JP3525963B2 - 光記録媒体用成形材料 - Google Patents

光記録媒体用成形材料

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンパクトディスク、
レーザーディスク、光カード、MOディスクなどの光記
録媒体を製造するのに好適な耐熱性、成形性などが優れ
るとともに複屈折の低減された芳香族ポリカーボネート
樹脂光記録媒体用成形材料に関する。
【0002】
【従来の技術】ビスフェノールA型ポリカーボネート
は、その透明性、耐熱性、耐加水分解性、寸法安定性な
どの特徴を生かして、最近は光ディスク基盤材料として
広く用いられるようになった。光ディスク基盤としての
性能のうち、情報読み取り、書き込みに用いられるレー
ザー光線を実質的に弱めてしまう複屈折は最も重要な問
題であり、複屈折が大きい材料ではエラーが増加し、記
録媒体としての信頼性が劣ってしまう。
【0003】通常の芳香族ポリカーボネートは複屈折が
大きく光ディスク基盤材料としてはやや問題点があっ
た。そこで、複屈折の低減を目的とした様々な芳香族ポ
リカーボネート樹脂材料が開発されている(たとえば、
特開昭60−215020,特開昭62−18111
5)。近年さらに高度の信頼性が要求される光ディスク
基盤材料としては、上記公報に提案されている程度の複
屈折の低減化では未だ十分とは言えず、さらに複屈折を
低減した芳香族ポリカーボネート・ポリスチレン共重合
体(PC−PS)が開発されている(特開平2−294
12)。このPC−PSは、従来のものに比べ複屈折に
関しては大幅に改良されているがポリスチレン (PS)
を用いているため耐熱性に問題があり用途が限られてい
た。また、最近では成形条件で改善が困難な斜め入射の
複屈折の低減が要求されていた。
【0004】一方、変性ポリカーボネートとして耐熱性
や耐摩耗性、難燃性、選択的気体透過性等を有するシク
ロヘキサン構造を有する芳香族ポリカーボネートが知ら
れている(特開昭60−172045、特開平2−30
0258、特開平2−294359、特開平3−915
28、)。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、従来の課
題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、特定のシクロヘ
キサン構造を有する芳香族ポリカーボネート樹脂は、耐
熱性と低複屈折性、優れた成形性を兼ね備えた良質の光
記録媒体成形材料となることを見いだし、本発明を完成
するに至った。
【0006】すなわち、本発明はシクロヘキサン構造を
有する下記一般式(A)および下記式(B)で表される
構造単位を有し、一般式(A)の構造単位が全構成単位
中5〜40mol%(但し、一般式(A)が1,1−ビ
ス(4−ヒドロキシフェニル)−3,3,5−トリメチ
ルシクロヘキサンから誘導される場合は、20mol%
以上を含む場合を除く。)であり、かつ極限粘度が0.
