JPH08134199A - 光記録媒体用成形材料 - Google Patents

光記録媒体用成形材料

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JPH08134199A
JPH08134199A JP6279075A JP27907594A JPH08134199A JP H08134199 A JPH08134199 A JP H08134199A JP 6279075 A JP6279075 A JP 6279075A JP 27907594 A JP27907594 A JP 27907594A JP H08134199 A JPH08134199 A JP H08134199A
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carbon atoms
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典慶 小川
Jun Tajima
純 田島
Toshiaki Takada
聡明 高田
Kazuyuki Akahori
和之 赤堀
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 耐熱性および低複屈折性に優れた光記録媒体
用成形材料を提供することにある。 【構成】 フルオレン構造を有する下記一般式(A)お
よび下記一般式(B)であ表される構成単位を有し、一
般式(A)で表される構成単位が全構成単位中5〜40
mol %であり、極限粘度が0.30〜0.50dl/gであ
るポリカーボネート樹脂光記録媒体用成形材料に関す
る。 【化1】 【化2】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンパクトディスク、
レーザーディスク、光カード、MOディスクなどの光記
録媒体を製造するのに好適な耐熱性、成形性などが優れ
るとともに複屈折の低減されたポリカーボネート樹脂光
記録媒体用成形材料に関する。
【0002】
【従来の技術】ビスフェノールA型ポリカーボネート
は、その透明性、耐熱性、耐加水分解性、寸法安定性な
どの特徴を生かして、最近は光ディスク用基盤材料とし
て広く用いられるようになった。しかしながら、光ディ
スク用にポリカーボネートを用いる場合いくつかの問題
点があった。光ディスク基盤としての性能のうち、情報
読み取り、書き込みに用いられるレーザー光線を実質的
に弱めてしまう複屈折は最も重要な問題であり、複屈折
が大きい材料ではエラーが増加し、記録媒体としての信
頼性が劣ってしまう。
【0003】これらの複屈折の低減を目的とした様々な
ポリカーボネート樹脂材料が開発されている。(特開昭
60−215020,特開昭62−181115)しか
しながら、これらの複屈折は信頼性がさらに要求される
現在の光ディスクには十分とは言えない。そのため、さ
らに複屈折を低減したポリカーボネート−ポリスチレン
共重合体(PC−PS)が開発されている。(特開平2
−29412) この共重合体は複屈折に関しては、従来のものに比べ大
幅に改良されているがポリスチレンを用いているため耐
熱性に問題があり用途が限られている。また、最近では
成形条件で改善が困難な斜め入射の複屈折の低減が要求
されてきている。
【0004】一方、変性ポリカーボネートとして耐熱性
や選択的気体透過性等を有するフルオレン構造を有する
ポリカーボネートの存在が知られている。(特開昭48
−64199、特開昭63−182336、特開平6−
192411、特開平6−145327)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の事情に
鑑み、低複屈折性と耐熱性を兼ね備えた良質の光記録媒
体成形材料を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、従来の課
題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、特定のフルオレ
ン構造を有するポリカーボネート樹脂は、低複屈折性と
耐熱性を兼ね備えた良質の光記録媒体成形材料となるこ
とを見いだし、本発明を完成するに至った。
【0007】すなわち、本発明はフルオレン構造を有す
る下記一般式(A)および下記一般式(B)で表される
構成単位を有し、一般式(A)の構成単位が全構成単位
中5〜40mol %であり、かつ極限粘度が0.30〜0.50dl/g
