JPH0469350B2 - - Google Patents
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- JPH0469350B2 JPH0469350B2 JP12033283A JP12033283A JPH0469350B2 JP H0469350 B2 JPH0469350 B2 JP H0469350B2 JP 12033283 A JP12033283 A JP 12033283A JP 12033283 A JP12033283 A JP 12033283A JP H0469350 B2 JPH0469350 B2 JP H0469350B2
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- voltage
- circuit
- frequency
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- disconnector
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- Expired - Lifetime
Links
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Landscapes
- Keying Circuit Devices (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
- Driving Mechanisms And Operating Circuits Of Arc-Extinguishing High-Tension Switches (AREA)
Description
［発明の技術分野］
本発明は金属タンク内に絶縁支持された多点切
しや断器の遮断性能を検証するための改良した合
成しや断試験法に関する。 ［発明の技術的背景とその問題点］ 近年の系統の高電圧化、大容量化の傾向は、ま
すます大きくなつて1100KVの送電線まで考えら
れている。これにともない遮断器の遮断容量も飛
躍的に伸びており、このしや断性能を検証するた
めには、大容量の試験設備が必要となつてきてい
る。この試験設備には、第１図に示すように供試
しや断器４１に補助しや断器４２を介して短絡発
電機などの電流源４３を接続し、他方に主コンデ
ンサ４４、ギヤツプ４５及び波形調整用のリアク
トル４６、抵抗４７、コンデンサ４８を有する電
圧源４９が接続された合成しや断試験装置があ
る。 この合成しや断試験法では電流零点での等価性
を高めるため、電圧源４９から単に電圧を印加す
るだけではなく、電流源４３からの電流の電流零
点の少し前から高周波で波高値の小さい電流を電
圧源から供給し、この電流をしや断すると同時に
電圧が印加されるようにした電流注入法が採用さ
れている。この電圧源４９の回路は、第１図に示
すように注入電流の周波数を主コンデンサ４４
（Cs）と波形調整リアクトル４６（Ls）とから式
の
しや断器の遮断性能を検証するための改良した合
成しや断試験法に関する。 ［発明の技術的背景とその問題点］ 近年の系統の高電圧化、大容量化の傾向は、ま
すます大きくなつて1100KVの送電線まで考えら
れている。これにともない遮断器の遮断容量も飛
躍的に伸びており、このしや断性能を検証するた
めには、大容量の試験設備が必要となつてきてい
る。この試験設備には、第１図に示すように供試
しや断器４１に補助しや断器４２を介して短絡発
電機などの電流源４３を接続し、他方に主コンデ
ンサ４４、ギヤツプ４５及び波形調整用のリアク
トル４６、抵抗４７、コンデンサ４８を有する電
圧源４９が接続された合成しや断試験装置があ
る。 この合成しや断試験法では電流零点での等価性
を高めるため、電圧源４９から単に電圧を印加す
るだけではなく、電流源４３からの電流の電流零
点の少し前から高周波で波高値の小さい電流を電
圧源から供給し、この電流をしや断すると同時に
電圧が印加されるようにした電流注入法が採用さ
れている。この電圧源４９の回路は、第１図に示
すように注入電流の周波数を主コンデンサ４４
