JPS5818175A - 多点切タンク形しや断器の等価試験法 - Google Patents

多点切タンク形しや断器の等価試験法

Info

Publication number
JPS5818175A
JPS5818175A JP56115262A JP11526281A JPS5818175A JP S5818175 A JPS5818175 A JP S5818175A JP 56115262 A JP56115262 A JP 56115262A JP 11526281 A JP11526281 A JP 11526281A JP S5818175 A JPS5818175 A JP S5818175A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
tank
breaker
power source
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56115262A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Kobayashi
昭夫 小林
Satoru Yagiu
悟 柳父
Hidekazu Hagimori
萩森 英一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56115262A priority Critical patent/JPS5818175A/ja
Publication of JPS5818175A publication Critical patent/JPS5818175A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/333Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
    • G01R31/3333Apparatus, systems or circuits therefor
    • G01R31/3336Synthetic testing, i.e. with separate current and voltage generators simulating distance fault conditions

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Gas-Insulated Switchgears (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はしゃ断部を、金属タンク内に収納し、且つタン
クから絶縁して支持した多点切タンク形しゃ断器のしゃ
断性能を検証する等価試験法1:関するものである。
近年の系統の高電圧、大容量化の傾向社ますます大きく
麦り1100 INの送電まで考えられている。
これにともないしゃ断器のしゃ断容量も飛隋的に伸びて
おり、このしゃ断性能を検証すること社試験設備の容量
不足から全しゃ断点に対して行なうことが内勤になりつ
つある。この観点から、従来は、直列に接続された多数
のしゃ断部ユニットのうち、lエニットのみを性能検証
し、電圧分担率1;見合った定数としゃ断点数を乗じる
ことご二より等価的C:全しゃ断点の性能検証な′行な
ったとするユニット試験法が行なわれてきた。
しかしこのようなユニット試験法轄、シゃ断部g−発生
したアークによる高温の熱ガスが、大地としゃ断部間の
絶縁をおびやかすことがない碍子形しゃ断器のようなも
のにおいそは、はぼ完全ぎ二有効とみなせるが、しゃ断
部を金属タンク内C二絶縁支持した多点切タンク形しゃ
断器では、本来全しゃ断点数にみあった再起電圧が印加
されなくてはならない。直列しゃ断部の最も端となる端
部とタンク間I:、アークC二接して絶縁の低下した熱
ガスが噴き出されてくるため、1ユニツトの接触子間の
性能を検証するたりの再起電圧を印加するだけでFi、
 接触子間の性能は検証できても前記端部とタンク間の
しゃ断直後の絶縁まで検証されたことにはならないとい
う欠点を有していた。
その欠点を解決する一手段として通常行なわれる大電流
源と第1の高電圧源を用いたいわゆる合成試験法をしゃ
断器の接触子間の性能検証艦−用い、これとは別に第2
の高電圧源の電圧を、大地から絶縁したタンクに前記第
1の高電圧源と逆極性に印加するようにして、しゃ断部
の端部とタンク間には第1の高電圧源と第2の高電圧源
の電圧が重畳した形としてしゃ断性能の検証を行なう方
法が原理的感二知られてはいるが、この方法I:よれば
電源を3つ準備する必要があるうえその試験時砿;おい
ては各電源の同期C二関する問題など複雑な動作が必要
であるという欠点を有してい7・。
本発明は、上記点口鑑みてなされたもので、その目的は
、2つの電源でしゃ断直後におけるしや断部端とタンク
間の絶縁性能の検証を行なうようIニジた多点切タンク
形しゃ断器の等価試駿法を提供する仁とにある。
第1図は本発明の原理を使用した一実施例を示す。多点
切タンク形しゃ断器6の金属タン・り7を絶縁物9によ
り接地電位から絶縁し、直列接続されたしゃ断a、ニツ
)10.11.12.13からなるしゃ断部の片側をブ
ッシング8内の引出導体おを経由して接地する。またし
ゃ断部の他側をブッシング8内の引出導体24を介して
導出し、第1の電源19として発電機1.バックアップ
しゃ断器2.投入器3.電流調整用リアクトル4を経て
接続される費圧樹5の2次側C二接続する。これにより
、実質的C:短終発電機1よりしゃ断すべき電流、およ
びしゃ断部のニニット接触子関に印加する電圧の供給を
行なう。接地電位から絶縁されたタンク7 Cは、第2
の電源釦が接続され、あらかじめ充電されたコンデンサ
14の電荷を、ギャップ15を放電することI:より、
