JPH0651035A - 進み小電流試験装置 - Google Patents
進み小電流試験装置Info
- Publication number
- JPH0651035A JPH0651035A JP4203764A JP20376492A JPH0651035A JP H0651035 A JPH0651035 A JP H0651035A JP 4203764 A JP4203764 A JP 4203764A JP 20376492 A JP20376492 A JP 20376492A JP H0651035 A JPH0651035 A JP H0651035A
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- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路の電圧と電流との位相差を実系統の位相
差と同じにして、容易に遮断性能の検証ができる進み小
電流試験装置を得る。 【構成】 回路に電圧と電流との位相差を調整する位相
調整用抵抗６を挿入する。
差と同じにして、容易に遮断性能の検証ができる進み小
電流試験装置を得る。 【構成】 回路に電圧と電流との位相差を調整する位相
調整用抵抗６を挿入する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、遮断抵抗付開閉器の
進み小電流遮断性能を検証するために用いられる進み小
電流試験装置に関するものである。
進み小電流遮断性能を検証するために用いられる進み小
電流試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、送電線もしくはコンデンサバン
ク開閉に用いられる開閉器は、送電線の対地キャパシタ
ンスまたはコンデンサバンクのキャパシタンスによって
決まる進み小電流を遮断する能力が要求される。このた
め、以下に説明するような進み小電流試験装置で遮断性
能を検出する必要がある。図７および図９は遮断抵抗付
開閉器および遮断抵抗無し開閉器の進み小電流遮断性能
の検証をそれぞれ行う従来の進み小電流試験装置の回路
構成を示す回路図である。各図において、１は短絡発電
機、２は短絡変圧器、３は遮断抵抗３ａおよび接点３ｂ
を内蔵する供試開閉器、４は接点４ｂのみを内蔵する供
試験開閉器、５は負荷コンデンサである。
ク開閉に用いられる開閉器は、送電線の対地キャパシタ
ンスまたはコンデンサバンクのキャパシタンスによって
決まる進み小電流を遮断する能力が要求される。このた
め、以下に説明するような進み小電流試験装置で遮断性
能を検出する必要がある。図７および図９は遮断抵抗付
開閉器および遮断抵抗無し開閉器の進み小電流遮断性能
の検証をそれぞれ行う従来の進み小電流試験装置の回路
構成を示す回路図である。各図において、１は短絡発電
機、２は短絡変圧器、３は遮断抵抗３ａおよび接点３ｂ
を内蔵する供試開閉器、４は接点４ｂのみを内蔵する供
試験開閉器、５は負荷コンデンサである。
【０００３】次に上記のように構成される進み小電流試
験装置の動作について説明する。まず図７、９におい
て、短絡発電機１および短絡変圧器２から電圧および電
流が供給されると、供試開閉器３、４および負荷コンデ
ンサ５を介して図８、１０に示すように、必要な進み小
電流ｉｃがそれぞれ流れる。そして、時間Ｔ0の時点で
開閉器３、４の接点３ｂ、４ｂが開き、進み小電流ｉｃ
が遮断されると、遮断直後、接点３ｂ、４ｂには過渡の
振動電圧ｖCBが現れる。すなわち、この振動電圧ｖCBに
耐え得るか否かで接点３ｂ、４ｂの遮断性能が検証され
る。
験装置の動作について説明する。まず図７、９におい
て、短絡発電機１および短絡変圧器２から電圧および電
流が供給されると、供試開閉器３、４および負荷コンデ
ンサ５を介して図８、１０に示すように、必要な進み小
電流ｉｃがそれぞれ流れる。そして、時間Ｔ0の時点で
開閉器３、４の接点３ｂ、４ｂが開き、進み小電流ｉｃ
が遮断されると、遮断直後、接点３ｂ、４ｂには過渡の
振動電圧ｖCBが現れる。すなわち、この振動電圧ｖCBに
耐え得るか否かで接点３ｂ、４ｂの遮断性能が検証され
る。
【０００４】しかしながら、図７に示す供試験開閉器３
のように遮断抵抗３ａを備えたものにおいては、短絡発
電機１、短絡変圧器２、遮断抵抗３ａおよび負荷コンデ
