JPS6119942B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6119942B2 JPS6119942B2 JP13188880A JP13188880A JPS6119942B2 JP S6119942 B2 JPS6119942 B2 JP S6119942B2 JP 13188880 A JP13188880 A JP 13188880A JP 13188880 A JP13188880 A JP 13188880A JP S6119942 B2 JPS6119942 B2 JP S6119942B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- circuit
- current source
- disconnector
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 21
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 12
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 4
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 241000219198 Brassica Species 0.000 description 1
- 235000003351 Brassica cretica Nutrition 0.000 description 1
- 235000003343 Brassica rupestris Nutrition 0.000 description 1
- QKSKPIVNLNLAAV-UHFFFAOYSA-N bis(2-chloroethyl) sulfide Chemical compound ClCCSCCCl QKSKPIVNLNLAAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 235000010460 mustard Nutrition 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
- G01R31/3336—Synthetic testing, i.e. with separate current and voltage generators simulating distance fault conditions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、合成試験法によるしや断器の等価試
験装置に関し、特にアーク延長のためのインパル
ス回路に関する。
験装置に関し、特にアーク延長のためのインパル
ス回路に関する。
しや断器の等価試験装置は、しや断性能試験を
実使用状態と同じ規模で実施する直接試験に代つ
て、比較的小規模設備による検証を可能にする。
そのうち、合成試験法は第１図に示すワイル法に
代表されるように高圧電圧源Ｖと大電流源Ａを用
意し、しや断前に電流源から供試しや断器CBtに
供給している大電流をしや断器CBtのしや断時に
電圧源に切換えて再起電圧波形の電圧が印加され
ることでしや断性能の検証がなされる。このしや
断性能試験において、開極時のアーク時間が半サ
イクルを越えた領域までのしや断性能を検証でき
ることが望まれる。即ち、合成等価試験では、開
極から最初の電流零点を越えて確実にアーク延長
させる技術が要求される。このアーク延長のため
に、従来は第１図に示すＲ―Ｌ―Ｃ回路と３点ギ
ヤツプＧのインパルス回路と補助しや断器Ａux
CBとを用意し、３点ギヤツプＧを発弧させて予
め充電されたコンデンサＣからしや断器CBtの電
流零点でその電荷をリアクトルＬさらには抵抗Ｒ
を介してしや断電流に急峻なパルス電流として重
畳させる。
実使用状態と同じ規模で実施する直接試験に代つ
て、比較的小規模設備による検証を可能にする。
そのうち、合成試験法は第１図に示すワイル法に
代表されるように高圧電圧源Ｖと大電流源Ａを用
意し、しや断前に電流源から供試しや断器CBtに
供給している大電流をしや断器CBtのしや断時に
電圧源に切換えて再起電圧波形の電圧が印加され
ることでしや断性能の検証がなされる。このしや
断性能試験において、開極時のアーク時間が半サ
イクルを越えた領域までのしや断性能を検証でき
ることが望まれる。即ち、合成等価試験では、開
極から最初の電流零点を越えて確実にアーク延長
させる技術が要求される。このアーク延長のため
に、従来は第１図に示すＲ―Ｌ―Ｃ回路と３点ギ
ヤツプＧのインパルス回路と補助しや断器Ａux
CBとを用意し、３点ギヤツプＧを発弧させて予
め充電されたコンデンサＣからしや断器CBtの電
流零点でその電荷をリアクトルＬさらには抵抗Ｒ
を介してしや断電流に急峻なパルス電流として重
畳させる。
しかし、従来のインパルス回路では、絶縁回復
特性に優れる供試しや断器には電流の第１零点で
のアーク延長成功率が低いものであつた。これ
は、アーク延長用注入電流に1KHz以上の高周波
電流をしや断電流に重畳させ、しや断器のしや断
能力を越えるdi/dtの合成電流を流すも、合成電
流には必ず電流値零の瞬間があつてしや断電流零