であるポリカーボネートからなる光記録媒体用成形材料
を提供するものである。
【0008】
【化4】
【0009】(式中、R1 〜R4 は水素原子、フッ素、
塩素、臭素原子、それぞれ置換基を有してもよい、炭素
数1〜5のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基、
炭素数2〜5のアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキ
シ基、炭素数7〜17のアラルキル基であり、これらの
基の炭素にいずれも有してもよい置換基が、炭素数1〜
5のアルキル基またはアルケニル基、炭素数1〜5のア
ルコキシ基、フッ素、塩素、臭素から選ばれるハロゲン
原子、ジメチルポリシロキシ基である。)
【0010】
【化5】
【0011】(式中、R5 〜R8 はそれぞれ、水素、フ
ッ素、塩素、臭素、ヨウ素、それぞれ置換基を有しても
よい、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数6〜12のア
リール基、炭素数2〜5のアルケニル基、炭素数1〜5
のアルコキシ基、炭素数7〜17のアラルキル基であ
り、これらの基の炭素にいずれも有してもよい置換基
が、炭素数1〜5のアルキル基またはアルケニル基、炭
素数1〜5のアルコキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨウ
素から選ばれるハロゲン、ジメチルポリシロキシ基を示
す。Xは、下記で表される一種の基である。
【0012】
【化6】
【0013】ここにR9 、R10はそれぞれ、水素、各々
置換基を有してもよい炭素数1〜5のアルキル基、アル
コキシ基又は炭素数6〜12アリール基を表すか、R9
及びR10が一緒に結合して、炭素環または複素環を形成
する基を表し、これらの基の炭素に有してもよい置換基
が、炭素数1〜5のアルキル基またはアルケニル基、炭
素数1〜5のアルコキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨウ
素から選ばれるハロゲンである。a は0〜20の整数、
b およびc は1〜100の整数を表す。)
【0014】本発明のポリカーボネートは、ビスフェノ
ールAからポリカーボネートを製造する際に用いられて
いる公知の方法、例えば二価フェノールとホスゲンとの
直接反応(ホスゲン法)、あるいは二価フェノールとビ
スアリールカーボネートとのエステル交換反応(エステ
ル交換法)などの方法を採用することができる。
【0015】ホスゲン法とエステル交換法では、一般式
(A)構造を誘導するフルオレン含有二価フェノールの
反応性を考慮した場合、ホスゲン法の方が好ましい。
【0016】前者のホスゲン法においては、通常酸結合
剤および溶媒の存在下において、一般式(B)を誘導す
る二価フェノールと本発明における一般式(A)を誘導
するフルオレン含有二価フェノールとホスゲンを反応さ
せる。
【0017】酸結合剤としては、例えばピリジンや、水
酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどのアルカリ金属の
水酸化物などが用いられ、また溶媒としては、例えば塩
化メチレン、クロロホルム、クロロベンゼン、キシレン
などが用いられる。さらに、縮重合反応を促進するため
に、トリエチルアミンのような第三級アミンまたは第四
級アンモニウム塩などの触媒が使用される。
【0018】また重合度を調節には、フェノール、p−
t−ブチルフェノール、p-クミルフェノール、長鎖アル
キル置換フェノール等一官能基化合物が分子量調節剤が
使用される。また、所望に応じ亜硫酸ナトリウム、ハイ
ドロサルファイトなどの酸化防止剤や、フロログルシ
ン、イサチンビスフェノールなど分岐化剤を小量添加し
てもよい。
【0019】反応は通常0〜150℃、好ましくは5〜
40℃の範囲とするのが適当である。反応時間は反応温
度によって左右されるが、通常0.5分〜10時間、好
ましくは1分〜2時間である。また、反応中は、反応系
のpHを10以上に保持することが望ましい。
【0020】一方後者のエステル交換法においては、一
般式(A)を誘導するフルオレン含有二価フェノールと
一般式(B)を誘導する二価フェノールとビスアリール
カーボネートとを混合し、減圧下で高温において反応さ
せる。反応は通常150〜350℃、好ましくは200
