JPS58122473A - 多点切タンク形しや断器の合成試験法 - Google Patents
多点切タンク形しや断器の合成試験法Info
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- JPS58122473A JPS58122473A JP57003371A JP337182A JPS58122473A JP S58122473 A JPS58122473 A JP S58122473A JP 57003371 A JP57003371 A JP 57003371A JP 337182 A JP337182 A JP 337182A JP S58122473 A JPS58122473 A JP S58122473A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Gas-Insulated Switchgears (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属タンク内Ｃ；密閉収納されたしや〜１部が
前記タンクから絶縁支持された多点切タンク形し中断器
のしゃ断性能を検証する合成試験法に関するものである
。
前記タンクから絶縁支持された多点切タンク形し中断器
のしゃ断性能を検証する合成試験法に関するものである
。
近年の系統の高電圧、大容量化の傾向は壕すます大きく
なり１１００ ＫＶの送電線まで考えられてぃる。仁れ
ｉ−ともないしゃ断器のしゃ断容量も飛躍的≦二押びて
おり、このしゃ断性能を検証するととｔ−ｊｋ験設備の
容量不足から全しゃ断点Ｃ；対して行なうことが困難に
なりつつある。その観点から従来から直列に接続され次
多数のし中断部ユニットのうち、１ユニツトのみを性能
検証し、電圧分担率に見合った定数としゃ断点数を乗じ
ることにより等価的に全しゃ断点の性能検証を行なつ九
とするユニット試験法が行なわれてきた０ しかしそのようなユニット試験法は、しゃ断部１二発生
したアークによる高温の熱ガスが大地としゃ断部間の絶
縁をおびやかすことがない碍子形しゃ断器のようなもの
１；おいては、はぼ完全Ｃユ有効とみなせるが、しゃ断
部を金属タンク内に絶縁支持した多点切タンク形しゃ断
器では、本来全しゃ断点数にみあった再起電比が印加さ
れなくてはならないところの直列しゃ断部の最も端とな
る端部とタンク間Ｃ，アークを経由した絶縁の低下した
熱ガスが噴き出されてくるため、１ユニツトの接触子間
の性能を検証する丸めの再起電圧を印加するだけでは、
接触子間の性能は検証できてもｌ！ｌｉＪ配端部とタン
ク関のしゃ断直稜の絶縁まで検証されたことにはならな
いという欠点を有してい斤。
なり１１００ ＫＶの送電線まで考えられてぃる。仁れ
ｉ−ともないしゃ断器のしゃ断容量も飛躍的≦二押びて
おり、このしゃ断性能を検証するととｔ−ｊｋ験設備の
容量不足から全しゃ断点Ｃ；対して行なうことが困難に
なりつつある。その観点から従来から直列に接続され次
多数のし中断部ユニットのうち、１ユニツトのみを性能
検証し、電圧分担率に見合った定数としゃ断点数を乗じ
ることにより等価的に全しゃ断点の性能検証を行なつ九
とするユニット試験法が行なわれてきた０ しかしそのようなユニット試験法は、しゃ断部１二発生
したアークによる高温の熱ガスが大地としゃ断部間の絶
縁をおびやかすことがない碍子形しゃ断器のようなもの
１；おいては、はぼ完全Ｃユ有効とみなせるが、しゃ断
部を金属タンク内に絶縁支持した多点切タンク形しゃ断
器では、本来全しゃ断点数にみあった再起電比が印加さ
れなくてはならないところの直列しゃ断部の最も端とな
る端部とタンク間Ｃ，アークを経由した絶縁の低下した
熱ガスが噴き出されてくるため、１ユニツトの接触子間
の性能を検証する丸めの再起電圧を印加するだけでは、
接触子間の性能は検証できてもｌ！ｌｉＪ配端部とタン
ク関のしゃ断直稜の絶縁まで検証されたことにはならな
