JP2002539323A - 脂環式ビスフェノールから誘導されるポリカーボネート - Google Patents

脂環式ビスフェノールから誘導されるポリカーボネート

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Abstract

(57)【要約】 本発明は、脂環式ビスフェノール又は脂環式ビスフェノール誘導体由来の残基を含有するポリカーボネート、並びにかかるポリカーボネートから成形した光学製品に関する。ポリカーボネートは光情報記録媒体での使用に適した特性を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学製品に使用するのに適したポリカーボネート及びかかるポリカ
ーボネートの製造方法に関する。本発明は、さらに、光学製品並びにポリカーボ
ネートから光学製品を製造する方法に関する。本発明のポリカーボネートは脂環
式ビスフェノール又は脂環式ビスフェノール誘導体由来の残基を含む。
【0002】
【発明の技術的背景】
ポリカーボネートその他のポリマー材料はコンパクトディスクなどの光情報記
録媒体に利用されている。光情報記録媒体では、ポリカーボネート樹脂が透明性
、低い親水性、良好な加工性、良好な耐熱性及び低い複屈折などの良好な性能特
性を有することが極めて重要である。高い複屈折は高密度光情報記録媒体では特
に望ましくない。
【0003】 情報記憶密度の向上を始めとする光情報記録媒体の改良が極めて望ましく、か
かる改良が達成されると、読取り専用(read only)ディスク、追記型
(write once)ディスク、書換型(rewritable)ディスク
、デジタル・バーサタイル・ディスク及び光磁気(MO)ディスクのような既存
の最新コンピューター技術が改良されると期待される。
【0004】 CD−ROM技術の場合、読取られる情報はビスフェノールA(BPA)ポリ
カーボネートのような成形可能な透明プラスチック材料に直接刻まれる。情報は
ポリマー表面にエンボス加工した浅い窪み(ピット)の形態で記憶される。表面
は反射性金属膜でコートされ、窪みの位置と長さで表されたデジタル情報は低出
力(5mW)集束レーザービームで光学的に読取られる。ユーザーはディスクか
ら情報(デジタルデータ)を引き出すことだけができ、データの変更又は追加は
一切できない。すなわち、「読出し」は可能であるが、情報の「書込み」や「消
去」はできない。
【0005】 WORMドライブの動作原理は、集束レーザービーム(20〜40mW)を用
いてディスクの薄膜に恒久的な跡を付けることである。情報は、例えば反射率や
吸光度のようなディスクの光学的性質の変化として読出される。こうした変化は
様々な形態をとることができ、「ホールバーニング」は蒸発、溶融又は剥離(レ
ーザーアブレーションとも呼ばれる。)による材料(通常はテルルの薄膜)の除
去であり、バブル又はピット形成は表面(通常は金属反射体のポリマーオーバー
コート)の変形を伴う。
【0006】 CD−ROM及びWORMフォーマットは成功裡に開発され、特定の用途には
十分適しているが、コンピューター産業では消去可能な光記憶媒体(EOD)に
関心が集中している。EODには、相変化型(PC)と光磁気型(MO)の2つ
のタイプがある。MO記憶では、1ビットの情報は、磁化の増減した直径約1μ
mの磁区として記憶される。情報は、磁性膜表面から反射された光の平面偏光の
回転をモニターすることで読出しできる。この回転は、磁気光学カー効果(MO
KE)と呼ばれ、通例0.5度未満である。MO記憶用の材料は一般に希土類及
び遷移金属の非晶質合金である。
【0007】 非晶質材料は、「グレインノイズ」(つまり多結晶質薄膜における結晶粒のラ
ンダムな配向に起因する反射光の偏向面の擬似バラツキ)がないので、MO記憶
で極めて有利である。ビットの書込みは磁場の存在下でキュリー点Tc以上に加
熱・冷却することで行われ、このプロセスは熱磁気書込みとして知られる。相変
化材料では、情報は、通例非晶質と結晶質の相状態の異なる領域に記憶される。
これらの薄膜は通常、溶融と急冷とで非晶質状態に急冷できるテルルの合金又は
化合物である。薄膜は最初は結晶化温度以上に加熱することで結晶化している。
大半の材料では、結晶化温度はガラス転移温度に近い。薄膜を短い高出力集束レ
ーザーパルスで加熱すると、薄膜を溶融して非晶質状態に急冷することができる
。非晶質スポットはデジタル「1」すなわち1ビットの情報を表すことができる
。情報の読出しは、同じレーザーを低出力に設定してスキャンし、反射率をモニ
ターすることによって行われる。
【0008】 WORM及びEOD技術の場合、記録層は透明な非干渉性シールド層で環境か
ら隔てられる。かかる「リードスルー」光情報記憶用途に選択される材料は、成
形性、延性、一般の使用に適した丈夫さ、高温又は高湿度に曝されたときの変形
耐性など個々の物性又はその組合せに卓越していなければならない。かかる材料
は、記憶デバイスから情報を取り出したり追加したりする際に媒体を通過するレ
ーザー光との干渉が最小限であるべきである。
【0009】 デジタル・バーサタイル・ディスク(DVD)や短期又は長期情報保管用の高
密度データディスクのような新技術に適合すべく光情報記録媒体における情報記
憶密度の増大に伴って、光情報記憶デバイスの透明プラスチック成分に対する設
計要件は次第に厳しくなっている。こうした多くの用途では、従前使用されてい
たBPAポリカーボネート材料のようなポリカーボネート材料は適していない。
次第に短波長化しつつある現在及び将来の「読出し・書込み」波長で低い複屈折
を示す材料が、光情報記憶デバイス分野における多大な努力の目標である。
【0010】 低い複屈折だけで光情報記録媒体用の材料の設計要件のすべてが満たされるわ
けではなく、高い透明性、耐熱性、低い吸水率、延性、高純度、及び不均質性又
は微粒子が少ないことも必要とされる。現在使われている材料はこれらの特性の
1以上に欠けることが分かっており、光情報記録媒体で情報記憶密度を高めるに
は新しい材料が必要である。加えて、光学的性質の改良された新材料はレンズ、
回折格子、ビームスプリッターなどの他の光学製品の生産にも広い有用性をもつ
と期待される。
【0011】 ポリマー材料から成形した製品の複屈折は成分ポリマー鎖の配向及び変形に関
連している。複屈折には、ポリマー材料の構造及び物性、ポリマー材料の分子配
向の程度、及び加工ポリマー材料の熱応力を始めとする幾つかの原因がある。例
えば、成形光学製品の複屈折は、そのポリマー成分の分子構造と、熱応力及びポ
リマー鎖の配向を生じる可能性のある加工条件(例えば金型充填及び冷却時に加
わる力)とによってある程度決まる。
【0012】 そこで、ディスクで観察される複屈折は、固有の複屈折を左右する分子構造と
、熱応力及びポリマー鎖の配向を生じる可能性のある加工条件とで決まる。具体
的には、観測される複屈折は典型的には固有の複屈折に加えて光ディスクなどの
製品の成形時に導入された複屈折の関数である。光ディスクで観察される複屈折
は、通例、以下で詳しく説明する「垂直複屈折」(VBRともいう。)と呼ばれ
る測定を用いて定量化される。
【0013】 成形光情報記憶ディスクのような成形光学製品用の材料の適性に関する二つの
有用な判断基準は、その材料の溶融状態における応力光学係数(Cm)と、ガラ
ス状態における応力光学係数(Cg)である。Cm、Cg及び複屈折の関係は以下
の通り表すことができる。 Δn=Cm×Δσm (1) Δn=Cg×Δσg (2) 式中、Δnは複屈折の測定値であり、Δσm及びΔσgはそれぞれ溶融状態及びガ
ラス状態で加わえられた応力である。応力光学係数Cm及びCgは、材料について
、金型充填時の配向と変形及び成形品冷却時の応力による複屈折の誘起し易さの
尺度である。
【0014】 応力光学係数Cm及びCgは一般的な材料選別手段として有用であり、成形品の
垂直複屈折(VBR)の予想にも用いることができる。垂直複屈折(VBR)は
所与の材料を成形光学製品に旨く使用できるか否かにとって極めて重要な量であ
る。成形光ディスクでは、VBRは次の通り定義される。 VBR=(nr−nz)=Δnrz (3) 式中、nr及びnzはディスクの円柱軸r及びzに沿った屈折率であり、nrは半
径方向に偏光した光ビームで観察される屈折率であり、nzはディスク平面に垂
直に偏光した光に対する屈折率である。VBRはデフォーカス限界(defocusing
margin)を支配しており、VBRの低減は、機械的補正の不可能な諸問題の軽
減につながる。
【0015】 光学製品用の改良材料を探索するに当たり、Cm及びCgが特に有用である。こ
