JPH04363677A - 遮断器の合成試験回路 - Google Patents
遮断器の合成試験回路Info
- Publication number
- JPH04363677A JPH04363677A JP3231278A JP23127891A JPH04363677A JP H04363677 A JPH04363677 A JP H04363677A JP 3231278 A JP3231278 A JP 3231278A JP 23127891 A JP23127891 A JP 23127891A JP H04363677 A JPH04363677 A JP H04363677A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- circuit
- breaker
- current
- circuit breaker
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、遮断器の遮断能力を検
証するために用いる遮断器の合成試験回路にに関するも
のである。
証するために用いる遮断器の合成試験回路にに関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】図７は 例えばＪＥＣ−２３００（１９
８５）に示された電流重畳法（ワイルドプケ法）による
遮断器の合成試験回路である。図において、電流源用電
源１、保護遮断器２、投入スイッチ３、電流源電流調整
用インダクタンス４及び電流源回路コンデンサ５は閉回
路を形成すべく互いに直列に接続されている。補助遮断
器６と供試遮断器７とは互いに直列に接続され、これら
の直列体が電流源コンデンサ５に並列に接続されている
。上記電流源用電源１、保護遮断器２、投入スイッチ３
、電流源電流調整用インダクタンス４及び電流源回路コ
ンデンサ５の各部によって電流源回路１７が構成される
。
８５）に示された電流重畳法（ワイルドプケ法）による
遮断器の合成試験回路である。図において、電流源用電
源１、保護遮断器２、投入スイッチ３、電流源電流調整
用インダクタンス４及び電流源回路コンデンサ５は閉回
路を形成すべく互いに直列に接続されている。補助遮断
器６と供試遮断器７とは互いに直列に接続され、これら
の直列体が電流源コンデンサ５に並列に接続されている
。上記電流源用電源１、保護遮断器２、投入スイッチ３
、電流源電流調整用インダクタンス４及び電流源回路コ
ンデンサ５の各部によって電流源回路１７が構成される
。
【０００３】電圧源コンデンサ８、始動ギャップ１２、
電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧振幅
率調整用抵抗１１及び過渡回復電圧周波数調整用コンデ
ンサ１０は閉回路を形成すべく互いに直列に接続されて
いる。 過渡回復電圧振幅率調整用抵抗１１と過渡回復電圧周波
数調整用コンデンサ１０との直列体は供試遮断器７に並
列に接続されている。充電装置１３は電圧源コンデンサ
８に並列に接続されている。上記の電圧源コンデンサ８
、電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧周
波数調整用コンデンサ１０、過渡回復電圧振幅率調整用
抵抗１１、始動ギャップ１２及び充電装置１３の各部に
よって電圧源回路１８が構成される。
電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧振幅
率調整用抵抗１１及び過渡回復電圧周波数調整用コンデ
ンサ１０は閉回路を形成すべく互いに直列に接続されて
いる。 過渡回復電圧振幅率調整用抵抗１１と過渡回復電圧周波
数調整用コンデンサ１０との直列体は供試遮断器７に並
列に接続されている。充電装置１３は電圧源コンデンサ
８に並列に接続されている。上記の電圧源コンデンサ８
、電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧周
波数調整用コンデンサ１０、過渡回復電圧振幅率調整用
抵抗１１、始動ギャップ１２及び充電装置１３の各部に
よって電圧源回路１８が構成される。
【０００４】次に、上記従来の合成試験回路の試験方法
について説明する。図７において、保護遮断器２、補助
遮断器６及び供試遮断器７を閉路した状態から投入スイ
ッチ３を閉路すると、短絡電流Ｉが供試遮断器７に流れ
る。図８は、図７の各部における電流・電圧の変化を示
すグラフである。供試遮断器７には、時刻Ｔ１までは上
記の短絡電流Ｉが流れていて、その最終零値の時刻Ｔ０
の直前の時点Ｔ１において始動ギャップ１２を始動させ
る。始動ギャップ１２の始動によって、電圧源コンデン
サ８に予め充電装置１３によって充電されていた電荷は