（Cs）と波形調整リアクトル４６（Ls）とから式
の
【式】で決定され、一般には定格
周波数の約10倍の500〜1000Hzで運用される。
さて第２図は1100KV系での過渡回復電圧（以
下TRVと略称する）の波形を４パラメータ表示
で示すものである。TRVの基本周波数は、波高
時間Tvに対し、１／2Tvで示されるが、1100KV
ではこの値が286Hzと非常に小さくなる。一方こ
のTRVの基本周波数は、第１図の回路の主コン
デンサ４４（Cs）、波形調整リアクトル４６
（Ls）、および波形調整用コンデンサ４８（Ce）
とから式
下TRVと略称する）の波形を４パラメータ表示
で示すものである。TRVの基本周波数は、波高
時間Tvに対し、１／2Tvで示されるが、1100KV
ではこの値が286Hzと非常に小さくなる。一方こ
のTRVの基本周波数は、第１図の回路の主コン
デンサ４４（Cs）、波形調整リアクトル４６
（Ls）、および波形調整用コンデンサ４８（Ce）
とから式
【式】で決定され
る。
こゝで主コンデンサ４４のCsの利用率を上げ
るためにCs≫Ceとされるのが普通であるが、こ
の際 となり、Cs≫Ceであるから、
るためにCs≫Ceとされるのが普通であるが、こ
の際 となり、Cs≫Ceであるから、
【式】となる。いま
【式】を286Hzにすると
【式】は、さらに小さくなつて注入電
流の周波数が定格周波数に比べそれ程大きくとれ
ないという矛盾におち入つてしまう。この限界を
破るためには、第２図の波高時間Tvを小さくす
ることが望れるが、このことは電気学会、電気規
格調査会標準規格“交流遮断器”JEC−2300に規
定された過渡回復電圧（以下規格の過渡回復電圧
という）を満足しないばかりか、TRVの上昇率
も厳しくなり、遮断器にとつて過酷すぎる試験に
なることも考えられる。 一方、試験設備の容量不足から全しや断点に対
して行なうことが困難になりつつある。その観点
から従来の直列に接続された多数の遮断部ユニツ
トのうち、１ユニツトのみを性能検証し、電圧分
担率に見合つた定数としや断点数を乗じることに
より、等価的に全しや断点の性能検証を行なつた
とするユニツト試験法が行なわれてきた。 しかし、このようなユニツト試験法は、しや断
部に発生したアークによる高温の熱ガスが、大地
としや断部間の絶縁をおびやかすことがない碍子
形しや断器のようなものにおいては、ほゞ完全に
有効とみなせるが、しや断部を金属タンク内に絶
縁支持した多点切タンク形しや断器では、本来全
しや断点数に見合つた過渡回復電圧が印加されな
くてはならない。直列しや断部の最も端となる端
部とタンク間に、アークを経由した絶縁の低下し
た熱ガスが噴き出されてくるため、１ユニツトの
接触子間の性能を検証するための過渡回復電圧を
印加するだけでは、接触子間の性能は検証できて
も、前記端部とタンク間のしや断直後の絶縁まで
検証されたことにはならない。 この欠点を改良した従来から知られている合成
試験法の原理を第３図に示す。また動作時の電流
電圧波形を第４図に示している。両図において、
１はしや断性能を検証する多点切タンク形しや断
器で、例として４点切のものを示す。タンク３内
に絶縁支持されたしや断部２ａ，２ｂ，２ｃ，２
ｄの片側引出導体５を接地し、タンク３を絶縁物
８で接地電位から絶縁する。大電流源用短絡発電
機１３は、補助しや断器１８を経てしや断器１に
短絡電流ilを供給する。しや断器１は接地されな
い引出導体７側のしや断ユニツト２ｄのみを大電
流源の電流位相に合わせて実質的に開極してアー
クを発生させる。 電流ilが検証すべき電流零点を迎えた時点tlで
第１の高電圧源１１よりしや断ユニツト２ｄの性
能を検証する過渡回復電圧Vlを引出導体７側の端
子と接地電位との間に印加する。また時点tlと
ほゞ同時に第２の高電圧源１２より本来全しや断
ユニツト２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄに印加すべき全
過渡回復電圧のうち、第１の高電圧源の過渡回復
電圧Vlを差し引いた電圧V2を、電圧V1と逆極性
にタンク３と接地電位との間に印加する。 このような試験を行なうことにより、引出導体
