JPH08194528A - 入出力信号制御用回路 - Google Patents

入出力信号制御用回路

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JPH08194528A
JPH08194528A JP496395A JP496395A JPH08194528A JP H08194528 A JPH08194528 A JP H08194528A JP 496395 A JP496395 A JP 496395A JP 496395 A JP496395 A JP 496395A JP H08194528 A JPH08194528 A JP H08194528A
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input
output
signal
output signal
control circuit
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JP496395A
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Inventor
Sadahiro Kimura
禎宏 木村
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 出力素子からの出力信号を入力素子への入力
信号として内部で折返すことができる自己折返し機能を
内蔵すること。 【構成】 出力素子2、入力素子3、折返し用選択素子
6、判別回路9を入出力信号制御用回路70に内蔵し、
判別回路9からの折返し用制御信号で折返し用選択素子
6を有効とされると、出力素子2から外部機器への出力
信号103を入力素子3の入力信号104として入力さ
れる。これにより、入出力信号制御用回路の外部入出力
機能を製造段階や現場で検査する際、出力信号を入力信
号とするための配線を外部で行う必要がなく、折返し試
験が容易である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、制御装置と外部機器と
の間の入出力信号を制御する入出力信号制御用回路に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】図6は従来の外部機器との入出力信号を
制御する入出力信号制御用回路を使用した制御装置を示
す構成図である。図6において、1は外部機器と接続す
るための外部接続端子であり、1aは外部接続端子1の
うちの出力端子、1bは外部接続端子1のうちの入力端
子、2は出力素子、3は入力素子、4は入出力信号を処
理するCPU、5は制御装置、7は入出力信号制御用回
路である。100はCPU4または周辺の制御回路から
入出力信号制御用回路7内の出力素子2に出力され出力
端子1aを介して外部機器へ送出される出力信号、10
1は外部機器から入力端子1bを介して入出力信号制御
用回路7内の入力素子3に入力されCPU4または周辺
の制御回路へ送出される入力信号である。
【0003】従来の入出力信号制御用回路7を使用した
制御装置5は上述のように構成されており、出力素子2
及び入力素子3の良否判定試験をする際、出力素子2ま
たは入力素子3の両端にそれぞれ検査装置を接続して個
別に検査するか、外部接続端子1の出力端子1a及び入
力端子1bを別に用意した線材にて接続し短絡させたの
ち、CPU4から出力素子2を介して出力端子1aから
送出された出力信号100が、入力端子1bから入力素
子3を介して入力信号101として正しく入力されたか
をCPU4で判定させ検査している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うに、従来の入出力信号制御用回路7を使用した制御装
置5では、出力素子2及び入力素子3の機能検査をする
には、外部に検査を行うための設備が必要であった。ま
た、出力素子2からの出力信号103を入力信号104
として入力素子3へ折返せば出力素子2及び入力素子3
の同時検査が可能であるが、線材を別に用意し、外部接
続端子1の出力端子1a及び入力端子1bを電気的に接
続しなければならないため手間がかかり面倒であった。