タンクに高電圧を印加する0この回路構成z二おいては
、試験法は基本的I:2種類1:分けられる。第1の方
法は、しゃ断部C:は第1の電源19から、しゃ断すべ
き短絡電流を供給するのみでなく、シゃ断wニットのし
ゃ断能力を検証すべき再起電圧を印加するものである。
仁の方法はさらにアークを発生させるしゃ断ユニットの
位置6二よって、第2の111t源加の発生電圧の大き
さ、極性が、さらに2つ区二分けられ、それを第1の■
、第1の■の方法として分けることにする。
第1の■の方法の動作原理を第2図5−示した電流、電
圧波形をもと6−説明する。尚tl以後は時間を拡大し
である。しゃ断器6はしゃ断ユニット13だけ開極して
実質的−一アークを発生させ、他のしゃ断エニツ)10
.11.12は投入するか或いFi短絡するなどの手段
により、し中断ユニットのしゃ断性能は接地してない引
出導体ス側のもので行なうよう1二する。しゃ新盤a 
it m大電流源19の電流位相C二同期して開極を行
ない検証すべき電流零点t1をむかえさせる。この時大
電流$19側本らは、抵抗21.コンデンサ22C−発
生する電圧を、しゃ断器ニッ) 、13のしゃ断性能を
検証するべき再起電圧tlとして、しゃ断器64−供給
する。また高電圧源20は、あらかじめ充電されたコン
デンサ14の電荷をギャップ15を通して↓lの電流零
点tlにて放電させ、リアクトル16.抵抗17.コン
デンサ18に減衰振動電流を流し、その時抵抗17.:
Fンデンサ18に発生する電圧tsをタンク7C;印加
する。この電圧r3は、本来完全なしゃ断器として全し
ゃ断ユニツ) 10〜13I:対し印加されるべき全再
起電圧から電圧v1の値を差し引いた値とし、しかも、
接地電位感二対して電圧91と逆極性の電圧とする。
、 このような方法の試験を行なうことにより、しゃ断
工号ツ) 13の引出導体別側の端部とタンク7との空
間5にはs’l−’!lすなわち絶対値的に社?lとガ
の和の電圧IP3が印加され、この値は全し″ や断ユ
ニット響:本来供給されるべき電圧として合成されるこ
とになるため、し中断エニグ゛トのし中断性能と、しゃ
断部端とタンク7間の絶縁性能検証を同時a二行なうこ
とができる。また第2の電源の発生電圧は全しゃ断点ミ
ニ印加すべき貴起電圧より低くすることができるため、
その建設置:Hする費用を低減することができる。
次−二第100の方法の動作原理を第3図6−示した電
流、電圧波形をもと1:説明する0第1の■の方法と異
なる点は、接地した引出導体田側のしゃ断エニツ) 1
0を開極してアークを発生させ、他のし中断ユニット1
1〜13を実質的i;短絡すること、及び第2の電源の
発生電圧を、接地電位1:対して第1の電源と同極性と
し、かつ全しゃ断点I:本来印加すべき全再起電圧とは
ぼ同じ電圧をタンク7に印加することである。
この方法C二より接地した引出導体23IIIIのしゃ
断ユニット10の端部とタンク7との空間墓の絶縁検証
を行なうことができる0また第2の電源20&−より空
間26I:絶縁破壊が起きても、しゃ断部端は接地され
ているため、第2の電源加の発生電圧が館1の電源19
1:入りこんでその試験装置を電□気的C;破壊するこ
ともない0またしゃ断ユニット11.1213は、実質
釣書=短絡されており、引出導体24側まで含めて同電
位でありタンク7に対して、電圧gPlから?−を引い
た。すなわち絶対値的1;?Sの約この電圧tsを持つ
■二すぎなく、これらの周囲I:はアークを経由した熱
ガスも吹き出さないので、タンク7との間で絶縁破壊が
起きることがない0すなわち第1の■の方法と同様1ニ
ジゃ断ユニットの性能検証と、しゃ断部端とタンク間の
絶縁性能検証を同時12行なうことができるものである
0これI:対し第2の方法は、第1の電源19からはし
ゃ断ユニットの性能検証を行なうべき高電圧を供給せず
、実質的にしゃ断すべき短絡電流のみを供給し、第2の
電源20から本来全しゃ断点に印加すべき全再起電圧i
:はぼ等しい電圧をタンク7に印加するものである0こ
の方法は、しゃ断ユニットの性能検証は目的とせず、し
ゃ断部端とタンク7間の電流しゃ断電後6二おける絶縁
性能の検証のみを目的としたものである。
この場合、アークを発生させるしゃ断ユニットが引出導
体冴側の時は、第4図I;示すよう盲:、第2の電源加
の発生電圧を、低いとはいえ発生する第1の電源19の
再起電圧1−1と逆極性−二することが望ましい。
またアークを発生させるしゃ断ユニットが引出導体n側
の時は、第2の電源釦の発生電圧を、第1の電源19の
再起電圧?1と同極性6−することが望ましい。
このような第2の方法によれば、第1の電源19礁二必
要な電力は、第1の方法と比べて、非常にわずかなもの
とすることができるためよりi&!済的な。
しゃ断部端とタンク間のしゃ断器の絶縁性能検証を行な
うことができる。この場合、し中断3−ニットの性能検
証の問題が残るがこれはタンク7を接地した通常のユニ
ット試験で充分な検証を行なうことができるため、第2
の方法と会わせれば、結果的−;、全しゃ断点に対して
しゃ断試験を行なった場合と弊価な結果が得られる。
第5図’C他の実施例を示す。第1図と異なる点は、第
26電源201:第1の電源19の発電mlと異なる発
電機271−接続された変圧器あを設けたこと1−ある
。この場合変圧器あの発生電圧のピークが、はぼ第1の
電源19からしゃ断器6#二供給される電流↓xf)k
Vぼ零点口同期して到来するようC:調整する0 この回路構成における試験法蝶、第1図の説明1′−用
いた第1.jl!2の方法I:含まれる全てのものがそ
のまま適用可能である。なお仁の場合、第2の電源釦が
交流電源のため、第1図の回路のように直流電圧となら
ない点が異なっている。
M6図C;本発明の史に他の実施例を示す。第5図と異
なる点は、第2の電源釦に短絡発電機1を含んだ第1の
