JP2003115242A

JP2003115242A - 遮断器試験回路

Info

Publication number: JP2003115242A
Application number: JP2001307036A
Authority: JP
Inventors: Kunio Yokokura; 邦夫横倉; Yoshimitsu Niwa; 芳充丹羽; Takumi Funabashi; 匠船橋; Kazuhiro Matsuo; 和宏松尾
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2001-10-03
Filing date: 2001-10-03
Publication date: 2003-04-18

Abstract

(57)【要約】【課題】直流遮断器の遮断性能を直接試験によらず、遮
断器設備を簡易化し、実際の遮断器の極間電圧と類似し
た遮断電圧を発生させて遮断器の試験を効率よく行う。【解決手段】遮断器６に交流電流を供給する電流源回路
１と、電流源回路１からの交流電流を制御するスイッチ
１４と、電流源回路１に並列に接続し、電流源回路１が
供給する交流電流と比較すると大電流で高周波かつ逆極
性の交流電流を供給する電流源回路２と、電流源回路２
からの交流電流を制御するスイッチ２４と、スイッチ１
４、スイッチ２４と遮断器６の間にあって遮断器６に供
給させる交流電流を制御するスイッチ７と、遮断器６に
並列に接続し、遮断器６に電圧を印加する電圧源回路３
と、電圧源回路３からの電圧を制御するスイッチ３４
と、電圧源回路３に並列に接続し、コンデンサと抵抗を
直列に接続した回路からなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は直流遮断器の遮断性
能を検証する遮断器試験回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】電鉄等の直流電力系統で短絡事故や地絡
事故が発生すると大きな直流の事故電流が流れ、そのと
きの事故電流による電磁力や事故点に発生したアークに
より、直流電力系統に設置された機器や器具が大きな損
傷を受け、その復旧に多大な費用と時間が必要となる。
これを防止するために直流電力系統には直流遮断器が設
置され、直流の事故電流を短時間に遮断し、直流電力系
統に設置された機器や器具の損傷を極力なくすことが期
待されている。この目的のために、直流遮断器では、事
故電流の事故発生と共に増加する過程で遮断することが
求められ、最終的に達する事故電流値（推定短絡電流）
より小さな値で遮断しなければならない。例えば、推定
短絡電流が１００ｋＡの直流電力系統で、短絡発生時に
実際に直流遮断器で遮断した電流のピーク値が２５ｋＡ
以下になることが求められる。真空遮断器は、最近では
サイリスタやＧＴＯサイリスタ等のパワーエレクトロニ
クス素子を用いた半導体遮断器や真空バルブを用いた直
流真空遮断器などが開発されている。このように新たに
開発される遮断器では、実際の直流電力系統等に使用
し、万一事故が発生した時に流れる事故電流のピーク値
に達する前に遮断できることを試験することが求められ
る。

【０００３】直流の事故電流遮断試験は、実際の直流回
路電圧にあわせ、さらに推定短絡電流が所定の１００ｋ
Ａや１５０ｋＡとなる試験電源を構築し、その回路に供
試すべき直流遮断器を設置し、遮断試験を行ってきた。
即ち、実際の条件とほとんど同じ回路を構成して試験を
行う、直接試験が行われてきた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】新たに開発する直流遮
断器の限界設計や信頼性を検証する上では、電圧・電圧
波形をパラメータとした試験が不可欠であるため、直接
試験ではそれに相応した試験設備が必要であり、設備が
大型化し、試験の効率を向上させることもできない。本
発明は、遮断器設備を簡易化し、実際の遮断器の極間電
圧と類似した遮断電圧を発生させて遮断器の試験を効率
よく実現することができる遮断器試験回路を提供するこ
とを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明においては、第１のコンデンサと、第１のコン
デンサに直列的に接続された第１のリアクトルと、第１
のコンデンサに並列的に接続された第１のコンデンサ充
電電源とを有する第１の電流源回路と、第１の電流源回
路に直列的に接続された第１の開閉手段と、第２のコン
デンサと、第２のコンデンサに直列的に接続された第２
のリアクトルと、第２のコンデンサに並列的に接続され
た第２のコンデンサ充電電源とを有し、第１の電流源回
路に並列的に接続された第２の電流源回路と、第２の電
流源回路に直列的に接続された第２の開閉手段と第１の
開閉手段と第２の開閉手段の接続ラインの間に接続され
た第３の開閉手段と、第３の開閉手段に直列的に接続さ
れた供試開閉器と、第３のコンデンサと、第３のコンデ
ンサに直列的に接続された第３のリアクトルと、第３の
コンデンサに並列的に接続された第３のコンデンサ充電
電源とを有し、第４の開閉手段を介して供試開閉器に並
列的に接続された第1の電圧源回路と、第４のコンデン
サと、第４のコンデンサに直列的に接続された抵抗とを
有し、第1の電圧源回路に並列的に接続された回路とを
備え、第1の開閉手段、第２の開閉手段、第３の開閉手
段および第４の開閉手段の開閉のタイミングを制御して
供試開閉器に交流電流を供給することを特徴とする遮断
器試験回路を提供する。

