方向に隣合う第1の
電極層間を結ぶ縦溝に流れ込んだとしても、その量を小
量にとどめることができる。従って、上記小基板のサイ
ズが小さい場合、例えば約1.6×0.8mmサイズ以
下、更には1.0×0.5mmサイズのチップ状電子部
品であっても、上記大基板において縦方向に隣合う第1
の電極間で短絡が発生することを解消もしくは軽減で
き、しかも上記第1の電極層の印刷位置ズレによって上
記幅狭部が上記縦溝から離間して形成されることを解消
もしくは軽減でき、上記小基板の両端部で対向する第1
の電極層間の電子素子層の電気的特性を上記区画される
小基板毎に正確に調整し得るのである。しかも、上記第
1の電極層を小基板の端辺側で幅狭とするので、上記大
基板における縦溝上の第1の電極層の領域を少なくでき
るので、上記大基板を縦溝によって分割する場合、比較
的弱い力でしかも上記縦溝から外れて斜めに分割される
ことを防止して、上記縦溝に沿って精度良く分割するこ
とができるのである。
【0012】また、本発明では、上記第1の電極層が、
上記小基板の中央側に幅広部を有し、該幅広部で電子素
子層と接続するようにするので、上記小基板の端辺方向
における上記電子素子層の有効領域の幅を広くできる。
従って、上記大基板を小基板に分割することが困難な上
記のような小型のチップ状電子部品サイズのものであっ
ても、電子素子層の電気的特性の微調整を行い易くでき
るのである。
上記小基板の中央側に幅広部を有し、該幅広部で電子素
子層と接続するようにするので、上記小基板の端辺方向
における上記電子素子層の有効領域の幅を広くできる。
従って、上記大基板を小基板に分割することが困難な上
記のような小型のチップ状電子部品サイズのものであっ
ても、電子素子層の電気的特性の微調整を行い易くでき
るのである。
【0013】一方、本発明において、上記第2の電極層
を上記小基板の端面から上記保護層の端縁まで延設する
ときは、上記小基板における上記電子素子層の形成面の
段差(凹凸)を小さくできる。従って、上記のような小
型サイズのチップ状電子部品とした場合であっても、こ
のチップ状電子部品をプリント基板等に真空吸着式コレ
ット等によって吸着して実装する自動マウントにおい
て、吸着ミス等による実装ミスを解消もしくは軽減でき
るのである。
を上記小基板の端面から上記保護層の端縁まで延設する
ときは、上記小基板における上記電子素子層の形成面の
段差(凹凸)を小さくできる。従って、上記のような小
型サイズのチップ状電子部品とした場合であっても、こ
のチップ状電子部品をプリント基板等に真空吸着式コレ
ット等によって吸着して実装する自動マウントにおい
て、吸着ミス等による実装ミスを解消もしくは軽減でき
るのである。
【0014】また、本発明において、上記保護層を小基
板の周縁から離間して形成するときは、上記大基板にお
ける横溝が保護層で埋まることがないので、上記大基板
を小基板に分割することが困難な上記のような小型のチ
ップ状電子部品サイズのものであっても、上記大基板を
横溝に沿って精度良く分割できるのである。更に、本発
明のチップ状電子部品は、小基板における端部での上面
電極層の幅が狭いが、上記小基板の端面を覆う端面電極
層を設けてあるので、例えばプリント基板に実装した時
の十分な実装強度を有するものである。
板の周縁から離間して形成するときは、上記大基板にお
ける横溝が保護層で埋まることがないので、上記大基板
を小基板に分割することが困難な上記のような小型のチ
ップ状電子部品サイズのものであっても、上記大基板を
横溝に沿って精度良く分割できるのである。更に、本発
明のチップ状電子部品は、小基板における端部での上面
電極層の幅が狭いが、上記小基板の端面を覆う端面電極
層を設けてあるので、例えばプリント基板に実装した時
の十分な実装強度を有するものである。
【0015】
【実施例】以下実施例を示し、本発明の特徴とするとこ
ろをより詳細に説明するが、本発明がこれら実施例に限
定されることはない。第1の実施例として、本発明をチ
ップ抵抗器に適用した場合について説明する。図1
(A)及び(B)は、上記第1の実施例のチップ抵抗器
を示す上面図及び断面図であり、小基板1上の両端部に
は、上記小基板1の側辺から離間し、小基板1の端辺か
ら中央に向かって延びる、対向する一対の上面電極層
2,2が形成されている。上記上面電極層2,2は、小
基板1の端辺側に比較的横方向寸法が大きく縦方向寸法
が小さい幅狭部2aを、中央側に横方向寸法が上記幅狭
部2aより小さく縦方向寸法が大きい幅広部2bを有
し、これら上面電極層2,2の幅広部2b,2b間を跨
ぐように、抵抗素子層3が形成されている。そして、上
記抵抗素子層3及びその両端の上面電極層2,2の幅広
部2b,2bを完全に覆うように保護層4が設けられ、
上記小基板1の両端面には該端面を覆う端面電極層5,
