JP2605045Y2 - 進み電流遮断試験回路 - Google Patents
進み電流遮断試験回路Info
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- JP2605045Y2 JP2605045Y2 JP1992000691U JP69192U JP2605045Y2 JP 2605045 Y2 JP2605045 Y2 JP 2605045Y2 JP 1992000691 U JP1992000691 U JP 1992000691U JP 69192 U JP69192 U JP 69192U JP 2605045 Y2 JP2605045 Y2 JP 2605045Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、進み電流の遮断試験を
行うために用いる進み電流遮断試験回路に関するもので
ある。
行うために用いる進み電流遮断試験回路に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】並列コンデンサ等の進み小電流が流れる
設備を開閉する遮断器の試験を行う方法として、図４に
示したような合成短絡試験回路を用いる方法がある。同
図においてＧは短絡発電機、ＢＵは保護遮断器、Ｌo は
リアクトル、ＭＳは投入器で、これらにより試験用の交
流電源回路１が構成されている。Ｌは直列リアクトル、
ＡＵＸは補助遮断器、Ｔ1 ，Ｔ2 は１対の供試遮断器接
続端子、ＴＰは供試遮断器接続端子間に接続された供試
遮断器で、直列リアクトルＬと補助遮断器ＡＵＸとによ
り、交流電源回路１の出力を入力として供試遮断器出力
端子間に接続された供試遮断器ＴＰに遮断電流を供給す
る電流源回路２が構成されている。またＴｒは交流電源
回路１の出力電圧が一次側に印加された昇圧トランス、
Ｃは昇圧トランスＴｒの二次側に設けられたコンデンサ
で、これら昇圧トランスＴｒ及びコンデンサＣにより、
供試遮断器出力端子間に過渡回復電圧を供給する電圧源
回路３が構成されている。
設備を開閉する遮断器の試験を行う方法として、図４に
示したような合成短絡試験回路を用いる方法がある。同
図においてＧは短絡発電機、ＢＵは保護遮断器、Ｌo は
リアクトル、ＭＳは投入器で、これらにより試験用の交
流電源回路１が構成されている。Ｌは直列リアクトル、
ＡＵＸは補助遮断器、Ｔ1 ，Ｔ2 は１対の供試遮断器接
続端子、ＴＰは供試遮断器接続端子間に接続された供試
遮断器で、直列リアクトルＬと補助遮断器ＡＵＸとによ
り、交流電源回路１の出力を入力として供試遮断器出力
端子間に接続された供試遮断器ＴＰに遮断電流を供給す
る電流源回路２が構成されている。またＴｒは交流電源
回路１の出力電圧が一次側に印加された昇圧トランス、
Ｃは昇圧トランスＴｒの二次側に設けられたコンデンサ
で、これら昇圧トランスＴｒ及びコンデンサＣにより、
供試遮断器出力端子間に過渡回復電圧を供給する電圧源
回路３が構成されている。
【０００３】上記の試験回路の動作を示すタイムチャー
トは図５（Ａ）ないし（Ｇ）に示す通りである。図５
（Ａ），（Ｂ）及び（Ｃ）はそれぞれ遮断電流ｉ、電源
回路１の出力電圧Ｖ、過渡回復電圧（供試遮断器接続端
子Ｔ1 ，Ｔ2 間の電圧）Ｖo を示し、（Ｄ），（Ｅ），
（Ｆ）及び（Ｇ）はそれぞれ投入器ＭＳ、供試遮断器Ｔ
Ｐ、補助遮断器ＡＵＸ及び保護遮断器ＢＵのオンオフ動
作を示している。
トは図５（Ａ）ないし（Ｇ）に示す通りである。図５
（Ａ），（Ｂ）及び（Ｃ）はそれぞれ遮断電流ｉ、電源
