JPS6315535B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6315535B2 JPS6315535B2 JP4252980A JP4252980A JPS6315535B2 JP S6315535 B2 JPS6315535 B2 JP S6315535B2 JP 4252980 A JP4252980 A JP 4252980A JP 4252980 A JP4252980 A JP 4252980A JP S6315535 B2 JPS6315535 B2 JP S6315535B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- absorbance
- signal
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000011481 absorbance measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は利得自動制御式測光装置に関する。二
光束分光光度計或は二波長分光光度計等では試料
信号を対照信号で割算することにより光源の変
動、分光器から受光素子に至るまでの分光特性が
平坦でないのを補償している。即ち透過率100％
或いは吸光度０等のベースラインの変動をなくし
ている。上述した（試料信号）÷（対照信号）の演
算を行うのに、従来の二光束分光光度計とか二波
長分光光度計では対照信号をモニタしてこれが一
定値を維持するように測定装置の利得を制御して
いる。この方式によると試料信号に対して対照信
号が余り小さくなり、或は対照信号を小さくする
必要があるような場合、試料信号が大きくなり過
ぎて増幅器のダイナミツクレンジを超えて増幅器
出力が飽和してしまう。
光束分光光度計或は二波長分光光度計等では試料
信号を対照信号で割算することにより光源の変
動、分光器から受光素子に至るまでの分光特性が
平坦でないのを補償している。即ち透過率100％
或いは吸光度０等のベースラインの変動をなくし
ている。上述した（試料信号）÷（対照信号）の演
算を行うのに、従来の二光束分光光度計とか二波
長分光光度計では対照信号をモニタしてこれが一
定値を維持するように測定装置の利得を制御して
いる。この方式によると試料信号に対して対照信
号が余り小さくなり、或は対照信号を小さくする
必要があるような場合、試料信号が大きくなり過
ぎて増幅器のダイナミツクレンジを超えて増幅器
出力が飽和してしまう。
従つて本発明は試料信号と対照信号との比率が
どのようであつても、増幅が飽和して測定ができ
なくなると云つた事態にならないような測光装置
を得るためになされた。
どのようであつても、増幅が飽和して測定ができ
なくなると云つた事態にならないような測光装置
を得るためになされた。
本発明利得自動制御式測光装置は、試料光を電
気信号に変換した試料信号をVs、対照光を電気
信号に変換した対照信号をVrとするとき、任意
に設定した係数k1、k2を採つてk1・Vs＋k2・Vr
が一定になるように測光装置の光・電気信号変換
の利得を制御し、得られたVsを割算装置でVrで
割算するようにしたものである。こゝで割算装置
と云うのは直接Vs／Vrを演算する装置は勿論
Vs，Vrを夫々対数変換して後引算する装置も含
むので、後者の場合、演算結果は吸光度を表わす
ことになる。
気信号に変換した試料信号をVs、対照光を電気
信号に変換した対照信号をVrとするとき、任意
に設定した係数k1、k2を採つてk1・Vs＋k2・Vr
が一定になるように測光装置の光・電気信号変換
の利得を制御し、得られたVsを割算装置でVrで
割算するようにしたものである。こゝで割算装置
と云うのは直接Vs／Vrを演算する装置は勿論
Vs，Vrを夫々対数変換して後引算する装置も含
むので、後者の場合、演算結果は吸光度を表わす
ことになる。
上述した係数k1、k2は夫々の測定において適
当に選定すればよく、k1＝k2としてもよいこと
は云うまでもない。増幅器のダイナミツクレンジ
をk1・Vs＋k2・Vr＝一定値が収まるようにして
おけばVs／Vrが如何に大きな値になる場合でも
Vsが増幅器のダイナミツクレンジを超すことは