5が上記保護層4の端縁まで延設して形成されている。
また、上記抵抗素子層3は抵抗値調整のために設けられ
たトリミング溝6を有する。本発明において、上記保護
層4は、上面電極層2,2の幅広部2b,2bの少なく
とも上面を覆う程度、上記幅広部2b,2bを完全に覆
っていればよい。
ろをより詳細に説明するが、本発明がこれら実施例に限
定されることはない。第1の実施例として、本発明をチ
ップ抵抗器に適用した場合について説明する。図1
(A)及び(B)は、上記第1の実施例のチップ抵抗器
を示す上面図及び断面図であり、小基板1上の両端部に
は、上記小基板1の側辺から離間し、小基板1の端辺か
ら中央に向かって延びる、対向する一対の上面電極層
2,2が形成されている。上記上面電極層2,2は、小
基板1の端辺側に比較的横方向寸法が大きく縦方向寸法
が小さい幅狭部2aを、中央側に横方向寸法が上記幅狭
部2aより小さく縦方向寸法が大きい幅広部2bを有
し、これら上面電極層2,2の幅広部2b,2b間を跨
ぐように、抵抗素子層3が形成されている。そして、上
記抵抗素子層3及びその両端の上面電極層2,2の幅広
部2b,2bを完全に覆うように保護層4が設けられ、
上記小基板1の両端面には該端面を覆う端面電極層5,
5が上記保護層4の端縁まで延設して形成されている。
また、上記抵抗素子層3は抵抗値調整のために設けられ
たトリミング溝6を有する。本発明において、上記保護
層4は、上面電極層2,2の幅広部2b,2bの少なく
とも上面を覆う程度、上記幅広部2b,2bを完全に覆
っていればよい。
【0016】図2に示すように、先ず、上面に分割用の
複数の縦溝11a・・・及び横溝11b・・・によって
一つのチップ抵抗器に相当する単位領域(小基板)1を
複数個に区画してなる絶縁性の大基板11において、上
記小基板1・・・の縦方向に隣合う各小基板1・・・間
で独立し且つ上記縦溝11a・・・の両側に跨るよう
に、中央部に比較的横幅寸法の大きい幅狭部2aと両端
部に横幅寸法の小さい幅広部2bとを有する上面電極層
2・・・を、例えば銀ペースト等のメタルグレーズ系の
ペースト状電極材を印刷・焼成して形成することによっ
て上記各小基板1・・・における両端部に対向するよう
に形成する。本発明において、上記各小基板1・・・に
おける上面電極層2の幅狭部2aの横方向寸法は、小基
板1の横方向寸法を1としたとき0.10〜0.25程
度とするのが好ましく、この範囲で本発明の効果を十分
に得ることができる。尚、本実施例では形成していない
が、上記上面電極層2,2・・・と、小基板1・・・の
上面と下面とで対向する位置に下面電極層を上面電極層
と同様にして形成してもよい。
複数の縦溝11a・・・及び横溝11b・・・によって
一つのチップ抵抗器に相当する単位領域(小基板)1を
複数個に区画してなる絶縁性の大基板11において、上
記小基板1・・・の縦方向に隣合う各小基板1・・・間
で独立し且つ上記縦溝11a・・・の両側に跨るよう
に、中央部に比較的横幅寸法の大きい幅狭部2aと両端
部に横幅寸法の小さい幅広部2bとを有する上面電極層
2・・・を、例えば銀ペースト等のメタルグレーズ系の
ペースト状電極材を印刷・焼成して形成することによっ
て上記各小基板1・・・における両端部に対向するよう
に形成する。本発明において、上記各小基板1・・・に
おける上面電極層2の幅狭部2aの横方向寸法は、小基
板1の横方向寸法を1としたとき0.10〜0.25程
度とするのが好ましく、この範囲で本発明の効果を十分
に得ることができる。尚、本実施例では形成していない
が、上記上面電極層2,2・・・と、小基板1・・・の
上面と下面とで対向する位置に下面電極層を上面電極層
と同様にして形成してもよい。
【0017】次に、図3に示すように、横方向に隣合う
上記上面電極層2,2・・・における幅広部2b,2b
間に跨るようにペースト状抵抗体材を印刷・焼成して抵
抗素子層3・・・を形成する。上記抵抗素子層3は、ス
パッタリング等の薄膜技術を用いて設けてもよい。そし
て、必要に応じて上記抵抗素子層3・・・の一部もしく
は全部をガラス層(図示しない)で覆った後、上記各抵
抗素子層3・・・の両端の上面電極層2,2に端子を接
触させ該両端の上面電極層2,2間の抵抗値を測定しつ
つ、上記抵抗素子層3毎にレーザ光を照射して上記抵抗
素子層3の縦方向にトリミング溝6・・・を設けていき
上記両端の上面電極層2,2・・・間の抵抗値を所定値
に調整する。
上記上面電極層2,2・・・における幅広部2b,2b
間に跨るようにペースト状抵抗体材を印刷・焼成して抵
抗素子層3・・・を形成する。上記抵抗素子層3は、ス
パッタリング等の薄膜技術を用いて設けてもよい。そし
て、必要に応じて上記抵抗素子層3・・・の一部もしく
は全部をガラス層(図示しない)で覆った後、上記各抵
抗素子層3・・・の両端の上面電極層2,2に端子を接