【0005】更に、現場にて制御装置5内の入出力信号
制御用回路7の機能検査をする際に、入出力信号制御用
回路7に既に外部機器が接続されていたり、その外部機
器に電源が投入されていたりすると、これらを取外した
のちに入出力信号制御用回路7の外部接続端子1の出力
端子1a及び入力端子1bに信号折返し検査用の線材を
接続する必要が生じ、なお更、手間がかかり面倒であっ
た。
【0006】そこで、本発明は、かかる不具合を解決す
るためになされたもので、制御装置と外部機器との間の
入出力信号を制御すると共に、出力素子からの出力信号
を入力素子への入力信号として内部で折返すことができ
る自己折返し機能を内蔵した入出力信号制御用回路の提
供を課題としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1にかかる入出力
信号制御用回路は、外部機器への出力信号を出力する出
力素子と、前記外部機器からの入力信号を入力する入力
素子と、前記出力素子の出力側と前記入力素子の入力側
との間に配設され、前記出力素子からの出力信号を選択
的に通過させる折返し用選択素子と、前記出力素子の入
力側に送出される所定の信号に基づき前記折返し用選択
素子の機能を有効とする判別回路とを具備するものであ
る。
【0008】請求項2にかかる入出力信号制御用回路
は、請求項1の具備する手段に加えて、前記外部機器か
ら前記入力素子への入力信号を入力用制御信号に基づき
選択的に通過させる入力用選択素子を具備するものであ
る。
【0009】請求項3にかかる入出力信号制御用回路
は、請求項1の具備する手段に加えて、前記出力素子か
ら前記外部機器への出力信号を出力用制御信号に基づき
選択的に通過させる出力用選択素子を具備するものであ
る。
【0010】請求項4にかかる入出力信号制御用回路
は、外部機器への出力信号を出力する出力素子と、前記
外部機器からの入力信号を入力する入力素子と、前記出
力素子の出力側と前記入力素子の入力側との間に配設さ
れ、前記出力素子からの出力信号を選択的に通過させる
折返し用選択素子と、前記出力素子の入力側に送出され
る所定の信号に基づき前記折返し用選択素子の機能を有
効とする判別回路と、前記外部機器から前記入力素子へ
の入力信号を入力用制御信号に基づき選択的に通過させ
る入力用選択素子と、前記出力素子から前記外部機器へ
の出力信号を出力用制御信号に基づき選択的に通過させ
る出力用選択素子とを集積した回路を具備するものであ
る。
【0011】
【作用】請求項1においては、外部機器への出力信号を
自らへの入力信号として取入れることができる折返し用
選択素子を内蔵し、判別回路は出力素子の入力側に送出
される所定のパターン信号が入力されている期間だけ、
折返し用選択素子を機能させ、その期間内では出力素子
からの出力信号が選択的に通過される。
【0012】請求項2においては、請求項1の作用に加
えて、入力用選択素子を機能させることで入力信号が選
択的に通過され外部機器から入力素子に入力される。
【0013】請求項3においては、請求項1の作用に加
えて、出力用選択素子を機能させることで出力信号が選
択的に通過され出力素子から外部機器に出力される。
【0014】請求項4においては、外部機器への出力信
号を自らへの入力信号として取入れることができる折返
し用選択素子を内蔵し、判別回路は出力素子の入力側に
送出される所定のパターン信号が入力されている期間だ
け、折返し用選択素子を機能させ、その期間内では出力
素子からの出力信号が選択的に通過され、更に、入力用
選択素子を機能させることで入力信号が選択的に通過さ
れ外部機器から入力素子に入力され、出力用選択素子を
機能させることで出力信号が選択的に通過され出力素子
から外部機器に出力される。
【0015】
【実施例】以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説
明する。 実施例1.図1は本発明の第一実施例にかかる入出力信
号制御用回路の構成を示すブロック図である。なお、本
実施例では説明の簡略化のため、出力信号及び入力信号
を各1点に限定して述べる。また、前述の従来回路と同
様の構成または相当部分からなるものについては同一符
