JPH0792918A - 画像表示パネル検査装置 - Google Patents
画像表示パネル検査装置Info
- Publication number
- JPH0792918A JPH0792918A JP23349293A JP23349293A JPH0792918A JP H0792918 A JPH0792918 A JP H0792918A JP 23349293 A JP23349293 A JP 23349293A JP 23349293 A JP23349293 A JP 23349293A JP H0792918 A JPH0792918 A JP H0792918A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】液晶表示装置やプラズマディスプレイなどの画
像表示パネルの画像表示に係る検査をする装置の改善に
関する。 【構成】画像表示パネルに駆動電圧を印加する検査手段
（１１）と、前記画像表示パネルの電極端子と前記検査
手段（１１）とのコンタクトをとる検出手段（１２）と
を具備し、前記検出手段（１２）は、薄膜（１３）上に
電極配線（１４）が形成されてなる配線フィルムからな
ること。
像表示パネルの画像表示に係る検査をする装置の改善に
関する。 【構成】画像表示パネルに駆動電圧を印加する検査手段
（１１）と、前記画像表示パネルの電極端子と前記検査
手段（１１）とのコンタクトをとる検出手段（１２）と
を具備し、前記検出手段（１２）は、薄膜（１３）上に
電極配線（１４）が形成されてなる配線フィルムからな
ること。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像表示パネル検査装置
に関し、更に詳しく言えば、液晶表示装置やプラズマデ
ィスプレイなどの画像表示パネルの画像表示に係る検査
をする装置の改善に関する。
に関し、更に詳しく言えば、液晶表示装置やプラズマデ
ィスプレイなどの画像表示パネルの画像表示に係る検査
をする装置の改善に関する。
【０００２】
【従来の技術】以下で従来例に係る画像表示パネル検査
装置について説明する。従来例に係る画像表示パネル検
査装置は、図５に示すように、検査回路（１）と検出部
（２）とからなり、駆動用回路が接続される前の状態で
の液晶表示パネル〔以下フラットパネル（４）と称す
る〕に、製品と同様の条件で駆動電圧を印加し、フラッ
トパネル（４）上に表示される画像をモニターすること
によって良否を検査するための装置である。
装置について説明する。従来例に係る画像表示パネル検
査装置は、図５に示すように、検査回路（１）と検出部
（２）とからなり、駆動用回路が接続される前の状態で
の液晶表示パネル〔以下フラットパネル（４）と称す
る〕に、製品と同様の条件で駆動電圧を印加し、フラッ
トパネル（４）上に表示される画像をモニターすること
によって良否を検査するための装置である。
【０００３】当該装置を用いる画像表示パネルの検査方
法について図５を参照しながら説明する。検査対象たる
フラットパネル（４）は、ガラス基板上に平行に配置さ
れたＩＴＯ〔Indium Titan Oxide〕膜からなるＩＴＯ電
極（５）がマトリクス上に形成されてなるドットマトリ
クス方式の液晶パネルである。まず上記装置の検査部
（２）に設けられたタングステンが針状に形成されてな
るプローブピン（３）を、フラットパネル（４）上のＩ
ＴＯ電極（５）に接触させる。
法について図５を参照しながら説明する。検査対象たる
フラットパネル（４）は、ガラス基板上に平行に配置さ
れたＩＴＯ〔Indium Titan Oxide〕膜からなるＩＴＯ電
極（５）がマトリクス上に形成されてなるドットマトリ
クス方式の液晶パネルである。まず上記装置の検査部
（２）に設けられたタングステンが針状に形成されてな
るプローブピン（３）を、フラットパネル（４）上のＩ
ＴＯ電極（５）に接触させる。
【０００４】検査部（２）には、フラットパネル（４）
のＩＴＯ電極（５）の本数に対応するだけのプローブピ
ン（３）が設けられており、全てのＩＴＯ電極（５）と
プローブピン（３）とを接触させたのちに、検査回路
（１）から検査部（２）のプローブピン（３）を介して