触させ該両端の上面電極層2,2間の抵抗値を測定しつ
つ、上記抵抗素子層3毎にレーザ光を照射して上記抵抗
素子層3の縦方向にトリミング溝6・・・を設けていき
上記両端の上面電極層2,2・・・間の抵抗値を所定値
に調整する。
【0018】上記抵抗値調整後、上記抵抗素子層3・・
・及び上面電極層2・・・の幅広部2b・・・を覆うよ
うにガラスペーストを印刷・焼成するか又は樹脂ペース
トを印刷・硬化して絶縁性の保護層4・・・を形成す
る。上記各小基板において保護層4は、両端の一対の上
面電極層2,2の幅広部2b,2bの両方を覆うので、
小基板1の両端部において上面電極層2,2の幅狭部2
a,2aが保護層4から露出することとなり、後の端面
電極層5,5の形成領域が保護膜4の両端に届かなった
場合であっても、得られるチップ抵抗器は、視覚的にば
らつきの少ない美観を備えたものとなる。本実施例で
は、上記保護層4を上記大基板11における縦方向に並
ぶ小基板1・・・に連続した帯状に形成したが、本発明
において、保護層4を上記各小基板1・・・間で独立
し、上記横溝11bから離間して形成してもよく、この
ように保護層を形成するときは、上記横溝11bを保護
層が覆うことがないので、後に大基板11を横溝11b
に沿って個々の小基板に分割するときの分割を容易とし
得る。
・及び上面電極層2・・・の幅広部2b・・・を覆うよ
うにガラスペーストを印刷・焼成するか又は樹脂ペース
トを印刷・硬化して絶縁性の保護層4・・・を形成す
る。上記各小基板において保護層4は、両端の一対の上
面電極層2,2の幅広部2b,2bの両方を覆うので、
小基板1の両端部において上面電極層2,2の幅狭部2
a,2aが保護層4から露出することとなり、後の端面
電極層5,5の形成領域が保護膜4の両端に届かなった
場合であっても、得られるチップ抵抗器は、視覚的にば
らつきの少ない美観を備えたものとなる。本実施例で
は、上記保護層4を上記大基板11における縦方向に並
ぶ小基板1・・・に連続した帯状に形成したが、本発明
において、保護層4を上記各小基板1・・・間で独立
し、上記横溝11bから離間して形成してもよく、この
ように保護層を形成するときは、上記横溝11bを保護
層が覆うことがないので、後に大基板11を横溝11b
に沿って個々の小基板に分割するときの分割を容易とし
得る。
【0019】そして、図4に示すように、上記大基板1
1を上記縦溝11a・・・で分離して棒状片とし、該棒
状片の両分割面及びその周辺に例えば銀ペースト、銀−
パラジウムペースト等のメタルグレーズ系のペースト状
電極材を塗着・焼成するか、或いは例えば銀等の金属粒
子を含む導電性樹脂ペーストを塗着・硬化して、上記上
面電極層2,2と導通する端面電極層5,5・・・を形
成する。また、上記端面電極層5,5・・・は、例えば
銀、ニッケル、半田等の金属層をスパッタリング等の薄
膜技術によって形成しても得られる。本実施例のよう
に、上記端面電極層5,5を上記保護層4の端縁まで延
設するときは、保護層4の両端縁の段差を軽減できる
が、本発明はこれに限られることはなく、端面電極層5
は、上記のように保護層4の端延まで延設していなくて
も、小基板1の端面を覆い上面電極層2と導通していれ
ばよい。
1を上記縦溝11a・・・で分離して棒状片とし、該棒
状片の両分割面及びその周辺に例えば銀ペースト、銀−
パラジウムペースト等のメタルグレーズ系のペースト状
電極材を塗着・焼成するか、或いは例えば銀等の金属粒
子を含む導電性樹脂ペーストを塗着・硬化して、上記上
面電極層2,2と導通する端面電極層5,5・・・を形
成する。また、上記端面電極層5,5・・・は、例えば
銀、ニッケル、半田等の金属層をスパッタリング等の薄
膜技術によって形成しても得られる。本実施例のよう
に、上記端面電極層5,5を上記保護層4の端縁まで延
設するときは、保護層4の両端縁の段差を軽減できる
が、本発明はこれに限られることはなく、端面電極層5
は、上記のように保護層4の端延まで延設していなくて
も、小基板1の端面を覆い上面電極層2と導通していれ
ばよい。
【0020】その後、上記棒状片を上記横溝11b・・
・に沿って分離して小基板1・・・とされる。そして、
必要に応じて、小基板1の両端部の露出する上面電極層
2,2及び端面電極層5,5上に、例えばニッケルメッ
キ、半田メッキ等のメッキ層を設けてチップ抵抗器とさ
れる。図5(A)及び(B)は、本発明の第2の実施例
である、アルミナ等の絶縁性の小基板1上に抵抗素子R
とコンデンサ素子Cとを直列に設けたチップCR複合電
子部品の上面図及び断面図である。上記小基板1の両端
部に、小基板1の端辺から中央へ向かって幅狭部6a及
び幅広部6bを有する、対向する一対の上面電極層6,
6がペースト状電極材を印刷・焼成することにより形成
されている。上記上面電極層6,6のうち一方の電極層