７側のしや断部端とタンクとの空間ｘには、電圧
V1とV2の差すなわち絶対値的にV1＋V2の和の電
圧が印加されることになり、空間ｘの絶縁検証と
しや断ユニツト２ｄの性能検証が同時に行なわれ
る。しかしながら、このような試験においても、
過渡回復電圧の波形を第２図に示すような規格通
りのものとして出すことは、1100KV系などの
UHV系統では極めて問題である。 ［発明の目的］ 本発明の目的は、特にタンク形遮断器と対地間
の絶縁回復の検証を1100KV級のUHV系統の場
合についても規格通りの波形の過渡回復電圧を印
加することで検証できるタンク形しや断器の合成
しや断試験方法を提供するにある。 ［発明の概要］ 本発明によるタンク形しや断器の合成しや断試
験方法は、多点切タンク形しや断器の開極しや断
ユニツトに対して電流注入法による電圧源から過
渡回復電圧を印加し、しや断器のタンクと大地と
の間に電圧重畳法による電圧源から過渡回復電圧
を印加することにより、規格通りの過渡回復電圧
のもとにしや断ユニツトの性能およびしや断部付
近の絶縁性能を同時に検証できることを特徴とす
るものである。 ［発明の実施例］ 以下本発明の合成しや断試験方法を説明する前
に、その試験装置を示す第５図について説明す
る。供試器であるタンク形しや断器１は、一例と
してしや断ユニツト２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄを有
する４点切しや断部２を金属製タンク３内に設置
して構成されており、その一方の口出しはブツシ
ング４を通して引出線５で外部に導き出され、そ
の他方の口出しはブツシング６を通して引出線７
で外部に導き出されている。そしてこのしや断器
１は、合成試験時に絶縁架台８，８を介して基礎
９に絶縁支持される。 供試しや断器のタンク形しや断器１に合成試験
を実施するに際しては、その合成試験装置として
短絡電源１０、電流注入法のための電圧源１１お
よび電圧重畳法のための電圧源１２を備える。短
絡電源１０は図示のように短絡発電機１３を有し
その出力端を投入器１４、保護しや断器１５およ
び電流調整用リアクトル１６を介して短絡トラン
ス１７の一次巻線１７Ｐに接続し、その短絡トラ
ンス１７の二次巻線１７Ｓを補助しや断器１８を
介して供試しや断器１の一方の引出線７に接続す
る。そして供試しや断器１の他方の引出線５は大
地Ｅに接地しておく。 電流注入法のための電圧源１１は、コンデンサ
１９、トリガギヤツプ２０およびリアクトル２１
の直列回路と、抵抗２２、コンデンサ２３および
４パラメータ回路２４の直列回路との並列回路で
形成され、その並列回路の一端は供試しや断器１
の引出線７に接続され、他端は短絡トランス１７
の二次巻線１７Ｓに接続されている。トリガキヤ
ツプ２０が動作したときに電圧源１１に発生する
電圧は、コンデンサ１９，２３、リアクトル２
１、抵抗２２および４パラメータ回路２４の特性
で波形および波高値がきまる。 電圧重畳法のための電圧源１２は、コンデンサ
２５、トリガーギヤツプ２６およびリアクトル２
７の直列回路と、抵抗２８、コンデンサ２９およ
び４パラメータ回路３０の直列回路との並列回路
で形成され、その一端は供試しや断器１のタンク
３に接続され、その他端は短絡トランス１７の二
次巻線１７Ｓに接続されている。そしてトリガギ
ヤツプ２６の動作時に発生する電圧源１２の電圧
は、コンデンサ２５，２９、リアクトル２７、抵
抗２８および４パラメータ回路３０の特性によつ
てその波形および波高値がきめられる。 この第５図に示す合成試験装置を用いる供試し
や断器１に対する合成試験の手順を第６図の電流
波形を参照しながら説明する。本実施例における
供試しや断器１の４点切しや断部２は、その２点
のしや断ユニツト２ａ，２ｂのみが同時に開極
し、他の２点のしや断ユニツト２ｃ，２ｄは開極
しないようにインターロツクしているものとす
る。 合成試験時は、短絡発電機１３から短絡トラン
ス１７を介して補助しや断器１８を経て引出導体
７から供試しや断器１の４点しや断ユニツト２
ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄに第６図の電流ilが供給さ
