JPH08184495A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH08184495A JPH08184495A JP32836394A JP32836394A JPH08184495A JP H08184495 A JPH08184495 A JP H08184495A JP 32836394 A JP32836394 A JP 32836394A JP 32836394 A JP32836394 A JP 32836394A JP H08184495 A JPH08184495 A JP H08184495A
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- JP
- Japan
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- photodetectors
- wavelength range
- switching
- luminous flux
- light
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
光検出器切換波長付近で発生する段差やノイズを低減す
るようにした広波長域分光光度計を提供することを目的
としている。 【構成】 測定波長域によって複数の光検出器を選択的
に切り換えて使用するものであって、例えば、光電子増
倍管５の場合には１９０ｎｍから９００ｎｍの波長域、
ＰｂＳ検出器６の場合には７５０ｎｍから３２００ｎｍ
位の波長域にそれぞれ検出感度があるので、両検出器
５、６を一つの積分球４に付設し、切換波長を８００ｎ
ｍ付近に設定して、その前後の７５０ｎｍから８５０ｎ
ｍの間では両光検出器５、６により同時に測定光（透過
光若しくは反射光）を検出する。両光検出器５、６から
出力される信号は増幅器９、１０、Ａ／Ｄ変換器１１、
１２を介して平均演算手段１３で平均される。
るようにした広波長域分光光度計を提供することを目的
としている。 【構成】 測定波長域によって複数の光検出器を選択的
に切り換えて使用するものであって、例えば、光電子増
倍管５の場合には１９０ｎｍから９００ｎｍの波長域、
ＰｂＳ検出器６の場合には７５０ｎｍから３２００ｎｍ
位の波長域にそれぞれ検出感度があるので、両検出器
５、６を一つの積分球４に付設し、切換波長を８００ｎ
ｍ付近に設定して、その前後の７５０ｎｍから８５０ｎ
ｍの間では両光検出器５、６により同時に測定光（透過
光若しくは反射光）を検出する。両光検出器５、６から
出力される信号は増幅器９、１０、Ａ／Ｄ変換器１１、
１２を介して平均演算手段１３で平均される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は分光光度計であって、特
に、測定波長域によって複数の光検出器を選択的に切り
換えて使用し、広い波長範囲にわたって測定することが
できる分光光度計に関する。
に、測定波長域によって複数の光検出器を選択的に切り
換えて使用し、広い波長範囲にわたって測定することが
できる分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の広波長域分光光度計においては、
光検出器として短波長域用と、長波長域用の二つの光検
出器を用い、測定に際しては、検出器を移動させるか、
光路を移動させるかして、第３図に示すように、予め決
めた特定の切換波長、例えば、二つの光検出器として光
電子増倍管、ＰｂＳ検出器を用いる場合には８００ｎｍ
付近で検出器を切り換えていた。
光検出器として短波長域用と、長波長域用の二つの光検
出器を用い、測定に際しては、検出器を移動させるか、
光路を移動させるかして、第３図に示すように、予め決
めた特定の切換波長、例えば、二つの光検出器として光
電子増倍管、ＰｂＳ検出器を用いる場合には８００ｎｍ
付近で検出器を切り換えていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の広波長域分光光
度計にあっては、通常、光検出器切換波長付近では検出
器の感度が乏しくなっており、そのため第４図（ａ）
（ｂ）に示すように、切換波長付近でスペクトル上に段
差（ａ）が生じたり、ノイズ（ｂ）が多く発生したりし
ていた。また、このような段差やノイズをなくするため
データ処理を工夫する方法もあるが、これはスペクトル
データの捏造に近い。
度計にあっては、通常、光検出器切換波長付近では検出
器の感度が乏しくなっており、そのため第４図（ａ）
（ｂ）に示すように、切換波長付近でスペクトル上に段
差（ａ）が生じたり、ノイズ（ｂ）が多く発生したりし
ていた。また、このような段差やノイズをなくするため
データ処理を工夫する方法もあるが、これはスペクトル
データの捏造に近い。
【０００４】本発明は、データ処理によることなく、光
検出器切換波長付近で発生する段差やノイズを低減する
ようにした広波長域分光光度計を提供することを目的と
している。
検出器切換波長付近で発生する段差やノイズを低減する
ようにした広波長域分光光度計を提供することを目的と
している。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の分光光度計においては、測定波長域によっ
て複数の光検出器を選択的に切り換えて使用するに際
し、光検出器の使用可能域でかつ切換波長付近、即ち各
光検出器がいずれも感度を有する波長域では同時にそれ
ら複数の光検出器を使用し、各光検出器からの出力信号
を平均化するものである。光検出器としては、代表的に
は、短波長域用として光電子増倍管、長波長域用として
ＰｂＳ検出器がよく知られている。同時に複数の光検出
器を使用するためには、種々の構成が適用できるが、一
つの積分球に複数の光検出器を付設する構成が好適であ
る。
に、本発明の分光光度計においては、測定波長域によっ
て複数の光検出器を選択的に切り換えて使用するに際
し、光検出器の使用可能域でかつ切換波長付近、即ち各
光検出器がいずれも感度を有する波長域では同時にそれ
