JP2602299Y2 - 碍子コンデンサに接続される零相電圧検出器 - Google Patents
碍子コンデンサに接続される零相電圧検出器Info
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- JP2602299Y2 JP2602299Y2 JP1993037173U JP3717393U JP2602299Y2 JP 2602299 Y2 JP2602299 Y2 JP 2602299Y2 JP 1993037173 U JP1993037173 U JP 1993037173U JP 3717393 U JP3717393 U JP 3717393U JP 2602299 Y2 JP2602299 Y2 JP 2602299Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、設置された地絡方向継
電器に零相電圧を与える零相電圧検出器に関し、特に、
地絡方向継電器の試験等に模擬的な零相電圧を発生し得
るようにし、また大電流地絡特性試験が、低電圧領域で
実施でき得るようにした此種零相電圧検出器に関する。
電器に零相電圧を与える零相電圧検出器に関し、特に、
地絡方向継電器の試験等に模擬的な零相電圧を発生し得
るようにし、また大電流地絡特性試験が、低電圧領域で
実施でき得るようにした此種零相電圧検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】配電線に設置された地絡方向継電器ＤＧ
Ｒは、図４に示すように配電線の電路に設けた零相変流
器ＺＣＴと零相電圧検出器４による零相電流信号ＩZ と
零相電圧信号ＥZ により地絡事故時に零相変流器ＺＣＴ
を境に地絡事故が電源側か負荷側かを判別して負荷側の
場合、保護動作を行わせるものである。
Ｒは、図４に示すように配電線の電路に設けた零相変流
器ＺＣＴと零相電圧検出器４による零相電流信号ＩZ と
零相電圧信号ＥZ により地絡事故時に零相変流器ＺＣＴ
を境に地絡事故が電源側か負荷側かを判別して負荷側の
場合、保護動作を行わせるものである。
【０００３】通常、この地絡方向継電器は、年に１回以
上の定期試験が実施される。この試験において、従来、
零相電圧検出器への印加電圧が６００Ｖを超える高圧域
でなされていた。このため電源の入手性、試験作業の簡
易化を目的として低電圧領域で試験ができる解決策とし
て実開昭６２−１１１７４０号公報に記載された零相検
出器がある。これは、模擬コンデンサの容量を碍子コン
デンサ容量の１．３〜１０倍とすることにより、試験端
子に６００Ｖ未満の低電圧を印加することで試験ができ
るものである。
上の定期試験が実施される。この試験において、従来、
零相電圧検出器への印加電圧が６００Ｖを超える高圧域
でなされていた。このため電源の入手性、試験作業の簡
易化を目的として低電圧領域で試験ができる解決策とし
て実開昭６２−１１１７４０号公報に記載された零相検
出器がある。これは、模擬コンデンサの容量を碍子コン
デンサ容量の１．３〜１０倍とすることにより、試験端
子に６００Ｖ未満の低電圧を印加することで試験ができ
るものである。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】本装置に関する規格と
しては、日本工業規格ＪＩＳＣ４６０９高圧受電用地絡
方向継電装置があり、この中には種々の動作確認項目が
設定されている。該規格に大電流地絡特性試験という項
目があり、これは１線完全地絡を考慮し碍子コンデンサ
の高圧側三相一括で３８１０Ｖ（個々の相では１１４３
０Ｖ）を印加するように規定されている。
しては、日本工業規格ＪＩＳＣ４６０９高圧受電用地絡
方向継電装置があり、この中には種々の動作確認項目が
設定されている。該規格に大電流地絡特性試験という項
目があり、これは１線完全地絡を考慮し碍子コンデンサ
の高圧側三相一括で３８１０Ｖ（個々の相では１１４３
０Ｖ）を印加するように規定されている。
【０００５】ここで実開昭６２−１１１７４０号公報に
記載された装置では、前記の大電流地絡特性試験では、
試験端子Ｔに１１４３Ｖの電圧を印加することになる。
このため６００Ｖを超えることになり、高電圧の取扱い
となり、試験装置、使用電線等、高圧用を用いることに
なるので、作業性が悪くなる問題があった。
記載された装置では、前記の大電流地絡特性試験では、
試験端子Ｔに１１４３Ｖの電圧を印加することになる。
このため６００Ｖを超えることになり、高電圧の取扱い
となり、試験装置、使用電線等、高圧用を用いることに
