JPH0449662B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0449662B2 JPH0449662B2 JP17671382A JP17671382A JPH0449662B2 JP H0449662 B2 JPH0449662 B2 JP H0449662B2 JP 17671382 A JP17671382 A JP 17671382A JP 17671382 A JP17671382 A JP 17671382A JP H0449662 B2 JPH0449662 B2 JP H0449662B2
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- JP
- Japan
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- voltage
- current
- generator
- test
- capacitor
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 26
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 15
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
- G01R31/3272—Apparatus, systems or circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は遮断器の等価試験方法に関し、その目
的は供試器に与える電流遮断直後の極間電圧波形
を直接試験波形により近似せしめることにある。
的は供試器に与える電流遮断直後の極間電圧波形
を直接試験波形により近似せしめることにある。
進相電流遮断性能を検証するのに、比較的小容
量の短絡発電機を試験用電源に用いて行なう場
合、第１図の如き回路構成によるものが知られて
いる。即ち、Ｓは供試遮断器で、これには、短絡
発電機Ｇ、リアクトルL1、補助遮断器Ｈから成
る電流源回路から遅れ電流ilが、又、発電機Ｇ、
昇圧用変圧器Ｔ、コンデンサＣから成る電圧源回
路から進み電流icがそれぞれ供給され、遮断性能
の検証が行なわれる。
量の短絡発電機を試験用電源に用いて行なう場
合、第１図の如き回路構成によるものが知られて
いる。即ち、Ｓは供試遮断器で、これには、短絡
発電機Ｇ、リアクトルL1、補助遮断器Ｈから成
る電流源回路から遅れ電流ilが、又、発電機Ｇ、
昇圧用変圧器Ｔ、コンデンサＣから成る電圧源回
路から進み電流icがそれぞれ供給され、遮断性能
の検証が行なわれる。
これを第２図のオシログラムを参照して説明す
る。供試器Ｓに流れる電流として、発電機Ｇを運
転して電流源よりリアクトルL1で調整された遅
れ電流ilと、電圧源回路よりコンデンサＣの充
電々流icを供給する。ここで補助遮断器Ｈ及び供
試器Ｓを略々同時に開放し遅れ電流ilと進み電流
icを時刻t0で遮断する。
る。供試器Ｓに流れる電流として、発電機Ｇを運
転して電流源よりリアクトルL1で調整された遅
れ電流ilと、電圧源回路よりコンデンサＣの充
電々流icを供給する。ここで補助遮断器Ｈ及び供
試器Ｓを略々同時に開放し遅れ電流ilと進み電流
icを時刻t0で遮断する。
この場合アーク時間は実系統に於けるコンデン
サ電流遮断と略々同程度となるようにする。
サ電流遮断と略々同程度となるようにする。
電流遮断後、供試器Ｓの極間には電圧源回路の
電圧、即ちコンデンサＣの残留電圧vcと変圧器Ｔ
の２次電圧の差電圧Vsが印加される。この極間
電圧Vsの波形は供試器Ｓにとつて遮断性能を大
きく左右することから出来るだけ直接試験波形に
近ずけなければならない。
電圧、即ちコンデンサＣの残留電圧vcと変圧器Ｔ
の２次電圧の差電圧Vsが印加される。この極間
電圧Vsの波形は供試器Ｓにとつて遮断性能を大
きく左右することから出来るだけ直接試験波形に
近ずけなければならない。
ところで、最近の如く負荷の容量が増大すると
遮断器もこれに見合つた大電流遮断性能が要求さ
れる。
遮断器もこれに見合つた大電流遮断性能が要求さ
れる。
この様な遮断器を第１図の回路構成により従前
の小容量発電機Ｇを用いて試験するには、リアク
トルL1の値を小さくして電圧源回路の電流ilを大
きくする必要がある。
の小容量発電機Ｇを用いて試験するには、リアク
トルL1の値を小さくして電圧源回路の電流ilを大
きくする必要がある。
しかしながら、リアクトルL1の値を減少する
と発電機Ｇの内部インダクタンスLGを無視でき
なくなり電圧源回路から供試器Ｓに与えられる極
間電圧波形に遅れが生じるという問題点がある。
と発電機Ｇの内部インダクタンスLGを無視でき
なくなり電圧源回路から供試器Ｓに与えられる極
間電圧波形に遅れが生じるという問題点がある。
これを第３図の波形を参照しながら説明する
と、e0は発電機Ｇの発生電圧、e1は発電機Ｇの端
子T1，T2間に表われる電圧、vcは既述の通りコ
ンデンサＣの端子電圧、ｎは変圧器Ｔの巻数比で
ある。
と、e0は発電機Ｇの発生電圧、e1は発電機Ｇの端
子T1，T2間に表われる電圧、vcは既述の通りコ