6の幅広部6bは、コンデンサ素子Cの一方の電極を構
成し、その上にはコンデンサ素子Cの誘電体層7が形成
されており、該誘電体層7上には上記コンデンサ素子C
のもう一方の電極を構成する導電層8が形成されてい
る。上記導電層8の一端は、トリミングされた抵抗素子
層9の一端と接続されており、該抵抗素子層9の他端は
上記上面電極層6,6のもう一方の電極層6の幅広部6
bと接続されている。また、上記対向する一対の上面電
極層6,6の幅広部6b,6bを完全に覆うように、上
記コンデンサ素子C及び抵抗素子R上には絶縁性の保護
層10が設けられている。そして、上記小基板1の両端
面には上記上面電極層6と接続する端面電極層5,5が
形成されており、上記上面電極層6の上記保護層10か
ら露出する部分及び上記端面電極層5,5上にはメッキ
層が設けられている。
・に沿って分離して小基板1・・・とされる。そして、
必要に応じて、小基板1の両端部の露出する上面電極層
2,2及び端面電極層5,5上に、例えばニッケルメッ
キ、半田メッキ等のメッキ層を設けてチップ抵抗器とさ
れる。図5(A)及び(B)は、本発明の第2の実施例
である、アルミナ等の絶縁性の小基板1上に抵抗素子R
とコンデンサ素子Cとを直列に設けたチップCR複合電
子部品の上面図及び断面図である。上記小基板1の両端
部に、小基板1の端辺から中央へ向かって幅狭部6a及
び幅広部6bを有する、対向する一対の上面電極層6,
6がペースト状電極材を印刷・焼成することにより形成
されている。上記上面電極層6,6のうち一方の電極層
6の幅広部6bは、コンデンサ素子Cの一方の電極を構
成し、その上にはコンデンサ素子Cの誘電体層7が形成
されており、該誘電体層7上には上記コンデンサ素子C
のもう一方の電極を構成する導電層8が形成されてい
る。上記導電層8の一端は、トリミングされた抵抗素子
層9の一端と接続されており、該抵抗素子層9の他端は
上記上面電極層6,6のもう一方の電極層6の幅広部6
bと接続されている。また、上記対向する一対の上面電
極層6,6の幅広部6b,6bを完全に覆うように、上
記コンデンサ素子C及び抵抗素子R上には絶縁性の保護
層10が設けられている。そして、上記小基板1の両端
面には上記上面電極層6と接続する端面電極層5,5が
形成されており、上記上面電極層6の上記保護層10か
ら露出する部分及び上記端面電極層5,5上にはメッキ
層が設けられている。
【0021】上記チップCR複合電子部品は、この分野
で用いられる周知の材料及び印刷手段により製造するこ
とができ、例えば、上記第1の実施例で用いた縦溝及び
横溝を有する大基板11と同様の基板を用い、上記縦溝
及び横溝によって区画される小基板1に相当する領域上
のそれぞれに対向する一対の上面電極層6,6を形成
し、該上面電極層のうち一方の電極層6の一部上に重な
るように誘電体層7を形成し、この誘電体層7上に重な
るように導電層8を形成し、該導電層8の一端と上記上
面電極層のうちもう一方の電極層6との間に抵抗素子層
9を形成し、該抵抗素子層9をレーザトリミングした後
に、誘電体層7及び抵抗素子層9を覆うように保護層1
0を設け、以下上記第1の実施例で説明したのと同様に
して基板の分割、端面電極層及びメッキ層を設けること
により製造することができる。
で用いられる周知の材料及び印刷手段により製造するこ
とができ、例えば、上記第1の実施例で用いた縦溝及び
横溝を有する大基板11と同様の基板を用い、上記縦溝
及び横溝によって区画される小基板1に相当する領域上
のそれぞれに対向する一対の上面電極層6,6を形成
し、該上面電極層のうち一方の電極層6の一部上に重な
るように誘電体層7を形成し、この誘電体層7上に重な
るように導電層8を形成し、該導電層8の一端と上記上
面電極層のうちもう一方の電極層6との間に抵抗素子層
9を形成し、該抵抗素子層9をレーザトリミングした後
に、誘電体層7及び抵抗素子層9を覆うように保護層1
0を設け、以下上記第1の実施例で説明したのと同様に
して基板の分割、端面電極層及びメッキ層を設けること
により製造することができる。
【0022】尚、上記実施例では、何れも上面電極層を
幅広部と幅狭部との2つの幅の形状としたが、本発明は
これに限られることなく、例えば上面電極層の幅広部と
幅狭部との間に幅広部の幅寸法と幅狭部の幅寸法との間
の幅寸法を有する中間幅部を設けたり、幅広部と幅狭部
とを幅広部から幅狭部へ幅が狭くなるようなテーパー部
を設けてもよく、これら中間幅部、テーパー部等は本発
明において幅狭部と定義される。
幅広部と幅狭部との2つの幅の形状としたが、本発明は
これに限られることなく、例えば上面電極層の幅広部と
幅狭部との間に幅広部の幅寸法と幅狭部の幅寸法との間
の幅寸法を有する中間幅部を設けたり、幅広部と幅狭部
とを幅広部から幅狭部へ幅が狭くなるようなテーパー部