ら複数の光検出器を使用し、各光検出器からの出力信号
を平均化するものである。光検出器としては、代表的に
は、短波長域用として光電子増倍管、長波長域用として
ＰｂＳ検出器がよく知られている。同時に複数の光検出
器を使用するためには、種々の構成が適用できるが、一
つの積分球に複数の光検出器を付設する構成が好適であ
る。
【０００６】
【作用】上記のように構成された分光光度計の光検出
器、例えば第２図に示すように、通常、光電子増倍管の
場合には１９０ｎｍから９００ｎｍの波長域、ＰｂＳ検
出器の場合には７５０ｎｍから３２００ｎｍ位の波長域
にそれぞれ検出感度があるので、切換波長を８００ｎｍ
付近に設定して、その前後の７５０ｎｍから８５０ｎｍ
の間では両光検出器により同時に測定光（透過光若しく
は反射光）を検出する。両光検出器から出力される信号
は増幅器、Ａ／Ｄ変換器を介して平均演算手段で平均さ
れ、切換波長の８００ｎｍ付近における７５０ｎｍから
８５０ｎｍの間の測定光出力として用いられる。
器、例えば第２図に示すように、通常、光電子増倍管の
場合には１９０ｎｍから９００ｎｍの波長域、ＰｂＳ検
出器の場合には７５０ｎｍから３２００ｎｍ位の波長域
にそれぞれ検出感度があるので、切換波長を８００ｎｍ
付近に設定して、その前後の７５０ｎｍから８５０ｎｍ
の間では両光検出器により同時に測定光（透過光若しく
は反射光）を検出する。両光検出器から出力される信号
は増幅器、Ａ／Ｄ変換器を介して平均演算手段で平均さ
れ、切換波長の８００ｎｍ付近における７５０ｎｍから
８５０ｎｍの間の測定光出力として用いられる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の分光光度計について図面を参
照して説明するに、第１図において、光源１からの光は
分光器で分光され単色化されて試料セル３に入射し、同
セル３を透過した光束は積分球４に導かれる。積分球４
には二つの光検出器、即ち光電子増倍管５とＰｂＳ検出
器６とが付設されている。光電子増倍管５は１９０ｎｍ
から９００ｎｍまでの比較的短い波長域に検出感度を有
しこの波長域で使用され、ＰｂＳ検出器は７５０ｎｍか
ら３２００ｎｍ位の比較的長い波長域に検出感度を有し
この波長域で使用されるが、両光検出器５、６は７５０
ｎｍから９００ｎｍの波長域ではともに検出感度をもっ
ている。
照して説明するに、第１図において、光源１からの光は
分光器で分光され単色化されて試料セル３に入射し、同
セル３を透過した光束は積分球４に導かれる。積分球４
には二つの光検出器、即ち光電子増倍管５とＰｂＳ検出
器６とが付設されている。光電子増倍管５は１９０ｎｍ
から９００ｎｍまでの比較的短い波長域に検出感度を有
しこの波長域で使用され、ＰｂＳ検出器は７５０ｎｍか
ら３２００ｎｍ位の比較的長い波長域に検出感度を有し
この波長域で使用されるが、両光検出器５、６は７５０
ｎｍから９００ｎｍの波長域ではともに検出感度をもっ
ている。
【０００８】両光検出器５、６は、通常は、測定波長域
によってスイッチ７、８により選択的に切り換えて使用
されるのであるが、その切換波長を、例えば、８００ｎ
ｍとすると、その前後の７５０ｎｍから８５０ｎｍの間
では両光検出器５、６で同時にセル３からの透過光束が
検出される。両光検出器５、６で同時に検出された信号
は、それぞれ増幅器９、１０およびＡ／Ｄ変換器１１、
１２を経由して平均演算手段１３で平均され、この平均
化された信号でもって７５０ｎｍから８５０ｎｍの間の
波長域における透過率（または吸光度）が測定される。
によってスイッチ７、８により選択的に切り換えて使用
されるのであるが、その切換波長を、例えば、８００ｎ
ｍとすると、その前後の７５０ｎｍから８５０ｎｍの間
では両光検出器５、６で同時にセル３からの透過光束が
検出される。両光検出器５、６で同時に検出された信号
は、それぞれ増幅器９、１０およびＡ／Ｄ変換器１１、
１２を経由して平均演算手段１３で平均され、この平均
化された信号でもって７５０ｎｍから８５０ｎｍの間の
波長域における透過率（または吸光度）が測定される。
【０００９】同時に二つの光検出器５、６を使用するた
めには、一つの積分球４に光検出器５、６を付設する構
成が好適であるが、これ以外にも、ミラーなどの光学素
子を使用することにより光路を変更させる方式の光学系
の場合には、完全に同時ではないけれども、波長を走査
しながら両光検出器５、６を切り換えるようにすること
も可能である。
めには、一つの積分球４に光検出器５、６を付設する構
成が好適であるが、これ以外にも、ミラーなどの光学素
子を使用することにより光路を変更させる方式の光学系
の場合には、完全に同時ではないけれども、波長を走査
しながら両光検出器５、６を切り換えるようにすること
も可能である。
【００１０】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、検出器の感度が乏しい検出器切換波長付近
で複数の光検出器を使用して、光検出器の感度低下に起
因する同切換波長付近でのスペクトル上の段差やノイズ
を低減することができる。
ているので、検出器の感度が乏しい検出器切換波長付近
で複数の光検出器を使用して、光検出器の感度低下に起
因する同切換波長付近でのスペクトル上の段差やノイズ
を低減することができる。
【図１】本発明実施例装置の概略構成を示す図である。
【図２】本発明実施例装置における検出器切換のタイミ
ングを示す図である。
ングを示す図である。
【図３】従来装置における検出器切換のタイミングを示
す図である。
す図である。
【図４】従来装置における切換波長付近におけるスペク
トル上の段差やノイズを示す図である。
トル上の段差やノイズを示す図である。
１…光源 ２…分光器 ３…セル ４…積分球 ５…光電子増倍管 ６…ＰｂＳ検出器 ７、８…スイッチ ９、１０…増幅器 １１、１２…Ａ／Ｄ変換器 １３…平均演算手
段
段
Claims (1)
- 【請求項１】 測定波長域によって複数の光検出器を選
択的に切り換えて使用する分光光度計において、 前記光検出器の使用可能域でかつ切換波長付近で同時に
前記複数の光検出器を使用し、これら光検出器から出力