ンサ５によって決まる位相差により、図８に示すよう
に、遮断直後接点３ｂに現れる過渡の振動電圧ｖCBの波
形が、図１０の場合と比較すれば明らかなように異なっ
てくる。したがって、この振動電圧ｖCBを実系統の条件
に一致させなければ、接点３ｂの遮断性能を正確に把握
することはできない。
のように遮断抵抗３ａを備えたものにおいては、短絡発
電機１、短絡変圧器２、遮断抵抗３ａおよび負荷コンデ
ンサ５によって決まる位相差により、図８に示すよう
に、遮断直後接点３ｂに現れる過渡の振動電圧ｖCBの波
形が、図１０の場合と比較すれば明らかなように異なっ
てくる。したがって、この振動電圧ｖCBを実系統の条件
に一致させなければ、接点３ｂの遮断性能を正確に把握
することはできない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】遮断抵抗付開閉器の遮
断性能を検証する従来の進み小電流試験装置は以上のよ
うに構成されているので、上述したように電圧と電流と
の間に、短絡発電機１および短絡変圧器２でなる交流電
源のインピーダンス、遮断抵抗３ａ、負荷コンデンサ５
で決まる位相差ができるため正確な検証ができず、又、
正確な検証を得るためには実系統と同位相差にしなけれ
ばならないので、電源のインピーダンスは実系統と同様
に、大容量のものが必要となり試験を行うことが困難に
なるという問題点があった。
断性能を検証する従来の進み小電流試験装置は以上のよ
うに構成されているので、上述したように電圧と電流と
の間に、短絡発電機１および短絡変圧器２でなる交流電
源のインピーダンス、遮断抵抗３ａ、負荷コンデンサ５
で決まる位相差ができるため正確な検証ができず、又、
正確な検証を得るためには実系統と同位相差にしなけれ
ばならないので、電源のインピーダンスは実系統と同様
に、大容量のものが必要となり試験を行うことが困難に
なるという問題点があった。
【０００６】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、電圧と電流との位相差を実系統
の位相差と同じにして容易に遮断性能の検証ができる進
み小電流試験装置を提供することを目的とするものであ
る。
ためになされたもので、電圧と電流との位相差を実系統
の位相差と同じにして容易に遮断性能の検証ができる進
み小電流試験装置を提供することを目的とするものであ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項１
の進み小電流試験装置は、回路に電圧と電流との位相差
を調整する位相調整用抵抗を挿入したものであり、又、
請求項２の進み小電流試験装置は、開閉器の遮断抵抗を
調整して回路の電圧と電流との位相差を調整するように
したものである。
の進み小電流試験装置は、回路に電圧と電流との位相差
を調整する位相調整用抵抗を挿入したものであり、又、
請求項２の進み小電流試験装置は、開閉器の遮断抵抗を
調整して回路の電圧と電流との位相差を調整するように
したものである。
【０００８】
【作用】この発明における進み小電流試験装置の位相調
整用抵抗および開閉器の遮断抵抗は、回路中の抵抗分を
調整して電圧と電流との位相差を、実系統における電圧
と電流との位相差に合わせる。
整用抵抗および開閉器の遮断抵抗は、回路中の抵抗分を
調整して電圧と電流との位相差を、実系統における電圧
と電流との位相差に合わせる。
【０００９】
実施例１．以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図１はこの発明の実施例１における進み小電流試験
装置の回路構成を示す回路図である。図において、短絡
発電機１、短絡変圧器２、供試開閉器３、遮断抵抗３
ａ、接点３ｂおよび負荷コンデンサ５は図７に示す従来
装置のものと同様である。６は回路に挿入された位相調
整用抵抗、７は遮断抵抗３ａを短絡する導体である。
る。図１はこの発明の実施例１における進み小電流試験
装置の回路構成を示す回路図である。図において、短絡
発電機１、短絡変圧器２、供試開閉器３、遮断抵抗３
ａ、接点３ｂおよび負荷コンデンサ５は図７に示す従来
装置のものと同様である。６は回路に挿入された位相調
整用抵抗、７は遮断抵抗３ａを短絡する導体である。
【００１０】次に動作について説明する。従来装置と同