れらは材料の必要量が少なく、非制御測定パラメーター又はサンプル調製法によ
る影響が少ないのに対し、VBRの測定には格段に多量の材料が必要とされ、成
形条件によって左右されるからである。一般に、Cg及びCmの低い材料はCg
びCmの高い材料に比べて光情報記憶用途におけるVBRなどの性能特性が向上
することが判明した。したがって、改善された光学品質の開発を目指した研究で
は、かかる用途に対する候補を評価するとともに既に発見されている材料と比較
するためにCg及びCmの測定が広く使われている。
【0016】 高い記憶密度が必要とされる用途では、光学製品の製造に用いたポリマー材料
の低複屈折及び低吸水率という性質が一段と重要性を増す。高記憶密度化を達成
するには、コンパクトディスクのような光学製品をレーザービームが通過すると
きの干渉が最小限となるように低い複屈折が必要とされる。
【0017】 高情報記憶密度用途に必要とされる別の重要な特性はディスクの平面度である
。吸湿性が高すぎるとディスクが歪み、転じて信頼性の低下につながることが知
られている。ディスクの大部分はポリマー材料からなるので、ディスクの平面度
はポリマー材料の吸水性の低さに依存する。射出成形での高品質ディスクの生産
には、ポリカーボネートなどのポリマーが容易に加工できなければならない。
【0018】 米国特許第4950731号には、ビスフェノールAとSBIから誘導された
ポリカーボネート材料或いは光学材料での使用が開示されている。ビスフェノー
ルAポリカーボネートは溶融相での応力光学係数(Cm)が高く、ガラス状態で
の応力光学係数(Cg)が高いが、これを、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,
3′,3′−テトラメチルスピロビインダン(SBI)(そのホモポリカーボネ
ートは負のCm値を有する。)を組み込んで緩和している。BPAとSBIから
製造されたコポリカーボネートの溶融状態での応力光学係数(Cm)は零又は零
に近いことが示されている。しかし、かかるコポリマーは、ビスフェノールAポ
リカーボネートのような加工性に欠け、しかも親水性が高い。
【0019】 米国特許第5132154号には、光学用途用ポリカーボネート混合物が開示
されている。そのポリカーボネート樹脂は、脂環式環構造を有し該環構造の少な
くとも一部がアルキル基で置換されたビスフェノールを含む単位を含んでなる。
かかるポリマーは本発明の対象ではない。
【0020】 特開平3−237130号公報には、光学材料用のポリエーテル樹脂が開示さ
れている。その開示内容はポリエーテル樹脂に関するもので、ポリカーボネート
樹脂に関するものではない(第4頁最下行参照)。
【0021】 特開平4−41524号公報には、光学材料用のポリエステルカーボネートが
開示されている。このポリエステルカーボネート樹脂はフタル酸から誘導された
単位を含んでいる。かかるポリマーは本発明の対象ではない。
【0022】 特開平3−221523号公報には、二価フェノール化合物とジハロゲン化合
物との反応で得られる、光学製品用のポリホルマール樹脂が開示されている。こ
の文献は第4頁に記載の通りポリカーボネート樹脂に関するものではなく、第4
頁第8〜11行に記載の通りポリカーボネート樹脂を高い複屈折を示すものとし
て特徴付けている。
【0023】 特開平3−162413号公報には、光学材料用のポリマーが開示されている
。このポリマーはスピロビクロマンの残基を含んでいる。かかるポリマーは本発
明の対象ではない。
【0024】 特開平10−176046号には、2,2−ビス(3−tert−ブチル−4
−ヒドロキシ−6−メチルフェニル)−n−ブタン残基を含む光学製品用のポリ
カーボネートコポリマーが開示されている。かかるポリマーは本発明の対象では
ない。
【0025】 特開平4−345616号公報には、BPAその他の芳香族ヒドロキシ化合物
とSBIとからなり、光記録媒体に使用できるポリカーボネートが開示されてい
る。
【0026】 特開平9−6023号公報には、ホトレジスト用の耐摩耗性及び亀裂耐性を有
するコポリマーバインダーが開示されている。光学製品での使用に適した複屈折
その他の特性を有する光学材料も、これらの光学材料から製造された光学製品も
開示されていない。
【0027】 特公平06−52585号公報には、光学材料に使用できるコポリマーが開示
されている。出発原料には、1,1−ビス(4′−ヒドロキシフェニル)シクロ
ヘキサンのようなビスフェノールを配合し得る。
【0028】 米国特許第5858833号及び欧州特許第0846711号には、6−ヒド
ロキシ−1−(4′−ヒドロキシフェニル)−1,3,3−トリメチルインダン
(CD−1)から誘導された単位を有するヒドロキシフェニルインダノールから
誘導された光ディスクグレードのコポリエステルカーボネートが開示されている
【0029】 米国特許第4304899号及び欧州特許第0016167号には、改良され
たバリヤー特性を有するポリカーボネート組成物が開示されている。光媒体用の
組成物は開示も教示もされていない。
【0030】 米国特許第5424389号には、光学用途用のビスフェノールAとSBIの
コポリマーが開示されている。かかるコポリマーは本発明の対象ではない。
【0031】 米国特許第5633060号には、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)
−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン(BPI)から誘導された光ディスク
基板が開示されている。また、このポリカーボネートは、4,4′−(m−フェ
ニレンジイソプロピリデン)ジフェノール及び/又は2,2−ビス(3−メチル
−4−ヒドロキシフェニル)プロパンから誘導された単位を含むことがある。B
PI系ポリカーボネートは本発明の対象ではない。
【0032】 良好な光学的性質と良好な加工性を有し、高密度光記録媒体での使用に適した
組成物に対するニーズが存在する。ビスフェノールAのような上述の芳香族ジヒ
ドロキシ化合物とSBIのような他のモノマーとの共重合で製造したポリカーボ
ネートでは、妥当な複屈折を得ることができるが、ガラス転移温度が高すぎて加
工特性に劣ることが多い。そのため、得られる成形品は耐衝撃性が低い。さらに
、かかるポリカーボネートの吸水性は高密度用途には向かない。
【0033】
【発明の概要】
本発明はこれらの問題を解決し、さらに驚くべき特性を提供する。本発明の上
記その他の目的は、以下の説明及び特許請求の範囲の記載から一段と明瞭に理解
できよう。
【0034】 一つの態様では、本発明は、 (a)構造式(I)のカーボネート構造単位
【0035】
【化5】
【0036】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
ある。)及び、 (b)下記(1)〜(5)からなる群から選択されるカーボネート構造単位 (1)式(II)のカーボネート構造単位
【0037】
【化6】
【0038】 (式中、R3、R4及びR6は独立にC1〜C6アルキルを表し、各R5は独立にH及
びC1〜C3アルキルからなる群から選択され、各nは独立に0、1及び2からな
る群から選択され、R7はH又はC1〜C5アルキルである。)、 (2)式(III)のカーボネート構造単位
【0039】
【化7】
【0040】 (式中、R8、R9、R12及びR13は独立にC1〜C6アルキルであり、R10及びR 11 は独立にH又はC1〜C5アルキルであり、各R14は独立にH及びC1〜C3アル
キルからなる群から選択され、各nは独立に0、1及び2からなる群から選択さ
れる。)、 (3)式(IV)のカーボネート構造単位
【0041】
【化8】
【0042】 (式中、R15は独立にH及びC1〜C3アルキルからなる群から選択され、R16
びR17は独立にC1〜C6アルキル又はアリールである。)、 (4)構造式(II)のカーボネート構造単位及び構造式(III)のカーボネー
ト構造単位、並びに (5)構造式(III)のカーボネート構造単位及び構造式(IV)のカーボネー
ト構造単位 を含んでなり、約120〜約185℃のガラス転移温度及び約0.33%未満の
吸水率を有する、ポリカーボネートに関する。
【0043】 本発明は、さらに、これらのポリカーボネートの製造方法、これらのポリカー
ボネートから製造された光学製品、及びこれらのポリカーボネートから光学製品
を製造する方法に関する。
【0044】 別の態様では、本発明は、 (1)式(I)
【0045】