放電し、電圧源電流調整用インダクタンス９及び電圧源
コンデンサ８並びに充電装置１３により充電されていた
充電電圧によって決定される高周波の電流Ｉｖが発生す
る。この電流Ｉｖは供試遮断器７を流れる短絡電流Ｉに
重ね合わされる。短絡電流Ｉは既知の検出手段（図示せ
ず）によって検出されており、その零値（時刻Ｔ０）に
おいて補助遮断器６により遮断される。短絡電流Ｉの零
点以後は、供試遮断器７には、電圧源回路１８から供給
される高周波の電流Ｉｖのみが流れる状態となる。
について説明する。図７において、保護遮断器２、補助
遮断器６及び供試遮断器７を閉路した状態から投入スイ
ッチ３を閉路すると、短絡電流Ｉが供試遮断器７に流れ
る。図８は、図７の各部における電流・電圧の変化を示
すグラフである。供試遮断器７には、時刻Ｔ１までは上
記の短絡電流Ｉが流れていて、その最終零値の時刻Ｔ０
の直前の時点Ｔ１において始動ギャップ１２を始動させ
る。始動ギャップ１２の始動によって、電圧源コンデン
サ８に予め充電装置１３によって充電されていた電荷は
放電し、電圧源電流調整用インダクタンス９及び電圧源
コンデンサ８並びに充電装置１３により充電されていた
充電電圧によって決定される高周波の電流Ｉｖが発生す
る。この電流Ｉｖは供試遮断器７を流れる短絡電流Ｉに
重ね合わされる。短絡電流Ｉは既知の検出手段（図示せ
ず）によって検出されており、その零値（時刻Ｔ０）に
おいて補助遮断器６により遮断される。短絡電流Ｉの零
点以後は、供試遮断器７には、電圧源回路１８から供給
される高周波の電流Ｉｖのみが流れる状態となる。
【０００５】供試遮断器７が遮断に成功する場合には、
電圧源回路１８の高周波の電流Ｉｖは時刻Ｔ１から半波
後の時刻Ｔ２において遮断され、供試遮断器７には過渡
回復電圧が現われる。その後は過渡回復電圧周波数調整
用コンデンサ１０に充電された電圧が直流の回復電圧Ｅ
ｒとして供試遮断器７に印加される。
電圧源回路１８の高周波の電流Ｉｖは時刻Ｔ１から半波
後の時刻Ｔ２において遮断され、供試遮断器７には過渡
回復電圧が現われる。その後は過渡回復電圧周波数調整
用コンデンサ１０に充電された電圧が直流の回復電圧Ｅ
ｒとして供試遮断器７に印加される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】さて現実に遮断器が使
用される場合に回復電圧として印加されるのは交流電圧
であるが、上記のような従来の合成試験回路では、回復
電圧として供試遮断器７に印加できるのは直流電圧であ
るため現実の使用状況に忠実な試験が行えないという問
題点があった。この発明は、上記のような問題点を解消
するためになされたもので、供試遮断器に交流の回復電
圧を印加することのできる電流重畳法による遮断器の合
成試験回路を提供することを目的とする。
用される場合に回復電圧として印加されるのは交流電圧
であるが、上記のような従来の合成試験回路では、回復
電圧として供試遮断器７に印加できるのは直流電圧であ
るため現実の使用状況に忠実な試験が行えないという問
題点があった。この発明は、上記のような問題点を解消
するためになされたもので、供試遮断器に交流の回復電
圧を印加することのできる電流重畳法による遮断器の合
成試験回路を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る遮断器の
合成試験回路は、閉路している被試験遮断器に短絡電流
を供給すべき電流源回路と、上記被試験遮断器が上記短
絡電流を遮断した後、該被試験遮断器に直流回復電圧を
印加すべき第１の電圧源回路と、上記直流回復電圧の印
加後、上記電圧源回路に代わって上記被試験遮断器に、
上記電流源回路と同位相の交流回復電圧を印加すべき第
２の電圧源回路と、を備えたものである。
合成試験回路は、閉路している被試験遮断器に短絡電流
を供給すべき電流源回路と、上記被試験遮断器が上記短
絡電流を遮断した後、該被試験遮断器に直流回復電圧を
印加すべき第１の電圧源回路と、上記直流回復電圧の印
加後、上記電圧源回路に代わって上記被試験遮断器に、
上記電流源回路と同位相の交流回復電圧を印加すべき第
２の電圧源回路と、を備えたものである。
【０００８】また、他の構成として、閉路している被試
験遮断器に短絡電流を供給すべき電流源回路と、上記被
試験遮断器に並列接続されたインダクタンスを含み、上
記被試験遮断器が上記短絡電流を遮断した後、該被試験
遮断器に交流回復電圧を印加すべき電圧源回路と、を備
えたものであっても良く、この電圧源回路は、始動ギャ
ップと、この始動ギャップを含む電路に並列接続された
バイパススイッチとを具備するものであっても良い。
験遮断器に短絡電流を供給すべき電流源回路と、上記被
試験遮断器に並列接続されたインダクタンスを含み、上