なるので、作業性が悪くなる問題があった。
【０００６】本考案が解決すべき課題は、大電流地絡特
性試験においても、６００Ｖ以下の低圧を印加して試験
を行うことのできる零相電圧検出器を提供することにあ
る。
性試験においても、６００Ｖ以下の低圧を印加して試験
を行うことのできる零相電圧検出器を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本考案は、配電線路に接続された碍子コンデンサと
アース間に設けられる零相電圧検出器において、前記碍
子コンデンサと直列接続される分圧用コンデンサと、該
分圧用コンデンサの分圧電圧を取り出す一次側に中間タ
ップを設けたマッチングトランスと、該マッチングトラ
ンスの中間タップに接続される模擬分圧コンデンサと、
該マッチングトランスの中間タップに前記碍子コンデン
サを模擬した模擬コンデンサを設けたものである。
め、本考案は、配電線路に接続された碍子コンデンサと
アース間に設けられる零相電圧検出器において、前記碍
子コンデンサと直列接続される分圧用コンデンサと、該
分圧用コンデンサの分圧電圧を取り出す一次側に中間タ
ップを設けたマッチングトランスと、該マッチングトラ
ンスの中間タップに接続される模擬分圧コンデンサと、
該マッチングトランスの中間タップに前記碍子コンデン
サを模擬した模擬コンデンサを設けたものである。
【０００８】この零相電圧検出器において、マッチング
トランスの中間タップの巻数比を全巻数の１／３以下と
し、模擬コンデンサの容量を碍子コンデンサの容量の
１．２倍以下としたものとすることができる。
トランスの中間タップの巻数比を全巻数の１／３以下と
し、模擬コンデンサの容量を碍子コンデンサの容量の
１．２倍以下としたものとすることができる。
【０００９】また、前記課題を解決するための他の手段
は、配電線路に接続された碍子コンデンサとアース間に
設けられる零相電圧検出器において、前記碍子コンデン
サと直列接続される分圧用コンデンサおよび模擬分圧コ
ンデンサと、該分圧用コンデンサと模擬分圧コンデンサ
の分圧電圧を取り出すマッチングトランスと、前記分圧
用コンデンサと模擬分圧コンデンサとの接続点に前記碍
子コンデンサを模擬した模擬コンデンサを設け、かつ、
前記碍子コンデンサの三相一括の合成容量をＣ 1 、前記
分圧用コンデンサの容量をＣ 2 、前記模擬分圧コンデン
サの容量をＣ 3 としたとき、６６００Ｖ高圧配電線にお
いて、前記模擬コンデンサの容量Ｃ 4 を、 {Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／[Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }]≧２０ の関係となるように設定し たものである。
は、配電線路に接続された碍子コンデンサとアース間に
設けられる零相電圧検出器において、前記碍子コンデン
サと直列接続される分圧用コンデンサおよび模擬分圧コ
ンデンサと、該分圧用コンデンサと模擬分圧コンデンサ
の分圧電圧を取り出すマッチングトランスと、前記分圧
用コンデンサと模擬分圧コンデンサとの接続点に前記碍
子コンデンサを模擬した模擬コンデンサを設け、かつ、
前記碍子コンデンサの三相一括の合成容量をＣ 1 、前記
分圧用コンデンサの容量をＣ 2 、前記模擬分圧コンデン
サの容量をＣ 3 としたとき、６６００Ｖ高圧配電線にお
いて、前記模擬コンデンサの容量Ｃ 4 を、 {Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／[Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }]≧２０ の関係となるように設定し たものである。
【００１０】
【００１１】
【作用】第１の手段では中間タップ付のマッチングトラ
ンスを使用して試験電圧を昇圧することにより、低電圧
の試験電圧で、規定の大電流地絡特性試験が行える。
ンスを使用して試験電圧を昇圧することにより、低電圧
の試験電圧で、規定の大電流地絡特性試験が行える。
【００１２】また、第２の手段ではマッチングトランス
に分圧用コンデンサと模擬分圧コンデンサを並列に設け
ることにより、コンデンサ昇圧を行い、第１の手段と同
様に、低電圧の試験電圧で、規定の大電流地絡特性試験
が行える。
に分圧用コンデンサと模擬分圧コンデンサを並列に設け
ることにより、コンデンサ昇圧を行い、第１の手段と同
様に、低電圧の試験電圧で、規定の大電流地絡特性試験
が行える。
【００１３】
【実施例】以下、本考案を図面に示す実施例を参照しな