回路１の出力電圧Ｖ、過渡回復電圧（供試遮断器接続端
子Ｔ1 ，Ｔ2 間の電圧）Ｖo を示し、（Ｄ），（Ｅ），
（Ｆ）及び（Ｇ）はそれぞれ投入器ＭＳ、供試遮断器Ｔ
Ｐ、補助遮断器ＡＵＸ及び保護遮断器ＢＵのオンオフ動
作を示している。
【０００４】時刻ｔ1 において投入器ＭＳが投入される
と、交流電源回路１から直列リアクトルＬを通して供試
遮断器ＴＰに遮断電流ｉが供給される。時刻ｔ2 で供試
遮断器ＴＰが開かれる。時刻ｔ3 で電流が零点を迎えて
遮断すると、昇圧トランスＴr からコンデンサＣを通し
て供試遮断器ＴＰの極間に図５（Ｃ）に示したような過
渡回復電圧Ｖo が供給され、供試遮断器の極間の絶縁が
この過渡回復電圧に耐え得るか否かの検証が行われる。
補助遮断器ＡＵＸは供試遮断器ＴＰが開かれると同時に
開いて、電流源回路を電圧源回路から切り離す。次いで
時刻ｔ4 において保護遮断器ＢＵが開き、試験を終了す
る。
と、交流電源回路１から直列リアクトルＬを通して供試
遮断器ＴＰに遮断電流ｉが供給される。時刻ｔ2 で供試
遮断器ＴＰが開かれる。時刻ｔ3 で電流が零点を迎えて
遮断すると、昇圧トランスＴr からコンデンサＣを通し
て供試遮断器ＴＰの極間に図５（Ｃ）に示したような過
渡回復電圧Ｖo が供給され、供試遮断器の極間の絶縁が
この過渡回復電圧に耐え得るか否かの検証が行われる。
補助遮断器ＡＵＸは供試遮断器ＴＰが開かれると同時に
開いて、電流源回路を電圧源回路から切り離す。次いで
時刻ｔ4 において保護遮断器ＢＵが開き、試験を終了す
る。
【０００５】
【考案が解決しようとする課題】実系統の並列コンデン
サ設備等において進み小電流を遮断する際には、遮断器
の負荷側端子にコンデンサの残留電圧が印加され、電源
側端子に交流電圧が印加される。これに対し、図４に示
した遮断試験回路では、供試遮断器の非接地側の端子
に、図５（Ｃ）に示したようにコンデンサの残留電圧と
交流電圧とが重畳した電圧が印加され、接地側の端子は
接地電位に保たれるため、次のような問題がある。
サ設備等において進み小電流を遮断する際には、遮断器
の負荷側端子にコンデンサの残留電圧が印加され、電源
側端子に交流電圧が印加される。これに対し、図４に示
した遮断試験回路では、供試遮断器の非接地側の端子
に、図５（Ｃ）に示したようにコンデンサの残留電圧と
交流電圧とが重畳した電圧が印加され、接地側の端子は
接地電位に保たれるため、次のような問題がある。
【０００６】（ａ）遮断器の両端子にそれぞれ電圧が印
加されるケースと、遮断器の片側の端子に全電圧が印加
されるケースとでは、遮断器の接点周辺の電界強度が異
なるため上記の試験回路では、実系統における遮断の際
の状況を正確に検証しているとはいえず、検証精度が問
題になることがある。
加されるケースと、遮断器の片側の端子に全電圧が印加
されるケースとでは、遮断器の接点周辺の電界強度が異
なるため上記の試験回路では、実系統における遮断の際
の状況を正確に検証しているとはいえず、検証精度が問
題になることがある。
【０００７】（ｂ）上記の試験回路では、供試遮断器の
片側の端子と接地間に実系統において印加される電圧の
２倍の電圧が印加されるため、片側の端子に対して要求
される対地間絶縁性能が過酷すぎる。これに対し、他方
の端子の対地間絶縁性能はまったく検証されない。
片側の端子と接地間に実系統において印加される電圧の
２倍の電圧が印加されるため、片側の端子に対して要求
される対地間絶縁性能が過酷すぎる。これに対し、他方
の端子の対地間絶縁性能はまったく検証されない。
【０００８】本考案の目的は、上記の問題を解決した進