号及び同一記号を付して示す。
【0016】図1において、2は出力素子、3は入力素
子、6は折返し用選択素子、9は判別回路、70は出力
素子2と入力素子3と折返し用選択素子6を内蔵する入
出力信号制御用回路である。100はCPU4から入出
力信号制御用回路70内の出力素子2及び判別回路9に
出力される出力信号であり、103は入出力信号制御用
回路70内の出力素子2から外部機器へ送出される出力
信号である。また、104は外部機器から入出力信号制
御用回路70内の入力素子3に入力される入力信号であ
り、101は入出力信号制御用回路70内の入力素子3
からCPU4へ送出される入力信号である。更に、10
2は入出力信号制御用回路70内の判別回路9に入力さ
れた所定のパターン信号である出力信号100に基づい
て判別回路9から折返し用選択素子6に出力され、その
折返し用選択素子6を制御する折返し用制御信号であ
る。また、110は通常動作時に判別回路9が誤動作し
て制御信号102を有効とし折返し用選択素子6をオン
としないように判別回路9を制御する制御信号である。
【0017】次に、その動作について説明する。機能検
査をする際は、外部機器と入力素子3とを切離し、即
ち、入力信号104が入力素子3に入力されないように
した状態で、CPU4から判別回路9に所定のパターン
信号を出力することで折返し用制御信号102を有効
(例えば、Hレベル)とする。すると、入出力信号制御
用回路70内の折返し用選択素子6がオンとなり、出力
素子2から外部機器への出力信号103が折返し用選択
素子6を通過して入力素子3の入力信号104として入
力素子3に入力される。従って、CPU4が定められた
出力信号100を入出力信号制御用回路70の出力素子
2へ出力すると、入出力信号制御用回路70内の各素子
の伝搬遅延時間だけ遅れて入力素子3を通して入出力信
号制御用回路70からCPU4への入力信号101とし
て返ってくる。このため、CPU4は、返ってきた入力
信号101と元の定められた出力信号100とを比較し
一致していれば、入出力信号制御用回路70が正常に機
能していると判定できる。
【0018】また、通常に動作させる場合は、折返し用
制御信号102を無効(例えば、Lレベル)とすること
で、入力素子3への入力としては外部機器からの入力信
号104のみとなる。ここで、折返し用選択素子6はス
リーステート出力で駆動されているから、通常の場合は
出力がハイインピーダンスとなり、入力信号104は折
返し用選択素子6の影響を受けることがない。
【0019】このように、折返し用選択素子6の機能を
折返し用制御信号102の有効/無効により選択する。
ここで、判別回路9はCPU4から入出力信号制御用回
路70を介して外部機器へ出力する出力信号100の後
述する所定のパターン信号を判別し、その出力期間内の
み折返し用選択素子6を自動的に有効にし出力信号10
3を入力信号104として入力素子3を介した入力信号
101をCPU4に折返すものである。
【0020】CPU4から外部機器を通常に動作させる
場合に入出力信号制御用回路70に出力される出力信号
100は、外部機器としてつなげられた例えば、継電器
等の一般に応答速度の遅いものを動作させるもので、後
述する基準信号105の周波数より相当低い周波数の、
一定時間内では変化しない信号を出力する。一方、入出
力信号制御用回路70の機能検査をする際には、外部機
器の動作を省略して短時間で検査を行うため、上記一定
時間内に変化する信号を使用することができる。したが
って、この出力信号100の外部機器を動作させる信号
と所定のパターン信号との違いを判別する機能を備えた
判別回路9を入出力信号制御用回路70に内蔵すること
で、CPU4が折返し用制御信号102を制御する必要
がなくなる。
【0021】図2は判別回路9の内部構成を示す回路図
である。図2において、105は基準信号、102は折
返し用選択素子6を制御する折返し用制御信号、106
〜108は内部論理信号、20は基準信号105を発生
する基準信号発生器、21〜23はフリップフロップ、
24〜26は論理素子である。
【0022】判別回路9は、機能検査時、機能検査時の
出力信号100の周波数より高い周波数の基準信号10