時点を通り過ぎた後に合成電流が再び零をよぎる
ことになり、この電流零のよぎりが多数回発生し
かつ注入電流が減衰する過程で零点でのdi/dtが
減ずるため、供試しや断器の絶縁回復特性を上ま
わるに充分な電圧を与えられないことによる。
特性に優れる供試しや断器には電流の第１零点で
のアーク延長成功率が低いものであつた。これ
は、アーク延長用注入電流に1KHz以上の高周波
電流をしや断電流に重畳させ、しや断器のしや断
能力を越えるdi/dtの合成電流を流すも、合成電
流には必ず電流値零の瞬間があつてしや断電流零
時点を通り過ぎた後に合成電流が再び零をよぎる
ことになり、この電流零のよぎりが多数回発生し
かつ注入電流が減衰する過程で零点でのdi/dtが
減ずるため、供試しや断器の絶縁回復特性を上ま
わるに充分な電圧を与えられないことによる。
本発明の目的は供試しや断器のしや断能力以上
のdi/dtの合成電流でしや断電流零点を越え、電
流零点を越えた後の合成電流が再び零点をよぎら
ない電流注入を可能にした等価試験装置を提供す
るにある。
のdi/dtの合成電流でしや断電流零点を越え、電
流零点を越えた後の合成電流が再び零点をよぎら
ない電流注入を可能にした等価試験装置を提供す
るにある。
第２図は本発明の一実施例を示す回路図であ
る。供試しや断器CBtには回路分離用しや断器Ａ
ux、Ａuxによつて電流源Ａと電圧源Ｖからの
大電流、高電圧の供給しや断がなされる。電流源
Ａは短絡用交流発電機AGから供試しや断器CBt
に短絡電流I1を供給し、回路保護コンデンサＣA
及びその分離用しや断器Ａuxなどを具備する。
電流源Ａの出力電流I1に重畳するアーク延長用注
入電流はインパルス回路IMPから供給され、供試
しや断器CBtに合成電流ＩTが供給される。
る。供試しや断器CBtには回路分離用しや断器Ａ
ux、Ａuxによつて電流源Ａと電圧源Ｖからの
大電流、高電圧の供給しや断がなされる。電流源
Ａは短絡用交流発電機AGから供試しや断器CBt
に短絡電流I1を供給し、回路保護コンデンサＣA
及びその分離用しや断器Ａuxなどを具備する。
電流源Ａの出力電流I1に重畳するアーク延長用注
入電流はインパルス回路IMPから供給され、供試
しや断器CBtに合成電流ＩTが供給される。
インパルス回路IMPは、回路分離用しや断器Ａ
uxを通した出力電流を２つの電流源から供給
し、その１つはリアクタンスL1とコンデンサC1
と３点ギヤツプG1と放電電流制限用抵抗R1の直
列回路から成る振動電流源にされ、この電流源は
ギヤツプG1のトリガでC1とL1で決まる共振周波
数の高周波振動電流（例えば1KHz以上）I21を供
試しや断器CBtに供給する。インパルス回路IMP
の他の電流源はコンデンサC2と３点ギヤツプG2
と時定数用抵抗R2の直列回路から成る直流電流
源にされ、この電流源はギヤツプG2のトリガで
コンデンサC2と抵抗R2の時定数で決まる放電電
流I22を供給する。
uxを通した出力電流を２つの電流源から供給
し、その１つはリアクタンスL1とコンデンサC1
と３点ギヤツプG1と放電電流制限用抵抗R1の直
列回路から成る振動電流源にされ、この電流源は
ギヤツプG1のトリガでC1とL1で決まる共振周波
数の高周波振動電流（例えば1KHz以上）I21を供
試しや断器CBtに供給する。インパルス回路IMP
の他の電流源はコンデンサC2と３点ギヤツプG2
と時定数用抵抗R2の直列回路から成る直流電流
源にされ、この電流源はギヤツプG2のトリガで
コンデンサC2と抵抗R2の時定数で決まる放電電
流I22を供給する。
インパルス回路IMPの振動電流源及び直流電流
源に必要なエネルギー供給は充電回路Ｒecによつ
てコンデンサC1とC2が予め充電されることでな
される。ここで、コンデンサC1とC2は図示の逆
極性に充電される。
源に必要なエネルギー供給は充電回路Ｒecによつ
てコンデンサC1とC2が予め充電されることでな
される。ここで、コンデンサC1とC2は図示の逆
極性に充電される。
このインパルス回路IMPの制御は第３図に示す
波形図で説明する。試験に際してコンデンサC1
及びC2は図示極性で所定電圧まで充電され、し
や断器Ａuxが投入されて電流源Ａから電流I1が
供給される状態において、供試しや断器CBtを開
極（時刻t1）後、最初の電流零点直前でギヤツプ
G1をトリガする。このトリガ時点（t2）ではC1，
L1，R1で決定される電流I21が電流I1に重畳して流
れ、コンデンサC1の充電極性がI1に正に重畳され
る極性となつて合成電流ＩTは電流値が高周波電
流の半周期期間では高くなる。次に、振動電流
I21の最初の半周期終了時（時刻t3）にギヤツプG2
をトリガすると、直流電流源側からC2，R2で決
定される電流I22がI21に重畳され、供試しや断器
CBtを通過する合成電流ＩTは高いdi/dtで零点を
通過し極性反転した後にはI1成分の次の電流零点
に至るまでは電流零点を通過することなくアーク
延長可能となる。なお、しや断器Ａuxとはイ
ンパルス注入時にはしや断され電流源のコンデン
サＣA及び電圧源のワイル回路コンデンサをイン
パルス回路から分離して供試しや断器CBtにその
絶縁回復特性を上まわるに充分な電圧を与える。
波形図で説明する。試験に際してコンデンサC1
及びC2は図示極性で所定電圧まで充電され、し
や断器Ａuxが投入されて電流源Ａから電流I1が