み電流遮断試験回路を提供することにある。
み電流遮断試験回路を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本考案は、一方の出力端
子が接地された交流電源回路１と、供試遮断器ＴＰを接
続する１対の供試遮断器接続端子Ｔ1 ，Ｔ2 と、交流電
源回路１の非接地側の出力端子と一方の供試遮断器接続
端子Ｔ1 との間に挿入された直列リアクトルＬを備えて
交流電源回路１から直列リアクトルＬを通して供試遮断
器接続端子Ｔ1，Ｔ2 間に接続された供試遮断器ＴＰに
遮断電流を供給する電流源回路２と、交流電源回路１の
出力電圧が一次側に印加された昇圧トランスＴｒと該昇
圧トランスＴｒの二次側に設けられたコンデンサＣとを
有して昇圧トランスＴｒの二次側からコンデンサＣを通
して供試遮断器接続端子Ｔ1 ，Ｔ2 間に接続された供試
遮断器ＴＰに過渡回復電圧を印加する電圧源回路３とを
備えた進み電流遮断試験回路に係わるものである。
子が接地された交流電源回路１と、供試遮断器ＴＰを接
続する１対の供試遮断器接続端子Ｔ1 ，Ｔ2 と、交流電
源回路１の非接地側の出力端子と一方の供試遮断器接続
端子Ｔ1 との間に挿入された直列リアクトルＬを備えて
交流電源回路１から直列リアクトルＬを通して供試遮断
器接続端子Ｔ1，Ｔ2 間に接続された供試遮断器ＴＰに
遮断電流を供給する電流源回路２と、交流電源回路１の
出力電圧が一次側に印加された昇圧トランスＴｒと該昇
圧トランスＴｒの二次側に設けられたコンデンサＣとを
有して昇圧トランスＴｒの二次側からコンデンサＣを通
して供試遮断器接続端子Ｔ1 ，Ｔ2 間に接続された供試
遮断器ＴＰに過渡回復電圧を印加する電圧源回路３とを
備えた進み電流遮断試験回路に係わるものである。
【００１０】本考案においては、電圧源回路３のコンデ
ンサＣを、他方の供試遮断器接続端子Ｔ2 と昇圧トラン
スＴｒの２次コイルの一端との間に接続し、電圧源回路
３の昇圧トランスの二次コイルの他端を、一方の供試遮
断器接続端子Ｔ1 に接続する。また電圧源回路３の昇圧
トランスの２次コイルの一端と接地間にコンデンサＣの
インピーダンスよりも十分大きい抵抗値を有する抵抗器
Ｒを接続する。
ンサＣを、他方の供試遮断器接続端子Ｔ2 と昇圧トラン
スＴｒの２次コイルの一端との間に接続し、電圧源回路
３の昇圧トランスの二次コイルの他端を、一方の供試遮
断器接続端子Ｔ1 に接続する。また電圧源回路３の昇圧
トランスの２次コイルの一端と接地間にコンデンサＣの
インピーダンスよりも十分大きい抵抗値を有する抵抗器
Ｒを接続する。
【００１１】上記電流源回路２には、交流電源回路１の
非接地側の出力端子と一方の供試遮断器接続端子Ｔ1 と
の間を接続する回路に直列リアクトルに対して直列に接
続された状態で設けられて供試遮断器とともに開かれる
第１の補助遮断器ＡＵＸ1 と、他方の供試遮断器接続端
子Ｔ2 と接地間に接続されて供試遮断器ＴＰとともに開
かれる第２の補助遮断器ＡＵＸ2 とを設けておく。
非接地側の出力端子と一方の供試遮断器接続端子Ｔ1 と
の間を接続する回路に直列リアクトルに対して直列に接
続された状態で設けられて供試遮断器とともに開かれる
第１の補助遮断器ＡＵＸ1 と、他方の供試遮断器接続端
子Ｔ2 と接地間に接続されて供試遮断器ＴＰとともに開
かれる第２の補助遮断器ＡＵＸ2 とを設けておく。
【００１２】
【作用】上記のように構成すると、供試遮断器と第１及
び第２の補助遮断器とが開かれて電流が遮断された後
は、一方の供試遮断器接続端子Ｔ1 と接地間に昇圧トラ
