JPH0738014B2 - 遮断器の脱調合成試験装置 - Google Patents
遮断器の脱調合成試験装置Info
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- JPH0738014B2 JPH0738014B2 JP823387A JP823387A JPH0738014B2 JP H0738014 B2 JPH0738014 B2 JP H0738014B2 JP 823387 A JP823387 A JP 823387A JP 823387 A JP823387 A JP 823387A JP H0738014 B2 JPH0738014 B2 JP H0738014B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、遮断器の合成試験装置に係り、特に高電圧交
流遮断器の脱調遮断試験を行う場合の合成試験装置の改
良に関するものである。
流遮断器の脱調遮断試験を行う場合の合成試験装置の改
良に関するものである。
（従来の技術） 遮断器の遮断責務には、線路の短絡事故あるいは接地事
故等の大きな事故電流を遮断する責務の他に、電力系統
の脱調状態における電流を開閉する脱調遮断責務があ
る。この責務は遮断電流は比較的小さいが回復電圧は非
常に高いという特徴がある。その理由は電流遮断後に当
該遮断器の端子間に印加される回復電圧は、端子両端の
電源が脱調状態にあるために、位相差があることから非
常に高いものとなるからである。試験規格のJEC−2300
（1985）やIEC Pub.56−４（1975）によれば、試験条件
として、遮断電流は定格遮断電流の25％、試験電圧は、
相互の電源が最大位相差の180°（逆極性位相）で行う
ことが規定されており、この規定によれば試験電圧は有
効接地系では対地電圧の２倍、非有効接地系では2.5倍
となる。１例として、IECに規定されている定格電圧765
kVの場合には、試験電圧が となりその過渡回復電圧の波高値は、1562kVとなる。
故等の大きな事故電流を遮断する責務の他に、電力系統
の脱調状態における電流を開閉する脱調遮断責務があ
る。この責務は遮断電流は比較的小さいが回復電圧は非
常に高いという特徴がある。その理由は電流遮断後に当
該遮断器の端子間に印加される回復電圧は、端子両端の
電源が脱調状態にあるために、位相差があることから非
常に高いものとなるからである。試験規格のJEC−2300
（1985）やIEC Pub.56−４（1975）によれば、試験条件
として、遮断電流は定格遮断電流の25％、試験電圧は、
相互の電源が最大位相差の180°（逆極性位相）で行う
ことが規定されており、この規定によれば試験電圧は有
効接地系では対地電圧の２倍、非有効接地系では2.5倍
となる。１例として、IECに規定されている定格電圧765
kVの場合には、試験電圧が となりその過渡回復電圧の波高値は、1562kVとなる。
これらの責務を試験所で行う為には、第４図に示す様に
180°の位相差を持つ２つの電源１を用いて試験を行う
のが基本であるが、設備上の制約から、第５図に示す単
一の電源１から規定の電流及び全端子間電圧を供試遮断
器８に供給する回路が用いられている。又、これらの短
絡発電機の電源１のみを基本に用いた直接試験法では、
現在の高電圧大容量遮断器に対して、試験容量が不足す
るので、第６図に示す様な短絡発電機１とコンデンサバ
ンク24を組合せた合成試験回路を用いるのが一般的であ
り、定格電圧が100kV以上の遮断器に対しては、ほとん
ど全てがこの回路によっているのが現状である。
180°の位相差を持つ２つの電源１を用いて試験を行う
のが基本であるが、設備上の制約から、第５図に示す単
一の電源１から規定の電流及び全端子間電圧を供試遮断
器８に供給する回路が用いられている。又、これらの短
絡発電機の電源１のみを基本に用いた直接試験法では、
現在の高電圧大容量遮断器に対して、試験容量が不足す
るので、第６図に示す様な短絡発電機１とコンデンサバ
ンク24を組合せた合成試験回路を用いるのが一般的であ