ない。
当に選定すればよく、k1＝k2としてもよいこと
は云うまでもない。増幅器のダイナミツクレンジ
をk1・Vs＋k2・Vr＝一定値が収まるようにして
おけばVs／Vrが如何に大きな値になる場合でも
Vsが増幅器のダイナミツクレンジを超すことは
ない。
以下実施例によつて本発明を詳述する。第１図
は本発明を二光束分光光度計に適用した一実施例
を示す。Ｌは光源、Ｍは分光器、Bs１は分光器
Ｍから出た光を２光束に分割する回転ミラー、
Bs２は２光束を同一光路上に重ねる回転ミラー
で、Crは対照セル、Csは試料セルである。ａは
対照光束、ｂは試料光束である。両光束は回転ミ
ラーBs２を介して交互に光検出器Ｄに入射せし
められる。Ａは光検出器Ｄの出力を増幅する前置
増幅器であり、その出力はスイツチＳ１，Ｓ２を
介してホールド回路Ｈ１，Ｈ２のコンデンサＣ
１，Ｃ２に充電記憶せられる。回転ミラーBs１，
Bs２は連動して回転し、スイツチＳ１，Ｓ２は
回転ミラーBs１，Bs２と連動して交互に開閉し、
Ｓ１は対照光束ａの光が検出器Ｄに入射している
間閉じており、Ｓ２は試料光束ｂの光が検出器Ｄ
に入射している間閉じるようになつている。従つ
てコンデンサＣ１に記憶せしめられるものが対照
信号Vrであり、Ｃ２に記憶せしめられるものが
試料信号Vsである。両信号は夫々バツフア増幅
器Ａ１，Ａ２を介して割算回路Dvに入力される。
更にＡ１，Ａ２の出力端子は抵抗Ｒ１，Ｒ２の直
列接続によつて結ばれ、Ｒ１とＲ２との接続点に
前述したk1・Vs＋k2Vrの出力を得る。これがコ
ンパレータCvにおいて一定電圧ｅと比較され、
その差が制御信号としてDC−DCコンバータＫで
直流高電圧信号に変換され、光検出器Ｄ（光電子
増倍管を用いている）のダイノードに印加されて
同検出器の感度を調節しk1・Vs＋k2Vrが一定値
ｅとなるように制御している。k1，k2の比率は
抵抗Ｒ１，Ｒ２の比率によつて任意に設定でき
る。k1・Vs＋k2・Vrを一定にする方法は、上記
したダイノードフイードバツク方式に限られず、
例えば分光器の入、出射スリツトの幅を変えると
か、光束が二光束に分れていない部分で光契を出
入させる等適宜の方法を用い得る。割算回路Dv
の出力はVs／Vrで透過率を表わしており、これ
を対数変換器Lgで対数に変換すれば吸光度を表
わすことになる。割算回路Dvはアナログ方式で
もよいが、バツフア増幅器Ａ１及びＡ２の出力を
夫々Ａ−Ｄ変換してデイジタル演算回路で割算す
るようにしてもよい。更に前述したようにＡ１，
Ａ２の出力を夫々対数変換して後引算してもよい
ことは云うまでもない。更にＡ１，Ａ２の各出力
からデイジタル方式でk1・Vs＋k2・Vrを算出
し、これから一定値を引算したデイジタル信号を
アナログ信号に変換して測光装置の利得を制御す
るようにすることもできる。
は本発明を二光束分光光度計に適用した一実施例
を示す。Ｌは光源、Ｍは分光器、Bs１は分光器
Ｍから出た光を２光束に分割する回転ミラー、
Bs２は２光束を同一光路上に重ねる回転ミラー
で、Crは対照セル、Csは試料セルである。ａは
対照光束、ｂは試料光束である。両光束は回転ミ
ラーBs２を介して交互に光検出器Ｄに入射せし
められる。Ａは光検出器Ｄの出力を増幅する前置
増幅器であり、その出力はスイツチＳ１，Ｓ２を
介してホールド回路Ｈ１，Ｈ２のコンデンサＣ
１，Ｃ２に充電記憶せられる。回転ミラーBs１，
Bs２は連動して回転し、スイツチＳ１，Ｓ２は
回転ミラーBs１，Bs２と連動して交互に開閉し、
Ｓ１は対照光束ａの光が検出器Ｄに入射している
間閉じており、Ｓ２は試料光束ｂの光が検出器Ｄ
に入射している間閉じるようになつている。従つ
てコンデンサＣ１に記憶せしめられるものが対照
信号Vrであり、Ｃ２に記憶せしめられるものが
試料信号Vsである。両信号は夫々バツフア増幅
器Ａ１，Ａ２を介して割算回路Dvに入力される。
更にＡ１，Ａ２の出力端子は抵抗Ｒ１，Ｒ２の直
列接続によつて結ばれ、Ｒ１とＲ２との接続点に
前述したk1・Vs＋k2Vrの出力を得る。これがコ
ンパレータCvにおいて一定電圧ｅと比較され、
その差が制御信号としてDC−DCコンバータＫで
直流高電圧信号に変換され、光検出器Ｄ（光電子
増倍管を用いている）のダイノードに印加されて