ンスの２次コイルと抵抗器との直列回路の両端に得られ
る交流電圧が印加されるとともに、他方の供試遮断器接
続端子と接地間にコンデンサと抵抗器との直列回路の両
端に得られる直流電圧が印加される。これら交流電圧と
直流電圧との差が供試遮断器の極間に過渡回復電圧とし
て印加される。
び第２の補助遮断器とが開かれて電流が遮断された後
は、一方の供試遮断器接続端子Ｔ1 と接地間に昇圧トラ
ンスの２次コイルと抵抗器との直列回路の両端に得られ
る交流電圧が印加されるとともに、他方の供試遮断器接
続端子と接地間にコンデンサと抵抗器との直列回路の両
端に得られる直流電圧が印加される。これら交流電圧と
直流電圧との差が供試遮断器の極間に過渡回復電圧とし
て印加される。
【００１３】上記のように構成すると、供試遮断器ＴＰ
の負荷側端子にコンデンサＣの残留電圧が印加されるの
で、遮断器の極間の絶縁性能を検証することができるの
はもちろん、遮断器の負荷側電極と対地間の絶縁性能を
も検証することができ、実系統における進み小電流遮断
時の状態に近い状態をシミュレートして検証精度を高め
ることができる。
の負荷側端子にコンデンサＣの残留電圧が印加されるの
で、遮断器の極間の絶縁性能を検証することができるの
はもちろん、遮断器の負荷側電極と対地間の絶縁性能を
も検証することができ、実系統における進み小電流遮断
時の状態に近い状態をシミュレートして検証精度を高め
ることができる。
【００１４】
【実施例】図１は本考案の実施例を示したもので、同図
において図４に示した従来の試験回路の各部と同等の部
分にはそれぞれ同一の符号を付してある。
において図４に示した従来の試験回路の各部と同等の部
分にはそれぞれ同一の符号を付してある。
【００１５】本考案においてはコンデンサＣが、接地側
の供試遮断器接続端子Ｔ2 と昇圧トランスＴｒの２次コ
イルの一端との間に接続され、コンデンサＣと昇圧トラ
ンスの２次コイルとの接続点と接地間にコンデンサＣの
インピーダンスよりも十分大きい抵抗値を有する抵抗器
Ｒが接続されている。また直列リアクトルＬと一方の供
試遮断器接続端子Ｔ1 との間及び他方の供試遮断器接続
端子Ｔ2 と接地間にそれぞれ供試遮断器ＴＰの遮断時に
開かれる第１及び第２の補助遮断器ＡＵＸ1 及びＡＵＸ
2 が接続されている。
の供試遮断器接続端子Ｔ2 と昇圧トランスＴｒの２次コ
イルの一端との間に接続され、コンデンサＣと昇圧トラ
ンスの２次コイルとの接続点と接地間にコンデンサＣの
インピーダンスよりも十分大きい抵抗値を有する抵抗器
Ｒが接続されている。また直列リアクトルＬと一方の供
試遮断器接続端子Ｔ1 との間及び他方の供試遮断器接続
端子Ｔ2 と接地間にそれぞれ供試遮断器ＴＰの遮断時に
開かれる第１及び第２の補助遮断器ＡＵＸ1 及びＡＵＸ
2 が接続されている。
【００１６】その他の点は図４に示した従来の試験回路
と同様であり、短絡発電機Ｇと保護遮断器ＢＵとリアク
トルＬo と投入器ＭＳとにより交流電源回路１が構成さ
れている。
と同様であり、短絡発電機Ｇと保護遮断器ＢＵとリアク
トルＬo と投入器ＭＳとにより交流電源回路１が構成さ
れている。
【００１７】本考案に係わる試験回路では、交流電源回
路１から、直列リアクトルＬと第１及び第２の補助遮断
器ＡＵＸ1 及びＡＵＸ2 とにより構成された電流源回路
２を通して供試遮断器出力端子Ｔ1 ，Ｔ2 に接続された
供試遮断器ＴＰに遮断電流を供給し、交流電源回路１か
ら、昇圧トランスＴr とコンデンサＣとにより構成され
た電圧源回路３を通して、供試遮断器接続端子間に接続
された供試遮断器ＴＰに過渡回復電圧を印加する。