がら具体的に説明する。図１は本考案の実施例を示すも
のであり、図中１，２，３は碍子コンデンサ、４は零相
電圧検出器、５は模擬コンデンサ、６は分圧用コンデン
サ、７は模擬分圧コンデンサ、８はマッチングトラン
ス、Ｔは試験端子、ｙ1 ，ｙ2 は出力端子、Ｅはアース
部、ＤＧＲは地絡方向継電器、ＺＣＴは零相変流器であ
る。
がら具体的に説明する。図１は本考案の実施例を示すも
のであり、図中１，２，３は碍子コンデンサ、４は零相
電圧検出器、５は模擬コンデンサ、６は分圧用コンデン
サ、７は模擬分圧コンデンサ、８はマッチングトラン
ス、Ｔは試験端子、ｙ1 ，ｙ2 は出力端子、Ｅはアース
部、ＤＧＲは地絡方向継電器、ＺＣＴは零相変流器であ
る。
【００１４】本実施例では、マッチングトランス８の一
次側にアース側より見て全巻数の１／３以下の個所に中
間タップを設け、この中間タップに模擬分圧コンデンサ
７および模擬コンデンサ５を接続する。ここで、模擬コ
ンデンサ５の容量を碍子コンデンサ容量の１．２倍と
し、かつ分圧コンデンサ６と模擬分圧コンデンサ７を同
じ容量とし、中間タップを全巻数の１／１７とすると、
１線完全地絡に対し１００％の電圧でも試験端子Ｔとア
ース部間に、６６００×√３／１．２×１７＝５６０Ｖ
を印加すれば、マッチングトランス８の端子ｙ1 ，ｙ2
に規定の電圧信号Ｖt が得られる。このとき、マッチン
グトランス８の一次側には約２４Ｖの電圧が出力され
る。
次側にアース側より見て全巻数の１／３以下の個所に中
間タップを設け、この中間タップに模擬分圧コンデンサ
７および模擬コンデンサ５を接続する。ここで、模擬コ
ンデンサ５の容量を碍子コンデンサ容量の１．２倍と
し、かつ分圧コンデンサ６と模擬分圧コンデンサ７を同
じ容量とし、中間タップを全巻数の１／１７とすると、
１線完全地絡に対し１００％の電圧でも試験端子Ｔとア
ース部間に、６６００×√３／１．２×１７＝５６０Ｖ
を印加すれば、マッチングトランス８の端子ｙ1 ，ｙ2
に規定の電圧信号Ｖt が得られる。このとき、マッチン
グトランス８の一次側には約２４Ｖの電圧が出力され
る。
【００１５】また、他の実施例としては、模擬コンデン
サ５の容量を碍子コンデンサ容量の１．２倍とし、かつ
模擬分圧コンデンサ７の容量を模擬コンデンサ５の容量
の６７倍とし、マッチングトランス８の中間タップを全
巻数の１／３としたとき、試験端子Ｔとアース部間に約
５４０Ｖを印加すればマッチングトランス８の一次側に
約２４Ｖの電圧が出力され、マッチングトランス８の二
次側端子ｙ1 ，ｙ2 に規定の電圧信号Ｖt が得られる。
サ５の容量を碍子コンデンサ容量の１．２倍とし、かつ
模擬分圧コンデンサ７の容量を模擬コンデンサ５の容量
の６７倍とし、マッチングトランス８の中間タップを全
巻数の１／３としたとき、試験端子Ｔとアース部間に約
５４０Ｖを印加すればマッチングトランス８の一次側に
約２４Ｖの電圧が出力され、マッチングトランス８の二
次側端子ｙ1 ，ｙ2 に規定の電圧信号Ｖt が得られる。
【００１６】図２は本考案の他の実施例を示すものであ
る。本実施例では、マッチングトランス８の一次側に分
圧コンデンサ６および模擬分圧コンデンサ７を設け、そ
の接続部に模擬コンデンサ５を接続する。模擬コンデン
サ５と模擬分圧コンデンサ７の容量比を、碍子コンデン
サ１〜３と〔分圧用コンデンサ６＋模擬分圧コンデンサ
７〕との容量比に対し、２０倍とし、マッチングトラン
ス８の一次側インピーダンス＋分圧用コンデンサインピ
ーダンスを模擬分圧コンデンサインピーダンスと比べは
るかに大きくすると、完全地絡電圧に対し、１００％の
電圧でも、端子Ｔとアース部間に５７０Ｖを印加すれ
ば、マッチングトランス８の端子ｙ1 ，ｙ2 に規定の電
圧Ｖt が得られる。
る。本実施例では、マッチングトランス８の一次側に分
圧コンデンサ６および模擬分圧コンデンサ７を設け、そ
の接続部に模擬コンデンサ５を接続する。模擬コンデン
サ５と模擬分圧コンデンサ７の容量比を、碍子コンデン
サ１〜３と〔分圧用コンデンサ６＋模擬分圧コンデンサ
７〕との容量比に対し、２０倍とし、マッチングトラン
ス８の一次側インピーダンス＋分圧用コンデンサインピ
ーダンスを模擬分圧コンデンサインピーダンスと比べは
るかに大きくすると、完全地絡電圧に対し、１００％の
電圧でも、端子Ｔとアース部間に５７０Ｖを印加すれ
ば、マッチングトランス８の端子ｙ1 ，ｙ2 に規定の電
圧Ｖt が得られる。
【００１７】図３は図２の回路の各コンデンサの容量か
ら模擬コンデンサ５の容量Ｃ4 を計算するための回路図
であり、Ｃ1 は碍子コンデンサの三相一括の合成容量、
