JPH081920B2 - ワイヤボンディング装置 - Google Patents

ワイヤボンディング装置

Info

Publication number
JPH081920B2
JPH081920B2 JP2151324A JP15132490A JPH081920B2 JP H081920 B2 JPH081920 B2 JP H081920B2 JP 2151324 A JP2151324 A JP 2151324A JP 15132490 A JP15132490 A JP 15132490A JP H081920 B2 JPH081920 B2 JP H081920B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
movement
capillary
error
amount
ultrasonic horn
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2151324A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0443657A (ja
Inventor
靖彦 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2151324A priority Critical patent/JPH081920B2/ja
Priority to US07/708,994 priority patent/US5158223A/en
Publication of JPH0443657A publication Critical patent/JPH0443657A/ja
Publication of JPH081920B2 publication Critical patent/JPH081920B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K20/00Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
    • B23K20/10Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating making use of vibrations, e.g. ultrasonic welding
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K20/00Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
    • B23K20/10Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating making use of vibrations, e.g. ultrasonic welding
    • B23K20/106Features related to sonotrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/788Means for moving parts
    • H01L2224/78801Lower part of the bonding apparatus, e.g. XY table
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/788Means for moving parts
    • H01L2224/78821Upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head, e.g. capillary or wedge
    • H01L2224/78822Rotational mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8512Aligning
    • H01L2224/85148Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/852Applying energy for connecting
    • H01L2224/85201Compression bonding
    • H01L2224/85205Ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S228/00Metal fusion bonding
    • Y10S228/904Wire bonding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体装置の製造に際して、半導体チップ
の各電極とリードフレームの各インナーリードとを電気
的に接続する時に使用するワイヤボンディング装置に関
する。
(従来の技術) 上記ワイヤボンディング装置は、第3図に示すよう
に、X方向に移動自在なXテーブル1aとY方向に移動自
在なYテーブル1bとからなるX−Yテーブル1の上面に
ボンディングヘッド2が搭載されている。このボンディ
ングヘッド2内には、支持軸3を介して回転自在に支承
された枠体4と、Zモータ(図示せず)を介し回転軸5
を中心に回転自在な回転板6とが収容されているととも
に、上記枠体4の後端面に突出した一対のアーム7間に
位置して、回転板6の表面に突出したピン8が配置さ
れ、これにより、回転板6の回転に伴って枠体4が支持
軸3を中心に上下方向に揺動するようになされている。
一方、上記枠材4の内部には、上記支持軸3を介して
回転自在に支承された支持具9が、枠体4に連接したス
トッパ10と両者の間に介装したばね11によって位置を規