路１から、直列リアクトルＬと第１及び第２の補助遮断
器ＡＵＸ1 及びＡＵＸ2 とにより構成された電流源回路
２を通して供試遮断器出力端子Ｔ1 ，Ｔ2 に接続された
供試遮断器ＴＰに遮断電流を供給し、交流電源回路１か
ら、昇圧トランスＴr とコンデンサＣとにより構成され
た電圧源回路３を通して、供試遮断器接続端子間に接続
された供試遮断器ＴＰに過渡回復電圧を印加する。
【００１８】上記の試験回路の動作を示すタイムチャー
トは図２（Ａ）ないし（Ｈ）に示す通りである。図２
（Ａ），（Ｂ）及び（Ｃ）はそれぞれ遮断電流ｉ、電源
回路１の出力電圧Ｖ、過渡回復電圧Ｖo を示し、
（Ｄ），（Ｅ），（Ｆ），（Ｇ）及び（Ｈ）はそれぞれ
投入器ＭＳ、供試遮断器ＴＰ、補助遮断器ＡＵＸ1 ，Ａ
ＵＸ2及び保護遮断器ＢＵのオンオフ動作を示してい
る。
トは図２（Ａ）ないし（Ｈ）に示す通りである。図２
（Ａ），（Ｂ）及び（Ｃ）はそれぞれ遮断電流ｉ、電源
回路１の出力電圧Ｖ、過渡回復電圧Ｖo を示し、
（Ｄ），（Ｅ），（Ｆ），（Ｇ）及び（Ｈ）はそれぞれ
投入器ＭＳ、供試遮断器ＴＰ、補助遮断器ＡＵＸ1 ，Ａ
ＵＸ2及び保護遮断器ＢＵのオンオフ動作を示してい
る。
【００１９】時刻ｔ1 において投入器ＭＳが投入される
と、交流電源回路１から直列リアクトルＬと補助遮断器
ＡＵＸ1 及びＡＵＸ2 とを通して供試遮断器ＴＰに遮断
電流ｉが供給される。時刻ｔ2 で供試遮断器ＴＰと第１
及び第２の補助遮断器ＡＵＸ1 及びＡＵＸ2 とが開かれ
る。時刻ｔ3 で電流が零点を迎えて遮断すると、昇圧ト
ランスＴr の２次コイルと抵抗器Ｒとの直列回路の両端
の交流電圧（図２Ｃの曲線ａ）が一方の供試遮断器接続
端子Ｔ1 と接地間に印加されると同時に、他方の供試遮
断器接続端子Ｔ2 と接地間に、コンデンサＣと抵抗器Ｒ
との直列回路の両端の直流電圧（図２Ｃの曲線ｂ）が印
加される。
と、交流電源回路１から直列リアクトルＬと補助遮断器
ＡＵＸ1 及びＡＵＸ2 とを通して供試遮断器ＴＰに遮断
電流ｉが供給される。時刻ｔ2 で供試遮断器ＴＰと第１
及び第２の補助遮断器ＡＵＸ1 及びＡＵＸ2 とが開かれ
る。時刻ｔ3 で電流が零点を迎えて遮断すると、昇圧ト
ランスＴr の２次コイルと抵抗器Ｒとの直列回路の両端
の交流電圧（図２Ｃの曲線ａ）が一方の供試遮断器接続
端子Ｔ1 と接地間に印加されると同時に、他方の供試遮
断器接続端子Ｔ2 と接地間に、コンデンサＣと抵抗器Ｒ
との直列回路の両端の直流電圧（図２Ｃの曲線ｂ）が印
加される。
【００２０】供試遮断器ＴＰが閉じられていて、補助遮
断器ＡＵＸ1 ，ＡＵＸ2 が閉じている状態では、抵抗器
ＲとコンデンサＣとが並列に接続されているため、抵抗
器Ｒの両端の電圧はコンデンサＣの端子電圧に等しい状
態にあるが、供試遮断器ＴＰ及び補助遮断器ＡＵＸ1 ，
ＡＵＸ2 が開かれて電流が遮断すると、コンデンサＣが
対地浮遊静電容量Ｃo を介して抵抗器Ｒの両端に接続さ
れた状態になるため、抵抗器Ｒの両端の電圧は、コンデ
ンサＣの端子電圧を対地浮遊静電容量Ｃo と抵抗器Ｒの
直列回路により分圧した電圧まで低下する。そのため、
抵抗器Ｒの両端の電圧は、コンデンサＣの静電容量と抵
抗器Ｒの抵抗値との積によりほぼ決まる時定数τで急速
に零になる。その結果、図１のＺ点（抵抗器Ｒとコンデ
ンサＣとの接続点）の電位（図２Ｃの曲線ｃ）は、時刻
ｔ3 で電流が遮断された後、急速にほぼ接地電位にな
り、供試遮断器ＴＰの両端にはそれぞれ図２（Ｃ）に曲
線ａ及びｂで示した電圧が印加される。すなわち、図２
（Ｃ）の曲線ａの電圧と曲線ｂの電圧との差が供試遮断