供給される状態において、供試しや断器CBtを開
極（時刻t1）後、最初の電流零点直前でギヤツプ
G1をトリガする。このトリガ時点（t2）ではC1，
L1，R1で決定される電流I21が電流I1に重畳して流
れ、コンデンサC1の充電極性がI1に正に重畳され
る極性となつて合成電流ＩTは電流値が高周波電
流の半周期期間では高くなる。次に、振動電流
I21の最初の半周期終了時（時刻t3）にギヤツプG2
をトリガすると、直流電流源側からC2，R2で決
定される電流I22がI21に重畳され、供試しや断器
CBtを通過する合成電流ＩTは高いdi/dtで零点を
通過し極性反転した後にはI1成分の次の電流零点
に至るまでは電流零点を通過することなくアーク
延長可能となる。なお、しや断器Ａuxとはイ
ンパルス注入時にはしや断され電流源のコンデン
サＣA及び電圧源のワイル回路コンデンサをイン
パルス回路から分離して供試しや断器CBtにその
絶縁回復特性を上まわるに充分な電圧を与える。
また、電流注入直後にはしや断器Ａuxは開放
され、インパルス回路と電流源Ａの発電機AGを
分離させる。この分離は万一アーク延長失敗の場
合にコンデンサC2と電流源Ａとの間で共振して
電流源の絶縁を脅かすのを防止する。また、しや
断器Ａuxはその開放で電圧源Ｖからインパルス
回路に高電圧が印加されるのを防止する。なお、
ギヤツプG1及びG2は放電特性を確実にするため
に好ましくは２個直列に設けて同時にトリガす
る。
され、インパルス回路と電流源Ａの発電機AGを
分離させる。この分離は万一アーク延長失敗の場
合にコンデンサC2と電流源Ａとの間で共振して
電流源の絶縁を脅かすのを防止する。また、しや
断器Ａuxはその開放で電圧源Ｖからインパルス
回路に高電圧が印加されるのを防止する。なお、
ギヤツプG1及びG2は放電特性を確実にするため
に好ましくは２個直列に設けて同時にトリガす
る。
以上のとおり、本発明は、アーク延長用注入電
流源としてのインパルス回路に、高周波振動電流
源とCRの非振動電流源を具備し、しや断電流I1
にその零点直前にまず高周波振動電流を重畳させ
てその半サイクル後の極性反転時にもう一つの電
流源から非振動の漸減減衰波形の電流を極性反転
方向に重畳させることにより、しや断電流の零点
通過は高いdi/dtにし、しかも零点通過後には再
度零点をよぎることがなく、確実なアーク延長が
可能となり、安定したしや断性能試験ができる。
また、インパルス回路IMPと電流源Ａとを分離す
るしや断器Ａuxを具えるため、両者の分離をし
て電流源の保護が可能になる。また、しや断器Ａ
uxはインパルス回路が電圧源から高電圧印加さ
れるのを防止できる。
流源としてのインパルス回路に、高周波振動電流
源とCRの非振動電流源を具備し、しや断電流I1
にその零点直前にまず高周波振動電流を重畳させ
てその半サイクル後の極性反転時にもう一つの電
流源から非振動の漸減減衰波形の電流を極性反転
方向に重畳させることにより、しや断電流の零点
通過は高いdi/dtにし、しかも零点通過後には再
度零点をよぎることがなく、確実なアーク延長が
可能となり、安定したしや断性能試験ができる。
また、インパルス回路IMPと電流源Ａとを分離す
るしや断器Ａuxを具えるため、両者の分離をし
て電流源の保護が可能になる。また、しや断器Ａ
uxはインパルス回路が電圧源から高電圧印加さ
れるのを防止できる。
第１図は従来のしや断器の等価試験装置を示す
図、第２図は本発明の一実施例を示す回路図、第
３図は第２図の動作波形図である。 Ａ……電流源、Ｖ……電圧源、IMP……インパ
ルス回路、Ｒec……充電回路、CBt……供試しや
断器。
図、第２図は本発明の一実施例を示す回路図、第
３図は第２図の動作波形図である。 Ａ……電流源、Ｖ……電圧源、IMP……インパ
ルス回路、Ｒec……充電回路、CBt……供試しや
断器。
Claims (1)
- １ アーク延長のためのインパルス回路を有する
合成試験法によるしや断器の等価試験装置におい
て、上記インパルス回路は、電流源から供試しや
断器に供給するしや断電流の最初の零点直前で供
試しや断器のしや断能力以上の高周波振動電流を
該しや断電流に重畳させる振動電流源と、この振
動電流としや断電流の合成電流が零点を通過する
際に該合成電流に同極性に非振動電流を重畳させ
る直流電流源とを備えたことを特徴とするしや断
器の等価試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13188880A JPS5756766A (en) | 1980-09-22 | 1980-09-22 | Equivalent tester for breaker |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13188880A JPS5756766A (en) | 1980-09-22 | 1980-09-22 | Equivalent tester for breaker |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5756766A JPS5756766A (en) | 1982-04-05 |
| JPS6119942B2 true JPS6119942B2 (ja) | 1986-05-20 |