を設けてもよく、これら中間幅部、テーパー部等は本発
明において幅狭部と定義される。
【図1】第1の実施例であるチップ抵抗器を示す(A)
上面図及び(B)該上面図のI−I断面図である。
上面図及び(B)該上面図のI−I断面図である。
【図2】第1の実施例のチップ抵抗器の製造工程の説明
図であり、上面電極層を形成した状態を示す大基板の部
分上面図である。
図であり、上面電極層を形成した状態を示す大基板の部
分上面図である。
【図3】第1の実施例のチップ抵抗器の製造工程の説明
図であり、図2の大基板に更に抵抗素子層及び保護層を
形成した状態を示す大基板の部分上面図である。
図であり、図2の大基板に更に抵抗素子層及び保護層を
形成した状態を示す大基板の部分上面図である。
【図4】第1の実施例のチップ抵抗器の製造工程の説明
図であり、図3の大基板を縦溝に沿って分割して得られ
た棒状片の両端面に端面電極層を形成した状態を示す棒
状片の部分上面図である。
図であり、図3の大基板を縦溝に沿って分割して得られ
た棒状片の両端面に端面電極層を形成した状態を示す棒
状片の部分上面図である。
【図5】第2の実施例であるチップCR複合電子部品を
示す(A)上面図及び(B)該上面図のII−II断面
図である。
示す(A)上面図及び(B)該上面図のII−II断面
図である。
【図6】従来のチップ抵抗器を示す(A)上面図及び及
び(B)該上面図のIII−III断面図である。
び(B)該上面図のIII−III断面図である。
【図7】従来のチップ抵抗器の製造工程の説明図であ
り、(A)上面電極層を形成した状態を示す大基板の部
分上面図及び(B)更に抵抗素子層及び保護層を形成し
た状態を示す大基板の部分上面図である。
り、(A)上面電極層を形成した状態を示す大基板の部
分上面図及び(B)更に抵抗素子層及び保護層を形成し
た状態を示す大基板の部分上面図である。
【図8】従来のチップ抵抗器の製造工程において、上面
電極層形成用のペースト材料を印刷したときの大基板の
部分拡大斜視図である。
電極層形成用のペースト材料を印刷したときの大基板の
部分拡大斜視図である。
【図9】図7(A)に示した大基板において、(A)上
面電極層の幅を狭くしたときの大基板の部分上面図及び
(B)更に抵抗素子層を形成したときの小基板の上面図
である。
面電極層の幅を狭くしたときの大基板の部分上面図及び
(B)更に抵抗素子層を形成したときの小基板の上面図
である。
【図10】図9(B)に示した小基板において、抵抗素
子層の幅を上面電極層の幅より広くしたときの小基板の
上面図である。
子層の幅を上面電極層の幅より広くしたときの小基板の
上面図である。
【図11】図7(B)に示した大基板において、(A)
上面電極層の縦溝の周辺部分の幅を狭くしたとき大基板
の上面図及び(B)該上面電極層が横方向に形成位置ズ
レしたときの大基板の上面図である。
上面電極層の縦溝の周辺部分の幅を狭くしたとき大基板
の上面図及び(B)該上面電極層が横方向に形成位置ズ
レしたときの大基板の上面図である。
1 小基板 2,6 上面電極層 3,9 抵抗素子層 4,10 保護層 5 端面電極層 6 トリミング溝 7 誘電体層 8 導電層 11 大基板
Claims (4)
- 【請求項1】 絶縁性の大基板に設けられた複数の縦溝
及び横溝において該大基板を分割することにより得られ
る矩形状の小基板上の両端部で対向する第1の電極層を
備え、これら第1の電極層間に、該第1の電極層間を電
気的に接続する少なくとも1種からなる電子素子層が形
成されており、上記電子素子層は電気的特性が調整され
てしかもその上に絶縁性の保護層が形成されており、上
記小基板の両端面に該端面を覆い上記第1の電極層と導
通する第2の電極層が形成されているチップ状電子部品
であって、 上記第1の電極層は、ペースト状電極材を印刷すること
により形成され、上記小基板の側辺から離間し、上記小
基板の端辺から中央へ向かう位置に設けられ、上記小基
板の端辺側に幅狭部を、中央側に幅広部を有し、該幅広
部が上記保護層で完全に覆われるように上記幅狭部が上
記保護膜の端縁まで延設されていることを特徴とするチ
ップ状電子部品。 - 【請求項2】 第2の電極層が、上記小基板の端面から
上記保護層の端縁まで延設されている請求項1に記載の
チップ状電子部品。 - 【請求項3】 保護層が小基板の周縁から離間して形成
されている請求項1又は2に記載のチップ状電子部品。 - 【請求項4】 電子素子層が抵抗素子層及び/又はコン
デンサ素子層である請求項1乃至3のいずれかに記載の
チップ状電子部品。
