JPS6020021Y2 - 多波長光度計 - Google Patents

多波長光度計

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JPS6020021Y2
JPS6020021Y2 JP13258977U JP13258977U JPS6020021Y2 JP S6020021 Y2 JPS6020021 Y2 JP S6020021Y2 JP 13258977 U JP13258977 U JP 13258977U JP 13258977 U JP13258977 U JP 13258977U JP S6020021 Y2 JPS6020021 Y2 JP S6020021Y2
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JP
Japan
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photodiode
wavelength
photocurrent
slit
photometer
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JP13258977U
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JPS5458182U (ja
Inventor
三男 嶋田
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は光度計に係り、特に、液体クロマトグラフ等の
検出器として用いるに好適な三波長同時測定機能を備え
た多波長光度計に係る。
従来のアミノ酸分析計の検出器として採用されていた光
度計は、フィルタ方式の光度計で、440閣の干渉フィ
ルタと570771111の干渉フィルタを使用腰フロ
ーセルを2組使用していたので、光源ランプが共通な他
は、光度計を2台使っているのと同じで高価であった。
またフローセルを2組使用するので、2組目のフローセ
ルを通るときには、1組目のフローセルおよび2組目の
フローセルへの接続パイプ内の乱流のため分離が低下す
る欠点があった。
このため1組のフローセルを入射スリット側に入れ、凹
面回折格子により分散したスペクトルを測光する方法が
考えられたが波長により光源のエネルギーおよび受光素
子の波長による感度差があり、これらが相乗して全体と
して光電流に相当の差があり、とくに短波側では光電流
が少なく、このためSN比が悪くなりノイズやドリフト
の原因となり、高感度化ができず、また信号レベルが異
るため回路を複雑で高価であった。
本考案の目的は、各受光素子の光電流をほぼ同じにして
前記の欠点を無くすことにある。
本考案は、各ホトダイオードで得られる各波長毎の光電
流をそれぞれほぼ等しくするために、各ホトダイオード
における凹面回折格子からの光の有効面積を変化させて
いる。
たとえば、ローランド円上の出射スリットの窓の大きさ
を変え、あるいはローランド円上のフォトダイオードア
レイ上のフォトダイオードの大きさを変えて、各波長毎
の光電流を所望の光電流にするものである。
本考案の望ましい実施例では、ローランド円上に配され
た複数個のホトダイオードを試料光測定用と標準光測定
用とに分け、試料光測定用には、ホトダイオードと負荷
抵抗を接続しこの中点をオペアンプの反転入力側に入れ
、該負荷抵抗の他端をパリオームの中点に接続する。
該パリオームの一端は該オペアンプの出力端に接続され
他端は抵抗を介して接地される。
標準光測定用には、ホトダイオードと負荷抵抗を接続し
この中点をオペアンプの反転入力側に入れ、該負荷抵抗
の他端を該オペアンプの出力端に接続する。
複数のLog9換器を設は各Log変換器の試料側入力
端には試料光測定用の該オペアンプの出力端が接続され
、該各Log変換器の標準側入力端には、標準光測定用
の該オペアンプの出力端子がそれぞれ接続され、簡単な
回路構成によりノイズの少い吸光度出力が多波長につい
て常時出力される。
第1図は、従来の光度計の光学系統図である。
光源1の光はレンズ2で集光され、フローセル3、入射
スリット4を通り凹面回折格子5に入射する。
凹面回折格子5で反射された光はスペクトルとなってロ
ーランド円上に結像する。
ローランド円上には出射スリット7がありその後方にフ
ォトダイオード8a〜8cがあり光電変換される。
6a〜6cは単色光を意味する。
スリット7には第2図で示す如くスペクトル6上に同一
大きさのスリット7a〜7Cがある。
第7図は第1図のための電気系統図である。
ホトダイオード8aの試料側光電流は抵抗R1で電圧に
変換され可変抵抗VRlで電圧増巾される。
オペアンプIClの出力はLog変換器10の試料側入
力端Sに接続される。
ホトダイオード8bについても同様である。
一方、ホトダイオード8Cの標準測光電流は抵抗R3に