同検出器の感度を調節しk1・Vs＋k2Vrが一定値
ｅとなるように制御している。k1，k2の比率は
抵抗Ｒ１，Ｒ２の比率によつて任意に設定でき
る。k1・Vs＋k2・Vrを一定にする方法は、上記
したダイノードフイードバツク方式に限られず、
例えば分光器の入、出射スリツトの幅を変えると
か、光束が二光束に分れていない部分で光契を出
入させる等適宜の方法を用い得る。割算回路Dv
の出力はVs／Vrで透過率を表わしており、これ
を対数変換器Lgで対数に変換すれば吸光度を表
わすことになる。割算回路Dvはアナログ方式で
もよいが、バツフア増幅器Ａ１及びＡ２の出力を
夫々Ａ−Ｄ変換してデイジタル演算回路で割算す
るようにしてもよい。更に前述したようにＡ１，
Ａ２の出力を夫々対数変換して後引算してもよい
ことは云うまでもない。更にＡ１，Ａ２の各出力
からデイジタル方式でk1・Vs＋k2・Vrを算出
し、これから一定値を引算したデイジタル信号を
アナログ信号に変換して測光装置の利得を制御す
るようにすることもできる。
なお二光束分光光度計の場合、対照光、試料光
夫々に光検出器を設け、第１図の回転ミラーBs
２をなくすこともできる。この場合、利得制御は
各光検出器に対しダイノードフイードバツク方式
を用いてもよいが、両検出器を正確に同率に感度
調節することは困難であるから、分光器のスリツ
ト幅を調節するか、分光器から出射した光束が未
だ二光束に分割されない所で光契を出入させる方
式を用いた方が良い。
夫々に光検出器を設け、第１図の回転ミラーBs
２をなくすこともできる。この場合、利得制御は
各光検出器に対しダイノードフイードバツク方式
を用いてもよいが、両検出器を正確に同率に感度
調節することは困難であるから、分光器のスリツ
ト幅を調節するか、分光器から出射した光束が未
だ二光束に分割されない所で光契を出入させる方
式を用いた方が良い。
二波長分光光度計は二台の分光器を用い、夫々
の出射光束を回転ミラーにより交互に共通光路に
導き、その共通光路中に試料を置く。試料より後
の装置構成は第１図の光検出器Ｄより右方と全く
同じに構成或は上述したその他の実施態様で構成
できる。この場合対照信号と云うのは試料中の検
出しようとする成分によつては格別な吸収を受け
ず、反射、屈折、散乱、回折等に関してはもう一
つの波長の光と同じように振舞うような波長に選
ばれた光の試料透過後の測光出力信号である。
の出射光束を回転ミラーにより交互に共通光路に
導き、その共通光路中に試料を置く。試料より後
の装置構成は第１図の光検出器Ｄより右方と全く
同じに構成或は上述したその他の実施態様で構成
できる。この場合対照信号と云うのは試料中の検
出しようとする成分によつては格別な吸収を受け
ず、反射、屈折、散乱、回折等に関してはもう一
つの波長の光と同じように振舞うような波長に選
ばれた光の試料透過後の測光出力信号である。
本発明測光装置は上述したような構成で、第１
に測定のダイナミツクレンジが拡大され、第２に
測定のＳ／Ｎ比を向上できる。まず測定のダイナ
ミツクレンジが拡大される点について述べる。二
光束分光測定では通常対照セルと試料セルの入射
光強度は等しい。従つて試料信号Vsは０（吸光度
∞）から対照信号Vrに等しい値（吸光度０）ま
で０〜Vrの範囲にある。吸光度２前後の試料を
分析する場合試料信号Vsは対照信号Vrの1/100
程度であり、更に吸光度４程度の試料を分析する
場合VsはVrの1/10000程度である。このような
小さな信号を精度よく測定することは困難であ
る。今仮に対照光を1/100に減光したとする。従
来装置ではVrが一定になるように動作するので
光検出器の感度が100倍に高められる。従つて本
来Vrの1/100であつたVsは100倍されることにな
る。従つて吸光度２近辺の試料の分析が精度よく
できることになる。しかし一般に試料は測定の全
波長域で同程度の吸光度を持つているのではない
から、或る波長の所で吸光度が２であつても他の
波長の所で吸光度が１或は０に近くなることもあ
る。そうするとそこではVsはVrの10倍或は100
倍になる。通常Vrは増幅器のダイナミツクレン
ジの半分位に設定し、VsがVrの２倍程度までは
測定できるようにするが、VsがVrの10倍になれ