それぞれのＩＴＯ電極（５）に、製品と同様の条件で駆
動電圧を印加する。
のＩＴＯ電極（５）の本数に対応するだけのプローブピ
ン（３）が設けられており、全てのＩＴＯ電極（５）と
プローブピン（３）とを接触させたのちに、検査回路
（１）から検査部（２）のプローブピン（３）を介して
それぞれのＩＴＯ電極（５）に、製品と同様の条件で駆
動電圧を印加する。
【０００５】その後、フラットパネル（４）上に表示さ
れる画像をモニターして、検査対象であるフラットパネ
ル（４）の良否を判定していた。
れる画像をモニターして、検査対象であるフラットパネ
ル（４）の良否を判定していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フラッ
トパネル（４）上には数百本のＩＴＯ電極（５）が形成
されており、その形成間隔がおよそ０．２mm程度といっ
た微細なパターンで形成されている。よって、従来例に
係る画像表示パネル検査装置の検出部（２）にはＩＴＯ
電極（５）の形成間隔に対応して微細なピッチで、数百
本ものプローブピン（３）を形成しなければならないの
で、プローブピン（３）の数の増大や、ＩＴＯ電極
（５）の形成間隔の微細化に伴ってコストが非常に高く
なるので、不経済であり、また不注意によって非常に細
いプローブピン（３）が折れたりしてしまうので取扱が
困難であるという問題が生じていた。
トパネル（４）上には数百本のＩＴＯ電極（５）が形成
されており、その形成間隔がおよそ０．２mm程度といっ
た微細なパターンで形成されている。よって、従来例に
係る画像表示パネル検査装置の検出部（２）にはＩＴＯ
電極（５）の形成間隔に対応して微細なピッチで、数百
本ものプローブピン（３）を形成しなければならないの
で、プローブピン（３）の数の増大や、ＩＴＯ電極
（５）の形成間隔の微細化に伴ってコストが非常に高く
なるので、不経済であり、また不注意によって非常に細
いプローブピン（３）が折れたりしてしまうので取扱が
困難であるという問題が生じていた。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は上記従来の欠点
に鑑み成されたもので、図１に示すように、画像表示パ
ネルに駆動電圧を印加する検査手段（１１）と、前記画
像表示パネルの電極端子と前記検査手段（１１）とのコ
ンタクトをとる検出手段（１２）とを具備し、前記検出
手段（１２）は、薄膜（１３）上に電極配線（１４）が
形成されてなる配線フィルムからなることにより、コス
トダウンが可能になり、作業の煩雑化を抑止することが
可能となる画像表示パネル検査装置を提供するものであ
る。
に鑑み成されたもので、図１に示すように、画像表示パ
ネルに駆動電圧を印加する検査手段（１１）と、前記画
像表示パネルの電極端子と前記検査手段（１１）とのコ
ンタクトをとる検出手段（１２）とを具備し、前記検出
手段（１２）は、薄膜（１３）上に電極配線（１４）が
形成されてなる配線フィルムからなることにより、コス
トダウンが可能になり、作業の煩雑化を抑止することが
可能となる画像表示パネル検査装置を提供するものであ
る。
【０００８】
【作 用】本発明に係る画像表示パネル検査装置によれ
ば、図１に示すように、画像表示パネルの電極端子と前
記検査手段（１１）とのコンタクトをとる検出手段（１
２）は、薄膜（１３）上に電極配線（１４）が形成され
てなる配線フィルムからなる。
ば、図１に示すように、画像表示パネルの電極端子と前
記検査手段（１１）とのコンタクトをとる検出手段（１
２）は、薄膜（１３）上に電極配線（１４）が形成され
てなる配線フィルムからなる。
【０００９】このため、たとえＩＴＯ電極（５）が何本
あって、そのピッチが微細なものであっても、薄膜（１
３）上に電極配線（１４）を形成するだけの工程で、十
分要求に堪えうるだけの微細なパターンの検出手段（１
２）を、例えばフォトリソグラフィ法などによって比較
的容易に得ることができる。従って、微細なタングステ
ンの針を数百本も用いて検出部としていた従来の装置に
比して、製造も容易であって大幅なコストダウンが可能
になり、また微細化や、画像表示パネルの電極端子数の
増大にも十分対応できる。
あって、そのピッチが微細なものであっても、薄膜（１