ンデンサＣの端子電圧、ｎは変圧器Ｔの巻数比で
ある。
発電機Ｇを運転し電流ilとicを供給していると
き、端子T1，T2間には発生電圧e0から発電機Ｇ
の内部インダクタンスLGによる電圧降下分を差
し引いた電圧e1が表われており、電圧源回路コン
デンサＣはこのｎ倍の電圧ne1で充電されている。
き、端子T1，T2間には発生電圧e0から発電機Ｇ
の内部インダクタンスLGによる電圧降下分を差
し引いた電圧e1が表われており、電圧源回路コン
デンサＣはこのｎ倍の電圧ne1で充電されている。
ところが、前記遮断器Ｓ，Ｈの遮断に伴ない発
電機Ｇには電流が流れなくなり、その端子T1，
T2間には発生電圧e0がそのまま表われる。その
結果、昇圧用変圧器Ｔの出力はne0となり、前記
コンデンサＣの端子電圧vc（＝ne1peak）との差電
圧が、極間電圧vsとして供試器Ｓに供給される。
電機Ｇには電流が流れなくなり、その端子T1，
T2間には発生電圧e0がそのまま表われる。その
結果、昇圧用変圧器Ｔの出力はne0となり、前記
コンデンサＣの端子電圧vc（＝ne1peak）との差電
圧が、極間電圧vsとして供試器Ｓに供給される。
従つて前記電圧Vsは電流遮断点t0よりも遅れて
立上ることとなり、直接試験の場合の極間電圧波
形ｖとなり異なつたものとなる。
立上ることとなり、直接試験の場合の極間電圧波
形ｖとなり異なつたものとなる。
この様に、従来の方法では遮断電流が大きくな
ると、発電機Ｇの内部インダクタンスLGに基づ
き、電流遮断前後において発電機Ｇの端子に表わ
れる電圧が異なり、供試器に与える極間電圧波形
が直接試験のそれに近似しないという問題点が生
じてきた。
ると、発電機Ｇの内部インダクタンスLGに基づ
き、電流遮断前後において発電機Ｇの端子に表わ
れる電圧が異なり、供試器に与える極間電圧波形
が直接試験のそれに近似しないという問題点が生
じてきた。
本発明の上述の点に鑑み電圧源回路に適当なイ
ンピーダンスを有する電圧補償要素を挿入するこ
とにより前記問題点の解決を計つたものである。
ンピーダンスを有する電圧補償要素を挿入するこ
とにより前記問題点の解決を計つたものである。
以下第４図乃至第５図に基づき本発明を説明す
る。第４図においてＺは電圧源回路に挿入された
適当なインピーダンスを有する電圧補償要素であ
る。ここでは発電機Ｇの端子T1と昇圧用変圧器
Ｔの一次巻線間にインピーダンスＺとしてリアク
トルL2が挿入された場合を例示している。この
リアクトルL2のリアクタンスXL2は次の様に選定
されている。
る。第４図においてＺは電圧源回路に挿入された
適当なインピーダンスを有する電圧補償要素であ
る。ここでは発電機Ｇの端子T1と昇圧用変圧器
Ｔの一次巻線間にインピーダンスＺとしてリアク
トルL2が挿入された場合を例示している。この
リアクトルL2のリアクタンスXL2は次の様に選定
されている。
即ち、簡単のために、il》ic×ｎとして、また
変圧器Ｔの内部インピーダンスを無視すると、発
電機端子T1，T2の電圧変動率はXG／（XG＋
XL1）、電圧源回路（インピーダンスＺ及びコン
デンサＣを含む）の電圧補償要素はn2・XL2／Xc
となる。ここでXGは発電機インダクタンスLGの、
XL1はリアクトルL1の、XcはコンデンサＣの各リ
アクトルである。
変圧器Ｔの内部インピーダンスを無視すると、発
電機端子T1，T2の電圧変動率はXG／（XG＋
XL1）、電圧源回路（インピーダンスＺ及びコン
デンサＣを含む）の電圧補償要素はn2・XL2／Xc
となる。ここでXGは発電機インダクタンスLGの、
XL1はリアクトルL1の、XcはコンデンサＣの各リ
アクトルである。
前記両者の比率を等しくするためリアクトル
L2のリアクトルXL2は、 XL2＝XG／XG＋XL1・Xc／N2 に選定されている。
L2のリアクトルXL2は、 XL2＝XG／XG＋XL1・Xc／N2 に選定されている。
付言すれば、電圧補償要素Ｚの挿入により電圧
源回路の電圧が、発電機の内部インダクタンス
LGによる電圧低下を相殺する様に持ち上げられ
ることとなる。
源回路の電圧が、発電機の内部インダクタンス
LGによる電圧低下を相殺する様に持ち上げられ
ることとなる。
而して、第４図の回路において、遮断試験を実
施するには、供試器Ｓに遅れ電流ilと進み電流ic
を供給して供試器Ｓ、補助遮断器Ｈを遮断し、ア
ーク消滅後電圧源回路から供試器Ｓに極間電圧が
印加される手順は第１図の場合とかわりがない。
施するには、供試器Ｓに遅れ電流ilと進み電流ic
を供給して供試器Ｓ、補助遮断器Ｈを遮断し、ア
ーク消滅後電圧源回路から供試器Ｓに極間電圧が
印加される手順は第１図の場合とかわりがない。
ここで、電圧源回路には前述の如く、リアクト
ルL2が挿入され、そのリアクタンスXL2とコンデ
ンサＣのキヤパシタンスXcの比率が発電機Ｇの
電圧変動分を補正する様な値に設定されている。
このため、コンデンサＣの充電々圧vcと電流遮断
直後の変圧器Ｔの２次電圧が等しくなる。その結
果、前記供試器に与えられる極間電圧v′sは第５
図に示す如く電流遮断点t0から立上ることとな
り、直接試験の場合の波形ｖと近似する。
ルL2が挿入され、そのリアクタンスXL2とコンデ
ンサＣのキヤパシタンスXcの比率が発電機Ｇの