制されて配置されているとともに、両者の間には、位置
センサアンプ12に接続された位置センサ13とリニアモー
タ14が介装されている。
更に、上記支持材9には、超音波発振器15に接続され
た超音波振動子16を備えた超音波ホーン17の基端が固着
され、この超音波ホーン17は枠体4から突出した状態で
配置されているとともに、この超音波ホーン17の先端に
は、キャピラリ18が下方に突出した状態で連結されてい
る。
そして、上記キャピラリ18の下方に位置して上記枠体
4の側方には、半導体チップ19及びリードフレーム20を
位置決めしつつ載置して保持する試料台21が配置されて
いるとともに、キャピラリ18の内部には、ボンディング
ワイヤ22が挿通されている。
そして、先ずX−Yテーブル1を介してボンディング
ヘッド2を所定の位置に水平(X−Y方向)移動させる
とともに、回転板6を回転させて超音波ホーン17を介し
てキャピラリ18を下降(Z方向)させ、この下端を半導
体チップ19の電極19aに圧接させると同時に超音波エネ
ルギを加えて該電極19aとボンディングワイヤ22の下端
とのボンディングを行い、しかる後、上記と逆の動作で
キャピラリ18を一旦Z方向に上昇させた後、これを下降
させつつボンディングヘッド2を所定の位置にまで水平
移動させて、上記と同様な方法でボンディングワイヤ22
をリードフレーム20のインナーリード20aにボンディン
グすることにより、第4図に拡大して示すように、半導
体チップ19の各電極19aと、リードフレーム20の各イン
ナーリード20aとを、キャピラリ18を介してボンディン
グワイヤ22で電気的に接続するようになされている。
ここに、この時、第3図に示すよう、超音波ホーン17
に沿ってボンディングヘッド2に近付く方向をYプラス
方向とすると、半導体チップ19の電極19aとリードフレ
ーム20のインナーリード20aを結んだ後のボンディング
ワイヤ22は、Yプラス側ループ22aとYマイナス側ルー
プ22bを描くことになる。
また、上記半導体チップ19の電極19aとの第1ボンデ
ィングを施した後、所定のループ長を隔てたインナーリ
ード20aとの第2ボンディングを行う際、第5図にキャ
ピラリ18の先端の軌跡22′として示すように、先ずキャ
ピラリ18を一旦僅かに上昇させ、半導体チップ19の内方
に向けて所定のリバース量Rだけリバースさせた後更に
上昇させて合計Zストローク分上昇させ、しかる後、キ
ャピラリ18の下降及び水平移動を同時に行うようになさ
れている。
このキャピラリ18の上昇(Z方向の移動)の際、第6
図に示すように、この上昇は超音波ホーン17の支持軸3
を中心とした揺動によって行われるため、垂直には行わ
れず、この上昇に対応してY方向にΔyの誤差が生じて
しまう。
この誤差Δyは、ZストロークをZst、キャピラリ18
の先端と支持軸3の中心との距離をA、キャピラリ18の
先端と支持軸3の中心を結ぶ線が、キャピラリ18がZス
トロークZst移動した時に初期位置とのなす角度をθと
した時、次の式で表すことができる。
Δy=A(1−cosθ) …… 式及び式より、 この誤差Δyは、キャピラリ18のZ方向の上昇によ
り、常にY軸のプラス側に発生する。このため、上記ボ
ンディングワイヤ22のYプラス側ループ22aとYマイナ
ス側ループ22bでこのY方向の誤差Δyの影響が異なっ
てしまう。
これを、キャピラリ18の先端の軌跡で示すと、第7図
のようになる。なお、同図は第3図に示すように左右対
象となるYプラス側ループ22aとYマイナス側ループ22b
とを同一方向に示したため、Yプラス側ループ22aにお
いては左方向がプラス側に、Yマイナス側ループ22bに
おいては右方向がプラス側になる。
即ち、Yプラス側ループ22aを描く時のキャピラリ18
の下端の軌跡22a′とYマイナス側ループ22bを描く時の
キャピラリ18の下端の軌跡22b′との間には、その上端
において、Y方向に2Δyの誤差が生じてしまう。
ここに、同図に示すように、ループ長が2mmで、Zス
トロークが2.5mmの時、このY方向の誤差2Δyは85μ
m(2Δy=85μm)程度と軽微なものであったため、
従来、この誤差2Δyがそれ程問題となってしまうこと
はなかった。このため、従来からキャピラリ18がZ方向
に上昇するに従ってY方向に誤差Δyが生じても、これ
を補正することは一般に行われていなかった。
(発明が解決しようとする課題) 近年、集積回路の高機能化等に伴って半導体チップが
大型化し、また高集積化と相俟ってループ長も次第に拡
大されつつあり、この長いループ長を得るために、Zス
トローク量を長くしたものが要求されつつある。
そして、第8図に示すように、例えばループ長を4m
m、このループ長を得るためのZストロークを4.5mmとす
ると、Yプラス側ループ22aを描く時のキャピラリ18の
下端の軌跡22a″とYマイナス側ループ22bを描く時のキ
ャピラリ18の下端の軌跡22b″との間にその上端におい
てY方向に生じる誤差2Δyは、230μm(2Δy=230
μm)程度とかなり大きな値となってしまう。
この誤差2Δy(=230μm)は、ボンディングワイ
ヤ22のループ方向によるリバース量R(第5図)の差と
みることができる。そして、このリバース量Rは、ボン
ディングワイヤ22のループの高さや、この曲りや垂れ等
に大きな影響を及ぼすものであり、ループ長に応じた適
正値が必要となっている。
しかしながら、上記のようにループ長、ひいてはZス
トロークの長さの拡大に伴い、リバース量の差が大きく
なってしまうと、例えばYプラス側でのリバース量をル
ープ適正値とすると、Yマイナス側では、このリバース
量が不足または過多となって、ループしたボンディング
ワイヤの曲りや垂れが発生してしまうといた問題点があ
った。