よって電圧に変換され可変抵抗VR3によって電圧増巾
される。
オペアンプIC3の出力はオペアンプIC4,IC5・
・・に接続され可変抵抗VR4で電圧増巾され、IC4
の出力がLog変換器10の標準側入力端Rに接続され
る。
Log変換器10は入力電圧SおよびRの吸光度差をと
り、出力端11へ出力される。
出力端11の電圧は例えば多ペン記録計14で記録され
、同一試料を各波長で同時に記録分析する。
今ホトダイオード8a〜8Cには第6図に示す如き光電
流が得られる。
これは光源のエネルギー特性、ホトダイオードの分光感
度により決まるもので波長の選び方によっては用倍以上
もの差がある。
そのためにエネルギーの少ない短波長側では光電流が小
さく、SN比が悪くなり、ノイズが大きくなる欠点があ
る。
さらに抵抗R1を大な抵抗値とするとオペランプIC1
のオフセット電流の小さい高価なオペアンプを必要とす
るし、さらに抵抗R1と抵抗R3との値がW倍も違うと
抵抗器の温度係数も同一のものが入手できなくなる。
例えば炭素皮膜固定抵抗はIMΩでは一10□□□/℃
であり1ON4Ωでは一300ppm/’Cであり、こ
の差は一200p!/’Cである。
これは光度計の感度をo、oom光度フルスケールで測
定し、室温がICfC変化したとすると、フルスケール
の87%も変ることになる。
(注1 ) 200pplTl/℃=−2000ppl
Tl/ 10℃= −0,004/10°C (注2 ) Abs = −]ogT Abs :吸光
度T:透過度 0001 = −10g0.9977 0.002 0.002 (注3)1−0.9977 0.0023””87つま
り記録計に吸光度0〜0.002の感度で記録したとき
に室温の変化だけでベースラインが87%を変ることに
なりクロマトグラムを記録できなくなる。
これではたとえノイズをlXl0−5(吸光度単位)に
しても上記の如く温度ドリフトが大きな割合を占め実際
には感度向上には役立たず感度を1桁下げた吸光度0〜
0.02の感度で記録することしかできない欠点を有す
る。
また各波長毎の光電流が異るため、Log変換器10に
入る試料側電圧と標準側電圧とが揃わない。
このために各Log9換器10,12の試料側電圧に標
準側電圧を揃えるためにオペアンプIC4。
IC5が用いられる。
それ故、回路が複雑になりノイズの原因になっていた。
ここで炭素皮膜固定抵抗器の温度係数は、どの抵抗値で
も同一でなく、それは製造側サイズで決められるもので
、使用者が温度係数を指定して入手できるものではない
また抵抗値が2倍程度の差であれば温度係数差もほぼ同
一のものが得られ、その差が例えば上述の例の0分の1
の一200ppm/℃であれば出力の変化もまた0分の
1の&7%/20℃となるのは当然である。
第7図において、記録計14には出力端子11および1
3からの信号が送られ、クロマトグラム15および16
が描かれる。
図中Gは例えばグルタミン酸を示し、Pは例えばプロリ
ンを示す。
第3図はローランド円上に配する出射スリットの実施例
である。
出射スリット板7′上にスペクトル6があり、スペクト
ル6の中心部にスリット11,1□、13を設ける。
これらのスリットの間隙は皆異なり、第6図の分光感度
曲線から毎波長光のフォトダイオード8av 8by
8cの光電流が所望の光電流になるように間隙を決める
この間隙はフオトダイオ−ドの受光面をはみ出ない限り
スリット間隙と光電流は比列するから容易に決められる
またスリット板7′は第2図におけるスリット7と工作
上の単価は変らない。
これはスリット7′a、7′b* 7’cを写真蝕刻
で形成するためである。
第8図は電気制御系の実施例である。
ホトダイオード8a、8bの電流電圧変換は第7図と同
様である。
ホトダイオード8Cの標準側の光電流は抵抗R3で電圧
に変換される。
この出力がそのままLog変換器10.12の標準側入
力端Rに接続される。
可変抵抗VRlおよびVH2はほぼ中央で使用される。
第8図の回路ではオペアンプICl〜IC3の出力電圧
が同じになるようにスリット7′を作ったのであるから
Log変換器の試料側入力電圧と標準側入力電圧ももち
ろん同じである。
従って (a) 光電流を所望の値にすることができる。
(b) 抵抗R1〜R3の値をほぼ同じにできるので
抵抗の温度係数の差による温度ドリフトがなく高感度測
定ができる。
(C) 回路が簡単になるためノイズが小さくなり高
感度測定ができる。
(d) 回路が簡単になり故障原因を少なくすること
ができる。
(e) 光’に流が少いところはスリットを広げて光
電流を多く流せるからSN比の向上がはかられノイズが
少なくなる。
等の効果がある。
スリット巾を広げたことについて説明したが、スリット
巾も測定する対象物質によって決る。
第5図はアミノ酸とニンヒドリンとの反応生成物の吸光
度−波長特性図である。