【化9】
【0046】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
ある。)の構造単位を含むポリカーボネート90〜100重量%、及び (2)別の添加剤0〜10重量% を含んでなる光学製品であって、式(I)の構造単位がポリカーボネートの90
〜100モル%をなし、ポリカーボネートが約120〜約185℃のガラス転移
温度と約0.33%未満の吸水率を有する、光学製品に関する。
【0047】 本発明はさらにこれらの組成物から光学製品を製造する方法にも関する。本発
明の一実施形態では、構造式(I)は1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチ
ルフェニル)シクロヘキサン(BCC)であり、別の実施形態では、ポリカーボ
ネートはBCCのホモポリカーボネートである。
【0048】
【発明の実施の形態】
本発明は、本発明の好ましい実施形態及びその実施例に関する以下の詳しい説
明を参照することでより容易に理解されるであろう。
【0049】 本発明の組成物及び方法の開示に先だって、本発明は特定の合成法又は特定の
配合に限定されるものではなく、様々な変更が可能であることを理解すべきであ
る。また、本明細書中で用いる用語は具体的な実施形態を説明するためのもので
あり、限定する意図はないものと理解されたい。
【0050】 本明細書及び特許請求の範囲では多くの用語を用いるが、以下の意味で定義さ
れるものである。
【0051】 単数形で表したものも、特に前後関係から明らかでない限り、複数の場合も含
めて意味する。
【0052】 「任意」又は「任意には」という用語は、その用語に続いて記載された事象又
は状況が起きても起きなくてもよいことを意味しており、かかる記載はその事象
又は状況が起きた場合と起こらない場合を包含する。
【0053】 本明細書中「BPA」は、ビスフェノールAつまり2,2−ビス(4−ヒドロ
キシフェニル)プロパンと定義される。
【0054】 本明細書中「SBI」は、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テ
トラメチルスピロビインダンと定義される。
【0055】 本明細書中「BCC」は、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニ
ル)シクロヘキサンと定義される。
【0056】 本明細書中「CD−1」は、6−ヒドロキシ−1−(4′−ヒドロキシフェニ
ル)−1,3,3−トリメチルインダンと定義される。
【0057】 「Cg」は、ブリュースター(10-13cm2/ダイン)単位で測定される、ガ
ラス状態のポリマー材料の応力光学係数である。
【0058】 「Cm」は、ブリュースター(10-13cm2/ダイン)単位で測定される、溶
融相での応力光学係数である。
【0059】 本明細書中「ポリカーボネート」は、コポリカーボネート、ホモポリカーボネ
ート及び(コ)ポリエステルカーボネートを包含する。
【0060】 本明細書中「光学製品」は、光ディスク及び光情報記録媒体、例えばコンパク
トディスク(CDオーディオ又はCD−ROM)、DVD(ROM、RAM、書
換型)としても知られるデジタル・バーサタイル・ディスク、光磁気(MO)デ
ィスクなど、光学レンズ、例えばコンタクトレンズ、眼鏡用レンズ、望遠鏡用レ
ンズ、及びプリズム、光ファイバー、情報記録媒体、情報転送媒体、高密度情報
記憶媒体、ビデオカメラ用ディスク、スチルカメラ用ディスクなど、並びに光学
記録材料が貼り付けられた基材を包含する。光学製品の製造材料としての用途に
加えて、ポリカーボネートはフィルムやシートの原料としても使用できる。
【0061】 特記しない限り、本明細書中でポリカーボネートの組成に関して「モル%」と
いうときは、ポリカーボネートの繰返し単位100モル%を基準としたものであ
る。例えば、「90モル%のBCCを含むポリカーボネート」とは、繰返し単位
の90モル%がBCCジフェノール又はその対応誘導体から誘導された残基であ
るポリカーボネートをいう。対応誘導体としては、ジフェノールのオリゴマー、
ジフェノールのエステル及びそのオリゴマー、並びにジフェノールのクロロホル
メート及びそのオリゴマーが挙げられるが、これらに限定されない。
【0062】 ポリカーボネートの構成成分について用いる「残基」及び「構造単位」という
用語は本明細書全体を通して同義である。
【0063】 本明細書中で文献を引用した場合、その開示内容はすべて、本発明の属する技
術分野の技術水準を十分に説明するため、援用によって本明細書に取り込まれる
【0064】 I.光学製品での使用に適したポリカーボネート 上述の通り、一つの態様では、本発明はポリカーボネート及びポリカーボネー
トの製造方法に関するが、当該ポリカーボネートは下記(a)及び(b)を含ん
でなり、約120〜約185℃のガラス転移温度と約0.33%未満の吸水率を
有する。 (a)構造式(I)のカーボネート構造単位
【0065】
【化10】
【0066】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
ある。)、及び (b)下記(1)〜(5)からなる群から選択されるカーボネート構造単位 (1)式(II)のカーボネート構造単位
【0067】
【化11】
【0068】 (式中、R3、R4及びR6は独立にC1〜C6アルキルを表し、各R5は独立にH及
びC1〜C3アルキルからなる群から選択され、各nは独立に0、1及び2からな
る群から選択され、R7はH又はC1〜C5アルキルである。)、 (2)式(III)のカーボネート構造単位
【0069】
【化12】
【0070】 (式中、R8、R9、R12及びR13は独立にC1〜C6アルキルであり、R10及びR 11 は独立にH又はC1〜C5アルキルであり、各R14は独立にH及びC1〜C3アル
キルからなる群から選択され、各nは独立に0、1及び2からなる群から選択さ
れる。)、 (3)式(IV)のカーボネート構造単位
【0071】
【化13】
【0072】 (式中、R15は独立にH及びC1〜C3アルキルからなる群から選択され、R16
びR17は独立にC1〜C6アルキル又はアリールである。)、 (4)構造式(II)のカーボネート構造単位及び構造式(III)のカーボネー
ト構造単位、並びに (5)構造式(III)のカーボネート構造単位及び構造式(IV)のカーボネー
ト構造単位。
【0073】 本発明は上述の加工性及び吸水性の問題を解決し、良好な加工性及び低い吸水
率を有する組成物を提供する。本組成物はさらに、良好な光学的性質及び適当な
ガラス転移温度を有し、光学製品での使用に適したポリカーボネートを提供する
。適当なガラス転移温度は適度な加工性(例えば良好な成形特性)を与えるのに
必要とされる。
【0074】 さらに、本出願人は、本明細書で開示したカーボネート構造単位を含むポリカ
ーボネートが情報記憶密度の高い光媒体での使用に適していることを見出した。
特に、本発明のポリカーボネートは良好な透明性、低い吸水性、妥当な応力光学
係数、良好な加工性及び良好な熱安定性を有する。
【0075】 本出願人は、さらに、意外なことに、以下の構造式(I)の単位を服でなるポ
リカーボネートが低い親水性を示し、かつ意外にも低いCg値、特に約60ブリ
ュースター未満のCg値を有することも見出した。
【0076】
【化14】
【0077】 式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として、
1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2を表
し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数であ
る。式Iの構造単位は3位又は3′位で少なくとも1つのR1又はR2で置換され
ていることが極めて重要である。次式に示す通り、n及びpが1に等しく、R1
及びR2がそれぞれ3位と3′位に存在しているのが好ましい。
【0078】
【化15】
【0079】 R1及びR2は好ましくはC1〜C6アルキルであり、さらに好ましくはC1〜C3
ルキルであり、さらに一段と好ましくはCH3である。ポリカーボネートは、光
学用途での使用に妥当な低吸水率を達成すべく構造Iの単位を約30モル%以上
含むべきである。かかるポリカーボネートは妥当なCm値、すなわち約3000
ブリュースター未満のCm値を有することも判明した。
【0080】 本発明では、ポリカーボネートが光媒体での使用に適した他の特性も有するこ