器の極間に印加される過渡回復電圧Ｖo となる。供試遮
断器ＴＰの極間の絶縁がこの過渡回復電圧に耐え得るか
否かの検証が行われる。次いで時刻ｔ4 において保護遮
断器ＢＵが開き、試験を終了する。
断器ＡＵＸ1 ，ＡＵＸ2 が閉じている状態では、抵抗器
ＲとコンデンサＣとが並列に接続されているため、抵抗
器Ｒの両端の電圧はコンデンサＣの端子電圧に等しい状
態にあるが、供試遮断器ＴＰ及び補助遮断器ＡＵＸ1 ，
ＡＵＸ2 が開かれて電流が遮断すると、コンデンサＣが
対地浮遊静電容量Ｃo を介して抵抗器Ｒの両端に接続さ
れた状態になるため、抵抗器Ｒの両端の電圧は、コンデ
ンサＣの端子電圧を対地浮遊静電容量Ｃo と抵抗器Ｒの
直列回路により分圧した電圧まで低下する。そのため、
抵抗器Ｒの両端の電圧は、コンデンサＣの静電容量と抵
抗器Ｒの抵抗値との積によりほぼ決まる時定数τで急速
に零になる。その結果、図１のＺ点（抵抗器Ｒとコンデ
ンサＣとの接続点）の電位（図２Ｃの曲線ｃ）は、時刻
ｔ3 で電流が遮断された後、急速にほぼ接地電位にな
り、供試遮断器ＴＰの両端にはそれぞれ図２（Ｃ）に曲
線ａ及びｂで示した電圧が印加される。すなわち、図２
（Ｃ）の曲線ａの電圧と曲線ｂの電圧との差が供試遮断
器の極間に印加される過渡回復電圧Ｖo となる。供試遮
断器ＴＰの極間の絶縁がこの過渡回復電圧に耐え得るか
否かの検証が行われる。次いで時刻ｔ4 において保護遮
断器ＢＵが開き、試験を終了する。
【００２１】上記のように、本考案によれば、供試遮断
器と第１及び第２の補助遮断器とが開かれたときに、一
方の供試遮断器接続端子Ｔ1 と接地間に交流電圧が印加
されるとともに、他方の供試遮断器接続端子Ｔ2 と接地
間に直流電圧が印加されるため、実系統における進み小
電流遮断時の状態に近い状態を検証することができ、検
証精度を高めることができる。
器と第１及び第２の補助遮断器とが開かれたときに、一
方の供試遮断器接続端子Ｔ1 と接地間に交流電圧が印加
されるとともに、他方の供試遮断器接続端子Ｔ2 と接地
間に直流電圧が印加されるため、実系統における進み小
電流遮断時の状態に近い状態を検証することができ、検
証精度を高めることができる。
【００２２】上記の実施例において、抵抗器Ｒの抵抗値
は、コンデンサＣのインピーダンスに比べて十分大きい
ことが必要である。抵抗器Ｒの抵抗値が小さいと、該抵
抗器の熱容量が大きくなり、該抵抗器Ｒとして高価なも
の必要とする。また遮断器の各端子と接地間の静電容量
をＣo とし、抵抗器Ｒの抵抗値を同じ符号Ｒで表した場
合、Ｒ×Ｃo が余り大きいと、図２（Ｃ）の曲線ａの交
流電圧が理想の波形からずれる。理想的にはＲ×Ｃo が
零であることが好ましく、その場合には、図２（Ｃ）の
曲線ａ及びｂの立上がりがほぼ直角になるが、実際には
Ｃo を零にすることができないため、図２（Ｃ）に示し
たように曲線ａ及びｂの立上がりが傾斜するのを避けら
れない。立上がりの時間をτとすると図２（Ｃ）におい
て、電流が時刻ｔ3 で遮断してから曲線ａの電圧が零点
を迎えるまでの時間は電源周波数が例えば５０Ｈｚの場
合、５msec以内にあることが望ましい。
は、コンデンサＣのインピーダンスに比べて十分大きい
ことが必要である。抵抗器Ｒの抵抗値が小さいと、該抵
抗器の熱容量が大きくなり、該抵抗器Ｒとして高価なも
の必要とする。また遮断器の各端子と接地間の静電容量
をＣo とし、抵抗器Ｒの抵抗値を同じ符号Ｒで表した場
合、Ｒ×Ｃo が余り大きいと、図２（Ｃ）の曲線ａの交
流電圧が理想の波形からずれる。理想的にはＲ×Ｃo が