【０００６】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の第１の実施の形
態につき、図１の遮断器試験回路を参照して説明する。
第１の実施の形態の試験回路は、以下のように構成され
ている。電流源回路１は、コンデンサ１１とリアクトル
１２の直列回路で構成され、その一端は接地されてい
る。コンデンサ１１には並列にコンデンサ１１を充電す
るための充電電源１３が接続されている。電流源回路１
のもう一端はスイッチ１４に接続され、スイッチ１４は
スイッチ２４とスイッチ７に分岐接続されている。スイ
ッチ２４のもう一端には電流源回路２が接続されてい
る。電流源回路２は、コンデンサ２１とリアクトル２２
の直列回路で構成され、もう一端は接地されている。コ
ンデンサ２１には並列にコンデンサ２１を充電するため
の充電電源２３が接続されている。また、スイッチ７の
もう一端には遮断器６（供試開閉器）が接続されてい
る。また、遮断器６と並列にスイッチ３４と電圧源回路
３、回路５が接続されている。遮断器６のもう一端は接
地されている。電圧源回路３は、コンデンサ３１とリア
クトル３２の直列回路で構成され、その一端は接地され
ている。コンデンサ３１には並列にコンデンサ３１を充
電するための充電電源３３が接続されている。回路５
は、コンデンサ５１、抵抗５２の直列回路で構成され、
もう一端は接地されている。またコンデンサ１１、コン
デンサ２１、コンデンサ３１は、各々充電電源１３、２
３、３３が接続されていて、図示しない高インピーダン
ス素子を介して充電される。

【０００７】以上のように構成された第１の実施の形態
の試験回路の動作について図２を参照して説明する。最
初に、スイッチ１４、スイッチ２４およびスイッチ３４
はＯＦＦ状態にし、スイッチ７と遮断器６はＯＮ状態に
する。また、コンデンサ１１およびコンデンサ３１は充
電電源１３、３３のより正充電し、コンデンサ２１は充
電電源２３により負充電しておく。この状態で時刻ｔ１
でスイッチ１４を投入すると、コンデンサ１１に充電さ
れていた電荷がリアクトル１２を介して、スイッチ１
４、スイッチ７、遮断器６、大地（あるいは接地母
線）、コンデンサ１１の閉ループで放電する。このとき
の遮断器6に流れる電流Ｉ１は、図１で上から下の向き
に正弦波の電流Ｉ１が流れる。この電流Ｉ１の周波数ｆ
１は

【数１】となる。ここで、Ｌ１はリアクトル１２の誘電容量、Ｃ
１はコンデンサ１１の静電容量をあらわしている。遮断
器６に流れる電流Ｉｃｂは、Ｉｃｂ＝Ｉ１であり図２に
示すような波形となる。次に、時刻ｔ２でスイッチ７を
開極させる。時刻ｔ３で遮断器６が開極し、時刻ｔ４で
スイッチ１４を開極させる。しかし、各々のスイッチ
7、１４のスイッチ極間はアークで橋絡するため電流は
継続して流れる。また、遮断器６の極間もアークで橋絡
するため電流は継続して流れる。次に時刻ｔ５でスイッ
チ２４を投入する。これにより、コンデンサ２１に充電
されていた電荷がリアクトル２２を介して、スイッチ２
４、スイッチ７、遮断器６、大地（あるいは接地母
線）、コンデンサ２１の閉ループで放電する。このとき
の遮断器６に流れる電流Ｉ２は、図１で下から上の向き
に正弦波の電流が流れる。この電流Ｉ２の周波数ｆ２は