３）上に電極配線（１４）を形成するだけの工程で、十
分要求に堪えうるだけの微細なパターンの検出手段（１
２）を、例えばフォトリソグラフィ法などによって比較
的容易に得ることができる。従って、微細なタングステ
ンの針を数百本も用いて検出部としていた従来の装置に
比して、製造も容易であって大幅なコストダウンが可能
になり、また微細化や、画像表示パネルの電極端子数の
増大にも十分対応できる。
【００１０】また、検査時には検出手段（１２）を画像
表示パネルの電極端子に圧着すればよく、従来のプロー
ブピンのようにピンが折れてしまうというような心配を
しなくても済むので、取扱も容易になる。
表示パネルの電極端子に圧着すればよく、従来のプロー
ブピンのようにピンが折れてしまうというような心配を
しなくても済むので、取扱も容易になる。
【００１１】
【実施例】以下に本発明の実施例に係る画像表示パネル
検査装置について図面を参照しながら説明する。本発明
の実施例に係る画像表示パネル検査装置は、図２に示す
ように、検査回路（１１）とフレキシブル基板〔以下Ｆ
ＰＣ基板（１２）と称する〕とからなる回路であって、
図３に示すように、駆動回路が接続される前の状態で
の、ガラス基板上に平行に配置されたＩＴＯ電極（１
６）がマトリクス上に形成されてなるドットマトリクス
方式の液晶パネル〔以下フラットパネル（１５）と称す
る〕に、製品と同様の条件で駆動電圧を印加し、フラッ
トパネル（１５）上に表示される画像をモニターするこ
とによって検査するための装置である。
検査装置について図面を参照しながら説明する。本発明
の実施例に係る画像表示パネル検査装置は、図２に示す
ように、検査回路（１１）とフレキシブル基板〔以下Ｆ
ＰＣ基板（１２）と称する〕とからなる回路であって、
図３に示すように、駆動回路が接続される前の状態で
の、ガラス基板上に平行に配置されたＩＴＯ電極（１
６）がマトリクス上に形成されてなるドットマトリクス
方式の液晶パネル〔以下フラットパネル（１５）と称す
る〕に、製品と同様の条件で駆動電圧を印加し、フラッ
トパネル（１５）上に表示される画像をモニターするこ
とによって検査するための装置である。
【００１２】当該装置において、検査回路（１１）は、
ＦＰＣ基板（１２）を介して、検査対象であるフラット
パネル（１５）のＩＴＯ電極（１６）に、製品と同様の
条件で駆動電圧を印加する回路である。ＦＰＣ基板（１
２）は、図２に示すように、ポリイミドからなるポリイ
ミドフィルム（１３）上に、銅などからなる電極配線で
ある検出電極（１４）が形成されてなり、検出電極（１
４）とフラットパネル（１５）上のＩＴＯ電極（１６）
とを接触させて電気的に接続するものである。
ＦＰＣ基板（１２）を介して、検査対象であるフラット
パネル（１５）のＩＴＯ電極（１６）に、製品と同様の
条件で駆動電圧を印加する回路である。ＦＰＣ基板（１
２）は、図２に示すように、ポリイミドからなるポリイ
ミドフィルム（１３）上に、銅などからなる電極配線で
ある検出電極（１４）が形成されてなり、検出電極（１
４）とフラットパネル（１５）上のＩＴＯ電極（１６）
とを接触させて電気的に接続するものである。
【００１３】なお、検出電極（１４）は、フラットパネ
ル（１５）上に形成されたＩＴＯ電極（１６）の本数と
同じ本数が用意されており、その形成間隔はＩＴＯ電極
（１６）の形成間隔と同じ間隔で形成されている。以下
で上記装置を用いる画像表示パネルの検査方法について
図３，図４を参照しながら説明する。なお、図４は図３
のＡ−Ａ線断面図である。
ル（１５）上に形成されたＩＴＯ電極（１６）の本数と
同じ本数が用意されており、その形成間隔はＩＴＯ電極
（１６）の形成間隔と同じ間隔で形成されている。以下
で上記装置を用いる画像表示パネルの検査方法について
図３，図４を参照しながら説明する。なお、図４は図３
のＡ−Ａ線断面図である。
【００１４】まず図３に示すように上記装置のＦＰＣ基
板（１２）上の検出電極（１４）と、フラットパネル
（１５）上のＩＴＯ電極（１６）とを位置合わせし、図
４に示すように上から加圧することで接触させる。その
後、検査回路（１１）から検出電極（１４）を介してそ
れぞれの検出電極（１４）に対応するＩＴＯ電極（１
６）に、製品と同様の条件の駆動電圧を印加する。