零であることが好ましく、その場合には、図２（Ｃ）の
曲線ａ及びｂの立上がりがほぼ直角になるが、実際には
Ｃo を零にすることができないため、図２（Ｃ）に示し
たように曲線ａ及びｂの立上がりが傾斜するのを避けら
れない。立上がりの時間をτとすると図２（Ｃ）におい
て、電流が時刻ｔ3 で遮断してから曲線ａの電圧が零点
を迎えるまでの時間は電源周波数が例えば５０Ｈｚの場
合、５msec以内にあることが望ましい。
【００２３】発明者の実験によると、上記の条件を満た
すためには、（１／ωＣ）×１０≦Ｒ（ωは角周波
数）、及びＣo Ｒ≦１msecの条件を満たす抵抗器Ｒを用
いるのが好ましいことが明らかになっている。例えばＣ
o を1000ＰＦ（トランスがある場合、通常Ｃo は1000Ｐ
Ｆ〜2000ＰＦ程度である。）と仮定した場合、Ｒ＝１Ｍ
Ω、Ｃ＝0.03μＦとなる。
すためには、（１／ωＣ）×１０≦Ｒ（ωは角周波
数）、及びＣo Ｒ≦１msecの条件を満たす抵抗器Ｒを用
いるのが好ましいことが明らかになっている。例えばＣ
o を1000ＰＦ（トランスがある場合、通常Ｃo は1000Ｐ
Ｆ〜2000ＰＦ程度である。）と仮定した場合、Ｒ＝１Ｍ
Ω、Ｃ＝0.03μＦとなる。
【００２４】尚上記の実施例において、抵抗器Ｒの熱容
量が過度になる場合には、図３に示したように抵抗器Ｒ
とコンデンサＣとの間に第３の補助遮断器ＡＵＸ3 を挿
入して、供試遮断器を遮断する直前に該第３の補助遮断
器を投入することが好ましい。
量が過度になる場合には、図３に示したように抵抗器Ｒ
とコンデンサＣとの間に第３の補助遮断器ＡＵＸ3 を挿
入して、供試遮断器を遮断する直前に該第３の補助遮断
器を投入することが好ましい。
【００２５】
【考案の効果】以上のように、本考案によれば、供試遮
断器と第１及び第２の補助遮断器とが開かれたときに、
一方の供試遮断器接続端子と接地間に交流電圧が印加さ
れるとともに、他方の供試遮断器接続端子と接地間に直
流電圧が印加されるようにしたため、実系統における進
み小電流遮断時の状態に近い状態を検証することがで
き、検証精度を高めることができる利点がある。
断器と第１及び第２の補助遮断器とが開かれたときに、
一方の供試遮断器接続端子と接地間に交流電圧が印加さ
れるとともに、他方の供試遮断器接続端子と接地間に直
流電圧が印加されるようにしたため、実系統における進
み小電流遮断時の状態に近い状態を検証することがで
き、検証精度を高めることができる利点がある。
【図１】本考案の実施例を示す回路図である。
【図２】（Ａ）ないし（Ｈ）は図１の実施例の動作を説
明するタイムチャートである。
明するタイムチャートである。
【図３】本考案の他の実施例の要部を示した回路図であ
る。
る。
【図４】従来の試験回路を示した回路図である。
【図５】（Ａ）ないし（Ｇ）は図４の回路の動作を説明
するためのタイムチャートである。
するためのタイムチャートである。
１…交流電源回路、Ｌ…直列リアクトル、Ｔ1 ，Ｔ2 …
供試遮断器接続端子、ＴＰ…供試遮断器、ＡＵＸ1 …第
１の補助遮断器、ＡＵＸ2 …第２の補助遮断器、Ｔｒ…
昇圧トランス、Ｃ…コンデンサ、Ｒ…抵抗器。
供試遮断器接続端子、ＴＰ…供試遮断器、ＡＵＸ1 …第
１の補助遮断器、ＡＵＸ2 …第２の補助遮断器、Ｔｒ…
昇圧トランス、Ｃ…コンデンサ、Ｒ…抵抗器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/32 H01H 9/00 H01H 9/54
Claims (1)
- 【請求項１】一方の出力端子が接地された交流電源回路