5で出力信号100をサンプルし、サンプルごとに位相
が異なる期間を所定のパターン信号とすることにより、
折返し用制御信号102を折返し用選択素子6に出力
し、折返し用選択素子6を有効とする。折返し用選択素
子6が有効となると、出力素子2からの出力信号103
を入力素子3の入力信号104とする、入出力信号制御
用回路70内部で信号の折返しが行われる。
【0023】図3は判別回路9の内部動作を示すタイム
チャートである。図3において、出力信号100の状態
を基準信号105の立ち上がりでサンプルする。内部論
理信号106〜108はフリップフロップ21〜23の
各出力である。これら出力を論理素子24〜26で演算
し、折返し用制御信号102として折返し用選択素子6
に入力し折返し用選択素子6を制御する。フリップフロ
ップ21〜23と3段設けたので、サンプルする毎に位
相が反転する信号が入力している期間は折返し用制御信
号102が有効(Hレベル)となり、その間のみ出力信
号100がそのまま入力信号101となってCPU4へ
伝達される。したがって、出力信号100の周波数Fと
フリップフロップ21〜23によって遅れて現れる入力
信号101の周波数F1 とを比較し、出力素子2及び入
力素子3を検査できる。一方、通常の動作時は、変化の
遅い信号が使われ折返し用制御信号102が無効(Lレ
ベル)となるため、外部機器からの入力信号104が入
力素子3を介した入力信号101としてCPU4に入力
される。
【0024】このように、本実施例の入出力信号制御用
回路は、外部機器への出力信号103を出力する出力素
子2と、前記外部機器からの入力信号104を入力する
入力素子3と、出力素子2の出力側と入力素子3の入力
側との間に配設され、出力素子2からの出力信号103
を入力素子3への入力信号104として選択的に通過さ
せる折返し用選択素子6と、出力素子2の入力側に送出
される折返し用制御信号である所定の信号に基づき折返
し用選択素子6の機能を有効とする判別回路9とを具備
する実施例とすることができる。
【0025】したがって、判別回路9に所定の信号が付
与されている間のみ折返し用選択素子6の機能が有効と
なり、出力素子2からの出力信号103が入力素子3の
入力信号104として選択的に通過される。
【0026】故に、入出力信号制御用回路の周辺に出力
素子2及び入力素子3の機能検査をする設備が不要で、
必要に応じて出力素子2からの出力信号103を判別回
路9及び折返し用選択素子6を利用して入力信号104
として入力素子3へ折返すことで、出力素子2及び入力
素子3の同時検査が容易にできる。
【0027】ところで、上記実施例では、出力素子2と
入力素子3とを1個ずつ入出力信号制御用回路70に内
蔵したが、それぞれ複数個を内蔵してもよく、判別回路
9は各々1個ずつの折返し用選択素子を制御しても、複
数個の折返し用選択素子を同時に制御してもよい。出力
素子2や入力素子3の内部を電気的に絶縁されたフォト
カプラ等で構成してもよい。
【0028】また、判別回路9のために一定時間の基準
信号発生器20を判別回路9内に備えたが、基準信号1
05を可変とするため、入出力信号制御用回路70の外
部から与えるように構成してもよい。
【0029】実施例2.図4は本発明の第二実施例にか
かる入出力信号制御用回路の構成を示すブロック図であ
る。なお、上述の実施例と同様の構成または相当部分か
らなるものについては同一符号及び同一記号を付してそ
の詳細な説明を省略する。図4において、71は入出力
信号制御用回路であり、10は入力用選択素子、12は
入力用選択素子10を制御する入力用制御線であり、そ
の他は図1の入出力信号制御用回路70の構成と同一で
ある。即ち、本実施例の入出力信号制御用回路71は、
第一実施例の入出力信号制御用回路70の構成に加え、
入力信号104を選択的に入力素子3に入力するように
その前段に入力用選択素子10とその入力用選択素子1
0の機能を有効/無効と制御する入力用制御線12とを
設けたものである。
【0030】次に、その動作について説明する。機能検
査をする際は、まず、入力用制御線12を用いてCPU
4からの入力用制御信号を入力用選択素子10に入力す
ることでその入力用選択素子10を無効とし、入力信号