れる。そして供試しや断器１への開極指令によつ
て２点のしや断ユニツト２ａ，２ｂが開極する。
これとともに供給された電流ilは電流零点t3でし
や断することになるが、この電流ilの電流零点t3
の少し前の時点t2で電圧源１１のトリガギヤツプ
２０が短絡されて電流i2を供試しや断器１に注入
する。この注入された電流i2は、電流零点t4で予
め開極された供試しや断器１のしや断ユニツト２
ａ，２ｂでしや断される。さらに補助しや断器１
８も時点t3ですでにしや断しているので、供試し
や断器１のしや断ユニツト２の開極ユニツト２
ａ，２ｂには、高電圧源１１からコンデンサ１
９，２３、リアクトル２１、抵抗２２および４パ
ラメータ回路２４の特性できまる電圧v2が印加す
る。この電圧v2は１点のしや断ユニツト２ａを開
極したときに生じる規格通りの過渡回復電圧の２
倍の周波数をもつて２点のしや断ユニツト２ａ，
２ｂに印加されてその性能が検証される。 一方電圧v2の波高値t5で電圧源１２のトリガギ
ヤツプ２６を短絡すると、コンデンサ２５，２
９、リアクトル２７、抵抗２８および４パラメー
タ回路３０の特性できまる電圧v3が供試しや断器
１のタンク３に印加する。この電圧v3も規格通り
の過渡回復電圧の２倍の周波数で、かつ逆極性で
印加することになる。したがつて、供試しや断器
１のタンク３としや断ユニツト２の引出線７に接
続される部分の空間ｘには、第７図に示すように
電圧v2，v3が重畳された波形の電圧vtが印加され
ることになる。この電圧vtは電圧v1，v2の過渡回
復電圧を規格の周波数の２倍にしていることか
ら、その波形の初期上昇率および波高時間が点線
で示した規格値と一致することになり、しや断ユ
ニツト２の性能およびタンク３との絶縁性能を規
格通りに一致して試験することができる。 なお以上の実施例では、供試しや断器１として
４点切しや断部２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄを有し、
試験時に開極する接点はしや断ユニツト２ａ，２
ｂの２点であるため、電圧源１１および１２から
の電圧v2およびv3をいずれも規格の過渡回復電圧
の周波数の２倍の周波数に設定した。しかし、こ
の周波数の設定の考え方は、しや断ユニツト数の
４点に対する開極するしや断ユニツト数の２点の
比である２／４＝１／２＝１／ｎのしや断ユニツト数に
対 しては、電圧源１１からの電圧v2を規格の過渡回
復電圧の周波数のｎ倍の周波数とし、電圧源１２
からの電圧v3を規格の過渡回復電圧の周波数の
ｎ／（ｎ−１）＝２倍の周波数として電圧v2に重
畳させることにある。 このように電流注入による電圧V2の周波数を
しや断ユニツト数に対する開極するしや断ユニツ
ト数の１／ｎに対して規格の過渡回復電圧の周波
数のｎ倍とすると、波高値までの時間はTv／ｎ
となる。一方、電圧重畳による電圧V3はTv／ｎ
遅らせて印加するので、V3の周波数は波高値ま
での時間が Tv−Tv／ｎ＝Tv（ｎ−１／ｎ） となるように規格の過渡回復電圧の周波数のｎ／
（ｎ−１）とすることになる。 ［発明の効果］ 以上のように本発明による合成試験法によれ
ば、多点切しや断部を有する供試しや断器を基礎
に対して絶縁支持し、その供試しや断器の一方の
引出導体を接地し、他の引出導体に供給した低電
圧の短絡電流のしや断時に電流注入法により過渡
回復電圧を印加し、さらに供試しや断器のタンク
と大地との間に電圧重畳法により過渡回復電圧を
印加し、その両過渡回復電圧を重畳させたことに
より、過渡回復電圧の初期上昇率、波高値および
波高時間を規格の過渡回復電圧に合わせることが
でき、しかも特に試験設備を大形にしなくとも試
験を可能ならしめることができる。
ないという矛盾におち入つてしまう。この限界を
破るためには、第２図の波高時間Tvを小さくす
ることが望れるが、このことは電気学会、電気規
格調査会標準規格“交流遮断器”JEC−2300に規
定された過渡回復電圧（以下規格の過渡回復電圧
という）を満足しないばかりか、TRVの上昇率
も厳しくなり、遮断器にとつて過酷すぎる試験に
なることも考えられる。 一方、試験設備の容量不足から全しや断点に対