【数２】となる。ここで、Ｌ２はリアクトル２２の誘電容量、Ｃ
２はコンデンサ２１の静電容量をあらわしている。Ｉ１
＜Ｉ２、ｆ１＜ｆ２となるようにＣ１、Ｌ１、Ｃ２、Ｌ
２を設定し、電流Ｉ１とＩ２の合成となる電流Ｉｃｂが
電流Ｉ１の零点より前の時点で電流零点を形成するよう
にさせる。この電流零点でスイッチ７および遮断器６の
電流が遮断される。

【０００８】電流Ｉ１と電流Ｉ２の合成電流が零点に達
する前の時刻ｔ６でスイッチ３４を投入する。電流Ｉｃ
ｂは、電流Ｉ１と電流Ｉ２の合成電流が零点に達するの
より少し遅れた時刻ｔ７で零点となり、スイッチ７およ
び遮断器６はこの電流零点で遮断される。このときコン
デンサ３１の端子電圧は、放電電流として正弦波の半波
分が流れているので、当初の充電されていたときの電圧
とは極性が反転している。コンデンサ３１の極性反転後
の電荷により回路５のコンデンサ５１が抵抗５２を介し
て充電される。このときの遮断器６の電圧Ｖｃｂの変化
の様子を図２に示す。図３には遮断器６の電流Ｉｃｂと
極間電圧Ｖｃｂの変化の様子をシミュレーションで求め
た結果を示す。また図４には、実際の直流回路において
強制的に電流零点を形成して遮断したときの真空遮断器
の極間に現れる電圧波形例を示す。第１の実施の形態の
遮断器試験回路でよく似た電圧波形が得られることがわ
かる。このことから、本発明の遮断器試験回路で、実際
の直流回路で遮断したときの真空遮断器の極間に現れる
電圧と同じような電圧を得ることができることがわか
る。次に、本発明の第２の実施の形態について図５の遮
断試験回路を参照して説明する。図５は、図１の直流遮
断器試験回路に遮断器６と並列にスイッチ４４と電圧源
回路を接続したものである。スイッチ４４は、スイッチ
３４と同じ動作をするものである。電圧源回路４は、コ
ンデンサ４１とリアクトル４２の直列回路で構成され、
その一端は接地されている。コンデンサ４１には並列に
コンデンサ４１を充電するための充電電源４３が接続さ
れていて、図示しない高インピーダンス素子を介して充
電される。また、電圧源回路４の放電電流I４の周波数
ｆ４は、電圧源回路３の放電電流I３の周波数ｆ３とｆ
４＜ｆ３の関係となるように、コンデンサ４１の静電容
量Ｃ４は、コンデンサ３１の静電容量Ｃ３とＣ４＞Ｃ３
の関係となるように設定されているので、電流Iｃｂに
重畳される電流は主に電源回路３の放電電流I３とな
る。

【０００９】この電圧源回路４は、図３に示す電圧波形
において、直流遮断した後に現れる正の電圧を発生させ
るための回路である。動作説明すると、直流遮断したと
き、コンデンサ３１の端子電圧は、当初の充電されてい
たときの電圧とは極性が反転しており、コンデンサ３１
の極性反転後の電荷により回路５のコンデンサ５１が抵
抗５２を介して充電される。その後、このコンデンサ５
１はコンデンサ４１から電荷が供給されコンデンサ４１
と同じ極性に充電されるので正の電圧が発生する。次
に、本発明の第３の実施の形態について図６を参照して
説明する。第３の実施の形態は、電圧源回路３のスイッ
チ３４と第２の電圧源回路４のスイッチ４４を図６に示
すようなサイリスタ３５、４５とダイオード３６、４６
の逆並列回路とする。このことにより、図２のタイムチ
ャートにおけるタイミングｔ６の制御性を向上させるこ
とができる。次に、本発明の第４の実施の形態について
図７を参照して説明する。第４の実施の形態は、図１の
電流源回路１を図６に示すような電流源回路８にしたも
のである。リアクトル１２に変えて変圧器８２を用い
る。コンデンサ８１の一端は接地されていて、もう一端
は投入器としてスイッチ８４が接続されている。またコ
ンデンサ８１には並列にコンデンサを充電するための充
電電源８３が接続されている。変圧器８２によりコンデ
ンサ８１からの電流を増幅することができる。