30〜0.50dl/gである芳香族ポリカーボネートから
なる光記録媒体用成形材料に関する。
【0007】
【化3】
【0008】(式中、R1〜R7は水素原子、ハロゲン原
子、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数6〜12のアリ
ール基、炭素数2〜5のアルケニル基、炭素数1〜5の
アルコキシ基、または炭素数7〜17のアラルキル基で
あり、これらの基の炭素は炭素数1〜5のアルキル基も
しくはアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、ハ
ロゲン原子、またはポリジメチルシロキシ基で置換され
ていてもよい。)
【0009】
【化4】
【0010】本発明の芳香族ポリカーボネートは、ビス
フェノールAからポリカーボネートを製造する際に用い
られている公知の方法、例えば二価フェノールとホスゲ
ンとの直接反応(ホスゲン法)、あるいは二価フェノー
ルとビスアリールカーボネートとのエステル交換反応
(エステル交換法)などの方法により容易に得られる。
【0011】ホスゲン法とエステル交換法では、一般式
(A)構造を誘導するシクロヘキサン含有二価フェノー
ルの反応性を考慮した場合、ホスゲン法の方が好まし
い。
【0012】前者のホスゲン法においては、通常酸結合
剤および溶媒の存在下において、式(B)を形成する二
価フェノールと本発明における一般式(A)を形成する
シクロヘキサン含有二価フェノールとホスゲンを反応さ
せる。酸結合剤としては、例えばピリジンや、水酸化ナ
トリウム、水酸化カリウムなどのアルカリ金属の水酸化
物などが用いられ、また溶媒としては、例えば塩化メチ
レン、クロロホルム、クロロベンゼン、キシレンなどが
用いられる。
【0013】さらに、縮重合反応を促進するために、ト
リエチルアミンのような第三級アミンまたは第四級アン
モニウム塩などの触媒を、また重合度を調節には、フェ
ノール、p−t−ブチルフェノール、p-クミルフェノー
ル、長鎖アルキル置換フェノール、pーヒドロキシ安息
香酸アルキル等一官能基化合物が分子量調節剤として使
用される。
【0014】また、所望に応じ亜硫酸ナトリウム、ハイ
ドロサルファイトなどの酸化防止剤や、フロログルシ
ン、イサチンビスフェノールなど分岐化剤を小量添加し
てもよい。反応は通常0〜150℃、好ましくは5〜4
0℃の範囲とするのが適当である。反応時間は反応温度
によって左右されるが、通常0.5分〜10時間、好ま
しくは1分〜2時間である。また、反応中は、反応系の
pHを10以上に保持することが望ましい。
【0015】一方後者のエステル交換法においては、一
般式(A)を形成するシクロヘキサン含有二価フェノー
ルと式(B)を形成する二価フェノールとビスアリール
カーボネートとを混合し、減圧下で高温において反応さ
せる。反応は通常150〜350℃、好ましくは200
〜300℃の範囲の温度において行われ、また減圧度は
最終で好ましくは1mmHg以下にして、エステル交換
反応により生成した該ビスアリールカーボネートから由
来するフェノール類を系外へ留去させる。反応時間は反
応温度や減圧度などによって左右されるが、通常1〜4
時間程度である。反応は窒素やアルゴンなどの不活性ガ
ス雰囲気下で行うことが好ましく。また、所望に応じ、
酸化防止剤や分岐化剤を添加して反応を行ってもよい。
【0016】本発明における芳香族ポリカーボネートの
製造に使用される式(B)を形成する二価フェノールと
しては、具体的には、2,2−ビス(4−ヒドロキシフ
ェニル)プロパン(ビスフェノ−ルA;BPA)であ
る。
【0017】一方、炭酸エステル形成性化合物として
は、例えばホスゲンや、ジフェニルカーボネート、ジ−
p−トリルカーボネート、フェニル−p−トリルカーボ
ネート、ジ−p−クロロフェニルカーボネート、ジナフ
チルカーボネートなどのビスアリールカーボネートが挙
げられる。これらの化合物は2種類以上併用して使用す
ることも可能である。
【0018】前記一般式(A)で示されるシクロヘキサ
ン構造単位を形成するシクロヘキサン含有二価フェノー
ルは、具体的には、次の式で示される化合物が例示され
る。
【0019】
【化5】
【0020】これらの中で、上記式(1)の1,1−ビ
ス(4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン、上記式