Family
ID=15068487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13188880A Granted JPS5756766A (en) | 1980-09-22 | 1980-09-22 | Equivalent tester for breaker |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5756766A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6452153A (en) * | 1987-05-07 | 1989-02-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | Circulating liquid flow detector for automatic photosensitive material developing machine |
| JPS6452152A (en) * | 1987-05-07 | 1989-02-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | Circulating liquid flow detector for automatic photosensitive material developing machine |
| JPH02145921A (ja) * | 1988-11-28 | 1990-06-05 | Ranco Japan Ltd | 液体の水位制御装置 |
-
1980
- 1980-09-22 JP JP13188880A patent/JPS5756766A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6452153A (en) * | 1987-05-07 | 1989-02-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | Circulating liquid flow detector for automatic photosensitive material developing machine |
| JPS6452152A (en) * | 1987-05-07 | 1989-02-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | Circulating liquid flow detector for automatic photosensitive material developing machine |
| JPH02145921A (ja) * | 1988-11-28 | 1990-06-05 | Ranco Japan Ltd | 液体の水位制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5756766A (en) | 1982-04-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6119942B2 (ja) | ||
| JP2591525B2 (ja) | 遮断器の試験装置 | |
| Yanabu et al. | Development of HVDC circuit breaker and its interrupting test | |
| JPH05205849A (ja) | 避雷器の試験方法 | |
| JPS6119941B2 (ja) | ||
| JPH04363677A (ja) | 遮断器の合成試験回路 | |
| JP2787050B2 (ja) | 開閉機器の絶縁回復試験回路 | |
| JPS60207079A (ja) | しや断器合成試験方法 | |
| JP2675649B2 (ja) | 開閉装置の試験方法およびその装置 | |
| JPH0145592B2 (ja) | ||
| JPH08271596A (ja) | 遮断器の合成等価試験法 | |
| JPH0651036A (ja) | 近距離線路故障試験装置 | |
| JPH0519029A (ja) | 遮断器の合成等価試験回路 | |
| JPH0355110Y2 (ja) | ||
| JP2001343436A (ja) | 遮断器の耐電圧試験方法 | |
| JPS58127183A (ja) | 多点切タンク形しや断器の合成試験法 | |
| JPH08278349A (ja) | 遮断器の合成等価試験法 | |
| JPS59120871A (ja) | しや断器のしや断接点試験回路 | |
| JPS61155780A (ja) | 遮断器の進み小電流等価試険装置 | |
| JPH01292274A (ja) | 進み小電流遮断試験の合成試験装置 | |
| JPH0738014B2 (ja) | 遮断器の脱調合成試験装置 | |
| JPH06267377A (ja) | 残留電圧放電装置 | |
| JPS6119940B2 (ja) | ||
| JPH08105948A (ja) | 零ミス電流遮断試験回路 | |
| JPH0563748B2 (ja) |