〜300℃の範囲の温度において行われ、また減圧度は
最終で好ましくは1mmHg以下にして、エステル交換反応
により生成した該ビスアリールカーボネートから由来す
るフェノール類を系外へ留去させる。反応時間は反応温
度や減圧度などによって左右されるが、通常1〜4時間
程度である。反応は窒素やアルゴンなどの不活性ガス雰
囲気下で行うことが好ましく。また、所望に応じ、酸化
防止剤や分岐化剤を添加して反応を行ってもよい。
【0021】本発明中にのポリカーボネートの製造に使
用される一般式(B)を誘導する二価フェノールとして
は、具体的にはビフェノール、ビス(4 −ヒドロキシフ
ェニル)メタン、ビス(4 −ヒドロキシフェニル)エー
テル、ビス(4 −ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス
(4 −ヒドロキシフェニル)スルホキシド、ビス(4−
ヒドロキシフェニル)スルファイド、ビス(4 −ヒドロ
キシフェニル)ケトン、1,1-ビス(4 −ヒドロキシフェ
ニル)エタン、2,2-ビス(4 −ヒドロキシフェニル)プ
ロパン(ビスフェノ−ルA;BPA )、2,2-ビス(4 −ヒ
ドロキシフェニル)ブタン、1,1-ビス(4 −ヒドロキシ
フェニル)シクロヘキサン(ビスフェノ−ルZ ;BPZ
)、1,1-ビス(4 −ヒドロキシフェニル)-3,3,5- ト
リメチルシクロヘキサン、2,2-ビス(4 −ヒドロキシ−
3,5-ジブロモフェニル)プロパン、2,2-ビス(4 −ヒド
ロキシ−3,5-ジクロロフェニル)プロパン、2,2-ビス
(4 −ヒドロキシ−3-ブロモフェニル)プロパン、2,2-
ビス(4 −ヒドロキシ−3-クロロフェニル)プロパン、
2,2-ビス(4 −ヒドロキシ−3-メチルフェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(4 −ヒドロキシ−3,5-ジメチルフェニ
ル)プロパン、1,1-ビス(4−ヒドロキシフェニル)-1-
フェニルエタン、ビス(4 −ヒドロキシフェニル)ジ
フェニルメタン、α, ω- ビス[2−(P −ヒドロキシ
フェニル)エチル]ポリジメチルシロキサン、α, ω-
ビス[3−(O −ヒドロキシフェニル)プロピル]ポリ
ジメチルシロキサンなどが例示される。これらは、2種
類以上併用して用いてもよい。また、これらの中でも特
に2,2-ビス(4 −ヒドロキシフェニル)プロパンから選
ばれることが好ましい。
【0022】一方、炭酸エステル形成性化合物として
は、例えばホスゲンや、ジフェニルカーボネート、ジ−
p−トリルカーボネート、フェニル−p−トリルカーボ
ネート、ジ−p−クロロフェニルカーボネート、ジナフ
チルカーボネートなどのビスアリルカーボネートが挙げ
られる。これらの化合物は2種類以上併用して使用する
ことも可能である。
【0023】前記一般式(A)を誘導するフルオレン含
有二価フェノールは、具体的には、次の構造式で示され
る化合物が例示される。
【0024】
【化7】
【0025】これらのうち9,9−ビス(ヒドロキシフ
ェニル)フルオレン、9,9−ビス(4−ヒドロキシ−
3−メチルフェニル)フルオレン、3,6−ジメチル−
9,9−ビス(4−ヒドロキシフェニル)フルオレンな
どが好適である。また、上記二価フェノールを2種類以
上併用して使用することも可能である。
【0026】これらの反応で合成されたポリカーボネー
ト重合体は、押出成形、射出成形、ブロ−成形、圧縮成
形、湿式成形など公知の成形法で成形可能であるが、光
記録媒体用成形材料としては、容易に押出、射出成形が
できることが望ましく、特に光記録媒体用の精密成形で
は極限粘度が0.30〜0.50dl/gの範囲であることが好まし
い。
【0027】本発明の一般式(A)のフルオレン構成単
位は成形性、耐熱性、低複屈折性を考慮すると全構成単
位中5〜40mol %が好ましいが、特に耐熱性と低複屈折
性をより明確とするためには15〜30mol %が好ましい。
フルオレン構成単位が5mol%未満では、複屈折性が大き
くなりすぎ、15mol %未満でも複屈折はかなり改善され
るが必ずしも十分なものとはいえない。30mol%を越える
とガラス転移温度上昇により成形条件が狭くなり成形不
良や分子配向による複屈折増加をおこしやすく、40mol%
を越えると射出成形が著しく困難となり好ましくない。
【0028】前記の一般式(A)で示されるフルオレン
構成単位において、R3 ,R4 に置換基を有する場合、