様にまず、短絡発電機１および短絡変圧器２でなる交流
電源から電圧および電流が供給されると、供試開閉器３
および負荷コンデンサ５を介して図２に示すように、必
要な進み小電流ｉｃがそれぞれ流れる。そして、時間Ｔ
0の時点で開閉器３の接点３ｂが開き、進み小電流ｉｃ
が遮断されると、遮断直後、接点３ｂには過渡の振動電
圧ｖCBが現れる。すなわち、この振動電圧ｖCBに耐え得
るか否かで接点３ｂの遮断性能が検証される。
様にまず、短絡発電機１および短絡変圧器２でなる交流
電源から電圧および電流が供給されると、供試開閉器３
および負荷コンデンサ５を介して図２に示すように、必
要な進み小電流ｉｃがそれぞれ流れる。そして、時間Ｔ
0の時点で開閉器３の接点３ｂが開き、進み小電流ｉｃ
が遮断されると、遮断直後、接点３ｂには過渡の振動電
圧ｖCBが現れる。すなわち、この振動電圧ｖCBに耐え得
るか否かで接点３ｂの遮断性能が検証される。
【００１１】一般に試験回路の交流電源は、実系統に比
べて容量が小さいので電源インピーダンスが大きくな
る。したがって、試験回路の電圧と電流との位相差を実
系統と一致させるためには、試験回路の抵抗分を小さく
しなければならない。このため、実施例１では導体７に
より遮断抵抗３ａを短絡し、回路内に位相調整用抵抗６
を挿入して抵抗分を小さくすることにより位相を調整
し、電圧と電流との位相差を実系統に近ずくようにして
いる。なお、遮断電流ｉｃは負荷コンデンサ５によって
決まるため、回路内の抵抗が変わってもほとんど影響を
受けない。
べて容量が小さいので電源インピーダンスが大きくな
る。したがって、試験回路の電圧と電流との位相差を実
系統と一致させるためには、試験回路の抵抗分を小さく
しなければならない。このため、実施例１では導体７に
より遮断抵抗３ａを短絡し、回路内に位相調整用抵抗６
を挿入して抵抗分を小さくすることにより位相を調整
し、電圧と電流との位相差を実系統に近ずくようにして
いる。なお、遮断電流ｉｃは負荷コンデンサ５によって
決まるため、回路内の抵抗が変わってもほとんど影響を
受けない。
【００１２】実施例２．尚、上記実施例１では、供試開
閉器３の遮断抵抗３ａを導体７で短絡し、回路中に新た
に挿入した位相調整用抵抗６により、回路の抵抗分を調
整するようにしているが、位相調整用抵抗６を挿入する
ことなく、遮断抵抗３ａ自身を調整するようにしても、
上記実施例１と同様の効果を得ることができる。
閉器３の遮断抵抗３ａを導体７で短絡し、回路中に新た
に挿入した位相調整用抵抗６により、回路の抵抗分を調
整するようにしているが、位相調整用抵抗６を挿入する
ことなく、遮断抵抗３ａ自身を調整するようにしても、
上記実施例１と同様の効果を得ることができる。
【００１３】実施例３．図３はこの発明の実施例３にお
ける小電流試験装置の回路構成を示す回路図である。図
において、上記各実施例と同様な部分は同一符号付して
説明を省略する。８は高圧および低圧タップを有する短
絡変圧器で、低圧タップからは電流が、又、電流遮断後
の電圧は高圧タップからそれぞれ供給する。９は位相調
整用抵抗で、コンデンサ１０とともに短絡変圧器８の高
圧タップに直列接続され電圧回路を構成している。１１
は位相調整用抵抗で、コンデンサ１２とともに短絡変圧
器８の低圧タップに直列接続され電流回路を構成してい
る。
ける小電流試験装置の回路構成を示す回路図である。図
において、上記各実施例と同様な部分は同一符号付して
説明を省略する。８は高圧および低圧タップを有する短
絡変圧器で、低圧タップからは電流が、又、電流遮断後
の電圧は高圧タップからそれぞれ供給する。９は位相調
整用抵抗で、コンデンサ１０とともに短絡変圧器８の高
圧タップに直列接続され電圧回路を構成している。１１
は位相調整用抵抗で、コンデンサ１２とともに短絡変圧
器８の低圧タップに直列接続され電流回路を構成してい
る。
【００１４】１３は電流回路に直列接続される補助開閉
器で、図４に示すように、時間Ｔ0の時点で電流回路を
切り離す。このように構成された実施例３における進み
小電流試験装置は、上記各実施例と同様の効果を得るこ
とは勿論のこと、短絡変圧器の１つのタップから電圧と
電流との両方が供給できない場合に適用できるという効
果をも得ることができる。
器で、図４に示すように、時間Ｔ0の時点で電流回路を
切り離す。このように構成された実施例３における進み