り、定格電圧が100kV以上の遮断器に対しては、ほとん
ど全てがこの回路によっているのが現状である。
（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、中で第５図及び第６図に示した試験回路
は、供試遮断器８の一方の端子を接地し、もう一方の端
子から規定の全極間電圧を印加するものであり、電圧が
印加される側の遮断器端子と対地間には、実系統以上の
苛酷な電圧が印加されることになる。特に低減絶縁を追
求して経済的な系統構成を行う超高圧以上の機器には、
この傾向が顕著である。先に試験条件の例を示したUHV
系統の定格電圧765kVでは、絶縁試験時の開閉インパル
ス電圧値は、対地＝1425kV、極間＝1550kVであることか
ら、脱調試験時の過渡回復電圧波高値1562kVは、完全に
これらの絶縁試験値を上回っている。この様に、極間に
印加される電圧を一方の端子からのみ印加することは、
特に高電圧遮断器の試験において、不合理となり、好ま
しくない欠点があった。
は、供試遮断器８の一方の端子を接地し、もう一方の端
子から規定の全極間電圧を印加するものであり、電圧が
印加される側の遮断器端子と対地間には、実系統以上の
苛酷な電圧が印加されることになる。特に低減絶縁を追
求して経済的な系統構成を行う超高圧以上の機器には、
この傾向が顕著である。先に試験条件の例を示したUHV
系統の定格電圧765kVでは、絶縁試験時の開閉インパル
ス電圧値は、対地＝1425kV、極間＝1550kVであることか
ら、脱調試験時の過渡回復電圧波高値1562kVは、完全に
これらの絶縁試験値を上回っている。この様に、極間に
印加される電圧を一方の端子からのみ印加することは、
特に高電圧遮断器の試験において、不合理となり、好ま
しくない欠点があった。
本発明は上記の事情に鑑みなされたもので、その目的
は、供試遮断器に規定の遮断電流を供給し、かつ、電圧
印加端子と対地間に苛酷な電圧を印加することなく、極
間に規定の過渡回復電圧を印加する合成試験装置を提供
することにある。
は、供試遮断器に規定の遮断電流を供給し、かつ、電圧
印加端子と対地間に苛酷な電圧を印加することなく、極
間に規定の過渡回復電圧を印加する合成試験装置を提供
することにある。
（問題点を解決するための手段及びその作用） 本発明の構成は、一般に用いられている合成遮断試験装
置と同様に、規定の遮断電流を供給する電流源回路と電
流遮断直後に規定の過渡回復電圧及び回復電圧を印加す
る電圧源回路とを組合せて構成される。短絡発電機と第
１補助遮断器、供試遮断器及び第２補助遮断器を直列に
接続し、第２補助遮断器の片側を接地して短絡発電機か
ら規定の遅れ電流を供給し、上記の３台の遮断器に各々
遮断指令を与えて、同一の電流零点で遮断させ、この直
後に供試遮断器の両側の端子に、２台の電圧源高圧変圧
器を介して、値が相等しく逆極性の高電圧を印加する。
結果として規定の過渡回復電圧及び回復電圧が印加さ
れ、実系統と同等の苛酷度で脱調試験が行える合成試験
装置を得る事を特徴とするものである。
置と同様に、規定の遮断電流を供給する電流源回路と電
流遮断直後に規定の過渡回復電圧及び回復電圧を印加す
る電圧源回路とを組合せて構成される。短絡発電機と第
１補助遮断器、供試遮断器及び第２補助遮断器を直列に
接続し、第２補助遮断器の片側を接地して短絡発電機か
ら規定の遅れ電流を供給し、上記の３台の遮断器に各々
遮断指令を与えて、同一の電流零点で遮断させ、この直
後に供試遮断器の両側の端子に、２台の電圧源高圧変圧
器を介して、値が相等しく逆極性の高電圧を印加する。
結果として規定の過渡回復電圧及び回復電圧が印加さ
れ、実系統と同等の苛酷度で脱調試験が行える合成試験
装置を得る事を特徴とするものである。
（実施例） 以下本発明の一実施例につき、第１図の試験回路図及び
第２図の現象図を参照して詳細に説明する。
第２図の現象図を参照して詳細に説明する。
（構成） 短絡発電機１、限流リアクトル２、電流源変圧器３の一
次側巻線とで閉回路を構成し、電流源変圧器３の二次側