とも重要である。本発明のポリカーボネートは、好ましくは120〜約185℃
、さらに好ましくは125〜165℃、さらに一段と好ましくは130〜150
℃のガラス転移温度を有する。ポリカーボネートの吸水率は好ましくは0.33
%未満、さらに一段と好ましくは約0.2%未満である。
【0081】 ポリカーボネートの数平均分子量(Mw)は、ゲルパーミエーションクロマト
グラフィーでポリスチレンを標準として測定して、好ましくは約10000〜約
100000、さらに好ましくは約10000〜約50000、さらに一段と好
ましくは約12000〜約40000である。
【0082】 ポリカーボネートは約85%以上、さらに好ましくは約90%以上の光透過率
、及び約60ブリュースター未満、さらに好ましくは55ブリュースター未満、
さらに一段と好ましくは50ブリュースター未満のCgを有する。ポリカーボネ
ートは好ましくは約3000ブリュースター未満、さらに好ましくは約2500
ブリュースター未満、さらに一段と好ましくは約2450ブリュースター未満の
mを有する。
【0083】 個々のポリカーボネートの組成は適当な特性プロフィールが達成される範囲内
で変更し得る。以下の説明では、望ましい実施形態での例示的な範囲を開示する
【0084】 成分(b)として構造式(II)を選択する実施形態では、成分(a)は好まし
くはポリカーボネートの30〜99モル%をなし、さらに好ましくは60〜99
モル%をなす。構造式(II)のカーボネート単位は好ましくはポリカーボネート
の1〜70モル%をなし、さらに好ましくは1〜40モル%をなす。任意には、
ポリカーボネートは、次の構造式(V)の構造単位を0.1〜20モル%含んで
いてもよい。
【0085】
【化16】
【0086】 式中、ZはC1〜C40枝分れ又は直鎖アルキル或いは枝分れ又は直鎖シクロアル
キルである。
【0087】 成分(a)の代表的な単位には、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチル
フェニル)シクロヘキサン(BCC)、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メ
チルフェニル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフ
ェニル)シクロヘプタン、及びこれらの混合物の残基があるが、これらに限定さ
れない。BCCの残基が成分(a)として最も好ましい。成分(b)の代表的な
単位には、6−ヒドロキシ−1−(4′−ヒドロキシフェニル)−1,3,3−
トリメチルインダン(CD−1)、6−ヒドロキシ−1−(4′−ヒドロキシ−
3′−メチルフェニル)−1,3,3,5−テトラメチルインダンの残基がある
が、これらに限定されない。CD−1の残基が成分(b)として最も好ましい。
【0088】 構造式(V)の代表的な単位には、ドデカン二酸、セバシン酸、アジピン酸、
オクタデカン二酸、オクタデス−9−エン二酸、9−カルボキシオクタデカン酸
及び10−カルボキシオクタデカン酸の残基があるが、これらに限定されない。
ドデカン二酸(DDDA)の残基がさらに好ましい。
【0089】 構造式(III)を成分(b)として選択する実施形態では、成分(a)は好ま
しくはポリカーボネートの約30〜99モル%をなし、さらに好ましくはポリカ
ーボネートの約60〜99モル%をなす。構造式(III)のカーボネート単位は
好ましくはポリカーボネートの約1〜約70モル%をなし、さらに好ましくはポ
リカーボネートの約1〜約40モル%をなす。任意には、ポリカーボネートは、
上記で定義した構造式(V)のカーボネート単位を0.1〜20モル%含んでい
てもよい。
【0090】 成分(a)の代表的な単位には、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチル
フェニル)シクロヘキサン(BCC)、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メ
チルフェニル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフ
ェニル)シクロヘプタン、及びこれらの混合物の残基があるが、これらに限定さ
れない。BCCの残基が成分(a)として最も好ましい。成分(b)の代表的な
単位には、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テトラメチルスピロ
ビインダン(SBI)、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,5,3′,3′,5
′−ヘキサメチルスピロビインダン、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,5,7
,3′,3′,5′,7′−オクタメチルスピロビインダン、5,5′−ジエチ
ル−6,6′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テトラメチルスピロビイン
ダン、及びこれらの混合物の残基があるが、これらに限定されない。SBI及び
そのオルトアルキル化同族体の残基が成分(b)として最も好ましい。
【0091】 構造式(V)の代表的な単位には、ドデカン二酸、セバシン酸、アジピン酸、
オクタデカン二酸、オクタデス−9−エン二酸、9−カルボキシオクタデカン酸
及び10−カルボキシオクタデカン酸の残基があるが、これらに限定されない。
ドデカン二酸の残基がさらに好ましい。
【0092】 構造式(IV)を成分(b)として選択する実施形態では、成分(a)は好まし
くはポリカーボネートの約30〜99モル%をなし、さらに好ましくはポリカー
ボネートの60〜99モル%をなす。構造式(IV)のカーボネート単位は好まし
くはポリカーボネートの1.0〜70モル%をなし、さらに好ましくはポリカー
ボネートの1.0〜40モル%をなす。ただし、成分(b)がBPA残基だけ(
ポリカーボネート中の繰返し単位(b)100モル%を基準として100モル%
)から選択される場合を除く。この場合、BPAに対応する構造単位はポリカー
ボネートの0.1〜50モル%をなす。この場合、成分(a)がポリカーボネー
トの50モル%以上をなすのが好ましく、さらに好ましくは成分(a)はBCC
の残基となるように選択する。
【0093】 構造式(IV)を成分(b)として選択し、成分(b)がBPA残基だけ(すな
わちポリカーボネート中の(b)の繰返し単位100モル%を基準として100
モル%)から選択され、ポリカーボネートから成形すべき光学製品が光情報記録
媒体又は3000以下のCm及び50ブリュースター以下のCgが必要とされる光
情報記憶デバイスである場合、ポリカーボネートはBPAの残基を20モル%以
下しか含まないのが特に好ましい。この場合、ポリカーボネートは好ましくは8
0〜85モル%のBCCと15〜20モル%のBPAからなる。一実施形態では
、ポリカーボネートはBCC残基80モル%とBPA残基20モル%からなる。
【0094】 構造式(IV)を成分(b)として選択する実施形態では、ポリカーボネートは
任意には、上記で定義した構造式(V)のカーボネート構造単位を0.1〜20
モル%含んでいてもよい。
【0095】 成分(a)の代表的な単位には、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチル
フェニル)シクロヘキサン(BCC)、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メ
チルフェニル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフ
ェニル)シクロヘプタン、及びこれらの混合物の残基があるが、これらに限定さ
れない。BCCの残基が成分(a)として好ましい。構造式(IV)を成分(b)
として選択する実施形態では、成分(b)の代表的な単位には、2,2−ビス(
4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BPA)、2,2−ビス(4−ヒドロキシ
フェニル)ブタン、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)ペンタン、2,2
−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−
エチル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、及びこれらの混合物の残基がある