ば勿論前置増幅器のダイナミツクレンジを超過し
ている。従つて対照信号Vrを一定に保つと云う
従来装置では対照光を減光して吸光度の大なる試
料の分析精度を上げると云う方法が採れなかつ
た。本発明によれば対照光を1/100に減光すると
吸光度２の試料に対しVsとVrとは略等しくな
り、今仮にVs＋Vr＝一定となるように光検出器
の感度調節をしているとすれば、波長走査の過程
で試料吸光度が０になつたとしてもVs＋Vr＝一
定でこれが前置増幅器のダイナミツクレンジに収
まるように設定してあるのでVsの増幅器出力が
飽和してしまうと云うことは起らない。上述した
所を整理すると、前置増幅器のダイナミツクレン
ジを4Vとすると、従来はVr＝4Vとなるように設
定すると吸光度０〜２の範囲の試料信号はVs＝
４〜0.04Vであり、これに対して本発明で対照光
を1/100に減光しVr＋Vs＝4Vとして従来例と同
精度の測定を考えるとVs＝3.96V〜0.04Vが測定
レンジである。Vs＝3.96Vに対するVrは0.04でこ
れは本来のVrの1/100であるからこのときの吸光
度は略０、Vs＝0.04VのときVrは3.96Vになるが
これは本来のVrの1/100だから本来のVrは396で
あり吸光度は略４となつて従来装置に比し吸光度
測定レンジが２倍に拡大されている。本発明は対
照光を常に1/100に減光すると云うことではなく、
吸光度２前後で変化する試料なら1/100に減光し、
吸光度３前後の試料なら1/1000に減少し、逆に吸
光度が０〜１と云つた試料なら減光しない。要す
るに試料によつて最も有利なように対照光を設定
できるのであり、従来例では仮に吸光度２の試料
に最も適したように対照光を1/100に減光すると、
吸光度が小さくなる側で試料信号が増幅器のダイ
ナミツクレンジを超してしまうのである。
に測定のダイナミツクレンジが拡大され、第２に
測定のＳ／Ｎ比を向上できる。まず測定のダイナ
ミツクレンジが拡大される点について述べる。二
光束分光測定では通常対照セルと試料セルの入射
光強度は等しい。従つて試料信号Vsは０（吸光度
∞）から対照信号Vrに等しい値（吸光度０）ま
で０〜Vrの範囲にある。吸光度２前後の試料を
分析する場合試料信号Vsは対照信号Vrの1/100
程度であり、更に吸光度４程度の試料を分析する
場合VsはVrの1/10000程度である。このような
小さな信号を精度よく測定することは困難であ
る。今仮に対照光を1/100に減光したとする。従
来装置ではVrが一定になるように動作するので
光検出器の感度が100倍に高められる。従つて本
来Vrの1/100であつたVsは100倍されることにな
る。従つて吸光度２近辺の試料の分析が精度よく
できることになる。しかし一般に試料は測定の全
波長域で同程度の吸光度を持つているのではない
から、或る波長の所で吸光度が２であつても他の
波長の所で吸光度が１或は０に近くなることもあ
る。そうするとそこではVsはVrの10倍或は100
倍になる。通常Vrは増幅器のダイナミツクレン
ジの半分位に設定し、VsがVrの２倍程度までは
測定できるようにするが、VsがVrの10倍になれ
ば勿論前置増幅器のダイナミツクレンジを超過し
ている。従つて対照信号Vrを一定に保つと云う
従来装置では対照光を減光して吸光度の大なる試
料の分析精度を上げると云う方法が採れなかつ
た。本発明によれば対照光を1/100に減光すると
吸光度２の試料に対しVsとVrとは略等しくな
り、今仮にVs＋Vr＝一定となるように光検出器
の感度調節をしているとすれば、波長走査の過程
で試料吸光度が０になつたとしてもVs＋Vr＝一
定でこれが前置増幅器のダイナミツクレンジに収
まるように設定してあるのでVsの増幅器出力が
飽和してしまうと云うことは起らない。上述した
所を整理すると、前置増幅器のダイナミツクレン
ジを4Vとすると、従来はVr＝4Vとなるように設
定すると吸光度０〜２の範囲の試料信号はVs＝
４〜0.04Vであり、これに対して本発明で対照光
を1/100に減光しVr＋Vs＝4Vとして従来例と同
精度の測定を考えるとVs＝3.96V〜0.04Vが測定
レンジである。Vs＝3.96Vに対するVrは0.04でこ
れは本来のVrの1/100であるからこのときの吸光