Ｃ2は分圧用コンデンサ６の容量、Ｃ3 は模擬分圧コン
デンサ７の容量を示している。なお、マッチングトラン
ス８の一次側のインピーダンスは各容量に対して充分大
きいものとする。
ら模擬コンデンサ５の容量Ｃ4 を計算するための回路図
であり、Ｃ1 は碍子コンデンサの三相一括の合成容量、
Ｃ2は分圧用コンデンサ６の容量、Ｃ3 は模擬分圧コン
デンサ７の容量を示している。なお、マッチングトラン
ス８の一次側のインピーダンスは各容量に対して充分大
きいものとする。
【００１８】Ｕ〜Ｗ端子とＥ端子間にＶ1 を印加する
と、マッチングトランス８の一次側電圧Ｖ4 は次のよう
になる。 Ｖ4 ＝Ｖ1 ［Ｃ1 ／｛（Ｃ2 Ｃ3 ）／（Ｃ2 ＋Ｃ3 ）＋Ｃ1 ｝］
と、マッチングトランス８の一次側電圧Ｖ4 は次のよう
になる。 Ｖ4 ＝Ｖ1 ［Ｃ1 ／｛（Ｃ2 Ｃ3 ）／（Ｃ2 ＋Ｃ3 ）＋Ｃ1 ｝］
【００１９】一方、端子ＴとＥ間にＶ2 を印加すると、
マッチングトランス８の一次側電圧Ｖ4 は次のようにな
る。 Ｖ4 ＝Ｖ2 ｛Ｃ4 ／（Ｃ3 ＋Ｃ4 ）｝
マッチングトランス８の一次側電圧Ｖ4 は次のようにな
る。 Ｖ4 ＝Ｖ2 ｛Ｃ4 ／（Ｃ3 ＋Ｃ4 ）｝
【００２０】実際にＶ1 を印加した場合と試験端子に印
加する電圧Ｖ2 とで、Ｖ4 が同じになるようにするため
には、 Ｖ1［Ｃ1／{(Ｃ2 Ｃ3)／(Ｃ2＋Ｃ3)＋Ｃ1}］＝Ｖ2{Ｃ4／(Ｃ3＋Ｃ4)}すなわち、 Ｖ 1 ／Ｖ 2 ＝{Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／［Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }］ とする。
加する電圧Ｖ2 とで、Ｖ4 が同じになるようにするため
には、 Ｖ1［Ｃ1／{(Ｃ2 Ｃ3)／(Ｃ2＋Ｃ3)＋Ｃ1}］＝Ｖ2{Ｃ4／(Ｃ3＋Ｃ4)}すなわち、 Ｖ 1 ／Ｖ 2 ＝{Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／［Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }］ とする。
【００２１】また、大電流地絡特性試験時のＶ1 ＝１１
４３２Ｖ（＝６６００√３）のとき、Ｖ2 ≦６００Ｖと
したいのであるから、Ｖ 1 ／Ｖ 2 ＝{Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／［Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }］ ≧１１４３２／６００＝１９．０５ 余裕を見て、 {Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／［Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }］≧２０ とする。 この式に、現行のＣ1 ，Ｃ2 ＋Ｃ3 の値を代入
し、Ｃ3 とＣ4 の容量の比を設定すると、Ｃ4 の値が求
められる。
４３２Ｖ（＝６６００√３）のとき、Ｖ2 ≦６００Ｖと
したいのであるから、Ｖ 1 ／Ｖ 2 ＝{Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／［Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }］ ≧１１４３２／６００＝１９．０５ 余裕を見て、 {Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／［Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }］≧２０ とする。 この式に、現行のＣ1 ，Ｃ2 ＋Ｃ3 の値を代入
し、Ｃ3 とＣ4 の容量の比を設定すると、Ｃ4 の値が求
められる。
【００２２】
【考案の効果】上述したように、本考案によれば、一般
の高圧配電線の６６００Ｖに設置された地絡方向継電器
において、一般の商用電源を昇圧、降圧して得られる６
００Ｖ未満の低電圧領域で大電流地絡特性試験および他
の試験ができる。このため、試験装置も、特別な試験要
員を要せず、一般の電気技術知識を有する者なら誰でも
容易に試験を行うことができる等、優れた効果を発揮す
る。
の高圧配電線の６６００Ｖに設置された地絡方向継電器
において、一般の商用電源を昇圧、降圧して得られる６
００Ｖ未満の低電圧領域で大電流地絡特性試験および他
の試験ができる。このため、試験装置も、特別な試験要