巻線、第１補助遮断器６、第２補助遮断器７、供試遮断
器８を直列に接続して閉回路とし、電流源回路を構成す
る。第２補助遮断器７と電流源変圧器３との接続点は接
地しておく。一方、充電装置20により断路器21を介して
試験実施前にあらかじめ規定値に充電されている電圧源
コンデンサ18、リアクトル19及び始動ギャップ17を直列
に接続して電圧源低圧側回路を構成し、リアクトル19の
両端に２台の電圧源変圧器9,10の一次側端子を並列に接
続する。電圧源コンデンサ18及びリアクトル19の値は回
復電圧が供試遮断器８の定格周波数になるように設定す
る。電圧源変圧器9,10のそれぞれの二次側の端子で低圧
側の端子は互に接続して接地し、他の高圧側の端子は、
それぞれ供試遮断器８の両端に電圧の極性が逆極性とな
る様に接続する。又、これら電圧源変圧器9,10の各々の
二次側端子間には、過渡回復電圧波形調整用抵抗11,13
及びコンデンサ12,14を接続する。始動ギャップ17を始
動する制御装置として、電流源回路の低圧側に挿入され
る検出装置15及び始動装置16を接続する。
次側巻線とで閉回路を構成し、電流源変圧器３の二次側
巻線、第１補助遮断器６、第２補助遮断器７、供試遮断
器８を直列に接続して閉回路とし、電流源回路を構成す
る。第２補助遮断器７と電流源変圧器３との接続点は接
地しておく。一方、充電装置20により断路器21を介して
試験実施前にあらかじめ規定値に充電されている電圧源
コンデンサ18、リアクトル19及び始動ギャップ17を直列
に接続して電圧源低圧側回路を構成し、リアクトル19の
両端に２台の電圧源変圧器9,10の一次側端子を並列に接
続する。電圧源コンデンサ18及びリアクトル19の値は回
復電圧が供試遮断器８の定格周波数になるように設定す
る。電圧源変圧器9,10のそれぞれの二次側の端子で低圧
側の端子は互に接続して接地し、他の高圧側の端子は、
それぞれ供試遮断器８の両端に電圧の極性が逆極性とな
る様に接続する。又、これら電圧源変圧器9,10の各々の
二次側端子間には、過渡回復電圧波形調整用抵抗11,13
及びコンデンサ12,14を接続する。始動ギャップ17を始
動する制御装置として、電流源回路の低圧側に挿入され
る検出装置15及び始動装置16を接続する。
（作用） 試験直前の試験回路状態の設定として、第１補助遮断器
６、第２補助遮断器７及び供試遮断器８は投入してお
き、電圧源コンデンサ18は規定の電圧値に充電し、断路
器21は切離しておく。短絡発電機１から限流リアクトル
２、電流源変圧器３、第１補助遮断器６及び第２補助遮
断器７を介して、供試遮断器８に規定の試験電流Ipを供
給する。（試験電流Ipは、定格遮断電流の25％と規定さ
れているので、一般には、数kA〜＋数kAのオーダーの大
きさである。又、この時の電流源変圧器３の２次側電圧
は、試験電流Ipが前記３台の遮断器のアーク電流によっ
て変歪されない程度の大きさが必要である。例えば、全
てがSF6ガス遮断器であれば、30kV〜40kV程度が必要で
ある。）次に、試験電流Ipの電流零点t3で各々が遮断す
るように、第１補助遮断器６、第２補助遮断器７及び供
試遮断器８に遮断指令を与える。供試遮断器８の接触子
は時刻t1で開極し、以後、電流遮断点t3まで接触子間で
アークを発生している。電流零点t3の直前t2において検
出装置15を動作させ、電流零点直後のt4で互に逆極性で
相等しい大きさの過渡回復電圧e1及びe2が供試遮断器８
の両側端子から印加されるように、始動装置16及び始動
ギャップ17を制御動作させる。
６、第２補助遮断器７及び供試遮断器８は投入してお
き、電圧源コンデンサ18は規定の電圧値に充電し、断路
器21は切離しておく。短絡発電機１から限流リアクトル
２、電流源変圧器３、第１補助遮断器６及び第２補助遮
断器７を介して、供試遮断器８に規定の試験電流Ipを供
給する。（試験電流Ipは、定格遮断電流の25％と規定さ
れているので、一般には、数kA〜＋数kAのオーダーの大
きさである。又、この時の電流源変圧器３の２次側電圧
は、試験電流Ipが前記３台の遮断器のアーク電流によっ