複屈折性を損なうことなくポリマーのガラス転移温度が
低下し流動性が向上し成形性が良好となる。特にR3
R4 が、炭素数1 〜5 のアルキル基、アルコキシ基など
が好適である。
【0029】本発明の光記録媒体用ポリカーボネート成
形材料は、一般の光ディスク用ポリカーボネートと同様
に高度に精製されたものでなければならない。具体的に
は、直径50μm以上のダストが実質上検出されず、直
径0.5〜50μmのダストが3×104 以下、無機お
よび有機残留塩素が2ppm以下、残留アルカリ金属が
2ppm以下、残存水酸基200ppm以下、残存窒素
量5ppm以下、残存モノマー20ppm以下等の基準
を可能な限り満たすように精製される。また、低分子量
体除去や溶媒除去のため抽出等の後処理が行われる場合
もある。
【0030】光記録媒体用ポリカーボネート成形材料は
押出や射出成形時に必要な安定性や離型性を確保するた
め、所望に応じて、ヒンダードフェノール系やホスファ
イト系酸化防止剤;シリコン系、脂肪酸エステル系、脂
肪酸系、脂肪酸グリセリド系、密ろう等天然油脂などの
滑剤や離型剤;ベンゾトリアゾール系、ベンゾフェノン
系、ジベンゾイルメタン系、サリチレート系等の光安定
剤;ポリアルキレングリコール、脂肪酸グリセリド等帯
電防止剤などを適宜併用してよいものであり、さらには
コスト等から一般の光記録媒体用ポリカーボネートと性
能を損なわない範囲で任意に混合して使用する事も可能
である。また、本成形材料を射出成形する場合の成形温
度は、流動性の観点から280 〜360 ℃が好ましい。
【0031】
【実施例】次に実施例により、本発明をさらに詳細に説
明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定され
るものではない。
【0032】合成例1 8.8%(w/v) の水酸化ナトリウム水溶液60リットル
に、2,2-ビス(4-ヒドロキシフェニル)プロパン(BPA
)6.38kg(28mol )と9,9 −ビス(4-ヒドロキ
シフェニル)フルオレン(BPFL)4.20kg(12mol
)とハイドロサルファイト50gを加え溶解した。こ
れに、メチレンクロライド36リットル加え攪拌し、溶
液温度を15℃に保ちつつ、ホスゲン5kgを60分か
けて吹き込んだ。吹き込み終了後、p−t−ブチルフェ
ノールを0.39kg(2.6mol)を加え激しく攪拌し
て、反応液を乳化させ、乳化後20mlのトリエチルアミン
を加え、約1時間攪拌し重合させた。重合液を水相と有
機相に分離し、有機相をリン酸で中和し、洗液のpHを中
性になるまで純水で水洗を繰り返した後、0.5μmフ
ィルターにて有機相を濾過した。有機相にイソプロパノ
ール47リットルを加え、重合物を沈澱させた。沈澱物
を濾過後、クリーン乾燥機にて乾燥し粉末状重合体を得
た。この重合体は、塩化メチレンを溶媒とする濃度 0.5
g /dlの溶液の温度20℃における極限粘度[η]は0.35
dl/g であった。
【0033】得られた上記重合体を赤外線吸収スペクト
ルより分析した結果、1770cm-1付近にカルボニル基によ
る吸収、1240cm-1付近にエーテル結合による吸収が認め
られ、カーボネート結合を有することが確認された。ま
た、3650〜3200cm-1の位置に水酸基由来の吸収はほとん
ど認められなかった。吸光光度法による残存フェノール
性OH量は172ppmであった。GPCによるモノマ
ー分析の結果、BPA及びBPFLのいずれも20pp
m以下であった。この結果、この重合体は下記構造を有
するポリカーボネート重合体と認められる。
【0034】
【化8】
【0035】合成例2 合成例1のBPFLの代わりに、9,9 −ビス(3-メチル-4-
ヒドロキシフェニル)フルオレン4.54kg(12mol
)を用いた以外は、合成例1と同様に行った。得られ
た重合体の極限粘度[η]は0.36dl/g赤外吸収スペクト
ル分析等よりこの重合体は下記構造を有するポリカーボ
ネート重合体と認められる。
【0036】
【化9】
【0037】合成例3 p−t−ブチルフェノールを0.345kg(0.23mol
)に変更した以外は合成例1と同様に行った。得られ
た重合体の極限粘度[η]は0.43dl/g で、赤外吸収ス
ペクトル分析等より重合度以外は合成例1と同等のポリ
カーボネート重合体と認められる。
【0038】合成例4 BPA を7.75kg(34mol )、BPFLを2.10kg
(6mol)に変更した以外は合成例1と同様に行った。得