【００１０】次に、本発明の第５の実施の形態について
説明する。第５の実施の形態では、図１のスイッチ２４
を接点がCuWである気中ギャップスイッチとする。気中
ギャップスイッチにすることにより、放電時のアークに
よる接点の損傷を抑制することができる。次に、本発明
の第６の実施の形態について説明する。第６の実施の形
態は、図１のスイッチ２４を消弧部が同軸状のスイッチ
にしたものである。図８に消弧部を同軸状にしたスイッ
チの一例を示す。中心軸状に真空バルブ８５を配し、真
空バルブ８５の固定軸側には同軸ケーブル８６の芯線が
接続されている。同軸ケーブル８６の芯線の周囲は絶縁
層および同軸導体が同軸状に配置されている。真空バル
ブ８５の可動軸側には摺動子８７が取り付けられてい
る。摺動子８７は、真空バルブ８５の外周に概ね同軸状
に配置された外側導体８８と真空バルブ８５の可動軸を
電気的に接続し、かつ真空バルブ８５の可動軸が上下に
可動することを可能にしている。外側導体８８は同軸ケ
ーブル８６の同軸導体と接続されている。このような構
成では、真空バルブ８５の可動軸が上下に運動すること
で、回路の接離ができ、回路に流れる電流は同軸ケーブ
ル８６の芯線から真空バルブ８５を介して、外側導体８
８から同軸ケーブル８６の同軸導体に流れる。このよう
に電流を流すことにより、中心軸上を流れる電流による
磁束と外部導体８８を流れる電流による磁束は互いに相
殺することにより、全体のインダクタンスを小さくする
ことができる。電流源回路１から流れる電流に電流源回
路２から流れる高周波電流が重畳して強制的な電流零点
を作るため、不必要なインダクタンスは極力小さくし、
試験できる高周波電流の周波数の範囲を広げることがで
きる。

【００１１】次に、本発明の第７の実施の形態について
説明する。第７の実施の形態では、図９に示すようにス
イッチ２４にダイオード２５を直列接続する。ダイオー
ド２５により電流源回路２から流れる電流を確実に半波
だけにすることができる。また、図１のスイッチ２４の
代わりにサイリスタ２６を用いてもよい。サイリスタ２
６にすることにより電流源回路２から流れる電流を確実
に半波だけにすることができるだけでなく、電流源回路
２から流れる電流のタイミングｔ５を高精度で制御でき
る。次に、本発明の第８の実施の形態について説明す
る。第８の実施の形態は、図１０に示すように電流源回
路１の出力端と大地（接地母線）との間に非直線抵抗体
８９を接続する。これにより、電流遮断によりリアクト
ル１２に蓄えられた電磁エネルギーを吸収し、過電圧の
発生を防止することができる。また、非直線抵抗体８９
と並列にコンデンサ９０と抵抗９１の直列回路を接続す
る。リアクトル１２の電磁エネルギーを非直線抵抗体８
９だけで吸収するのではなく、コンデンサ９０の静電エ
ネルギーとして吸収でき、過電圧の発生をより効果的に
抑制することができる。また、非直線抵抗体８９と並列
に抵抗９２とトリガー付ギャップ９３の直列回路を接続
する。非直線抵抗体８９にサージ電流が流れたことを検
知すると、トリガー付ギャップ９３をトリガーさせリア
クトル１２の電磁エネルギーを抵抗とトリガー付ギャッ
プ９３の直列回路にもバイパスさせる。これにより非直
線抵抗体８９のサージ耐量を軽減することができる。

【００１２】次に、本発明の第９の実施の形態について
説明する。第９の実施の形態は、図１１に示すように電
流源回路１とスイッチ１４の直列回路を複数並列に接続
したものである。実際の直流電力系統では、整流素子に
ダイオードやサイリスタが使用されているため、事故電
流は脈動となる。スイッチ１４ａ、１４ｂ、１４ｃの投
入に時間差を設けることにより、図１２に示すようなト
ータルの電流波形は脈動となり、実際の現象を模擬する
ことができる。並列に接続する回路の数を調整すること
で得ようとする脈動した電流波形を得ることができる。
また、図１３に示すように、電圧源回路３のリアクトル
３２と第２の電圧源回路４のリアクトル４２を１つのリ
アクトル９４としてもよい。これにより回路構成を簡素
化することができる。