アミノ酸分析計には一般に5701mと440nmの二
つの波長が使われていた。
一般のアミノ酸は5701mで測定したプロリンは44
0nmで測定し、波長の選択には干渉フィルタが使われ
た。
干渉フィルムの特性は、普通透過率が30%程度半値巾
(透過率が最大値の半分のところの前後の波長差)が2
01m程度であった。
しかし、凹面回折格子を使用した分光器は一般に波長巾
を’lnm前後で使用していたが前述の説明の如くアミ
ノ酸分析計では分光器の波長純度を20nmにしても何
ら支障をきたさない。
第5図に示す如くアミン酸のグリシン51の吸光度の半
値巾は約120nmあり分光器の純度201mの方がは
るかに小さく測定には何ら支障がない。
またプロリン52については第5図に点線で示す如く特
別に波長特性をもっておらず、これも波長純度が201
m程度であっても何ら支障がない。
以上の通り、スリット巾を2r1m〜20nmまで変え
ても何ら支障が無いことがわかる。
従ってスリット巾をこの範囲内で自由に変えても測定に
は何ら支障がない。
第4図は、本考案の他の実施例を示すもので、第3図と
異るのは、第3図ではローランド円上にスリットを配し
たのに対して、本実施例はローランド円上にシリコンフ
ォトダイオードアレイ9を配し、シリコンフォトダイオ
ード9a、 9b、 9Cの大きさを変え、所望の
光電流を得るものである。
その効果は上述した通りであるが、さらに部品件数が少
くなり価格、保守、信頼性の面でも改善される。
本考案によれば、シリコンフォトダイオードの光電流を
所望の光電流にすることができ、さらに電気系が簡単に
なり、ノイズの少ない、かつ温度ドリフトの少い吸光度
出力が得られ、液体クロマトグラフの高感度検出器とし
使用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光学系統図、第2図は従来のスリットの説明図
、第3図は考案に基づくスリットの説明図、第4図は本
考案に基づく応用例の説明図、第5図はアミノ酸の発色
特性を示す図、第6図は分光感度曲線図、第7図は従来
の電気回路の説明図、第8図は本考案に基づく電気回路
の説明図である。 1・・・・・・光源、3・・・・・・フローセル、4・
・・・・・入射スリット、5・・・・・・凹面回折格子
、7,7′・・・・・・出射スリット板、7 a?
7 b? 7 c””スリット、7′a、7′b、7
′c・・・・・・スリット、8a、8b、8c・・・・
・・フォトダイオード、9・・・・・・シリコンフォト
ダイオードアレイ、9av 9bt 9c・・・・
・・シリコンフォトダイオード。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 光源とフローセルと入射スリットと凹面回折格子を順に
    配置し、上記回折格子に対応するローランド円上に複数
    個の測定用のホトダイオードを配置し、各ホトダイオー
    ドからの信号を増幅する複数個の増幅器を有する多波長
    光度計において、上記各増幅器に入力される各ホトダイ
    オードからの信号レベルがほぼ等しくなるように上記各
    ホトダイオードに入射される上記回折格子からの光の有
    効面積を変化させるように構成した多波長光度計。
JP13258977U 1977-09-30 1977-09-30 多波長光度計 Expired JPS6020021Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP13258977U JPS6020021Y2 (ja) 1977-09-30 1977-09-30 多波長光度計

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JPS5458182U JPS5458182U (ja) 1979-04-21
JPS6020021Y2 true JPS6020021Y2 (ja) 1985-06-15

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JP13258977U Expired JPS6020021Y2 (ja) 1977-09-30 1977-09-30 多波長光度計

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JPS57141539A (en) * 1979-07-30 1982-09-01 Agency Of Ind Science & Technol Spectrometer for multicomponent measurement
JP2004333407A (ja) * 2003-05-12 2004-11-25 Shimadzu Corp 発光分析装置用分光器

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