記被試験遮断器が上記短絡電流を遮断した後、該被試験
遮断器に交流回復電圧を印加すべき電圧源回路と、を備
えたものであっても良く、この電圧源回路は、始動ギャ
ップと、この始動ギャップを含む電路に並列接続された
バイパススイッチとを具備するものであっても良い。
【０００９】
【作用】第１の電圧源回路は被試験遮断器に直流回復電
圧を印加し、続いて第２の電圧源回路は第１の電圧源回
路に代って被試験遮断器に交流回復電圧を印加する。ま
た、他の構成におけるインダクタンスを含む電圧源回路
は、このインダクタンス分と電圧源回路を構成するキャ
パシタンス等によって決定される交流回復電圧を短絡電
流遮断後の被試験遮断器に印加する。また、バイパスス
イッチは交流回復電圧印加中に始動ギャップを短絡する
。
圧を印加し、続いて第２の電圧源回路は第１の電圧源回
路に代って被試験遮断器に交流回復電圧を印加する。ま
た、他の構成におけるインダクタンスを含む電圧源回路
は、このインダクタンス分と電圧源回路を構成するキャ
パシタンス等によって決定される交流回復電圧を短絡電
流遮断後の被試験遮断器に印加する。また、バイパスス
イッチは交流回復電圧印加中に始動ギャップを短絡する
。
【００１０】
【実施例】図１は第１の実施例を示す回路図である。図
において、電流源用電源１、保護遮断器２、投入スイッ
チ３、電流源電流調整用インダクタンス４及び電流源回
路コンデンサ５は閉回路を形成すべく互いに直列に接続
されている。電流源回路コンデンサ５には電流源電圧昇
圧用変圧器１６の一次側巻線が接続されている。電流源
電圧昇圧用変圧器１６の二次側巻線の接地側タップと中
間タップとの間には、補助遮断器６と供試遮断器７との
直列体が接続されている。上記電流源用電源１、保護遮
断器２、投入スイッチ３、電流源電流調整用インダクタ
ンス４及び電流源回路コンデンサ５並びに電流源電圧昇
圧用変圧器１６の各部によって電流源回路１７が構成さ
れる。
において、電流源用電源１、保護遮断器２、投入スイッ
チ３、電流源電流調整用インダクタンス４及び電流源回
路コンデンサ５は閉回路を形成すべく互いに直列に接続
されている。電流源回路コンデンサ５には電流源電圧昇
圧用変圧器１６の一次側巻線が接続されている。電流源
電圧昇圧用変圧器１６の二次側巻線の接地側タップと中
間タップとの間には、補助遮断器６と供試遮断器７との
直列体が接続されている。上記電流源用電源１、保護遮
断器２、投入スイッチ３、電流源電流調整用インダクタ
ンス４及び電流源回路コンデンサ５並びに電流源電圧昇
圧用変圧器１６の各部によって電流源回路１７が構成さ
れる。
【００１１】電圧源コンデンサ８、始動ギャップ１２、
電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧振幅
率調整用抵抗１１及び過渡回復電圧周波数調整用コンデ
ンサ１０は閉回路を形成すべく互いに直列に接続されて
いる。 過渡回復電圧振幅率調整用抵抗１１と過渡回復電圧周波
数調整用コンデンサ１０との直列体は電圧源回路切離し
用遮断器１４を介して供試遮断器７に並列に接続されて
いる。 充電装置１３は電圧源コンデンサ８に並列に接続されて
いる。電圧源回路投入用遮断器１５と供試遮断器７との
直列体は、電流源電圧昇圧用変圧器１６の高圧側タップ
と接地側タップとの間に接続されている。電圧源回路投
入用遮断器１５は例えば供試遮断器７と同等以上の耐電
圧性能を有するものを用いる。上記電圧源コンデンサ８
、電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧周
波数調整用コンデンサ１０、過渡回復電圧振幅率調整用
抵抗１１、始動ギャップ１２、充電装置１３及び電圧源
回路切離し用遮断器１４の各部によって第１の電圧源回
路１８が構成される。 また、電圧源回路投入用遮断器１５と電流源電圧昇圧用
変圧器１６とによって第２の電圧源回路１９が構成され
る。
電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧振幅
率調整用抵抗１１及び過渡回復電圧周波数調整用コンデ
ンサ１０は閉回路を形成すべく互いに直列に接続されて
いる。 過渡回復電圧振幅率調整用抵抗１１と過渡回復電圧周波
数調整用コンデンサ１０との直列体は電圧源回路切離し
用遮断器１４を介して供試遮断器７に並列に接続されて
いる。 充電装置１３は電圧源コンデンサ８に並列に接続されて
いる。電圧源回路投入用遮断器１５と供試遮断器７との
直列体は、電流源電圧昇圧用変圧器１６の高圧側タップ
と接地側タップとの間に接続されている。電圧源回路投
入用遮断器１５は例えば供試遮断器７と同等以上の耐電
圧性能を有するものを用いる。上記電圧源コンデンサ８
、電圧源電流調整用インダクタンス９、過渡回復電圧周