度は略０、Vs＝0.04VのときVrは3.96Vになるが
これは本来のVrの1/100だから本来のVrは396で
あり吸光度は略４となつて従来装置に比し吸光度
測定レンジが２倍に拡大されている。本発明は対
照光を常に1/100に減光すると云うことではなく、
吸光度２前後で変化する試料なら1/100に減光し、
吸光度３前後の試料なら1/1000に減少し、逆に吸
光度が０〜１と云つた試料なら減光しない。要す
るに試料によつて最も有利なように対照光を設定
できるのであり、従来例では仮に吸光度２の試料
に最も適したように対照光を1/100に減光すると、
吸光度が小さくなる側で試料信号が増幅器のダイ
ナミツクレンジを超してしまうのである。
次にノイズについて述べる。測光装置のノイズ
は光検出器から出るものと検出器以後の主に前置
増幅器から出るものとに大別される。検出器のノ
イズは回路的には通常避けられないから検出器以
後の所でなるべく新たなノイズが増加しないよう
にする必要がある。検出器以後に入るノイズを減
らすには前置増幅器の入力レベルを上げる必要が
ある。上述した数字例を援用すると、従来例で吸
光度２のときの試料信号Vs対ノイズ比は0.04／
Ｎ（Ｎはノイズ）であり、本発明の場合これと同
程度のＳ／Ｎ比になるのはVrが0.04Vである吸光
度０付近と、Vsが0.04Vとなる吸光度４の付近で
あつて、その間の吸光度０〜４の全範囲でＳ／Ｎ
比は従来例の吸光度０〜２の範囲のＳ／Ｎ比と同
程度である。従つて本発明はノイズの点でも従来
例より優れている。
は光検出器から出るものと検出器以後の主に前置
増幅器から出るものとに大別される。検出器のノ
イズは回路的には通常避けられないから検出器以
後の所でなるべく新たなノイズが増加しないよう
にする必要がある。検出器以後に入るノイズを減
らすには前置増幅器の入力レベルを上げる必要が
ある。上述した数字例を援用すると、従来例で吸
光度２のときの試料信号Vs対ノイズ比は0.04／
Ｎ（Ｎはノイズ）であり、本発明の場合これと同
程度のＳ／Ｎ比になるのはVrが0.04Vである吸光
度０付近と、Vsが0.04Vとなる吸光度４の付近で
あつて、その間の吸光度０〜４の全範囲でＳ／Ｎ
比は従来例の吸光度０〜２の範囲のＳ／Ｎ比と同
程度である。従つて本発明はノイズの点でも従来
例より優れている。
以上は二光束分光測光の場合について述べたも
のである。二波長測光の場合でも本発明は上述し
た所と同じ効果を表わす。対照信号を一定に保つ
従来の二波長測光装置では次のような不都合が生
ずる。分光光度計の光源エネルギーの波長分布は
第２図のようになつている。今二波長測光におけ
る対照光を波長λrにとり、試料光をλsにとつた
ような場合、試料光が対照光に対し強いから対照
信号が前置増幅器のダイナミツクレンジを超え
る。そのため従来は試料光光路に光学的アツテニ
ユエータを挿入している。しかしこの方法は二波
長を固定するときは容易に実施できるが、試料光
波長を或る範囲で走査する場合には試料光のエネ
ルギーが波長によつて変るから或る所では増幅器
のダイナミツクレンジを超え、或る所では試料光
を減光しているのでＳ／Ｎ比が悪くなると云つた
ことになる。これに対し本発明の場合、k1・Vs
＋k2・Vrを一定に保つのであるから二波長の一
方を走査する場合でもそのようなことにはならな
い。
のである。二波長測光の場合でも本発明は上述し
た所と同じ効果を表わす。対照信号を一定に保つ
従来の二波長測光装置では次のような不都合が生
ずる。分光光度計の光源エネルギーの波長分布は
第２図のようになつている。今二波長測光におけ
る対照光を波長λrにとり、試料光をλsにとつた
ような場合、試料光が対照光に対し強いから対照
信号が前置増幅器のダイナミツクレンジを超え
る。そのため従来は試料光光路に光学的アツテニ
ユエータを挿入している。しかしこの方法は二波
長を固定するときは容易に実施できるが、試料光
波長を或る範囲で走査する場合には試料光のエネ
ルギーが波長によつて変るから或る所では増幅器
のダイナミツクレンジを超え、或る所では試料光
を減光しているのでＳ／Ｎ比が悪くなると云つた
ことになる。これに対し本発明の場合、k1・Vs
＋k2・Vrを一定に保つのであるから二波長の一
方を走査する場合でもそのようなことにはならな