小電流試験装置は、上記各実施例と同様の効果を得るこ
とは勿論のこと、短絡変圧器の１つのタップから電圧と
電流との両方が供給できない場合に適用できるという効
果をも得ることができる。
【００１５】実施例４．図５はこの発明の実施例４にお
ける進み小電流試験装置の回路構成を示す回路図であ
る。図において、上記実施例３と同様な部分は同一符号
を付して説明を省略する。１４は第２の短絡発電機、１
５は短絡変圧器８とは位相が１８０゜ずれた逆位相の第
２の短絡変圧器、１６は位相調整用抵抗で、コンデンサ
１７とともに第２の短絡変圧器１５のタップに直列接続
され第２の電圧回路を構成している。１８は第２の補助
開閉器で規定の遮断電流を流すために挿入されており、
図６に示す時間Ｔ0の時点で各回路からの電流ｉｈ1、ｉ
ｈ2、ｉｌを遮断する。上記のように構成された実施例
４によれば、位相が１８０°ずれた両電源から電圧を供
給するようにしたものであり、各電圧回路、第２の電圧
回路および電流回路には、位相調整用抵抗９、１６、１
１がそれぞれ挿入されている。
ける進み小電流試験装置の回路構成を示す回路図であ
る。図において、上記実施例３と同様な部分は同一符号
を付して説明を省略する。１４は第２の短絡発電機、１
５は短絡変圧器８とは位相が１８０゜ずれた逆位相の第
２の短絡変圧器、１６は位相調整用抵抗で、コンデンサ
１７とともに第２の短絡変圧器１５のタップに直列接続
され第２の電圧回路を構成している。１８は第２の補助
開閉器で規定の遮断電流を流すために挿入されており、
図６に示す時間Ｔ0の時点で各回路からの電流ｉｈ1、ｉ
ｈ2、ｉｌを遮断する。上記のように構成された実施例
４によれば、位相が１８０°ずれた両電源から電圧を供
給するようにしたものであり、各電圧回路、第２の電圧
回路および電流回路には、位相調整用抵抗９、１６、１
１がそれぞれ挿入されている。
【００１６】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば回路に
電圧と電流との位相差を調整する位相調整用抵抗を挿入
し、又、開閉器の遮断抵抗を調整して回路の電圧と電流
との位相差を調整するようにしたことにより、回路の電
圧と電流との位相差を実系統の位相差と同じにして、容
易に遮断性能の検証ができる進み小電流試験装置を提供
することが可能になる。
電圧と電流との位相差を調整する位相調整用抵抗を挿入
し、又、開閉器の遮断抵抗を調整して回路の電圧と電流
との位相差を調整するようにしたことにより、回路の電
圧と電流との位相差を実系統の位相差と同じにして、容
易に遮断性能の検証ができる進み小電流試験装置を提供
することが可能になる。
【図１】この発明の実施例１における進み小電流試験装
置の回路構成を示す回路図である。
置の回路構成を示す回路図である。
【図２】図１に示す回路を流れる電流および電流遮断後
供試開閉器の接点間に現れる電圧の状態を示す波形図で
ある。
供試開閉器の接点間に現れる電圧の状態を示す波形図で
ある。
【図３】この発明の実施例３における進み小電流試験装
置の回路構成を示す回路図である。
置の回路構成を示す回路図である。
【図４】図３に示す電圧回路および電流回路をそれぞれ
流れる電流、電流遮断後供試開閉器の接点間に現れる電
圧の状態を示す波形図である。
流れる電流、電流遮断後供試開閉器の接点間に現れる電
圧の状態を示す波形図である。
【図５】この発明の実施例４における進み小電流試験装
置の回路構成を示す回路図である。
置の回路構成を示す回路図である。
【図６】図５に示す両電圧回路および電流回路をそれぞ
れ流れる電流、電流遮断後供試開閉器の接点間に現れる
電圧の状態を示す回路図である。
れ流れる電流、電流遮断後供試開閉器の接点間に現れる
電圧の状態を示す回路図である。
【図７】従来の遮断抵抗付開閉器の進み小電流試験装置
の回路構成を示す回路図である。
の回路構成を示す回路図である。
【図８】図７に示す回路を流れる電流および電流遮断後
供試開閉器の接点間に現れる電圧の状態を示す波形図で
ある。
供試開閉器の接点間に現れる電圧の状態を示す波形図で
ある。
【図９】従来の遮断抵抗無し開閉器の進み小電流試験装
置の回路構成を示す回路図である。
置の回路構成を示す回路図である。
【図１０】図９に示す回路を流れる電流および電流遮断