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JP7113305A JPH08306503A (ja) | 1995-05-11 | 1995-05-11 | チップ状電子部品 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998047157A1 (fr) * | 1997-04-16 | 1998-10-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistance et procede de fabrication de cette derniere |
CN100349343C (zh) * | 2003-02-20 | 2007-11-14 | 河村电器产业株式会社 | 配电盘带电部的罩盖结构 |
JP2019087625A (ja) * | 2017-11-07 | 2019-06-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | チップ抵抗器およびその製造方法 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3147785B2 (ja) * | 1996-09-02 | 2001-03-19 | 株式会社村田製作所 | チップ状電子部品 |
US5903431A (en) * | 1996-11-27 | 1999-05-11 | Vari-L Company, Inc. | Multiple single layer monolithic passive integrated circuits and method |
GB2320620B (en) * | 1996-12-20 | 2001-06-27 | Rohm Co Ltd | Chip type resistor and manufacturing method thereof |
WO1999001876A1 (fr) * | 1997-07-03 | 1999-01-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistance et procede de fabrication |
US6194248B1 (en) | 1997-09-02 | 2001-02-27 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Chip electronic part |
US6331763B1 (en) * | 1998-04-15 | 2001-12-18 | Tyco Electronics Corporation | Devices and methods for protection of rechargeable elements |
JP4419214B2 (ja) * | 1999-03-08 | 2010-02-24 | パナソニック株式会社 | チップ形ptcサーミスタ |
WO2001054143A1 (fr) * | 2000-01-17 | 2001-07-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistance et son procede de fabrication |
US6278356B1 (en) * | 2000-05-17 | 2001-08-21 | Compeq Manufacturing Company Limited | Flat, built-in resistors and capacitors for a printed circuit board |
US7038572B2 (en) * | 2001-03-19 | 2006-05-02 | Vishay Dale Electronics, Inc. | Power chip resistor |
JP2004140117A (ja) * | 2002-10-16 | 2004-05-13 | Hitachi Ltd | 多層回路基板、及び多層回路基板の製造方法 |
US7626828B1 (en) * | 2003-07-30 | 2009-12-01 | Teradata Us, Inc. | Providing a resistive element between reference plane layers in a circuit board |
US7436678B2 (en) * | 2004-10-18 | 2008-10-14 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Capacitive/resistive devices and printed wiring boards incorporating such devices and methods of making thereof |