104の入力素子3への入力が阻止される。次に、CP
U4から判別回路9に所定のパターン信号を出力するこ
とで折返し用制御信号102を有効(例えば、Hレベ
ル)とする。すると、入出力信号制御用回路71内の折
返し用選択素子6がオンとなり、出力素子2から外部機
器への出力信号103が折返し用選択素子6を通過して
入力素子3の入力信号104として入力素子3に入力さ
れる。従って、CPU4が定められた出力信号100を
入出力信号制御用回路71の出力素子2へ出力すると、
入出力信号制御用回路71内の各素子の伝搬遅延時間だ
け遅れて入力素子3を通して入出力信号制御用回路71
からCPU4への入力信号101として返ってくる。こ
のため、CPU4は、返ってきた入力信号101と元の
定められた出力信号100とを比較し一致していれば、
入出力信号制御用回路71が正常に機能していると判定
できる。
【0031】また、通常に動作させる場合は、折返し用
制御信号102を無効(例えば、Lレベル)とすること
で、入力素子3への入力としては外部機器からの入力信
号104のみとなる。ここで、折返し用選択素子6はス
リーステート出力で駆動されているから、通常の場合は
出力がハイインピーダンスとなり、入力信号104は折
返し用選択素子6の影響を受けることがない。
【0032】このように、入力用選択素子10を無効と
したのち、上述の第一実施例と同様に、折返し用選択素
子6の機能を折返し用制御信号102の有効/無効によ
り選択する。ここで、判別回路9はCPU4から入出力
信号制御用回路71を介して外部機器へ出力する出力信
号100の所定のパターン信号を判別し、その出力期間
内のみ折返し用選択素子6を自動的に有効にし出力信号
103を入力信号104として入力素子3を介した入力
信号101をCPU4に折返すものである。
【0033】CPU4から外部機器を通常に動作させる
場合に入出力信号制御用回路71に出力される出力信号
100は、外部機器としてつなげられた例えば、継電器
等の一般に応答速度の遅いものを動作させるもので、入
出力信号制御用回路71の機能検査のための短い応答時
間である一定時間内では変化しないような信号である。
一方、入出力信号制御用回路71の機能検査をする際に
は、外部機器の動作を省略して短時間で検査を行うた
め、上記一定時間内で変化する信号を使用する。したが
って、この出力信号100の外部機器を動作させる信号
と所定のパターン信号との違いを判別する機能を備えた
判別回路9を入出力信号制御用回路71に内蔵すること
で、CPU4が折返し用制御信号102を制御する必要
がなくなる。
【0034】このように、本実施例の入出力信号制御用
回路は、外部機器への出力信号103を出力する出力素
子2と、前記外部機器からの入力信号104を入力する
入力素子3と、出力素子2の出力側と入力素子3の入力
側との間に配設され、出力素子2からの出力信号103
を入力素子3への入力信号104として選択的に通過さ
せる折返し用選択素子6と、出力素子2の入力側に送出
される折返し用制御信号である所定の信号に基づき折返
し用選択素子6の機能を有効とする判別回路9とに加
え、更に、前記外部機器から入力素子3への入力信号1
04を入力用制御線12による入力用制御信号に基づき
選択的に通過させる入力用選択素子10を具備する実施
例とすることができる。
【0035】したがって、判別回路9に所定の信号が付
与されている間のみ折返し用選択素子6の機能が有効と
なり、出力素子2からの出力信号103が入力素子3の
入力信号104として選択的に通過される。このとき、
外部機器が接続状態であっても、その外部機器から入出
力信号制御用回路に印加される入力信号を取入れないよ
うにできる。
【0036】故に、入出力信号制御用回路の周辺に出力
素子2及び入力素子3の機能検査をする設備が不要で、
必要に応じて出力素子2からの出力信号103を判別回
路9及び折返し用選択素子6を利用して入力信号104
として入力素子3へ折返すことで、出力素子2及び入力
素子3の同時検査が容易にできる。このとき、外部機器
を取外すことなく接続したままでよいため、更に検査が
容易となる。
【0037】実施例3.図5は本発明の第三実施例にか
かる入出力信号制御用回路の構成を示すブロック図であ