(2)の1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−
3,3,5−トリメチルシクロヘキサンから選択される
ことが好ましい。また、上記二価フェノールを2種類以
上併用して使用することも可能である。
【0021】これらのポリカーボネート重合体は、押出
成形、射出成形、ブロ−成形、圧縮成形、湿式成形など
公知の成形法で成形可能であるが、光記録媒体用成形材
料として使用するには、押出成形、射出成形が容易にで
きることが望ましく、特に光記録媒体用の精密成形では
極限粘度が0.30〜0.50dl/gの範囲であるこ
とが好ましい。
【0022】また、本発明の一般式(A)で示されるシ
クロヘキサン構造単位は耐熱性、成形性、低複屈折性を
考慮し全構成単位中5〜40mol%(但し、一般式
(A)が1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−
3,3,5−トリメチルシクロヘキサンから誘導される
場合は、20mol%以上を含む場合を除く。)である
ことが好ましく、特に成形性と低複屈折性をより高度な
ものとするには、10〜30mol%(但し、一般式
(A)が1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−
3,3,5−トリメチルシクロヘキサンから誘導される
場合は、20mol%以上を含む場合を除く。)である
ことが好ましい。シクロヘキサン構造単位が5mol%
未満では、複屈折性が大きくなりすぎ好ましくなく、1
0mol%未満では5mol%の場合よりかなり複屈折
は改善されるものの必要十分とは言えない。30mol
%を超えるとガラス転移温度上昇により成形条件が狭く
なるため成形不良や分子配向による複屈折増加を引き起
こし易く、40mol%を超えると射出成形が著しく困
難となる。なお、成形性の改善には、末端停止剤とし
て、p−ヒドロキシ安息香酸アルキルの様なエステル構
造を持った化合物を使用し、流動性を改良することもで
きる。
【0023】本発明の光記録媒体用芳香族ポリカーボネ
ート成形材料は、一般の光ディスク用ポリカーボネート
と同様に高度に精製されたものでなければならない。具
体的には、直径50μm以上のダストが実質上検出され
ず、直径0.5〜50μmのダストが3×104以下、
無機および有機残留塩素が2ppm以下、残留アルカリ
金属が2ppm以下、残存水酸基200ppm以下、残
存窒素量5ppm以下、残存モノマー20ppm以下等
の基準を可能な限り満たすように精製される。また、低
分子量体除去や溶媒除去のため抽出等の後処理が行われ
る場合もある。
【0024】光記録媒体用芳香族ポリカーボネート成形
材料は押出成形時や射出成形時に必要とされる安定性や
離型性を確保するため、所望に応じて、ヒンダードフェ
ノール系やホスファイト系酸化防止剤;シリコン系、脂
肪酸エステル系、脂肪酸系、脂肪酸グリセリド系、密ろ
う等天然油脂などの滑剤や離型剤;ベンゾトリアゾール
系、ベンゾフェノン系、ジベンゾイルメタン系、サリチ
レート系等の光安定剤;ポリアルキレングリコール、脂
肪酸グリセリド等帯電防止剤などを適宜併用してよいも
のであり、さらにはコスト等から一般の光記録媒体用ポ
リカーボネートと性能を損なわない範囲で任意に混合し
て使用する事も可能である。また、本成形材料を射出成
形する場合の成形温度は、流動性の観点から280〜3
60℃が好ましい。
【0025】
【実施例】次に実施例により、本発明をさらに詳細に説
明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定され
るものではない。
【0026】(合成例) 合成例1 8.8%(w/v)の水酸化ナトリウム水溶液60リッ
トルに、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロ
パン(BPA)6.38kg(28mol)と、1,1
−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−3,3,5−トリ
メチルシクロヘキサン(BPTMC)3.70kg(1
2mol)およびハイドロサルファイト50gを加え溶
解した。これに、メチレンクロライド36リットル加え
攪拌し、溶液温度を15℃に保持し、ホスゲン5kgを
60分を要して吹き込んだ。吹き込み終了後、p−t−
ブチルフェノール0.39kg(2.6mol)を加え
激しく攪拌して、反応液を乳化させ、乳化後20mlの