いという欠点を有してい斤。
その欠点を改良した従来から知られている合成試験法の
原理を第１図Ｃ示す。また動作時の電流電圧波形を第２
図ｉ二示す。１はしゃ断性能を恢トする多点切タンク形
しゃ断器で、例として４点切のものを示す。碍子２等で
タンク３から絶縁されたしゃ断部の片側引出導体の端ｓ
５を接地し２、タンク３を絶縁物４で接地電位から絶縁
する。７に太ｔｆｌｔ源用知絡発電機で、補助しゃ断器
８を鮭て、しゃ断器１に短絡電流↓ｌを供給する。しゃ
断器ＩＦｉ接地されない引出導体６側のしゃ断ユニット
（第１図でｉ！：１４のみ）を入電ｉ源の電流位相に合
わせて実質的に開極して、アークを発生させる。
原理を第１図Ｃ示す。また動作時の電流電圧波形を第２
図ｉ二示す。１はしゃ断性能を恢トする多点切タンク形
しゃ断器で、例として４点切のものを示す。碍子２等で
タンク３から絶縁されたしゃ断部の片側引出導体の端ｓ
５を接地し２、タンク３を絶縁物４で接地電位から絶縁
する。７に太ｔｆｌｔ源用知絡発電機で、補助しゃ断器
８を鮭て、しゃ断器１に短絡電流↓ｌを供給する。しゃ
断器ＩＦｉ接地されない引出導体６側のしゃ断ユニット
（第１図でｉ！：１４のみ）を入電ｉ源の電流位相に合
わせて実質的に開極して、アークを発生させる。
４１が検証すべき電流零点をむかえた時点ｔ１で第１の
高電圧源９より、しゃ断ユニットを検証する再起電圧ｒ
ｌを引出導体６＠端子と接地１１位の間Ｃ印加する。ま
たｔｌとほぼ同時６二納２の高電圧源用より本来全しゃ
断ユニット（第１図では、１１．１２゜１３ 、１４
）に印加すべき全再起電圧のうち、第１の為電圧源９の
桝起電圧ｔｌを差し引いた電圧ｔｉを、ＩＰｌと逆極性
Ｉ：タンク３と接地電位との間に印加する０ このような、試験を行なうことにより、引出導体６＠の
しゃ断部端とタンク３との空間１５１：は、ｙｌとｖ３
差すなわち、絶対値的にはｓ ’ｌと？３の和の電圧が
印加されることになり、空間１５の絶縁検証としゃ断ユ
ニットの性能検証が同時Ｃ二行なわれる。
高電圧源９より、しゃ断ユニットを検証する再起電圧ｒ
ｌを引出導体６＠端子と接地１１位の間Ｃ印加する。ま
たｔｌとほぼ同時６二納２の高電圧源用より本来全しゃ
断ユニット（第１図では、１１．１２゜１３ 、１４
）に印加すべき全再起電圧のうち、第１の為電圧源９の
桝起電圧ｔｌを差し引いた電圧ｔｉを、ＩＰｌと逆極性
Ｉ：タンク３と接地電位との間に印加する０ このような、試験を行なうことにより、引出導体６＠の
しゃ断部端とタンク３との空間１５１：は、ｙｌとｖ３
差すなわち、絶対値的にはｓ ’ｌと？３の和の電圧が
印加されることになり、空間１５の絶縁検証としゃ断ユ
ニットの性能検証が同時Ｃ二行なわれる。
しかしながらこのような従来の試験法６−おいては、空
間１５の絶縁を検証するものであるため、例えば空間１
５Ｃ＝絶縁破壊が起きた場合Ｃ−は、第２高電圧源１０
の電圧が、第１の高電圧源９儒Ｃｓ入りこみ、゛この時
検証すべきしゃ断ユニットの数が。
間１５の絶縁を検証するものであるため、例えば空間１
５Ｃ＝絶縁破壊が起きた場合Ｃ−は、第２高電圧源１０
の電圧が、第１の高電圧源９儒Ｃｓ入りこみ、゛この時
検証すべきしゃ断ユニットの数が。
全しゃ断ユニットの数と比較して少なければ少ないほど
％第１の高電圧源９よりも第２の高電圧源１０の発生電
圧が高くなり、第１の高電圧源９の試験装置を電気的Ｉ
：被破壊やすいという欠点を有している。
％第１の高電圧源９よりも第２の高電圧源１０の発生電
圧が高くなり、第１の高電圧源９の試験装置を電気的Ｉ
：被破壊やすいという欠点を有している。
本発明は上記点に鏝みて、なされたもので、その目的社
、しゃ断部端とタンクの間に絶縁破壊が生じても、試験
装置を破壊することのない安全な多点切タンク形しゃ断
器の合成試験法を提供することＣ二ある。
、しゃ断部端とタンクの間に絶縁破壊が生じても、試験
装置を破壊することのない安全な多点切タンク形しゃ断
器の合成試験法を提供することＣ二ある。