る。なお、上述の実施例と同様の構成または相当部分か
らなるものについては同一符号及び同一記号を付してそ
の詳細な説明を省略する。図5において、72は入出力
信号制御用回路であり、11は出力用選択素子、13は
出力用選択素子11を制御する出力用制御線であり、そ
の他は図1の入出力信号制御用回路70の構成と同一で
ある。即ち、本実施例の入出力信号制御用回路72は、
第一実施例の入出力信号制御用回路70の構成に加え、
出力信号103を選択的に出力素子2から外部機器へ出
力するように出力素子2の後段に出力用選択素子11と
その出力用選択素子11の機能を有効/無効と制御する
出力用制御線13とを設けたものである。
【0038】次に、その動作について説明する。機能検
査をする際は、まず、出力用制御線13を用いてCPU
4からの出力用制御信号を出力用選択素子11に入力す
ることでその出力用選択素子11を無効とし、出力信号
103の外部機器への出力が阻止される。次に、CPU
4から判別回路9に所定のパターン信号を出力すること
で折返し用制御信号102を有効(例えば、Hレベル)
とする。すると、入出力信号制御用回路72内の折返し
用選択素子6がオンとなり、出力素子2から外部機器へ
の出力信号103が折返し用選択素子6を通過して入力
素子3の入力信号104として入力素子3に入力され
る。従って、CPU4が定められた出力信号100を入
出力信号制御用回路72の出力素子2へ出力すると、入
出力信号制御用回路72内の各素子の伝搬遅延時間だけ
遅れて入力素子3を通して入出力信号制御用回路72か
らCPU4への入力信号101として返ってくる。この
ため、CPU4は、返ってきた入力信号101と元の定
められた出力信号100とを比較し一致していれば、入
出力信号制御用回路72が正常に機能していると判定で
きる。
【0039】また、通常に動作させる場合は、出力用選
択素子11を有効、折返し用制御信号102を無効(例
えば、Lレベル)とすることで、入力素子3への入力と
しては外部機器からの入力信号104のみとなる。ここ
で、折返し用選択素子6はスリーステート出力で駆動さ
れているから、通常の場合は出力がハイインピーダンス
となり、入力信号104は折返し用選択素子6の影響を
受けることがない。
【0040】このように、出力用選択素子11を無効と
したのち、上述の第一実施例と同様に、折返し用選択素
子6の機能を折返し用制御信号102の有効/無効によ
り選択する。ここで、判別回路9はCPU4から入出力
信号制御用回路72を介して外部機器へ出力する出力信
号100の所定のパターン信号を判別し、その出力期間
内のみ折返し用選択素子6を自動的に有効にし出力信号
103を入力信号104として入力素子3を介した入力
信号101をCPU4に折返すものである。
【0041】CPU4から外部機器を通常に動作させる
場合に入出力信号制御用回路72に出力される出力信号
100は、外部機器としてつなげられた例えば、継電器
等の一般に応答速度の遅いものを動作させるもので、入
出力信号制御用回路72の機能検査のための短い応答時
間である一定時間内では変化しないような信号である。
一方、入出力信号制御用回路72の機能検査をする際に
は、外部機器の動作を省略して短時間で検査を行うた
め、上記一定時間内で変化する信号を使用する。したが
って、この出力信号100の外部機器を動作させる信号
と所定のパターン信号との違いを判別する機能を備えた
判別回路9を入出力信号制御用回路72に内蔵すること
で、CPU4が折返し用制御信号102を制御する必要
がなくなる。
【0042】このように、本実施例の入出力信号制御用
回路は、外部機器への出力信号103を出力する出力素
子2と、前記外部機器からの入力信号104を入力する
入力素子3と、出力素子2の出力側と入力素子3の入力
側との間に配設され、出力素子2からの出力信号103
を入力素子3への入力信号104として選択的に通過さ
せる折返し用選択素子6と、出力素子2の入力側に送出
される折返し用制御信号である所定の信号に基づき折返
し用選択素子6の機能を有効とする判別回路9とに加
え、更に、出力素子2から前記外部機器への出力信号1
03を出力用制御線13による出力用制御信号に基づき
