JPH03202793A - 遮断器の試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電力用の遮断器の大電流遮断性能を検証するた
めの試験装置に係り、特に、供試遮断器に供給するため
の４つのパラメータで決定される過渡回復電圧を発生す
る回路を備えた遮断器の試験装置に関する。

〔従来の技術〕

大容量電力用遮断器の進歩はめざましく、最近では、定
格電圧３６２〜４２０ｋＶのものが一相当り一遮断点で
構成できるようになってきており、更に、定格電圧５５
０ｋＶの遮断器の一遮断点化も研究されている状況にあ
る。

一方、大容量の電力用遮断器の遮断試験に関する国際規
格（ＩＥＣと略称す）や日本国内規格ＪＥＣと略称す）
では、電流遮断後、供試遮断器の極間に印加する電圧波
形として、波高値が遅れて現われる、いわゆる、４つの
パラメータで決定される過渡回復、電圧を規定している
。

即ち、４つのパラメータで決定される過渡回復電圧とは
、定められた大きさの電流を遮断した後、供試遮断器の
極間に印加する電圧波形の第１及び第２の基準時間とそ
の時のそれぞれの第１及び第２の基準電圧値との４つの
パラメータを規定し、これら４つのパラメータが要求値
を満足すれば、供試遮断器は所望の遮断性能を有すると
判定するものである。

しかし、従来から遮断性能検証に広く用いられているワ
イル（Ｗｅｉｌ）合成等価試験回路の発生する過渡回復
電圧は単一周波の振動であって、第１の基準時間とその
時の基準電圧との２つのパラメータで決定されるもので
あるため、これを４つのパラメータで決定される過渡回
復電圧が発生できるように改善する多くの提案がなされ
た。しかし、経済性や技術的な課題があって、商用試験
に実用されたものは二、二側にすぎず、広く普及するに
は至っていない。

ここで２つのパラメータで決定される過渡回復電圧とは
、上記の４つのパラメータで決定される過渡回復電圧に
対して、電流遮断後の供試遮断器の極間に印加する電圧
波形の唯一の基準時間ｔ３とその時の基準電圧値ｕｃの
２つのパラメータを規定し、これら２つのパラメータが
要求値を満足すれば、供試遮断器は所望の遮断性能を有
すると判定するものである。

前述のように、遮断器−相当りの遮断点数が少なくなる
につれ、２つのパラメータで決定される過渡回復電圧で
は要求される過渡回復電圧より苛酷である等の問題があ
って、波高時間の短い２つのパラメータで決定される過
渡回復電圧に対して波高時間の長い４つのパラメータで
決定される過渡回復電圧を経済的に発生し得る回路の必
要性は、ますます、高まっている。

第９図は従来の４つのパラメータで決定される過渡回復
電圧の発生回路の一実施例、第１０図は第９図に示す回
路の現象説明図である。

この従来の４つのパラメータで決定される過渡回復電圧
の発生回路は、１９８８羊１月発行の文献「アイ・イー
・イー・イー、トランザクションズ、オン、パワー、デ
リベリ−Ｊ　　（ＩＥＥＥＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ　
ｏｎ　Ｐｏｖｅｒ　Ｄｅｌｉｖｅｒｙ）の第３巻第１号
の第２３３頁に開示されている。

：１４９図において、供試遮断器ｌより図示の左側は低
電圧の電流庶回路１図示の右側は高電圧の電圧源回路で
ある。この電圧源回路内に設置した補助スイッチ９に、
商用周波の重席２から電流調整用のリアクトル３．短絡
変圧滞１８．補助遮断器４を介して、補助スイッチ９．
及び供試遮断器１を通して電流源電流ｉｃを供給する。

この場合。

電流源保護サージアブソーバ５が図示の位置に接続され
ることが多い。

電流を遮断した後に、高い電圧から回路を保護するため
の補助遮断器４、及び補助スイッチ９と試験しようとす
る供試遮断器１を閉じて、電ｆｆｌ源電流ｉｃを通電後
、例えば、はぼ同等に、これらの補助遮断器４．補助ス
イッチ９、及び供試遮断器ｌを開いて、電流源電流ｉｃ
の最終零点直前で制御ギャップ７を放電して、予め充電
しであるコンデンサ６から、制御ギャップ７−リアクト
ル８−補助スイッチ９−供試遮断器１を通して電圧源電
流１ｖを第９図、第１０図に示されるように流す。