い。
第１図は本発明の一実施例装置の構成を示す回
路図、第２図は光源のエネルギー波長分布曲線を
示すグラフである。 Ｌ……光源、Ｍ……分光器、Bs１，Bs２……
回転ミラー、Cr……対照セル、Cs……試料セル、
Ｄ……光検出器、Ａ……前置増幅器、Ｓ１，Ｓ２
……ミラーBs１，Bs２と連動したスイツチ、Ｃ
１，Ｃ２……記憶用コンデンサ、Ｈ１，Ｈ２……
ホールド回路、Cv……コンバータ、Ｋ……DC−
DCコンバータ、Dv……割算装置。
路図、第２図は光源のエネルギー波長分布曲線を
示すグラフである。 Ｌ……光源、Ｍ……分光器、Bs１，Bs２……
回転ミラー、Cr……対照セル、Cs……試料セル、
Ｄ……光検出器、Ａ……前置増幅器、Ｓ１，Ｓ２
……ミラーBs１，Bs２と連動したスイツチ、Ｃ
１，Ｃ２……記憶用コンデンサ、Ｈ１，Ｈ２……
ホールド回路、Cv……コンバータ、Ｋ……DC−
DCコンバータ、Dv……割算装置。
Claims (1)
- １ 試料光と対照光とを用いる方式の測光装置で
あつて、光信号を電気信号に変換する利得を、試
料光の電気変換信号Vsと対照光の電気変換信号
Vrとに関しk1、k2を適宜定数としてk1・Vs＋
k2・Vr＝一定となるように制御し、上記Vsを上
記Vrで割算する装置を設けた利得自動制御式測
光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4252980A JPS56138226A (en) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | Gain automatic control system photometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4252980A JPS56138226A (en) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | Gain automatic control system photometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56138226A JPS56138226A (en) | 1981-10-28 |
| JPS6315535B2 true JPS6315535B2 (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=12638598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4252980A Granted JPS56138226A (en) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | Gain automatic control system photometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56138226A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220025295A (ko) | 2019-07-23 | 2022-03-03 | 가부시키가이샤 무라야마 덴키 세이사쿠쇼 | 온도 표시 화면의 자동 전환 방법, 및 그 방법을 사용한 온도계 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0720584Y2 (ja) * | 1987-05-01 | 1995-05-15 | 日本分光株式会社 | Ｕｖ検出器 |
| FR2632401B1 (fr) * | 1988-06-01 | 1992-02-21 | Bussotti Jean Franck | Dispositif d'asservissement energetique pour des appareils de mesure photometriques multi-faisceaux, et appareils equipes d'un tel dispositif |
-
1980
- 1980-03-31 JP JP4252980A patent/JPS56138226A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220025295A (ko) | 2019-07-23 | 2022-03-03 | 가부시키가이샤 무라야마 덴키 세이사쿠쇼 | 온도 표시 화면의 자동 전환 방법, 및 그 방법을 사용한 온도계 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56138226A (en) | 1981-10-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3972617A (en) | Spectrophotometer | |
| US7903252B2 (en) | Noise cancellation in fourier transform spectrophotometry | |
| US4092069A (en) | Spectrophotometer | |
| JPS6132607B2 (ja) | ||
| US4997280A (en) | Spectrophotometric instrument with rapid scanning distortion correction | |
| JPS58103625A (ja) | 光度計 | |
| US4281897A (en) | Photometric system including a time-division optical attenuator | |
| US3936190A (en) | Fluorescence spectrophotometer for absorption spectrum analysis | |
| US3689158A (en) | Atomic absorption analyzer compensated for background absorption | |
| US20150241276A1 (en) | Spectrophotometer and spectrophotometric measurement method | |
| US5949540A (en) | Optical measuring device, and spectroscopic light equipment and photodetector suitable therefore | |
| US3583813A (en) | Spectrophotometer | |
| US5825484A (en) | Optical spectrum measuring device | |
| JPS6315535B2 (ja) | ||
| GB2070765A (en) | Spectrophotometry | |
| JPS59162424A (ja) | 位相補償型レシオ式分光光度計 | |
| JPS6020021Y2 (ja) | 多波長光度計 | |
| JPH05264352A (ja) | 分光光度計 | |
| GB2071844A (en) | Spectrophotometer | |
| US4272197A (en) | Apparatus and method for measuring the ratio of two signals | |
| Krenn | Elimination of scintillation noise in dual-beam Fourier spectrometry for optical difference-reflectivity measurements | |
| RU2189038C2 (ru) | Спектрофотометрический детектор для капиллярного электрофореза и капиллярной жидкостной хроматографии | |
| JPS5992318A (ja) | 分光測定方法 | |
| JPH03214040A (ja) | 光分析装置 | |
| JPH08159876A (ja) | 分光測定装置 |