波数調整用コンデンサ１０、過渡回復電圧振幅率調整用
抵抗１１、始動ギャップ１２、充電装置１３及び電圧源
回路切離し用遮断器１４の各部によって第１の電圧源回
路１８が構成される。 また、電圧源回路投入用遮断器１５と電流源電圧昇圧用
変圧器１６とによって第２の電圧源回路１９が構成され
る。
【００１２】次に、上記実施例による合成試験回路の試
験方法について説明する。図１において、保護遮断器２
、補助遮断器６及び供試遮断器７を閉路した状態から投
入スイッチ３を閉路すると、短絡電流Ｉが供試遮断器に
流れる。図２は、図１の各部における電流・電圧の変化
を示すグラフである。供試遮断器７には、時刻Ｔ１まで
は上記の短絡電流Ｉが流れていて、その最終零値の時刻
Ｔ０の直前の時点Ｔ１において始動ギャップ１２を始動
させる。始動ギャップ１２の始動によって、電圧源コン
デンサ８に予め充電装置１３によって充電されていた電
荷は放電し、電圧源電流調整用インダクタンス９及び電
圧源コンデンサ８並びに充電装置１３により充電されて
いた充電電圧によって決定される高周波の電流Ｉｖが発
生する。この電流Ｉｖは供試遮断器７を流れる短絡電流
Ｉに重ね合わされる。短絡電流Ｉは既知の検出手段（図
示せず）によって検出されており、その零値（時刻Ｔ０
）において補助遮断器６により遮断され、短絡電流Ｉの
零点以後は、供試遮断器７には、電圧源回路１８から供
給される高周波の電流Ｉｖのみが流れる状態となる。
験方法について説明する。図１において、保護遮断器２
、補助遮断器６及び供試遮断器７を閉路した状態から投
入スイッチ３を閉路すると、短絡電流Ｉが供試遮断器に
流れる。図２は、図１の各部における電流・電圧の変化
を示すグラフである。供試遮断器７には、時刻Ｔ１まで
は上記の短絡電流Ｉが流れていて、その最終零値の時刻
Ｔ０の直前の時点Ｔ１において始動ギャップ１２を始動
させる。始動ギャップ１２の始動によって、電圧源コン
デンサ８に予め充電装置１３によって充電されていた電
荷は放電し、電圧源電流調整用インダクタンス９及び電
圧源コンデンサ８並びに充電装置１３により充電されて
いた充電電圧によって決定される高周波の電流Ｉｖが発
生する。この電流Ｉｖは供試遮断器７を流れる短絡電流
Ｉに重ね合わされる。短絡電流Ｉは既知の検出手段（図
示せず）によって検出されており、その零値（時刻Ｔ０
）において補助遮断器６により遮断され、短絡電流Ｉの
零点以後は、供試遮断器７には、電圧源回路１８から供
給される高周波の電流Ｉｖのみが流れる状態となる。
【００１３】供試遮断器７が遮断に成功する場合には、
電圧源回路１８の高周波の電流Ｉｖは時刻Ｔ１から半波
後の時刻Ｔ２において遮断され、供試遮断器７には過渡
回復電圧が現われる。その後は過渡回復電圧周波数調整
用コンデンサ１０に充電された電圧が供試遮断器７に印
加される。 ここまでは従来例と実質的に同様の動作である。
電圧源回路１８の高周波の電流Ｉｖは時刻Ｔ１から半波
後の時刻Ｔ２において遮断され、供試遮断器７には過渡
回復電圧が現われる。その後は過渡回復電圧周波数調整
用コンデンサ１０に充電された電圧が供試遮断器７に印
加される。 ここまでは従来例と実質的に同様の動作である。
【００１４】次に、供試遮断器７の遮断後の時刻Ｔ３に
おいて、電圧源回路切離し用遮断器１４を開いて電圧源
回路１８を切り離す。続いてその直後の時刻Ｔ４におい
て電圧源回路投入用遮断器１５を閉路し、電流源電圧昇
圧用変圧器１６の高電圧タップを供試遮断器７に接続す
る。こうして、所定の値を有する交流の回復電圧Ｅｒ（
図２）が供試遮断器７に印加される。
おいて、電圧源回路切離し用遮断器１４を開いて電圧源
回路１８を切り離す。続いてその直後の時刻Ｔ４におい
て電圧源回路投入用遮断器１５を閉路し、電流源電圧昇
圧用変圧器１６の高電圧タップを供試遮断器７に接続す
る。こうして、所定の値を有する交流の回復電圧Ｅｒ（
図２）が供試遮断器７に印加される。
【００１５】なお、上記実施例では、電流源電圧昇圧用
変圧器１６を用いた回路構成としたがこれは必須のもの
ではなく、要するに電流源回路１７の回復電圧が所定の
値を得られるような電源構成であれば電流源電圧昇圧用
変圧器１６を省略することもできる。また上記実施例で
は電流源回路１７の回復電圧を利用して、交流の回復電
圧を印加する回路を示したが、所定の回復電圧値を有し
、電流源回路と位相を同じくする交流電源であれば回復
電圧印加回路は別電源としても良いことは言うまでもな
い。
変圧器１６を用いた回路構成としたがこれは必須のもの
ではなく、要するに電流源回路１７の回復電圧が所定の
値を得られるような電源構成であれば電流源電圧昇圧用
変圧器１６を省略することもできる。また上記実施例で
は電流源回路１７の回復電圧を利用して、交流の回復電
圧を印加する回路を示したが、所定の回復電圧値を有し