（１）と、供試遮断器（ＴＰ）を接続する１対の供試遮
断器接続端子（Ｔ1 ，Ｔ2 ）と、前記交流電源回路
（１）の出力端子と一方の供試遮断器接続端子Ｔ1 との
間に挿入された直列リアクトルＬを備えて交流電源回路
１から前記直列リアクトルＬを通して前記供試遮断器接
続端子（Ｔ1 ，Ｔ2 ）間に接続された供試遮断器（Ｔ
Ｐ）に遮断電流を供給する電流源回路（２）と、前記交
流電源回路（１）の出力電圧が一次側に印加された昇圧
トランス（Ｔｒ）と該昇圧トランス（Ｔｒ）の二次側に
設けられたコンデンサ（Ｃ）とを有して該昇圧トランス
の二次側から前記コンデンサを通して前記供試遮断器接
続端子（Ｔ1 ，Ｔ2 ）間に接続された供試遮断器（Ｔ
Ｐ）に過渡回復電圧を印加する電圧源回路（３）とを備
えた進み電流遮断試験回路において、前記電圧源回路（３）の コンデンサ（Ｃ）は前記他方の
供試遮断器接続端子（Ｔ2 ）と前記昇圧トランス（Ｔ
ｒ）の２次コイルの一端との間に接続され、前記電圧源回路（３）の昇圧トランスの二次コイルの他
端は前記一方の供試遮断器接続端子（Ｔ1 ）に接続さ
れ、 前記電圧源回路（３）の昇圧トランスの２次コイルの一
端と 接地間に前記コンデンサ（Ｃ）のインピーダンスよ
りも十分大きい抵抗値を有する抵抗器（Ｒ）が接続さ
れ、前記電流源回路（２）は、前記交流電源回路（１）の非
接地側の出力端子と一方の供試遮断器接続端子（Ｔ1 ）
との間を接続する回路に前記直列リアクトルに対して直
列に接続された状態で設けられて前記供試遮断器ととも
に開かれる第１の補助遮断器（ＡＵＸ1 ）と、前記他方
の供試遮断器接続端子（Ｔ2 ）と接地間に接続されて前
記供試遮断器（ＴＰ）とともに開かれる第２の補助遮断
器（ＡＵＸ2 ）とを備えている ことを特徴とする進み電
流遮断試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992000691U JP2605045Y2 (ja) | 1992-01-13 | 1992-01-13 | 進み電流遮断試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992000691U JP2605045Y2 (ja) | 1992-01-13 | 1992-01-13 | 進み電流遮断試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0559357U JPH0559357U (ja) | 1993-08-06 |
| JP2605045Y2 true JP2605045Y2 (ja) | 2000-06-19 |
Family
ID=11480784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992000691U Expired - Lifetime JP2605045Y2 (ja) | 1992-01-13 | 1992-01-13 | 進み電流遮断試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2605045Y2 (ja) |
-
1992
- 1992-01-13 JP JP1992000691U patent/JP2605045Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0559357U (ja) | 1993-08-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000314 |