される信号を平均化することを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32836394A JPH08184495A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32836394A JPH08184495A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08184495A true JPH08184495A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18209416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32836394A Pending JPH08184495A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08184495A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006023284A (ja) * | 2004-06-11 | 2006-01-26 | Shimadzu Corp | 紫外可視近赤外分光光度計用検出装置 |
| JP2009121990A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| WO2011112185A1 (en) * | 2010-03-09 | 2011-09-15 | Halliburton Energy Services, Inc. | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| EP3229000A4 (en) * | 2014-12-02 | 2018-06-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectrometry device and spectrometry method |
| JP2019527935A (ja) * | 2016-08-02 | 2019-10-03 | ニューポート コーポレーション | 多接合型検出器デバイスおよび使用方法 |
-
1994
- 1994-12-28 JP JP32836394A patent/JPH08184495A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006023284A (ja) * | 2004-06-11 | 2006-01-26 | Shimadzu Corp | 紫外可視近赤外分光光度計用検出装置 |
| JP4622673B2 (ja) * | 2004-06-11 | 2011-02-02 | 株式会社島津製作所 | 紫外可視近赤外分光光度計用検出装置 |
| JP2009121990A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| WO2011112185A1 (en) * | 2010-03-09 | 2011-09-15 | Halliburton Energy Services, Inc. | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| GB2490757A (en) * | 2010-03-09 | 2012-11-14 | Halliburton Energy Serv Inc | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| US9304227B2 (en) | 2010-03-09 | 2016-04-05 | Halliburton Energy Services, Inc. | Detector, preamplifier selection apparatus, systems, and methods |
| US20160170080A1 (en) * | 2010-03-09 | 2016-06-16 | Halliburton Energy Services, Inc. | Detector, preamplifier selection apparatus, systems, and methods |
| GB2490757B (en) * | 2010-03-09 | 2017-08-02 | Halliburton Energy Services Inc | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| US9766369B2 (en) | 2010-03-09 | 2017-09-19 | Halliburton Energy Services, Inc. | Detector, preamplifier selection apparatus, systems, and methods |
| NO342425B1 (no) * | 2010-03-09 | 2018-05-22 | Halliburton Energy Services Inc | Optisk deteksjonsanordning med middel for valg av en optisk detektor og/eller en detektorforsterker |
| EP3229000A4 (en) * | 2014-12-02 | 2018-06-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectrometry device and spectrometry method |
| JP2019527935A (ja) * | 2016-08-02 | 2019-10-03 | ニューポート コーポレーション | 多接合型検出器デバイスおよび使用方法 |
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