して行なうことが困難になりつつある。その観点
から従来の直列に接続された多数の遮断部ユニツ
トのうち、１ユニツトのみを性能検証し、電圧分
担率に見合つた定数としや断点数を乗じることに
より、等価的に全しや断点の性能検証を行なつた
とするユニツト試験法が行なわれてきた。 しかし、このようなユニツト試験法は、しや断
部に発生したアークによる高温の熱ガスが、大地
としや断部間の絶縁をおびやかすことがない碍子
形しや断器のようなものにおいては、ほゞ完全に
有効とみなせるが、しや断部を金属タンク内に絶
縁支持した多点切タンク形しや断器では、本来全
しや断点数に見合つた過渡回復電圧が印加されな
くてはならない。直列しや断部の最も端となる端
部とタンク間に、アークを経由した絶縁の低下し
た熱ガスが噴き出されてくるため、１ユニツトの
接触子間の性能を検証するための過渡回復電圧を
印加するだけでは、接触子間の性能は検証できて
も、前記端部とタンク間のしや断直後の絶縁まで
検証されたことにはならない。 この欠点を改良した従来から知られている合成
試験法の原理を第３図に示す。また動作時の電流
電圧波形を第４図に示している。両図において、
１はしや断性能を検証する多点切タンク形しや断
器で、例として４点切のものを示す。タンク３内
に絶縁支持されたしや断部２ａ，２ｂ，２ｃ，２
ｄの片側引出導体５を接地し、タンク３を絶縁物
８で接地電位から絶縁する。大電流源用短絡発電
機１３は、補助しや断器１８を経てしや断器１に
短絡電流ilを供給する。しや断器１は接地されな
い引出導体７側のしや断ユニツト２ｄのみを大電
流源の電流位相に合わせて実質的に開極してアー
クを発生させる。 電流ilが検証すべき電流零点を迎えた時点tlで
第１の高電圧源１１よりしや断ユニツト２ｄの性
能を検証する過渡回復電圧Vlを引出導体７側の端
子と接地電位との間に印加する。また時点tlと
ほゞ同時に第２の高電圧源１２より本来全しや断
ユニツト２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄに印加すべき全
過渡回復電圧のうち、第１の高電圧源の過渡回復
電圧Vlを差し引いた電圧V2を、電圧V1と逆極性
にタンク３と接地電位との間に印加する。 このような試験を行なうことにより、引出導体
７側のしや断部端とタンクとの空間ｘには、電圧
V1とV2の差すなわち絶対値的にV1＋V2の和の電
圧が印加されることになり、空間ｘの絶縁検証と
しや断ユニツト２ｄの性能検証が同時に行なわれ
る。しかしながら、このような試験においても、
過渡回復電圧の波形を第２図に示すような規格通
りのものとして出すことは、1100KV系などの
UHV系統では極めて問題である。 ［発明の目的］ 本発明の目的は、特にタンク形遮断器と対地間
の絶縁回復の検証を1100KV級のUHV系統の場
合についても規格通りの波形の過渡回復電圧を印
加することで検証できるタンク形しや断器の合成
しや断試験方法を提供するにある。 ［発明の概要］ 本発明によるタンク形しや断器の合成しや断試
験方法は、多点切タンク形しや断器の開極しや断
ユニツトに対して電流注入法による電圧源から過
渡回復電圧を印加し、しや断器のタンクと大地と
の間に電圧重畳法による電圧源から過渡回復電圧
を印加することにより、規格通りの過渡回復電圧
のもとにしや断ユニツトの性能およびしや断部付
近の絶縁性能を同時に検証できることを特徴とす
るものである。 ［発明の実施例］ 以下本発明の合成しや断試験方法を説明する前
に、その試験装置を示す第５図について説明す
る。供試器であるタンク形しや断器１は、一例と
してしや断ユニツト２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄを有
する４点切しや断部２を金属製タンク３内に設置
して構成されており、その一方の口出しはブツシ
ング４を通して引出線５で外部に導き出され、そ
の他方の口出しはブツシング６を通して引出線７
で外部に導き出されている。そしてこのしや断器
１は、合成試験時に絶縁架台８，８を介して基礎
９に絶縁支持される。 供試しや断器のタンク形しや断器１に合成試験