次Ｃ；本発明の構成を、第３図Ｉ：示す一実施例をもと
１；説明する。金属で密閉でれたタンク３を絶縁物４で
接地電位から絶縁し、かつタンク３から絶縁支持された
しゃ断部の片側の引出導体５を接地した多点切タンク形
し中断器１を配置し、しゃ断ユニット１１ 、１２．１
３．１４のうち接地されない引出導体６側のしゃ断ユニ
ツ） １４を一極させるとともＩ：引出導体６＠ｌ二大
電流ｉ１７とＪＲｌの高電圧−９を接続し、前記引出導
体６と電気的にＮ電位となる箇所と接地電位との間Ｃ二
人電流源１７および第１の高電圧源９を過電圧から保謙
する保麹装置３２を設ける。また、タンク３に第２の高
電圧源１０Ｙ接続する。
１；説明する。金属で密閉でれたタンク３を絶縁物４で
接地電位から絶縁し、かつタンク３から絶縁支持された
しゃ断部の片側の引出導体５を接地した多点切タンク形
し中断器１を配置し、しゃ断ユニット１１ 、１２．１
３．１４のうち接地されない引出導体６側のしゃ断ユニ
ツ） １４を一極させるとともＩ：引出導体６＠ｌ二大
電流ｉ１７とＪＲｌの高電圧−９を接続し、前記引出導
体６と電気的にＮ電位となる箇所と接地電位との間Ｃ二
人電流源１７および第１の高電圧源９を過電圧から保謙
する保麹装置３２を設ける。また、タンク３に第２の高
電圧源１０Ｙ接続する。
次：二その動作を説明する。
前述の如く、１７は大電流源側の回路で短絡発亀ｍ７＃
′ｉ、バックアップしゃ断器１８．投入［１１９、電ｔ
ｌｔ、調整用すアクトル加および変圧［６２１を経由し
て８賛な知略電流↓ｌを補助し中断器６を通してしや１
１１９ｒａｌに供給する。９はｇｔの高電圧源の回路で
めらかしめ充電されたコンデンサｎの電荷を検証すべき
Ｌｌの電流零点ｔ８より前で所定の時間ｔｉｔ；でギヤ
ツブ四を放電させることにより、コンデンサ２２とリア
クトルスでははげ決定される重畳電流ふ３をムｌＩ−同
極性でＬｌの電流零点ｔ８を過ぎた後でルｚの電流零点
ｔ４が到来するよう５二重畳する０しゃ新巻１とほぼ同
時番＝開かれた補助しゃ断器８は時間ｔ８でＬｌが零と
なるため、′シゃ断完了し、大電流源と第１の高電圧源
を電気的Ｃ二切り随す。
′ｉ、バックアップしゃ断器１８．投入［１１９、電ｔ
ｌｔ、調整用すアクトル加および変圧［６２１を経由し
て８賛な知略電流↓ｌを補助し中断器６を通してしや１
１１９ｒａｌに供給する。９はｇｔの高電圧源の回路で
めらかしめ充電されたコンデンサｎの電荷を検証すべき
Ｌｌの電流零点ｔ８より前で所定の時間ｔｉｔ；でギヤ
ツブ四を放電させることにより、コンデンサ２２とリア
クトルスでははげ決定される重畳電流ふ３をムｌＩ−同
極性でＬｌの電流零点ｔ８を過ぎた後でルｚの電流零点
ｔ４が到来するよう５二重畳する０しゃ新巻１とほぼ同
時番＝開かれた補助しゃ断器８は時間ｔ８でＬｌが零と
なるため、′シゃ断完了し、大電流源と第１の高電圧源
を電気的Ｃ二切り随す。
ｔ８以後しゃ断器１には↓Ｓのみが流れ、↓３の零点ｔ
４にてコンデンサーｎは初期の充電々圧とは逆極性の電
圧となり、以後、リアクトル冴、抵抗５゜コンデンサ拠
を通して減衰振動性の電流を流し、ゐと２６に発生する
電圧の和１１が再起電圧となって、しゃ断ユニット１１
のし中断性能を検証する。ｌＯは第２の高電圧源の回路
で、あらかじめ充電されたコンデンサｎの電荷をｔ４に
合わせて、放ｍ畑せ、リアクトル２９．抵抗蜀、コンデ
ンサ３１を通して減衰振動性の電流を流し、３０と３１
に発生する電圧の和ｇＰｉを再起電圧としてタンク３に
印加する。この時？Ｓは、本来全しゃ断点Ｃ印加すべき
全杏起電圧よりｙ、ｌを差し引いた電圧値に岬しくシ、
かつ接地電位に対してｖｌと逆極性となるよう５二する
。
４にてコンデンサーｎは初期の充電々圧とは逆極性の電
圧となり、以後、リアクトル冴、抵抗５゜コンデンサ拠
を通して減衰振動性の電流を流し、ゐと２６に発生する
電圧の和１１が再起電圧となって、しゃ断ユニット１１
のし中断性能を検証する。ｌＯは第２の高電圧源の回路