られた重合体の極限粘度[η]は0.34dl/g で、赤外吸
収スペクトル分析等より重合比以外は合成例1と同等の
ポリカーボネート重合体と認められる。
【0039】合成例5 BPA を8.66kg(38mol )、BPFLを0.70kg
(2mol)に変更した以外は合成例1と同様に行った。得
られた重合体の極限粘度[η]は0.36dl/g で、赤外吸
収スペクトル分析等より重合比以外は合成例1と同等の
ポリカーボネート重合体と認められる。
【0040】合成例6 BPA を5.70kg(25mol )、BPFLを5.25kg
(15mol )に変更した以外は合成例1と同様に行った。
得られた重合体の極限粘度[η]は0.37dl/g で、赤外
吸収スペクトル分析等より重合比以外は合成例1と同等
のポリカーボネート重合体と認められる。
【0041】合成例7 合成例1のBPFLの代わりに、3,6−ジメチル−9,9
−ビス(4−ヒドロキシフェニル)フルオレン4.5k
g(12mol)を用いた以外は、合成例1と同様に行った。
得られた重合体の極限粘度〔η〕は0.37 dl/g であり、
赤外線吸収スペクトル分析等よりこの重合体は下記構造
を有するポリカーボネート重合体であると認められる。
【0042】
【化10】
【0043】合成例8 BPA を5.02kg(22mol )、BPFLを6.30kg
(18mol )に変更した以外は合成例1と同様に行った。
得られた重合体の極限粘度[η]は0.36dl/g で、赤外
吸収スペクトル分析等より重合比以外は合成例1と同等
のポリカーボネート重合体と認められる。
【0044】合成例9 BPA を9.12kg(40mol )に変更し、BPFLを用い
ず、p−t−ブチルフェノールの代わりにp−ヘプタデ
カニルフェノール0.86kg(2.6mol)に変更した以
外は実施例1と同様に行った。得られた重合体の極限粘
度[η]は0.37dl/g で、赤外吸収スペクトル分析等よ
り下記構造のポリカーボネート重合体と認められる。
【0045】
【化11】 nは重合度を表す。(n≒31)
【0046】実施例1 合成例1ポリカーボネート粉末に市販ビーズワックス10
00ppm を添加し、50μm ポリマーフィルターを付けたベ
ント付き50mm押出機にて290℃で押出し、溶融ペ
レット化を行った。得られたペレットを樹脂温度320
℃と350℃で、金型温度100℃、及び射出圧300
Kg/cm2の条件で、外径120mm、厚さ1.2mmの円
盤を射出成形し、2日間室内放置後の30℃斜め入射時
の複屈折を測定した。また、押出ペレットについてガラ
ス転移温度(Tg)を測定し、耐熱性の目安とした。
【0047】実施例2〜7 合成例2〜7のポリカーボネート粉末を用いて、実施例
1と同様に射出成形品を成形し、実施例1と同様に試験
を行った。
【0048】比較例1 合成例1のポリカーボネートの代わりに、市販光記録媒
体用BPA型ポリカーボネート(三菱瓦斯化学(株)製
H−4000、[η]=0.35dl/g)を用いて実施例1と
同様の試験を行った。
【0049】比較例2 合成例1のポリカーボネートの代わりに、市販光記録媒
体用ポリカーボネート−ポリスチレン共重合体(三菱瓦
斯化学(株)製ODX、[η]=1.08dl/g)を用いて実
施例1と同様の試験を行った。
【0050】比較例3 合成例9のポリカーボネート粉末を用いて、実施例1と
同様の試験を行った。
【0051】比較例4 合成例8のポリカーボネート粉末を用いて、実施例1と
同様の試験を行った。
【0052】実施例1〜6、比較例1〜4までの試験結
果を表1に示した。
【0053】
【表1】 表 1 斜め複屈折(nm) 耐熱性 外観 実施例 FL濃度 成形温度 中心からの距離 カ゛ラス転移温度比較例 mol% ℃ R=24mm R=42mm R=56mm ℃ 施例1 30 350 17 11 12 205 良好 2 30 350 12 8 7 182 〃 3 30 350 16 13 19 206 〃 4 15 320 34 26 33 178 〃 5 5 320 55 50 58 159 〃 6 38 350 26 24 30 219 〃 7 30 350 11 9 10 180 〃 比較例1 350 92 75 90 143 良好 2 350 22 16 15 113 シルハ゛ー 発生 3 350 41 36 39 103 シルハ゛ー 発生 4 45 350 −− −− −− 234 ヒケ (充填不良)
【0054】複屈折: (株) 溝尻光学工業製、自動エリフ゜