、電流源回路と位相を同じくする交流電源であれば回復
電圧印加回路は別電源としても良いことは言うまでもな
い。
【００１６】図３は第２の実施例を示す回路図である。
図において、電流源用電源１、保護遮断器２、投入スイ
ッチ３、電流源電流調整用インダクタンス４及び電流源
回路コンデンサ５は閉回路を形成すべく互いに直列に接
続されている。補助遮断器６と供試遮断器７とは互いに
直列に接続され、これらの直列体が電流源コンデンサ５
に並列に接続されている。上記電流源用電源１、保護遮
断器２、投入スイッチ３、電流源電流調整用インダクタ
ンス４及び電流源回路コンデンサ５の各部によって電流
源回路１７が構成される。供試遮断器７の両端には過渡
回復電圧振幅率調整用抵抗１１と過渡回復電圧周波数調
整用コンデンサ１０との直列体及び交流回復電圧印加用
インダクタンス２１がそれぞれ並列接続されている。交
流回復電圧印加用インダクタンス２１の両端には、電圧
源コンデンサ８、始動ギャップ１２及び電圧源電流調整
用インダクタンス９の直列体が接続されている。さらに
、放電ギャップ１２と並列にバイパススイッチ２２が接
続され、電圧源コンデンサ８には充電装置１３が並列接
続されている。上記電圧源コンデンサ８、電圧源電流調
整用インダクタンス９、過渡回復電圧周波数調整用コン
デンサ１０、過渡回復電圧振幅率調整用抵抗１１、始動
ギャップ１２、充電装置１３、交流回復電圧印加用イン
ダクタンス２１及びバイパススイッチ２２の各部によっ
て電圧源回路１８が構成される。
ッチ３、電流源電流調整用インダクタンス４及び電流源
回路コンデンサ５は閉回路を形成すべく互いに直列に接
続されている。補助遮断器６と供試遮断器７とは互いに
直列に接続され、これらの直列体が電流源コンデンサ５
に並列に接続されている。上記電流源用電源１、保護遮
断器２、投入スイッチ３、電流源電流調整用インダクタ
ンス４及び電流源回路コンデンサ５の各部によって電流
源回路１７が構成される。供試遮断器７の両端には過渡
回復電圧振幅率調整用抵抗１１と過渡回復電圧周波数調
整用コンデンサ１０との直列体及び交流回復電圧印加用
インダクタンス２１がそれぞれ並列接続されている。交
流回復電圧印加用インダクタンス２１の両端には、電圧
源コンデンサ８、始動ギャップ１２及び電圧源電流調整
用インダクタンス９の直列体が接続されている。さらに
、放電ギャップ１２と並列にバイパススイッチ２２が接
続され、電圧源コンデンサ８には充電装置１３が並列接
続されている。上記電圧源コンデンサ８、電圧源電流調
整用インダクタンス９、過渡回復電圧周波数調整用コン
デンサ１０、過渡回復電圧振幅率調整用抵抗１１、始動
ギャップ１２、充電装置１３、交流回復電圧印加用イン
ダクタンス２１及びバイパススイッチ２２の各部によっ
て電圧源回路１８が構成される。
【００１７】次に、上記第２の実施例の動作について説
明する。図４は図３の各部における電流・電圧の変化を
示すグラフである。図３において、保護遮断器２、補助
遮断器６及び供試遮断器７を閉路した状態から時刻Ｔ０
１（図４）において投入スイッチ３を閉路すると、短絡
電流Ｉが供試遮断器７に流れる。補助遮断器６及び供試
遮断器７は時刻Ｔ０２において開極するが、短絡電流Ｉ
は引き続き流れていて、その最終零値の時刻Ｔ０の直前
の時点Ｔ１において始動ギャップ１２を始動させる。始
動ギャップ１２の始動によって、電圧源コンデンサ８に
予め充電装置１３によって充電されていた電荷は放電し
、電圧源電流調整用インダクタンス９及び電圧源コンデ
ンサ８並びに充電装置１３により充電されていた充電電
圧によって決定される高周波の電流Ｉｖが発生する。こ
の電流Ｉｖは供試遮断器７を流れる短絡電流Ｉに重ね合
わされる。短絡電流Ｉは既知の検出手段（図示せず）に
よって検出されており、その零値（時刻Ｔ０）において
補助遮断器６により遮断される。短絡電流Ｉの零点以後
は、供試遮断器７には、電圧源回路１８から供給される
高周波の電流Ｉｖのみが流れる状態となる。
明する。図４は図３の各部における電流・電圧の変化を
示すグラフである。図３において、保護遮断器２、補助
遮断器６及び供試遮断器７を閉路した状態から時刻Ｔ０
１（図４）において投入スイッチ３を閉路すると、短絡
電流Ｉが供試遮断器７に流れる。補助遮断器６及び供試
遮断器７は時刻Ｔ０２において開極するが、短絡電流Ｉ
は引き続き流れていて、その最終零値の時刻Ｔ０の直前
の時点Ｔ１において始動ギャップ１２を始動させる。始
動ギャップ１２の始動によって、電圧源コンデンサ８に
予め充電装置１３によって充電されていた電荷は放電し
、電圧源電流調整用インダクタンス９及び電圧源コンデ
ンサ８並びに充電装置１３により充電されていた充電電
圧によって決定される高周波の電流Ｉｖが発生する。こ
の電流Ｉｖは供試遮断器７を流れる短絡電流Ｉに重ね合