後供試開閉器の接点間に現れる電圧の状態を示す波形図
である。
後供試開閉器の接点間に現れる電圧の状態を示す波形図
である。
１ 短絡発電機 ２、８ 短絡変圧器 ３ 供試開閉器 ３ａ 遮断抵抗 ３ｂ 接点 ５ 負荷コンデンサ ６、９、１１、１６ 位相調整用抵抗 １３ 補助開閉器 １４ 第２の短絡発電機 １５ 第２の短絡変圧器 １８ 第２の補助開閉器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐久間 秀一 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電機 株式会社伊丹製作所内 (72)発明者 吉積 敏昭 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電機 株式会社伊丹製作所内 (72)発明者 瀬戸山 達夫 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電機 株式会社伊丹製作所内
Claims (2)
- 【請求項１】 交流電源、遮断抵抗付開閉器および負荷
コンデンサを接続して構成される回路を備えた進み小電
流試験装置において、上記回路に電圧と電流との位相差
を調整する位相調整用抵抗を挿入したことを特徴とする
進み小電流試験装置。 - 【請求項２】 交流電源、遮断抵抗付開閉器および負荷
コンデンサを接続して構成される回路を備えた進み小電
流試験装置において、上記開閉器の遮断抵抗を調整して
電圧と電流との位相差を調整するようにしたことを特徴
とする進み小電流試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4203764A JPH0651035A (ja) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | 進み小電流試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4203764A JPH0651035A (ja) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | 進み小電流試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0651035A true JPH0651035A (ja) | 1994-02-25 |
Family
ID=16479439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4203764A Pending JPH0651035A (ja) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | 進み小電流試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0651035A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100478981B1 (ko) * | 2002-09-19 | 2005-03-28 | 김동림 | 저압옥내 배선의 직렬저항특성에 따른 배선용 차단기의 동작 진단 장치 |
| CN104049209A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-09-17 | 国网上海市电力公司 | 一种便携式水电阻型大电流升流器 |
-
1992
- 1992-07-30 JP JP4203764A patent/JPH0651035A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100478981B1 (ko) * | 2002-09-19 | 2005-03-28 | 김동림 | 저압옥내 배선의 직렬저항특성에 따른 배선용 차단기의 동작 진단 장치 |
| CN104049209A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-09-17 | 国网上海市电力公司 | 一种便携式水电阻型大电流升流器 |
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