トリエチルアミンを加え、約1時間攪拌し重合させた。
重合液を水相と有機相に分離し、有機相をリン酸で中和
し、洗液のpHを中性になるまで純水で水洗を繰り返し
た後、0.5μmフィルターにて有機相を濾過した。有
機相にイソプロパノール47リットルを加え、重合物を
沈澱させた。沈澱物を濾過後、クリーン乾燥機にて乾燥
し粉末状重合体を得た。この重合体は、塩化メチレンを
溶媒とする濃度0.5g/dlの溶液の温度20℃にお
ける極限粘度[η]は0.35dl/gであった。
【0027】得られた上記重合体を赤外線吸収スペクト
ルより分析した結果、1770cm-1付近にカルボニル
基による吸収、1240cm-1付近にエーテル結合によ
る吸収が認められ、カーボネート結合を有することが確
認された。また、3650〜3200cm-1位置に水酸
基由来の吸収はほとんど認められなかった。吸光光度法
による残存フェノール性OH量は150ppmであっ
た。GPCによるモノマー分析の結果、BPA及びBP
TMCのいずれも20ppm以下であった。この重合体
は末端にp−t−ブチルフェノールを有し、下記構造か
らなるポリカーボネート重合体と判断される。
【0028】
【化6】
【0029】合成例2 合成例1のBPTMCの代わりに、1,1−ビス(4−
ヒドロキシフェニル)シクロヘキサン(BPZ)3.1
9kg(12mol)を用いた以外は、合成例1と同様
に行った。 得られた重合体の極限粘度[η]は0.3
6dl/gで、赤外吸収スペクトル分析等よりこの重合
体は末端にp−t−ブチルフェノールを有し、下記構造
からなるポリカーボネート重合体と認められる。
【0030】
【化7】
【0031】合成例3 BPAを7.29kg(32mol)、BPTMCを
2.46kg(8mol)に変更した以外は合成例1と
同様に行った。得られた重合体の極限粘度[η]は0.
34dl/gで、赤外吸収スペクトル分析等より重合度
以外は合成例1と同等の構造を有するポリカーボネート
重合体と認められる。
【0032】合成例4 BPAを8.21kg(36mol)、BPTMCを
1.23kg(4mol)に変更した以外は合成例1と
同様に行った。得られた重合体の極限粘度[η]は0.
34dl/gで、赤外吸収スペクトル分析等より重合比
以外は合成例1と同等の構造を有するポリカーボネート
重合体と認められる。
【0033】合成例5 BPAを8.66kg(38mol)、BPTMCを
0.62kg(2mol)に変更した以外は合成例1と
同様に行った。得られた重合体の極限粘度[η]は0.
36dl/gで、赤外吸収スペクトル分析等より重合比
が異なる以外は合成例1と同等の構造を有するポリカー
ボネート重合体と認められる。
【0034】合成例6 BPAを5.93kg(26mol)、BPTMCを
4.24kg(14mol)に変更した以外は合成例1
と同様に行った。得られた重合体の極限粘度[η]は
0.37dl/gで、赤外吸収スペクトル分析等より重
合比が異なる以外は合成例1と同等の構造を有するポリ
カーボネート重合体と認められる。
【0035】合成例7 合成例1のPTBPの代わりに、p−ヒドロキシ安息香
酸ブチルを0.50kg(2.6mol)を用いた以外
は、合成例1と同様に行った。得られた重合体の極限粘
度[η]は0.37dl/gで、赤外吸収スペクトル分
析等よりこの重合体は下記構造を有するポリカーボネー
ト重合体と認められる。
【0036】
【化8】
【0037】合成例8 BPAを5.02kg(22mol)、BPTMCを
5.54kg(18mol)に変更した以外は合成例1
と同様に行った。得られた重合体の極限粘度[η]は
0.36dl/g で、赤外吸収スペクトル分析等より
重合比が異なる以外は合成例1と同等の構造を有するポ
リカーボネート重合体と認められる。
【0038】合成例9 BPTMCを用いず、BPAを9.12kg(40mo
l)に変更し、p−t−ブチルフェノールの代わりにp
−ヘプタデカニルフェノール0.86kg(2.6mo
l)に変更した以外は実施例1と同様に行った。得られ
た重合体の極限粘度[η]は0.37dl/gで、赤外
吸収スペクトル分析等より下記構造のポリカーボネート
重合体と認められる。
【0039】
【化9】
【0040】参考例1 合成例1で得たポリカーボネート粉末に市販ビーズワッ
クス1000ppmを添加し、50μmポリマーフィル
ターを付けたベント付き50mm押出機にて290℃で
押出し、溶融ペレット化を行った。得られたペレットを