わされる。短絡電流Ｉは既知の検出手段（図示せず）に
よって検出されており、その零値（時刻Ｔ０）において
補助遮断器６により遮断される。短絡電流Ｉの零点以後
は、供試遮断器７には、電圧源回路１８から供給される
高周波の電流Ｉｖのみが流れる状態となる。
【００１８】供試遮断器７が遮断に成功する場合には、
電圧源回路１８の高周波の電流Ｉｖは時刻Ｔ１から半波
後の時刻Ｔ２において遮断され、供試遮断器７には過渡
回復電圧が現われる。その後、供試遮断器７には、電圧
源コンデンサ８、電圧源電流調整用インダクタンス９、
過渡回復電圧周波数調整用コンデンサ１０及び交流回復
電圧印加用インダクタンス２１によって決まる周波数の
交流電圧からなる回復電圧Ｅｒが印加される。バイパス
スイッチ２２は、時刻Ｔ２以降において閉路し、試験終
了まで閉路し続ける。従って、電圧源回路１８は始動ギ
ャップ１２がもし開路しても閉回路を保ち続け、回復電
圧Ｅｒは試験終了まで供試遮断器７に印加される。
電圧源回路１８の高周波の電流Ｉｖは時刻Ｔ１から半波
後の時刻Ｔ２において遮断され、供試遮断器７には過渡
回復電圧が現われる。その後、供試遮断器７には、電圧
源コンデンサ８、電圧源電流調整用インダクタンス９、
過渡回復電圧周波数調整用コンデンサ１０及び交流回復
電圧印加用インダクタンス２１によって決まる周波数の
交流電圧からなる回復電圧Ｅｒが印加される。バイパス
スイッチ２２は、時刻Ｔ２以降において閉路し、試験終
了まで閉路し続ける。従って、電圧源回路１８は始動ギ
ャップ１２がもし開路しても閉回路を保ち続け、回復電
圧Ｅｒは試験終了まで供試遮断器７に印加される。
【００１９】図５は第３の実施例を示す回路図である。
第２の実施例（図３）との違いはバイパススイッチ２２
を始動ギャップ１２のみに並列接続するのではなく、始
動ギャップ１２と電圧源電流調整用インダクタンス９と
の直列体に対して並列接続したことである。この場合、
回復電圧Ｅｒは、電圧源コンデンサ８、過渡回復電圧周
波数調整用コンデンサ１０及び交流回復電圧印加用イン
ダクタンス２１によって決まる周波数の交流電圧となる
。また、バイパススイッチ２２は過渡回復電圧印加後（
図４の時刻Ｔ２以降）に短絡する。
を始動ギャップ１２のみに並列接続するのではなく、始
動ギャップ１２と電圧源電流調整用インダクタンス９と
の直列体に対して並列接続したことである。この場合、
回復電圧Ｅｒは、電圧源コンデンサ８、過渡回復電圧周
波数調整用コンデンサ１０及び交流回復電圧印加用イン
ダクタンス２１によって決まる周波数の交流電圧となる
。また、バイパススイッチ２２は過渡回復電圧印加後（
図４の時刻Ｔ２以降）に短絡する。
【００２０】図６は第４の実施例を示す回路図である。
第２の実施例（図３）との違いは、第２の実施例のよう
に単独の高価な高電圧用の交流回復電圧印加用インダク
タンス２１を設ける代わりに、変圧器２３を介して低電
圧用の交流回復電圧印加用インダクタンス２４を設けた
ことである。
に単独の高価な高電圧用の交流回復電圧印加用インダク
タンス２１を設ける代わりに、変圧器２３を介して低電
圧用の交流回復電圧印加用インダクタンス２４を設けた
ことである。
【００２１】なお、上記第２〜４の実施例においてはい
ずれも始動ギャップ１２に対してバイパス回路を構成す
るバイパススイッチ１７を設けたものを示したが、始動
ギャップ１２が、回復電圧印加中に電圧源回路１８を開
く恐れの無い構造のものであれば設けなくても良い。ま
た、上記第１〜４の実施例は遮断器を被試験開閉器とし
たものを示したが、断路器や他の開閉器であっても同様
の合成試験回路を適用できることは言うまでもない。
ずれも始動ギャップ１２に対してバイパス回路を構成す
るバイパススイッチ１７を設けたものを示したが、始動
ギャップ１２が、回復電圧印加中に電圧源回路１８を開
く恐れの無い構造のものであれば設けなくても良い。ま
た、上記第１〜４の実施例は遮断器を被試験開閉器とし
たものを示したが、断路器や他の開閉器であっても同様
の合成試験回路を適用できることは言うまでもない。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、以下に記載する効果を奏する。請求項１の遮断器
の合成試験回路においては、遮断動作後の被試験遮断器
７に直流回復電圧を印加する第１の電圧源回路１８と交
代して電流源回路１７と同位相の交流回復電圧を印加す
る第２の電圧源回路１９を設けたので、遮断動作後の被
試験遮断器７に交流の回復電圧を印加することができる
という効果がある。
ので、以下に記載する効果を奏する。請求項１の遮断器
の合成試験回路においては、遮断動作後の被試験遮断器
７に直流回復電圧を印加する第１の電圧源回路１８と交
代して電流源回路１７と同位相の交流回復電圧を印加す