が、これらに限定されない。この実施形態では、BPAの残基が成分(b)とし
て好ましい。
【0096】 構造式(V)の代表的な単位には、ドデカン二酸、セバシン酸、アジピン酸、
オクタデカン二酸、オクタデス−9−エン二酸、9−カルボキシオクタデカン酸
及び10−カルボキシオクタデカン酸の残基があるが、これらに限定されない。
ドデカン二酸の残基がさらに好ましい。
【0097】 構造式(II)と(III)の混合物を成分(b)として選択する実施形態では、
成分(a)は好ましくはポリカーボネートの30〜99モル%をなし、さらに好
ましくはポリカーボネートの60〜99モル%をなす。式(II)と(III)のカ
ーボネート構造単位は好ましくはポリカーボネートの1〜70モル%をなし、さ
らに好ましくはポリカーボネートの1〜40モル%をなす。構造単位(II)と(
III)の比は好ましくは1:99〜99:1の範囲である。任意には、この実施
形態のポリカーボネートは上記で定義した構造式(V)を0.1〜20モル%含
んでいてもよい。
【0098】 成分(a)の代表的な単位には、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチル
フェニル)シクロヘキサン(BCC)、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メ
チルフェニル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフ
ェニル)シクロヘプタン、及びこれらの混合物の残基があるが、これらに限定さ
れない。BCCが成分(a)として最も好ましい。この実施形態では、成分(b
)の代表的な単位には、6−ヒドロキシ−1−(4′−ヒドロキシフェニル)−
1,3,3−トリメチルインダン(CD−1)、6−ヒドロキシ−1−(4′−
ヒドロキシ−3′−メチルフェニル)−1,3,3,5−テトラメチルインダン
、並びに6,6′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テトラメチルスピロビ
インダン(SBI)、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,5,3′,3′,5′
−ヘキサメチルスピロビインダン、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,5,7,
3′,3′,5′,7′−オクタメチルスピロビインダン、5,5′−ジエチル
−6,6′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テトラメチルスピロビインダ
ンがあるが、これらに限定されない。CD−1及びSBIの残基がそれぞれ構造
式(II)及び(III)として最も好ましい。
【0099】 この実施形態では、構造式(V)の代表的な単位には、ドデカン二酸、セバシ
ン酸、アジピン酸、オクタデカン二酸、オクタデス−9−エン二酸、9−カルボ
キシオクタデカン酸及び10−カルボキシオクタデカン酸の残基があるが、これ
らに限定されない。ドデカン二酸の残基がさらに好ましい。
【0100】 構造式(III)と(IV)を成分(b)として選択する実施形態では、成分(a
)は好ましくはポリカーボネートの30〜99モル%をなし、さらに好ましくは
ポリカーボネートの60〜99モル%をなす。式(III)と(IV)のカーボネー
ト構造単位は好ましくはポリカーボネートの1〜70モル%をなし、さらに好ま
しくはポリカーボネートの1〜40モル%をなす。構造単位(III)と(IV)の
比は1:99〜99:1の範囲であるのが好ましい。任意には、この実施形態の
ポリカーボネートは上記で定義した構造式(V)を約0.1〜20モル%含んで
いてもよい。
【0101】 成分(a)の代表的な単位には、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチル
フェニル)シクロヘキサン(BCC)、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メ
チルフェニル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフ
ェニル)シクロヘプタン、及びこれらの混合物の残基があるが、これらに限定さ
れない。BCCの残基が成分(a)として最も好ましい。構造式(III)と(IV
)を成分(b)として選択する実施形態では、成分(b)の代表的な単位には、
6,6′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テトラメチルスピロビインダン
(SBI)、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,5,3′,3′,5′−ヘキサ
メチルスピロビインダン、6,6′−ジヒドロキシ−3,3,5,7,3′,3
′,5′,7′−オクタメチルスピロビインダン、5,5′−ジエチル−6,6
′−ジヒドロキシ−3,3,3′,3′−テトラメチルスピロビインダンの残基
、並びに2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BPA)、2,2
−ビス(4−ヒドロキシフェニル)ブタン、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェ
ニル)ペンタン、2,2−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(3−エチル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、及びこれ
らの混合物の残基があるが、これらに限定されない。SBI及びBPAの残基が
それぞれ構造式(III)及び(IV)として最も好ましい。
【0102】 この実施形態では、構造式(V)の代表的な単位には、ドデカン二酸、セバシ
ン酸、アジピン酸、オクタデカン二酸、オクタデス−9−エン二酸、9−カルボ
キシオクタデカン酸及び10−カルボキシオクタデカン酸の残基があるが、これ
らに限定されない。ドデカン二酸の残基がさらに好ましい。
【0103】 本発明のポリカーボネートは界面法又は溶融法で製造できる。界面法を用いる
場合、各種相間移動触媒の添加は任意である。適当な相間移動触媒には、トリエ
チルアミンのような第三級アミン、臭化テトラブチルアンモニウムのようなアン
モニウム塩、又は塩化へキサエチルグアニジウムがあるが、これらに限定されな
い。p−クミルフェノールや4−ブチルフェノールのような単官能性フェノール
、カルダノールやノニルフェノールのような長鎖アルキルフェノール、及び二官
能性フェノールを連鎖停止剤として使用してもよい。任意には、繰返し単位の総
モル数を基準として0.1〜10モル%、さらに好ましくは1〜5モル%の連鎖
停止剤をポリカーボネートに配合し得る。
【0104】 場合によっては、ホスゲン化条件を調節しなければならない。特に、モノマー
特有の反応性(反応媒質中でのモノマーの溶解性及びモノマーの構造に関連する
。)によって不必要な環状オリゴマーの生成が優勢となる場合には、ホスゲン化
条件を調節すべきである。例えばBCCの場合、標準的な界面重合条件下での環
状オリゴマーの生成比率は、例えばBPAの場合よりも大きい。BCC含有量が
約20モル%をかなり上回るポリカーボネートでは、線状ビスクロロホルメート
オリゴマー生成を促すため過剰のホスゲンを使用するのが有利であり、線状ビス
クロロホルメートオリゴマーを部分加水分解と重縮合によって高分子量ポリマー
へと転化する。好ましくは、約20〜200モル%過剰のホスゲンを使用する。
【0105】 本発明のポリカーボネートは溶融法つまりエステル交換法でも製造し得る。こ
のプロセスでは、ホスゲンや溶媒を使用する必要がなく、最終ポリマー中での環
状及び線状低分子量オリゴマーのような低分子量夾雑物の生成が最小になる。モ
ノマーをカーボネート源(炭酸ジアリールなど)及び少量の触媒(アルカリ金属
水酸化物や水酸化アンモニウムなど)と混合し、反応混合物上のヘッドスペース
の圧力を雰囲気圧力から約1トルに下げながら段階的に温度を上昇させるという
プロトコルに従って減圧下で加熱する。
【0106】 適当なカーボネート源、触媒及び反応条件は米国特許第5880248号及び Kirk−Othmer Encyclopedia of Chemical Technology ,第4版、第19巻、585〜600頁にみられる(援
用によって本明細書に取り込まれる。)。各段階の時間及び温度は、発泡などに