ここでは、電流重畳法によるので、電圧源電流ｉｖの重
畳時点は、電流源電流ｉｃの電流零期間より前であり、
かつ、電圧源電流のみの期間ｔ。

は電圧源電流の周期Ｔの１／８〜１／４の範囲にある。

第９図において、供試遮断器１が電流遮断に成功すると
、コンデンサ６の残留電圧により、第↓Ｏ図に示される
ように、電流ｉＬ”ｉａが流れる。

電流主１が流れる枝路は抵抗１０．コンデンサ１１ｂの
直列回路、電流ｉｚの流れる枝路は抵抗１２、コンデン
サ１３の直列回路からなる。また、電流ｉ３は第９図に
示されるように、リアクトル１５、及び抵抗１６の直列
回路を流れる。結局、コンデンサｌｌａには（ｉｌ−ｉ
ｓ）、コンデンサ１４には（ｉｚ＋ｉａ）の電流が流れ
る。

前述の文献によりあらかじめ定められた方法によって、
コンデンサの静電容量をコンデンサ↓３よりもコンデン
サ↓↓、コンデンサ１４がかなり大きくなるように（Ｃ
１ｌｌ　Ｃ１４＞＞Ｃ１１１）回路条件を設計して構成
することにより、電圧源電流ｉｖが供試遮断器１によっ
て遮断されると、電流１２と抵抗１２−コンデンサ上３
−コンデンサ１４の直列回路の電圧降下として、第１０
図に示されるような目標の過渡回復電圧ＴＲＶの初期部
分である過渡回復電圧Ｔ　ＲＶ　１が発生する。

回路条件を適切に選ぶと、電流１２の次の電流零点ｉｚ
ｏを電流ｉｔの次の電流零点ｉｔｏより早い時点に発生
させることができるご補助スイッチ９はいろいろな形態
をとり得るが、この公知例は。

補助スイッチ９に電流源電流ｉｃを通電して極間アーク
を点弧し、電圧源電流ｉｖの通電を容易にすると共に、
電流生２の遮断性能を付与して、制御ギャップを増す必
要のない、取扱の簡便な方法である。

上述の方法によって電流１２を次の電流零点ｉｚｏで遮
断すると、もし、第９図において、仮にリアクトル１５
−抵抗１６の回路がなければ、第１０図に一点鎖線で示
したように、供試遮断器１の端子電圧は過渡回復電圧Ｔ
ＲＶの初期波高値ｕ１に近い一定値を保ち続ける。この
場合、電圧の大部分は、コンデンサ１３の端子間にあり
、コンデンサエ４の端子電圧は十分低い。従って、図示
のように、あらかじめ多段直列コンデンサエ１のうち、
適切な段数を選んで、コンデンサｌｌａとしてリアクト
ル１５−抵抗１６を通してコンデンサ１４に接続してお
けば、電流ｉ３によってコンデンサ１４の電圧を遅れて
高め（この変化をＴＲＶｚとする）供試遮断器１に、（
ＴＲＶｚ＋ＴＲＶ２）で示される４つのパラメータ表示
に適した電圧を印加することができる。

この様な、４つのパラメータで決定される過渡回復電圧
の発生回路を実用化する際に、最も問題になるのは補助
スイッチ９であり、遮断性能評価の面、技術的あるいは
経済的観点から、さらに改善が望まれていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術、は、補助スイッチ９にも補助遮断器４、
および、供試遮断器ｌに通電する電源２からの短絡電流
ｉｃの全部を流して目的を達成しようとするものである
。このため、補助スイッチ９は大電流アークによってそ
の遮断部が損傷するので、保守点検の頻度が多く、設備
運用上の改善を必要とした。また、補助スイッチ９のア
ーク電圧の発生によって供試遮断器１の遮断を助け、性
能評価を有利にしてしまうのではないかという懸念があ
つ・た。