る第２の電圧源回路１９を設けたので、遮断動作後の被
試験遮断器７に交流の回復電圧を印加することができる
という効果がある。
【００２３】請求項２の遮断器の合成試験回路において
は、被試験遮断器７に並列接続されたインダクタンス２
１を含む電圧源回路を設けたので、請求項１と同様に、
遮断動作後の被試験遮断器７に交流の回復電圧を印加す
ることができるという効果がある。
は、被試験遮断器７に並列接続されたインダクタンス２
１を含む電圧源回路を設けたので、請求項１と同様に、
遮断動作後の被試験遮断器７に交流の回復電圧を印加す
ることができるという効果がある。
【００２４】請求項３の遮断器の合成試験回路において
は、請求項２の効果に加えて、交流回復電圧の印加中に
はバイパススイッチ２２が始動ギャップ１２を短絡する
ので、該電圧の印加中に電圧源回路が開くことを防止で
き、より確実に交流回復電圧を印加できるという効果が
ある。
は、請求項２の効果に加えて、交流回復電圧の印加中に
はバイパススイッチ２２が始動ギャップ１２を短絡する
ので、該電圧の印加中に電圧源回路が開くことを防止で
き、より確実に交流回復電圧を印加できるという効果が
ある。
【図１】第１の実施例を示す回路図
【図２】図１の各部における電圧・電流波形を示すグラ
フ
フ
【図３】第２の実施例を示す回路図
【図４】図３の各部における電圧・電流波形を示すグラ
フ
フ
【図５】第３の実施例を示す回路図
【図６】第４の実施例を示す回路図
【図７】従来の遮断器の合成試験回路を示す回路図
【図
８】図７の各部の電圧・電流波形を示すグラフ
８】図７の各部の電圧・電流波形を示すグラフ
７ 供試遮断器
１２ 始動ギャップ
１７ 電流源回路
１８ （第１の）電圧源回路
１９ 第２の電圧源回路
２１ 交流回復電圧印加用インダクタンス２２
バイパススイッチ
バイパススイッチ
Claims (3)
- 【請求項１】 閉路している被試験遮断器に短絡電流
を供給すべき電流源回路と、上記被試験遮断器が上記短
絡電流を遮断した後、該被試験遮断器に直流回復電圧を
印加すべき第１の電圧源回路と、上記直流回復電圧の印
加後、上記電圧源回路に代わって上記被試験遮断器に、
上記電流源回路と同位相の交流回復電圧を印加すべき第
２の電圧源回路と、を備えた遮断器の合成試験回路。 - 【請求項２】 閉路している被試験遮断器に短絡電流
を供給すべき電流源回路と、上記被試験遮断器に並列接
続されたインダクタンスを含み、上記被試験遮断器が上
記短絡電流を遮断し後、該被試験遮断器に交流回復電圧
を印加すべき電圧源回路と、を備えた遮断器の合成試験
回路。 - 【請求項３】 上記電圧源回路は、始動ギャップと、
この始動ギャップを含む電路に並列接続されたバイパス
スイッチとを有することを特徴とする請求項２の遮断器
の合成試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3231278A JPH04363677A (ja) | 1991-04-03 | 1991-09-11 | 遮断器の合成試験回路 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3-71085 | 1991-04-03 | ||
| JP7108591 | 1991-04-03 | ||
| JP3231278A JPH04363677A (ja) | 1991-04-03 | 1991-09-11 | 遮断器の合成試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04363677A true JPH04363677A (ja) | 1992-12-16 |
Family
ID=26412210
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3231278A Pending JPH04363677A (ja) | 1991-04-03 | 1991-09-11 | 遮断器の合成試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04363677A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102169163A (zh) * | 2010-12-30 | 2011-08-31 | 上海申瑞电力科技股份有限公司 | 交直流自适应的开关量采集电路及其采集方法 |
| CN103278767A (zh) * | 2013-05-13 | 2013-09-04 | 国家电网公司 | 便携式空气开关检测仪及其操控方法 |
| CN104090232A (zh) * | 2014-07-04 | 2014-10-08 | 天津市百利电气有限公司 | 断路器短路电流试验台 |
