JPH08295595A - 単結晶成長装置 - Google Patents
単結晶成長装置Info
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- JPH08295595A JPH08295595A JP12063795A JP12063795A JPH08295595A JP H08295595 A JPH08295595 A JP H08295595A JP 12063795 A JP12063795 A JP 12063795A JP 12063795 A JP12063795 A JP 12063795A JP H08295595 A JPH08295595 A JP H08295595A
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Abstract
とができる単結晶成長装置を提供することを目的とす
る。 【構成】 容器1内に、成長させる単結晶の原料2と、
種結晶を含有する単結晶成長基板3を配置する。単結晶
成長基板3と原料2の間には、単結晶成長基板3の周囲
を取り囲み、かつ内部に単結晶4が十分成長できる空間
を形成する熱遮蔽部材5が配してあり、原料2の輻射熱
から単結晶成長基板3を遮蔽している。熱遮蔽部材5
は、容器1との間に空隙を有するように配され、また、
空孔52が複数設けてあって、これを介して十分な量の
上記原料2の昇華物Gが上記単結晶成長基板3に到達す
るので、熱遮蔽部材5で囲まれた空間内で、相対的に低
温となる基板3上に効率よく単結晶を成長させることが
できる。
Description
成長させるための装置に関するものである。
素子、パワー素子等、半導体デバイスの基板用として有
用な炭化珪素単結晶の成長方法として、従来より種々の
方法が知られている。その1つに、昇華再結晶法があ
り、黒鉛るつぼ内で原料となる炭化珪素を昇華させ、る
つぼ内の低温部に配した炭化珪素単結晶成長基板上に炭
化珪素を再結晶させている。また、この時、原料炭化珪
素と炭化珪素単結晶成長基板の温度差や、るつぼ内雰囲
気を制御することにより、炭化珪素単結晶成長基板上に
良質の単結晶を成長可能であることが知られている。
るつぼ蓋体に発生する多結晶が基板上の単結晶に食い込
むなど、基板上の単結晶の生成を阻害するおそれがあ
る。その改良として、例えば特開平2−30699号公
報には、るつぼ内に基板よりわずかに小さい開孔を有す
る仕切板を設置して、るつぼ蓋体が露出しないようにし
た装置が提案されている。この装置の構成を図8に示す
と、るつぼ1内には、るつぼ蓋体12に保持せしめて炭
化珪素単結晶成長基板3が配設され、これと対向するる
つぼ1底部に原料である炭化珪素粉末2が配してある。
上記るつぼ1は、上記基板3下方の内壁面を内方に突出
せしめて、上記単結晶成長基板3の径よりやや小さい開
孔を有する仕切板14となしてあり、該仕切板14の開
孔から上記単結晶成長基板3のみがるつぼ側に露出する
ようになしてある。そして、上記仕切板14の温度を単
結晶成長基板3より高温に設定しておくことで、昇華し
た炭化珪素ガスが高温の仕切板14に堆積せず、より低
温の単結晶成長基板3上にのみ集中的に堆積するように
して、単結晶の大型化を図っている。
効率よく成長するには、単結晶成長端部の温度T1 がこ
れに隣接する上記るつぼ1内壁、つまり上記仕切板14
の温度T2 より小さく、しかもその差ΔTが大きいこと
が重要である。しかしながら、上記装置では、成長が進
むにつれて単結晶4が高温の原料2からの輻射熱を受け
て昇温し(T1')、ΔTが小さくなる傾向にある。その
ため、成長初期においては良好な結果が得られるが、長
時間成長を行うと単結晶4上への堆積効率が低下すると
いう問題があった。
単結晶を効率よく成長させることができる単結晶成長装
置を提供することにある。
に鑑みて鋭意検討を行い、図1に示すように、容器1内
に、成長させる単結晶の原料2と、種結晶を含有する単
結晶成長基板3を配置し、上記原料2を加熱昇華させて
上記単結晶成長基板3上に単結晶4を成長させる装置に
おいて、上記単結晶成長基板3と上記原料2の間に、上
記単結晶成長基板3の周囲を取り囲んで上記原料2の輻