本発明の目的は、定格電圧の高い遮断器に適用できる波
高時間の長い４つのパラメータで決定される過渡回復電
圧を発生し、信頼性の高い試験を確実に行うことができ
る試験装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明は、供試遮断器とほ
ぼ同等の遮断性能を有する補助遮断器と直列回路を経由
して短絡大電流を供給する第１の電流源回路と、電圧源
コンデンサから放電制御ギャップ、第１のリアクトル及
び第１の補助スイッチを介して、前記供試遮断器に電圧
源を供給する電圧源回路と、前記第１の電流源回路から
第２のリアクトル及び変圧器より成る高インピーダンス
成分と直列の第２の補助スイッチを介して、前記第１の
補助スイッチを経由して前記供試遮断器を通り前記第１
の電流源回路に帰路する第２の電流源回路とで構成した
ものである。

〔作用〕

電圧源回路内の補助スイッチは、電源、あるいは、共振
回路からの小電流が流れている状態で、補助遮断器や供
試遮断器などと、はぼ同時に開き、電流源電流ｉｃの最
終零点の時点で遮断するように動作する。従って、電流
源電流ｉｃの最終零点直前での電圧源回路の結合、すな
わち、電圧源電流ｉｖの通電とその後の４つのパラメー
タにょって決定される過渡回復電圧発生のための補助ス
イッチによるコンデンサ回路１！流１２の遮断も容易に
達成できる。このように、補助スイッチには大電流な通
電しないため、重陽などの消耗がほとんどない、従って
、極めて安定した動作を長期間。

無点決で持続し性能を検証することができる。

〔実権例〕

本発明の実施例を図面に従って以下に詳細に説明する。

第１図は本発明による遮断器の試９装置の第１の実施例
の回路構成図であり、第２ｒＸＪは第１図に示される試
験装置の現象説明図である。

第１図に示される本発明の第１の実施例の回路構成が第
９図に示される従来の回路構成と異なる点は、ｆ４流源
電流ｉｃを補助スイッチ９には通電せず、補助遮断器４
と供試遮断器１の直列回路にのみ流すようにするために
、電圧源回路内の第１の補助スイッチ９に、新たに１例
えば、ｆＩｔ源２側に第２のリアクトル１９．変圧器２
１及び第２の補助スイッチ２０を備え、その第２のリア
クトル１９、変圧器２１−第２の補助スイッチ２０−第
１の補助スイッチ９−供試遮断器１−変圧器２１のアー
ス側に帰るような小電流ｉａの流れる回路を別に付加し
て構成したものである。この場合、従来の電流源保護サ
ージアブソーバ５と同じ理由で、保護用のサージアブソ
ーバ２３が変圧器２ｘ側に並列に設置されることが多い
。

ここで、第２の補助スイッチ２０は補助遮断器４と同様
に、電流を流した後に高い電圧から小電流源、すなわち
、第２の電流源回路を保護するためのものである。

上述のように構成したことにより、供試遮断器１及び補
助遮断器４、ならびに第１の補助スイッチ９、及び第２
の補助スイッチ２ｏを閉じて、電流源の大電流ｉｃを供
試遮断器１．及び補助遮断器４に、一方小電流ｉａを供
試遮断器１．第１の補助スイッチ９及び第２の補助スイ
ッチ２０に通電する。その後、例えば、はぼ同時に、供
試遮断器１、及び補助遮断器４の両速断器、第１の補助
スイッチ９、及び第２の補助スイッチ２０の両スインチ
を開き、電流源の大電流１ｃの最終零点直前で制御ギャ
ップ７を放電して、予め充電しであるコンデンサ６から
制御ギャップ７−第１のリアクトル８−第１の補助スイ
ッチ９−供試遮断断器を通して第１図に示される方向に
電圧源電流ｉｖを流す。第２図には小電流ｉａ、電流源
電流ｉｃ。

及び電圧源電流ｉｖの関係が示される。

各部の電流ｉｃ、ｉａ、ｉｖ、（ｉｃ＋ｉａ＋ｉｖ）は
、それぞれ第１図に示される分流器３０゜３１．３２．
３３で測定されるものである。

第１の補助スイッチ９の遮断性能は、供試遮断、器ｌに
くらへて十分小さいが、供試遮断器１が電圧源電流ｉｖ
の遮断に成功した後には、電流ｉ２を次の電流零点で遮
断可能なように選ぶ。供試遮断断器１が電流遮断に成功
すると、第２図に示すように、第９図及び第１０図で説
明した理由と、はぼ同様な理由で供試遮断器１の極間に
は、４つのパラメータ表示に適した過渡回復電圧を印加
することができる。