ソメータ-使用。測定波長632.8nm 。カ゛ラス 転移温度:島津製作所(株)製DSCにより測
定。 FL濃度:一般式(A)構成単位の全構成単位に対する割
合(mol%)
【0055】
【発明の効果】本発明は、優れた耐熱性と低複屈折性を
両立した光記録媒体用成形材料を提供でき、特に、高密
度記録と信頼性が要求される書換可能な光ディスクおよ
び光磁気ディスクに好適である。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年11月21日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【化1】 (式中、R1 〜R4 は水素原子、フッ素、塩素、臭素原
子、それぞれ置換基を有してもよい、炭素数1〜5のア
ルキル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜5
のアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、炭素数
7〜17のアラルキル基であり、これらの基の炭素にい
ずれも有してもよい置換基が、炭素数1〜5のアルキル
基またはアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、
フッ素、塩素、臭素から選ばれるハロゲン原子、ジメチ
ルポリシロキシ基である。)
【化2】 (式中、R5 〜R8 はそれぞれ、水素、フッ素、塩素、
臭素、ヨウ素、それぞれ置換基を有してもよい、炭素数
1〜5のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基、炭
素数2〜5のアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ
基、炭素数7〜17のアラルキル基であり、これらの基
の炭素にいずれも有してもよい置換基が、炭素数1〜5
のアルキル基またはアルケニル基、炭素数1〜5のアル
コキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれるハ
ロゲン、ジメチルポリシロキシ基を示す。Xは、下記で
表される基の一種である。
【化3】 ここにR9 、R10はそれぞれ、水素、各々置換基を有し
てもよい炭素数1〜5のアルキル基、アルコキシ基又は
炭素数6〜12アリール基を表すか、R9 及びR10
一緒に結合して、炭素環または複素環を形成する基を表
し、これらの基の炭素に有してもよい置換基が、炭素数
1〜5のアルキル基またはアルケニル基、炭素数1〜5
のアルコキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素から選ば
れるハロゲンである。a は0〜20の整数、b およびc
は1〜100の整数を表す。)
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】ここにR9 、R10はそれぞれ、水素、各々
置換基を有してもよい炭素数1〜5のアルキル基、アル
コキシ基又は炭素数6〜12アリール基を表すか、R
9 及びR10が一緒に結合して、炭素環または複素環を形
成する基を表し、これらの基の炭素に有してもよい置換
基が、炭素数1〜5のアルキル基またはアルケニル基、
炭素数1〜5のアルコキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨ
ウ素から選ばれるハロゲンである。a は0〜20の整
数、b およびc は1〜100の整数を表す。)
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0028
【補正方法】変更
【補正内容】
【0028】前記の一般式(A)で表されるフルオレン
構造単位において、R3 4 に置換基を有する場合、
複屈折性を損なうことなくポリマーのガラス転移温度が
低下し流動性が向上し成形性が良好となる。特にR3
4 が、炭素数1〜5のアルキル基、アルコキシ基など
が好適である。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0046
【補正方法】変更
【補正内容】
【0046】実施例1 合成例1のポリカーボネート粉末に市販ビーズワックス
1000ppm を添加し、50μmポリマーフィルターを
付けたベント付き50mm押出機にて290℃で押出