よる材料の機械的損失が避けられるようにする。フェノールと過剰のジフェニル
カーボネートを塔頂から除去して重合プロセスを完了させる。高分子量ポリマー
生成物はメルトとして単離されるが、これをペレタイズする前に安定剤や離型剤
のような他の添加剤を配合し得る。溶融法で合成した生成物は、界面法で合成し
た生成物に比べ、非溶解粒子の数が少なく、環状オリゴマーのような低分子量夾
雑物の含有量が少ない。
【0107】 意外なことに、ポリカーボネートが84モル%のBCCと16モル%のSBI
からなる本発明の好ましい実施形態では、溶融法で優れた生成物が生じることが
判明した。特に、溶融法では、Cgが38ブリュースターのポリカーボネートが
得られた。界面法で合成した同一組成のポリカーボネートはCgが45.1ブリ
ュースターであった。
【0108】 この実施形態では、ポリカーボネートは好ましくは約150℃未満のTg、約
0.2%未満の吸水率、約50ブリュースター未満のCg及び約2500ブリュ
ースター未満のCmを有する。
【0109】 84モル%のBCCと16モル%のSBIからなるポリカーボネートの製造方
法は、好ましくは、以下の段階を含んでなる。 A)BCC:SBIモル比84:16のBCCモノマーとSBIモノマーを触媒
存在下でカーボネート源と混合して反応混合物を形成する段階、 B)この反応混合物が溶融するまで反応混合物を加熱する段階、 C)この混合物を熱平衡化させる段階、及び D)1以上の反応段階で反応混合物から揮発性成分を除去して分子量を増大させ
る段階。
【0110】 揮発性成分にはフェノールと過剰のジフェニルカーボネートがある。84モル
%のBCCと16モル%のSBIからなるポリカーボネートの数平均分子量(M w )は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーでポリスチレンを標準として
測定して、好ましくは約10000〜約100000、さらに好ましくは約10
000〜約50000、さらに一段と好ましくは約12000〜約40000で
ある。
【0111】 本発明のポリカーボネートは、任意には、光学製品の成形に当たり、特に限定
されないが染料、UV安定剤、酸化防止剤、熱安定剤及び離型剤を始めとする、
光学用途の慣用の添加剤とブレンドしてもよい。特に、所望の光学製品を成形す
るためにブレンドの加工の補助となる添加剤とポリカーボネートとのブレンドを
形成するのが好ましい。ブレンドは、任意には、所望の添加剤を0.0001〜
10重量%、好ましくは0.0001〜1.0重量%含有し得る。
【0112】 本発明のポリカーボネートに添加し得る物質又は添加剤には、耐熱性安定剤、
UV吸収剤、離型剤、帯電防止剤、スリップ剤、粘着防止剤、滑剤、曇り防止剤
、着色剤、天然油、合成油、ワックス、有機充填材、無機充填材及びこれらの混
合物があるが、これらに限定されない。
【0113】 上述の耐熱性安定剤の例には、フェノール系安定剤、有機チオエーテル系安定
剤、有機リン化物安定剤、ヒンダードアミン系安定剤、エポキシ系安定剤及びこ
れらの混合物があるが、これらに限定されない。耐熱性安定剤は固体又は液体の
形態で添加し得る。
【0114】 UV吸収剤の例には、サリチル酸系UV吸収剤、ベンゾフェノン系UV吸収剤
、ベンゾトリアゾール系UV吸収剤、シアノアクリレート系UV吸収剤及びこれ
らの混合物があるが、これらに限定されない。
【0115】 離型剤の例には、天然及び合成パラフィン、ポリエチレンワックス、フルオロ
カーボン、その他の炭化水素系離型剤、ステアリン酸、ヒドロキシステアリン酸
、その他の高級脂肪酸、ヒドロキシ脂肪酸、その他の脂肪酸系離型剤、ステアリ
ン酸アミド、エチレンビスステアロアミド、その他の脂肪酸アミド、アルキレン
ビス脂肪酸アミド、その他の脂肪酸アミド系離型剤、ステアリルアルコール、セ
チルアルコール、その他の脂肪族アルコール、多価アルコール、ポリグリコール
、ポリグリセロール、その他のアルコール系離型剤、ステアリン酸ブチル、ペン
タエリトリトールテトラステアレート、その他の脂肪酸の低級アルコールエステ
ル、脂肪酸の多価アルコールエステル、脂肪酸のポリグリコールエステル、その
他の脂肪酸エステル系離型剤、シリコーンオイル、その他のシリコーン系離型剤
、及びこれらの任意の混合物があるが、これらに限定されない。
【0116】 着色剤は顔料でも染料でもよい。本発明では無機着色剤と有機着色剤を別々又
は組合せて使用できる。
【0117】 ポリカーボネートはランダムコポリマーでも、ブロックコポリマーでも、グラ
フトコポリマーでもよい。グラフトコポリマーその他の枝分れポリマーを製造す
るときには製造時に適当な枝分れ剤を使用する。
【0118】 所望の光学製品は、射出成形、圧縮成形、押出法及び溶液鋳造法でポリカーボ
ネート又はポリカーボネートブレンドを成形することで得られる。射出成形が好
ましい製品の成形方法である。
【0119】 本発明のポリカーボネートは低い吸水率、良好な加工性及び低い複屈折のよう
な有利な特性を有しているので、光学製品の製造に利用するのに都合がよい。本
発明の光学製品の最終用途には、デジタルオーディオディスク、デジタル・バー
サタイル・ディスク、光記憶ディスク、コンパクトディスク、ASMOデバイス
など、光学レンズ、例えばコンタクトレンズ、眼鏡用レンズ、望遠鏡用レンズ、
及びプリズム、光ファイバー、光磁気ディスク、情報記録媒体、情報伝達媒体、
ビデオカメラ用ディスク、スチルカメラ用ディスク、などがあるが、これらに限
定されない。
【0120】 ポリカーボネートは情報記憶媒体として機能し得る。すなわち、ポリカーボネ
ート上又はその内部に情報を固定できる。ポリカーボネートは、情報記憶媒体を
貼り付ける基材としても機能し得る。さらに、例えば情報記憶媒体の読取りに役
立つトラッキングと共にポリカーボネートにインプリントする場合のように、単
一デバイスに両機能を組合せて用いることもできる。
【0121】 II.脂環式ビスフェノールから誘導されたポリカーボネート及び脂環式ビスフ ェノールのポリカーボネートを90重量%以上含有する光学製品 別の態様では、本発明は、 (1)構造式(I)
【0122】
【化17】
【0123】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
ある。)のカーボネート構造単位を有するポリカーボネート90〜100重量%
、及び (2)別の添加剤0〜10重量%と を含んでなる光学製品であって、式(I)の構造単位がポリカーボネートの90
〜100モル%をなし、ポリカーボネートが約120〜約185℃のガラス転移
温度と約0.33%未満の吸水率を有する、光学製品に関する。
【0124】 さらに、本発明は、ポリカーボネートからなる上記定義の光学製品にも関する
が、該ポリカーボネートは構造式(I)
【0125】
【化18】
【0126】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
ある。)のカーボネート構造単位を有しており、式(I)の構造単位はポリカー
ボネートの90〜100モル%をなし、ポリカーボネートは約120〜約185
℃のガラス転移温度と約0.33%未満の吸水率を有する。
【0127】 本発明の一実施形態では、ポリカーボネートはBCC残基100モル%からな
る。ポリカーボネートがBCC残基100モル%からなる実施形態では、ポリカ
ーボネートは約150℃未満のガラス転移温度及び約0.15%未満の吸水率を
有する。ホモポリカーボネートは約50ブリュースター未満のCg及び約250
0ブリュースター未満のCmを有する。
【0128】 ポリカーボネート中の構造式(I)の代表的な単位には、1,1−ビス(4−
ヒドロキシ−3−メチルフェニル)シクロヘキサン(BCC)、1,1−ビス(
4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒ
ドロキシ−3−メチルフェニル)シクロヘプタン、及びこれらの混合物の残基が
あるが、これらに限定されない。BCCの残基が成分(a)として最も好ましい
。構造式(I)のビスフェノールは本明細書で「脂環式ビスフェノール」という
【0129】 上記定義の光学製品の一実施形態では、光学製品の成分(1)はBCC残基1
00モル%、すなわち構造式(VI)のポリカーボネートである。BCCはシクロ
ヘキサノンとオルトクレゾールから容易に合成できる。
【0130】
【化19】
【0131】 BCC由来の構造単位100モル%からなるポリカーボネートを、本明細書中
では「BCCホモポリカーボネート」という。