を実施するに際しては、その合成試験装置として
短絡電源１０、電流注入法のための電圧源１１お
よび電圧重畳法のための電圧源１２を備える。短
絡電源１０は図示のように短絡発電機１３を有し
その出力端を投入器１４、保護しや断器１５およ
び電流調整用リアクトル１６を介して短絡トラン
ス１７の一次巻線１７Ｐに接続し、その短絡トラ
ンス１７の二次巻線１７Ｓを補助しや断器１８を
介して供試しや断器１の一方の引出線７に接続す
る。そして供試しや断器１の他方の引出線５は大
地Ｅに接地しておく。 電流注入法のための電圧源１１は、コンデンサ
１９、トリガギヤツプ２０およびリアクトル２１
の直列回路と、抵抗２２、コンデンサ２３および
４パラメータ回路２４の直列回路との並列回路で
形成され、その並列回路の一端は供試しや断器１
の引出線７に接続され、他端は短絡トランス１７
の二次巻線１７Ｓに接続されている。トリガキヤ
ツプ２０が動作したときに電圧源１１に発生する
電圧は、コンデンサ１９，２３、リアクトル２
１、抵抗２２および４パラメータ回路２４の特性
で波形および波高値がきまる。 電圧重畳法のための電圧源１２は、コンデンサ
２５、トリガーギヤツプ２６およびリアクトル２
７の直列回路と、抵抗２８、コンデンサ２９およ
び４パラメータ回路３０の直列回路との並列回路
で形成され、その一端は供試しや断器１のタンク
３に接続され、その他端は短絡トランス１７の二
次巻線１７Ｓに接続されている。そしてトリガギ
ヤツプ２６の動作時に発生する電圧源１２の電圧
は、コンデンサ２５，２９、リアクトル２７、抵
抗２８および４パラメータ回路３０の特性によつ
てその波形および波高値がきめられる。 この第５図に示す合成試験装置を用いる供試し
や断器１に対する合成試験の手順を第６図の電流
波形を参照しながら説明する。本実施例における
供試しや断器１の４点切しや断部２は、その２点
のしや断ユニツト２ａ，２ｂのみが同時に開極
し、他の２点のしや断ユニツト２ｃ，２ｄは開極
しないようにインターロツクしているものとす
る。 合成試験時は、短絡発電機１３から短絡トラン
ス１７を介して補助しや断器１８を経て引出導体
７から供試しや断器１の４点しや断ユニツト２
ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄに第６図の電流ilが供給さ
れる。そして供試しや断器１への開極指令によつ
て２点のしや断ユニツト２ａ，２ｂが開極する。
これとともに供給された電流ilは電流零点t3でし
や断することになるが、この電流ilの電流零点t3
の少し前の時点t2で電圧源１１のトリガギヤツプ
２０が短絡されて電流i2を供試しや断器１に注入
する。この注入された電流i2は、電流零点t4で予
め開極された供試しや断器１のしや断ユニツト２
ａ，２ｂでしや断される。さらに補助しや断器１
８も時点t3ですでにしや断しているので、供試し
や断器１のしや断ユニツト２の開極ユニツト２
ａ，２ｂには、高電圧源１１からコンデンサ１
９，２３、リアクトル２１、抵抗２２および４パ
ラメータ回路２４の特性できまる電圧v2が印加す
る。この電圧v2は１点のしや断ユニツト２ａを開
極したときに生じる規格通りの過渡回復電圧の２
倍の周波数をもつて２点のしや断ユニツト２ａ，
２ｂに印加されてその性能が検証される。 一方電圧v2の波高値t5で電圧源１２のトリガギ
ヤツプ２６を短絡すると、コンデンサ２５，２
９、リアクトル２７、抵抗２８および４パラメー
タ回路３０の特性できまる電圧v3が供試しや断器
１のタンク３に印加する。この電圧v3も規格通り
の過渡回復電圧の２倍の周波数で、かつ逆極性で
印加することになる。したがつて、供試しや断器
１のタンク３としや断ユニツト２の引出線７に接
続される部分の空間ｘには、第７図に示すように
電圧v2，v3が重畳された波形の電圧vtが印加され
ることになる。この電圧vtは電圧v1，v2の過渡回
復電圧を規格の周波数の２倍にしていることか
ら、その波形の初期上昇率および波高時間が点線
で示した規格値と一致することになり、しや断ユ
ニツト２の性能およびタンク３との絶縁性能を規
格通りに一致して試験することができる。 なお以上の実施例では、供試しや断器１として