し、溶融ペッレット化を行った。得られたペッレットを
樹脂温度350℃で、金型温度100℃、及び射出圧3
00kg/cm2の条件で、外径120mm、厚さ1.2mm
の円盤を射出成形し、2日間室内放置後の30℃斜め入
射時の複屈折を測定した。また、押出ペッレットについ
てガラス転移温度(Tg)を測定し、耐熱性の目安とし
た。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0052
【補正方法】変更
【補正内容】
【0052】実施例1〜、比較例1〜4までの試験結
果を表1に示した。
フロントページの続き (72)発明者 赤堀 和之 神奈川県平塚市東八幡5丁目6番2号 三 菱エンジニアリングプラスチックス株式会 社平塚技術センター内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フルオレン構造を有する下記一般式
    (A)および下記一般式(B)で表される構成単位を有
    し、一般式(A)の構成単位が全構成単位中5〜40mol
    %であり、かつ極限粘度が0.30〜0.50dl/gであるポリカ
    ーボネートからなる光記録媒体用成形材料。 【化1】 (式中、R1 〜R4 は水素原子、フッ素、塩素、臭素原
    子、それぞれ置換基を有してもよい、炭素数1〜5のア
    ルキル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜5
    のアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、炭素数
    7〜17のアラルキル基であり、これらの基の炭素にい
    ずれも有してもよい置換基が、炭素数1〜5のアルキル
    基またはアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、
    フッ素、塩素、臭素から選ばれるハロゲン原子、ジメチ
    ルポリシロキシ基である。) 【化2】 (式中、R5 〜R8 はそれぞれ、水素、フッ素、塩素、
    臭素、ヨウ素、それぞれ置換基を有してもよい、炭素数
    1〜5のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基、炭
    素数2〜5のアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ
    基、炭素数7〜17のアラルキル基であり、これらの基
    の炭素にいずれも有してもよい置換基が、炭素数1〜5
    のアルキル基またはアルケニル基、炭素数1〜5のアル
    コキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれるハ
    ロゲン、ジメチルポリシロキシ基を示す。Xは、下記で
    表される基の一種である。 【化3】 ここにR9 、R10はそれぞれ、水素、各々置換基を有し
    てもよい炭素数1〜5のアルキル基、アルコキシ基又は
    炭素数6〜12アリール基を表すか、R9 及びR10が一
    緒に結合して、炭素環または複素環を形成する基を表
    し、これらの基の炭素に有してもよい置換基が、炭素数
    1〜5のアルキル基またはアルケニル基、炭素数1〜5
    のアルコキシ基、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素から選ば
    れるハロゲンである。a は0〜20の整数、b およびc
    は1〜100の整数を表す。)
  2. 【請求項2】 一般式(B)が2,2−ビス(4−ヒド
    ロキシフェニル)プロパンから誘導された構成単位、一
    般式(A)が9,9−ビス(4−ヒドロキシフェニル)
    フルオレン、9,9−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチ
    ルフェニル)フルオレン、3,6−ジメチル−9,9−
    ビス(4−ヒドロキシフェニル)フルオレンからなる群
    から誘導された構成単位を有する請求項1記載の光記録
    媒体用成形材料。
  3. 【請求項3】 一般式(A)の構成単位が全構成単位中
    15〜30mol %である請求項1記載の光記録媒体用成形材
    料。
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