電源19と並列C:接続した変圧参加を設けた仁とと、
ギャップ15がないことである。この回路構成によれは
、しゃ断器6に短絡電流が流れている間は第2の電源釦
に実質的I:電圧が発生せず、電流しゃ断器こ自動的に
電圧が発生して、し中断部端とタンク間の絶縁性能の検
証を行なうことができる。しゃ断3−ニットの開極法や
、電圧の大きさ表どけ第1図の第1.第2の方法I:記
載された内容と同じにすることが可能である。
なお上述の説明では、一つのしゃ断エエットに′1−り
を発生させる方法について説明したが、第1電源19の
試験能力やし中断器の操作方式に応じて複数のしゃ断エ
ニット8ニアークをつけるよう6二してもよい0 また全しゃ断ユニット1ニアークを発生させてもよい。
この時、しゃ断ユニットの性能検証を行カう場合+:i
j 、検証しない、し中断二二ツ)i二検証するしゃ断
λニットより大きな並列コンデンサーをつけることが考
えられる0 また接地されてない引出導体あ側のしゃ断ユニットなl
lN他させてアークを発生さ゛せる場合区二社、空間6
が絶縁破壊して、第2の電源釦から第1の・電1[19
へ高電圧が入ること(二よる第1の電源19の電気的な
破壊を防ぐため、引出導体24@I’−過電圧保賎用の
保護装置を設けてもよい。
以上述べたように本発明の構成および動作を行なうこと
1;より、少なくとも電流しゃ断時):おけるしゃ断部
端とタンクとの絶縁性能検証を行なうことができ試験設
備の建設clllする費用を低減させた経済的に優れた
多点切タンク形しゃ断器の岬価試験法を提供する仁とが
できる0
【図面の簡単な説明】
嬉1図は本発明の一実施例を示した回路図、第2図、第
3図及び第4図は、第1図の回路構成じで行なう動作例
を示した電流、電圧波形の図、第5図、第6図は夫々本
発明の他の実施例を示した回路図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)  金属製タンクを接地電位から絶縁し、かつ前
    記タンク内C二絶縁支持されるとともロ直列砿:接続さ
    れた複数個のしゃ断ユニットの片側の引出導体を接地し
    た多点切夕/り形しゃ断器の、前記し中断ユニットに社
    、第1の電源からのみし中断すべき電流又は電流、電圧
    を供給するととも舊;第2の電源から電圧を前記タンク
    、と接地電位との関葛=印加する仁と6:、より、全し
    ゃ断a、=ット?二本来印加すべき゛再起電圧にはぼ郷
    しい電圧を、し中断ユニットの端部とタンク間C二印加
    することを41做とする多点切タンク形しゃ断器の等価
    試験法。 (粉 第1の電源は実質的5−検証すべきし中断電流の
    みを供給し、しゃ断ユニットには検証すべき、高電圧の
    再起電圧の印加を行なわないことを特徴とする特許請求
    範囲第1項記載の多点切タンク形しゃ断器の等価試験法
    。 (II)  直列接続された複数個のしゃ断s−=ット
    のうち、少なくとも接地しない引出導体側のしゃ断部ユ
    ニット6二アークを発生させるととも(:、電流しゃ断
    電後1:、第1の電源から前記アークを発生したし中断
    ユニットC二印加される電圧と逆極性でかつ全しゃ断器
    ニット5二印加すべき再起電圧から前記第1の電源の電
    圧を差し引いfc%圧にほぼ等しい電圧を第2の電源か
    らタンクに印加することを特徴とする特許請求範り第1
    項記載の多点切タンク形しゃ新盤の等価試験法。 (4)直列接続された複数個のしゃ新島エツトのうち、
    少なくとも接地した引出導体側のしゃ断ユニットCニア
    ークを発生させるととも6二、電流しゃ断直後口第1の
    電源から前記アークを発生したしゃ断器ニットに印加さ
    れる電圧と同極性でかつ全し中断エニットー二本来印加
    すべき再起電圧叫はぼ等しい電圧を#!2の電源からタ
    ンクに印加することを特徴とする特許請求範囲第1項1
     記載の多点切タンク形し中断器の等価試験法〇(6)
      第1の電源に短絡発電機が含まれていることを特徴
    とする特許請求範囲第3項及び第4項記載の多点切タン
    ク形しゃ断器の尋価試験法。 (6)第2の電源I:はあらかじめ充電されたコンデン
    サとトリガーギャップを備えたことを特徴とする特許請
    求範囲第5項記載の多点切タンク形しゃ断器の等価試験
    法。 (7)第2の電源I:は第1の電源と並列C−接続され
    た変圧器を備えた*WfM求範囲第5項記載の多点切タ
    ンク形しゃ断器の勢価試験法。 (8)第2の電源には第1の電源と別な発電機と接続さ
    れた変圧器を備えた特許請求範囲第5項記載の多点切タ
    ンク形しゃ断器の等価試験法。 (9)第2の電源iニドリガーギャップな債えた特許請
    求範囲第8項記載の多点切タンク形し中断器の岬価試験
    法。
JP56115262A 1981-07-24 1981-07-24 多点切タンク形しや断器の等価試験法 Pending JPS5818175A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56115262A JPS5818175A (ja) 1981-07-24 1981-07-24 多点切タンク形しや断器の等価試験法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56115262A JPS5818175A (ja) 1981-07-24 1981-07-24 多点切タンク形しや断器の等価試験法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5818175A true JPS5818175A (ja) 1983-02-02