員を要せず、一般の電気技術知識を有する者なら誰でも
容易に試験を行うことができる等、優れた効果を発揮す
る。
【図１】 本考案の第１の手段の実施例を示す回路図で
ある。
ある。
【図２】 本考案の第２の手段の実施例を示す回路図で
ある。
ある。
【図３】 図２の実施例における容量を計算するための
回路図である。
回路図である。
【図４】 従来例の回路図である。
１，２，３ 碍子コンデンサ、４ 零相電圧検出器、５
模擬コンデンサ、６分圧用コンデンサ、７ 模擬分圧
コンデンサ、８ マッチングトランス、Ｔ 試験端子、
ｙ1 ，ｙ2 出力端子、Ｅ アース部、ＤＧＲ 地絡方
向継電器、ＺＣＴ 零相変流器、Ｕ，Ｖ，Ｗ 充電部、
Ｎ 中性点端子
模擬コンデンサ、６分圧用コンデンサ、７ 模擬分圧
コンデンサ、８ マッチングトランス、Ｔ 試験端子、
ｙ1 ，ｙ2 出力端子、Ｅ アース部、ＤＧＲ 地絡方
向継電器、ＺＣＴ 零相変流器、Ｕ，Ｖ，Ｗ 充電部、
Ｎ 中性点端子
Claims (3)
- 【請求項１】 配電線路に接続された碍子コンデンサと
アース間に設けられる零相電圧検出器において、前記碍
子コンデンサと直列接続される分圧用コンデンサと、該
分圧用コンデンサの分圧電圧を取り出す一次側に中間タ
ップを設けたマッチングトランスと、該マッチングトラ
ンスの中間タップに接続される模擬分圧コンデンサと、
該マッチングトランスの中間タップに前記碍子コンデン
サを模擬した模擬コンデンサを設けたことを特徴とする
碍子コンデンサに接続される零相電圧検出器。 - 【請求項２】 マッチングトランスの中間タップの巻数
比を全巻数の１／３以下とし、模擬コンデンサの容量を
碍子コンデンサの容量の１．２倍以下としたことを特徴
とする請求項１記載の碍子コンデンサに接続される零相
電圧検出器。 - 【請求項３】 配電線路に接続された碍子コンデンサと
アース間に設けられる零相電圧検出器において、前記碍
子コンデンサと直列接続される分圧用コンデンサおよび
模擬分圧コンデンサと、該分圧用コンデンサと模擬分圧
コンデンサの分圧電圧を取り出すマッチングトランス
と、前記分圧用コンデンサと模擬分圧コンデンサとの接
続点に前記碍子コンデンサを模擬した模擬コンデンサを
設け、かつ、前記碍子コンデンサの三相一括の合成容量
をＣ 1 、前記分圧用コンデンサの容量をＣ 2 、前記模擬分
圧コンデンサの容量をＣ 3 としたとき、６６００Ｖ高圧
配電線において、前記模擬コンデンサの容量Ｃ 4 を、 {Ｃ 4 ／(Ｃ 3 ＋Ｃ 4 )}／[Ｃ 1 ／{(Ｃ 2 Ｃ 3 )／(Ｃ 2 ＋Ｃ 3 )＋Ｃ 1 }]≧２０ の関係となるように設定し たことを特徴とする碍子コン
デンサに接続される零相電圧検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993037173U JP2602299Y2 (ja) | 1993-07-07 | 1993-07-07 | 碍子コンデンサに接続される零相電圧検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993037173U JP2602299Y2 (ja) | 1993-07-07 | 1993-07-07 | 碍子コンデンサに接続される零相電圧検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH079041U JPH079041U (ja) | 1995-02-07 |
| JP2602299Y2 true JP2602299Y2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=12490210
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993037173U Expired - Fee Related JP2602299Y2 (ja) | 1993-07-07 | 1993-07-07 | 碍子コンデンサに接続される零相電圧検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2602299Y2 (ja) |
-
1993
- 1993-07-07 JP JP1993037173U patent/JP2602299Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH079041U (ja) | 1995-02-07 |
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