即ち、第２図に於いて電流遮断後、供試遮断器１の極間
に印加する電圧波形の、ある基準時間ｔ工及びｔ２とそ
の時のそれぞれの電圧ＩＩＩ！０１及びｕｃの４つのパ
ラメータ（ｊｌｅ　ｕｔ、　　ｊ２＋　ｕｃ）を規定し
、実測されたこれら４つのパラメータ（ｊｌ＋　ｕｌ＋
　ｔｚ＋　ｕｃ）が要求値を満足すれば。

供試遮断器１は所望の遮断性能を有すると判定するもの
である。

さらに、供試遮断器り及び補助遮断３）４のみに電流源
の大２ｉ流ｉｃを流し、第↓の補助スイッチ９、及び第
２の補助スイッチ２０には小ｆｆ１Ａｉａを流せば良い
ので、第１の補助スイッチ９、及び第２の補助スイッチ
２０の電流遮断後の損傷がほとんどない、従って第１図
のブロックＡの領域のみをセットとしてユニット化構成
し、このセットのみを長期間使用できるものである。ま
た、第１図に於いて、近距離線路故障試験のための模擬
線路１７は１例えば、第１の補助スイッチ９と抵抗１２
の接続点から、供試遮断器１と補助遮断器４の接続点に
至る架線ルートの一部として１図示破線領域に挿入でき
る。このように構成できるので、前記のような通常の短
絡故障試験と近距離線路故障試験回路の切り替えは、模
擬線路１７に並列に図示しない断路器を設けることで、
従来のフィル合成試験の場合と同しように扱うことがで
きる。

第３図は本発明の第２の実施例の回路構成を示すもので
、この実施例では、変圧器２１の一次側に限流用として
コンデンサ２２が設けられており、第↓の補助スイッチ
９、及び第２の補助スイッチ２０に小電流を流すもので
ある。この実施例によれば、第１図に示す実施例と同様
な効果を得ることができる。

第４図は本発明の第３の実施例の回路構成を示すもので
、同様に第１の補助スイッチ９、及び第２の補助スイッ
チ２０に小電流ｉａを流すものである。変圧器２１の一
次側に設けられている予め充電しておいたコンデンサ２
４の電荷を投入スイッチ２５を閉じて放電し１例えば、
電流源電流ｉｃと、はぼ同じ周波数２位相の共振電流ｉ
ｐを流すように構成したものである。

この実施例によれば、上述した実施例と同様な効果が得
られると共に、開閉速度の遅い補助スイッチの使用も可
能である。

第５図は本発明の第４の実施例の回路構成を示すもので
、同様に第１の補助スイッチ９、及び第２の補助スイッ
チ２０に小電流ｉａを流し、これらの第１及び第２の補
助スイッチ９，２０に、二点切り遮断器の各々の遮断部
を用いている。

この実施例によれば、上述の実施例と同様な効果が得ら
れると共に、第１及び第２の補助スイッチ９，２０の誤
操作を防止することもでき、さらに配線を簡略化するこ
とができる。

第６図は本発明の第５の実施例の回路構成を示すもので
ある。上述の実施例ではすべて、供試遮断器１として一
点切り形式の供試遮断器を用いたが、二点切り供試遮断
器のユニット試験には、例えば、第６図に示すように、
−相二点構成のうちの一点を補助遮断器４．残る一点を
供試遮断部１として利用できる形態を採用できる。

この実施例では、二点切り以上の多点切り遮断器に適用
できる。

以上記載した実施例はすべて、変圧器２１の図示右側巻
線の低圧側端子を接地していたものであって、小電流ｉ
ａは、第１の補助スイッチ９．第２の補助スイッチ２０
を経由して流れるが、この電流は必ず供試遮断器ｌにも
流れている。この供試遮断器１に小電流ｉａが流れるの
を阻止するために、第７図に示す本発明の第６の実施例
のように構成してもよい。

すなわち、変圧器２１の二次側端子を両方とも対地より
浮かせ、第１図、第３図〜第６図に示す実施例と同様、
一方には第２の補助スイッチ２゜を、もう一方の端子に
は新たに第３の補助スイッチ２６を接続して、第２の補
助スイッチ２０．第３の補助スイッチ２６をそれぞれ経
由後、第１の補助スイッチ９の両端子に接続したもので
ある。