板（１２）上の検出電極（１４）と、フラットパネル
（１５）上のＩＴＯ電極（１６）とを位置合わせし、図
４に示すように上から加圧することで接触させる。その
後、検査回路（１１）から検出電極（１４）を介してそ
れぞれの検出電極（１４）に対応するＩＴＯ電極（１
６）に、製品と同様の条件の駆動電圧を印加する。
【００１５】その後、フラットパネル（１５）上に表示
される画像を目視でモニターして、検査対象であるフラ
ットパネル（１５）の良否を判定する。以上説明したよ
うに本発明の実施例に係る画像表示パネル検査装置によ
れば、図３に示すように、ＦＰＣ基板（１２）を用いて
フラットパネル（１５）上のＩＴＯ電極（１６）と検査
回路（１１）とのコンタクトをとっている。
される画像を目視でモニターして、検査対象であるフラ
ットパネル（１５）の良否を判定する。以上説明したよ
うに本発明の実施例に係る画像表示パネル検査装置によ
れば、図３に示すように、ＦＰＣ基板（１２）を用いて
フラットパネル（１５）上のＩＴＯ電極（１６）と検査
回路（１１）とのコンタクトをとっている。
【００１６】このため、たとえＩＴＯ電極（１６）が何
本あって、そのピッチが微細なものであっても、ＦＰＣ
基板（１２）の製造上はポリイミドフィルム（１３）上
に検出電極（１４）を数百本形成するだけの工程であっ
て、例えばフォトリソグラフィ法などで要求に堪えうる
だけの微細な検出電極（１４）のパターンを、比較的容
易に形成することができる。
本あって、そのピッチが微細なものであっても、ＦＰＣ
基板（１２）の製造上はポリイミドフィルム（１３）上
に検出電極（１４）を数百本形成するだけの工程であっ
て、例えばフォトリソグラフィ法などで要求に堪えうる
だけの微細な検出電極（１４）のパターンを、比較的容
易に形成することができる。
【００１７】従って、微細なタングステンの針を数百本
も用いて検出部（２）としていた従来の装置に比して、
製造も容易であって大幅なコストダウンが可能になり、
またさらなる微細化や、画像表示パネルの電極端子数の
増大にも十分対応できる。また、検査時にはＦＰＣ基板
（１２）の検出電極（１４）をＩＴＯ電極（１６）に圧
着すればよく、従来装置のプローブピン（３）のように
ピンが折れてしまうというような心配をしなくても済む
ので、取扱も容易になる。
も用いて検出部（２）としていた従来の装置に比して、
製造も容易であって大幅なコストダウンが可能になり、
またさらなる微細化や、画像表示パネルの電極端子数の
増大にも十分対応できる。また、検査時にはＦＰＣ基板
（１２）の検出電極（１４）をＩＴＯ電極（１６）に圧
着すればよく、従来装置のプローブピン（３）のように
ピンが折れてしまうというような心配をしなくても済む
ので、取扱も容易になる。
【００１８】なお、本実施例ではドットマトリクス方式
の液晶表示パネルの検査について説明したが、本発明の
検査対象はこれに限らず、例えばＴＦＴ型の液晶表示パ
ネルや、プラズマディスプレイなどのパネルにも適用可
能である。
の液晶表示パネルの検査について説明したが、本発明の
検査対象はこれに限らず、例えばＴＦＴ型の液晶表示パ
ネルや、プラズマディスプレイなどのパネルにも適用可
能である。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る画像
表示パネル検査装置によれば、画像表示パネルの電極端
子と前記検査手段（１１）とのコンタクトをとる検出手
段（１２）は、薄膜（１３）上に電極配線（１４）が形
成されてなる配線フィルムからなる。
表示パネル検査装置によれば、画像表示パネルの電極端
子と前記検査手段（１１）とのコンタクトをとる検出手
段（１２）は、薄膜（１３）上に電極配線（１４）が形
成されてなる配線フィルムからなる。
【００２０】このため、十分要求に堪えうるだけの微細
なパターンの検出手段（１２）を比較的容易に得ること
ができるので、微細なタングステンの針を数百本も用い
て検出部としていた従来の装置に比して、大幅なコスト
ダウンが可能になり、また微細化や、画像表示パネルの
電極端子数の増大にも十分対応できる。また、従来のプ
ローブピンのようにピンが折れてしまうというような心
配をしなくても済むので、取扱も容易になる。