| CN106093770A (zh) * | 2016-07-29 | 2016-11-09 | 国网山东省电力公司济南供电公司 | 一种低压断路器的短路合分试验辅助装置 |
| CN110161405A (zh) * | 2019-07-01 | 2019-08-23 | 大连理工大学 | 一种三电源直流开断合成试验回路及其试验方法 |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3231278A patent/JPH04363677A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102169163A (zh) * | 2010-12-30 | 2011-08-31 | 上海申瑞电力科技股份有限公司 | 交直流自适应的开关量采集电路及其采集方法 |
| CN103278767A (zh) * | 2013-05-13 | 2013-09-04 | 国家电网公司 | 便携式空气开关检测仪及其操控方法 |
| CN104090232A (zh) * | 2014-07-04 | 2014-10-08 | 天津市百利电气有限公司 | 断路器短路电流试验台 |
| CN104090232B (zh) * | 2014-07-04 | 2017-01-11 | 天津市百利电气有限公司 | 断路器短路电流试验台 |
| CN106093770A (zh) * | 2016-07-29 | 2016-11-09 | 国网山东省电力公司济南供电公司 | 一种低压断路器的短路合分试验辅助装置 |
| CN106093770B (zh) * | 2016-07-29 | 2019-01-29 | 国网山东省电力公司济南供电公司 | 一种低压断路器的短路合分试验辅助装置 |
| CN110161405A (zh) * | 2019-07-01 | 2019-08-23 | 大连理工大学 | 一种三电源直流开断合成试验回路及其试验方法 |
| CN110161405B (zh) * | 2019-07-01 | 2020-08-04 | 大连理工大学 | 一种三电源直流开断合成试验回路及其试验方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04363677A (ja) | 遮断器の合成試験回路 | |
| JPH05113470A (ja) | 遮断器用短絡試験装置 | |
| JPH08271596A (ja) | 遮断器の合成等価試験法 | |
| JPH0682536A (ja) | 遮断器の合成試験方法及び回路 | |
| JP2675649B2 (ja) | 開閉装置の試験方法およびその装置 | |
| JPS60207079A (ja) | しや断器合成試験方法 | |
| JP3103240B2 (ja) | 残留電圧放電装置 | |
| JPH063425A (ja) | 開閉器の試験回路 | |
| JPS6157870A (ja) | 遮断器の三相等価試験方法 | |
| JPH03202792A (ja) | しゃ断器の合成試験装置 | |
| JPH0651036A (ja) | 近距離線路故障試験装置 | |
| JPH065652Y2 (ja) | しや断器の試験装置 | |
| JPS61225675A (ja) | 開閉装置の試験方法及びその装置 | |
| JPS6119942B2 (ja) | ||
| JPH01123176A (ja) | アーク延長回路 | |
| JPH0735831A (ja) | 遮断器の試験方法及びその装置 | |
| JPS63177083A (ja) | 遮断器の脱調合成試験装置 | |
| SU985875A1 (ru) | Способ автоматического повторного включени линии электропередачи | |
| JPS61195366A (ja) | 避雷器切離し装置の試験装置 | |
| JPH07280896A (ja) | 遅相電流遮断試験装置 | |
| SU1737615A1 (ru) | Устройство дл компенсации ЭДС поврежденной фазы при однофазных замыкани х в сет х с незаземленной нейтралью | |
| JPS59120871A (ja) | しや断器のしや断接点試験回路 | |
| JPH0519029A (ja) | 遮断器の合成等価試験回路 | |
| JPH0563748B2 (ja) | ||
| JPH03249579A (ja) | 遮断器の合成遮断試験装置 |