本発明は上記に鑑み、例えループ長が4mm程度に長ル
ープ化し、この長ループ化に伴ってZストロークが長く
なっても、Y方向のプラス側とマイナス側へのルーピン
グで差が生じないようにしたものを提供することを目的
とする。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明に係るワイヤボンデ
ィング装置は、X−Yテーブル上に搭載したボンディン
グヘッドに超音波ホーンの基端を上下方向に揺動自在に
保持し、この超音波ホーンの揺動に伴ってZ方向に移動
するよう該超音波ホーンの先端に取付けたキャピラリを
介して半導体チップとリードフレームの電極間をボンデ
ィングワイヤで接続するようにしたワイヤボンディング
装置において、前記超音波ホーンの上方への揺動による
キャピラリのZ方向の移動伴って生じる該キャピラリの
Y方向の移動量をキャピラリのZ方向の移動量から検出
し、この検出結果に基づいて前記X−YテーブルのY方
向移動量を補正するようにしたものである。
(作用) 上記のように構成した本発明によれば、キャピラリの
Z方向の移動に伴って生じるY方向の誤差は、キャピラ
リのZ方向の移動量(Zストローク)によって検知さ
れ、このY方向の誤差分を考慮してY方向移動量が決定
されるため、キャピラリのZ方向への移動によるキャピ
ラリ軌跡のルーピング方向による差が解消され、ループ
方向が変わってもリバース量を常に同一となすことがで
きる。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、第1の実施例を示すもので、上記第3図に
示す従来例に以下の構成を加えたものである。
即ち、上記回転板6を回転させるZモータ23には、ル
ーピング動作の時、キャピラリ18のZ方向上昇位置(Z
ストロークZSt)を検出するZ位置検出器24が備えられ
ている。このZ位置検出器24は、例えばZモータ23の回
転に伴って出力パルスを発生するエンコーダと、このエ
ンコーダからの出力パルスをカウントするパルスカウン
タとからなり、Zモータ23の回転角を検出し、これによ
って上記第6図に示す角度θ、更にはZストロークZSt
を検出するものである。
このZ位置検出器24は、Δy誤差演算部25に接続さ
れ、Z位置検出器24の出力信号は、Δy誤差演算部25に
入力されて、ここで上記式に基づいてキャピラリ18の
Z方向上昇量(ZストロークZSt)に対応したY方向の
誤差Δyの演算が行われる。
このΔy誤差演算部25は、Yテーブル移動演算部26に
接続され、Δy誤差演算部25で演算された誤差Δyは、
Yテーブル移動演算部26に入力されて、ここでこの誤差
Δyの補正、即ちY±Δyが演算される。ここに、Yプ
ラス側にループする時には、Y−Δyが、Yマイナス側
にループする時には、Y+Δyの演算が行われる。
そして、このYテーブル移動演算部26は、Yテーブル
制御部27に接続され、このYテーブル制御部27の出力信
号がYテーブル1bを駆動するYモータ28に入力されて、
上記誤差Δyを補正したYテーブル1bの移動が行われる
ようなされている。
このように、キャピラリ18のZ方向の移動に伴って生
じるY方向の誤差Δyは、キャピラリ18のZ方向の移動
量(Zストローク)を基に検知され、このY方向の誤差
Δyを考慮してY方向移動量が決定されるため、キャピ
ラリ18のZ方向への移動によるキャピラリ軌跡のルーピ
ング方向による差が解消され、ループ方向が変わっても
リバース量を常に同一となすことができる。
第2図は、第2の実施例を示すもので、本実施例に
は、ルーピング動作の移動データを計算し、各制御部に
移動データを転送するX,Y,Z演算部29が備えられ、この
X,Y,Z演算部29からの各移動データ、即ちX移動データ3
0、Y移動データ31及びZ移動データ32は、各制御部、
即ちXテーブル制御部33、上記第1の実施例と同様のY
テーブル制御部27及びZ制御部34に転送されるのである
が、この時、Y移動データ31及びZ移動データ32は、一
旦上記第1の実施例と同様のYテーブル移動演算部26に
入力されてY方向の移動量が補正された後、Yテーブル
制御部27に出力されるようなされている。
即ち、X,Y,Z演算部29によって演算されたZ移動デー
タ32がZ制御部34に入力され、この出力に応じてZモー
タ23が駆動されるため、このZ移動データ32により、Z
方向移動量(Zストローク)、ひいてはこのZ方向の移
動に伴うY方向の誤差Δyが検出される。そこで、この
誤差Δyによる補正(Y±Δy)をYテーブル移動演算
部26で行い、この出力信号をYテーブル制御部27に入力
し、この信号でYモータ28を駆動することにより、この
誤差Δyを補正したYテーブル1bの移動が行われるよう
なされている。
なお、上記Xテーブル制御部33からの出力信号は、X
テーブル1aを駆動するXモータ35に入力され、この信号
に応じたXテーブル1aの移動が行われる。
なお、上記第1の実施例においては、Z方向の位置
(Zストローク)を検出した後、Y方向移動量の補正を
行うため、Y方向の移動に応答遅れが生じるが、この第
2の実施例の場合、Z移動データ32により直接Y方向移
動量の補正を行うため、このY方向移動のZ方向移動に
対する追従性を向上させることができる。
〔発明の効果〕
本発明は上記のような構成であるので、ワイヤルーピ
ング形成時に、キャピラリがZ方向に上下動することに
よって生じるY方向の誤差を補正すすことにより、キャ
ピラリ軌跡のルーピング方向によるY方向の差を解消す
ることができ、これによってループ方向が変わっても、
リバース量を常に同一となして、どの方向のルーピング
においても、ボンディングワイヤの曲りや垂れを防止し
て常に最適なワイヤボンディングを行うことができると