で、あらかじめ充電されたコンデンサｎの電荷をｔ４に
合わせて、放ｍ畑せ、リアクトル２９．抵抗蜀、コンデ
ンサ３１を通して減衰振動性の電流を流し、３０と３１
に発生する電圧の和ｇＰｉを再起電圧としてタンク３に
印加する。この時？Ｓは、本来全しゃ断点Ｃ印加すべき
全杏起電圧よりｙ、ｌを差し引いた電圧値に岬しくシ、
かつ接地電位に対してｖｌと逆極性となるよう５二する
。
このような動作を行なうことにより、しゃ断ユニット１
４の引出導体６側端部と、タンク３との空間１５ Ｃは
ｓ ’ｌ−ガすなわち絶対値的ににｓ ’１とＦｓの和
として全再起電圧相当の電圧ｒ８が印加されて、空間１
５のしゃ断時薯−おける絶縁性能と、しゃ断ユニットの
しゃ断性能を同時Ｃ二検鉦することができる。また、こ
の例では、しゃ断性能を横１するしゃ断ユニットが１点
であるため、ｒｓはｔ１五二対して約３倍の電圧となり
、万が一空間Ｊ５に絶縁破壊が起きると、この３倍の電
圧が第１の高電圧源９および大電流源１７に入りこむこ
とＣ二なるが、保鰻装置ｎがあるため電気的な破壊を起
こすことはなく、空間１５の絶縁性能の検証をその限界
まで光分≦二、行なうことができる。この保鏝装置３２
として絶縁性ガスを會閉した容器中に設けられたギャッ
プ、大気中に開放された気中ギャップ、或いは縦比亜鉛
などの非直線抵抗体などを使用できる。
４の引出導体６側端部と、タンク３との空間１５ Ｃは
ｓ ’ｌ−ガすなわち絶対値的ににｓ ’１とＦｓの和
として全再起電圧相当の電圧ｒ８が印加されて、空間１
５のしゃ断時薯−おける絶縁性能と、しゃ断ユニットの
しゃ断性能を同時Ｃ二検鉦することができる。また、こ
の例では、しゃ断性能を横１するしゃ断ユニットが１点
であるため、ｒｓはｔ１五二対して約３倍の電圧となり
、万が一空間Ｊ５に絶縁破壊が起きると、この３倍の電
圧が第１の高電圧源９および大電流源１７に入りこむこ
とＣ二なるが、保鰻装置ｎがあるため電気的な破壊を起
こすことはなく、空間１５の絶縁性能の検証をその限界
まで光分≦二、行なうことができる。この保鏝装置３２
として絶縁性ガスを會閉した容器中に設けられたギャッ
プ、大気中に開放された気中ギャップ、或いは縦比亜鉛
などの非直線抵抗体などを使用できる。
での他、第１の高電圧源や、第２の高電圧源−二人電流
源と別の燦絡発電機と接続した変圧器を設けたり、入電
ｆｉ源と接続し九変圧器を設けたりする方法などが考え
られるが５本発明の有効性は同じでろる。
源と別の燦絡発電機と接続した変圧器を設けたり、入電
ｆｉ源と接続し九変圧器を設けたりする方法などが考え
られるが５本発明の有効性は同じでろる。
以上述べたよう≦二本発明のＳ成、および動作を行なう
ことにより、しゃ断ユニットのしゃ断性能と、しゃ断部
端とタンク間の絶縁性能を安全にかつその限界まで検証
できる多点切タンク形しゃ断器の合成試験法を提供する
ことができる。
ことにより、しゃ断ユニットのしゃ断性能と、しゃ断部
端とタンク間の絶縁性能を安全にかつその限界まで検証
できる多点切タンク形しゃ断器の合成試験法を提供する
ことができる。
第１図は従来から考えられている試験法を示す回路図、
第２図はその動作時（：おける電流・電圧波形を示す図
、第３図は本発明の一笑施例を示す回路図、第４図はそ
の動作時における電流・電圧波形を示す図である。 １・・・多点切タンク形しゃ断器
第２図はその動作時（：おける電流・電圧波形を示す図
、第３図は本発明の一笑施例を示す回路図、第４図はそ
の動作時における電流・電圧波形を示す図である。 １・・・多点切タンク形しゃ断器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 大電流源と第１の高電圧源とによりしゃ断ユ
ニットの性能検証を行ない、かつ第２の高電圧源が、第
１の高電圧源とほぼ同時Ｃ，かつ逆極性° の電圧を接
地電位から絶縁されたし中断器の金属タンクに印加する
こと１二より、前記タンク内Ｉ：絶鰍支持されるしゃ断
部端とタンク間の絶縁性能を検１するし７や断器の合成