て変歪されない程度の大きさが必要である。例えば、全
てがSF6ガス遮断器であれば、30kV〜40kV程度が必要で
ある。）次に、試験電流Ipの電流零点t3で各々が遮断す
るように、第１補助遮断器６、第２補助遮断器７及び供
試遮断器８に遮断指令を与える。供試遮断器８の接触子
は時刻t1で開極し、以後、電流遮断点t3まで接触子間で
アークを発生している。電流零点t3の直前t2において検
出装置15を動作させ、電流零点直後のt4で互に逆極性で
相等しい大きさの過渡回復電圧e1及びe2が供試遮断器８
の両側端子から印加されるように、始動装置16及び始動
ギャップ17を制御動作させる。
（効果） この様にして、供試遮断器８の各々の端子に必要以上の
過大な電圧を印加することなく、端子間には、実系統の
脱調条件と全く同等の対地電圧の２倍の規定電圧が印加
されることになる。
過大な電圧を印加することなく、端子間には、実系統の
脱調条件と全く同等の対地電圧の２倍の規定電圧が印加
されることになる。
（他の実施例） 以上述べた実施例では、電圧源回路の電流として、あら
かじめ充電しておいたコンデンサ18を用いたが、この代
りに、第３図に示したように、電流源の短絡発電機１と
周波数が相等しく同期している交流電源22を用いても全
く同様の効果を得ることができる。
かじめ充電しておいたコンデンサ18を用いたが、この代
りに、第３図に示したように、電流源の短絡発電機１と
周波数が相等しく同期している交流電源22を用いても全
く同様の効果を得ることができる。
以上説明したように本発明の装置によれば、規定の試験
電流を短絡発電機を主体とした電流源回路から供給し、
その遮断と同時に、供試遮断器の両端子に２台の電圧源
変圧器から、試験電圧の1/2の大きさで極性のみが逆極
性の電圧を印加することにより、従来の単一極性の電源
を用いた試験と異なり、供試遮断器に対し、必要以上の
過大な電圧を印加することなしに、実系統と同等の試験
が実施できる合成試験装置を提供するものである。
電流を短絡発電機を主体とした電流源回路から供給し、
その遮断と同時に、供試遮断器の両端子に２台の電圧源
変圧器から、試験電圧の1/2の大きさで極性のみが逆極
性の電圧を印加することにより、従来の単一極性の電源
を用いた試験と異なり、供試遮断器に対し、必要以上の
過大な電圧を印加することなしに、実系統と同等の試験
が実施できる合成試験装置を提供するものである。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明による脱調遮断試験の為の合成試験装置
の構成図、第２図は第１図で試験を実施した場合の現象
図、第３図は第１図の電圧源電源を予め充電したコンデ
ンサから交流電源に変えた本発明の変形例を示す図、第
４図は従来例としての直接試験による脱調試験の理想的
な形である位相差が180°異なる２つの交流電源を用い
た回路構成図、第５図は従来の比較的低圧遮断器の脱調
試験に用いられている１つの交流電源を用いた回路構成
図、第６図は従来の高圧遮断器の脱調遮断試験に一般に
用いられている合成試験の場合の試験回路構成図であ
る。 １…短絡発電機、２…限流リアクトル ３…電流源変圧器、６…第１補助遮断器 ７…第２補助遮断器、８…供試遮断器 9,10…電圧源変圧器 11,13…過渡回復電圧調整用抵抗 12,14…過渡回復電圧調整用コンデンサ 15…検出装置、16…始動装置 17…始動ギャップ、18…電圧源コンデンサ 19…リアクトル、20…充電装置 21…断路器、23…過渡回復電圧調整回路 24…電圧源主コンデンサ 25…電圧源リアクトル
の構成図、第２図は第１図で試験を実施した場合の現象
図、第３図は第１図の電圧源電源を予め充電したコンデ
ンサから交流電源に変えた本発明の変形例を示す図、第
４図は従来例としての直接試験による脱調試験の理想的
な形である位相差が180°異なる２つの交流電源を用い
た回路構成図、第５図は従来の比較的低圧遮断器の脱調
試験に用いられている１つの交流電源を用いた回路構成
図、第６図は従来の高圧遮断器の脱調遮断試験に一般に
用いられている合成試験の場合の試験回路構成図であ