なパターンの検出手段（１２）を比較的容易に得ること
ができるので、微細なタングステンの針を数百本も用い
て検出部としていた従来の装置に比して、大幅なコスト
ダウンが可能になり、また微細化や、画像表示パネルの
電極端子数の増大にも十分対応できる。また、従来のプ
ローブピンのようにピンが折れてしまうというような心
配をしなくても済むので、取扱も容易になる。
【図１】本発明に係る画像表示パネル検査装置の原理図
である。
である。
【図２】本発明の実施例に係る画像表示パネル検査装置
の構成図である。
の構成図である。
【図３】本発明の実施例に係る画像表示パネル検査装置
の使用方法を説明する上面図である。
の使用方法を説明する上面図である。
【図４】本発明の実施例に係る画像表示パネル検査装置
の使用方法を説明する断面図である。
の使用方法を説明する断面図である。
【図５】従来例に係る画像表示パネル検査装置の使用方
法の説明図である。
法の説明図である。
（１１） 検査手段〔検査回路〕 （１２） ＦＰＣ基板〔検出手段〕 （１３） ポリイミドフィルム〔薄膜〕 （１４） 検出電極〔電極配線〕 （１５） フラットパネル （１６） ＩＴＯ電極
Claims (1)
- 【請求項１】 画像表示パネルに駆動電圧を印加する検
査手段（１１）と、前記画像表示パネルの電極端子と前
記検査手段（１１）とのコンタクトをとる検出手段（１
２）とを具備し、 前記検出手段（１２）は、薄膜（１３）上に電極配線
（１４）が形成されてなる配線フィルムからなることを
特徴とする画像表示パネル検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23349293A JPH0792918A (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 画像表示パネル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23349293A JPH0792918A (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 画像表示パネル検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792918A true JPH0792918A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=16955868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23349293A Pending JPH0792918A (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 画像表示パネル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0792918A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002207437A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-07-26 | Samsung Electronics Co Ltd | 信号伝送用フィルム、これを含む制御信号部及び液晶表示装置 |
-
1993
- 1993-09-20 JP JP23349293A patent/JPH0792918A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002207437A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-07-26 | Samsung Electronics Co Ltd | 信号伝送用フィルム、これを含む制御信号部及び液晶表示装置 |
| JP4618951B2 (ja) * | 2000-09-08 | 2011-01-26 | 三星電子株式会社 | 信号伝送用フィルム、これを含む制御信号部及び液晶表示装置 |
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