電圧変動分を補正する様な値に設定されている。
このため、コンデンサＣの充電々圧vcと電流遮断
直後の変圧器Ｔの２次電圧が等しくなる。その結
果、前記供試器に与えられる極間電圧v′sは第５
図に示す如く電流遮断点t0から立上ることとな
り、直接試験の場合の波形ｖと近似する。
以上詳述した如く、本発明によるときは供試器
に与えられる極間電圧波形を直接試験波形により
近似せしめることが出来るという効果を奏する。
に与えられる極間電圧波形を直接試験波形により
近似せしめることが出来るという効果を奏する。
第１図は従来方法を説明するための電気線図、
第２図は第１図のものによるオシログラム、第３
図は第２図の極間電圧波形の遅れ原因を説明する
オシログラム、第４図は本発明の方法を説明する
ための電気線図、第５図は第４図のものの極間電
圧波形を説明するオシログラムである。なお、図
中同一符号は同一若しくは相当部分を示す。 Ｇ……短絡発電機、Ｓ……供試遮断器、Ｃ……
コンデンサ、Ｚ……電圧補償要素。
第２図は第１図のものによるオシログラム、第３
図は第２図の極間電圧波形の遅れ原因を説明する
オシログラム、第４図は本発明の方法を説明する
ための電気線図、第５図は第４図のものの極間電
圧波形を説明するオシログラムである。なお、図
中同一符号は同一若しくは相当部分を示す。 Ｇ……短絡発電機、Ｓ……供試遮断器、Ｃ……
コンデンサ、Ｚ……電圧補償要素。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 発電機に接続された電流源回路から遅れ電流
を、コンデンサを具え前記発電機に接続された電
圧源回路から進み電流をそれぞれ供試遮断器に供
給し、電流遮断後前記電圧源回路から極間電圧を
前記供試遮断器に印加する遮断器の等価試験方法
において、前記電圧源回路に電圧補償要素を挿入
し、該電圧補償要素のインピーダンスと前記コン
デンサのインピーダンスの比率を前記発電機の内
部インダクタンスによる電圧低下分を相殺する様
な値に設定することにより、前記コンデンサの端
子電圧を上昇せしめる様にしたことを特徴とする
遮断器の等価試験方法。 ２ 前記電圧補償要素がリアクトルであることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の遮断器の
等価試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57176713A JPS5965271A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 遮断器の等価試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57176713A JPS5965271A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 遮断器の等価試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5965271A JPS5965271A (ja) | 1984-04-13 |
| JPH0449662B2 true JPH0449662B2 (ja) | 1992-08-12 |
Family
ID=16018454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57176713A Granted JPS5965271A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 遮断器の等価試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5965271A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH065652Y2 (ja) * | 1986-06-18 | 1994-02-09 | 株式会社明電舎 | しや断器の試験装置 |
| CN111239561B (zh) * | 2020-02-06 | 2021-01-29 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种带补偿的接地故障电弧电流标定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS502064A (ja) * | 1973-02-22 | 1975-01-10 | Montedison Spa |
-
1982
- 1982-10-06 JP JP57176713A patent/JPS5965271A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS502064A (ja) * | 1973-02-22 | 1975-01-10 | Montedison Spa |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5965271A (ja) | 1984-04-13 |
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