試験におし１て、互し＋１１：、直列に接続されて、そ
の両端側が外部１：導出されるしゃ断ユニットの片側の
引出導体を接地し、他側の引出導体シーは、大電流源な
らび（＝、第１の高電圧源を接続し、前記しゃ断ユニッ
トのうち前記他側の引出導体側のしゃ断エニットを実質
的Ｉ：開極させ、第２の高電圧源は第１の高電圧源より
高１．％電圧を発生させるととも感−１前記他側引出導
体と電気的（二同電位となる箇所に、過電圧から第１の
高電圧源または大電流源を保饅する装置を設は九ことを
特徴とする多点切タンク形じゃ鵬器の合成試験法。 （２）保賎する装置として絶縁性ガスを管間（７た容器
中１＝設けられたギャップを含むことを特徴とする特許
請求範凹第１項記載の多点切タンク影しゃ断器の合成試
験法。 （＄）保−する装置として大気中１二開放された気中ギ
ャップを含むことを特徴とする特許紬求軛１鮪１項記載
の多点切タンク形しゃ断器の合成試験法０ （４）保瞭する装置として、酸化亜鉛などの非直線抵抗
体を含むことを特徴とする特許鮪求範１第１項記載の多
点切タンク形しゃ断器の合成試験法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57003371A JPS58122473A (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 多点切タンク形しや断器の合成試験法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57003371A JPS58122473A (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 多点切タンク形しや断器の合成試験法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58122473A true JPS58122473A (ja) | 1983-07-21 |
Family
ID=11555484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57003371A Pending JPS58122473A (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 多点切タンク形しや断器の合成試験法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58122473A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8145061B2 (en) | 2009-01-13 | 2012-03-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical module implementing a light-receiving device and a light-transmitting device within a common housing |
-
1982
- 1982-01-14 JP JP57003371A patent/JPS58122473A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8145061B2 (en) | 2009-01-13 | 2012-03-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical module implementing a light-receiving device and a light-transmitting device within a common housing |
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