このような回路では、供試遮断器１には、ワイル回路の
場合と同じ電流源電流ｉｃと電圧源電流ｉｖだけを通電
する形式となり、４つのパラメータで決定される過渡回
復電圧の発生回路の合成等価試験が可能である。

第８図は本発明の第７の実施例を示すもので、この実施
例が、第７図に示す実施例と異なる点は、第７図の実施
例における第３の補助スイッチ２６を省略した点にある
。この実施例では、変圧器２１の２次巻線は供試遮断器
ｌの高圧側端子に常時接続されているので、遮断試験の
最終段階で、変圧器２１の１次巻線と２次巻線の間には
、過渡回復電圧の波高値ｕｃに近い、高い電圧が印加さ
れる。しかし、その電圧を考慮した耐圧を有する変圧器
２１を使用する場合には、供試遮断器１には、第７図に
示す実施例の場合と同様に、電流源電流ｉｃと電圧源電
流ｉｖだけを通電し、しかも、第７図に示す実施例に比
較して補助スイッチを１個省略したので、より取扱いの
容易な、４つのパラメータで決定される過渡回復電圧を
発生し得る合成等価試験回路を提供することができる。

なお、第８図に示す実施例では、第７図に示す実施例に
おける第３の補助スイッチ２６を省略したが、第３の補
助スイッチ２０を省略することができる。この場合には
、変圧器２１の２次巻線は電圧源回路の一部に常時接続
されているので、遮断試験の最終段階で、変圧器２１の
１次巻線と２次巻線の間には、過渡回復電圧の波高値ｕ
１に近い、電圧が印加、される。その結果、第８図の実
施例に比較して、変圧器２１の巻線間にかかる電圧を３
０％程度低くすることができ、変圧器の耐圧をその分だ
け低下させることができる。その電圧を考慮した耐圧を
有する変圧器２１を使用する場合には、供試遮断器１に
は、第７図に示す実施例の場合と同様に、電流源電流ｉ
ｃと電圧源電流ｉｖだけを通電し、しかも、第７図に示
す実施例に比較して補助スイッチを１個省略したので、
より取扱いの容易な、４つのパラメータで決定される過
渡回復電圧を発生し得る合成等価試験回路を提供するこ
とができる。

以上述べた本発明の実施例によれば、電圧源回路内スイ
ッチには小電流を通電流するような回路構成のため、ス
イッチのアーク電圧のために電流源電流ｉｃに影響を及
ぼすことがなく、信頼性の高い評価が可能な４つのパラ
メータによる過渡回復電圧発生回路を提供することがで
きる。また、小電流ｉａを通電して遮断するということ
で、第１及び第″２の補助スイッチ９，２０及び第３の
補助スイッチ２６の遮断部の損傷がほとんど無くなり、
確実な試験が多数回継続して可能になる。さらに、供試
遮断器ｌ及び補助遮断器４のみに電流源の大電流ｉｃを
流し、第１及び第２の補助スイッチ９，２０及び第３の
補助スイッチ２６には小電流ｉａを流するので、これら
補助スイッチ９゜２０及び第３の補助スイッチ２６を含
めたブロックの領域のみをセットとして構成し、長期間
使用できる。また、第１及び第２の補助スイッチ９゜２
０及び第３の補助スイッチ２６を小容量のもので構成で
きる。その結果、設備としての保守点検に関する経済効
果が大きく、最も実用性の高い４つのパラメータによる
過渡回復電圧発生回路を構成することができる等の優れ
た効果が得られる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、定格電圧の高い遮断器は適用できる波
高時間の長い４つのパラメータで決定される過渡回復電
圧を発生し得るので、実系統と同等の試験で供試遮断器
の遮断性能を検証することが可能であると共に、装置を
構成する補助遮断器。