【0132】 意外なことに、90〜100モル%の構造式(I)からなるポリカーボネート
は、意外に低いCg及び低い親水性及び適当な加工性を有しており、光学製品で
の使用に特に適していることが判明した。式(I)の構造単位は3位又は3′位
が少なくとも1つのR1又はR2で置換されていることが極めて重要である。n及
びpが1に等しく、R1及びR2がそれぞれ3位と3′位に存在するのが好ましい
。R1及びR2は好ましくはC1〜C6アルキル、さらに好ましくはC1〜C3アルキ
ル、さらに一段と好ましくはCH3である。さらに、構造式(I)の単位90〜
100モル%からなるポリカーボネートは妥当なCm値、すなわち約3000ブ
リュースター未満の値を有することが判明した。
【0133】 本発明では、さらに、ポリカーボネートが光学製品での使用に適した特性を有
していることが重要である。本発明のポリカーボネートは、好ましくは120〜
185℃、さらに好ましくは125〜165℃、さらに一段と好ましくは130
〜150℃の範囲のガラス転移温度を有する。ポリカーボネートの吸水率は好ま
しくは0.33%未満、さらに好ましくは約0.2%未満である。
【0134】 ポリカーボネートの重量平均分子量(Mw)は、ゲルパーミエーションクロマ
トグラフィーでポリスチレンを標準として測定して、好ましくは約10000〜
約100000、さらに好ましくは約10000〜約50000、さらに一段と
好ましくは約20000〜約30000である。
【0135】 ポリカーボネートは約85%以上、さらに好ましくは約90%以上の光透過率
、及び約60ブリュースター未満、さらに好ましくは50ブリュースター未満の
gを有する。ポリカーボネートは好ましくは約3000ブリュースター未満、
さらに好ましくは約2500ブリュースター未満のCmを有する。
【0136】 所望の光学製品は、射出成形、圧縮成形、押出法及び溶液鋳造法によってポリ
カーボネート又はポリカーボネートブレンドを成形することにより得られる。射
出成形が好ましい製品成形法である。
【0137】 ポリカーボネートの製造法、最終用途、及びポリカーボネートとブレンドし得
る添加剤は、光学製品での使用に適したポリカーボネートに関連して本明細書の
項目Iに記載したものと同じである。
【0138】 本明細書の項目Iでポリカーボネートに関して説明した通り、この項目IIで規
定する本発明の別の態様のポリカーボネート及びそれから製造した光学製品は、
CDオーディオ、CD ROM及び読取り専用DVDのような情報記憶媒体とし
て機能し得る。すなわち、ポリカーボネート上又はその内部に情報を固定できる
。ポリカーボネートは、情報記憶媒体を貼り付ける基材としても機能し得る。さ
らに、例えば情報記憶媒体の読取りに役立つトラッキングと共にポリカーボネー
トにインプリントする場合のように、単一デバイスに両機能を組合せて用いるこ
ともできる。
【0139】
【実施例】
以下の実施例は、特許請求の範囲に記載した組成物及び方法をいかに実施し評
価するかを当業者に示すために記載するものであり、本発明者らが発明として把
握している範囲を限定するものではない。数(例えば量、温度など)に関しては
正確を期したが、若干の誤差や偏差はあるであろう。特記しない限り、部は重量
部であり、温度は摂氏単位又は室温であり、圧力は大気圧又はその付近である。
【0140】 以下に示す結果を得るのに用いた材料及び試験法は次の通りである。
【0141】 分子量は重量平均分子量(Mw)として記載し、ゲルパーミエーションクロマ
トグラフィーでポリスチレンを標準として測定した。
【0142】 吸水率(%H2O)はASTM D−0570法で測定した。
【0143】 Tg値は示差走査熱量測定法で求めた。
【0144】 Cg値は以下のようにして求めた。ポリカーボネート(7.0グラム)を寸法
5.0×0.5インチの加熱金型に装填し、そのガラス転移温度を上回る120
℃で標準的な圧縮成形装置を用いて、最初は0ポンドから最終的には2000ポ
ンドの圧力を加えて圧縮成形した。これらの条件で所要時間経過後、金型を放冷
し、成形試験棒をカーバー(Carver)プレスを用いて取り出した。成形試
験棒を次いで偏光顕微鏡で検査し、試験棒の観察領域を決めた。観察領域の選択
は、複屈折が観察されないこと及び試験棒の両端又は両側から十分な距離がある
ことを基準にした。次いで、既知量の力が棒に垂直に加わるように設計した装置
に試料を取付け、棒の観察領域を適切に偏光した光で照射した。次いで試験棒に
6レベルの応力を加え、各レベルでバビネ補償板を用いて複屈折を測定した。複
屈折を応力に対してプロットすると直線が得られ、その傾きが応力光学係数Cg
に等しい。
【0145】 Cm値はTg+100℃で示す。長方形の試料を既知の振動歪み速度に付して
剪断応力をモニターした。同時に、剪断面に平行に偏光レーザービームを送った
。Kanana,M.R.及びKornfield,J.A.著,Journa l of Rheology ,1994,38(4)に教示されているように、
電子変調器で光を変調して検出器で波の同位相成分と位相の異なる成分をモニタ
ーして複屈折及び配向を測定した。
【0146】 実施例1 底のスクラビング系に取り付けた磁気攪拌機、還流凝縮器、二元窒素/ホスゲ
ン導入管及び導出管を備えた500mLのモートン(Morton)フラスコに
、BCC(21.4g、72.3mmol)、SBI(4.24g、13.8m
mol)、p−クミルフェノール(0.82g、3.9mmol、4.5モル%
)、塩化メチレン(110mL)及び蒸留水(80mL)を入れた。反応混合物
を50重量%のNaOHで処理してpHを10.5にした。NaOH溶液を添加
してpHを10.5に維持しつつ、ホスゲン(17.0g、170mmol、1
00モル%過剰)を0.6g/分で加えた。クロロホルメート溶液をトリエチル
アミン(0.20mL、2モル%)で処理した後、激しく還流した。pHは10
.5に維持した。クロロホルメートの分析試験によると、これらの条件下で約2
分後にはクロロホルメートは完全に消失していた。得られたポリマー溶液を塩水
から分離し、1NのHClで一回洗浄し、蒸留水で四回洗浄した。ポリマー溶液
をブレンダー中で沸騰水(750mL)に沈殿させ、水(500mL)で洗浄し
、減圧下125℃で一晩乾燥した。このポリマーは32500のMw、149℃
のTgを有していた。
【0147】 実施例2 実施例1と同様にして、BCC(19.62g、67.7mmol)、CD−
1(5.31g、19.8mmol)、p−クミルフェノール(0.82g、3
.9mmol、4.5モル%)をホスゲンと反応させて単離後にガラス転移温度
148℃のポリカーボネートを得た。
【0148】 実施例3 実施例1と同様に装備した500mLのモートンフラスコに、BCC(26.
9g、100mmol)、塩化メチレン(125mL)及び蒸留水(90mL)
を入れた。反応混合物を50重量%のNaOHで処理してpHを10.5にした
。NaOH溶液の添加によりpHを10.5に維持しつつ、ホスゲン(20.3
g、205mmol、105モル%過剰)を計量して0.6g/分で反応混合物
中に導入した。10.0グラムのホスゲンを加えた後、p−クミルフェノール(
1.06g、5.0mmol、5モル%)を加えた。ホスゲン添加が完了した後
、トリエチルアミン(0.125mL、0.9mmol)を加え、pHを10.
9に維持するのに十分な50%NaOHを加えた。2分後反応混合物中でクロロ
ホルメートは検出できなかった。追加のトリエチルアミン(0.125mL、0
.9mmol)を加え、追加のホスゲン(4.5g、45mmol)を計量して
0.6g/分で反応混合物中に導入した。ポリマー溶液を塩水から分離し、1N
のHClで一回洗浄し、蒸留水で四回洗浄した。ポリマー溶液をブレンダー中で
沸騰水(750mL)に沈殿させ、水(500mL)で洗浄し、減圧下110℃
で一晩乾燥した。このポリマーは138℃のTgを有していた。
【0149】 実施例4 実施例3と同様にして、BCC(24.0g、80mmol)、BPA(4.
56g、20mmol)及びp−クミルフェノール(1.06g、5mmol、
5モル%)をホスゲンと反応させて単離後にガラス転移温度138℃のポリカー
ボネートを得た。
【0150】 実施例5 実施例3と同様にして、BCC(17.8g、60mmol)、BPA(9.
12g、40mmol)及びp−クミルフェノール(1.06g、5mmol、
5モル%)をホスゲンと反応させて単離後にガラス転移温度139℃のポリカー
ボネートを得た。
【0151】 実施例6 実施例1と同様に装備した500mLのモートンフラスコに、BCC(22.