【００１３】

【発明の効果】本発明によれば、遮断器設備を簡易化
し、実際の遮断器の極間電圧と類似した遮断電圧を発生
させて遮断器の試験を効率よく実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態における直流遮断器
試験回路を示す図。

【図２】本発明の第１の実施の形態における直流遮断器
試験回路のタイムチャートと遮断器の電流波形および電
圧波形を示す図。

【図３】本発明の第１の実施の形態における直流遮断器
試験回路の遮断器の電流波形および電圧波形をシミュレ
ーションした図。

【図４】実際の直流回路において遮断したときの真空遮
断器の電圧波形を示す図。

【図５】本発明の第２の実施の形態における直流遮断器
試験回路を示す図。

【図６】本発明の第３の実施の形態における電圧源回路
を示す図。

【図７】本発明の第４の実施の形態における電流源回路
１を示す図。

【図８】本発明の第６の実施の形態における同軸型スイ
ッチを示す図。

【図９】本発明の第７の実施の形態におけるスイッチ８
を示す図。

【図１０】本発明の第８の実施の形態における直流遮断
器試験回路を示す図。

【図１１】本発明の第９の実施の形態における電流源回
路１を示す図。

【図１２】本発明の第９の実施の形態における電流波形
を示す図。

【図１３】本発明における簡素化された電圧源回路を示
す図。

【符号の説明】

１、２、８・・・電流源回路３、４・・・電圧源回路５・・・回路６・・・遮断器７、１４、２４、８４・・・スイッチ１１、２１、３１、４１、５１、８１、９０・・・コンデ
ンサ１２、２２、３２、４２、９４・・・リアクトル１３、２３、３３、４３・・・充電電源２５、３５、４５・・・ダイオード２６、３４、４４・・・サイリスタ５２、９１、９２・・・抵抗８２・・・変圧器８５・・・真空バルブ８６・・・同軸ケーブル８７・・・摺動子８８・・・同軸導体８９・・・非直線抵抗体９３・・・トリガー付ギャップ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者船橋匠東京都府中市東芝町１番地株式会社東芝府中事業所内 (72)発明者松尾和宏東京都府中市東芝町１番地株式会社東芝府中事業所内Ｆターム(参考） 5G027 AA22