補助スイッチへの通電電流を小さくし得るので、信頼性
の高い試験装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明による遮断器の試験装置の第１の実施例
の回路構成図、第２図は第１図に示される実施例の現象
説明図、第３図は本発明による遮断器の試験装置の第２
の実施例の回路構成図、第４図は本発明による遮断器の
試験装置の第３の実施例の回路構成図、第５図は本発明
による遮断器の試験装置の第４の実施例の回路構成図、
第６図は本発明による遮断器の試験装置の第５の実施例
の回路構成図、第７図は本発明による遮断器の試験装置
の第６の実施例の回路構成図、第８図は本発明による遮
断器の試験装置の第７の実施例の回路構成図、第９図は
従来の遮断器の試験装置の回路構成図、第１０図は第９
図に示される従来の試験装置の現象説明図である。 １・・・供試遮断器、４・・・補助遮断器、６，１１゜
１３．１４・・・コンデンサ、７・・・放電制御ギャッ
プ、８・・・リアクトル、９・・電圧源補助スイッチ、
１９・・リアクトル、３０・・・補助スイッチ、２１　
変圧器。 第 ３ 図 笛 回 第 図 第 図 第１０図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、供試遮断器の極間に過渡回復電圧を印加して供試遮
   断器の性能を検証する試験装置において、供試遮断器と
   、該供試遮断器とほぼ同等の遮断性能を有する補助遮断
   器との直列回路を経由して短絡大電流を供給する第１の
   電流源回路と、充電装置をもつ電圧源コンデンサから放
   電制御ギャップ、第１のリアクトル及び第１の補助スイ
   ッチを介して、前記供試遮断器に電圧源電流を供給する
   電圧源回路と、前記第１の電流源回路から第２のリアク
   トル及び変圧器より成る高インピーダンス成分と直列の
   第２の補助スイッチを介して、前記第１の補助スイッチ
   を経由して前記供試遮断器を通り前記第１の電流源回路
   に帰路する第２の電流源回路とを備え、過渡回復電圧の
   初期部分発生後に前記第１の補助スイッチを流れる電流
   を遮断して４パラメータ過渡回復電圧を発生する遮断器
   の試験装置。 ２、前記第１の補助スイッチを経由して通電する小電流
   源を、コンデンサ、第２のリアクトル及び投入スイッチ
   の直列回路で構成した共振回路としたことを特徴とする
   請求項１記載の遮断器の試験装置。 ３、前記第１の補助スイッチと前記第２の補助スイッチ
   に２点切り遮断器の各々の遮断部を用いたことを特徴と
   する請求項１記載の遮断器の試験装置。 ４、前記第１の補助スイッチと前記第２の補助スイッチ
   に、又前記供試遮断器と前記補助遮断器に、それぞれ多
   点切り遮断器を用いたことを特徴とする請求項１記載の
   遮断器の試験装置。 ５、第２の電流源回路を構成する変圧器の一次側に限流
   用のコンデンサを設けて構成したことを特徴とする請求
   項１記載の遮断器の試験装置。 ６、第２の電流源回路を構成する変圧器の一次側にコン
   デンサの電荷を投入するスイッチを設けて構成したこと
   を特徴とする請求項２記載の遮断器の試験装置。 ７、供試遮断器に電圧源電流を供給する電圧源回路およ
   び第２の電流源回路を構成する補助スイッチをユニット
   化したことを特徴とする請求項１記載の遮断器の試験装
   置。 ８、電圧源回路における第１の補助スイッチと抵抗の接
   続点から供試遮断器と補助遮断器の接続点に至るルート
   に、近距離線路故障試験のための模擬線路を設けたこと
   を特徴とする請求項１記載の遮断器の試験装置。 ９、供試遮断器の極間に過渡回復電圧を印加して供試遮
   断器の性能を検証する試験装置において、供試遮断器と
   、該供試遮断器とほぼ同等の遮断性能を有する補助遮断
   器との直列回路を経由して短絡大電流を供給する第１の
   電流源回路と、充電装置をもつ電圧源コンデンサから放
   電制御ギャップ、第１のリアクトル及び第１の補助スイ
   ッチを介して、前記供試遮断器に電圧源電流を供給する
   電圧源回路と、前記第１の電流源回路から、第２のリア
   クトル及び変圧器より成る高インピーダンス成分を含み
   、前記変圧器の二次側端子を対地より浮かし、少なくと
   も一方の端子に第３の補助スイッチを介して、前記両端
   子を第１の補助スイッチの両端子に接続する第２の電流
   源回路とを備えたことを特徴とする遮断器の試験装置。