いった効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の夫々異なる実施例を示す概
略構成図、第3図は従来例を示す概略構成図、第4図は
ワイヤボンディング動作時の要部斜視図、第5図はキャ
ピラリの動作の軌跡を示す図、第6図はY方向の誤差Δ
yの計算の説明に付する図、第7図はループ長2mmの場
合の誤差Δyを示す図、第8図はループ長4mmの場合の
誤差Δyを示す図である。 1……X−Yテーブル、2……ボンディングヘッド、3
……支持軸、4……枠体、6……回転板、16……超音波
発振子、17……超音波ホーン、18……キャピラリ、19…
…半導体チップ、20……リードフレーム、20a……イン
ナーリード、22……ボンディングワイヤ、24……Z位置
検出器、25……Δy誤差演算部、26……Yテーブル移動
演算部、27……Yテーブル制御部、29……X,Y,Z演算
部、31……Y移動データ、32……Z移動データ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】X−Yテーブル上に搭載したボンディング
    ヘッドに超音波ホーンの基端を上下方向に揺動自在に保
    持し、この超音波ホーンの揺動に伴ってZ方向に移動す
    るよう該超音波ホーンの先端に取付けたキャピラリを介
    して半導体チップとリードフレームの電極間をボンディ
    ングワイヤで接続するようにしたワイヤボンディング装
    置において、前記超音波ホーンの上方への揺動によるキ
    ャピラリのZ方向の移動に伴って生じる該キャピラリの
    Y方向の移動量をキャピラリのZ方向の移動量から検出
    し、この検出結果に基づいて前記X−YテーブルのY方
    向移動量を補正するようにしたことを特徴とするワイヤ
    ボンディング装置。
JP2151324A 1990-06-08 1990-06-08 ワイヤボンディング装置 Expired - Fee Related JPH081920B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2151324A JPH081920B2 (ja) 1990-06-08 1990-06-08 ワイヤボンディング装置
US07/708,994 US5158223A (en) 1990-06-08 1991-05-31 Wire bonding apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2151324A JPH081920B2 (ja) 1990-06-08 1990-06-08 ワイヤボンディング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0443657A JPH0443657A (ja) 1992-02-13
JPH081920B2 true JPH081920B2 (ja) 1996-01-10

Family

ID=15516129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2151324A Expired - Fee Related JPH081920B2 (ja) 1990-06-08 1990-06-08 ワイヤボンディング装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5158223A (ja)
JP (1) JPH081920B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2879270B2 (ja) * 1991-04-16 1999-04-05 株式会社新川 ボンデイング装置
JP3005781B2 (ja) * 1992-08-04 2000-02-07 株式会社新川 ワイヤボンデイング装置のモータ制御回路
DE69405209T2 (de) * 1994-03-31 1998-03-19 Sgs Thomson Microelectronics Verbindungsvorrichtung für elektronische Halbleiter-Einheiter
JP3370539B2 (ja) * 1997-01-13 2003-01-27 株式会社新川 ワイヤボンディング方法
EP0857535B1 (en) * 1997-02-06 2003-06-25 F & K Delvotec Bondtechnik GmbH Bonding head for a wire bonding machine
JP3370556B2 (ja) * 1997-05-14 2003-01-27 株式会社新川 ワイヤボンディング装置及びその制御方法
TW424027B (en) * 1998-01-15 2001-03-01 Esec Sa Method of making wire connections of predetermined shaped
EP0937530A1 (de) * 1998-02-19 1999-08-25 ESEC Management SA Verfahren zum Herstellen von Drahtverbindungen an Halbleiterchips
JP3681676B2 (ja) * 2001-11-16 2005-08-10 松下電器産業株式会社 バンプボンディング方法及び装置
US6786383B2 (en) * 2002-11-14 2004-09-07 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Ultrasonic horn assembly with fused stack components