選択的に通過させる出力用選択素子11を具備する実施
例とすることができる。
【0043】したがって、判別回路9に所定の信号が付
与されている間のみ折返し用選択素子6の機能が有効と
なり、出力素子2からの出力信号103が入力素子3の
入力信号104として選択的に通過される。このとき、
外部機器が接続状態であっても、その外部機器に入出力
信号制御用回路からの出力信号を出力しないようにでき
る。
【0044】故に、入出力信号制御用回路の周辺に出力
素子2及び入力素子3の機能検査をする設備が不要で、
必要に応じて出力素子2からの出力信号103を判別回
路9及び折返し用選択素子6を利用して入力信号104
として入力素子3へ折返すことで、出力素子2及び入力
素子3の同時検査が容易にできる。このとき、外部機器
を取外すことなく接続したままでよいため、更に検査が
容易となる。
【0045】ところで、上述の第二実施例における入力
用選択素子10及び入力用制御線12と上述の第三実施
例における出力用選択素子11及び出力用制御線13と
を同一の入出力信号制御用回路内で実現してもよい。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の入出力
信号制御用回路によれば、外部機器への出力信号を出力
する出力素子の出力側と外部機器からの入力信号を入力
する入力素子の入力側との間に外部機器への出力信号を
入力信号として取入れることができる折返し選択素子及
び折返し用制御回路からなる回路を内蔵し、所定のパタ
ーン信号を外部機器へ向けて出力するだけで折返し用選
択素子が有効とされ自動的に折返しが可能となるので、
入出力信号制御用回路の周辺に出力素子及び入力素子を
検査するための回路を設ける必要がなく実装効率を高く
することができ、折返し試験に必要な配線も必要がなく
試験を容易にすることができる。また、所定のパターン
信号の判別回路を内蔵したため折返し用制御信号を制御
する端子が入出力信号制御用回路に不要であるため入出
力信号制御用回路そのものを小型化することができる。
【0047】請求項2の入出力信号制御用回路によれ
ば、請求項1の効果に加えて、内蔵された入力用選択素
子を入力用制御信号に基づき有効/無効とし、外部機器
から入力素子への入力信号を選択的に通過させることが
できる。このため、現場で試験する際に外部に接続済み
の外部機器を取外すことなく、また、これら外部機器の
電源が投入されて動作しており外部機器から信号が入出
力信号制御用回路に印加されていても入力信号を取り入
れないようにできるからそのままでよく、更に試験を容
易にすることができる。
【0048】請求項3の入出力信号制御用回路によれ
ば、請求項1の効果に加えて、内蔵された出力用選択素
子を出力用制御信号に基づき有効/無効とし、出力素子
から外部機器への出力信号を選択的に通過させることが
できる。このため、現場で試験する際に外部に接続済み
の外部機器を取外すことなく、また、これら外部機器の
電源が投入されて動作されていても信号を入出力信号制
御用回路から出力しないから外部機器に影響を与えるこ
となく、更に試験を容易にすることができる。
【0049】請求項4の入出力信号制御用回路によれ
ば、外部機器への出力信号を出力する出力素子の出力側
と外部機器からの入力信号を入力する入力素子の入力側
との間に外部機器への出力信号を入力信号として取入れ
ることができる折返し選択素子及び折返し用制御回路か
らなる回路を内蔵し、所定のパターン信号を外部機器へ
向けて出力するだけで折返し用選択素子が有効とされ自
動的に折返しが可能となり、内蔵された入力用選択素子
を入力用制御信号に基づき有効/無効とし、外部機器か
ら入力素子への入力信号を選択的に通過させることがで
き、内蔵された出力用選択素子を出力用制御信号に基づ
き有効/無効とし、出力素子から外部機器への出力信号
を選択的に通過させることができる。このため、入出力
信号制御用回路の周辺に出力素子及び入力素子を検査す
るための回路を設ける必要がなく実装効率を高くするこ
とができ、折返し試験に必要な配線も必要がなく試験を
容易にすることができる。また、所定のパターン信号の
判別回路を内蔵したため折返し用制御信号を制御する端
子が入出力信号制御用回路に不要であるため入出力信号