樹脂温度320℃と350℃で、金型温度100℃、及
び射出圧300Kg/cm2の条件で、外径120m
m、厚さ1.2mmの円盤を射出成形し、2日間室内放
置後の30℃斜め入射時の複屈折を測定した。また、押
出ペレットについてガラス転移温度(Tg)を測定し、
耐熱性の目安とした。
【0041】実施例1 合成例2で得たポリカーボネート粉末を用いて、参考例
1と同様の試験を行った。
【0042】参考例2 合成例3で得たポリカーボネート粉末を用いて、参考例
1と同様の試験を行った。
【0043】実施例2〜3 合成例4〜5 で得たポリカーボネート粉末を用いて、
考例1と同様の試験を行った。
【0044】参考例3〜4 合成例6〜7で得たポリカーボネート粉末を用いて、
考例1と同様の試験を行った。
【0045】比較例1 合成例1のポリカーボネートの代わりに、市販光記録媒
体用BPA型ポリカーボネート(三菱瓦斯化学(株)製
ユーピロンH−4000、[η]=0.35dl/g)
を用いて参考例1と同様の試験を行った。
【0046】比較例2 合成例1のポリカーボネートの代わりに、市販光記録媒
体用ポリカーボネート・ポリスチレン共重合体(三菱瓦
斯化学(株)製ユーピロンODX、[η]=1.08d
l/g)を用いて参考例1と同様の試験を行った。
【0047】比較例3 合成例9で得られたポリカーボネート粉末を用いて、
考例1と同様の試験を行った。
【0048】比較例4 合成例8で得られたポリカーボネート粉末を用いて、
考例1と同様の試験を行った。
【0049】実施例1〜3、参考例1〜4、比較例1〜
4までの試験結果を表1に示した。なお、表中、複屈折
は、(株)溝尻光学工業製、自動エリプソメーターによ
り測定した。測定波長632.8nm。ガラス転移温度
は、島津製作所(株)製DSCにより測定。(A)成分
は、一般式(A)構造単位の全構成単位に対する割合
(mol%)
【0050】
【発明の効果】本発明より、優れた耐熱性と低複屈折性
を両立した光記録媒体用成形材料を提供できる。特に、
高密度記録と信頼性が要求される書換可能な光ディスク
および光磁気ディスクに好適である。
【0051】
【表1】

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 置換されたシクロヘキサン構造を有する
    下記一般式(A)および下記式(B)で表される構造単
    位を有し、一般式(A)の構造単位が全構成単位中5〜
    40mol%(但し、一般式(A)が1,1−ビス(4
    −ヒドロキシフェニル)−3,3,5−トリメチルシク
    ロヘキサンから誘導される場合は、20mol%以上を
    含む場合を除く。)であり、かつ極限粘度が0.30〜
    0.50dl/gであるポリカーボネートからなる光記
    録媒体用成形材料。 【化1】 (式中、R1〜R7は水素原子、ハロゲン原子、炭素数1
    〜5のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素
    数2〜5のアルケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ
    基、または炭素数7〜17のアラルキル基であり、これ
    らの基の炭素は炭素数1〜5のアルキル基もしくはアル
    ケニル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、ハロゲン原
    子、またはポリジメチルシロキシ基で置換されていても
    よい。)【化2】
  2. 【請求項2】 一般式(A)の構造単位が全構成単位中
    10〜30mol%(但し、一般式(A)が1,1−ビ
    ス(4−ヒドロキシフェニル)−3,3,5−トリメチ
    ルシクロヘキサンから誘導される場合は、20mol%
    以上を含む場合を除く。)である請求項1記載の光記録
    媒体用成形材料。
  3. 【請求項3】 一般式(A)が1,1−ビス(4−ヒド
    ロキシフェニル)ー3,3,5ートリメチルシクロヘキ
    サンまたは1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)シ
    クロヘキサンから誘導された、請求項1または請求項2
    記載の光記録媒体用成形材料。
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