Family

ID=14658311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56115262A Pending JPS5818175A (ja) 1981-07-24 1981-07-24 多点切タンク形しや断器の等価試験法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5818175A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6013271A (ja) * 1983-07-04 1985-01-23 Toshiba Corp タンク形しや断器の合成しや断試験法
JPS61137437U (ja) * 1985-02-18 1986-08-26

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326969A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Siemens Ag Combined testing circuit unit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326969A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Siemens Ag Combined testing circuit unit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6013271A (ja) * 1983-07-04 1985-01-23 Toshiba Corp タンク形しや断器の合成しや断試験法
JPH0469350B2 (ja) * 1983-07-04 1992-11-05 Tokyo Shibaura Electric Co
JPS61137437U (ja) * 1985-02-18 1986-08-26
JPH0144245Y2 (ja) * 1985-02-18 1989-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7986061B2 (en) Electrical switching device
Tokoyoda et al. Development and testing of EHV mechanical DC circuit breaker
US3004116A (en) Air-break disconnecting switch
US4286301A (en) H.V. current cut-out circuit
JPS5818175A (ja) 多点切タンク形しや断器の等価試験法
US4454476A (en) Method of and apparatus for synthetic testing of a multi-break circuit breaker
Salceanu et al. Numerical Simulations and Experimental Tests for the Analysis of Capacitive Load Switching in Power Circuits
Taylor et al. Generation of overvoltages by chop current on Ag-WC and Cu-W/WC contacts in vacuum
RU2321129C2 (ru) Распределительная энергосеть
JP3185541B2 (ja) 高電圧遮断器の合成試験装置
US3401305A (en) Y-connected shunt capacitor bank
Tokoyoda et al. Development and testing of EHV DC circuit breaker with current injection
JPH06186309A (ja) 開閉器の遮断試験回路
Strang et al. Field tests on high-capacity air-blast station-type circuit breakers
JPH0738014B2 (ja) 遮断器の脱調合成試験装置
US2185029A (en) Protection of alternating current electric systems
Damstra et al. Influence of TRV network on circuit breaker interruption performance at terminal fault conditions
Smeets et al. Testing of 800 and 1200 kV class circuit breakers
Landry et al. Dielectric-withstand levels of some 735-kV air-blast circuit breakers under both direct and synthetic out-of-phase interrupting tests
Smeets et al. Realization of transient recovery voltages for ultra high voltage circuit breakers in testing
SU801179A1 (ru) Устройство дл защиты электроустановки
SU1185488A1 (ru) Устройство дл компенсации однофазного тока замыкани
JPH0434111B2 (ja)
WO2018146748A1 (ja) 直流遮断器の試験装置及び試験方法
JPS6021799Y2 (ja) 三相一括しや断器の合成試験装置