2g、74.9mmol)、SBI(7.7g、25mmol)、ドデカン二酸
(DDDA、1.24g、5.4mmol)、塩化メチレン(125mL)及び
蒸留水(100mL)並びにトリエチルアミン(200μL)を入れた。反応混
合物を50重量%のNaOHで処理してpHを8.5にした。NaOH溶液を添
加してpHを8.5に維持しつつ、ホスゲン(6g、60mmol)を計量して
0.6g/分で反応混合物中に導入した。この時点でp−クミルフェノール(0
.95g、4.5mmol)を加え、追加のホスゲン1gを計量して0.6g/
分で反応混合物中に導入した。ホスゲン化を止め、50%NaOHを加えてpH
を11に上げた。ホスゲン添加をpH11で再開し、合計15.1g(50モル
%過剰)が添加されるまで続けた。この段階で混合物を試験したところクロロホ
ルメート基が検出された。トリエチルアミン(200μL)と微量の4−ジメチ
ルアミノピリジン(結晶数個)を加えたところ、混合物からクロロホルメート基
が消失した。ポリマー溶液を塩水から分離し、1NのHClで一回、次いで蒸留
水で四回洗浄した。ポリマー溶液をブレンダー中で沸騰水(750mL)に沈殿
させ、水(500mL)で洗浄し、減圧下110℃で一晩乾燥した。このポリマ
ーは143.7℃のTgを有していた。
【0152】 実施例7 酸洗浄し、濯ぎ、一晩70℃で乾燥して予め不動態化しておいた1リットルガ
ラス溶融重合反応器に、ジフェニルカーボネート136.9g(639mmol
)、BCC157.5g(531mmol)及びSBI26.5g(86mmo
l)を装填した。316ステンレス鋼製らせん攪拌機を粉末中に入れ、1.0M
水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液151μlと0.001M水酸化ナトリ
ウム水溶液461μlを加えた。次いで、容器を排気し、窒素で三回パージし、
180℃に加熱したところ、反応混合物が溶融した。完全に溶融したら、5〜1
0分間熱平衡化した後、この混合物を攪拌しながら30分間210℃に加熱した
。次いで、圧力を240ミリバールに下げたところ、反応器からフェノールから
留出し始めた。45分後、圧力を130ミリバールに下げ、フェノールを流出し
ながら45分間加熱(240℃)を続けた。260℃/90ミリバール(30分
)、260℃/20ミリバール(15分)、270℃/3ミリバール(30分)
、270℃/1ミリバール(40分)、300℃/1ミリバール(90分)、3
10℃/1ミリバール(30分)の温度/圧力プロフィールでさらに重合を続け
た。次に、反応器からポリマーをストランド化し、冷却してやや黄色いストラン
ド(Mn=15100、Mw=35500、Tg=149℃)170gを得た。
【0153】 実施例8 ジフェニルカーボネート(156.8g、732mmol)、DMBPC(1
20.5g、407mmol)、BPA(61.9g、271mmol)、1.
0M水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液307μl及び0.001M水酸化
ナトリウム水溶液460μlを上記実施例7と同様に重合した。次に、反応器か
らポリマーをストランド化し、冷却してほぼ無色のストランド(Mn=1660
0、Mw=37400、Tg=136℃)172gを得た。
【0154】 比較例#1 BPAホモポリカーボネート(LEXAN、光学品質グレード、界面重合法で
製造)。
【0155】 比較例#2 実施例3と同様にして、BCC(11.8g、40mmol)、BPA(13
.7g、60mmol)及びp−クミルフェノール(1.06g、5mmol、
4.5モル%)をホスゲンと反応させて単離後にガラス転移温度140℃のポリ
カーボネートを得た。60モル%のBPAで吸水率は0.211%であった。
【0156】 比較例#3 実施例1と同様に装備した500mLのモートンフラスコに、(4,4′−(
m−フェニレンジイソプロピリデン)ジフェノール(BPM)(19.0g、5
5mmol)、(1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−3,3,5−トリ
メチルシクロヘキサン(BPI)(13.9g、45mmol)、p−tert
−ブチルフェノール(0.68g、4.5mmol、4.5モル%)、塩化メチ
レン(125mL)、蒸留水(90mL)及びトリエチルアミン(200μL)
を入れた。反応混合物を50重量%のNaOHで処理してpHを10.5にした
。NaOH溶液を添加してpHを10.5に維持しつつ、ホスゲン(15.2g
)を0.6g/分で加えた。反応混合物を窒素でスパージして反応混合物から残
留ホスゲンを除いた。得られたポリマー溶液を塩水から分離し、1NのHClで
一回洗浄し、蒸留水で四回洗浄した。ポリマー溶液をブレンダー中で沸騰水(7
50mL)に沈殿させ、水(500mL)で洗浄し、減圧下125℃で一晩乾燥
した。このポリマーは13300のMn、42500のMw及び138℃のTg
を有していた。1H−NMRの分析から、BPM残基とBPI残基の存在量はモ
ル比55:45であることが判明した。
【0157】 次の表Iに実施例1〜7並びに比較例1、2及び3の結果をまとめる。
【0158】
【表1】
【0159】 本発明を特にその好ましい実施形態を参照して詳しく説明してきたが、本発明
の技術思想及び技術的範囲内で様々な変形及び修正がかのうであることを理解さ
れたい。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4J002 AE053 BB033 CD002 CG011 CP033 EB068 EC058 EC068 EE037 EF058 EF097 EH038 EH048 EJ006 EN006 EP018 EP028 ET007 EU177 EV046 EW006 FD032 FD036 FD057 FD163 FD168 GP00 GP01 GP02 4J029 AA09 AE04 BB12C BD09C BD10 HC01 JB063 JB123 JB153 JB163 JB183 JB193 JC023 JC123 JC143 JC283 JC343 JC413 JE043 JE153 JE223 5D029 KA08 KC20

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記(1)及び(2)を含んでなる光学製品。 (1)次の式(I) 【化1】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
    、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
    表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
    ある。)の構造単位を有するポリカーボネートであって、式(I)の構造単位が
    当該ポリカーボネートの90〜100モル%をなし、約120〜約185℃のガ
    ラス転移温度及び約0.33%未満の吸水率を有するポリカーボネート90〜1
    00重量%、及び (2)0〜10重量%の添加剤。
  2. 【請求項2】 成分(1)が1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフ
    ェニル)シクロヘキサン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル
    )シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)シク
    ロヘプタン及びこれらの混合物の残基からなる群から選択される、請求項1記載
    の光学製品。
  3. 【請求項3】 下記(1)及び(2)を含んでなる光学製品。 (1)次式 【化2】 (式中、R1又はR2はCH3である。)の構造単位を有するホモポリカーボネー
    トであって、約150℃未満のガラス転移温度及び約0.15%未満の吸水率を
    有するホモポリカーボネート90〜100重量%、及び (2)0〜10モル%の添加剤。
  4. 【請求項4】 前記ホモポリカーボネートが約50ブリュースター未満のC g 及び約2500ブリュースター未満のCmを有する、請求項3記載の光学製品。
  5. 【請求項5】 当該光学製品が光情報記録媒体である、請求項1記載の光学
    製品。
  6. 【請求項6】 当該光学製品が光情報記録媒体である、請求項3記載の光学
    製品。
  7. 【請求項7】 下記(1)及び(2)から基本的になる光学製品。 (1)次式 【化3】 (式中、R1又はR2はCH3である。)の構造単位を有するホモポリカーボネー
    トであって、約150℃未満のガラス転移温度及び約0.15%未満の吸水率を
    有するホモポリカーボネート90〜100重量%、及び (2)0〜10モル%の添加剤。
  8. 【請求項8】 当該光学製品が光情報記録媒体である、請求項7記載の光学
    製品。
  9. 【請求項9】 次の式(I) 【化4】 (式中、R1又はR2の少なくとも1つは3位又は3′位にあることを条件として
    、R1及びR2は独立にC1〜C6アルキルからなる群から選択され、XはCH2
    表し、mは4〜7の整数であり、nは1〜4の整数であり、pは1〜4の整数で
    ある。)の構造単位を有するポリカーボネートであって、式(I)の構造単位が
    当該ポリカーボネートの90〜100モル%をなし、約120〜約185℃のガ
    ラス転移温度及び約0.33%未満の吸水率を有するポリカーボネート。
  10. 【請求項10】 構造(I)が1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチル
    フェニル)シクロヘキサン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニ
    ル)シクロペンタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)シ
    クロヘプタン及びこれらの混合物の残基からなる群から選択される、請求項9記
    載のポリカーボネート。
  11. 【請求項11】 当該ポリカーボネートがBCC残基を含んでなる、請求項
    9記載のポリカーボネート。
  12. 【請求項12】 構造(I)がBCCであって、当該ポリカーボネートが1
    00モル%のBCCからなる、請求項9記載のポリカーボネート。
  13. 【請求項13】 R1及びR2がそれぞれ3位又は3′位にあり、n及びpが
    共に1に等しい、請求項9記載のポリカーボネート。
  14. 【請求項14】 当該ポリカーボネートが約50ブリュースター未満のCg
    及び約2500ブリュースター未満のCmを有する、請求項9記載のポリカーボ
    ネート。
  15. 【請求項15】 当該ポリカーボネートが約50ブリュースター未満のCg
    及び約2500ブリュースター未満のCmを有する、請求項11記載のポリカー
    ボネート。
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