４点切しや断部２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄを有し、
試験時に開極する接点はしや断ユニツト２ａ，２
ｂの２点であるため、電圧源１１および１２から
の電圧v2およびv3をいずれも規格の過渡回復電圧
の周波数の２倍の周波数に設定した。しかし、こ
の周波数の設定の考え方は、しや断ユニツト数の
４点に対する開極するしや断ユニツト数の２点の
比である２／４＝１／２＝１／ｎのしや断ユニツト数に
対 しては、電圧源１１からの電圧v2を規格の過渡回
復電圧の周波数のｎ倍の周波数とし、電圧源１２
からの電圧v3を規格の過渡回復電圧の周波数の
ｎ／（ｎ−１）＝２倍の周波数として電圧v2に重
畳させることにある。 このように電流注入による電圧V2の周波数を
しや断ユニツト数に対する開極するしや断ユニツ
ト数の１／ｎに対して規格の過渡回復電圧の周波
数のｎ倍とすると、波高値までの時間はTv／ｎ
となる。一方、電圧重畳による電圧V3はTv／ｎ
遅らせて印加するので、V3の周波数は波高値ま
での時間が Tv−Tv／ｎ＝Tv（ｎ−１／ｎ） となるように規格の過渡回復電圧の周波数のｎ／
（ｎ−１）とすることになる。 ［発明の効果］ 以上のように本発明による合成試験法によれ
ば、多点切しや断部を有する供試しや断器を基礎
に対して絶縁支持し、その供試しや断器の一方の
引出導体を接地し、他の引出導体に供給した低電
圧の短絡電流のしや断時に電流注入法により過渡
回復電圧を印加し、さらに供試しや断器のタンク
と大地との間に電圧重畳法により過渡回復電圧を
印加し、その両過渡回復電圧を重畳させたことに
より、過渡回復電圧の初期上昇率、波高値および
波高時間を規格の過渡回復電圧に合わせることが
でき、しかも特に試験設備を大形にしなくとも試
験を可能ならしめることができる。
第１図は合成しや断試験の基本的回路図、第２
図は1100KV級の４パラメータ表示による過渡回
復電圧波形図、第３図はタンク形しや断器の合成
しや断試験装置を示す回路図、第４図はその電流
電圧波形図、第５図は本発明によるタンク形しや
断器の合成しや断試験法を施行するための試験回
路図、第６図は本発明による合成しや断試験法を
施行したときの電流、電圧波形図、第７図はその
試験時の重畳電圧波形図である。 １……供試しや断器、２ａ〜２ｄ……多点切し
や断ユニツト、３……タンク、４，６……口出ブ
ツシング、５，７……引出導体、８……絶縁架
台、１０……電流源、１１……電流注入法による
電圧源、１２……電圧重畳法による電圧源、１３
……短絡発電機、１７……短絡トランス、１８…
…補助しや断点、２４，３０……４パラメータ回
路。
図は1100KV級の４パラメータ表示による過渡回
復電圧波形図、第３図はタンク形しや断器の合成
しや断試験装置を示す回路図、第４図はその電流
電圧波形図、第５図は本発明によるタンク形しや
断器の合成しや断試験法を施行するための試験回
路図、第６図は本発明による合成しや断試験法を
施行したときの電流、電圧波形図、第７図はその
試験時の重畳電圧波形図である。 １……供試しや断器、２ａ〜２ｄ……多点切し
や断ユニツト、３……タンク、４，６……口出ブ
ツシング、５，７……引出導体、８……絶縁架
台、１０……電流源、１１……電流注入法による
電圧源、１２……電圧重畳法による電圧源、１３
……短絡発電機、１７……短絡トランス、１８…
…補助しや断点、２４，３０……４パラメータ回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 多点切しや断部を有する供試しや断器を基礎
に対して絶縁支持し、その供試しや断器の一方の
引出導体を接地し、その他方の引出導体から低電
圧の短絡電流を供給してこれをしや断し、そのし
や断時に前記多点切しや断部の１／ｎのしや断ユ
ニツトに対して規格の過渡回復電圧の周波数のｎ
倍の周波数の過渡回復電圧を電流注入法による電
圧源から印加するとともにこの電流注入法による
電圧源から印加した過渡回復電圧の波高値付近
で、前記供給しや断器のタンクと大地との間に規
格の過渡回復電圧の周波数のｎ／（ｎ−１）倍の
周波数の過渡回復電圧を電圧重畳法による電圧源