WO2008151964A1 (de) * 2007-06-15 2008-12-18 Oerlikon Assembly Equipment Ag, Steinhausen Bondkopf fuer einen wire bonder
EP3606695B1 (en) * 2017-04-04 2023-06-07 Kulicke and Soffa Industries, Inc. Ultrasonic welding system and method of operating an ultrasonic welding system

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4327860A (en) * 1980-01-03 1982-05-04 Kulicke And Soffa Ind. Inc. Method of making slack free wire interconnections
US4445633A (en) * 1982-02-11 1984-05-01 Rockwell International Corporation Automatic bonder for forming wire interconnections of automatically controlled configuration
JPS5950536A (ja) * 1982-09-16 1984-03-23 Toshiba Corp ワイヤボンデイング装置
US4597522A (en) * 1983-12-26 1986-07-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Wire bonding method and device
JPS60235432A (ja) * 1984-05-09 1985-11-22 Toshiba Corp ワイヤボンデイング装置
US4759073A (en) * 1985-11-15 1988-07-19 Kulicke & Soffa Industries, Inc. Bonding apparatus with means and method for automatic calibration using pattern recognition
JPS6362242A (ja) * 1986-09-02 1988-03-18 Toshiba Corp ワイヤボンディング装置
DE58906862D1 (de) * 1988-05-05 1994-03-17 Esec Sa Vorrichtung zur ultraschallkontaktierenden Drahtverbindung an elektronischen Komponenten.
JP2516806B2 (ja) * 1989-02-27 1996-07-24 株式会社新川 ワイヤボンデイング方法及びその装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0443657A (ja) 1992-02-13
US5158223A (en) 1992-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH081920B2 (ja) ワイヤボンディング装置
US20010016786A1 (en) Tool position measurement method, offset measurement method, reference member and bonding apparatus
JP2588068B2 (ja) ワイヤボンディング装置及びその方法
JPS60189231A (ja) ワイヤボンデイング装置
JP3937162B2 (ja) 部品実装装置および部品実装方法
KR20180072755A (ko) 본딩 장치, 본딩 방법, 및 본딩 제어 프로그램
JP2000094232A (ja) 高さ調整機構及びそれを用いたチップ実装装置
US3601304A (en) Wire bonder
JPS593850B2 (ja) 半導体ワイヤ−ボンディング装置
US20030218048A1 (en) Bonding apparatus
JP4521496B2 (ja) マウント精度測定方法
JP3625934B2 (ja) パラレルシーム接合方法及びパラレルシーム接合装置
JP2001127097A (ja) ボンディング装置及びその制御方法
JP3534525B2 (ja) パラレルシーム接合方法及びパラレルシーム接合装置
JP2593712B2 (ja) ツールの平行出し方法及び装置
JP2947624B2 (ja) インナリードボンディング装置
JPS63211640A (ja) ワイヤボンデイング方法およびワイヤボンデイング装置ならびにワイヤボンデイング装置を使用した半導体装置の製造方法
JP2558717B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JP2676446B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JPH0635470Y2 (ja) ワイヤボンデイング装置
JP3644575B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JPH0525240Y2 (ja)
JPS6343915B2 (ja)
JP3116519B2 (ja) ワイヤボンダにおけるキャピラリツールの高さ調整方法
JP3173153B2 (ja) リードのボンディング装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees