JPH0782080B2 - 遮断器の試験装置 - Google Patents

遮断器の試験装置

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JPH0782080B2
JPH0782080B2 JP22393687A JP22393687A JPH0782080B2 JP H0782080 B2 JPH0782080 B2 JP H0782080B2 JP 22393687 A JP22393687 A JP 22393687A JP 22393687 A JP22393687 A JP 22393687A JP H0782080 B2 JPH0782080 B2 JP H0782080B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、遮断器の進み小電流遮断試験装置に係り、特
に、低電圧、小容量の試験設備を用いて、高電圧大容量
で試験する場合と等価で、簡単安価な、遮断器の進み小
電流遮断性能検証に好適な試験装置に関する。
〔従来の技術〕
試験対象となる供試遮断器の進み小電流の遮断電流、試
験印加電圧に対し、試験設備の電流、電圧が十分な場合
には、一般に、第5図に示すような回路構成で性能検証
が行なわれている。すなわち、短絡発電機1から、投入
スイッチ2、リアクトル3を経由して変圧器4を励磁し
て、その変圧器4の二次側に発生した電圧eを試験印加
電圧として、閉路中の供試遮断器7、コンデンサ5に進
み小電流iを流す。その後、遮断器7に遮断指令を送っ
て遮断器7を開き、電流iを遮断したあと、遮断器7の
極間に現われる電圧に十分絶え得るかどうかを検証する
最も基本的な回路である。
技術の進歩によって供試遮断器7が高電圧化して来て、
第5図のように、電流iと電圧eを一つの変圧器から供
給することが設備的に困難になってきた今日では、進み
小電流遮断といえども、低電圧で大きな電流を流す電流
源回路と電流はほとんど流さずに高い電圧を発生して印
加出来る電圧源回路を合成した進み小電流等価試験法が
用いられている。
第6図はその一例である。
変圧器4の二次側にコンデンサ5、補助遮断器6、供試
遮断器7を直列に接続して電流源の回路を構成する。一
方、変圧器9の二次側からコンデンサ11を経由して電圧
源回路とし、供試遮断器7に所定の電圧を印加できるよ
うにした等価試験回路は特開昭48−64470号公報に示さ
れている。ここで、電流源側変圧器4と電圧源側変圧器
9の二次側の電圧極性が同一になるように発電機1に接
続する。e1≪e2であり、個々の回路に流れる電流i1とi2
の関係をi1≫i2のように、変圧器4、9およびコンデン
サ5、11を選ぶことによって、全容量で試験する場合と
等価な試験が可能である。
しかし、このような等価試験法をもってしても、手持ち
の電圧源変圧器9の定格電圧を上回ってしまう供試遮断
器の性能検証は出来ないという問題に直面する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は、第5図に示すように、直接試験回路の
変圧器4、コンデンサ5、または第6図に示すような、
等価試験回路の電圧源側変圧器9、同コンデンサ11を、
それぞれ一セット接続した回路構成である。従って、電
圧的には、それぞれの変圧器一台分の出力電圧が進み小
電流遮断試験可能な設備容量ということになる。従っ
て、その電圧を上回わる遮断器の耐電圧検証には、変圧
器とコンデンサ設備を増設しなければならないという大
きな問題があった。
本発明の目的は新しい進み小電流遮断試験法を提供し、
在来の設備の接続変更程度で、簡単で安価に、従来技術
の二倍の電圧まで検証電圧範囲を拡張する試験装置を提
供することに有る。
〔問題を解決するための手段〕
上記目的は、供試遮断器の各々の端子に変圧器とコンデ
ンサから成る進み電流が流れる回路を接続し、電圧の極
性を逆極性にすることによって達成される。このような
新しい回路を採用することによって、各々の変圧器の定
格電圧の和に相当する電圧までの性能検証が可能にな
る。全く同一定格電圧の変圧器、および、コンデンサが
設備として二組ある場合には、従来方式の場合の試験電
圧に対し二倍の電圧まで試験電圧を拡張できる。
〔作用〕
すなわち、進み小電流は、一方の変圧器からコンデンサ
を通って供試遮断器を経由し、もう一方のコンデンサ、
および変圧器を通って行く直列回路を流れる。その電流
値は、各々のコンデンサの直列容量と、各々の変圧器の
出力電圧の和の電圧で決まる値となる。供試遮断器が遮
断指令を受けて開極し、進み小電流を遮断すると、その
遮断瞬時から、供試遮断器の各々の端子に各々の変圧器
の出力電圧に対して、各々のコンデンサ残留電圧が重量
された形で、頂度、各々対地間電圧位相が逆向きの(1
−cosvt)電圧波形が現われる。
極間電圧は、従って、個々の変圧器の出力電圧の和の電
圧を基準とした(1−cosvt)波形となって現われ、あ
たかも、二倍の電圧の進み小電流試験を一台の変圧器で
実施したと同じ検証が可能である。
〔参考例〕
以下、本発明の実施例を説明する前に、参考例を第1図
および第2図により説明する。第1図は、電流も電圧も
一緒の回路から供給するもので、第5図の従来方式に対
して電圧検証範囲を拡張した直接試験回路である。
1は短絡発電機、2は投入SW、3は回路全体のインダク
タンス成分、9および10はそれぞれ、高電圧用の変圧器
である。
変圧器9の二次側高圧端子にコンデンサ11、また、もう
一方の変圧器の二次側高圧端子にコンデンサ12を接続し
て、各々のコンデンサ11、12の他方の端子を供試遮断器
7の別々の端子に接続して、高電圧側を構成する。各々
の変圧器の二次側アース端子同士を接続して接地に落
す。
変圧器9、10の各々の二次側電圧の極性は互いに逆極
性、すなわち、変圧器9、10、コンデンサ11、12、供試
遮断器7が直列回路になるように構成する。変圧器9、
10の一次側の接続は、ここでは短絡発電機1、投入SW
2、インダクタンス成分3の直列回路に対して、並列に
なるような回路で示しているが、試験電圧、電流の適切
な値選択などの目的で直列に接続することもある。
この様に接続された参考例の新しい進み小電流試験回路
では、発電機1から投入SW2によって変圧器9、10の所
定の電圧を印加すると、供試遮断器7が閉路している状
態で、各々の変圧器9、10の二次側変圧ea、ebのもと
で、コンデンサ11、12の直列回路を通って供試遮断器7
に進み小電流iが流れる。この状態で、供試遮断器7に
遮断指令を与えて電流iを遮断すると、遮断直後から、
供試遮断器のそれぞれの端子に、極性が完全に逆向の対
地電圧va、vbが印加される。従って、供試遮断器7の極
間電圧vはvaとvbの差として現れるので、第2図に示す
ように、各々の変圧器9、10の出力電圧実効値Ea、Eb
和の に相当する波高値をもつ給与電圧の試験を行ったことに
なる。変圧器9、10の出力電圧ならびに、コンデンサ1
1、12の定格容量がそれぞれ等しい場合には、従来の試
験回路の二倍の電圧までの検証が可能である。
〔実施例〕
第3図は、第1図の方法で遮断電源が不足する場合に用
いるのに適する等価試験法に関するもので、従来用いて
いた第6図の回路に対して電圧検証範囲を拡張した本発
明の実施例であり、第4図はその遮断現象を説明する図
である。
第1図で用いた回路をそのまま電圧源回路として用い、
それに電流源回路を付加して合成した試験装置である。
4は電流源用変圧器、5は同じく電流源用のコンデン
サ、6と8は、補助遮断器である。
このような回路構成の場合には電流源側の電圧e1は、電
圧源側のそれぞれの変圧器9、10の二次側電圧e2a、e2b
に比較して十分小さい値とし、コンデンサ5は低圧大電
流に適するように結線できるので、電流源側の電流i1
電圧源側電流i2と無関係に任意に選択出来て、かつ、i1
≫i2とすることが可能であるから、供試遮断器7は、i
=i1+i2≒i1という大きな電流を遮断し、かつ、その後
の極間耐電圧としては、第1図、第2図に示したのと同
様に、従来に倍加した検証ができる。
用いる変圧器の定格電圧が異った際には、本発明の遮断
試験装置における検証試験電圧範囲は両変圧器の出力電
圧のそれぞれの和に相当するところまで拡張可能とな
る。
〔発明の効果〕
本発明によれば、同一定格の変圧器とコンデンサ回路を
二組用いて、その変圧器の出力電圧の二倍の電圧まで、
遮断器の進み小電流遮断性能検証能力を拡張できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を説明するための参考試験装置を示す回
路図、第2図は第1図の回路の遮断現象説明図、第3図
は本発明の実施例である試験装置の回路図、第4図は第
3図の回路の遮断現象説明図、第5図は従来の直接試験
進み小電流遮断回路図、第6図は従来の進み小電流遮断
等価試験回路図である。 1……短絡変圧器、2……投入SW、7……供試遮断器、
9……変圧器、10……変圧器、11……コンデンサ、12…
…コンデンサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】変圧器とコンデンサを直列にした進み小電
    流回路を二組設け、前記変圧器のアース端子を共通に
    し、第一の組みの回路の前記コンデンサの一方の端子を
    供試遮断器に接続する一方の端子へ、第二の組みの回路
    の前記コンデンサの一方の端子を前記供試遮断器に接続
    する他方の端子へ、それぞれ接続する電圧源部を有する
    とともに、回路切離し用の2台の補助遮断器をそれぞれ
    前記供試遮断器の各端子に接続する電流源部を有し、供
    試遮断器を試験する際に、前記第一の組みの回路、前記
    供試遮断器、前記第二の組みの回路とが電気的に直列回
    路を構成すると共に、前記二組の進み小電流回路から前
    記供試遮断器へ流入する電流とほぼ同じ位相の電流を前
    記2台の補助遮断器から流入せしめるようにしたことを
    特徴とする遮断器の試験装置。
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