から印加することを特徴とするタンク形しや断器
の合成しや断試験法。 ２ 供試しや断器は４点切しや断ユニツトを有
し、その２点しや断ユニツトを試験時に開極する
よう構成し、電流注入法による電圧源から２倍の
周波数の過渡回復電圧を印加し、電圧重畳法によ
る電圧源から２倍の周波数の過渡回復電圧を印加
することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
のタンク形しや断器の合成しや断試験法。 ３ 電流注入法による電圧源および電圧重畳法に
よる電圧源の回路は、コンデンサ、トリガギヤツ
プおよびリアクトルの直列回路と抵抗、コンデン
サおよび４パラメータ回路の直列回路との並列回
路で構成したことを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載のタンク形しや断器の合成しや断試験
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58120332A JPS6013271A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | タンク形しや断器の合成しや断試験法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58120332A JPS6013271A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | タンク形しや断器の合成しや断試験法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6013271A JPS6013271A (ja) | 1985-01-23 |
| JPH0469350B2 true JPH0469350B2 (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=14783638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58120332A Granted JPS6013271A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | タンク形しや断器の合成しや断試験法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013271A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326969A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-13 | Siemens Ag | Combined testing circuit unit |
| JPS5818175A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Toshiba Corp | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
-
1983
- 1983-07-04 JP JP58120332A patent/JPS6013271A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326969A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-13 | Siemens Ag | Combined testing circuit unit |
| JPS5818175A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Toshiba Corp | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6013271A (ja) | 1985-01-23 |
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