射熱から上記単結晶成長基板3を遮蔽し、かつ内部に単
結晶4が十分成長できる空間を形成する熱遮蔽部材5
を、上記容器1との間に空隙を有するように配し、さら
に上記熱遮蔽部材5に、上記原料2の昇華物Gが上記単
結晶成長基板3に到達可能な空孔52を設けることで、
上記課題が解決できることを見出した(請求項1)。
好適には炭化珪素単結晶が挙げられる(請求項2)ま
た、図7の如く、上記単結晶成長基板3を冷却する手段
7を設けた構成とすることもできる(請求項3)。
3を取り囲むように設けた熱遮蔽部材5が原料2の輻射
熱から上記単結晶成長基板3を保護し、その温度上昇を
防止する。一方、上記原料2の昇華物Gは、熱遮蔽部材
5の空孔52を通って、熱遮蔽部材5で囲まれた単結晶
成長空間内に到達可能であるので、上記単結晶成長基板
3上に単結晶4が成長するのを妨げることはない。しか
も、原料2の輻射熱に曝される熱遮蔽部材5が高温とな
るため、相対的に上記単結晶成長基板3の温度が低温と
なり、両者の温度差が大きくなる。従って、炭化珪素等
の単結晶を効率よく成長させることができる。単結晶成
長基板3を冷却する手段7を設けた場合には、基板の温
度上昇を抑制して、熱遮蔽部材5との温度差をより大き
くできるので、単結晶の成長効率がさらに向上する。
を、図面に基づいて説明する。図1において、単結晶成
長装置は、上端開口の容器体11とその開口を閉鎖する
ように覆着された蓋体12よりなる容器1を有し、該容
器1の底部には炭化珪素等の原料粉末2が配置してあ
る。上記容器1としては、例えば、公知の黒鉛製るつぼ
が好適に使用できる。
突出する基板貼付台座13が形成してあり、該台座13
に保持せしめて単結晶成長基板3が配置されている。該
単結晶成長基板3は、成長すべき単結晶の種結晶を含有
するものである。種結晶そのもので単結晶成長基板を構
成してもよく、あるいは単結晶成長基板の表面に種結晶
を配設してもよい。具体的には、アチソン法または昇華
法により製造した炭化珪素単結晶を、上記台座13の大
きさに合わせて加工し、ウエハー状としたものを使用す
ればよい。上記種結晶の厚さは適宜、設定すればよく、
通常、0.3〜1mm程度とするのがよい。
熱遮蔽部材5が配設してある。上記熱遮蔽部材5の上面
には、上記単結晶成長基板3の外径よりやや大径の開口
部51が設けてあって、上記単結晶成長基板3は、上記
熱遮蔽部材5上面と同一面状に、上記開口部51内周縁
と所定間隔(通常、0.1〜2mm程度)をおいて配置
される。すなわち、熱遮蔽部材5は、上記単結晶成長基
板3の外周囲およびその下方の空間を取り囲むように設
けられて、その内部に単結晶成長空間を形成している。
また、その側面は上記容器1内壁面と所定間隔をおいて
位置している。なお、この容器1と熱遮蔽部材5側面と
の間の空隙には、多結晶が堆積するので大きな空間は不
要で、通常、0.1〜5mm程度、好ましくは0.5〜
1mm程度の間隔が開いていればよい。堆積する多結晶
は容器1と熱遮蔽部材5との温度差により容器1の内壁
にのみ堆積し、熱遮蔽部材5の外壁には堆積しないた
め、両者が接合することはない。また、上記熱遮蔽部材
5は、上面外周縁を外方に延出せしめて上記容器1内壁
面に接合することにより固定してある。
52が複数設けてあり、加熱により昇華した原料ガスG
が上記空孔52を通って、上記熱遮蔽部材5内の上記単
結晶成長基板3表面に到達することができるようにして
ある。上記空孔52の大きさまたは数は、昇華した原料
ガスGが十分通過でき、かつ原料2からの熱が上記単結
晶成長基板3に達しないように、容器1の大きさ等に応
じて適宜設定される。
温に保持されることから、黒鉛材料、特に高純度のもの
を使用するのがよい。また、多孔質のものを用いれば、
上記空孔52を形成するための加工を行う必要がない。
熱伝導率は低い方が好ましい。上記熱遮蔽部材5の内
径、高さは成長させる単結晶の大きさに依存し、肉厚も
適宜選択すればよい。
可能となしてあり、これにより容器体11底部の原料粉
末2を加熱、昇華させる。通常、原料粉末2の温度が2
000℃以上となるようにする。原料粉末2の温度が2
000℃より低いと、原料粉末2が十分な昇華を起こさ
ず、結晶の成長が良好になされない。好ましくは、22