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１のコンデンサと、該第１のコンデンサ
に直列的に接続された第１のリアクトルと、前記第１の
コンデンサに並列的に接続された第１のコンデンサ充電
電源とを有する第１の電流源回路と、該第１の電流源回
路に直列的に接続された第１の開閉手段と、第２のコン
デンサと、該第２のコンデンサに直列的に接続された第
２のリアクトルと、前記第２のコンデンサに並列的に接
続された第２のコンデンサ充電電源とを有し、前記第１
の電流源回路に並列的に接続された第２の電流源回路
と、該第２の電流源回路に直列的に接続された第２の開
閉手段と、前記第１の開閉手段と前記第２の開閉手段の
接続ラインの間に接続された第３の開閉手段と、該第３
の開閉手段に直列的に接続された供試開閉器と、第３の
コンデンサと、該第３のコンデンサに直列的に接続され
た第３のリアクトルと、前記第３のコンデンサに並列的
に接続された第３のコンデンサ充電電源とを有し、第４
の開閉手段を介して前記供試開閉器に並列的に接続され
た第1の電圧源回路と、第４のコンデンサと、該第４の
コンデンサに直列的に接続された抵抗とを有し、前記第
1の電圧源回路に並列的に接続された回路とを備え、前
記第1の開閉手段、前記第２の開閉手段、前記第３の開
閉手段および前記第４の開閉手段の開閉のタイミングを
制御して前記供試開閉器に交流電流を供給することを特
徴とする遮断器試験回路。
【請求項２】前記第４の開閉手段として、半導体素子を
用いたことを特徴とする請求項１記載の遮断器試験回
路。
【請求項３】前記第４の開閉手段は、前記第２の開閉手
段を投入したときから前記供試開閉器の電流が零点に達
するまでの間に投入されることを特徴とする請求項１又
は請求項２記載の遮断器試験回路。
【請求項４】前記第３の開閉手段と前記供試開閉器がＯ
Ｎのときに前記第１の開閉手段をＯＮにし、前記第３の
開閉手段、前記供試開閉器、前記第１の開閉手段の順に
ＯＦＦにしてから前記第２の開閉手段をＯＮにし、前記
第２の開閉手段をＯＮにしたときから前記供試開閉器の
電流が零点に達するまでの間に前記第４の開閉手段を投
入することを特徴とする請求項１又は請求項２記載の遮
断器試験回路。
【請求項５】第１のコンデンサと、該第１のコンデンサ
に直列的に接続された第１のリアクトルと、前記第１の
コンデンサに並列的に接続された第１のコンデンサ充電
電源とを有する第１の電流源回路と、該第１の電流源回
路に直列的に接続された第１の開閉手段と、第２のコン
デンサと、該第２のコンデンサに直列的に接続された第
２のリアクトルと、前記第２のコンデンサに並列的に接
続された第２のコンデンサ充電電源とを有し、前記第１
の電流源回路に並列的に接続された第２の電流源回路
と、該第２の電流源回路に直列的に接続された第２の開
閉手段と、前記第１の開閉手段と前記第２の開閉手段の
接続ラインの間に接続された第３の開閉手段と、該第３
の開閉手段に直列的に接続された供試開閉器と、第３の
コンデンサと、該第３のコンデンサに直列的に接続され
た第３のリアクトルと、前記第３のコンデンサに並列的
に接続された第３のコンデンサ充電電源とを有し、第４
の開閉手段を介して前記供試開閉器に並列的に接続され
た第１の電圧源回路と、第４のコンデンサと、該第４の
コンデンサに直列的に接続された抵抗とを有し、前記第
１の電圧源回路に並列的に接続された回路と、第５のコ
ンデンサと、該第５のコンデンサに直列的に接続された
第４のリアクトルと、前記第５のコンデンサに並列的に
接続した第５のコンデンサ充電電源とを有し、第５の開
閉手段を介して前記第１の電圧源回路に並列的に接続さ
れた第２の電圧源回路と、前記第１の開閉手段、前記第
２の開閉手段、前記第３の開閉手段、前記第４の開閉手
段および前記第５の開閉手段の開閉のタイミングを制御
して前記供試開閉器に交流電流を供給することを特徴と
する遮断器試験回路。
【請求項６】前記第４の開閉手段および前記第5の開閉
手段として、半導体素子を用いたことを特徴とする請求
項５記載の遮断器試験回路。
【請求項７】前記第４の開閉手段および前記第５の開閉
手段は、前記第２の開閉手段を投入したときから前記供
試開閉器の電流が零点に達するまでの間に投入されるこ
とを特徴とする請求項５又は請求項６記載の遮断器試験
回路。
【請求項８】前記第３の開閉手段と前記供試開閉器がＯ
Ｎのときに前記第１の開閉手段をＯＮにし、前記第３の
開閉手段、前記供試開閉器、前記第１の開閉手段の順に
ＯＦＦにしてから前記第２の開閉手段をＯＮにし、前記
第２の開閉手段をＯＮにしたときから前記供試開閉器の
電流が零点に達するまでの間に前記第４の開閉手段およ
び前記第５の開閉手段を投入することを特徴とする請求
項５又は請求項６記載の遮断器試験回路。
【請求項９】前記第１の電流源回路が第１のコンデンサ
と開閉手段と変圧器とを有することを特徴とする請求項
１乃至請求項８のいずれかに記載の遮断器試験回路。
【請求項１０】前記第２の開閉手段として、接点がＣｕ
Ｗである気中ギャップスイッチ、消弧部が同軸状である
スイッチ、サイリスタ又はダイオードを直列に接続した
スイッチを用いたことを特徴とする請求項１乃至請求項
９のいずれかに記載の遮断器試験回路。
【請求項１１】前記第１の電流源回路に並列的に接続さ
れたエネルギー吸収回路を設けたことを特徴とする請求
項１乃至請求項１０のいずれかに記載の遮断器試験回
路。
【請求項１２】前記第１の電流源回路と前記第１の開閉
手段の直列回路を複数並列に接続したことを特徴とする
請求項１乃至請求項１１のいずれかに記載の遮断器試験
回路。