US7382627B2 (en) * | 2004-10-18 | 2008-06-03 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Capacitive/resistive devices, organic dielectric laminates and printed wiring boards incorporating such devices, and methods of making thereof |
JP5309316B2 (ja) * | 2006-02-06 | 2013-10-09 | 国立大学法人東北大学 | チップ素子 |
DE112017005135T5 (de) * | 2016-12-20 | 2019-07-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Elektronikkomponente und herstellungsverfahren für dieselbe |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6027177B2 (ja) * | 1980-04-02 | 1985-06-27 | 松下電器産業株式会社 | チップ状固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
US4417298A (en) * | 1980-05-16 | 1983-11-22 | Koreaki Nakata | Chip type tantalum capacitor |
JPS60116203A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-22 | Fujitsu Ltd | マイクロ波集積回路 |
JPS6312366A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | 間隔板の製造装置 |
JPH01133701U (ja) * | 1988-03-07 | 1989-09-12 | ||
EP0433476A1 (de) * | 1989-12-19 | 1991-06-26 | eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG | Thyristor mit Katodenkurzschlüssen |
JP2821262B2 (ja) * | 1990-11-26 | 1998-11-05 | 株式会社日立製作所 | 電子装置 |
KR940010559B1 (ko) * | 1991-09-11 | 1994-10-24 | 한국과학기술연구원 | 적층 세라믹 캐패시터의 제조방법 |
US5345361A (en) * | 1992-08-24 | 1994-09-06 | Murata Erie North America, Inc. | Shorted trimmable composite multilayer capacitor and method |
-
1995
- 1995-05-11 JP JP7113305A patent/JPH08306503A/ja active Pending
-
1997
- 1997-10-14 US US08/949,541 patent/US5757076A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998047157A1 (fr) * | 1997-04-16 | 1998-10-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistance et procede de fabrication de cette derniere |
US6348392B1 (en) | 1997-04-16 | 2002-02-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistor and method of manufacturing the same |
CN100349343C (zh) * | 2003-02-20 | 2007-11-14 | 河村电器产业株式会社 | 配电盘带电部的罩盖结构 |
JP2019087625A (ja) * | 2017-11-07 | 2019-06-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | チップ抵抗器およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5757076A (en) | 1998-05-26 |
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