00〜2500℃の範囲となるようにするのがよい。一
方、単結晶成長基板3の温度は、原料粉末2の温度より
やや低い温度とするのがよく、高すぎると成長速度が低
くなり、低すぎると成長速度は大きいが、生成する結晶
品質の悪化、多結晶の発生が起こるおそれがある。例え
ば、公知の2段式の抵抗加熱装置を用いて、上記容器体
1および上記蓋体12の温度を独立に制御し、これら単
結晶成長基板3、原料粉末2の温度が所定の温度となる
ようにすればよい。あるいは高周波による加熱装置を用
いてもよい。
は、容器1内に原料粉末2、単結晶成長基板3を配し、
加熱装置により所定温度に昇温した後、図略の真空排気
系にて雰囲気ガスを排気し、所定圧に保持する。上記容
器1内雰囲気は、アルゴンガス等の不活性ガス雰囲気と
し、圧力は0.1〜数Torr程度とするのがよい。所
定圧に保たれている間、容器1内の原料粉末2の昇華が
促進され、昇華ガスGが上記熱遮蔽部材5の空孔52を
通って熱遮蔽部材5内の単結晶成長空間に入り、単結晶
成長基板3上に単結晶が成長する。終了時には、加熱を
停止し、再びアルゴンガスを導入することによって雰囲
気圧を上げる。
成長基板3の温度差が大きい程、過飽和度が大きくな
り、単結晶成長基板3上に堆積しやすくなる。また、炭
化珪素の場合には、昇華ガスGがSiリッチなため、高
温側の炭素を取り込む形で低温側に堆積する。このた
め、低温側、すなわち単結晶成長基板3上への堆積が促
進されるとともに、高温側、すなわち熱遮蔽部材5表面
の炭化珪素はエッチングされる。単結晶成長初期には、
単結晶成長基板3近傍の熱遮蔽部材5の表面が高温とな
り、炭化珪素は堆積しない。また単結晶成長基板3より
離れた熱遮蔽部材5の表面には一部炭化珪素多結晶が堆
積する。単結晶成長が続く過程においては、成長した単
結晶近傍の熱遮蔽部材5または上記堆積した炭化珪素多
結晶表面が高温となり、更に炭化珪素多結晶が堆積する
ことはない。従って、熱遮蔽部材5表面に炭化珪素多結
晶が堆積することがなく、単結晶成長基板3上の単結晶
の成長を阻害しないので、良質の単結晶が効率よく成長
する。
理由は次のように考えられる。すなわち、結晶成長が起
きている環境では、高温でかつ低圧なため、図2に示す
ように、各部材の温度は輻射エネルギー(温度の4乗に
比例)とその逃げによって決定される。熱遮蔽部材5の
温度(T3 )は、最も温度が高い原料粉末2(T1 )か
ら大きな輻射エネルギーを受けるので、容器1の側壁温
度(T2 )よりも高くなる。また、上記結晶成長基板3
は熱遮蔽部材5に取り囲まれているので、原料粉末2か
らの大きな輻射エネルギー(T1 の4乗に比例)よりは
るかに小さな、熱遮蔽部材5からの輻射エネルギー(T
3 の4乗に比例)により加熱されることになる。以上の
効果により、単結晶成長基板3は局所的に低温となり、
隣接する上記熱遮蔽部材5との温度差が大きくなる。
効果を確認するための実験を行った。図3は実験に使用
した黒鉛るつぼで、基本構成は上記図1の装置と同様で
あり、容器体1および熱遮蔽部材5の径、高さ等はそれ
ぞれ図に示す通りとした。単結晶成長基板3として直径
10mm、厚さ1mmのウエハ状の炭化珪素単結晶を用
い、熱遮蔽部材5は、空孔52径を2.5mm、肉厚2
mmとした。また、容器1内壁と熱遮蔽部材5の間の隙
間d1 は2mm、単結晶成長基板3と熱遮蔽部材5内周
縁の間の隙間d2 は1mmとした。また、ここでは熱遮
蔽部材5を下から棒状の固定部材53で支持する構成と
してある。
長に十分な量の炭化珪素粉末(通常、約200g以上)
を入れ、台座13下面に、単結晶成長基板3を貼り付け
た(図4(A))。これを図略の加熱装置内に配置し、
図略の真空排気系にて排気してアルゴンガス雰囲気に置
換した。その後、原料粉末2を約2300℃、単結晶成
長基板3を約2230℃に加熱した。昇温後、雰囲気ガ
スを排気して約1Torrに保持して、上記原料粉末を
昇華させ、単結晶成長基板3上に単結晶を成長させた
(図4(B))。所定時間経過後、加熱を停止し、アル
ゴンガスを導入することによって雰囲気圧を上げ、単結
晶成長を終了した。
/時間であり、時間経過に伴う成長速度の低下は見られ
なかった。また、熱遮蔽部材5の内壁およびこれと容器
1の間に多結晶6の発生が見られたが、少量であり、単
結晶成長基板3上の単結晶の成長を阻害するものではな
い。なお、上記装置において、加熱中の容器1の温度を
調べて見たところ(図3参照)、容器1側壁の温度T2
よりも熱遮蔽部材5の温度T3 の方が10〜20℃温度
が高く、単結晶成長基板3と、それに隣接する熱遮蔽部
材5の温度差が大きく設定されて効果的な単結晶の成長
が可能となることがわかる。
蔽部材5を設けず、蓋体12下面に直接、単結晶成長基
板3を固定した場合、図6(A)のように単結晶成長基
板3の下方に仕切板14を設けた場合について、同様の
実験を行った。その結果、熱遮蔽部材5を設けない場合
には、単結晶の成長速度が0.1mm/時間と極めて遅
く、また、単結晶4が蓋体12に発生する多結晶6に覆
われていた(図5(B))。このような場合、外周の多
結晶6を取り除く作業が必要で加工に手間がかかる不具
合がある。また、仕切板14を設けた場合、単結晶の成
長初期(図6(A)→図6(B))の成長速度は0.5
mm/時間であったが、その後(図6(B)→図6
(C))の成長速度は0.3mm/時間で、成長効率の
低下が見られた。
例を示す。本実施例では、上記蓋体12に設けた台座1
3を中空とするとともに、その上端部に系外へ延びるガ
ス導入管7を接続して、単結晶成長基板3の冷却手段と
なしてある。その他の構成は上記図1の装置と同様であ
る。そして、上記ガス導入管7内に系外よりヘリウム等
の熱伝導性のガス8を冷却ガスとして導入することによ
り、上記単結晶成長基板3を局所的に冷却できるように
してある。
れ、単結晶成長基板3とその近傍の温度差をさらに大き
くできるので、単結晶の成長速度をより大きくすること
ができる。また、この装置を用いて上記第1実施例と同
様の実験を行ったところ、単結晶の成長速度は0.7m
m/時間であり、成長効率が一段と向上した。また、周
辺部の温度が高いため、多結晶6の量は逆に減少してい
る(図7(B))。
本発明装置を適用した例について説明したが、本発明装
置は、硫化カドミウム等、昇華法によって成長させるこ
とのできる単結晶であればいずれの単結晶の成長にも適
用可能である。
を用いれば、基板上に単結晶のみを単結晶を効率よく成
長させることができる。従って、炭化珪素等、良質な単
結晶を短時間で歩留りよく得ることができ、半導体デバ
イスの基板の製造に利用されてウエハ製造コストを低減
することができる。
断面図である。
成長装置の全体断面図である。
した単結晶成長装置の全体断面図である。
ための図で、図4(A)は実験前、図4(B)は実験後
の状態を示す単結晶成長装置の全体断面図である。
ための図で、図5(A)は実験前、図5(B)は実験後
の状態を示す単結晶成長装置の全体断面図である。
ための図で、図6(A)は実験前、図6(B)は実験途
中、図6(C)は実験後の状態を示す単結晶成長装置の
全体断面図である。
成長装置の全体断面図であり、図7(B)は、図7
(A)の装置を用いて実験を行った後の状態を示す単結
晶成長装置の全体断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 容器内に、成長させる単結晶の原料と、
種結晶を含有する単結晶成長基板を配置し、上記原料を
加熱昇華させて上記単結晶成長基板上に単結晶を成長さ
せる装置であって、上記単結晶成長基板と上記原料の間
に、上記単結晶成長基板の周囲を取り囲んで上記原料の
輻射熱から上記単結晶成長基板を遮蔽し、かつ内部に単
結晶が十分成長できる空間を形成する熱遮蔽部材を、上
記容器との間に空隙を有するように配し、上記熱遮蔽部
材に、上記原料の昇華物が上記単結晶成長基板に到達可
能な空孔を設けたことを特徴とする単結晶成長装置。 - 【請求項2】 上記単結晶が炭化珪素単結晶である請求
項1記載の単結晶成長装置。 - 【請求項3】 上記単結晶成長基板を冷却する手段を設
けた請求項1または2記載の単結晶成長装置。
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ID=14791155
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