制御用回路そのものを小型化することができる。更に、
現場で試験する際に外部に接続済みの外部機器を取外す
ことなく、また、これら外部機器の電源が投入されて動
作しており外部機器から信号が入出力信号制御用回路に
印加されていても入力信号を取入れないようにできるか
らそのままでよく、加えて、これら外部機器の電源が投
入されて動作されていても信号を入出力信号制御用回路
から出力しないから外部機器に影響を与えることがない
ため、更に試験を容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は本発明の第一実施例にかかる入出力信
号制御用回路の構成を示すブロック図である。
【図2】 図2は図1の判別回路の詳細な論理回路図で
ある。
【図3】 図3は図1の判別回路の内部動作を示すタイ
ムチャートである。
【図4】 図4は本発明の第二実施例にかかる入出力信
号制御用回路の構成を示すブロック図である。
【図5】 図5は本発明の第三実施例にかかる入出力信
号制御用回路の構成を示すブロック図である。
【図6】 図6は従来の入出力信号制御用回路を使用し
た制御回路を示すブロック図である。
【符号の説明】
2 出力素子、3 入力素子、6 折返し用選択素子、
9 判別回路、70入出力信号制御用回路、100,1
03 出力信号、101,104 入力信号、102
折返し用制御信号。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部機器への出力信号を出力する出力素
    子と、 前記外部機器からの入力信号を入力する入力素子と、 前記出力素子の出力側と前記入力素子の入力側との間に
    配設され、前記出力素子からの出力信号を選択的に通過
    させる折返し用選択素子と、 前記出力素子の入力側に送出される所定の信号に基づき
    前記折返し用選択素子の機能を有効とする判別回路とを
    具備する入出力信号制御用回路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の入出力信号制御用回路
    は、更に、前記外部機器から前記入力素子への入力信号
    を入力用制御信号に基づき選択的に通過させる入力用選
    択素子を具備することを特徴とする入出力信号制御用回
    路。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の入出力信号制御用回路
    は、更に、前記出力素子から前記外部機器への出力信号
    を出力用制御信号に基づき選択的に通過させる出力用選
    択素子を具備することを特徴とする入出力信号制御用回
    路。
  4. 【請求項4】 外部機器への出力信号を出力する出力素
    子と、 前記外部機器からの入力信号を入力する入力素子と、 前記出力素子の出力側と前記入力素子の入力側との間に
    配設され、前記出力素子からの出力信号を選択的に通過
    させる折返し用選択素子と、 前記出力素子の入力側に送出される所定の信号に基づき
    前記折返し用選択素子の機能を有効とする判別回路と、 前記外部機器から前記入力素子への入力信号を入力用制
    御信号に基づき選択的に通過させる入力用選択素子と、 前記出力素子から前記外部機器への出力信号を出力用制
    御信号に基づき選択的に通過させる出力用選択素子とを
    集積した回路を具備することを特徴とする入出力信号制
    御用回路。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002021228A1 (fr) * 2000-09-08 2002-03-14 Tokyo Electron Limited Circuit d'autodiagnostic d'un systeme a circuit d'entree-sortie
JP2006243419A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Oki Data Corp 電子装置及び電子装置の梱包部材

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