る。 １…短絡発電機、２…限流リアクトル ３…電流源変圧器、６…第１補助遮断器 ７…第２補助遮断器、８…供試遮断器 9,10…電圧源変圧器 11,13…過渡回復電圧調整用抵抗 12,14…過渡回復電圧調整用コンデンサ 15…検出装置、16…始動装置 17…始動ギャップ、18…電圧源コンデンサ 19…リアクトル、20…充電装置 21…断路器、23…過渡回復電圧調整回路 24…電圧源主コンデンサ 25…電圧源リアクトル
Claims (1)
- 【請求項１】短絡発電機を主電源として、単相の短絡電
流を供給する回路に、供試遮断器をはさんで２台の補助
遮断器を直列に接続し、一方の補助遮断器の電源側端子
を接地して電流源回路を構成し、一方、相等しい特性を
有する２台の変圧器の一次側巻線を互に並列に接続し、
この一次側巻線に予め規定値に充電されたコンデンサと
始動ギャップとを直列にリアクトルを並列に接続し、構
成し前記２台の変圧器の二次側の端子を、直列に接続
し、その接続点を接地し、他の２端子を前記供試遮断器
の両側の端子に接続して電圧源回路を構成し、規定の電
流を前記供試遮断器及び２台の補助遮断器により、同一
の電流零点で遮断するとともに、電流源回路に設けられ
た検出装置を介して前記始動ギャップを始動し、脱調遮
断試験を行うことを特徴とする遮断器の脱調合成試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP823387A JPH0738014B2 (ja) | 1987-01-19 | 1987-01-19 | 遮断器の脱調合成試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP823387A JPH0738014B2 (ja) | 1987-01-19 | 1987-01-19 | 遮断器の脱調合成試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63177083A JPS63177083A (ja) | 1988-07-21 |
| JPH0738014B2 true JPH0738014B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=11687434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP823387A Expired - Lifetime JPH0738014B2 (ja) | 1987-01-19 | 1987-01-19 | 遮断器の脱調合成試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738014B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012060341A1 (ja) | 2010-11-01 | 2012-05-10 | 株式会社住友金属エレクトロデバイス | 電子部品素子収納用パッケージ |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111856180B (zh) * | 2020-07-08 | 2022-11-08 | 北京电力设备总厂有限公司 | 用于抗高压隔离开关分合闸电磁干扰试验的装置及方法 |
-
1987
- 1987-01-19 JP JP823387A patent/JPH0738014B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012060341A1 (ja) | 2010-11-01 | 2012-05-10 | 株式会社住友金属エレクトロデバイス | 電子部品素子収納用パッケージ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63177083A (ja) | 1988-07-21 |
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